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技術 記録パラメータ設定装置、情報記録媒体、プログラム、該プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体、及び記録パラメータ設定方法

出願人 シャープ株式会社
発明者 足立佳久前田茂己栄藤淳
出願日 2008年9月9日 (12年3ヶ月経過) 出願番号 2009-538001
公開日 2011年3月3日 (9年9ヶ月経過) 公開番号 WO2009-054196
状態 拒絶査定
技術分野 光学的記録再生1 光ヘッド
主要キーワード 立上り位置 中間期間 立下り位置 パラメータ設定装置 設定エラー 中間パルス 冷却パワー 後ろエッジ
関連する未来課題
重要な関連分野

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図面 (16)

課題・解決手段

使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にするために、あらかじめ定められた単位記録マーク長整数倍分類されているとともに、所定記録マーク長以上は奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部(3)に対して記録情報に基づいて照会を行って、試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定部(23)と、試し記録パラメータに従って行われる試し記録再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、記録パラメータ群の所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、再生信号が所定の再生信号品質を満足する場合は、試し記録パラメータを記録パラメータとして設定する再生信号品質判定部(26)とを備える。

概要

背景

大容量のデータを記録する情報記録媒体(例えば、光ディスク)の記録再生装置では、レーザ光を情報記録媒体の情報記録面上に集光させて加熱することによって、当該情報記録面近傍物理特性を変化させて情報を記録する技術が従来から用いられている。情報記録媒体の情報記録面上に記録マークが形成される状態(以下、「マーク」と呼ぶ)と記録マークが形成されない状態(以下、「スペース」と呼ぶ)との2つの状態、及び上記2つの状態の長さとして、上記情報記録媒体の情報記録面上には2値デジタルデータが記録されることになる。ここでは、上記デジタルデータのことを記録情報と呼ぶことにする。実際に記録情報を情報記録媒体に記録するときは、記録する記録情報に応じて設定される記録パラメータを用いてレーザ光を変化させることによって、情報記録媒体の情報記録面上に記録マークを形成し、記録情報を記録する。

また、近年では、取り扱うデータ容量の増加に対して、記録再生装置の処理時間を短縮するために、記録の高速化が進んでいる。高速記録が可能な情報記録媒体では、下位互換のために低速で記録できることも望まれることから、記録感度を向上させるために熱が蓄積しやすい特性となっている。上述の熱の蓄積は、記録マークの歪みを生じさせて再生信号品質を悪化させる可能性があるため、高速記録が可能な情報記録媒体では、記録マーク形成のための熱の制御が重要になっている。

記録マーク形成のための熱の制御に用いられる技術としては、高度なレーザ出力制御技術であるライトストラテジが知られており、ライトストラテジでは、上述した記録パラメータをもとにレーザ出力制御を行うことによって、記録マーク形成のための熱の制御を行っている。従って、記録パラメータの数が多いほど、記録マーク形成のための熱の制御が複雑になる。また、記録パラメータを参照テーブルとして情報記録媒体に記録しておいて、記録再生装置で読み出して設定する場合、記録パラメータの数が多いと、記録再生装置で参照テーブルの情報を読み出すための処理時間が長くなり、記録を開始するまでに時間がかかってしまうことになる。よって、使用する記録パラメータの数はできるだけ少ないほうが望ましい。

そこで、例えば特許文献1では、記録パラメータに対して定義した参照テーブルを備え、テーブルを参照しながら記録マーク形成のための熱を制御する光ディスク記録方法が開示されている。

具体的には、特許文献1では、記録パラメータのうち、記録マークを形成し始める位置である前エッジの熱を制御するための先頭パルスに関して、記録マークの前スペース長を2T、3T、4T、及び5T以上の4種類に分類し、記録マーク長を2T、3T、及び4T以上の3種類に分類した参照テーブルを用いている(図14参照)。また、記録パラメータのうち、記録マークを形成し終わる位置である後エッジの熱を制御するための最終パルスに関しては、記録マークの後スペース長を2T、3T、4T、及び5T以上の4種類に分類し、記録マーク長を3T、及び4T以上の2種類に分類した参照テーブルを用いている(図15参照)。

すなわち、特許文献1では、参照テーブルでのマーク長の分類を4T以上では同じ分類にまとめ、前スペース長及び後スペース長の分類を5T以上では同じ分類にまとめることによって、記録パラメータの数を少なくして記録マーク形成のための前エッジの熱及び後エッジの熱を制御している。ここで、Tはクロック周期分の時間を表している。従って、例えば2Tマーク長とは、クロック2周期分の時間に「1」の記録マークが形成される領域、つまり記録領域を表しており、2Tスペース長とは、クロック2周期分の時間に記録マークが形成されていない領域を表している。

また、特許文献2では、記録波形パラメータを少なくして、種々の媒体線速度に対応させるために、マーク長を大きく2T、3T、奇数系列(4,6,8T)、及び偶数系列(5,7,9T)の4つに分けてパラメータを設定している。

ところで、記録の高速化が今後進んでいくにつれて、より記録感度を向上させた情報記録媒体に記録マークを形成することになると考えられる。また、レーザ光によって記録マークを形成する場合、記録マークを形成し終わる位置である記録マークの後エッジに熱分布は偏るので、記録の高速化に伴って、後エッジに熱が蓄積する傾向がより強まることになると考えられる。従って、今後は、記録パラメータによって、更に厳密な後エッジの熱の制御を行う必要性が生じてくるものと考えられる。

しかしながら、前記従来の特許文献1に開示された光ディスク記録方法では、記録マークを形成し始める位置である前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類と、厳密な制御が必要になる後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類とが、同一の設定となっている。

一方、特許文献2に開示された技術では、記録マーク長に応じて奇数系列(4,6,8T)、及び偶数系列(5,7,9T)に分ける分類方法が採用されているが、やはり、記録マークを形成し始める位置である前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータ(記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅)の分類と、厳密な制御が必要になる後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータ(記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅)の分類とが、同一の設定となっている。

より具体的には、特許文献1及び2に開示されたいずれの従来技術においても、前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類と、後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類とを、いずれも4T以上の記録マーク長を同じ分類とした参照テーブルを利用している。

以上のように、特許文献1及び2に開示されたいずれの従来技術においても、前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類と、後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類との特性の相違を考慮することなく、4T以上の記録マーク長を同じ分類とした参照テーブルを利用している。すなわち、これらの従来技術では、使用する記録パラメータの数を少なくするという観点は考慮されているものと思われるが、厳密な後エッジの熱の制御を行う必要性の観点については全く考慮されていないという問題点を有している。

また、特許文献1及び2に開示されたいずれの従来技術においても、記録パラメータを定義した参照テーブルにおいて、記録パラメータの数を少なくするために、記録マーク長及び前後スペース長の分類を何に基づいてまとめたのかについては具体的に開示されていない。

そのため、記録パラメータの数を少なく抑えてはいるが、記録マークを実際に読み出した際に良好な再生信号品質が得られる保証がない(所定の再生信号品質を満足する保証がない)という問題点を有している。
日本国公開特許公報「特開2005−92942号公報(公開日:2005年 4月 7日)」
日本国公開特許公報「特開2005−92906号広報(公開日:2005年 4月 7日)」
日本国公開特許公報「特開2007−317343号広報(公開日:2007年 12月 6日)」

概要

使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にするために、あらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、所定記録マーク長以上は奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部(3)に対して記録情報に基づいて照会を行って、試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定部(23)と、試し記録パラメータに従って行われる試し記録再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、記録パラメータ群の所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、再生信号が所定の再生信号品質を満足する場合は、試し記録パラメータを記録パラメータとして設定する再生信号品質判定部(26)とを備える。

目的

本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にする記録パラメータ設定装置などを提供する

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
1件

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請求項1

記録情報に応じて情報記録媒体記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とを含んでおり、前記第1記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長整数倍分類されているとともに、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第2所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2所定記録マーク長は、前記第1所定記録マーク長以上であることを特徴とする記録パラメータ設定装置。

請求項2

前記第2記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列終端パルスの幅であることを特徴とする請求項1に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項3

前記第2記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置であることを特徴とする請求項1に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項4

前記第2記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置であることを特徴とする請求項1に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項5

前記第1記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭立上り位置であることを特徴とする請求項1から4までのいずれか1項に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項6

前記第1記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅であることを特徴とする請求項1から4までのいずれか1項に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項7

前記第2記録パラメータ群の前記第2所定記録マーク長以上の分類は、当該第2所定記録マーク長と当該第2所定記録マーク長以外の記録マーク長とに分類され、前記第2所定記録マーク長以外の記録マーク長は、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されていることを特徴とする請求項1に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項8

前記第1所定記録マーク長は、4T以上であることを特徴とする請求項1から7までのいずれか1項に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項9

記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定手段と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定手段とを備えることを特徴とする記録パラメータ設定装置。

請求項10

前記再生信号品質判定手段は、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を、当該所定記録マーク長とそれ以外の記録マーク長とに分類し直すことを特徴とする請求項9に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項11

前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅であることを特徴とする請求項9に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項12

前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置であることを特徴とする請求項9に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項13

前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置であることを特徴とする請求項9に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項14

前記所定記録マーク長は、4T以上であることを特徴とする請求項9から13までのいずれか1項に記載の記録パラメータ設定装置。

請求項15

請求項1から14までのいずれかに記載の記録パラメータ設定装置で設定した前記記録パラメータを所定領域に記録していることを特徴とする情報記録媒体。

請求項16

記録情報に応じて記録マークを形成するための記録パラメータが所定領域に記録された情報記録媒体であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とを含んでおり、前記第1記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第2所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2所定記録マーク長は、前記第1所定記録マーク長以上であることを特徴とする情報記録媒体。

請求項17

請求項9から14までのいずれか1項に記載の記録パラメータ設定装置における各手段としてコンピュータを機能させるための記録パラメータ設定プログラム

請求項18

請求項17に記載の記録パラメータ設定プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体

請求項19

記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とを含んでおり、前記第1記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第1記録パラメータ群分類工程と、前記第2記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第2所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第2記録パラメータ群分類工程とを含んでおり、前記第2所定記録マーク長を、前記第1所定記録マーク長以上とすることを特徴とする記録パラメータ設定方法。

請求項20

記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定工程と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定工程とを含むことを特徴とする記録パラメータ設定方法。

技術分野

0001

本発明は、情報の記録再生を行うための記録パラメータ設定装置情報記録媒体、記録パラメータ設定装置におけるコンピュータを機能させるためのプログラム及び該プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体、及び記録パラメータ設定方法に関するものである。

背景技術

0002

大容量のデータを記録する情報記録媒体(例えば、光ディスク)の記録再生装置では、レーザ光を情報記録媒体の情報記録面上に集光させて加熱することによって、当該情報記録面近傍物理特性を変化させて情報を記録する技術が従来から用いられている。情報記録媒体の情報記録面上に記録マークが形成される状態(以下、「マーク」と呼ぶ)と記録マークが形成されない状態(以下、「スペース」と呼ぶ)との2つの状態、及び上記2つの状態の長さとして、上記情報記録媒体の情報記録面上には2値デジタルデータが記録されることになる。ここでは、上記デジタルデータのことを記録情報と呼ぶことにする。実際に記録情報を情報記録媒体に記録するときは、記録する記録情報に応じて設定される記録パラメータを用いてレーザ光を変化させることによって、情報記録媒体の情報記録面上に記録マークを形成し、記録情報を記録する。

0003

また、近年では、取り扱うデータ容量の増加に対して、記録再生装置の処理時間を短縮するために、記録の高速化が進んでいる。高速記録が可能な情報記録媒体では、下位互換のために低速で記録できることも望まれることから、記録感度を向上させるために熱が蓄積しやすい特性となっている。上述の熱の蓄積は、記録マークの歪みを生じさせて再生信号品質を悪化させる可能性があるため、高速記録が可能な情報記録媒体では、記録マーク形成のための熱の制御が重要になっている。

0004

記録マーク形成のための熱の制御に用いられる技術としては、高度なレーザ出力制御技術であるライトストラテジが知られており、ライトストラテジでは、上述した記録パラメータをもとにレーザ出力制御を行うことによって、記録マーク形成のための熱の制御を行っている。従って、記録パラメータの数が多いほど、記録マーク形成のための熱の制御が複雑になる。また、記録パラメータを参照テーブルとして情報記録媒体に記録しておいて、記録再生装置で読み出して設定する場合、記録パラメータの数が多いと、記録再生装置で参照テーブルの情報を読み出すための処理時間が長くなり、記録を開始するまでに時間がかかってしまうことになる。よって、使用する記録パラメータの数はできるだけ少ないほうが望ましい。

0005

そこで、例えば特許文献1では、記録パラメータに対して定義した参照テーブルを備え、テーブルを参照しながら記録マーク形成のための熱を制御する光ディスク記録方法が開示されている。

0006

具体的には、特許文献1では、記録パラメータのうち、記録マークを形成し始める位置である前エッジの熱を制御するための先頭パルスに関して、記録マークの前スペース長を2T、3T、4T、及び5T以上の4種類に分類し、記録マーク長を2T、3T、及び4T以上の3種類に分類した参照テーブルを用いている(図14参照)。また、記録パラメータのうち、記録マークを形成し終わる位置である後エッジの熱を制御するための最終パルスに関しては、記録マークの後スペース長を2T、3T、4T、及び5T以上の4種類に分類し、記録マーク長を3T、及び4T以上の2種類に分類した参照テーブルを用いている(図15参照)。

0007

すなわち、特許文献1では、参照テーブルでのマーク長の分類を4T以上では同じ分類にまとめ、前スペース長及び後スペース長の分類を5T以上では同じ分類にまとめることによって、記録パラメータの数を少なくして記録マーク形成のための前エッジの熱及び後エッジの熱を制御している。ここで、Tはクロック周期分の時間を表している。従って、例えば2Tマーク長とは、クロック2周期分の時間に「1」の記録マークが形成される領域、つまり記録領域を表しており、2Tスペース長とは、クロック2周期分の時間に記録マークが形成されていない領域を表している。

0008

また、特許文献2では、記録波形パラメータを少なくして、種々の媒体線速度に対応させるために、マーク長を大きく2T、3T、奇数系列(4,6,8T)、及び偶数系列(5,7,9T)の4つに分けてパラメータを設定している。

0009

ところで、記録の高速化が今後進んでいくにつれて、より記録感度を向上させた情報記録媒体に記録マークを形成することになると考えられる。また、レーザ光によって記録マークを形成する場合、記録マークを形成し終わる位置である記録マークの後エッジに熱分布は偏るので、記録の高速化に伴って、後エッジに熱が蓄積する傾向がより強まることになると考えられる。従って、今後は、記録パラメータによって、更に厳密な後エッジの熱の制御を行う必要性が生じてくるものと考えられる。

0010

しかしながら、前記従来の特許文献1に開示された光ディスク記録方法では、記録マークを形成し始める位置である前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類と、厳密な制御が必要になる後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類とが、同一の設定となっている。

0011

一方、特許文献2に開示された技術では、記録マーク長に応じて奇数系列(4,6,8T)、及び偶数系列(5,7,9T)に分ける分類方法が採用されているが、やはり、記録マークを形成し始める位置である前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータ(記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅)の分類と、厳密な制御が必要になる後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータ(記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅)の分類とが、同一の設定となっている。

0012

より具体的には、特許文献1及び2に開示されたいずれの従来技術においても、前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類と、後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類とを、いずれも4T以上の記録マーク長を同じ分類とした参照テーブルを利用している。

0013

以上のように、特許文献1及び2に開示されたいずれの従来技術においても、前エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類と、後エッジの熱の制御を行うための記録パラメータの分類との特性の相違を考慮することなく、4T以上の記録マーク長を同じ分類とした参照テーブルを利用している。すなわち、これらの従来技術では、使用する記録パラメータの数を少なくするという観点は考慮されているものと思われるが、厳密な後エッジの熱の制御を行う必要性の観点については全く考慮されていないという問題点を有している。

0014

また、特許文献1及び2に開示されたいずれの従来技術においても、記録パラメータを定義した参照テーブルにおいて、記録パラメータの数を少なくするために、記録マーク長及び前後スペース長の分類を何に基づいてまとめたのかについては具体的に開示されていない。

0015

そのため、記録パラメータの数を少なく抑えてはいるが、記録マークを実際に読み出した際に良好な再生信号品質が得られる保証がない(所定の再生信号品質を満足する保証がない)という問題点を有している。
日本国公開特許公報「特開2005−92942号公報(公開日:2005年 4月 7日)」
日本国公開特許公報「特開2005−92906号広報(公開日:2005年 4月 7日)」
日本国公開特許公報「特開2007−317343号広報(公開日:2007年 12月 6日)」

0016

本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にする記録パラメータ設定装置などを提供することを目的とする。

0017

本発明に係る記録パラメータ設定装置は、前記課題を解決するために、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とを含んでおり、前記第1記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第2所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2所定記録マーク長は、前記第1所定記録マーク長以上であることを特徴としている。

0018

また、本発明の記録パラメータ設定方法は、前記課題を解決するために、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とを含んでおり、前記第1記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第1記録パラメータ群分類工程と、前記第2記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第2所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第2記録パラメータ群分類工程とを含んでおり、前記第2所定記録マーク長を、前記第1所定記録マーク長以上とすることを特徴としている。

0019

前記構成又は方法によれば、記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行うようになっている。

0020

なお、記録情報とは、以下で説明する情報記録媒体上に記録マークが形成される状態(マーク)と記録マークが形成されない状態(スペース)との2つの状態、及び上記2つの状態の長さとして、情報記録媒体上に記録される2値のデジタルデータのことを表す。従って、記録情報では、記録パラメータに設定する情報記録媒体上に記録マークが形成される状態(マーク)と記録マークが形成されない状態(スペース)との2つの状態、及び上記2つの状態の長さが指定されていることになる。

0021

記録マークの形成は、例えば、所定のパルス列からなる記録パルスのレーザ光を情報記録媒体の情報記録面上に集光させて加熱することによって、当該情報記録面近傍の物理特性を変化させることによって行なう場合が考えられる。

0022

例えば、(1,7)RLLコード(Run Length Limited code)の変調方式では、記録パルスのパルス列は、最短の記録マーク2Tが先頭部終端部とから構成される一方、最短の記録マークよりも長い記録マークではこの先頭部と終端部との間に当該マーク長に応じた中間部を加えて構成される。なお、本発明が適用可能な変調方式は、(1,7)RLLコードに限られず、また、(1,7)RLLコードとは、磁気的、光学ディジタル記録において、反転間隔最小値最大値とを制限したコードのことである。

0023

なお、他の変調方式においては、例えば、最短の記録マーク長が3Tから始まるものもあり、このときは最短の記録マーク長が先頭部、中間部、及び終端部にて構成されている。また、先頭部のみで構成されているものもある。

0024

ここで、T(あらかじめ定められた単位記録マーク長)はクロック1周期分の時間を表している。従って、例えば記録マーク長が3Tの場合には、クロック3周期分の時間に記録マークが形成される記録領域を表すことになる。

0025

また、パルス列は、いわゆる記録パワースペースパワーバイアスパワー及び冷却パワーから構成されている。なお、パルス列を構成する記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー及び冷却パワーを記録パワーパラメータと呼ぶことにする。また、これらの記録パワーパラメータは上述の記録パラメータに含まれるものとする。

0026

なお、先端部、中間部、及び終端部の記録パルスの記録パワーは同一であっても良いし、必ずしもこれに限らず、先端部、中間部、及び終端部で別個の記録パワーであってもよい。また、記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー、及び冷却パワーの順にパワーが小さくなっていいても良いし、必ずしもこれに限らない。ただし、先頭部、中間部、又は、終端部の記録パルスの記録パワーのいずれかが最も大きく、バイアスパワー又は冷却パワーが最も小さいことが好ましい。

0027

さて、上述のように、(1,7)RLLの変調方式の場合、最短の記録マークよりも長い記録マークでは、記録パルスのパルス列は、先頭部、中間部、及び終端部から構成されているので、それぞれ、先頭パルス、中間パルス、及び終端パルスと呼ぶことにする。

0028

また、前記構成によれば、記録パラメータは、記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とを含んでいる。

0029

また、前記方法では、記録パラメータのうち、記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群を分類する第1記録パラメータ群分類工程と、記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群を分類する第2記録パラメータ群分類工程とを含んでいる。

0030

なお、前エッジとは、記録マークを形成し始める位置のことである。また、後エッジとは記録マークを形成し終わる位置のことである。

0031

ここで、記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群の記録パラメータの例としては、先頭パルスにおける立上りの位置である先頭立上り位置と、先頭パルスの幅などが例示できる。

0032

また、記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群の記録パラメータの例としては、終端パルスにおける立上りの位置である終端立上り位置と、終端パルスの幅、及び冷却パルス照射による冷却期間が終了する冷却終了位置などが例示できる。なお、以上の、2つの例の記録パラメータを、記録パルスパラメータと呼ぶことがある。

0033

ここで、前記構成又は方法によれば、第1記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長Tの整数倍で分類されているとともに、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている。

0034

一方、第2記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第2所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている。

0035

なお、第1所定記録マーク長及び第2所定記録マーク長とは、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長であって、情報記録媒体の種類に応じて任意に設定されるものである。

0036

以上の第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群の全分類数の関係は、以下の式のようになる。

0037

第1記録パラメータ群の全分類数=第1所定記録マーク長未満の分類数+奇数マーク長の1分類+偶数マーク長の1分類
=第1所定記録マーク長未満の分類数+2分類
(第1所定記録マーク長=第2所定記録マーク長のとき)
第2記録パラメータ群の全分類数=第2所定記録マーク長未満の分類数+第2所定記録マーク長の1分類+奇数マーク長の1分類+偶数マーク長の1分類
=第2所定記録マーク長未満の分類数+3分類
全分類数の差=1分類+第2所定記録マーク長未満の分類数−第1所定記録マーク長未満の分類数=1分類
(第1所定記録マーク長<第2所定記録マーク長のとき)
第2記録パラメータ群の全分類数=第2所定記録マーク長未満の分類数+第2所定記録マーク長の1分類+奇数マーク長の1分類+偶数マーク長の1分類
=第2所定記録マーク長未満の分類数+3分類
全分類数の差=1分類+第2所定記録マーク長未満の分類数−第1所定記録マーク長未満の分類数≧2分類
よって、第1所定第1記録パラメータ群の全分類数よりも、第2記録パラメータ群の全分類数の方が、分類数が1分類以上大きいことがわかる。

0038

また、第1所定記録マーク長及び第2所定記録マーク長のそれぞれを大きくスライドさせるに従って第1記録パラメータ群の全分類数及び第2記録パラメータ群の全分類数のうちのそれぞれの分類数が大きくなる。なお、第1記録パラメータ群の第1所定記録マーク長は、固定しておき、第2所定記録マーク長を大きくスライドさせることも考えられる。

0039

また、第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群のそれぞれの記録パラメータは、1つであっても良いし、複数であっても良い。記録パラメータが複数の場合、記録パラメータの各分類は、共通であっても良いし、別個独立としても良い。

0040

例えば、第2記録パラメータ群の記録パラメータを、終端パルスの幅のみとすれば、第2記録パラメータ群全体の終端パルスの最適化をより正確に行うことができる。

0041

一方、第2記録パラメータ群の記録パラメータを、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置とすれば、第2記録パラメータ群全体の記録パラメータについてパルス列全体のバランスを考慮した最適化を行うことができる。

0042

なお、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置それぞれの記録パラメータで、記録マーク長による分類数を共通にしても良いし、別個独立としても良い。このとき、第2記録パラメータ群の各記録パラメータの分類数が、第1記録パラメータ群の記録パラメータの分類数よりも、大きければ良い。

0043

また、ここでは、3種類の記録パラメータを混在させる例を示したが、2種類の記録パラメータを混在させても良い。

0044

なお、第1記録パラメータ群の記録パラメータも、同様に考えることができることは、言うまでもない。

0045

また、以上の説明では、第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群で分類する記録情報として記録マーク長を用いたが、必ずしもこれに限らない。例えば、記録マーク長とスペース長とを記録情報として第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群を分類してもよい。この場合、記録マーク長の分類のみを変化させ、スペース長に対する分類に変更を行わないことによって、本発明と同様に記録パラメータ数を抑えることができる。

0046

上より、第1記録パラメータ群の全分類数よりも、第2記録パラメータ群の全分類数の方が、分類数が大きいので、第2記録パラメータ群の各分類の記録パラメータの設定を第1記録パラメータ群の記録パラメータの各分類の設定よりも細かくして、再生信号品質の最適化を行うことが可能となることがわかる。

0047

すなわち、当該分類又は分類方法を採用すれば、第1記録パラメータ群と比較して、第2記録パラメータ群を細かく分類することができ、第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群の両方の分類の数を増やすよりも、全体の記録パラメータの数を少なく抑えることができる。

0048

また、記録マークの後エッジは記録マークの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群をより細かく分類することによって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0049

その結果、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0050

以上より、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にする記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法などを提供することができる。

0051

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記課題を解決するために、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定手段と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定手段とを備えることを特徴としている。

0052

また、本発明の記録パラメータ設定方法は、前記課題を解決するために、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍でされているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定工程と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定工程とを含むことを特徴としている。

0053

前記構成又は方法によれば、試し記録パラメータ設定手段又は試し記録パラメータ設定工程は、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定するもの又は方法である。

0054

また、再生信号品質判定手段又は再生信号品質判定工程は、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する。

0055

したがって、前記構成又は方法によれば、後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群の分類数が充分でないなどの原因により、再生信号品質が悪ければ、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく設定するようにしている。

0056

よって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することができる記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法を提供することができる。

0057

また、予め固定された第2記録パラメータ群を用いる構成では、時間経過に伴って情報記録媒体トラック記録条件が変化した場合、トラックの記録条件の変化に応じて記録パラメータをこまめに変更することができないので、トラックの記録条件が変化することによって良好な再生信号品質が得られる(所定の再生信号品質を満足する)記録マークを形成できなくなるおそれがある。

0058

これに対して、本発明では、試し記録の結果に応じて第2記録パラメータ群の分類を設定し直す構成になっているので、時間経過に伴って情報記録媒体のトラックの記録条件が変化した場合でも、トラックの記録条件の変化に応じて第2記録パラメータ群の分類を設定し直すことができる。従って、時間経過に伴ってトラックの記録条件が変化した場合でも良好な再生信号品質が得られる(所定の再生信号品質を満足する)記録マークを形成することができる記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法を提供することができる。

0059

なお、試し記録では、ランダムなデータを使用すれば、記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していく場合に良好な再生信号品質を得やすくなるという利点がある。

0060

また、短い記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していくと、所定の再生信号品質を満足できる最小限の分類数にとどめることが可能になるので、参照テーブルの記録パラメータ数を所定の再生信号品質を満足できる最小限の数に設定することが容易になる利点がある。

0061

なお、再生信号品質としてはジッタエラーレートなどを用いることができ、情報記録媒体ごとにジッタ、エラーレートなどのボトムレベル規格が存在する場合には、上記規格に定められたボトムレベルの値を所定の再生信号品質として利用することもできる。

0062

また、所定の再生信号品質とは、記録パラメータ設定装置によって再生信号の誤り訂正が可能なレベルを表すものであり、記録パラメータ設定装置及び以下で説明する本発明の情報記録媒体の量産等によるばらつきに対する余裕を確保できる再生信号品質であればよい。

0063

以上により、第2記録パラメータ群の分類数を増やしながら所定の再生信号品質を満足する記録パラメータを決定していくことになるので、所定の再生信号品質を満足する記録パラメータが決定したときの第2記録パラメータ群の分類数をより少なく抑えることが可能になる。さらに、少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータを、所定の再生信号品質を満足するように決定することになるので、後エッジに蓄積した熱の影響を補償して、良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。したがって、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能となる。

0064

また、本発明の情報記録媒体は、前記課題を解決するために、記録情報に応じて記録マークを形成するための記録パラメータが所定領域に記録された情報記録媒体であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とを含んでおり、前記第1記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第2所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2所定記録マーク長は、前記第1所定記録マーク長以上であることを特徴としている。

0065

本発明の他の目的、特徴、および優れた点は、以下に示す記載によって十分分かるであろう。また、本発明の利点は、添付図面を参照した次の説明で明白になるであろう。

図面の簡単な説明

0066

本発明における光ディスク装置の制御部の実施の一形態を示す機能ブロック図である。
上記光ディスク装置の実施の一形態を示すブロック図である。
上記光ディスク装置によって情報が記録される光ディスクを示す斜視図である。
記録情報に対応するパルス列の設定を説明するタイミングチャートである。
2Tマーク長から9Tマーク長の記録マークを形成するためのパルス列及び記録パルスパラメータを説明するタイミングチャートである。
本発明における記録パラメータの設定動作動作フローを説明するフローチャートである。
本発明における参照テーブルの実施の一形態を示す図である。
本発明における参照テーブルの実施の一形態を示す図である。
本発明における参照テーブルの実施の一形態を示す図である。
本発明における参照テーブルの実施の一形態を示す図である。
本発明における参照テーブルの実施の一形態を示す図である。
記録パラメータの条件に対するジッタの変化を示す表である。
本発明における光ディスクに記録された参照テーブルの例を示す図であり、(a)は、本発明における光ディスクに記録された参照テーブルの一例を示し、(b)は、前記光ディスクに記録された参照テーブルの他の例を示す。
従来技術に係る参照テーブルを示す図である。
従来技術に係る参照テーブルを示す図である。

符号の説明

0067

1光ディスク装置(記録パラメータ設定装置)
2光ディスク(情報記録媒体)
3 格納部
10記録再生回路
11光ヘッド光ピックアップ
12 光ピックアップ
13ピックアップ駆動回路
14レーザ駆動回路
15再生回路
20 制御部
21記録パラメータ設定部(記録パラメータ設定装置)
22記録情報取得部
23試し記録パラメータ設定部(試し記録パラメータ設定手段)
24試し記録指示部
25再生信号取得部
26再生信号品質判定部(再生信号品質判定手段)
27記録指示
41設定用領域(所定領域)
42 ユーザ領域

発明を実施するための最良の形態

0068

〔実施の形態1〕
本発明の一実施形態について図1図13の(b)に基づいて説明すれば、以下の通りである。

0069

最初に、本実施の形態に係る記録再生装置として、光ディスク装置(記録パラメータ設定装置)1を例に挙げて説明する。図2に示すように、本実施の形態に係る光ディスク装置1は、光ヘッド(光ピックアップ)11、光ピックアップ12、ピックアップ駆動回路13、レーザ駆動回路14、再生回路15、及び制御部20を備えている。また、ピックアップ駆動回路13、レーザ駆動回路14、及び再生回路15によって記録再生回路群10が構成されている。光ディスク装置1は、光ディスク(情報記録媒体)2に対して情報の記録及び再生を行う装置である。なお、光ディスク2は光学ディスクであればよく、例えば光磁気ディスクなど、その種類は限定されるものではない。

0070

まず、光ヘッド11は光ピックアップ12に備えられており、光ヘッド11は光ディスク2に対して、情報を記録再生するための光ビームレーザビーム)を照射するとともに、光ディスク2からの反射光を検出し、再生回路15に対して出力するものである。光ピックアップ12は、光ヘッド11を備えてデータの記録及び再生を行うものであり、光軸方向及び光ディスク2の経方向であるラジアル方向に対して移動可能になっている。

0071

続いて、ピックアップ駆動回路13は、制御部20からの制御信号に従って光ピックアップ12を駆動させるものであって、光ピックアップ12を光ディスク2の図示しないトラックに対して、つまり上記ラジアル方向及び上記光軸方向に移動させるものである。さらに、レーザ駆動回路14は、光ヘッド11から照射する光ビームの出力を制御するものである。そして、再生回路15は、光ヘッド11が検出した反射光を再生信号に変換し、制御部20に対して出力するものである。

0072

制御部20は、光ディスク2に記録させる情報である記録マークの記録パラメータを設定するものである。また、制御部20は、ピックアップ駆動回路13を介して光ピックアップ12を移動させるものであり、レーザ駆動回路14を介して光ヘッド11から光ビーム照射させるものである。そして、光ヘッド11が検出した反射光を変換した再生信号を、再生回路15から受け取るものでもある。なお、制御部20については後に詳述する。

0073

次に、図3を用いて光ディスク装置1によって情報が記録される光ディスク2の概要について説明を行う。光ディスク2は、図3に示すように設定用領域(所定領域)41及びユーザ領域42を備えている。設定用領域41は、情報の試し記録を行うための領域(部位)であり、ユーザ領域42はユーザが所望する情報を記録するための部位である。また、設定用領域41は、後述する参照テーブル(第1記録パラメータ群・第2記録パラメータ群・記録パラメータ群)を記録している領域(所定領域)でもある。

0074

なお、設定用領域41の位置は、図3に示した位置に限らず、光ディスク2の任意の半径位置に存在していてもよいし、設定用領域41は複数存在していてもよい。

0075

次に、光ディスク装置1によって光ディスク2へ情報を記録する動作、及び光ディスク装置1によって光ディスク2に記録された情報を再生する動作のそれぞれについて簡単に説明を行う。

0076

光ディスク装置1によって光ディスク2へ情報を記録する場合には、まず、記録情報に基づいて制御部20が記録パラメータを設定する。そして、光ヘッド11から記録用の光ビームが光ディスク2の設定用領域41に照射され、光ディスク2の設定用領域41のトラックに情報が記録されることになる。また、光ディスク装置1によって光ディスク2に記録された情報を再生する場合には、まず、制御部20がピックアップ駆動回路13を介して光ピックアップ12を光ディスク2の設定用領域41又はユーザ領域42のうちの情報が記録されている記録部位へ移動させる。

0077

そして、制御部20がレーザ駆動回路14を介して、光ヘッド11から再生用の光ビームを光ディスク2の情報が記録された記録部位のトラックに対して照射する。光ヘッド11が検出した反射光は、再生回路15にて再生信号に変換され、制御部20に入力される。これにより、上記光ディスク装置1は、光ディスク2のトラックに記録された情報を再生することができる。ここで、記録情報とは、光ディスク2上に記録マークが形成される状態(マーク)と記録マークが形成されない状態(スペース)との2つの状態、及び上記2つの状態の長さとして、光ディスク2(情報記録媒体)上に記録される2値のデジタルデータのことを表す。従って、記録情報では、記録パラメータに設定する光ディスク2上に記録マークが形成される状態(マーク)と記録マークが形成されない状態(スペース)との2つの状態、及び上記2つの状態の長さが指定されていることになる。

0078

また、本実施の形態に係る光ディスク装置1は、上述したように光ディスク2の設定用領域41にまず記録(試し記録)を行い、試し記録の情報を再生して得られる再生信号の値に基づいて、制御部20によって記録パラメータの設定を行っている。そして、設定した当該記録パラメータに従ってユーザ領域42の各トラックに情報を記録している。なお、光ディスク装置1の記録パラメータ設定後のユーザ領域42への記録動作は一般に知られた記録動作と同様であり、ここでの詳細な説明は省略する。また、制御部20での記録パラメータの設定については、後に制御部20についての説明とともに詳述する。

0079

制御部20と制御部20での記録パラメータの設定とについての詳述を行う前に、図4及び図5を用いて記録パラメータについて説明する。以下の説明では、変調方式として(1,7)RLL(Run Length Limited code)を例に挙げて説明を行うが、本実施の形態においては、変調方式は(1,7)RLLの変調方式に限るものではない。なお、(1,7)RLLコードとは、磁気的、光学的ディジタル記録において、反転間隔の最小値と最大値とを制限したコードである。

0080

また、この(1,7)RLLの変調方式では、後で詳述するが、記録パルスのパルス列は、最短の記録マーク2Tが先頭部と終端部とから構成される一方、最短の記録マークよりも長い記録マークではこの先頭部と終端部との間に当該マーク長に応じた中間部を加えて構成される。なお、他の変調方式においては、例えば、最短の記録マーク長が3Tから始まるものもあり、このときは最短の記録マーク長が先頭部、中間部、終端部にて構成されている(例えば、DVD−RW等)。また、先頭部のみで構成されているものもある(例えば、DVD−R等)。ここで、T(あらかじめ定められた単位記録マーク長)はクロック1周期分の時間を表している。従って、例えば記録マーク長が3Tの場合には、クロック3周期分の時間に記録マークが形成される記録領域を表すことになる。

0081

図4に示すように、光ディスク2には、記録を行うための媒体温度分布を考慮し、記録情報に対応する記録パルスのパルス列が設定されている。図4では、記録情報が6Tの記録マーク長であった場合を例として、記録情報に対応するための記録パルスを示している。記録パルスのパルス列は、時間と記録パルスのパワーとで表されており、図4横軸方向が照射時間を、図4縦軸方向が記録パルスのパワーを表している。

0082

上記パルス列は、上述したように、先頭部と終端部、中間部とから構成されている。図4に示すように、ここでは、先頭立上り位置及び先頭パルスで構成される部分を先頭部、終端パルス、終端立上り位置、冷却期間、及び冷却終了位置で構成される部分を終端部、中間パルス、中間パルス立上り位置、先頭パルスと中間パルスの間、中間パルスの間、及び、中間パルスと終端パルスの間の期間である中間期間で構成される部分を中間部としている。

0083

また、上記パルス列は、図4に示すように、記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー及び冷却パワーとからも構成されている。そして、本実施の形態では、パルス列を構成する記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー及び冷却パワーを記録パワーパラメータと呼ぶことにする。これらの記録パワーパラメータは上述の記録パラメータに含まれる。なお、図4では、先頭部、終端部、及び中間部の記録パルスの記録パワーは同一になっているが、必ずしもこれに限らず、先端部と終端部と中間部で別個の記録パワーであってもよい。また、図4では、記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー、冷却パワーの順にパワーが小さくなっているが、必ずしもこれに限らない。ただし、先頭部又は終端部又は中間部の記録パルスの記録パワーのいずれかが最も大きく、バイアスパワー又は冷却パワーが最も小さいことが好ましい。

0084

また、図5に、2Tの記録マーク長から9Tの記録マーク長までのそれぞれの記録マークを形成するためのパルス列、及び記録パルスパラメータを示す。図5では、2Tの記録マーク長の記録マーク及び3Tの記録マーク長の記録マークは、先頭パルス及び冷却期間で構成されていて、4T及び5Tの記録マーク長の記録マークは、先頭パルス、終端パルス、及び冷却期間で構成されていて、6Tの記録マーク長以上の記録マークは、先頭パルス、中間期間、終端パルス、及び冷却期間で構成されている例を示している。

0085

また、図5において、dTtopは先頭部のパルス開始位置である先頭立上り位置、Ttopは先頭パルスの幅、dTeは終端部の冷却期間の終了する冷却終了位置、Tmpは中間パルスの幅、dTmpは中間パルス立上り位置、Tlpは終端パルスの幅、dTlpは終端パルスの立上り位置(終端立上り位置)を示している。また、dTeは終端部の冷却期間の終了する冷却終了位置であるとともに、冷却期間に続くスペースパワーPsを照射する期間の開始位置ともいえる。

0086

dTtop、dTmp、dTe、及びdTlpはそれぞれクロックの基準タイミングからの時間で設定されるものであって、dTtopとdTmpとdTlpとは、各記録マーク長に対応する記録情報の立上り位置(0から1になる位置)を基準とした時間で設定され、dTeは、各記録マーク長に対応する記録情報の立下り位置(1から0になる位置)を基準とした時間で設定される。

0087

このとき、全ての記録マーク長に対して、同じ基準が使用される。なお、図5において、dTtopは、記録情報の立上り位置を基準とした時間で設定されているが、記録情報の立上り位置から所定クロック間隔ずれた位置を基準にしてもよい。同様に、図5において、dTeは、記録情報の立下り位置を基準とした時間で設定されているが、記録情報の立下り位置から所定クロック間隔ずれた位置を基準にしてもよい。また、dTtop,dTmp、dTlp、及びdTeは、記録情報の立上り位置あるいは立下り位置からの基準位置のずれ量を別々に設定してもよい。本実施の形態では、記録パルスのタイミングを定義するdTtop、Ttop、dTe、Tlp、dTlp、Tmp、及びdTmpを記録パルスパラメータと呼ぶことにする。これらの記録パルスパラメータは上述の記録パラメータに含まれる。

0088

なお、図5において、Ttopによって先頭パルスの幅を設定しているが、先頭パルスの立下り位置に記録パルスパラメータを設定しても、先頭パルスの期間を表現することができる。同様に、Tlpによって終端パルスの幅を設定しているが、終端パルスの立下り位置に記録パルスパラメータを設定しても、終端パルスの期間を表現することができる。中間パルスについても同様である。

0089

記録パルスパラメータの値を変化させることにより、形成される記録マークの形状が変化する。先頭部を構成するdTtop及びTtopは、記録マークを形成し始める位置である前エッジの形状を変化させるため、記録パルスパラメータのうちのdTtop及びTtopのパラメータによって前エッジの熱の制御を行うことができる。 また、終端部を構成するdTe、Tlp、及びdTlpは、記録マークを形成し終わる位置である後エッジの形状を変化させるため、記録パルスパラメータのうちのdTe、Tlp、及びdTlpのパラメータによって後エッジの熱の制御を行うことができる。他にも、記録パルスパラメータのうちのTmp、dTmpは中間部の熱の蓄積を変化させるため、記録パルスパラメータのうちのTmp、dTmpのパラメータによって前エッジから後エッジまでの間の記録マークの形状の制御を行うことができる。

0090

また、上述した記録パワーパラメータ及び記録パルスパラメータからなる記録パラメータの値は参照テーブル(第1記録パラメータ群・第2記録パラメータ群・記録パラメータ群)の形で設定用領域41に記録されており、光ディスク装置1に読み取られて格納部3に格納(記録)されている。なお、格納部3はメモリ等の情報記録媒体、サーバなどの何れであってもよく、光ディスク装置1に備えられていてもよいし、光ディスク装置1の外部に接続可能にそなえられていてもよい。また、参照テーブルの詳細については後述する。

0091

次に、光ディスク装置1の制御部20での記録パラメータの設定について詳細な説明を行う。まず、図1を用いて制御部20の構成の概要について説明を行う。図1は本実施の形態における制御部20の構成を示す機能ブロック図である。

0092

図1に示すように、制御部20は、記録パラメータ設定部(記録パラメータ設定装置)21を備えている。記録パラメータ設定部21は、制御部20の機能のうち、光ディスク2に記録させる情報である記録マークの記録パラメータを設定する働き、レーザ駆動回路14を介して光ヘッド11から光ビーム照射させる働き、及び光ヘッド11が検出した反射光を変換した再生信号を再生回路15から受け取る働きを担っている。また、記録パラメータ設定部21は、記録情報取得部22、試し記録パラメータ設定部(試し記録パラメータ設定手段)23、試し記録指示部24、再生信号取得部25、再生信号品質判定部(再生信号品質判定手段)26、及び記録指示部27を備えており、上記各部によって上述した働きを担っている。

0093

記録情報取得部22は、光ディスク2に記録する記録情報を取得するものである。記録情報の取得先としては制御部20の上位の制御部、記録情報を格納したメモリ、サーバなどの何れであってもよく、記録情報の取得先は光ディスク装置1に備えられていてもよいし、光ディスク装置1の外部に接続可能に備えられていてもよい。

0094

また、試し記録パラメータ設定部23は、記録情報取得部22で取得した記録情報に基づいて格納部3に照会を行うことによって、格納部3の参照テーブルに定義されている記録パラメータのうちの当該記録情報に応じた記録パラメータを得て、試し記録動作のための試し記録パラメータの設定を行うものである。また、試し記録パラメータ設定部23は、試し記録動作のための試し記録パラメータの再設定を行う命令(試し記録パラメータ変更命令)を、後述する再生信号品質判定部26から受けた場合に、試し記録パラメータの再設定を行うものである。上記試し記録パラメータの再設定については後述する。

0095

そして、試し記録指示部24は、試し記録パラメータ設定部23によって設定された試し記録パラメータに従って光ディスク2の設定用領域41に試し記録動作を行うように、ピックアップ駆動回路13及びレーザ駆動回路14に指示を行うものである。

0096

再生信号取得部25は、試し記録指示部24の指示によって光ディスク2の設定用領域41に試し記録が行われた記録マークから得られた再生信号を、再生回路15から取得するものである。

0097

そして、再生信号品質判定部(再生信号品質判定手段)26は、再生信号取得部25が取得した再生信号に基づいて、当該試し記録に用いた試し記録パラメータの良否を判定するものである。再生信号品質判定部26では、当該試し記録に用いた試し記録パラメータの良否を、再生信号取得部25が取得した再生信号が所定の再生信号品質を満たすか否かに応じて判定している。再生信号品質判定部26は、当該再生信号が所定の再生信号品質を満たしていた場合には、当該試し記録に用いた試し記録パラメータを記録パラメータとして決定(設定)し、記録指示部27に送るものである。

0098

また、再生信号品質判定部26は、当該再生信号が所定の再生信号品質を満たしていなかった場合には、試し記録パラメータ設定部23が照会した参照テーブルにおける分類数が所定値以上であったか否かの判定を行うものである。そして、当該参照テーブルにおける分類数が所定値以上でなかった場合には、試し記録パラメータの再設定を行う試し記録パラメータ変更命令を試し記録パラメータ設定部23へ送るとともに、格納部3に格納されている参照テーブルの分類を細かく再設定するものである。

0099

また、再生信号品質判定部26は、当該参照テーブルにおける分類数が所定値以上であった場合には、記録パラメータ設定エラーが生じたとして、図示していない表示部にエラーを表示させて記録パラメータ設定動作を終了させるものである。ここで言うところの所定値については後に詳述する。なお、ここで言うところの所定の再生信号品質とは、記録再生装置(本実施の形態では光ディスク装置1)の誤り訂正の機能によって十分に補償可能な範囲の再生信号品質であり、記録再生装置及び光学ディスク(本実施の形態では光ディスク2)などの製造ばらつきを考慮して任意に設定する値である。再生信号品質としてはジッタ、エラーレートなどを用いることができ、光学ディスクごとにジッタ、エラーレートなどのボトムレベルの規格が存在する場合には、上記規格に定められたボトムレベルの値を所定の再生信号品質として利用することもできる。

0100

記録指示部27は、再生信号品質判定部26から送られてきた記録パラメータに従って光ディスク2のユーザ領域42に記録動作を行うようにピックアップ駆動回路13及びレーザ駆動回路14に指示を行うものである。

0101

以下、光ディスク装置1における記録パラメータの設定動作について、図6〜11を用いて説明を行う。図6は、本実施の形態における記録パラメータの設定動作の動作フローを説明するフローチャートである。図7図11は、本実施の形態における参照テーブルを示す図である。

0102

まず、ステップS1では、記録情報取得部22が、光ディスク2に記録する記録情報を取得する。続いてステップS2では、試し記録パラメータ設定部23が、記録情報取得部22で取得した記録情報に基づいて格納部3に照会を行い、試し記録パラメータの設定を行う。詳しくは、記録情報に基づいて、まずは図7及び図11のような参照テーブルを参照し、当該記録情報に応じた記録パラメータを得て、試し記録パラメータの設定を行う。

0103

図7は、記録マークを形成し終わる位置である後エッジの熱を制御するための参照テーブル(第2記録パラメータ群)として、記録パルスパラメータである終端パルスの幅Tlpの参照テーブルを示している。図7では、4T以上の記録マーク長に対して、奇数マーク長と偶数マーク長との2つの分類が対応した参照テーブルを使用している。このとき、記録情報の記録マーク長が4T未満であった場合には、デフォルトで設定されている記録パラメータを記録パラメータとして設定し、記録情報の記録マーク長が4T以上であった場合には、参照テーブルの対応する分類の値(ここでは、c4とc5)を記録パラメータとして設定する。例えば、デフォルトの設定としては、この場合ではTtopの値を予め設定しておけばよい。

0104

また、図11は、記録マークを形成し始める位置である前エッジの熱を制御するための参照テーブル(第1記録パラメータ群)として、記録パルスパラメータである先頭立上り位置dTtopの参照テーブルを示している。図11では、記録マーク長を2T、3T、及び4T以上の奇数マーク長及び偶数マーク長の4種類に分類しており、本実施の形態では、以降の試し記録ではこの分類数は変更しない場合について説明する。したがって、前エッジの熱を制御するための記録パラメータの数はこれ以上増加しない場合について説明する。

0105

ただし、上記本実施の形態の説明に入る前に、ここでは、前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群の分類数を変更する場合を含めて、本実施の形態における両参照テーブル(第1記録パラメータ群と第2記録パラメータ群と)の全分類数の関係についてより詳細に説明しておくことにする。

0106

まず、前エッジの熱を制御するための参照テーブル(以下、第1記録パラメータ群と呼ぶ)は、記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長Tの整数倍で分類されているとともに、第1所定記録マーク長(4T)から最大の記録マーク長(9T)までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されているものとする。

0107

一方、後エッジの熱を制御するための参照テーブル(以下、第2記録パラメータ群と呼ぶ)は、単位記録マーク長Tの整数倍で分類されているとともに、第2所定記録マーク長(4T以上7T以下の任意の値をとり得る)よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長(9T)までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されているものとする。

0108

なお、第1所定記録マーク長及び第2所定記録マーク長とは、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長であって、情報記録媒体の種類に応じて任意に設定されるものである。

0109

以上の第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群の全分類数の関係は、以下の式のようになる。

0110

第1記録パラメータ群の全分類数=第1所定記録マーク長未満の分類数(4T未満だから2T、3Tの2分類)+奇数マーク長の1分類(5T、7T、及び9T)+偶数マーク長(4T、6T、及び8T)の1分類
=第1所定記録マーク長未満の分類数(2分類)+2分類
(第1所定記録マーク長=第2所定記録マーク長=4Tのとき)
第2記録パラメータ群の全分類数=第2所定記録マーク長未満の分類数(4T未満だから2T、3Tの2分類)+第2所定記録マーク長の1分類(4T)+奇数マーク長の1分類(5T、7T、及び9T)+偶数マーク長の1分類(6T、及び8T)
=第2所定記録マーク長未満の分類数(2分類)+3分類
全分類数の差=1分類+第2所定記録マーク長未満の分類数(2分類)−第1所定記録マーク長未満の分類数(2分類)=1分類
(第1所定記録マーク長(4T)<第2所定記録マーク長(5T以上7T以下のいずれか)のとき)
第2記録パラメータ群の全分類数=第2所定記録マーク長未満の分類数(3分類以上5分類以下)+第2所定記録マーク長の1分類(5T以上7T以下のいずれか)+奇数マーク長の1分類(7T及び9T、又は9T)+偶数マーク長の1分類(6T及び8T、又は8T)
=第2所定記録マーク長未満の分類数(3分類以上5分類以下)+3分類
全分類数の差=1分類+第2所定記録マーク長未満の分類数(3分類以上5分類以下)−第1所定記録マーク長未満(2分類)の分類数
2≦全分類数の差≦4
以上より、第1所定第1記録パラメータ群の全分類数よりも、第2記録パラメータ群の全分類数の方が、分類数が1分類以上(本実施の形態では、最大4分類まで増加可能である)大きいことがわかる。

0111

なお、ここでは、第1記録パラメータ群の第1所定記録マーク長は、固定しておき、第2所定記録マーク長を大きくスライドさせる場合の例について計算した。

0112

しかしながら、この例に限らず、第1所定記録マーク長及び第2所定記録マーク長のそれぞれを大きくスライドさせれば、第1記録パラメータ群の全分類数及び第2記録パラメータ群の全分類数のうちのそれぞれの分類数が大きくなる。ただし、本発明の効果を得るためには、第1記録パラメータ群の分類数<第2記録パラメータ群の分類数の関係を維持することが必要である。

0113

また、第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群のそれぞれの記録パラメータは、1つであっても良いし、複数であっても良い。記録パラメータが複数の場合、記録パラメータの各分類は、共通であっても良いし、別個独立としても良い。

0114

例えば、第2記録パラメータ群の記録パラメータを、終端パルスの幅のみとすれば、第2記録パラメータ群全体の終端パルスの最適化をより正確に行うことができる。

0115

一方、第2記録パラメータ群の記録パラメータを、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置とすれば、第2記録パラメータ群全体の記録パラメータについてパルス列全体のバランスを考慮した最適化を行うことができる。

0116

なお、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置それぞれの記録パラメータで、記録マーク長による分類数を共通にしても良いし、別個独立としても良い。このとき、第2記録パラメータ群の各記録パラメータの分類数が、第1記録パラメータ群の記録パラメータの分類数よりも、大きければ良い。

0117

また、ここでは、3種類の記録パラメータを混在させる例を示したが、2種類の記録パラメータを混在させても良い。

0118

なお、第1記録パラメータ群の記録パラメータも、同様に考えることができることは、言うまでもない。

0119

上述したように、図7及び11の参照テーブルはディスクの設定用領域41に記録されており、光ディスク装置1が上記参照テーブルを読み取って格納部3に格納する。以降、試し記録パラメータ設定部23は、格納部3の参照テーブルを参照して試し記録パラメータの設定を行う。ここでは、4Tより長い記録マーク長(5T以上)の終端パルスの幅Tlpの偶数マーク長(6T、8T)に対して、4Tと同じ値、つまり、c4を試し記録パラメータ設定部23に設定する。4Tより長い記録マーク長(5T以上)の終端パルスの幅Tlpの奇数マーク長(5T、7T、9T)に対して、5Tと同じ値、つまり、c5を試し記録パラメータ設定部23に設定する。

0120

また、4T長いマーク長(5T以上)の先頭立上り位置dTtopの偶数マーク長(6T、8T)に対して、4Tと同じ値、つまり、d4を試し記録パラメータ設定部23に設定する。4T長いマーク長(5T以上)の先頭立上り位置dTtopの奇数マーク長(5T、7T、9T)に対して、5Tと同じ値、つまり、d5を試し記録パラメータ設定部23に設定する。試し記録パラメータ設定部23は、5T以上の偶数マーク長に4Tと同じ値を、5T以上の奇数マーク長に5Tと同じ値を設定するので、9Tまでのそれぞれ異なる記録パラメータを読み出すのに比べて読み出し時間を短縮することができる。

0121

試し記録パラメータ設定部23は、4Tと6Tと8T、5Tと7Tと9Tにそれぞれ同じ記録パラメータの値を設定し、試し記録の際には同じ変化量を与える。つまり、4Tと6Tと8Tの共通の試し記録時の変化量の値として4Tの変化量の値を使用し、5Tと7Tと9Tの共通の試し記録時の変化量の値として5Tの変化量の値を使用する。

0122

ステップS3では、試し記録指示部24が、試し記録パラメータ設定部23で設定された試し記録パラメータに従って光ディスク2の設定用領域41に試し記録動作を行うように、ピックアップ駆動回路13及びレーザ駆動回路14に指示を行う。続いて、ステップS4では、ピックアップ駆動回路13及びレーザ駆動回路14によって、当該試し記録パラメータに従った光ディスク2の設定用領域への情報の記録を、光ヘッド11に行わせる。そして、ステップS5では、光ヘッド11によって当該情報の再生を行って、再生回路15にて再生信号を得る。

0123

ステップS6では、再生信号取得部25が当該再生信号を取得し、再生信号品質判定部26に送る。続いて、ステップS7では、再生信号品質判定部26が、再生信号取得部25が取得した再生信号が所定の再生信号品質を満たすか否かの判定を行う。ここで、当該再生信号が所定の再生信号品質を満たしていた場合(ステップS7でYES)には、ステップS8に移る。そして、当該再生信号が所定の再生信号品質を満たしていなかった場合(ステップS7でNO)には、ステップS9に移る。具体的には、所定の再生信号品質として、記録マークの前エッジと後エッジの両方のジッタが所定値(例えば、7.0%以下)を満たすか否かによって、再生信号が所定の再生信号品質を満たすか否かの判定を行う。

0124

ステップS8では、当該試し記録に用いた試し記録パラメータが、再生信号品質判定部26によって記録指示部27に送られる。つまり、光ディスク2のユーザ領域42に実際に記録動作を行うための記録パラメータが設定(決定)され、記録パラメータ設定動作が終了する。

0125

ステップS9では、再生信号品質判定部26によって、試し記録パラメータ設定部23が照会した参照テーブルにおける分類数が所定値以上であったか否かの判定を行う。そして、当該参照テーブルにおける分類数が所定値以上であった場合(ステップS9でYES)には、ステップS10に移る。また、当該参照テーブルにおける分類数が所定値以上でなかった場合(ステップS9でNO)には、ステップS11に移る。

0126

上記所定値について以下で説明する。具体的に例を挙げると図7では参照テーブルの分類数は2つである。本実施の形態では、最大の記録マーク長は9Tであるため、4Tから9Tまでが個別に分類される場合に、参照テーブルの分類数は最大の6個となる。ここで、試し記録パラメータ設定部23が照会した参照テーブルにおける分類数が7個だと再生信号品質判定部26がステップS9で判定したとき、図7の参照テーブルの分類数は最大6個であるので矛盾する。従って、記録パラメータ設定動作にエラーが生じていることになる。

0127

また、試し記録パラメータ設定部23が照会した参照テーブルにおける分類数が6個だと再生信号品質判定部26がステップS9で判定したとき、図7の参照テーブルの分類数の最大値と同じであるので、これ以上分類数を増やすことが出来ず、記録パラメータ設定動作にエラーが生じていることになる。従って、本実施の形態では、記録パラメータ設定動作にエラーが生じていることを検出可能にするために、試し記録パラメータ設定部23が照会した参照テーブルにおける分類数の最大値を上記所定値として用いる。なお、試し記録動作のための試し記録パラメータを再設定するごとに、試し記録パラメータ設定部23が照会する参照テーブルも変更されるが、上記所定値は、上記参照テーブルの変更に伴って変化する参照テーブルの分類数の最大値に応じて変動する。

0128

ステップS10では、記録パラメータ設定動作にエラーが生じたとして、再生信号品質判定部26が、図示していない表示部にエラーを表示させるとともに、記録パラメータ設定動作を終了させる。

0129

ステップS11では、試し記録パラメータの再設定を行う試し記録パラメータ変更命令を試し記録パラメータ設定部23へ送るとともに、格納部3に格納されている参照テーブルの分類を細かく設定する。具体的には、4T以上の記録マーク長に対して2つの分類しかなかった参照テーブルの分類を、図8に示すように、4Tと、5T以上の奇数マーク長と偶数マーク長とに対しての3種類に分類して試し記録パラメータ設定部23に設定できるようにする。

0130

これにより、4Tと、5T以上の奇数マーク長と偶数マーク長との試し記録パラメータの設定値とを独立に制御して試し記録を行うことができる。そして、試し記録パラメータ変更命令を受けた試し記録パラメータ設定部23が、新たに格納部3に照会を行い、図8の参照テーブルに定義されている記録パラメータのうちの当該記録情報に応じた記録パラメータを得て、試し記録動作に使用する試し記録パラメータの再設定を行う。

0131

このとき、5Tと7Tと9Tに同じ値を設定し、試し記録の際には同じ変化量を与える。つまり、5Tの値を、7Tと9Tとの共通の値として使用する。また、6Tと8Tに同じ値を設定し、試し記録の際には同じ変化量を与える。つまり、6Tの値を、8Tとの共通の値として使用する。そして、参照テーブルの変更を行った後は、ステップS2に戻って動作フローを繰り返す。なお、ステップS2に戻って動作フローを繰り返すごとに、上述したようにして格納部3に格納されている参照テーブルの分類を細かく設定し直していく。

0132

具体的には、図8の参照テーブルの次には、図9に示すような4Tと、5Tと、6T以上の奇数マーク長と偶数マーク長との4種類に分類した参照テーブルを用いる。そして、図9の参照テーブルの次には、図10に示すような4Tと、5Tと、6Tと、7T以上の奇数マーク長と偶数マーク長(8T)との5種類に分類した参照テーブルを用いるといったように、段階的に参照テーブルの分類を細かく設定し直していく。

0133

なお、本実施の形態では、試し記録動作を開始した時点で格納部3に格納されている前エッジの熱を制御するための参照テーブルと後エッジの熱を制御するための参照テーブルとの両方で4T以上(所定記録マーク長以上)が奇数マーク長と偶数マーク長の2つに分類されているが、必ずしもこれに限らない。例えば、試し記録動作を開始した時点で格納部3に格納されている前エッジの熱を制御するための参照テーブルと後エッジの熱を制御するための参照テーブルとのうち、上記後エッジの熱を制御するための参照テーブルは、上記前エッジの熱を制御するための参照テーブルよりも更に細かく分類されていることが好ましい。

0134

また、上述した前エッジの熱を制御するための参照テーブルと後エッジの熱を制御するための参照テーブルとのうち、上記後エッジの熱を制御するための参照テーブルは、上記前エッジの熱を制御するための参照テーブルよりも更に細かく分類されているテーブルとして、光ディスク2の設定用領域41に記録しておいてもよい。この場合、参照テーブルが光ディスク装置1に読み取られて格納部3に格納(記録)されると、試し記録動作を開始した時点で格納部3に格納されている前エッジの熱を制御するための参照テーブルと後エッジの熱を制御するための参照テーブルとのうち、上記後エッジの熱を制御するための参照テーブルは、上記前エッジの熱を制御するための参照テーブルよりも更に細かく分類されることになる。

0135

すなわち、所定の記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長とに分類された前エッジの熱を制御するための参照テーブルと、所定の記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類された(すなわち、所定の記録マーク長と所定の記録マーク長よりも長いマーク長とに分けて、さらに所定の記録マーク長よりも長いマーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類した)後ろエッジの熱を制御するための参照テーブルとを含むこととなる。

0136

これにより、記録マークの前エッジの熱を制御する記録パラメータと比較して、記録マークの後エッジの熱を制御する記録パラメータを細かく分類することができ、前エッジと後エッジの記録パラメータの両方の分類の数を増やすよりも、記録パラメータの数を少なくすることができる。また、記録マークの後エッジは記録マークの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、後エッジの熱を制御するための参照テーブルをより細かく分類することによって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0137

また、本実施の形態では、試し記録パラメータの再設定を行う場合には、格納部3に格納されている参照テーブルの分類を細かく設定する構成になっているが、必ずしもこれに限らない。例えば、格納部3に予め分類数の異なる複数の参照テーブルを格納しておき(例として、図7図8図9及び図10の参照テーブルのすべてを格納部3に格納しておく等)、試し記録パラメータの再設定を行う場合には、試し記録パラメータ設定部23で照会する参照テーブルの種類を変更する構成に代えてもよい。

0138

例えば、終端パルスの幅Tlpについて最終的に決定した記録パラメータの参照テーブルが図10の参照テーブルの場合、記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータであるTlpは、図10のように記録マーク長4T以上が4T、5T、6T、8T、7T以上の偶数マーク長(7Tと9T)に分類して設定されることになる。また、記録マークの前エッジの熱を制御するための記録パラメータであるdTtopは、試し記録による再設定を行わないので、ステップS2での設定のまま、図11のように記録マーク長が2T、3T、4T以上の奇数マーク長と偶数マーク長の4種類に分類して設定されることになる。

0139

また、参照テーブルが光ディスク2の設定用領域41に記録されるケースでは、例えば記録パルスパラメータdTtop、Tlpは、記録マーク長に応じた値が記録されることになり、図13の(a)及び図13の(b)に示されるような記録パルスパラメータdTtop、Tlpの値が設定用領域41に記録されることになる。

0140

図13の(a)からわかるように、記録パルスパラメータdTtopは、2T、3T、4T以上の奇数マーク長、及び4T以上の偶数マーク長の4つの領域に分類されて割当てられている。一方、図13の(b)からわかるように、記録パルスパラメータTlpは、4T、5T以上の奇数マーク長、及び5T以上の偶数マーク長の3つの領域に分類されて割当てられている。すなわち、記録パルスパラメータdTtopの値を格納する領域は、記録マーク長に応じて割当てられているとともに、所定の記録マーク長以上(図13の(a)では4T以上)の値を格納する領域は2つの領域に割当てられている。そして、記録パルスパラメータTlpの値を格納する領域は、記録マーク長に応じて割当てられているとともに、所定の記録マーク長よりも長い記録マーク長(図13の(b)では5T以上)の値を格納する領域は2つの領域に割当てられている。

0141

このように、参照テーブルが光ディスク2の設定用領域41に記録されるケースでも、後エッジの熱を制御して後エッジを形成するための参照テーブルは前エッジの熱を制御して前エッジを形成するための参照テーブルよりも更に細かく分類されていることとなる。よって、光ディスク2の設定用領域41から参照テーブルを読み出すことによって、本発明の作用効果を得ることができる。

0142

なお、光ディスク2の設定用領域41に記録する参照テーブルのそれぞれの値は、上述の試し書きによって記録された値でも良いし、出荷時の各種設定の際の事前記録として記録された値であってもよい。

0143

次に、本発明における作用効果について図12を用いて説明を行う。図12は、参照テーブルの分類の度合いと記録マークの再生信号のジッタとの相関関係を示す表である。

0144

条件1では、終端パルスの幅Tlpの記録パラメータとして、図7の参照テーブル(4T以上の記録マーク長に対して記録パルスパラメータを奇数マーク長と偶数マーク長に分類したもの)を使用し、条件2では、図8の参照テーブル(4Tと、5T以上の記録マーク長に対して記録パルスパラメータを奇数マーク長と偶数マーク長に分類したもの)を使用した。また、条件3として、図9の参照テーブル(4Tと、5Tと、6T以上との記録マーク長に対して記録パルスパラメータを奇数マーク長と偶数マーク長に分類したもの)を使用した。例えば、所定の再生信号品質を、記録マークの前エッジと後エッジの両方のジッタが7.0%以下とした場合には、図12から明らかなように、条件3と条件4しか所定の再生信号品質を満足しないことになる。つまり、記録パラメータの数を少なくするために記録マーク長の分類をまとめすぎると条件1、条件2の場合のように所定の再生信号品質を満足できないことになる。これに対して、本発明では、条件1の参照テーブルで所定の再生信号品質を満足できない場合には、条件2の参照テーブルを使用するといったように、所定の再生信号品質を満足できるところまで参照テーブルの分類を細かく設定し直していくことができる。

0145

なお、所定の再生信号品質は必ずしも記録マークの前エッジと後エッジの両方のジッタが7.0%以下であることに限らない。ここで、所定の再生信号品質とは、光ディスク装置1によって再生信号の誤り訂正が可能なレベルを表すものであり、光ディスク装置1及び光ディスク2の量産等によるばらつきに対する余裕を確保できる再生信号品質であればよい。例えば、所定の再生信号品質を記録マークの前エッジと後エッジを合わせたジッタ(両ジッタ)が7.0%以下とした場合は、図12から明らかなように、条件2、3及び4が所定の再生信号品質を満足する条件となる。

0146

以上のように、記録マークの少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータに対して定義した参照テーブルを持ち、前記参照テーブルは、前記記録情報のうち少なくともマーク長に応じて分類され、かつ、所定マーク長以上は同じ分類となっており、前記参照テーブルに基づき設定した試し記録パラメータにより試し記録を行い、試し記録を再生し、所定の再生信号品質を満足しない場合は、前記所定マーク長以上の参照テーブルをマーク長によって更に細かく分類し直して、試し記録を行い、試し記録を再生し、所定の再生信号品質を満足する参照テーブルを決定する。これにより、使用する記録パラメータの数をできるだけ少なくし、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱を制御することにより蓄積した熱の影響を補償して、良好な再生信号品質が得られる(所定の再生信号品質を満足する)記録マークを形成することができる。

0147

なお、記録マークの後エッジは記録マークの前エッジなどの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、所定の記録マーク長以上の記録マークを形成する場合には、後エッジの熱を制御するだけで所定の再生信号品質を得られる記録マークを形成することが可能である。従って、少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータを本発明によって設定するだけで、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0148

また、予め固定された参照テーブルを用いる構成では、時間経過に伴って光ディスク2のトラックの記録条件が変化した場合、トラックの記録条件の変化に応じて参照テーブルをこまめに変更することができないので、トラックの記録条件が変化によって良好な再生信号品質が得られる(所定の再生信号品質を満足する)記録マークを形成できなくなるおそれがある。これに対して、本発明では、試し記録の結果に応じて参照テーブルの分類を設定し直す構成になっているので、時間経過に伴って光ディスク2のトラックの記録条件が変化した場合でも、トラックの記録条件の変化に応じて参照テーブルの分類を設定し直すことができる。従って、時間経過に伴ってトラックの記録条件が変化した場合でも良好な再生信号品質が得られる(所定の再生信号品質を満足する)記録マークを形成することができる。

0149

なお、設定した記録パラメータの参照テーブルを光ディスク2の設定用領域41に記録し、次以降に記録パラメータを設定するために、設定用領域41に記録した当該参照テーブルを光ディスク装置1が読み出して使用する構成であってもよい。例えば、終端パルスの幅Tlpについて決定した記録パラメータの参照テーブルが図10の場合、光ディスク2の設定用領域41に、この情報を記録する。これにより、光ディスク装置1は、次以降に記録パルスパラメータTlpを設定するために、図10の参照テーブルの情報を設定用領域41から読み出して使用することができる。

0150

また、以上の構成によれば、予め試し記録を行うことによって設定した記録パラメータの参照テーブルを、新たな記録時の試し記録パラメータに利用することができるので、記録パラメータの決定までに試し記録を繰り返す回数を減らすことが可能になる。また、設定した記録パラメータの参照テーブルを光ディスク2の設定用領域41に記録するため、メモリ等の記憶装置を新たに設ける必要がなくなる。

0151

なお、本実施の形態では、記録パラメータを参照テーブルといったテーブルの形にして用いているが、必ずしもこれに限らず、記録パラメータの集合を格納部に格納していてもよい。

0152

また、本実施の形態では、参照テーブルの分類の仕方として、短いマーク長から段階的に分類していったが、必ずしもこれに限らない。ただし、記録マーク長が短いほど、ユーザ領域42に記録するデータの中に発生する頻度が多くなる。なお、試し記録では、ユーザ領域42に記録するデータをそのまま用いる必要はなく、ランダムなデータを使用することで、記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していく場合に良好な再生信号品質を得やすくなるという利点がある。また、短い記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していくと、所定の再生信号品質を満足できる最小限の分類数にとどめることが可能になるので、参照テーブルの記録パラメータ数を所定の再生信号品質を満足できる最小限の数に設定することが容易になる利点がある。

0153

なお、本実施の形態では、参照テーブルで分類する記録情報として記録マーク長を用いたが、必ずしもこれに限らない。例えば記録マーク長とスペース長とを記録情報として参照テーブルで分類してもよい。この場合、記録マーク長の分類のみを変化させ、スペース長に対する分類に変更を行わないことによって、本実施の形態と同様に記録パラメータ数を抑えることができる。

0154

また、本実施の形態では、参照テーブルの例として、終端パルスの幅Tlpを用いて説明を行ったが、終端パルスの立上り位置を表すdTlp又は冷却期間の終了する冷却終了位置dTeによる参照テーブルを用いたとしても、記録マークの後エッジの熱を制御できるため、同様の効果を得ることができる。このとき、dTlpを時間の進行方向に変化させると記録マークの後エッジは時間の進行方向に、時間の進行方向と逆方向に変化させると記録マークの後エッジは時間の進行方向と逆方向に変化する。また、dTeも時間の進行方向に変化させると記録マークの後エッジは時間の進行方向に、時間の進行方向と逆方向に変化させると記録マークの後エッジは時間の進行方向と逆方向に変化する。

0155

なお、本実施の形態では、前エッジの熱を制御するための記録パラメータとして先頭立上り位置dTtopを用いたが、必ずしもこれに限らず、先頭パルスの幅Ttopを記録パラメータとして用いてもよい。

0156

また、本実施の形態では、前エッジの熱を制御するための記録パラメータを試し記録によって再設定しない構成になっているが、必ずしもこれに限らない。例えば、後エッジの熱を制御するための記録パラメータに加えて、前エッジの熱を制御するための記録パラメータを試し記録によって再設定する構成であってもよい。この場合には、後エッジの熱を制御するための記録パラメータを再設定するのと同様にして前エッジの熱を制御するための記録パラメータの再設定を行えばよい。

0157

また、本実施の形態では、前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類する工程(第1記録パラメータ群分類工程、試し記録パラメータ設定工程;第1の工程)と、後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を、上記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類するとともに、上記所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類する工程(第2記録パラメータ群分類工程、試し記録パラメータ設定工程;第2の工程)の両工程を記録パラメータ設定部21内で行っているが、各工程(第1記録パラメータ群分類工程及び第2記録パラメータ群分類工程、試し記録パラメータ設定工程;第1及び第2の工程)のそれぞれに対応する別々の手段で行う構成であってもよい。

0158

なお、本実施の形態では、最初に試し記録に用いる参照テーブルにおいて、所定記録マーク長を4Tにしているが、必ずしもこれに限らず、4T以上であればあらゆる正の整数値をとってもよい。ここで言うところの所定記録マーク長とは、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長であって、情報記録媒体(本実施の形態では、光ディスク2)の種類に応じて任意に設定されるものである。

0159

また、本実施の形態では、試し記録の再生信号品質の評価にジッタを用いた場合を例に説明を行ったが、必ずしもこれに限らない。例えば、他にもエラーレートなどを再生信号品質の評価に用いてもよく、試し記録の再生信号品質の評価に用いる指標であれば何を用いてもよい。

0160

なお、本実施の形態では、d=1のランレングス制限符号として(1,7)RLLコードを用いたが、必ずしもこれに限らず、他の変調方式及び他のコードを用いてもよい。

0161

また、本実施の形態では、光変調記録の光ディスク装置1を用いているが、これに限らず、光磁界変調記録の光ディスク装置でも同様に用いることができる。さらに、本実施の形態においては、記録再生装置の一例として光ディスク装置1を用いているが、必ずしもこれに限らない。例えば、情報記録媒体上を加熱することによって該情報記録媒体の物理特性を変化させて情報を記録する装置であればよく、磁気記録装置光磁気ディスク装置などでも光ディスク装置1と同様に用いることができる。

0162

なお、本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。

0163

最後に、光ディスク装置1の各ブロック、特に上記実施形態の記録パラメータ設定部21の各部や各処理ステップは、は、ハードウェアロジックによって構成してもよいし、次のようにCPUを用いてソフトウェアによって実現してもよい。

0164

すなわち、光ディスク装置1(記録パラメータ設定部21)は、各機能を実現する制御プログラムの命令を実行するCPU(central processing unit)、前記プログラムを格納したROM(read only memory)、前記プログラムを展開するRAM(random access memory)、前記プログラム及び各種データを格納するメモリ等の記憶装置(記録媒体)などを備えている。そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウェアである光ディスク装置1(記録パラメータ設定部21)の制御プログラムのプログラムコード実行形式プログラム中間コードプログラムソースプログラム)をコンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体を、前記光ディスク装置1(記録パラメータ設定部21)に供給し、そのコンピュータ(又はCPUやMPU)が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。

0165

前記記録媒体としては、例えば、磁気テープカセットテープ等のテープ系、フロッピー登録商標)ディスク/ハードディスク等の磁気ディスクコンパクトディスク−ROM/MO/MD/デジタルビデオデイスク/コンパクトディスク−R等の光ディスクを含むディスク系、ICカードメモリカードを含む)/光カード等のカード系、あるいはマスクROMEPROM/EEPROM/フラッシュROM等の半導体メモリ系などを用いることができる。

0166

また、光ディスク装置1を通信ネットワークと接続可能に構成し、前記プログラムコードを通信ネットワークを介して供給してもよい。この通信ネットワークとしては、特に限定されず、例えば、インターネットイントラネットエキストラネット、LAN、ISDN、VAN、CATV通信網仮想専用網(virtual private network)、電話回線網移動体通信網衛星通信網等が利用可能である。また、通信ネットワークを構成する伝送媒体としては、特に限定されず、例えば、IEEE1394、USB、電力線搬送ケーブルTV回線電話線ADSL回線等の有線でも、IrDAやリモコンのような赤外線、Bluetooth(登録商標)、802.11無線HDR携帯電話網衛星回線地上波デジタル網等の無線でも利用可能である。なお、本発明は、前記プログラムコードが電子的な伝送具現化された、搬送波に埋め込まれたコンピュータデータ信号の形態でも実現され得る。

0167

なお、本発明に係る記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群と、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、前記所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群とから前記記録パラメータがなっていても良い。

0168

また、本発明の情報記録体は、記録情報に応じて記録マークを形成するための記録パラメータが所定領域に記録された情報記録媒体であって、前記記録パラメータは、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群と、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、前記所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群と、を含んでいても良い。

0169

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの少なくとも前記記録マークを形成し終わる領域である後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定手段と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、当該再生信号が所定の再生信号品質を満足する場合は、試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定手段とを備えていても良い。

0170

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、記録パラメータ設定装置前記再生信号品質判定手段は、前記再生信号が所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の所定記録マーク長以上の分類を、所定記録マーク長とそれ以外の記録マーク長とに分類し直しても良い。

0171

また、本発明に係る記録パラメータ設定方法は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録マークのうちの前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類するとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類する第1記録パラメータ群分類工程と、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類するとともに、前記所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類する第2記録パラメータ群分類工程とを含んでいても良い。

0172

また、本発明に係る記録パラメータ設定方法は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録情報のうちの少なくとも記録マーク長に応じて分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長は奇数マーク長と偶数マーク長に分類されている、前記記録マークのうちの少なくとも前記記録マークを形成し終わる領域である後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定工程と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、当該再生信号が所定の再生信号品質を満足する場合は、試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定工程とを含んでいても良い。

0173

これにより、記録マークの前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群と比較して、記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を細かく分類することができ、前エッジの熱を制御するための記録パラメータ群と後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群との両方の分類の数を増やすよりも、全体の記録パラメータの数を少なく抑えることができる。また、記録マークの後エッジは記録マークの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群をより細かく分類することによって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0174

その結果、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0175

また、本発明に係る記録再生装置は、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅であっても良い。

0176

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0177

また、本発明に係る記録再生装置は、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置であっても良い。

0178

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0179

また、本発明に係る記録再生装置は、前記記録マークのうちの後エッジの熱を制御するための記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置であっても良い。

0180

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0181

また、本発明に係る記録再生装置は、前記記録マークのうちの前エッジの熱を制御するための記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭立上り位置であっても良い。

0182

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の先頭立上り位置を前エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0183

また、本発明に係る記録再生装置は、前記記録マークのうちの前エッジの熱を制御するための記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅であっても良い。

0184

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅を前エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0185

また、本発明に係る記録再生装置は、前記所定記録マーク長は、4T以上であっても良い。

0186

これにより、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長に対して、後エッジの熱の蓄積を軽減するように設定することが可能になる。従って、使用する記録パラメータの数を最低限に抑えながら、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0187

以上のように、本発明によれば、記録パラメータ群の分類数を増やしながら所定の再生信号品質を満足する記録パラメータを決定していくことになるので、所定の再生信号品質を満足する記録パラメータが決定したときの記録パラメータ群の分類数をより少なく抑えることが可能になる。さらに、少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータを、所定の再生信号品質を満足するように決定することになるので、後エッジに蓄積した熱の影響を補償して、良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。したがって、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にするという効果を奏する。

0188

また、本発明に係る記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とを含んでおり、前記第1記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第2所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2所定記録マーク長は、前記第1所定記録マーク長以上であっても良い。

0189

また、本発明に係る記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第2記録パラメータ群の前記第2所定記録マーク長以上の分類は、当該第2所定記録マーク長と当該第2所定記録マーク長以外の記録マーク長とに分類され、前記第2所定記録マーク長以外の記録マーク長は、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されていることが好ましい。

0190

また、本発明の記録パラメータ設定方法は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とを含んでおり、前記第1記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第1記録パラメータ群分類工程と、前記第2記録パラメータ群を、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類するとともに、第2所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類する第2記録パラメータ群分類工程とを含んでおり、前記第2所定記録マーク長を、前記第1所定記録マーク長以上としても良い。

0191

前記構成又は方法によれば、記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行うようになっている。

0192

なお、記録情報とは、以下で説明する情報記録媒体上に記録マークが形成される状態(マーク)と記録マークが形成されない状態(スペース)との2つの状態、及び上記2つの状態の長さとして、情報記録媒体上に記録される2値のデジタルデータのことを表す。従って、記録情報では、記録パラメータに設定する情報記録媒体上に記録マークが形成される状態(マーク)と記録マークが形成されない状態(スペース)との2つの状態、及び上記2つの状態の長さが指定されていることになる。

0193

記録マークの形成は、例えば、所定のパルス列からなる記録パルスのレーザ光を情報記録媒体の情報記録面上に集光させて加熱することによって、当該情報記録面近傍の物理特性を変化させることによって行なう場合が考えられる。

0194

例えば、(1,7)RLLコード(Run Length Limited code)の変調方式では、記録パルスのパルス列は、最短の記録マーク2Tが先頭部と終端部とから構成される一方、最短の記録マークよりも長い記録マークではこの先頭部と終端部との間に当該マーク長に応じた中間部を加えて構成される。なお、本発明が適用可能な変調方式は、(1,7)RLLコードに限られず、また、(1,7)RLLコードとは、磁気的、光学的ディジタル記録において、反転間隔の最小値と最大値とを制限したコードのことである。

0195

なお、他の変調方式においては、例えば、最短の記録マーク長が3Tから始まるものもあり、このときは最短の記録マーク長が先頭部、中間部、及び終端部にて構成されている。また、先頭部のみで構成されているものもある。

0196

ここで、T(あらかじめ定められた単位記録マーク長)はクロック1周期分の時間を表している。従って、例えば記録マーク長が3Tの場合には、クロック3周期分の時間に記録マークが形成される記録領域を表すことになる。

0197

また、パルス列は、いわゆる記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー及び冷却パワーから構成されている。なお、パルス列を構成する記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー及び冷却パワーを記録パワーパラメータと呼ぶことにする。また、これらの記録パワーパラメータは上述の記録パラメータに含まれるものとする。

0198

なお、先端部、中間部、及び終端部の記録パルスの記録パワーは同一であっても良いし、必ずしもこれに限らず、先端部、中間部、及び終端部で別個の記録パワーであってもよい。また、記録パワー、スペースパワー、バイアスパワー、及び冷却パワーの順にパワーが小さくなっていいても良いし、必ずしもこれに限らない。ただし、先頭部、中間部、又は、終端部の記録パルスの記録パワーのいずれかが最も大きく、バイアスパワー又は冷却パワーが最も小さいことが好ましい。

0199

さて、上述のように、(1,7)RLLの変調方式の場合、最短の記録マークよりも長い記録マークでは、記録パルスのパルス列は、先頭部、中間部、及び終端部から構成されているので、それぞれ、先頭パルス、中間パルス、及び終端パルスと呼ぶことにする。

0200

また、前記構成によれば、記録パラメータは、記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とを含んでいる。

0201

また、前記方法では、記録パラメータのうち、記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群を分類する第1記録パラメータ群分類工程と、記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群を分類する第2記録パラメータ群分類工程とを含んでいる。

0202

なお、前エッジとは、記録マークを形成し始める位置のことである。また、後エッジとは記録マークを形成し終わる位置のことである。

0203

ここで、記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群の記録パラメータの例としては、先頭パルスにおける立上りの位置である先頭立上り位置と、先頭パルスの幅などが例示できる。

0204

また、記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群の記録パラメータの例としては、終端パルスにおける立上りの位置である終端立上り位置と、終端パルスの幅、及び冷却パルスの照射による冷却期間が終了する冷却終了位置などが例示できる。なお、以上の、2つの例の記録パラメータを、記録パルスパラメータと呼ぶことがある。

0205

ここで、前記構成又は方法によれば、第1記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長Tの整数倍で分類されているとともに、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている。

0206

一方、第2記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第2所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている。

0207

なお、第1所定記録マーク長及び第2所定記録マーク長とは、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長であって、情報記録媒体の種類に応じて任意に設定されるものである。

0208

以上の第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群の全分類数の関係は、以下の式のようになる。

0209

第1記録パラメータ群の全分類数=第1所定記録マーク長未満の分類数+奇数マーク長の1分類+偶数マーク長の1分類
=第1所定記録マーク長未満の分類数+2分類
(第1所定記録マーク長=第2所定記録マーク長のとき)
第2記録パラメータ群の全分類数=第2所定記録マーク長未満の分類数+第2所定記録マーク長の1分類+奇数マーク長の1分類+偶数マーク長の1分類
=第2所定記録マーク長未満の分類数+3分類
全分類数の差=1分類+第2所定記録マーク長未満の分類数−第1所定記録マーク長未満の分類数=1分類
(第1所定記録マーク長<第2所定記録マーク長のとき)
第2記録パラメータ群の全分類数=第2所定記録マーク長未満の分類数+第2所定記録マーク長の1分類+奇数マーク長の1分類+偶数マーク長の1分類
=第2所定記録マーク長未満の分類数+3分類
全分類数の差=1分類+第2所定記録マーク長未満の分類数−第1所定記録マーク長未満の分類数≧2分類
よって、第1所定第1記録パラメータ群の全分類数よりも、第2記録パラメータ群の全分類数の方が、分類数が1分類以上大きいことがわかる。

0210

また、第1所定記録マーク長及び第2所定記録マーク長のそれぞれを大きくスライドさせるに従って第1記録パラメータ群の全分類数及び第2記録パラメータ群の全分類数のうちのそれぞれの分類数が大きくなる。なお、第1記録パラメータ群の第1所定記録マーク長は、固定しておき、第2所定記録マーク長を大きくスライドさせることも考えられる。

0211

また、第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群のそれぞれの記録パラメータは、1つであっても良いし、複数であっても良い。記録パラメータが複数の場合、記録パラメータの各分類は、共通であっても良いし、別個独立としても良い。

0212

例えば、第2記録パラメータ群の記録パラメータを、終端パルスの幅のみとすれば、第2記録パラメータ群全体の終端パルスの最適化をより正確に行うことができる。

0213

一方、第2記録パラメータ群の記録パラメータを、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置とすれば、第2記録パラメータ群全体の記録パラメータについてパルス列全体のバランスを考慮した最適化を行うことができる。

0214

なお、終端立上り位置、終端パルスの幅及び冷却終了位置それぞれの記録パラメータで、記録マーク長による分類数を共通にしても良いし、別個独立としても良い。このとき、第2記録パラメータ群の各記録パラメータの分類数が、第1記録パラメータ群の記録パラメータの分類数よりも、大きければ良い。

0215

また、ここでは、3種類の記録パラメータを混在させる例を示したが、2種類の記録パラメータを混在させても良い。

0216

なお、第1記録パラメータ群の記録パラメータも、同様に考えることができることは、言うまでもない。

0217

また、以上の説明では、第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群で分類する記録情報として記録マーク長を用いたが、必ずしもこれに限らない。例えば、記録マーク長とスペース長とを記録情報として第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群を分類してもよい。この場合、記録マーク長の分類のみを変化させ、スペース長に対する分類に変更を行わないことによって、本発明と同様に記録パラメータ数を抑えることができる。

0218

以上より、第1記録パラメータ群の全分類数よりも、第2記録パラメータ群の全分類数の方が、分類数が大きいので、第2記録パラメータ群の各分類の記録パラメータの設定を第1記録パラメータ群の記録パラメータの各分類の設定よりも細かくして、再生信号品質の最適化を行うことが可能となることがわかる。

0219

すなわち、当該分類又は分類方法を採用すれば、第1記録パラメータ群と比較して、第2記録パラメータ群を細かく分類することができ、第1記録パラメータ群及び第2記録パラメータ群の両方の分類の数を増やすよりも、全体の記録パラメータの数を少なく抑えることができる。

0220

また、記録マークの後エッジは記録マークの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群をより細かく分類することによって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0221

その結果、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0222

以上より、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にする記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法などを提供することができる。

0223

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第2記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅であっても良い。

0224

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0225

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第2記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置であっても良い。

0226

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0227

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第2記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置であっても良い。

0228

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0229

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第1記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭立上り位置であっても良い。

0230

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の先頭立上り位置を前エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0231

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第1記録パラメータ群は、前記記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅であっても良い。

0232

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の先頭パルスの幅を前エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0233

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記第1所定記録マーク長は、4T以上であることが好ましい。

0234

これにより、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長に対して、後エッジの熱の蓄積を軽減するように設定することが可能になる。従って、使用する記録パラメータの数を最低限に抑えながら、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0235

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定装置であって、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定手段と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定手段とを備えても良い。

0236

また、本発明の記録パラメータ設定方法は、記録情報に応じて情報記録媒体に記録マークを形成するための記録パラメータの設定を行う記録パラメータ設定方法であって、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍でされているとともに、所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されている、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための記録パラメータ群を格納した格納部に対して前記記録情報に基づいて照会を行って、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定する試し記録パラメータ設定工程と、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する再生信号品質判定工程とを含んでも良い。

0237

前記構成又は方法によれば、試し記録パラメータ設定手段又は試し記録パラメータ設定工程は、試し記録を行うための試し記録パラメータを設定するもの又は方法である。

0238

また、再生信号品質判定手段又は再生信号品質判定工程は、前記試し記録パラメータに従って行われる試し記録を再生して得られる再生信号が、所定の再生信号品質を満足しない場合には、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく分類し直して再度試し記録を行わせ、前記再生信号が前記所定の再生信号品質を満足する場合には、前記試し記録パラメータを前記記録パラメータとして設定する。

0239

したがって、前記構成又は方法によれば、後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群の分類数が充分でないなどの原因により、再生信号品質が悪ければ、前記記録パラメータ群の前記所定記録マーク長以上の分類を更に細かく設定するようにしている。

0240

よって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することができる記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法を提供することができる。

0241

また、予め固定された第2記録パラメータ群を用いる構成では、時間経過に伴って情報記録媒体トラックの記録条件が変化した場合、トラックの記録条件の変化に応じて記録パラメータをこまめに変更することができないので、トラックの記録条件が変化することによって良好な再生信号品質が得られる(所定の再生信号品質を満足する)記録マークを形成できなくなるおそれがある。

0242

これに対して、本発明では、試し記録の結果に応じて第2記録パラメータ群の分類を設定し直す構成になっているので、時間経過に伴って情報記録媒体のトラックの記録条件が変化した場合でも、トラックの記録条件の変化に応じて第2記録パラメータ群の分類を設定し直すことができる。従って、時間経過に伴ってトラックの記録条件が変化した場合でも良好な再生信号品質が得られる(所定の再生信号品質を満足する)記録マークを形成することができる記録パラメータ設定装置又は記録パラメータ設定方法を提供することができる。

0243

なお、試し記録では、ランダムなデータを使用すれば、記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していく場合に良好な再生信号品質を得やすくなるという利点がある。

0244

また、短い記録マーク長から段階的に記録マーク長を分類していくと、所定の再生信号品質を満足できる最小限の分類数にとどめることが可能になるので、参照テーブルの記録パラメータ数を所定の再生信号品質を満足できる最小限の数に設定することが容易になる利点がある。

0245

なお、再生信号品質としてはジッタ、エラーレートなどを用いることができ、情報記録媒体ごとにジッタ、エラーレートなどのボトムレベルの規格が存在する場合には、上記規格に定められたボトムレベルの値を所定の再生信号品質として利用することもできる。

0246

また、所定の再生信号品質とは、記録パラメータ設定装置によって再生信号の誤り訂正が可能なレベルを表すものであり、記録パラメータ設定装置及び以下で説明する本発明の情報記録媒体の量産等によるばらつきに対する余裕を確保できる再生信号品質であればよい。

0247

以上により、第2記録パラメータ群の分類数を増やしながら所定の再生信号品質を満足する記録パラメータを決定していくことになるので、所定の再生信号品質を満足する記録パラメータが決定したときの第2記録パラメータ群の分類数をより少なく抑えることが可能になる。さらに、少なくとも後エッジの熱を制御するための記録パラメータを、所定の再生信号品質を満足するように決定することになるので、後エッジに蓄積した熱の影響を補償して、良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。したがって、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能となる。

0248

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅であっても良い。

0249

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0250

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の終端パルスの幅であっても良い。

0251

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の終端立上り位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0252

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記記録パラメータは、前記記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置であっても良い。

0253

これにより、記録マークを形成するためのパルス列の冷却期間の終了する冷却終了位置を後エッジの熱を制御するための記録パラメータとして、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0254

また、本発明の記録パラメータ設定装置は、前記構成に加えて、前記所定記録マーク長は、4T以上であることが好ましい。

0255

これにより、記録マークの前エッジでの蓄熱の影響を後エッジが受けないと見込まれる、すなわち、後エッジの記録パラメータが前エッジの記録パラメータと独立に制御できると見込まれる記録マーク長以上の記録マーク長に対して、後エッジの熱の蓄積を軽減するように設定することが可能になる。従って、使用する記録パラメータの数を最低限に抑えながら、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0256

また、本発明の情報記録媒体は、記録情報に応じて記録マークを形成するための記録パラメータが所定領域に記録された情報記録媒体であって、前記記録パラメータは、前記記録マークの前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、前記記録マークの後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とを含んでおり、前記第1記録パラメータ群は、前記記録情報のうちの少なくともあらかじめ定められた単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2記録パラメータ群は、前記単位記録マーク長の整数倍で分類されているとともに、第2所定記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までは、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類されており、前記第2所定記録マーク長は、前記第1所定記録マーク長以上であっても良い。

0257

また、本発明の情報記録媒体は、前記記載の記録パラメータ設定装置で設定した前記記録パラメータを所定領域に記録していることが好ましい。

0258

前記構成によれば、予め試し記録を行うことによって設定した記録パラメータの第2記録パラメータ群を、新たな記録時の試し記録パラメータに利用することができるので、記録パラメータの決定までに試し記録を繰り返す回数を減らすことが可能になる。また、設定した記録パラメータの第2記録パラメータ群を情報記録媒体の所定領域に記録するため、メモリ等の記憶装置を新たに設ける必要がなくなる。

0259

また、情報記録媒体の所定領域に記録されている記録パラメータが、該記録パラメータの格納手段を備えた記録パラメータ設定装置に読み取られて格納(記録)されると、試し記録動作を開始した時点で、格納手段に格納されている前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群とのうち、上記第2記録パラメータ群は、上記第1記録パラメータ群よりも更に細かく分類されることになる。

0260

すなわち、第1所定記録マーク長から最大の記録マーク長までが、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類された前エッジの熱を制御するための第1記録パラメータ群と、第2所定の記録マーク長よりも長い記録マーク長から最大の記録マーク長までが、奇数マーク長と偶数マーク長とに分類され、かつ前記第2所定記録マーク長が、前記第1所定記録マーク長以上である第2記録パラメータ群とを含むこととなる。

0261

これにより、記録マークの前エッジの熱を制御する第1記録パラメータと比較して、記録マークの後エッジの熱を制御する第2記録パラメータを細かく分類することができ、前エッジと後エッジの記録パラメータの両方の分類の数を増やすよりも、記録パラメータの数を少なくすることができる。

0262

また、記録マークの後エッジは記録マークの他の領域よりも熱の影響を受けやすいので、後エッジの熱を制御するための第2記録パラメータ群をより細かく分類することによって、記録マークを形成し終わる地点である後エッジの熱をより厳密に制御でき、蓄積した熱の影響を補償して良好な再生品質が得られる記録マークを形成することが可能になる。

0263

以上によれば、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にする記録パラメータ設定装置、記録パラメータ設定方法、及び情報記録媒体などを提供することができる。

0264

なお、前記記録パラメータ設定装置は、コンピュータによって実現してもよく、この場合には、コンピュータを前記各手段として機能させることにより前記パラメータ設定装置をコンピュータにて実現させるパラメータ設定装置の制御プログラム、及びそれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も、本発明の範疇に入る。

0265

以上のように、本発明の記録パラメータ設定装置、そのプログラム及び該プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体、情報記録媒体、記録再生装置、ならびに記録パラメータ設定方法は、使用する記録パラメータの数を抑えながらも、より確実に良好な再生信号品質が得られる記録マークを形成することを可能にする。したがって、本発明は、光ディスク、光磁気ディスクなどの情報記録媒体を利用する産業分野、特に高速記録が可能な情報記録媒体を利用する産業分野に好適に用いることができる。

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