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技術 タッチパネルコントロール基板の検査方法、及びタッチパネルコントローラ

出願人 シャープ株式会社
発明者 下村奈良和中上栄次
出願日 2016年1月8日 (3年10ヶ月経過) 出願番号 2017-501966
公開日 2017年10月26日 (2年0ヶ月経過) 公開番号 WO2016-136293
状態 特許登録済
技術分野 位置入力装置 短絡、断線、漏洩,誤接続の試験
主要キーワード 電圧換算値 リリーススイッチ 電圧換 インターフェース用コネクタ 配線用端子 電圧測定結果 アナログ積分器 バーチャルショート
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図面 (18)

課題・解決手段

実装不良の検査を簡便に行うことができるタッチパネルコントロール基板検査方法を提供する。第1駆動線端子(101E)に供給された駆動信号に応じて他の駆動線用端子(102E・103E)において得られる応答に基づいて、第1駆動線用端子(101E)と駆動線用端子(102E・103E)との電気的な接続状態を検知する。

概要

背景

従来からタッチパネル装置タッチ位置検出方式として種々の方式が知られている。特に、静電容量を利用する静電容量方式のタッチパネル装置は、操作者指先で直接タッチ操作を行ったり、導電性材料からなる簡便なスタイラスペンを介してタッチ操作を行ったりすることができることから、高い利便性を有している。

一般に、静電容量方式のタッチパネル装置は、複数の駆動線(第1電極)と複数のセンス線(第2電極)とを立体交差するよう配置した構造のタッチパネル本体と、タッチパネル本体を制御するタッチパネルコントローラとを備える。

タッチパネルコントローラは、接続コネクタを介してタッチパネルに接続されており、駆動線に駆動信号印加するとともに、センス線で生じたセンス信号応答信号)に基づいてタッチ位置を検出する。具体的には、タッチパネル本体に導電性物体が接近あるいは接触することにより、複数の駆動線と複数のセンス線との交差部に形成される静電容量が変化する。タッチパネルコントローラは、センス線で生じたセンス信号から、駆動線とセンス線との交差位置であるタッチパネル本体の各座標における信号強度を検出することにより、タッチ位置を検出することができる。

通常、タッチパネルコントローラおよび接続コネクタはプリント基板フレキシブル基板実装されてタッチパネルコントロール基板を構成する。タッチパネルコントロール基板作製時に行なわれる検査工程では、タッチパネルコントロール基板にタッチパネル本体を接続し、タッチパネル本体をタッチしたときのタッチ位置の検出の可否に基づいてタッチパネルコントロール基板の良否を判断している。

特許文献1には、このようなタッチパネルの検査に用いる検査装置として、人の指に近い押圧力でタッチパネル本体にタッチさせることができるプローブを備えたタッチパネル検査装置が記載されている。特許文献1のタッチパネル検査装置によれば、効率良く正確にタッチパネル本体の検査を行うことができる。

概要

実装不良の検査を簡便に行うことができるタッチパネルコントロール基板の検査方法を提供する。第1駆動線用端子(101E)に供給された駆動信号に応じて他の駆動線用端子(102E・103E)において得られる応答に基づいて、第1駆動線用端子(101E)と駆動線用端子(102E・103E)との電気的な接続状態を検知する。

目的

本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであり、その目的は、接続コネクタを介してタッチパネルコントローラをタッチパネル本体に接続してタッチパネル本体を駆動することなく、タッチパネルコントローラと接続コネクタとを基板に実装する工程における実装不良の検査を簡便に行うことができるタッチパネルコントロール基板の検査方法、及びタッチパネルコントローラを提供する

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

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請求項1

タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラを備えたタッチパネルコントロール基板検査方法であって、上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子に上記駆動信号を供給する供給ステップと、上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とするタッチパネルコントロール基板の検査方法。

請求項2

上記検知ステップは、上記接続端子に上記駆動信号を供給したときの上記他の接続端子の電圧に応じて、接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する2値の信号の何れか一方を出力する電圧測定結果出力ステップと、上記接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算する演算ステップと、を含んでいることを特徴とする請求項1に記載のタッチパネルコントロール基板の検査方法。

請求項3

タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラを備えたタッチパネルコントロール基板の検査方法であって、上記接続コネクタを介して上記信号線に電気的に接続される接続端子に上記駆動信号を供給する供給ステップと、上記駆動信号を供給された上記接続端子の静電容量値を測定するとともに、上記静電容量値に基づいて、当該接続端子と他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とするタッチパネルコントロール基板の検査方法。

請求項4

上記接続端子は、列を成して配列されており、上記供給ステップでは、互いに隣り合う上記接続端子に対して互いに異なる駆動信号を供給し、上記検知ステップでは、上記接続端子の静電容量値に基づいて、当該接続端子と隣の接続端子との電気的な接続状態を検知することを特徴とする請求項3に記載のタッチパネルコントロール基板の検査方法。

請求項5

上記供給ステップは、複数の上記接続端子のうちの一部の接続端子によって構成される第1接続端子群に対して第1の駆動信号を供給する第1供給ステップと、複数の上記接続端子のうちの他の一部の接続端子によって構成される第2接続端子群に対して上記第1の駆動信号とは異なる第2の駆動信号を供給する第2供給ステップと、を含み、上記検知ステップでは、上記第1接続端子群に含まれる接続端子の静電容量値に基づいて、当該接続端子と上記第2接続端子群に含まれる接続端子との電気的な接続状態を検知することを特徴とする請求項3に記載のタッチパネルコントロール基板の検査方法。

請求項6

タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラであって、上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子と、上記接続端子に上記駆動信号を供給する駆動回路と、上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知部と、を備えていることを特徴とするタッチパネルコントローラ。

請求項7

上記検知部は、上記接続端子に上記駆動信号を供給したときの上記他の接続端子の電圧に応じて、接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する2値の信号の何れか一方を出力する電圧測定部と、上記接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算する演算部と、を備えていることを特徴とする請求項6に記載のタッチパネルコントローラ。

請求項8

上記検知部は、上記他の接続端子の静電容量値を測定し、当該静電容量値に基づいて接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する2値の信号の何れか一方を出力する静電容量測定部と、上記接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算する演算部と、を備えていることを特徴とする請求項6に記載のタッチパネルコントローラ。

技術分野

0001

本発明は、タッチパネルコントロール基板検査方法、及びタッチパネルコントローラに関し、特に、静電容量方式のタッチパネルを駆動するためのタッチパネルコントロール基板の検査方法、及びタッチパネルコントローラに関するものである。

背景技術

0002

従来からタッチパネル装置タッチ位置検出方式として種々の方式が知られている。特に、静電容量を利用する静電容量方式のタッチパネル装置は、操作者指先で直接タッチ操作を行ったり、導電性材料からなる簡便なスタイラスペンを介してタッチ操作を行ったりすることができることから、高い利便性を有している。

0003

一般に、静電容量方式のタッチパネル装置は、複数の駆動線(第1電極)と複数のセンス線(第2電極)とを立体交差するよう配置した構造のタッチパネル本体と、タッチパネル本体を制御するタッチパネルコントローラとを備える。

0004

タッチパネルコントローラは、接続コネクタを介してタッチパネルに接続されており、駆動線に駆動信号印加するとともに、センス線で生じたセンス信号応答信号)に基づいてタッチ位置を検出する。具体的には、タッチパネル本体に導電性物体が接近あるいは接触することにより、複数の駆動線と複数のセンス線との交差部に形成される静電容量が変化する。タッチパネルコントローラは、センス線で生じたセンス信号から、駆動線とセンス線との交差位置であるタッチパネル本体の各座標における信号強度を検出することにより、タッチ位置を検出することができる。

0005

通常、タッチパネルコントローラおよび接続コネクタはプリント基板フレキシブル基板実装されてタッチパネルコントロール基板を構成する。タッチパネルコントロール基板作製時に行なわれる検査工程では、タッチパネルコントロール基板にタッチパネル本体を接続し、タッチパネル本体をタッチしたときのタッチ位置の検出の可否に基づいてタッチパネルコントロール基板の良否を判断している。

0006

特許文献1には、このようなタッチパネルの検査に用いる検査装置として、人の指に近い押圧力でタッチパネル本体にタッチさせることができるプローブを備えたタッチパネル検査装置が記載されている。特許文献1のタッチパネル検査装置によれば、効率良く正確にタッチパネル本体の検査を行うことができる。

先行技術

0007

日本国公開特許公報「特開2013−174939号公報(2013年9月5日公開)」

発明が解決しようとする課題

0008

タッチパネルコントール基板を構成するプリント基板(またはフレキシブル基板)やタッチパネルコントローラなどは、供給者において詳細な良否検査が実施されている。

0009

そのため、タッチパネルコントロール基板の良否検査では、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良(オープン不良、ショート不良)」に関する検査を実施すればよく、検査実施者が自身の指でタッチパネル本体をタッチして行う検査や、特許文献1のタッチパネル検査装置を用いた詳細な検査は必須ではない。

0010

一方で、特許文献1のタッチパネル検査装置を用いた検査や、検査実施者自身の指でタッチパネル本体をタッチして行う従来の検査を実施するためには、タッチパネルコントロール基板にタッチパネル本体を接続する必要があり、通常、1製品あたり数十秒の時間が必要である。また、特許文献1のタッチパネル検査装置や、検査実施者自身の指でタッチパネル本体をタッチする時間も必要であり、通常、1製品あたり数十秒から数分の時間を要する。このように、従来の検査方法では、検査時間が増大し、タッチパネルコントロール基板の製造コストが上昇するという問題がある。

0011

さらに、近年、タッチパネルのパネルサイズの大型化が進んでいる。大型のタッチパネルでは、駆動線やセンス線の本数増加と、タッチする面積の拡大を伴うため、タッチパネル本体をタッチして行う検査方法では、製造コストがますます上昇するという問題が生じる。

0012

本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであり、その目的は、接続コネクタを介してタッチパネルコントローラをタッチパネル本体に接続してタッチパネル本体を駆動することなく、タッチパネルコントローラと接続コネクタとを基板に実装する工程における実装不良の検査を簡便に行うことができるタッチパネルコントロール基板の検査方法、及びタッチパネルコントローラを提供することにある。

課題を解決するための手段

0013

上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラを備えたタッチパネルコントロール基板の検査方法であって、上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子に上記駆動信号を供給する供給ステップと、上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とする。

0014

また、上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラを備えたタッチパネルコントロール基板の検査方法であって、上記接続コネクタを介して上記信号線に電気的に接続される接続端子に上記駆動信号を供給する供給ステップと、上記駆動信号を供給された上記接続端子の静電容量値を測定するとともに、上記静電容量値に基づいて、当該接続端子と他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とする。

0015

また、上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係るタッチコントローラは、タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラであって、上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子と、上記接続端子に上記駆動信号を供給する駆動回路と、上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知部と、を備えていることを特徴とする。

発明の効果

0016

本発明の一態様によれば、接続コネクタを介してタッチパネルコントローラをタッチパネル本体に接続してタッチパネル本体を駆動することなく、タッチパネルコントローラと接続コネクタとを基板に実装する工程における実装不良の検査を簡便に行うためのタッチパネルコントロール基板の検査方法、およびタッチパネルコントローラを提供することができる。

図面の簡単な説明

0017

本発明の実施形態1に係るタッチパネル装置の各構成を示す概略図である。
タッチパネルコントローラの構成を示す概略図である。
本発明の実施形態1に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
駆動回路の一例としてのインバータ回路の構成及び動作を示す図である。
電圧測定回路の一例としてのコンパレータ回路の構成及び動作を示す図である。
本発明の実施形態2に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
本発明の実施形態3に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
本発明の実施形態4に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
本発明の実施形態5に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
容量検出回路の一例としてのアナログ積分器の構成及び動作を示す図である。
本発明の実施形態6に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
本発明の実施形態7に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
本発明の実施形態8に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
本発明の実施形態9に係るタッチパネル装置の概略構成を示すブロック図である。
マルチプレクサの構成を示す回路図である。
短絡不良を検査するときのタッチパネルコントロール基板の概略構成を示すブロック図である。
断線不良を検査するときのタッチパネルコントロール基板の概略構成を示すブロック図である。

実施例

0018

〔実施形態1〕
以下、本発明の実施の形態について、図1図5に基づいて詳細に説明する。

0019

図1は、本発明の実施形態1に係るタッチパネル装置1の各構成を示す概略図である。タッチパネル装置1は、タッチパネル本体10と、タッチパネルコントロール基板20とを備えている。

0020

タッチパネル本体10は、タッチセンサーシート11と、タッチパネルコントロール基板20と接続するための接続ケーブル12・13を備えている。

0021

タッチセンサーシート11には、図示しない複数の駆動線(信号線)と複数のセンス線(信号線)とが立体交差するよう設けられている。

0022

タッチパネルコントロール基板20は、プリント基板21上に、タッチパネルコントローラ100、タッチセンサーシート11の接続ケーブル12・13を接続する接続用コネクタ23・24、電源インターフェース用コネクタ25を備えている。

0023

図2はタッチパネルコントローラの構成を示す概略図である。

0024

図2に示すように、タッチパネルコントローラ100は、タッチパネル本体10の駆動線に電気的に接続され、駆動線に駆動信号を印加するための端子(駆動線用端子)、タッチパネル本体10のセンス線に電気的に接続され、センス線で生じたセンス信号(応答信号)を受け取るための端子(センス線用端子)、電源端子、及びインターフェース端子を備えている。駆動線用端子とセンス線用端子は、タッチセンサーシート11と接続するための接続用コネクタ23・24(接続コネクタ)に接続されている。また、電源端子とインターフェース端子は、電源・インターフェース用コネクタ25に接続されている。

0025

従来の検査工程では、接続ケーブル12・13及び接続用コネクタ23・24を介してタッチパネル本体10にタッチパネルコントロール基板20を接続するとともに、電源・インターフェース用コネクタ25を介してタッチパネルコントロール基板20にパソコン試験用検査装置などを接続して、電源及び制御信号を接続した状態で、タッチセンサーシート11上をタッチ用の治具や検査実施者自身の指でタッチして検査を実施していた。

0026

これに対して、本実施形態のタッチパネル装置1では、タッチパネルコントローラ100が後述する特徴的な構成を備えているため、タッチパネルコントローラ100をタッチパネル本体10に接続してタッチパネル本体10を駆動することなく、タッチパネルコントロール基板20の実装工程における実装不良の検査を簡便に行うことができる。

0027

<タッチパネルコントローラの構成>
図3は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。タッチパネルコントローラ100は、iヶの駆動線用端子101E・102E・103E(接続端子)と、jヶのセンス線用端子111F・112F・113F(接続端子)と、電圧測定結果出力用端子124とを備えている。タッチパネル装置1において、iヶの各駆動線用端子はタッチパネル本体10の各駆動線に接続され、jヶの各センス線用端子はタッチパネル本体10の各センス線に接続される。

0028

駆動線用端子101E・102E・103Eには、駆動線用端子と駆動線用駆動回路101A・102A・103Aとの接続を切り替えるスイッチ101C・102C・103C、及び、駆動線用端子と駆動線用電圧測定回路101B・102B・103B(検知部、電圧測定部)との接続を切り替えるスイッチ101D・102D・103Dが接続されている。

0029

センス線用端子111F・112F・113Fには、センス線容量検出回路111A・112A・113A、センス線用端子とセンス線用駆動回路111B・112B・113Bとの接続を切り替えるスイッチ111D・112D・113D、及び、センス線用端子とセンス線用電圧測定回路111C・112C・113C(検知部、電圧測定部)との接続を切り替えるスイッチ111E・112E・113Eが接続されている。

0030

駆動線用端子と駆動線用駆動回路との接続を切り替えるスイッチ101C・102C・103C、及びセンス線用端子とセンス線用駆動回路との接続を切り替えるスイッチ111D・112D・113Dには、駆動回路切替回路121が接続されている。

0031

駆動線用駆動回路101A・102A・103A及びセンス線用駆動回路111B・112B・113Bには、駆動信号生成部120が接続されている。

0032

駆動線用端子と駆動線用電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ101D、102D、103D、及び、センス線用端子とセンス線用電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ111E、112E、113Eには、電圧測定回路切替回路122が接続されている。

0033

駆動線用電圧測定回路101B・102B・103B及びセンス線用電圧測定回路111C・112C・113Cには、電圧測定結果判定回路123(検知部、演算部)が接続されている。電圧測定結果判定回路123には電圧測定結果出力用端子124が接続されている。

0034

図4は、駆動回路の一例としてのインバータ回路の構成及び動作を示す図である。

0035

駆動線用駆動回路は駆動線用端子に駆動信号を供給し、センス線用駆動回路はセンス線用駆動端子に駆動信号を供給する。

0036

駆動線用駆動回路101A・102A・103Aとして、例えば図4に示すインバータ回路130を用いることができる。また、センス線用駆動回路111B・112B・113Bとして、同じく図4に示すインバータ回路130を用いることができる。

0037

図4に示すように、インバータ回路130は、PMOSトランジスタNMOSトランジスタで形成されている。インバータ回路130は、入力端子130AにLowレベルの信号を入力すると、出力端子130BにはHighレベルの信号が出力され、入力端子130AにHighレベルの信号を入力すると、出力端子130BにはLowレベルの信号が出力される。

0038

図5は、電圧測定回路の一例としてのコンパレータ回路の構成及び動作を示す図である。

0039

駆動線用電圧測定回路101B・102B・103B及びセンス線用電圧測定回路111C・112C・113Cとしては、例えば図5に示すコンパレータ回路140を用いることができる。

0040

コンパレータ回路140は入力端子140Aの電圧値参照電圧Vrefの電圧値を比較する。入力端子電圧がVrefよりも大きい場合は出力端子140BにHighレベルを出力し、入力端子電圧がVrefよりも小さい場合は出力端子140BにLowレベルを出力する。

0041

後述するように、電圧測定回路101B・102B・103B・111C・112C・113Cでは、駆動線用端子101E・102E・103Eまたはセンス線用端子111F・112F・113Fの電圧が0Vであるか否かを判定すればよいので、参照電圧Vrefとしては、例えば0.1Vのように、0Vを超える値を選定すれば良い。

0042

電圧測定結果判定回路123は、電圧測定回路101B・102B・103B・111C・112C・113Cの出力結果を、電圧測定結果出力用端子124に順次、出力する。または、電圧測定回路101B・102B・103B・111C・112C・113Cの出力レベル論理演算して、電圧測定結果出力用端子124に出力しても良い。

0043

たとえば、電圧測定結果判定回路123で、OR演算論理和の演算)を実施した場合には、複数個の電圧測定回路の少なくともひとつ以上の電圧測定回路でHighレベルを出力している際に、電圧測定結果出力用端子124にはHighレベルが出力される。また、電圧測定結果判定回路123で、AND演算論理積の演算)を実施した場合には、複数個の電圧測定回路の少なくともひとつ以上の電圧測定回路でLowレベルを示している際に、電圧測定結果出力用端子124にはLowレベルが出力される。

0044

<タッチパネルコントロール基板の検査方法>
タッチパネルコントロール基板20には上述の構造を有するタッチパネルコントローラ100が実装されている。タッチパネルコントローラ100は複数個の駆動線用端子及びセンス線用端子を備えており、任意の端子が他の端子と短絡(ショート)した場合は短絡不良(ショート不良)になる。また、任意の端子とタッチパネルコントロール基板に実装されている接続用コネクタ23・24との間の電気的接続が断線(オープン)した場合は断線不良(オープン不良)になる。

0045

タッチパネル本体10を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良(オープン不良、ショート不良)」を検査する方法を下記に示す。

0046

駆動回路切替回路121を用いて、スイッチ101C・102C・103C・111D・112D・113Dを順次切り替え、複数存在する駆動線用端子及びセンス線用端子のひとつからHighレベルの信号(駆動信号)を出力する(供給ステップ)。

0047

そして、電圧測定回路切替回路122は、スイッチ101D、102D、103D、111E、112E、113Eを順次切り替え、あるいは、全端子を接続し、電圧測定回路は、複数存在する駆動線用端子及びセンス線用端子の電圧を測定する(検知ステップ)ともに、端子同士の電気的接続の有無を示す2値の何れか(HighはたはLOW)を出力する。

0048

この際、Highレベルの信号を出力している端子と該端子の電圧測定回路とを接続するスイッチは、接続しないように制御する。

0049

<短絡不良>
タッチパネルコントロール基板20が短絡不良(ショート不良)を有している場合は、タッチパネルコントローラ100から出力されたHighレベルの信号が、タッチパネルコントロール基板20の不良箇所を介して、タッチパネルコントローラ100の別端子(他の接続端子)に入力される(戻ってくる)。タッチパネルコントローラ100の別端子に入力される電圧は、タッチパネルコントロール基板20での短絡状態に依存するものの、0Vを超える値である。

0050

タッチパネルコントロール基板20の不良箇所を介して入力される信号を電圧測定回路で測定する。入力される信号レベルは0Vを超えているので、電圧測定回路はHighレベルの信号を出力する(電圧測定結果出力ステップ)。電圧測定回路の測定結果は、電圧測定結果判定回路123を経て、電圧測定結果出力用端子124に出力される。電圧測定結果判定回路123で、OR演算を実施する(演算ステップ)と、電圧測定結果出力用端子124にはHighレベルが出力される。

0051

以上のように、短絡不良(ショート不良)を有している場合は、電圧測定結果出力用端子124にはHighレベルが出力される。

0052

<断線不良>
タッチパネルコントロール基板が断線不良(オープン不良)となっているかの検査は、タッチパネルコントロール基板に実装されている接続用コネクタ23・24の全端子を短絡するためのショートケーブルなどの治具を用いて容易に検査できる。

0053

具体的には、タッチパネルコントロール基板の外部で接続用コネクタ23・24にショートケーブルを接続することにより、駆動線およびセンス線を故意に短絡(ショート)状態として、各端子を短絡させた状態で検査を開始する。

0054

タッチパネルコントロール基板20で電気的接続が断線(オープン)した場合は、タッチパネルコントローラ100から出力されたHighレベルの信号が、タッチパネルコントロール基板20に実装されている接続用コネクタ23・24まで達しない。接続用コネクタ23・24にはショートケーブルなどの治具を用いて、駆動線とセンス線を短絡(ショート)しているが、Highレベルの信号は接続用コネクタ23・24まで達しないので、タッチパネルコントローラの別端子に入力されない(戻ってこない)。このため、タッチパネルコントローラ100の別端子に入力される電圧は0Vである。

0055

入力される信号レベルは0Vであるので、電圧測定回路はLowレベルの信号を出力する。電圧測定回路の測定結果は、電圧測定結果判定回路123を経て、電圧測定結果出力用端子124に出力される。電圧測定結果判定回路123で、AND演算を実施する(演算ステップ)と、電圧測定結果出力用端子124にはLowレベルが出力される。

0056

以上のように、断線不良(オープン不良)を有している場合は、電圧測定結果出力用端子124にはLowレベルが出力される。

0057

以上のように、タッチパネルコントローラ100は、駆動線用端子、駆動線用駆動回路、駆動線用電圧測定回路、駆動線用端子と駆動線用駆動回路の接続を切り替えるスイッチ、駆動線用端子と駆動線用電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ、センス線用端子、センス線用駆動回路、センス線用電圧測定回路、センス線用端子とセンス線用駆動回路の接続を切り替えるスイッチ、センス線用端子とセンス線用電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ、駆動回路切替回路、駆動信号生成部、電圧測定回路切替回路、電圧測定結果判定回路、電圧測定結果出力用端子を備えている。

0058

タッチパネルコントローラ100は、駆動線用端子及びセンス線用端子に順次駆動用信号を出力して、出力した端子以外の端子の電圧を測定し、その電圧測定結果に基づいて測定結果を出力するテスト機能を内蔵している。すなわち、駆動線用電圧測定回路、センス線用電圧測定回路、及び電圧測定結果判定回路は検知部を構成しており、上記検知部は、駆動線用端子またはセンス線用端子に供給されたHighレベルの信号に応じて他の駆動線用端子またはセンス線用端子において得られる応答に基づいて、駆動線用端子またはセンス線用端子同士の電気的な接続状態(短絡または断線)を検知する。

0059

上記のテスト機能を内蔵することにより、タッチパネル本体10を接続することなく、タッチパネルコントロール基板20の作製工程で発生する「実装不良(オープン不良、ショート不良)」を検査することが可能になる。

0060

〔実施形態2〕
本発明の他の実施形態について、図6に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。

0061

図6は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。

0062

タッチパネルコントローラ200は、図3に示す実施形態1のタッチパネルコントローラ100の構成に対して、電圧測定結果判定回路及び、電圧測定結果出力用端子を変更したものである。具体的には、タッチパネルコントローラ200は、2ヶの電圧測定結果判定回路123A・123Bと、2ヶの電圧測定結果出力用端子124A・124Bとを備えている。

0063

電圧測定結果判定回路123A(第1演算部)では、複数ある電圧測定結果についてOR演算を実行し、演算結果を電圧測定結果出力用端子124Aに出力する。電圧測定結果判定回路123B(第2演算部)では、複数ある電圧測定結果についてAND演算を実行し、演算結果を電圧測定結果出力用端子124Bに出力する。

0064

短絡不良(ショート不良)が発生している場合は、複数ある電圧測定回路の少なくともひとつはHighレベルの信号を出力する。電圧測定結果判定回路123AでOR演算を実行すると、電圧測定結果出力用端子124AにHighレベルの信号が出力される。

0065

断線不良(オープン不良)が発生している場合は、複数ある電圧測定回路の少なくともひとつはLowレベルの信号を出力する。電圧測定結果判定回路123BでAND演算を実行すると、電圧測定結果出力用端子124BにLowレベルの信号が出力される。

0066

したがって、電圧測定結果出力用端子124AにHighレベルの信号が出力される場合は短絡不良(ショート不良)が発生していると判断でき、電圧測定結果出力用端子124BにLowレベルの信号が出力される場合は断線不良(オープン不良)が発生していると判断できる。

0067

実施形態1のタッチパネルコントローラ100は、電圧測定結果判定回路をひとつしか備えていないため、短絡不良(ショート不良)か断線不良(オープン不良)のどちらか一方しか検査できない。これに対して本実施形態のタッチパネルコントローラ200は、短絡不良(ショート不良)と断線不良(オープン不良)の両方を検査できるように、電圧測定結果判定回路と電圧測定結果出力用端子とを、それぞれ複数個備えている。

0068

このため、短絡不良(ショート不良)と断線不良(オープン不良)の両方の不良に対する検査が可能となり、タッチパネルコントロール基板の品質が向上する。

0069

〔実施形態3〕
本発明の他の実施形態について、図7に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。

0070

図7は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。タッチパネルコントローラ300は、iヶの駆動線用端子301E・302E・303Eと、jヶのセンス線用端子311F・312F・313Fと、電圧測定結果出力用端子324とを備えている。

0071

駆動線用端子301E・302E・303Eには、駆動線用端子と駆動線用駆動回路301A・302A・303Aの接続を切り替えるスイッチ301C・302C・303C、駆動線用端子と電圧測定回路330(電圧測定部)の接続を切り替えるスイッチ301D・302D・303Dが接続されている。

0072

センス線用端子311F・312F・313Fには、センス線容量検出回路311A・312A・313A、センス線用端子とセンス線用駆動回路331の接続を切り替えるスイッチ311D・312D・313D、及びセンス線用端子と電圧測定回路330の接続を切り替えるスイッチ311E・312E・313Eが接続されている。

0073

駆動線用端子と駆動線用駆動回路の接続を切り替えるスイッチ301C・302C・303C・及びセンス線用端子とセンス線用駆動回路の接続を切り替えるスイッチ311D・312D・313Dには、駆動回路切替回路321が接続されている。

0074

駆動線用駆動回路301A・302A・303Aとセンス線用駆動回路331には、駆動信号生成部320が接続されている。

0075

駆動線用端子と電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ301D・302D・303D、及び、センス線用端子と電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ311E・312E・313Eには、電圧測定回路切替回路322が接続されている。

0076

電圧測定回路330には、電圧測定結果判定回路323が接続されている。電圧測定結果判定回路323には電圧測定結果出力用端子324が接続されている。

0077

センス線用駆動回路331は、駆動線用駆動回路301A・302A・303Aと同じ回路を用いることも可能である。具体的には、これらの駆動回路として、図4に示すようなPMOSトランジスタとNMOSトランジスタで形成されたインバータ回路130を用いることができる。

0078

インバータ回路130は、入力端子130AにLowレベルの信号を入力すると、出力端子130BにはHighレベルの信号が出力され、入力端子130AにHighレベルの信号を入力すると、出力端子130BにはLowレベルの信号が出力される。

0079

電圧測定回路330としては、図5に示すようなコンパレータ回路140を用いることができる。コンパレータ回路140は入力端子140Aの電圧値と参照電圧Vrefの電圧値を比較する。入力端子電圧がVrefよりも大きい場合は出力端子140BにHighレベルを出力し、入力端子電圧がVrefよりも小さい場合は出力端子140BにLowレベルを出力する。

0080

前述したように、電圧測定回路330では、駆動線用端子301E・302E・303Eまたはセンス線用端子311F・312F・313Fの電圧が0Vかどうかを判定すればよいので、参照電圧Vrefとしては、例えば0.1Vのように、0Vを超える値を選定すれば良い。

0081

電圧測定結果判定回路323は、電圧測定回路330の出力結果を、電圧測定結果出力用端子324に順次、出力する。または、電圧測定回路330の出力レベルを論理演算して、電圧測定結果出力用端子324に出力しても良い。

0082

たとえば、電圧測定結果判定回路323で、OR演算を実施した場合には、複数個の電圧測定回路の少なくともひとつ以上の電圧測定回路でHighレベルを出力している際に、電圧測定結果出力用端子324にはHighレベルが出力される。また、電圧測定結果判定回路323で、AND演算を実施した場合には、複数個の電圧測定回路の少なくともひとつ以上の電圧測定回路でLowレベルを示している際に、電圧測定結果出力用端子324にはLowレベルが出力される。

0083

本実施形態のタッチパネルコントローラ300を備えるタッチパネルコントロール基板20の検査方法は、実施形態1で説明した検査方法と同様であり、タッチパネル本体10を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良(オープン不良、ショート不良)」を検査することができる。

0084

実施形態1のタッチパネルコントローラ100は、電圧測定回路とセンス線用駆動回路を複数個備えているが、本実施形態のタッチパネルコントローラ300は、電圧測定回路とセンス線用駆動回路を各々1個に削減している。このため、タッチパネルコントローラ300の回路規模が小さくなるのでチップサイズの縮小が可能となり、タッチパネルコントローラ300やタッチパネルコントロール基板20のコスト削減が可能となる。

0085

〔実施形態4〕
本発明の他の実施形態について、図8に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。

0086

図8は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。

0087

タッチパネルコントローラ400は、図7に示す実施形態3のタッチパネルコントローラ300の構成に対して、電圧測定結果判定回路及び、電圧測定結果出力用端子を変更したものである。タッチパネルコントローラ400は、2ヶの電圧測定結果判定回路323A・323Bと、2ヶの電圧測定結果出力用端子324A・324Bとを備えている。

0088

電圧測定結果判定回路323A(第1演算部)では、複数ある電圧測定結果についてOR演算を実行し、演算結果を電圧測定結果出力用端子324Aに出力する。電圧測定結果判定回路323B(第2演算部)では、複数ある電圧測定結果についてAND演算を実行し、演算結果を電圧測定結果出力用端子324Bに出力する。

0089

短絡不良(ショート不良)が発生している場合は、複数ある電圧測定回路の少なくともひとつはHighレベルの信号を出力する。電圧測定結果判定回路323AでOR演算を実行すると、電圧測定結果出力用端子324AにHighレベルの信号が出力される。

0090

断線不良(オープン不良)が発生している場合は、複数ある電圧測定回路の少なくともひとつはLowレベルの信号を出力する。電圧測定結果判定回路323BでAND演算を実行すると、電圧測定結果出力用端子324BにLowレベルの信号が出力される。

0091

したがって、電圧測定結果出力用端子324AにHighレベルの信号が出力される場合は短絡不良(ショート不良)が発生していると判断でき、電圧測定結果出力用端子324BにLowレベルの信号が出力される場合は断線不良(オープン不良)が発生していると判断できる。

0092

実施形態3のタッチパネルコントローラ300は、電圧測定結果判定回路をひとつしか備えていないため、短絡不良(ショート不良)か断線不良(オープン不良)のどちらか一方しか検査できない。これに対して本実施形態のタッチパネルコントローラ400は、短絡不良(ショート不良)と断線不良(オープン不良)の両方を検査できるように、電圧測定結果判定回路と電圧測定結果出力用端子とを、それぞれ複数個備えている。

0093

このため、短絡不良(ショート不良)と断線不良(オープン不良)の両方の不良に対する検査が可能となり、タッチパネルコントロール基板の品質が向上する。

0094

また、タッチパネルコントローラ400は、電圧測定回路とセンス線用駆動回路を各々1個に削減している。このため、タッチパネルコントローラ400の回路規模が小さくなるのでチップサイズの縮小が可能となり、タッチパネルコントローラ400やタッチパネルコントロール基板20のコスト削減が可能となる。

0095

〔実施形態5〕
本発明の他の実施形態について、図9図10に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。

0096

図9は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。タッチパネルコントローラ500は、iヶの駆動線用端子501E・502E・503Eと、jヶのセンス線用端子511F・512F・513Fと、容量測定結果出力用端子524とを備えている。

0097

駆動線用端子501E・502E・503Eには、駆動線用端子と駆動線用駆動回路501A・502A・503Aとの接続を切り替えるスイッチ501C・502C・503C、及び駆動線用端子と駆動線用容量検出回路530(静電容量測定部)との接続を切り替えるスイッチ501D・502D・503Dが接続されている。

0098

センス線用端子511F・512F・513Fには、センス線用端子とセンス線用駆動回路531との接続を切り替えるスイッチ511D・512D・513D、及びセンス線用端子とセンス線用容量検出回路511A・512A・513A(静電容量測定部)との接続を切り替えるスイッチ511E・512E・513Eが接続されている。

0099

駆動線用端子と駆動線用駆動回路との接続を切り替えるスイッチ501C・502C・503C、及びセンス線用端子とセンス線用駆動回路との接続を切り替えるスイッチ511D・512D・513Dには、駆動回路切替回路521が接続されている。

0100

駆動線用駆動回路501A・502A・503Aとセンス線用駆動回路531には、駆動信号生成部520が接続されている。

0101

駆動線用端子と駆動線用容量検出回路との接続を切り替えるスイッチ501D・502D・503D、及び、センス線用端子とセンス線用容量検出回路との接続を切り替えるスイッチ511E・512E・513Eには、容量検出回路切替回路522が接続されている。

0102

駆動線用容量検出回路530とセンス線用容量検出回路511A・512A・513Aには、容量測定結果判定回路523が接続されている。容量測定結果判定回路523には容量測定結果出力用端子524が接続されている。

0103

センス線用駆動回路531は、駆動線用駆動回路501A・502A・503Aと同じ回路を用いることも可能である。このような駆動回路として、図4に示すようなPMOSトランジスタとNMOSトランジスタで形成されたインバータ回路130を用いることができる。

0104

インバータ回路130は、入力端子130AにLowレベルの信号を入力すると、出力端子130BにはHighレベルの信号が出力され、入力端子130AにHighレベルの信号を入力すると、出力端子130BにはLowレベルの信号が出力される。

0105

図10は、容量検出回路の一例としてのアナログ積分器の構成及び動作を示す図である。

0106

駆動線用容量検出回路530として、図10に示すようなアナログ積分器540を用いることできる。また、センス線用容量検出回路511A・512A・513Aとして、同じく図10示すアナログ積分器540を用いることができる。

0107

アナログ積分器540は、一方の入力が容量値Cxを有する測定対象容量540Dに接続され、他方の入力がGNDに接続されたオペアンプ540Aを有している。オペアンプ540Aの出力とオペアンプ540Aの一方の入力との間には、容量Cintを有する積分容量540BとリセットスイッチRSTとが互いに並行に配置されている。

0108

タッチパネルコントロール基板20にタッチパネル本体10を接続していない状態では、測定対象容量540Dは、タッチパネルコントロール基板20上の配線(タッチパネルコントローラの駆動線用端子とセンス線用端子に接続される配線)で形成される寄生容量に対応する。

0109

後述するように、容量検出回路では、測定対象容量540Dの容量値Cxが大きいと検出精度は良くなる。このため、タッチパネルコントロール基板20にタッチパネル本体10を接続して検査を行うことすることが望ましい。

0110

図10を用いて、アナログ積分器540の動作を説明する。アナログ積分器540には測定対象容量540Dが接続されている。測定対象容量540Dの一方の端子には、ドライブスイッチRVと、リリーススイッチRELが接続されている。ドライブスイッチDRV、及び、リリーススイッチRELを「オン」「オフ」することで、測定対象容量540Dには、電源540E(VDD)あるいはGNDが接続される。

0111

タッチパネルコントローラ500の駆動回路を用いて、タッチパネル本体10の駆動線に供給される信号レベルのHighレベルまたはLowレベルの変化は、2ヶのスイッチDRV・RELの「オン」または「オフ」に相当する。駆動線に供給される信号レベルのHighレベルをVDD、LowレベルをGNDとした場合、測定対象容量540Dに電源540EあるいはGNDを接続されるのと同等になる。

0112

はじめに、ドライブスイッチDRVとリセットスイッチRSTを「オン」にして、リリーススイッチRELを「オフ」にする。オペアンプは利得が大きく、バーチャルショートとなるため、オペアンプ540Aの出力電圧VoutはGNDレベル(0V)に等しくなる。測定対象容量540Dの端子間電圧はVDDとなり、Qx=Cx*VDDの電荷蓄積される。

0113

次に、ドライブスイッチDRVとリセットスイッチRSTを「オフ」にして、リリーススイッチRELを「オン」にする。オペアンプ540Aは利得が大きく、バーチャルショートとなるため、測定対象容量540Dと積分容量540Bの接続点の電圧はGNDになる。オペアンプ540Aの出力電圧をVoutとすると、積分容量540Bの端子間電圧はVoutとなり、Qint=Cint*Voutの電荷が蓄積される。Qintは前述のQxと等しいので、Cint*Vout=Cx*VDDが成立する。

0114

したがって、Vout=(Cx/Cint)*VDD、Cx=(Vout/VDD)*Cintとなる。VDD及びCintは既知であるので、オペアンプ540Aの出力電圧Voutから、Cxを算出することが可能である。

0115

<検査方法>
タッチパネル本体10を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良(オープン不良、ショート不良)」を検査する方法を下記に示す。

0116

駆動回路切替回路521を用いて、スイッチ501C・502C・503C・511D・512D・513Dを順次切り替え、複数存在する駆動線用端子及びセンス線用端子のひとつからHighレベルの信号を出力する。そして、容量検出回路切替回路522を用いて、スイッチ501D・502D・503D・511E・512E・513Eを順次切り替え、複数存在する駆動線用端子及びセンス線用端子の容量を測定する。この際、Highレベルの信号を出力している端子と該端子の容量検出回路とを接続するスイッチは、接続しないように制御する。

0117

タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良(オープン不良、ショート不良)」を検査する場合には、必ずしも正確な容量値を知る必要はなく、良否判定指標となる容量値との大小関係を知るだけで十分な場合もある。良否判定の指標となる容量値をCcriとすると、電圧換算値であるVcri=(Ccri/Cint)*VDDとオペアンプ540Aの出力電圧Voutを比較する。Vcriと出力電圧Voutとを比較した結果、Vout>Vcriの場合はCx>Ccriであり、Vout<Vcriの場合はCx<Criである。このように、オペアンプ540Aの出力電圧Voutに基づいて、良否判定を行うことができる。

0118

(短絡不良)
タッチパネルコントロール基板20が短絡不良(ショート不良)を有している場合は、容量値Cx(静電容量値)が大きくなる。容量値Cxが、短絡不良(ショート不良)と判断する指標となる容量値Cshortを超えるとき、容量検出回路からHighレベルの信号を出力する(静電容量測定結果出力ステップ)ようにする。

0119

容量検出回路の出力は、容量測定結果判定回路523を経て、容量測定結果出力用端子524に出力される。容量測定結果判定回路523で、OR演算を実施すると、容量測定結果出力用端子524にはHighレベルが出力される。

0120

以上のように、短絡不良(ショート不良)を有している場合は、容量測定結果出力用端子524にはHighレベルが出力される。

0121

(断線不良)
タッチパネルコントロール基板20が断線不良(オープン不良)を有している場合は、容量値Cxが小さくなる。容量値Cxが、断線不良(オープン不良)と判断する指標となる容量値Copenより小さいとき、容量検出回路からLowレベルの信号を出力するようにする。

0122

容量検出回路の出力は、容量測定結果判定回路523を経て、容量測定結果出力用端子524に出力される。容量測定結果判定回路523で、AND演算を実施すると、容量測定結果出力用端子524にはLowレベルが出力される。

0123

以上のように、断線不良(オープン不良)を有している場合は、容量測定結果出力用端子524にはLowレベルが出力される。

0124

〔実施形態6〕
本発明の他の実施形態について、図11に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。

0125

図11は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。

0126

タッチパネルコントローラ600は、図9に示す実施形態5のタッチパネルコントローラ500の構成に対して、容量測定結果判定回路及び、容量測定結果出力用端子を変更したものである。タッチパネルコントローラ600は、2ヶの容量測定結果判定回路523A・523Bと、2ヶの容量測定結果出力用端子524A・524Bとを備えている。

0127

容量測定結果判定回路523A(第1演算部)では、複数ある容量測定結果についてOR演算を実行し、演算結果を容量測定結果出力用端子524Aに出力する。容量測定結果判定回路523B(第2演算部)では、複数ある容量測定結果についてAND演算を実行し、演算結果を容量測定結果出力用端子524Bに出力する。

0128

短絡不良(ショート不良)が発生している場合は、複数ある容量検出回路の少なくともひとつはHighレベルの信号を出力する。容量測定結果判定回路523AでOR演算を実行すると、容量測定結果出力用端子524AにHighレベルの信号が出力される。

0129

断線不良(オープン不良)が発生している場合は、複数ある容量検出回路の少なくともひとつはLowレベルの信号を出力する。容量測定結果判定回路523BでAND演算を実行すると、容量測定結果出力用端子524BにLowレベルの信号が出力される。

0130

したがって、容量測定結果出力用端子524AにHighレベルの信号が出力される場合は短絡不良(ショート不良)が発生していると判断でき、容量測定結果出力用端子524BにLowレベルの信号が出力される場合は断線不良(オープン不良)が発生していると判断できる。

0131

実施形態5のタッチパネルコントローラ500は、容量測定結果判定回路をひとつしか備えていないため、短絡不良(ショート不良)か断線不良(オープン不良)のどちらか一方しか検査できない。これに対して本実施形態のタッチパネルコントローラ600は、短絡不良(ショート不良)と断線不良(オープン不良)の両方を検査できるように、容量測定結果判定回路と容量測定結果出力用端子とを、それぞれ複数個備えている。

0132

このため、短絡不良(ショート不良)と断線不良(オープン不良)の両方の不良に対する検査が可能となり、タッチパネルコントロール基板の品質が向上する。

0133

〔実施形態7〕
本発明の他の実施形態について、図12に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。

0134

図12は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。

0135

タッチパネルコントローラ700は、kヶの配線用端子701E・702E・703E・704Eと、容量検出結果出力用端子724とを備えている。

0136

配線用端子701E・702E・703E・704Eには、配線用端子と配線用駆動回路701A・702A・703A・704Aとの接続を切り替えるスイッチ701C・702C・703C・704C、及び配線用端子と配線用容量検出回路701B・702B・703B・704B(静電容量測定部)との接続を切り替えるスイッチ701D・702D・703D・704Dが接続されている。

0137

配線用端子と駆動回路の接続を切り替えるスイッチ701C・702C・703C・704Cには、駆動回路切替回路721が接続されている。配線用駆動回路701A・702A・703A・704Aには、駆動信号生成部720が接続されている。

0138

配線用端子と容量検出回路の接続を切り替えるスイッチ701D・702D・703D・704Dには、容量検出回路切替回路722が接続されている。

0139

配線用容量検出回路701B・702B・703B・704Bには、容量検出結果判定回路723が接続されており、容量検出結果判定回路723には容量検出結果出力用端子724が接続されている。

0140

上記の構成によれば、タッチパネルコントローラ700のスイッチ701C・702C・703C・704C・701D・702D・703D・704Dを切り替えることにより、kヶの配線用端子701E・702E・703E・704Eのタッチパネル本体10における接続先を、駆動線とセンス線との間で切り替えることができる。すなわち、kヶの配線用端子701E・702E・703E・704Eのそれぞれを、駆動線用の端子として用いることができ、センス線用の端子として用いることもできる。

0141

このように、タッチパネルコントローラ700は、タッチパネル本体10と接続したときに、タッチセンサーシート11の駆動線とセンス線を入れ替えて動作させることが可能であるため、より高精度なタッチ認識が可能になる。

0142

<検査方法>
タッチパネル本体10を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良(オープン不良、ショート不良)」を検査する方法を下記に示す。

0143

駆動回路切替回路721を用いて、スイッチ701C・702C・703C・704Cを順次切り替え、複数存在する配線用端子のひとつからHighレベルの信号を出力する。そして、容量検出回路切替回路722を用いて、スイッチ701D・702D・703D・704Dを順次切り替え、複数存在する配線用端子の容量を測定する。この際、Highレベルの信号を出力している端子と該端子の容量検出回路とを接続するスイッチは、接続しないように制御する。

0144

(短絡不良)
タッチパネルコントロール基板20が短絡不良(ショート不良)を有している場合は、容量検出回路が検出する容量値が大きくなる。検出された容量値が、短絡不良(ショート不良)と判断する指標となる容量値Cshortを超えるとき、容量検出回路からHighレベルの信号を出力するようにする。

0145

容量検出回路の出力は、容量検出結果判定回路723を経て、容量検出結果出力用端子724に出力される。容量検出結果判定回路723で、OR演算を実施すると、容量検出結果出力用端子724にはHighレベルが出力される。

0146

以上のように、短絡不良(ショート不良)を有している場合は、容量検出結果出力用端子724にはHighレベルが出力される。

0147

(断線不良)
タッチパネルコントロール基板20が断線不良(オープン不良)を有している場合は、容量検出回路が検出する容量値が小さくなる。検出された容量値が、断線不良(オープン不良)と判断する指標となる容量値Copenより小さいとき、容量検出回路からLowレベルの信号を出力するようにする。

0148

容量検出回路の出力は、容量検出結果判定回路723を経て、容量検出結果出力用端子724に出力される。容量検出結果判定回路723で、AND演算を実施すると、容量検出結果出力用端子724にはLowレベルが出力される。

0149

以上のように、断線不良(オープン不良)を有している場合は、容量検出結果出力用端子724にはLowレベルが出力される。

0150

以上のように、タッチパネルコントローラ700は、配線用端子、配線用駆動回路、配線用容量検出回路、配線用端子と配線用駆動回路の接続を切り替えるスイッチ、配線用端子と配線用容量検出回路の接続を切り替えるスイッチ、駆動回路切替回路、駆動信号生成部、容量検出回路切替回路、容量検出結果判定回路、容量検出結果出力用端子を備えている。

0151

タッチパネルコントローラ700は、配線用端子に順次駆動用信号を出力して、出力した端子以外の端子の容量値を測定し、容量値測定結果に基づいて測定結果を出力するテスト機能を内蔵している。

0152

上記のテスト機能を内蔵することにより、タッチパネル本体を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良(オープン不良、ショート不良)」を検査することが可能になる。

0153

〔実施形態8〕
本発明の他の実施形態について、図13に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。

0154

図13は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。

0155

タッチパネルコントローラ800は、図12に示す実施形態7のタッチパネルコントローラ700の構成に対して、容量検出結果判定回路及び、容量検出結果出力用端子を変更したものである。タッチパネルコントローラ800は、2ヶの容量検出結果判定回路723A・723Bと、2ヶの容量検出結果出力用端子724A・724Bとを備えている。

0156

容量測定結果判定回路723A(第1演算部)では、複数ある容量測定結果についてOR演算を実行し、演算結果を容量測定結果出力用端子724Aに出力する。容量測定結果判定回路723B(第2演算部)では、複数ある容量測定結果についてAND演算を実行し、演算結果を容量測定結果出力用端子724Bに出力する。

0157

短絡不良(ショート不良)が発生している場合は、複数ある容量検出回路の少なくともひとつはHighレベルの信号を出力する。容量測定結果判定回路723AでOR演算を実行すると、容量測定結果出力用端子724AにHighレベルの信号が出力される。

0158

断線不良(オープン不良)が発生している場合は、複数ある容量検出回路の少なくともひとつはLowレベルの信号を出力する。容量測定結果判定回路723BでAND演算を実行すると、容量測定結果出力用端子724BにLowレベルの信号が出力される。

0159

したがって、容量測定結果出力用端子724AにHighレベルの信号が出力される場合は短絡不良(ショート不良)が発生していると判断でき、容量測定結果出力用端子724BにLowレベルの信号が出力される場合は断線不良(オープン不良)が発生していると判断できる。

0160

実施形態7のタッチパネルコントローラ700は、容量測定結果判定回路をひとつしか備えていないため、短絡不良(ショート不良)か断線不良(オープン不良)のどちらか一方しか検査できない。これに対して本実施形態のタッチパネルコントローラ800は、短絡不良(ショート不良)と断線不良(オープン不良)の両方を検査できるように、容量測定結果判定回路と容量測定結果出力用端子を複数個備えている。

0161

このため、短絡不良(ショート不良)と断線不良(オープン不良)の両方の不良に対する検査が可能となり、タッチパネルコントロール基板の品質が向上する。

0162

〔実施形態9〕
本発明の他の実施形態について、図14図17に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。

0163

図14は、本実施形態のタッチパネル装置の概略構成を示すブロック図である。

0164

タッチパネル装置901は、タッチパネル本体10と、タッチパネルコントロール基板920とを備えている。

0165

タッチパネルコントロール基板920は、タッチパネルコントローラ900と、接続用コネクタ26とを備えている。

0166

タッチパネルコントローラ900は、マルチプレクサ904と、ドライバ905と、センスアンプ906と、タイミングジェネレータ907と、AD変換器908と、容量分布計算部909と、タッチ認識部910とを備えている。

0167

タッチパネルコントローラ900は一つの集積回路で構成され、基板に実装されている。タッチパネルコントローラ900の信号線HL1・HL2・・・HLMおよび、VL1・VL2・・・VLMは基板上の配線で接続用コネクタ26に接続されている。

0168

タッチパネル本体10と接続用コネクタ26の間は、接続ケーブルでつながり、信号線HL1・HL2・・・HLMはタッチパネル本体10の水平方向に延びる電極につながり、VL1・VL2・・・VLMはタッチパネル本体10の垂直方向に延びる電極につながる。

0169

ドライバ905は、符号系列に基づいてドライブラインDL1〜DLMに電圧を印加する。センスアンプ906は、各静電容量に対応する電荷の線形和を、センスラインSL1〜SLMを通して読み出して、AD変換器908に供給する。なお、ドライバ905として、実施形態7の配線用駆動回路701A・702A・703A・704Aと同様の回路を用いることができ、センスアンプ906として、実施形態7の配線用容量検出回路701B・702B・703B・704Bと同様の回路を用いることができる。

0170

マルチプレクサ904は、信号線HL1〜HLMをドライバ905のドライブラインDL1〜DLMに接続し、信号線VL1〜VLMをセンスアンプ906のセンスラインSL1〜SLMに接続する第1接続状態と、信号線HL1〜HLMをセンスアンプ906のセンスラインSL1〜SLMに接続し、信号線VL1〜VLMをドライバ905のドライブラインDL1〜DLMに接続する第2接続状態とを切替える。

0171

図15は、マルチプレクサの構成を示す回路図である。マルチプレクサ904は、直列に接続された4個のCMOSスイッチSW1〜SW4を有している。タイミングジェネレータ907からの制御線CLは、CMOSスイッチSW1のCMOSスイッチSW2と反対側の一端と、CMOSスイッチSW2とCMOSスイッチSW3との間と、CMOSスイッチSW4のCMOSスイッチSW3と反対側の一端と、反転器invの入力とに接続されている。反転器invの出力は、CMOSスイッチSW1とCMOSスイッチSW2との間と、CMOSスイッチSW3とCMOSスイッチSW4との間とに接続されている。信号線HL1〜HLMは、CMOSスイッチSW1・SW2に接続されている。信号線VL1〜VLMは、CMOSスイッチSW3・SW4に接続されている。ドライブラインDL1〜DLMは、CMOSスイッチSW1・SW4に接続されている。センスラインSL1〜SLMは、CMOSスイッチSW2・SW3に接続されている。

0172

制御線CLの信号をLowにすると、信号線HL1〜HLMは、ドライブラインDL1〜DLMにつながり、信号線VL1〜VLMは、センスラインSL1〜SLMにつながる。制御線CLの信号をHighにすると、信号線HL1〜HLMは、センスラインSL1〜SLMにつながり、信号線VL1〜VLMは、ドライブラインDL1〜DLMにつながる。

0173

AD変換器908は、センスラインSL1〜SLMを通して読み出した各静電容量に対応する電荷の線形和をAD変換して容量分布計算部909に供給する。

0174

容量分布計算部909は、AD変換器908から供給された各静電容量に対応する電荷の線形和と符号系列とに基づいて、タッチパネル本体10上の静電容量分布を計算してタッチ認識部910に供給する。タッチ認識部910は、容量分布計算部909から供給された静電容量分布に基づいて、タッチパネル本体10上のタッチされた位置を認識する。

0175

タイミングジェネレータ907は、ドライバ905の動作を規定する信号と、センスアンプ906の動作を規定する信号と、AD変換器908の動作を規定する信号とを生成して、ドライバ905、センスアンプ906、及びAD変換器908に供給する。

0176

<検査方法>
タッチパネル本体10を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良(オープン不良、ショート不良)」を検査する方法を下記に示す。

0177

以下の説明では、信号線HL1〜HLMをドライバ905のドライブラインDL1〜DLMに接続するとともに信号線VL1〜VLMをセンスアンプ906のセンスラインSL1〜SLMに接続した状態を第1接続状態とし、信号線HL1〜HLMをセンスアンプ906のセンスラインSL1〜SLMに接続するとともに信号線VL1〜VLMをドライバ905のドライブラインDL1〜DLMに接続した状態を第2接続状態とする。

0178

(短絡不良)
(HL1〜HLM内でのショート不良検出)
図16は、短絡不良を検査するときのタッチパネルコントロール基板の概略構成を示すブロック図である。

0179

まず、第1接続状態にしてドライブラインDL1〜DLMに一斉に駆動信号を出力する。このとき、列を成して配列された各信号線HL1〜HLMに対応する各ドライブラインDL1〜DLMに対して駆動信号を出力する際、互いに隣り合うドライブラインDL1〜DLMに対して互いに異なる駆動信号を供給する。

0180

例えば、ドライブラインDL1〜DLMのうち、ドライブラインDL1・DL3・DL5・・・には“H”の駆動信号を供給し、ドライブラインDL2・DL4・DL6・・・には“L”の駆動信号を供給する。これにより、互いに隣り合う信号線HL1〜HLM(ドライブラインDL1〜DLM)には、互いに異なる静電容量が保持される。

0181

次に、第2接続状態に切り換え、センスアンプ906で信号線HL1〜HLMの静電容量を読み出す。このとき、信号線HL1〜HLMの間でショート不良がある場合、信号線HL1〜HLMの静電容量(電圧換算される場合は、電圧レベル)が変化するため、本来保持されているはずの静電容量と、読み出された信号線HL1〜HLMの静電容量とを比較することによって、信号線HL1〜HLM内でのショート不良を検出することができる。

0182

また、ドライブラインDL1〜DLMに供給する駆動信号のパターンを変更して再度測定する事で、ショート不良の検出精度を上げる事が出来る。

0183

なお、信号線HL1〜HLMの状態は配線等の容量で保持されているが、保持時間が短い場合はコネクタ部を使用して保持容量を接続すれば良い。

0184

(VL1〜VLM内でのショート不良検出)
HL1〜HLM内でのショート不良検出の場合と同様に、第2接続状態にしてドライブラインDL1〜DLMに一斉に駆動信号を出力した後、第1接続状態に切り換え、センスアンプ906で信号線VL1〜VLMの静電容量を読み出す。

0185

これにより、信号線VL1〜VLM内でのショート不良を検出することができる。

0186

(HL1〜HLM、VL1〜VLM間でのショート不良検出)
まず、第1接続状態にして、信号線HL1〜HLM(第1接続端子群)に“H”の駆動信号を出力する(第1供給ステップ)。次に、第2接続状態にして、信号線VL1〜VLM(第2接続端子群)に“L”の駆動信号を出力する(第2供給ステップ)と共に、センスアンプ906で信号線HL1〜HLMの静電容量を読み出す。

0187

信号線HL1〜HLMと信号線VL1〜VLMと間でのショート不良があれば、信号線HL1〜HLMの中で“H”の電位状態を保持できない信号線が現れる。そのため、本来保持されているはずの静電容量と、読み出された信号線HL1〜HLMの静電容量とを比較することによって、信号線HL1〜HLMと信号線VL1〜VLMとの間でのショート不良を検出することができる。

0188

また、同様にして、信号線VL1〜VLMに“H”の駆動信号を供給してセンスアンプ906で信号線VL1〜VLMの静電容量を読み出す事により、信号線HL1〜HLMと信号線VL1〜VLMと間でのショート不良の検出精度を上げる事ができる。

0189

(断線不良)
図17は、断線不良を検査するときのタッチパネルコントロール基板の概略構成を示すブロック図である。

0190

断線不良を検査する場合、図17に示すように、タッチパネルコントロール基板20の外部で接続用コネクタ26にショートケーブル27を接続することにより、信号線HL1〜HLMと信号線VL1〜VLMとを故意に短絡(ショート)状態とする。

0191

次に、第1接続状態にして、信号線HL1〜HLMに同じ駆動信号を供給し、センスアンプ906で信号線VL1〜VLMの静電容量を読み出す。

0192

信号線VL1〜VLMにオープン不良がある場合、信号線HL1〜HLMに供給された駆動信号に応じた静電容量が信号線VL1〜VLMに保持されないため、本来保持されているはずの静電容量と、読み出された信号線VL1〜VLMの静電容量とを比較することによって、信号線VL1〜VLMのオープン不良を検出することができる。

0193

次に、第2接続状態にして、信号線VL1〜VLMに同じ駆動信号を供給し、センスアンプ906で信号線HL1〜HLMの静電容量を読み出す。

0194

信号線HL1〜HLMにオープン不良がある場合、信号線VL1〜VLMに供給された駆動信号に応じた静電容量が信号線HL1〜HLMに保持されないため、本来保持されているはずの静電容量と、読み出された信号線HL1〜HLMの静電容量とを比較することによって、信号線HL1〜HLMのオープン不良を検出することができる。

0195

付記事項
前述の実施形態5〜9の検査方法は、容量検出回路を用いた検査方法である。容量検出回路では、測定対象容量の容量値が大きいほうが、検出精度は良くなる。このため、タッチパネルコントロール基板20にタッチパネル本体10を接続して、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良(オープン不良、ショート不良)」の検査を実施することが望ましい。ただし、タッチパネル本体10を接続する場合であっても、検査時にタッチパネル本体10をタッチする必要はないので、従来の検査方法に比べて、検査時間が短縮され、タッチパネルコントロール基板20の製造コストの上昇を抑制する利点がある。

0196

〔まとめ〕
本発明の態様1に係るタッチパネルコントロール基板(20)の検査方法は、タッチパネル本体(10)が備える複数の信号線に対して接続コネクタ(23・24)を介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラ(100・200・300・400・500・600・700・800・900)を備えたタッチパネルコントロール基板の検査方法であって、上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子(駆動線用端子101E、センス線用端子111F、配線用端子701E)に上記駆動信号を供給する供給ステップと、上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とする。

0197

上記の検査方法によれば、検知ステップを実行することにより、接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知することができる。

0198

そのため、タッチパネルコントロール基板をタッチパネル本体に接続してタッチパネル本体を駆動することなく、接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知することができ、接続端子と接続コネクタとの間における配線の短絡または断線などの配線不良を検出することができる。

0199

これにより、タッチパネルコントロール基板の実装工程における実装不良の検査を簡便に行うことができる。

0200

本発明の態様2に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、上記態様1において、上記検知ステップは、上記接続端子に上記駆動信号を供給したときの上記他の接続端子の電圧に応じて、接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する2値の信号の何れか一方を出力する電圧測定結果出力ステップと、上記接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算する演算ステップと、を含んでいてもよい。

0201

上記の検査方法によれば、検知ステップを実行することにより、上記他の接続端子の電圧に応じて、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡を検知することができる。

0202

また、演算ステップを実行することにより、何れかの接続端子に配線不良がある場合に不良判定することができる。

0203

なお、上記検知ステップは、上記他の接続端子の静電容量値を測定し、当該静電容量値に基づいて接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する2値の信号の何れか一方を出力する静電容量測定結果出力ステップと、上記接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算する演算ステップと、を含んでいてもよい。

0204

上記の検査方法によれば、検知ステップを実行することにより、上記他の接続端子の静電容量値に応じて、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡を検知することができる。

0205

また、演算ステップを実行することにより、何れかの接続端子に配線不良がある場合に不良判定することができる。

0206

なお、上記演算ステップでは、上記信号の論理和を演算してもよい。

0207

上記の検査方法によれば、簡便な方法により、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡を検知して不良判定することができる。

0208

なお、上記供給ステップ及び上記検知ステップのうちの少なくとも何れか一方は、タッチパネルコントロール基板の外部で上記接続端子と上記他の接続端子とを短絡させた状態で行い、上記演算ステップでは、上記信号の論理積を演算してもよい。

0209

上記の検査方法によれば、簡便な方法により、上記他の接続端子と接続コネクタとの間の断線を検知して不良判定することができる。

0210

本発明の態様3に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラを備えたタッチパネルコントロール基板の検査方法であって、上記接続コネクタを介して上記信号線に電気的に接続される接続端子に上記駆動信号を供給する供給ステップと、上記駆動信号を供給された上記接続端子の静電容量値を測定するとともに、上記静電容量値に基づいて、当該接続端子と他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とする。

0211

上記の検査方法によれば、駆動信号を供給した接続端子の静電容量値を測定することにより、供給した駆動信号に応じて本来保持される静電容量値と、測定された静電容量値との関係から、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡、及び上記他の接続端子と接続コネクタとの間の断線を検知することができる。

0212

本発明の態様4に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、上記態様3において、上記接続端子は、列を成して配列されており、上記供給ステップでは、互いに隣り合う上記接続端子に対して互いに異なる駆動信号を供給し、上記検知ステップでは、上記接続端子の静電容量値に基づいて、当該接続端子と隣の接続端子との電気的な接続状態を検知してもよい。

0213

上記の検査方法によれば、供給ステップにおいて、互いに隣り合う上記接続端子に対して互いに異なる駆動信号を供給するため、検知ステップにおいて、接続端子の静電容量値に基づいて正確な良否判定をすることができる。

0214

本発明の態様5に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、上記態様3において、上記供給ステップは、複数の上記接続端子のうちの一部の接続端子によって構成される第1接続端子群に対して第1の駆動信号を供給する第1供給ステップと、複数の上記接続端子のうちの他の一部の接続端子によって構成される第2接続端子群に対して上記第1の駆動信号とは異なる第2の駆動信号を供給する第2供給ステップと、を含み、上記検知ステップでは、上記第1接続端子群に含まれる接続端子の静電容量値に基づいて、当該接続端子と上記第2接続端子群に含まれる接続端子との電気的な接続状態を検知してもよい。

0215

上記の検査方法によれば、供給ステップにおいて、第1接続端子群に含まれる接続端子に第1の駆動信号を供給するとともに、第2接続端子群に含まれる接続端子には第2の駆動信号を供給する。そのため、検知ステップにおいて、第1接続端子群に含まれる接続端子の静電容量値に基づいて、第1接続端子群に含まれる接続端子と第2接続端子群に含まれる接続端子との電気的な接続状態を検知し、良否判定をすることができる。

0216

なお、上記供給ステップ及び上記検知ステップのうちの少なくとも何れか一方は、タッチパネルコントロール基板の外部で上記接続端子と上記他の接続端子とを短絡させた状態で行ってもよい。

0217

上記の検査方法によれば、接続端子の断線不良を検知し、良否判定をすることができる。

0218

本発明の態様6に係るタッチパネルコントローラ(100・200・300・400・500・600・700・800・900)は、タッチパネル本体(10)が備える複数の信号線に対して接続コネクタ(23・24)を介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラであって、上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子(駆動線用端子101E、センス線用端子111F、配線用端子701E)と、上記接続端子に上記駆動信号を供給する駆動回路(駆動線用駆動回路101C、センス線用駆動回路111D、配線用駆動回路701C)と、上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子(駆動線用端子102E、センス線用端子112F、配線用端子702E)において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知部(駆動線用電圧測定回路101B、センス線用電圧測定回路111C、電圧測定回路330、駆動線用容量検出回路530、センス線用容量検出回路511A、配線用容量検出回路701B、電圧測定結果判定回路123、容量測定結果判定回路523)と、を備えていることを特徴とする。

0219

上記の構成によれば、検知部を備えていることにより、接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知することができる。

0220

そのため、タッチパネルコントローラをタッチパネル本体に接続してタッチパネル本体を駆動することなく、接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知することができ、接続端子と接続コネクタとの間における配線の短絡または断線などの配線不良を検出することができる。

0221

これにより、タッチパネルコントローラと接続コネクタとを基板に実装する工程における実装不良の検査を簡便に行うことができる。

0222

本発明の態様7に係るタッチパネルコントローラは、上記態様6において、上記検知部は、上記接続端子に上記駆動信号を供給したときの上記他の接続端子の電圧に応じて、接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する2値の信号の何れか一方を出力する電圧測定部(駆動線用電圧測定回路101B、センス線用電圧測定回路111C、電圧測定回路330)と、上記接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算する演算部(電圧測定結果判定回路123、容量測定結果判定回路523)と、を備えていてもよい。

0223

上記の構成によれば、上記他の接続端子の電圧に応じて、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡を検知することができる。また、治具などを用いて、タッチパネルコントロール基板の外部において接続端子同士を短絡させておくことによって、上記他の接続端子と接続コネクタとの間の断線を検知することができる。

0224

また、接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算することによって、何れかの接続端子に配線不良がある場合に不良判定することができる。

0225

本発明の態様8に係るタッチパネルコントローラは、上記態様6において、上記検知部は、上記他の接続端子の静電容量値を測定し、当該静電容量値に基づいて接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する2値の信号の何れか一方を出力する静電容量測定部(駆動線用容量検出回路530、センス線用容量検出回路511A、配線用容量検出回路701B)と、上記接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算する演算部と、を備えていてもよい。

0226

上記の構成によれば、上記他の接続端子の静電容量値に応じて、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡、及び上記他の接続端子と接続コネクタとの間の断線を検知することができる。

0227

また、接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算することによって、何れかの接続端子に配線不良がある場合に不良判定することができる。

0228

なお、上記演算部として、上記信号の論理和を演算する第1演算部(電圧測定結果判定回路123A、容量測定結果判定回路523A)と、上記信号の論理積を演算する第2演算部(電圧測定結果判定回路123B、容量測定結果判定回路523B)とを備えていてもよい。

0229

上記の構成によれば、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡を検知して不良判定することができるとともに、上記他の接続端子と接続コネクタとの間の断線を検知して不良判定することができる。

0230

これにより、何れかの接続端子に配線不良がある場合に正確に不良判定することができる。

0231

本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。

0232

本発明は、静電容量式のタッチパネル装置のタッチパネルコントロール基板の製造工程における検査に利用することができる。

0233

1、901タッチパネル装置
10タッチパネル本体
20 タッチパネルコントロール基板
23、24、26接続用コネクタ(接続コネクタ)
100、200、300、400、500、600、700、800、900タッチパネルコントローラ
101A・102A・103A駆動線用駆動回路(駆動回路)
111B・112B・113Bセンス線用駆動回路(駆動回路)
301A・302A・303A 駆動線用駆動回路(駆動回路)
331 センス線用駆動回路(駆動回路)
501A・502A・503A 駆動線用駆動回路(駆動回路)
531 センス線用駆動回路(駆動回路)
701A・702A・703A・704A配線用駆動回路(駆動回路)
905ドライバ(駆動回路)
101B・102B・103B 駆動線用電圧測定回路(検知部、電圧測定部)
111C・112C・113C センス線用電圧測定回路(検知部、電圧測定部)
330 電圧測定回路(検知部、電圧測定部)
101E・102E・103E 駆動線用端子(接続端子)
111F・112F・113F センス線用端子(接続端子)
301E・302E・303E 駆動線用端子(接続端子)
311F・312F・313F センス線用端子(接続端子)
501E・502E・503E 駆動線用端子(接続端子)
511F・512F・513F センス線用端子(接続端子)
701E・702E・703E・704E配線用端子(接続端子)
111A・112A・113A センス線容量検出回路(検知部、静電容量測定部)
311A・312A・313A センス線容量検出回路(検知部、静電容量測定部)
511A・512A・513A センス線用容量検出回路(検知部、静電容量測定部)
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