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技術 適合性試験方法及び装置、並びに記憶媒体

出願人 華為技術有限公司
発明者 ジォン,ジェンユリ,ションピンヤン,ティン
出願日 2019年4月25日 (2年7ヶ月経過) 出願番号 2020-560158
公開日 2021年8月19日 (3ヶ月経過) 公開番号 2021-520747
状態 未査定
技術分野 光通信システム
主要キーワード 性能要因 サンプリング開始点 サンプリングパラメータ 相互インピーダンス増幅器 閉塞度 サンプリングウィンドウ ベースノイズ 繰り返し記載
関連する未来課題
重要な関連分野

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図面 (8)

課題・解決手段

本願の実施形態は、適合性試験方法及び装置並びに記憶媒体を提供する。方法は、非ゼロ復帰パルス振幅変調2レベルスキームを使用することによって変調を通じて光送信器によって生成され送信される光信号において試験シンボルパターンを取得することと、試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて試験アイパターンを生成することと、試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第1パラメータの値を計算することと、第1パラメータの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光信号に対する適合性試験が成功すると決定することとを含む。本願の実施形態で提供される適合性試験方法及び装置並びに記憶媒体に従って、NRZ−PAM2スキームで光送信器によって送信される光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかが判定可能である。

概要

背景

データ通信ネットワークにおける物理レイヤデバイスは、光送信器チャネルケーブル又はファイバ)、及び光受信器のようなコンポーネントを含む。現在、光送信器を供給する前に、光送信器の製造者は、光送信器に対して適合性試験を実行する。適合性試験を通じて、光送信器が他の製造者によって供給されるチャネル及び/又は光受信器と適合することができるかどうかが正確に決定され得る。

現在、非ゼロ復帰パルス振幅変調2レベル(non-return to zero pulse amplitude modulation 2,NRZ−PAM2)スキームを使用することによって光信号を変更する光送信器の場合に、適合性試験は、試験パラメータ送信器分散アイ閉塞(transmitter dispersion eye closure,TDEC)”及びその適合性試験方法を使用することによって光送信器に対して実行される。伝送レートの一定した増大とともに、伝送されるデータ信号品質に対する符号間干渉(inter-symbol interference,ISI)の影響はますます深刻である。そのため、フィードフォワードイコライゼーション(feed forward equalization,FFE)、判定帰還イコライゼーション(decision feedback equalization,DFE)、及び最尤系列推定(maximum likelihood sequence estimation,MLSE)のようなイコライゼーション受信技術が、直接変調及び直接検出に基づく光リンクに次第に導入されている。具体的に言えば、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号を受信する場合に、光受信器は、光信号に対してイコライゼーション処理を実行する。

しかし、光受信器のイコライゼーション受信によって引き起こされる光信号品質の変化が既存の適合性試験ソリューションでは考慮されていないので、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかをどのように判定すべきかは、至急解決されるべき問題である。

概要

本願の実施形態は、適合性試験方法及び装置並びに記憶媒体を提供する。方法は、非ゼロ復帰パルス振幅変調2レベルスキームを使用することによって変調を通じて光送信器によって生成され送信される光信号において試験シンボルパターンを取得することと、試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて試験アイパターンを生成することと、試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第1パラメータの値を計算することと、第1パラメータの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光信号に対する適合性試験が成功すると決定することとを含む。本願の実施形態で提供される適合性試験方法及び装置並びに記憶媒体に従って、NRZ−PAM2スキームで光送信器によって送信される光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかが判定可能である。

目的

本願の実施形態は、光送信器が、イコライゼーション受信方法で、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号を受信する場合に、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光送信器の使用要件を満たすことができるかどうかが判定され得ないという先行技術の技術的問題を解決すべく、適合性試験方法及び装置、並びに記憶媒体を提供する

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

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請求項1

適合性試験方法であって、光送信器によって送信される光信号において試験シンボルパターンを取得することであり、前記光信号は、非ゼロ復帰パルス振幅変調2レベルスキームを使用することによって変調を通じて前記光送信器によって生成される、ことと、前記試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、該イコライゼーション補償が実行された前記試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて試験アイパターンを生成することと、前記試験アイパターンと、前記イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、第1パラメータの値を計算することであり、前記第1パラメータは、前記光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される、ことと、前記第1パラメータの前記値が前もってセットされた閾値以下である場合に、前記光信号に対する適合性試験が成功すると決定することとを有する方法。

請求項2

前記光信号が最も高い相対強度ノイズの下で前記光送信器によって送信される場合に、前記光信号に対する前記適合性試験が成功することは、前記光送信器に対する適合性試験が成功することを表すために使用される、請求項1に記載の方法。

請求項3

前記試験アイパターン及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づいて第1パラメータの値を計算することは、前記試験アイパターンに基づいて第1サンプリングウィンドウヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第4サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成することであり、前記第1サンプリングウィンドウ及び前記第2サンプリングウィンドウは、前記試験アイパターンの左部分において垂直方向対称分布し、前記第3サンプリングウィンドウ及び前記第4サンプリングウィンドウは、前記試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布する、ことと、前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づいて第1標準偏差を決定することであり、該第1標準偏差は第2標準偏差及び第3標準偏差のうちの小さい方の値であり、前記第2標準偏差は、前記第1サンプリングウィンドウ及び前記第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに前記光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前記第3標準偏差は、前記第3サンプリングウィンドウ及び前記第4サンプリングウィンドウが前記目標ビット誤り率に達するときに前記光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である、ことと、前記第1標準偏差に基づいて、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することと、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差に基づいて前記第1パラメータの前記値を決定することとを有する、請求項1又は2に記載の方法。

請求項4

前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づいて第1標準偏差を決定することは、前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づいて前記第2標準偏差を決定することと、前記第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づいて前記第3標準偏差を決定することと、前記第2標準偏差及び前記第3標準偏差のうちの前記小さい方の値を前記第1標準偏差として使用することとを有する、請求項3に記載の方法。

請求項5

前記第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、前記試験アイパターンの上眼瞼に位置し、前記試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、前記第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、前記試験アイパターンの下眼瞼に位置し、前記試験アイパターンの前記平均光パワーよりも低く、前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づいて前記第2標準偏差を決定することは、前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定することと、前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、前記目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数に基づいて前記第2標準偏差を決定することであり、前記正規分布曲線関数は、前記ノイズエンハンスメント係数、前記試験アイパターンの前記平均光パワー、及び前記第2標準偏差に基づいて決定される、こととを有する、請求項4に記載の方法。

請求項6

前記正規分布曲線関数が、前記ノイズエンハンスメント係数、前記試験アイパターンの前記平均光パワー、及び前記第2標準偏差に基づいて決定されることは、前記正規分布曲線関数が、に従って決定されることを有し、Q(x)は、前記正規分布曲線関数であり、x=(y−Pave)/(Ceq・σL)であり、yは、xの独立変数であり、yの値範囲は、前記第1サンプリングウィンドウ及び前記第2サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値最大値及び最小値の間のインターバルであり、Paveは、前記試験アイパターンの前記平均光パワーであり、σLは、前記第2標準偏差であり、Ceqは、前記ノイズエンハンスメント係数であり、zは、前記正規分布曲線関数の積分変数である、請求項5に記載の方法。

請求項7

前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、前記目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数に基づいて前記第2標準偏差を決定することは、数値シミュレーションを通じて、第1式を満足する前記第2標準偏差を決定することを有し、前記第1式は、であり、ful(y)は、前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、Q(x)は、前記正規分布曲線関数であり、fll(y)は、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、BERtargetは、前記目標ビット誤り率である、請求項6に記載の方法。

請求項8

前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差に基づいて前記第1パラメータの前記値を決定することは、T=10log10((OMA/2Q)×(1/R))+Mに従って前記第1パラメータの前記値を決定することを有し、Tは、前記第1パラメータであり、OMAは、光変調振幅であり、Qは、前もってセットされたQ係数であり、Rは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差であり、Mは、第1補償係数であり、Mは、前記試験アイパターンの消光比に基づいて決定される、請求項3乃至7のうちいずれか一項に記載の方法。

請求項9

前記前もってセットされたQ係数は、前記目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのQ係数であり、前記前もってセットされたアイパターンは、符号間干渉及びノイズがないアイパターンである、請求項8に記載の方法。

請求項10

前記第1標準偏差に基づいて、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、前記第1標準偏差及び第4標準偏差に基づいて、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を決定することを有し、前記第4標準偏差は、前記光受信器側のベースノイズ和の分散である、請求項3乃至9のうちいずれか一項に記載の方法。

請求項11

前記第1標準偏差及び第4標準偏差に基づいて、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を決定することは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を得るよう、前記第1標準偏差の二乗と前記第4標準偏差の二乗との和の平方根を計算することを有する、請求項10に記載の方法。

請求項12

前記第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、前記試験アイパターンの上眼瞼に位置し、前記試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、前記第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、前記試験アイパターンの下眼瞼に位置し、前記試験アイパターンの前記平均光パワーよりも低く、前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づいて前記第2標準偏差を決定することは、前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定することと、前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、前記目標ビット誤り率、前記第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数、及び前記第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数に基づいて前記第2標準偏差を決定することとを有し、前記第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、前記ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、前記第2標準偏差、及び第2補償係数に基づいて決定され、前記第2サンプリングウィンドウの前記正規分布曲線関数は、前記ノイズエンハンスメント係数、前記前もってセットされた光パワー閾値、及び前記第2標準偏差に基づいて決定され、前記第2補償係数は、前記試験アイパターンの消光比に基づいて決定される、請求項4に記載の方法。

請求項13

前記第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、前記ノイズエンハンスメント係数、前記前もってセットされた光パワー閾値、前記第2標準偏差、及び前記第2補償係数に基づいて決定されることは、前記第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、に従って決定されることを有し、前記第2サンプリングウィンドウの前記正規分布曲線関数が、前記ノイズエンハンスメント係数、前記前もってセットされた光パワー閾値、及び前記第2標準偏差に基づいて決定されることは、前記第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、に従って決定されることを有し、Q(xul)は、前記第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、xul=(y−Pth)/(Ceq・M1・σL)であり、Q(xll)は、前記第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、xll=(Pth−y)/(Ceq・σL)であり、yは、xul及びxllの独立変数であり、yの値範囲は、前記第1サンプリングウィンドウ及び前記第2サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Pthは、前記前もってセットされた光パワー閾値であり、σLは、前記第2標準偏差であり、Ceqは、前記ノイズエンハンスメント係数であり、M1は、前記第2補償係数であり、zは、前記正規分布曲線関数の積分変数である、請求項12に記載の方法。

請求項14

前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、前記目標ビット誤り率、前記第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数、及び前記第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数に基づいて前記第2標準偏差を決定することは、数値シミュレーションを通じて、第2式を満足する前記第2標準偏差を決定することを有し、前記第2式は、であり、ful(y)は、前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、fll(y)は、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、BERtargetは、前記目標ビット誤り率である、請求項13に記載の方法。

請求項15

前記第1標準偏差に基づいて、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、前記第1標準偏差、前記第2補償係数、及び第4標準偏差に基づいて、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を決定することを有し、前記第4標準偏差は、前記光受信器側のベースノイズ和の分散である、請求項12乃至14のうちいずれか一項に記載の方法。

請求項16

前記第1標準偏差、前記第2補償係数、及び第4標準偏差に基づいて、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を決定することは、R=√([(1+M1)σG]2+σS2)に従って、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差を決定することを有し、Rは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差であり、M1は、前記第2補償係数であり、σGは、前記第1標準偏差であり、σSは、前記第4標準偏差である、請求項15に記載の方法。

請求項17

前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差に基づいて前記第1パラメータの前記値を決定することは、T=10log10(Rpreset/R)に従って前記第1パラメータの前記値を決定することを有し、Tは、前記第1パラメータであり、Rpresetは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Rは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前記前もってセットされた光送信器によって送信される光信号は、ノイズ、ジッタ、及び符号間干渉がない、請求項3、4、及び12のうちいずれか一項に記載の方法。

請求項18

当該方法は、前記前もってセットされた光送信器によって送信される前記光信号に基づいて取得される前もってセットされたアイパターンを得ることと、前記前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数、前記前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数、及び前記目標ビット誤り率に基づいて、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することとを更に有する、請求項17に記載の方法。

請求項19

前記前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数、前記前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数、及び前記目標ビット誤り率に基づいて、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、数値シミュレーションを通じて、第3式を満足しかつ前記前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差を決定することと、前記前もってセットされた光送信器に対応する前記第1標準偏差に基づいて、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することとを有し、前記第3式は、(1/2)[Q(xu)+Q(xl)]=BERtargetであり、Q(xu)は、前記前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数であり、であり、xu=(Puideal−Pth)/(M2・σideal)であり、Q(xl)は、前記前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数であり、であり、xl=(Pth−Plideal)/σidealであり、Puidealは、前記前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の平均光パワー値であり、Plidealは、前記前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の平均光パワー値であり、Pthは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σidealは、前記前もってセットされた光送信器に対応する前記第1標準偏差であり、zは、前記正規分布曲線関数の積分変数であり、M2は、第3補償係数であり、前記第3補償係数は、前記前もってセットされたアイパターンの消光比に基づいて決定される、請求項18に記載の方法。

請求項20

適合性試験装置であって、光送信器によって送信される光信号において試験シンボルパターンを取得するよう構成される取得モジュールであり、前記光信号は、非ゼロ復帰パルス振幅変調2レベルスキームを使用することによって変調を通じて前記光送信器によって生成される、前記取得モジュールと、前記試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、該イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて試験アイパターンを生成し、前記試験アイパターンと、前記イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、前記光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第1パラメータの値を計算するよう構成される処理モジュールと、前記第1パラメータの前記値が前もってセットされた閾値以下である場合に、前記光信号に対する適合性試験が成功すると決定するよう構成される決定モジュールとを有する装置。

請求項21

前記光信号が最も高い相対強度ノイズの下で前記光送信器によって送信される場合に、前記光信号に対する前記適合性試験が成功することは、前記光送信器に対する適合性試験が成功することを表すために使用される、請求項20に記載の装置。

請求項22

前記処理モジュールは、前記試験アイパターンに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第4サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し、前記第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、前記第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び前記ノイズエンハンスメント係数に基づいて第1標準偏差を決定し、前記第1標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定し、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差に基づいて前記第1パラメータの前記値を決定するよう特に構成され、前記第1サンプリングウィンドウ及び前記第2サンプリングウィンドウは、前記試験アイパターンの左部分において垂直方向に対称に分布し、前記第3サンプリングウィンドウ及び前記第4サンプリングウィンドウは、前記試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布し、前記第1標準偏差は、第2標準偏差及び第3標準偏差のうちの小さい方の値であり、前記第2標準偏差は、前記第1サンプリングウィンドウ及び前記第2サンプリングウィンドウが前記目標ビット誤り率に達するときに前記光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前記第3標準偏差は、前記第3サンプリングウィンドウ及び前記第4サンプリングウィンドウが前記目標ビット誤り率に達するときに前記光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である、請求項20又は21に記載の装置。

請求項23

前記処理モジュールは、T=10log10((OMA/2Q)×(1/R))+Mに従って前記第1パラメータの前記値を決定するよう特に構成され、Tは、前記第1パラメータであり、OMAは、光変調振幅であり、Qは、前もってセットされたQ係数であり、Rは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る前記最も高い相加性ノイズの前記標準偏差であり、Mは、第1補償係数であり、Mは、前記試験アイパターンの消光比に基づいて決定される、請求項22に記載の装置。

請求項24

前記処理モジュールは、T=10log10(Rpreset/R)に従って前記第1パラメータの前記値を決定するよう特に構成され、Tは、前記第1パラメータであり、Rpresetは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Rは、前記目標ビット誤り率が到達されるときに前記光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前記前もってセットされた光送信器によって送信される光信号は、ノイズ、ジッタ、及び符号間干渉がない、請求項22に記載の装置。

請求項25

コンピュータプログラム又は命令を記憶するよう構成され、前記コンピュータプログラム又は前記命令がコンピュータで実行されるときに、該コンピュータが、請求項1乃至19のうちいずれか一項に記載の方法を実行することを可能にされる、コンピュータ可読記憶媒体

技術分野

0001

本願の実施形態は、通信技術に、特に、適合性試験方法及び装置、並びに記憶媒体に関係がある。

背景技術

0002

データ通信ネットワークにおける物理レイヤデバイスは、光送信器チャネルケーブル又はファイバ)、及び光受信器のようなコンポーネントを含む。現在、光送信器を供給する前に、光送信器の製造者は、光送信器に対して適合性試験を実行する。適合性試験を通じて、光送信器が他の製造者によって供給されるチャネル及び/又は光受信器と適合することができるかどうかが正確に決定され得る。

0003

現在、非ゼロ復帰パルス振幅変調2レベル(non-return to zero pulse amplitude modulation 2,NRZ−PAM2)スキームを使用することによって光信号を変更する光送信器の場合に、適合性試験は、試験パラメータ送信器分散アイ閉塞(transmitter dispersion eye closure,TDEC)”及びその適合性試験方法を使用することによって光送信器に対して実行される。伝送レートの一定した増大とともに、伝送されるデータ信号品質に対する符号間干渉(inter-symbol interference,ISI)の影響はますます深刻である。そのため、フィードフォワードイコライゼーション(feed forward equalization,FFE)、判定帰還イコライゼーション(decision feedback equalization,DFE)、及び最尤系列推定(maximum likelihood sequence estimation,MLSE)のようなイコライゼーション受信技術が、直接変調及び直接検出に基づく光リンクに次第に導入されている。具体的に言えば、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号を受信する場合に、光受信器は、光信号に対してイコライゼーション処理を実行する。

0004

しかし、光受信器のイコライゼーション受信によって引き起こされる光信号品質の変化が既存の適合性試験ソリューションでは考慮されていないので、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかをどのように判定すべきかは、至急解決されるべき問題である。

0005

本願の実施形態は、光送信器が、イコライゼーション受信方法で、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号を受信する場合に、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光送信器の使用要件を満たすことができるかどうかが判定され得ないという先行技術の技術的問題を解決すべく、適合性試験方法及び装置、並びに記憶媒体を提供する。

0006

第1の態様に従って、本願の実施形態は、適合性試験方法であって、
光送信器によって送信される光信号において試験シンボルパターンを取得することであり、光信号は、非ゼロ復帰パルス振幅変調2レベルスキームを使用することによって変調を通じて光送信器によって生成される、ことと、
試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて試験アイパターンを生成することと、
試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、第1パラメータの値を計算することであり、第1パラメータは、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される、ことと、
第1パラメータの値がもってセットされた閾値以下である場合に、光信号に対する適合性試験が成功すると決定することと
を有する方法を提供する。

0007

第1の態様で提供される適合性試験方法に従って、イコライゼーション補償は、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号に含まれる試験シンボルパターンに対して実行され、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第1パラメータの値は、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数と、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて取得される試験アイパターンとに基づいて計算され、それにより、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、第1パラメータの値に基づいて、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかが判定され得る。

0008

可能な実施で、光信号が最も高い相対強度ノイズの下で光送信器によって送信される場合に、光信号に対する適合性試験が成功することは、光送信器に対する適合性試験が成功することを表すために使用される。

0009

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって、最も高い相対強度ノイズの下で、送信された光信号に含まれる試験シンボルパターンが取得され、イコライゼーション補償は、その試験シンボルパターンに対して実行され、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第1パラメータの値は、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数と、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて取得される試験アイパターンとに基づいて計算され、それにより、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、第1パラメータの値に基づいて、NRZ−PAM2スキームを使用する光送信器に対する適合性試験が成功するかどうかが判定され得る。

0010

可能な実施で、試験アイパターン及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第1パラメータの値を計算することは、
試験アイパターンに基づいて第1サンプリングウィンドウヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第4サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成することであり、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの左部分において垂直方向対称分布し、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布する、ことと、
第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第1標準偏差を決定することであり、第1標準偏差は第2標準偏差及び第3標準偏差のうちの小さい方の値であり、第2標準偏差は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、第3標準偏差は、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である、ことと、
第1標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することと、
目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第1パラメータの値を決定することと
を含む。

0011

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、試験アイパターンは、光送信器の性能のような要因により水平方向に対称でないことがあり、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、試験アイパターンの左部分及び右部分に配置されたサンプリングウィンドウを使用することによって正確に取得可能であり、更には、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができることが正確に決定され得る。

0012

可能な実施で、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第1標準偏差を決定することは、
第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第2標準偏差を決定することと、
第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第3標準偏差を決定することと、
第2標準偏差及び第3標準偏差のうちの小さい方の値を第1標準偏差として使用することと
を含む。

0013

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、より小さい標準偏差は、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得るより悪い最も高い相加性ノイズを示すので、第2標準偏差及び第3標準偏差のうちの小さい方の値が第1標準偏差として使用され、それにより、より悪い最も高い相加性ノイズを使用することによって、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすかどうかが決定可能であり、決定結果は、より正確でありかつ信頼できる。

0014

可能な実施で、第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも低く、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第2標準偏差を決定することは、
第1サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第2サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定することと、
第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数に基づいて第2標準偏差を決定することであり、正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第2標準偏差に基づいて決定される、ことと
を含む。

0015

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、ヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点歪度確率分布を表すために使用され、正規分布曲線関数は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用されるので、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、ヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数を参照して正確に決定され得る。

0016

可能な実施で、正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第2標準偏差に基づいて決定されることは、
正規分布曲線関数が、



に従って決定されることを含み、
Q(x)は、正規分布曲線関数であり、x=(y−Pave)/(Ceq・σL)であり、yは、xの独立変数であり、yの値範囲は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値最大値及び最小値の間のインターバルであり、Paveは、試験アイパターンの平均光パワーであり、σLは、第2標準偏差であり、Ceqは、ノイズエンハンスメント係数であり、zは、正規分布曲線関数の積分変数である。

0017

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第2標準偏差を参照して取得される正規分布曲線関数は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を正確に反映することができる。

0018

可能な実施で、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数に基づいて第2標準偏差を決定することは、
数値シミュレーションを通じて、第1式を満足する第2標準偏差を決定することを含み、
第1式は、



であり、ful(y)は、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、Q(x)は、正規分布曲線関数であり、fll(y)は、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、BERtargetは、目標ビット誤り率である。

0019

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、ヒストグラム分布関数及び正規分布曲線関数に対して乗算及び積分を実行した結果をヒストグラム分布関数の積分で割ることは、ノイズがσLであるときに光受信器が光信号を誤って決定する確率(すなわち、ビット誤り率)を正規化された様態で表し得る。従って、目標ビット誤り率に対応するσLが計算され、それにより、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、正確に推定され得る。

0020

可能な実施で、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第1パラメータの値を決定することは、
T=10log10((OMA/2Q)×(1/R))+Mに従って第1パラメータの値を決定することを含み、
Tは、第1パラメータであり、OMAは、光変調振幅であり、Qは、前もってセットされたQ係数であり、Rは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Mは、第1補償係数であり、Mは、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。

0021

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、前もってセットされたQ係数に対するOMAの比は、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を表し得るので、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に対する、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差の比は、前もってセットされたQ係数に対するOMAの比を、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rで割ることによって、取得され得る。その比を使用することによって、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができることが正確に決定され得る。

0022

可能な実施で、前もってセットされたQ係数は、目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのQ係数であり、前もってセットされたアイパターンは、符号間干渉及びノイズがないアイパターンである。

0023

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのQ係数が、前もってセットされたQ係数として使用され、それにより、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、光変調振幅と前もってセットされたQ係数との比を使用することによって取得され得る。

0024

可能な実施で、第1標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、
第1標準偏差及び第4標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することを含み、
第4標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。

0025

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、試験アイパターンを構成するために又はサンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を取り出すために必要なデータは、受信端のベースノイズを含み、受信端のベースノイズは、実際の伝送シナリオでは存在しないので、受信端のベースノイズは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの、第1標準偏差によって表されるより小さい標準偏差をもたらす。従って、受信端のベースノイズ及び第1標準偏差は組み合わされ、それにより、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの取得された標準偏差の正確さは、確かにされ得る。

0026

可能な実施で、第1標準偏差及び第4標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、
目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を得るよう、第1標準偏差の二乗と第4標準偏差の二乗との和の平方根を計算することを含む。

0027

可能な実施で、第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも低く、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第2標準偏差を決定することは、
第1サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第2サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定することと、
第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数、及び第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数に基づいて第2標準偏差を決定することと
を含み、
第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、第2標準偏差、及び第2補償係数に基づいて決定され、第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、及び第2標準偏差に基づいて決定され、第2補償係数は、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。

0028

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、ヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点歪度の確率分布を表すために使用され、正規分布曲線関数は、サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされる最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用されるので、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、ヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数を参照して正確に決定され得る。

0029

可能な実施で、第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、第2標準偏差、及び第2補償係数に基づいて決定されることは、
第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、



に従って決定されることを含み、
第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、及び第2標準偏差に基づいて決定されることは、
第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、



に従って決定されることを含み、
Q(xul)は、第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、xul=(y−Pth)/(Ceq・M1・σL)であり、Q(xll)は、第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、xll=(Pth−y)/(Ceq・σL)であり、yは、xul及びxllの独立変数であり、yの値範囲は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Pthは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σLは、第2標準偏差であり、Ceqは、ノイズエンハンスメント係数であり、M1は、第2補償係数であり、zは、正規分布曲線関数の積分変数である。

0030

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、試験アイパターンの上眼瞼及びした眼瞼が目標ビット誤り率に達するときにサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差がアイパターンの消光比とともに変化するという特徴に関して、試験アイパターン上の異なる位置でのサンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、試験アイパターンの消光比に基づいて決定された第2補償係数を使用することによって、差別化した方法で決定され、それにより、各サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布は、正確に反映され得る。

0031

可能な実施で、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数、及び第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数に基づいて第2標準偏差を決定することは、
数値シミュレーションを通じて、第2式を満足する第2標準偏差を決定することを含み、
第2式は、



であり、ful(y)は、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、fll(y)は、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、BERtargetは、目標ビット誤り率である。

0032

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、ヒストグラム分布関数及び正規分布曲線関数に対する乗算及び積分を実行した結果をヒストグラム分布関数の積分で割ることは、ノイズがσLであるときに光受信器が光信号を誤って決定する確率(すなわち、ビット誤り率)を正規化された様態で表し得る。従って、目標ビット誤り率に対応するσLが計算され、それにより、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、正確に推定され得る。

0033

可能な実施で、第1標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、
第1標準偏差、第2補償係数、及び第4標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することを含み、
第4標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。

0034

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、試験アイパターンを構成するために又はサンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を取り出すために必要なデータは、受信端のベースノイズを含み、受信端のベースノイズは、実際の伝送シナリオでは存在しないので、受信端のベースノイズは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの、第1標準偏差によって表されるより小さい標準偏差をもたらす。従って、受信端のベースノイズ、第2補償係数、及び第1標準偏差は組み合わされ、それにより、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの取得された標準偏差の正確さは、確かにされ得る。

0035

可能な実施で、第1標準偏差、第2補償係数、及び第4標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、
R=√([(1+M1)σG]2+σS2)に従って、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することを含み、
Rは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、M1は、第2補償係数であり、σGは、第1標準偏差であり、σSは、第4標準偏差である。

0036

可能な実施で、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第1パラメータの値を決定することは、
T=10log10(Rpreset/R)に従って第1パラメータの値を決定することを含み、
Tは、第1パラメータであり、Rpresetは、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Rは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号は、ノイズ、ジッタ、及び符号間干渉がない。

0037

可能な実施で提供される適合性試験方法に従って、Rpresetは、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を表し得るので、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に対する、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差の比は、Rpresetを、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rで割ることによって、取得され得る。その比を使用することによって、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができることが正確に決定され得る。

0038

可能な実施で、方法は、
前もってセットされた光送信器によって送信される光信号に基づいて取得される前もってセットされたアイパターンを得ることと、
前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数、及び目標ビット誤り率に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することと
を更に含む。

0039

可能な実施で、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数、及び目標ビット誤り率に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することは、
数値シミュレーションを通じて、第3式を満足しかつ前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差を決定することと、
前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定することと
を含み、
第3式は、(1/2)[Q(xu)+Q(xl)]=BERtargetであり、
Q(xu)は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数であり、



であり、xu=(Puideal−Pth)/(M2・σideal)であり、Q(xl)は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数であり、



であり、xl=(Pth−Plideal)/σidealであり、Puidealは、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の平均光パワー値であり、Plidealは、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の平均光パワー値であり、Pthは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σidealは、前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差であり、zは、正規分布曲線関数の積分変数であり、M2は、第3補償係数であり、第3補償係数は、前もってセットされたアイパターンの消光比に基づいて決定される。

0040

可能な実施で、ノイズエンハンスメント係数は、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルと、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答とに基づいて、決定される。

0041

可能な実施で、ノイズエンハンスメント係数が、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルと、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答とに基づいて、決定されることは、
ノイズエンハンスメント係数が、Ceq=√(∫fN(f)×Heq(f)df)に従って決定されること、又は
ノイズエンハンスメント係数が、Ceq=√(∫fN(f)×|Heq(f)|2df)に従って決定されることを含み、
fは周波数であり、N(f)は、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルであり、Heq(f)は、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答であり、∫fN(f)dfは1に等しく、Heq(f)は、fが0に等しいときに1に等しい。

0042

第2の態様に従って、本願の実施形態は、適合性試験装置であって、
光送信器によって送信される光信号において試験シンボルパターンを取得するよう構成される取得モジュールであり、光信号は、非ゼロ復帰パルス振幅変調2レベルスキームを使用することによって変調を通じて光送信器によって生成される、取得モジュールと、
試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて試験アイパターンを生成し、試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、光送信器の送信器分散アイ閉塞度を決定するために使用される第1パラメータの値を計算するよう構成される処理モジュールと、
第1パラメータの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光信号に対する適合性試験が成功すると決定するよう構成される決定モジュール
を有する装置を提供する。

0043

可能な実施で、光信号が最も高い相対強度ノイズの下で光送信器によって送信される場合に、光信号に対する適合性試験が成功することは、光送信器に対する適合性試験が成功することを表すために使用される。

0044

可能な実施で、処理モジュールは、試験アイパターンに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第4サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第1標準偏差を決定し、第1標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定し、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第1パラメータの値を決定するよう特に構成され、
第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの左部分において垂直方向に対称に分布し、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布し、第1標準偏差は、第2標準偏差及び第3標準偏差のうちの小さい方の値であり、第2標準偏差は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、第3標準偏差は、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。

0045

可能な実施で、処理モジュールは、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第2標準偏差を決定し、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第3標準偏差を決定し、第2標準偏差及び第3標準偏差のうちの小さい方の値を第1標準偏差として使用するよう特に構成される。

0046

可能な実施で、第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも低く、
処理モジュールは、第1サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第2サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数に基づいて第2標準偏差を決定するよう特に構成され、正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第2標準偏差に基づいて決定される。

0047

可能な実施で、正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第2標準偏差に基づいて決定されることは、
正規分布曲線関数が、



に従って決定されることを含み、
Q(x)は、正規分布曲線関数であり、x=(y−Pave)/(Ceq・σL)であり、yは、xの独立変数であり、yの値範囲は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Paveは、試験アイパターンの平均光パワーであり、σLは、第2標準偏差であり、Ceqは、ノイズエンハンスメント係数であり、zは、正規分布曲線関数の積分変数である。

0048

可能な実施で、処理モジュールは、数値シミュレーション法で、第1式を満足する第2標準偏差を決定するよう特に構成され、第1式は、



であり、ful(y)は、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、Q(x)は、正規分布曲線関数であり、fll(y)は、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、BERtargetは、目標ビット誤り率である。

0049

可能な実施で、処理モジュールは、T=10log10((OMA/2Q)×(1/R))+Mに従って第1パラメータの値を決定するよう特に構成され、
Tは、第1パラメータであり、OMAは、光変調振幅であり、Qは、前もってセットされたQ係数であり、Rは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Mは、第1補償係数であり、Mは、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。

0050

可能な実施で、前もってセットされたQ係数は、目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのQ係数であり、前もってセットされたアイパターンは、符号間干渉及びノイズがないアイパターンである。

0051

可能な実施で、処理モジュールは、第1標準偏差及び第4標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう特に構成され、第4標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。

0052

可能な実施で、処理モジュールは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を得るよう、第1標準偏差の二乗と第4標準偏差の二乗との和の平方根を計算するよう特に構成される。

0053

可能な実施で、第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも低く、
処理モジュールは、第1サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第2サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数、及び第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数に基づいて第2標準偏差を決定するよう特に構成され、
第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、第2標準偏差、及び第2補償係数に基づいて決定され、第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、及び第2標準偏差に基づいて決定され、第2補償係数は、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。

0054

可能な実施で、第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、第2標準偏差、及び第2補償係数に基づいて決定されることは、
第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、



に従って決定されることを含み、
第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、及び第2標準偏差に基づいて決定されることは、
第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数が、



に従って決定されることを含み、
Q(xul)は、第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、xul=(y−Pth)/(Ceq・M1・σL)であり、Q(xll)は、第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、xll=(Pth−y)/(Ceq・σL)であり、yは、xul及びxllの独立変数であり、yの値範囲は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Pthは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σLは、第2標準偏差であり、Ceqは、ノイズエンハンスメント係数であり、M1は、第2補償係数であり、zは、正規分布曲線関数の積分変数である。

0055

可能な実施で、処理モジュールは、数値シミュレーション法で、第2式を満足する第2標準偏差を決定するよう特に構成され、
第2式は、



であり、ful(y)は、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、fll(y)は、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、BERtargetは、目標ビット誤り率である。

0056

可能な実施で、処理モジュールは、第1標準偏差、第2補償係数、及び第4標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう特に構成され、第4標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。

0057

可能な実施で、処理モジュールは、R=√([(1+M1)σG]2+σS2)に従って、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう特に構成され、
Rは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、M1は、第2補償係数であり、σGは、第1標準偏差であり、σSは、第4標準偏差である。

0058

可能な実施で、処理モジュールは、T=10log10(Rpreset/R)に従って第1パラメータの値を決定するよう特に構成され、
Tは、第1パラメータであり、Rpresetは、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Rは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号は、ノイズ、ジッタ、及び符号間干渉がない。

0059

可能な実施で、処理モジュールは、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号に基づいて取得される前もってセットされたアイパターンを取得し、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数、及び目標ビット誤り率に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう更に構成される。

0060

可能な実施で、処理モジュールは、数値シミュレーション法で、第3式を満足しかつ前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差を決定し、前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう特に構成され、第3式は、

(1/2)[Q(xu)+Q(xl)]=BERtarget

であり、Q(xu)は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数であり、



であり、xu=(Puideal−Pth)/(M2・σideal)であり、Q(xl)は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数であり、



であり、xl=(Pth−Plideal)/σidealであり、Puidealは、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の平均光パワー値であり、Plidealは、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の平均光パワー値であり、Pthは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σidealは、前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差であり、zは、正規分布曲線関数の積分変数であり、M2は、第3補償係数であり、第3補償係数は、前もってセットされたアイパターンの消光比に基づいて決定される。

0061

可能な実施で、ノイズエンハンスメント係数は、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルと、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答とに基づいて、決定される。

0062

可能な実施で、ノイズエンハンスメント係数が、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルと、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答とに基づいて、決定されることは、
ノイズエンハンスメント係数が、Ceq=√(∫fN(f)×Heq(f)df)に従って決定されること、又は
ノイズエンハンスメント係数が、Ceq=√(∫fN(f)×|Heq(f)|2df)に従って決定されることを含み、
fは周波数であり、N(f)は、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルであり、Heq(f)は、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答であり、∫fN(f)dfは1に等しく、Heq(f)は、fが0に等しいときに1に等しい。

0063

第2の態様及び第2の態様の可能な実施のうちのいずれか1つで提供される適合性試験装置の有利な効果については、第1の態様及び第1の態様の可能な実施のうちのいずれか1つの有利な効果を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

0064

第3の態様に従って、本願の実施形態は、適合性試験装置であって、プロセッサ及びメモリを含み、
メモリは、コンピュータ実行可能なプログラムコードを記憶するよう構成され、プログラムコードは、命令を含み、プロセッサが命令を実行する場合に、命令は、適合性試験装置が第1の態様及び第1の態様の可能な実施のうちのいずれか1つで提供される適合性試験方法を実行することを可能にする、
適合性試験装置を提供する。

0065

第4の態様に従って、本願の実施形態は、第1の態様及び第1の態様の可能な実施のうちのいずれか1つで提供される適合性試験方法を実行するよう構成されたユニットモジュール、又は回路を含む適合性試験装置を提供する。適合性試験装置は、処理デバイスであってよく、あるいは、処理デバイスで使用されるモジュール、例えば、オシロスコープで使用されるチップであってよい。

0066

第5の態様に従って、本願の実施形態は、命令を含むコンピュータプログラム製品を提供する。コンピュータプログラム製品がコンピュータで実行される場合に、コンピュータは、第1の態様及び第1の態様の可能な実施のうちのいずれか1つで提供される方法を実行することを可能にされる。

0067

第6の態様に従って、本願の実施形態は、コンピュータ可読記憶媒体を提供する。コンピュータ可読記憶媒体は、命令を記憶しており、命令がコンピュータで実行される場合に、コンピュータは、第1の態様及び第1の態様の可能な実施のうちのいずれか1つで提供される方法を実行することを可能にされる。

0068

本願の実施形態で提供される適合性試験方法及び装置、並びに記憶媒体に従って、イコライゼーション補償は、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号に含まれる試験シンボルパターンに対して実行され、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第1パラメータの値は、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数と、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて取得される試験アイパターンとに基づいて計算され、それにより、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、第1パラメータの値に基づいて、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかが判定され得る。

図面の簡単な説明

0069

本願の実施形態に従う試験システムの概略図である。
本願の実施形態に従う適合性試験方法の略フローチャートである。
本願の実施形態に従う試験アイパターンの概略図である。
本願の実施形態に従う他の適合性試験方法の略フローチャートである。
本願の実施形態に従う更なる他の適合性試験方法の略フローチャートである。
本願の実施形態に従う適合性試験装置の略構造図である。
本願の実施形態に従う他の適合性試験装置の略構造図である。

実施例

0070

データ通信ネットワークにおける物理レイヤデバイスは、光送信器、チャネル(ケーブル又はファイバ)、及び光受信器のようなコンポーネントを含む。現在、光送信器を供給する前に、光送信器の製造者は、光送信器に対して適合性試験を実行する。適合性試験を通じて、光送信器が他の製造者によって供給されるチャネル及び/又は光受信器と適合することができるかどうかが正確に決定され得る。

0071

現在、NRZ−PAM2スキームを使用することによって光信号を変更する光送信器の場合に、適合性試験は、TDEC試験パラメータ及びその適合性試験方法を使用することによって、そのようなタイプの光送信器に対して実行される。伝送レートの一定した増大とともに、伝送されるデータ信号の品質に対するISIの影響はますます深刻である。そのため、FFE、DFE、及びMLSEのようなイコライゼーション受信技術が、直接変調及び直接検出に基づく光リンクに次第に導入されている。具体的に言えば、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号を受信する場合に、光受信器は、光信号に対してイコライゼーション処理を実行する。

0072

しかし、光受信器のイコライゼーション受信によって引き起こされる光信号品質の変化が既存の適合性試験ソリューションでは考慮されていないので、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかをどのように判定すべきかは、至急解決される必要がある問題である。

0073

上記の問題を鑑みて、本願の実施形態は、光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかを判定するために、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号を試験する適合性試験方法を提供する。

0074

本願の実施形態を理解することを容易にするよう、本願の実施形態で使用される試験システムが、以下で記載及び紹介される。図1は、本願の実施形態に従う試験システムの概略図である。図1に示されるように、試験システムは、送信端に配置される偏光回転子(polarization rotator)、光学スプリッタ(optical splitter)、及び光学リフレクタ(optical reflector)と、受信端に配置される光−電気変換器(optics to electrics convertor,O/E)、クロック回復ユニット(clock recovery unit,CRU)、オシロスコープ、及びイコライザと、送信端及び受信端を接続する伝送媒体とを含んでよい。ここでの伝送媒体は、例えば、ファイバ、又はファイバのそれと等しい分散値を有している分散媒体であってよい。

0075

偏光回転子は、試験されるべき光送信器(すなわち、以下で光送信器と簡単に呼ばれる、NRZ−PAM2スキームを使用する光送信器)の相対強度ノイズを変化させるように、偏光回転子を通過する光信号の偏光方向を調整するよう構成される。従って、異なる相対強度ノイズの下で試験されるべき光送信器によって送信される光信号の間の適合性は、試験システムを使用することによって試験され得る。本願のこの実施形態で、偏光回転子は、光送信器と光学スプリッタとの間に配置されてよく、あるいは、光学スプリッタと光学リフレクタとの間に配置されてよい。これは制限されない。図1は、偏光回転子が光送信器と光学スプリッタとの間に配置される試験システムを示す。

0076

光学リフレクタは、光学スプリッタを使用することによって光リンクへ接続され、そして、光送信器によって送信される光信号の、実際の伝送プロセスでの反射現象シミュレーションするように、光リンク内の光信号を反射するよう構成される。本願のこの実施形態で、光学リフレクタのバンド幅は、受信端にある光−電気変換器のバンド幅と等しい。

0077

光−電気変換器、クロック回復ユニット、及びイコライザは、光受信器(すなわち、イコライゼーション受信方法で光信号を受信する光受信器)の挙動をシミュレーションするよう構成される。光−電気変換器は、受信された光信号を電気信号に変換するよう構成される。クロック回復ユニットは、光送信器によって送信された光信号においてクロックを取り出すよう構成される。オシロスコープは、光−電気変換器及びクロック回復ユニットによって処理された電気信号内のシンボルパターンをシーケンスの形で収集するよう構成される。光変調振幅(optical modulation amplitude,OMA)、平均光パワー、及び消光比のような、光送信器によって送信される光信号の光学パラメータは、電気信号内の収集されたシンボルパターンを使用することによって算定され得る。イコライザは、収集されたシンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行するよう構成される。任意に、オシロスコープは、シンボルパターンによってトリガされるオシロスコープであってよく、あるいは、実時間収集を実行するオシロスコープであってよい。シンボルパターンによってトリガされるオシロスコープは、前もってセットされたシンボルパターンの信号オシロスコープが検出した後で、オシロスコープが収集を開始するようトリガされる、ことを意味する。実時間収集を実行するオシロスコープは、オシロスコープが常に信号収集状態にある、ことを意味する。

0078

光−電気変換器、クロック回復ユニット、及びイコライザは、オシロスコープから独立してよく、あるいは、オシロスコープに組み込まれてもよい、ことが留意されるべきである。図1に示される試験システムでは、光−電気変換器及びクロック回復ユニットは、オシロスコープから独立しており、イコライザは、オシロスコープに組み込まれている。

0079

本願のこの実施形態で、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすかどうかが判定される場合に、最初に、光送信器によって送信された光信号は、試験システムを使用することによって受信端で収集されてよい。具体的に:

0080

テスターは、光送信器を起動し、前もってセットされたシンボルパターンの試験シーケンス(試験シーケンスと簡単に呼ばれる)を光送信器にロードする。ここでの試験シーケンスは、固定長さを有するシーケンスであってよい。シーケンスは、実際の伝送シナリオで送信されるデータをシミュレーションするよう、十分なランダム性を備えている。シーケンスのスペクトル成分(又は時間領域ランダム性)は、実際の伝送シナリオで送信されるデータのそれと類似し得る。光送信器は、光信号を生成するためにNRZ−PAM2スキームを使用することによって試験シーケンスを変調し、光信号を光リンクへ送る。テスターは、光信号の偏光方向を変えるよう、試験要件に従って偏光回転子を回転させてよい。次いで、試験システムのオシロスコープは、受信端で光信号内の試験シンボルパターンを収集してよい。試験シーケンスは固定長を有しているので、オシロスコープは、試験シーケンスの長さに基づいて光信号から試験シーケンスの完全なシンボルパターン(すなわち、試験シンボルパターン)を収集することができる。

0081

任意に、オシロスコープは、非平均モードで試験シンボルパターンを収集してよく、あるいは、等価時間モードで試験シンボルパターンを収集してよい。試験シンボルパターンが光信号に対する5回の収集を通じて取得される例が、使用される。試験シンボルパターンが非平均モードで収集される場合に、オシロスコープは、異なるサンプリングパラメータの5つのグループを使用することによって、光信号に対して収集を5回実行してよい。ここでのサンプリングパラメータは、例えば、サンプリング開始点及びサンプリングインターバルを含んでよい。試験シンボルパターンが等価時間モードで収集される場合に、オシロスコープは、同じグループのサンプリングパラメータを使用することによって一度だけ光信号に対して収集を実行し、それから、収集されたシンボルパターンを4回繰り返す必要があり得る。

0082

オシロスコープが光信号内の試験シンボルパターンを収集した後、本願のこの実施形態で、試験シンボルパターンは、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかを判定するために、処理及び解析されてよい。本願の実施形態における方法の実行主体は、プロセッシング機能を備えた処理デバイス、例えば、試験システムから独立したコンピュータ、サーバ、など、又は試験システム内のオシロスコープであってよい。本願の実施形態の実行主体が試験システムから独立した処理デバイスである場合に、イコライザは、試験システムにおいて独立して存在してよく、あるいは、試験システム内のオシロスコープに組み込まれてよく、あるいは、処理デバイスに組み込まれてよい。

0083

イコライザが処理デバイス(例えば、試験システムから独立した処理デバイス、又は試験システム内のオシロスコープ)に組み込まれる場合に、イコライザは、ハードウェア及び/又はソフトウェアを使用することによって実施されてよい。例えば、イコライザは、処理デバイスにおいてイコライザモデルを構成することによって、実施されてよい。

0084

具体的な実施形態は、本願の技術的解決について詳細に記載するために、以下で使用される。以下のいくつかの実施形態は、互いに組み合わされてよく、同じ又は類似した概念又はプロセスは、いくつかの実施形態で繰り返し記載されないことがある。

0085

図2は、本願の実施形態に従う適合性試験方法の略フローチャートである。図2に示されるように、方法は、次のステップを含む:

0086

S101.光送信器によって送信される光信号において試験シンボルパターンを取得する。

0087

S102.試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて試験アイパターンを生成する。

0088

S103.試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第1パラメータの値を計算する。

0089

S104.第1パラメータの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光信号に対する適合性試験が成功すると決定する。

0090

具体的に、オシロスコープによって収集された試験シンボルパターンを取得した後、処理デバイスは、実際の伝送プロセスでの光受信器のイコライゼーション受信をシミュレーションするように、イコライザを使用することによって試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行してよい。具体的な実施中、イコライザを使用することによって試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行する場合に、処理デバイスは、実際の伝送シナリオでの光受信器のイコライゼーション受信をシミュレーションするために、イコライザがイコライゼーション補償を実行した試験シンボルパターンについて、信号対ノイズ比が最適であり、ビット誤り率が最低であり、光信号の品質が最適であるように、イコライザのタップ係数最良に最適化してよい。このようにして、ISIは、光送信器が許容可能な最も高い相加性ノイズを解析することの正確さを確かにするよう、補償され得る。この場合に、イコライザのタップ係数の和は、1に等しい。

0091

図3は、本願の実施形態に従う試験アイパターンの概略図である。イコライザが収集された試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行した後、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて処理デバイスによって取得される試験アイパターンは、図3に示され得る。試験システムは、イコライゼーション受信方法で光受信器が光信号を受信するようなシミュレーションを行うので、合成を通じて試験アイパターンを取得する必要があるときに、処理デバイスは、イコライザによって出力されたノイズの振幅の正確さを確かにするために、収集プロセスにおいて、送信器でイコライザによって引き起こされたノイズの影響を補償する。

0092

イコライザがイコライゼーション補償を実行する場合に、光信号のノイズも増強される。増強されたノイズは光信号の品質に影響を与えるので、本願のこの実施形態で、光送信器によって送信された光信号の品質を正確に推定するために、処理デバイスは、合成を通じて得られた試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数Ceqとに基づいて、第1パラメータ(光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすかどうかを推定するために使用されるパラメータ)の値を計算する。ここでのノイズエンハンスメント係数Ceqは、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルN(f)(すなわち、イコライザの入力端の正規化されたノイズパワースペクトル密度)と、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答Heq(f)(すなわち、イコライザの正規化された周波数応答)とに基づいて、具体的に決定されてよい。

0093

例えば、ノイズエンハンスメント係数Ceqは、次の式(0)又は式(1)に従って決定されてよい。式(0)及び式(1)は、具体的に、次の通りである:

Ceq=√(∫fN(f)×Heq(f)df) (0);及び

Ceq=√(∫fN(f)×|Heq(f)|2df) (1)

ここで、fは周波数であり、N(f)は、0.75×ボーレートを有する4次ベッセルトムソン応答フィルタフィルタリング後に取得されるホワイトノイズパワースペクトル密度に等しく、∫fN(f)dfは1に等しく、Heq(f)は、fが0に等しいときに1に等しい。

0094

以下は、図3に示される試験アイパターンを参照して、処理デバイスによって、試験アイパターン及びノイズエンハンスメント係数Ceqに基づいて第1パラメータの値を計算する具体的なステップについて記載する。具体的に:

0095

図4は、本願の実施形態に従う他の適合性試験方法の略フローチャートである。図4に示されるように、方法は、次のステップを含む:

0096

S201.試験アイパターンに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第4サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し、このとき、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの左部分において垂直方向に対称に分布し、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布する。

0097

S202.第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第1標準偏差を決定すし、このとき、第1標準偏差は第2標準偏差及び第3標準偏差のうちの小さい方の値であり、第2標準偏差は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、第3標準偏差は、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。

0098

S203.第1標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定する。

0099

S204.目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第1パラメータの値を決定する。

0100

イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて試験アイパターンを取得した後、処理デバイスは、試験アイパターンの平均光パワーPave(光送信器によって送信された光信号の平均光パワーに等しい)を計算してよい。詳細は、次の式(2)に示され得る:

Pave=(Pu+Pl)/2 (2)

ここで、Puは、試験アイパターンの上眼瞼の平均光パワーであり、Plは、試験アイパターンの下眼瞼の平均光パワーである。

0101

試験アイパターンの平均光パワーPaveを計算した後、処理デバイスは、平均光パワーPaveの値に基づいて、試験アイパターン上の平均光パワーPaveの概略線の位置を決定してよい。次いで、処理デバイスは、時間軸の方向において試験アイパターンを正規化するために、試験アイパターン上の平均光パワーPaveの概略線の位置と、試験アイパターン上の交差の位置とに基づいて、試験アイパターン上の0単位区間(unit interval,UI)の位置及び1UIの位置を決定してよい。試験アイパターン上の0UIの位置、1UIの位置、及び平均光パワーPaveの概略線の位置は、図3に示され得る。処理デバイスによって時間軸の方向において試験アイパターンを正規化する方法については、先行技術を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

0102

時間軸の方向において試験アイパターンを正規化した後、処理デバイスは、試験アイパターン上の0UIの位置、1UEの位置、及び平均光パワーPaveの概略線の位置に基づいて、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第4サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成してよい。第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの左半分部分において垂直方向に対称に分布し、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの右半分部分において垂直方向に対称に分布する。

0103

試験アイパターン上のサンプリングウィンドウの位置は、この実施形態で制限されない。例えば、サンプリングウィンドウは、アイが最大限に開いている位置の近くで分割されてよい。サンプリングウィンドウの幅は、試験要件に従って決定されてよい。例えば、サンプリングウィンドウの幅は、0.04UIであってよい。サンプリングウィンドウの高さは、サンプリング点の脱漏を回避するために、サンプリングウィンドウが、平均光パワーPaveの概略線に最も近い全てのサンプリング点と、平均光パワーPaveの概略線から最も離されている全てのサンプリング点とをカバーすることができるように、試験アイパターンに基づいて決定されてよい。サンプリングウィンドウは、サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいてその後に取得されるヒストグラム分布関数の正確さが、ヒストグラム分布関数に基づいて計算される第2標準偏差及び第3標準偏差の正確さを確かにするよう確かにされ得るように、このようにして分割される。詳細については、続く記載を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

0104

例えば、平均光パワーPaveの概略線の近くにあるサンプリングウィンドウの境界は、平均光パワーPaveの概略線に可能な限り近づくことを可能にされてよく、平均光パワーPaveの概略線から遠くにあるサンプリングウィンドウの境界は、アイが最大限に開いている位置を越えることを可能にされてよい。このようにして、サンプリングウィンドウの境界が更に外へ広げられる場合に、余分のサンプリング点はサンプリングウィンドウに入らない。

0105

例えば、図3は、0.4UIの位置及び0.6UI後でサンプリングウィンドウを構成する概略図である.各サンプリングウィンドウの幅は0.04UIであると仮定される。具体的に言えば、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウは、0.38UIから0.42UIの間に位置し、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウは、0.58から0.62UIの間に位置する。第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点及び第3サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの上眼瞼に位置し、第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点及び第4サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの下眼瞼に位置する例が、使用される。それから、第1サンプリングウィンドウは、0.38UIから0.42UIの間にあって、試験アイパターン上の平均光パワーPaveの概略線よりも高い全てのサンプリング点を含んでよく、第2サンプリングウィンドウは、0.38UIから0.42UIの間にあって、試験アイパターン上の平均光パワーPaveの概略線よりも低い全てのサンプリング点を含んでよく、第3サンプリングウィンドウは、0.58から0.62UIの間にあって、試験アイパターン上の平均光パワーPaveの概略線よりも高い全てのサンプリング点を含んでよく、第4サンプリングウィンドウは、0.58から0.62UIの間にあって、試験アイパターン上の平均光パワーPaveの概略線よりも低い全てのサンプリング点を含んでよい。

0106

試験アイパターンにおいて第1サンプリングウィンドウ、第2サンプリングウィンドウ、第3サンプリングウィンドウ、及び第4サンプリングウィンドウを分けた後、処理デバイスは、第1サンプリングウィンドウ内のサンプリング点に基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し、第2サンプリングウィンドウ内のサンプリング点に基づいて第2サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し、第3サンプリングウィンドウ内のサンプリング点に基づいて第3サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し、第4サンプリングウィンドウ内のサンプリング点に基づいて第4サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成してよい。処理デバイスがサンプリングウィンドウ内のサンプリング点に基づいてサンプリングウィンドウのヒストグラムをどのように構成するかについては、先行技術における説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

0107

第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第4サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し終えた後、処理デバイスは、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数Ceqに基づいて第2標準偏差σLを決定し、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数Ceqに基づいて第3標準偏差σRを決定してよい。更に、処理デバイスは、第2標準偏差σL及び第3標準偏差σRのうちの小さい方の値を第1標準偏差σGとして使用してよい。

0108

以下は、図3に示される第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウを例として使用することによって、処理デバイスが第2標準偏差σLをどのように決定するかについて記載する。言い換えれば、第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも高く、第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも低い、と考えられる。

0109

処理デバイスは、第1サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ful(y)を決定し、第2サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数fll(y)を決定してよい。ヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウ内のサンプリング点歪度の確率分布を表すために使用される。

0110

それから、処理デバイスは、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ful(y)、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数fll(y)、目標ビット誤り率BERtarget、及び正規分布曲線関数Q(x)に基づいて第2標準偏差σLを決定してよい。具体的な実施中に、処理デバイスは、第1式を使用することによって、第2標準偏差σLを決定してよい。第1式は、次の式(3)に示されてよい:



ここで、正規分布曲線関数Q(x)は、正規分布曲線においてxよりも大きい値を有する領域であってよく、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用され、yは、xの独立変数であり、第2標準偏差σLが決定される場合に、正規分布曲線関数Q(x)は、ノイズエンハンスメント係数Ceq、試験アイパターンの平均光パワーPave、及び第2標準偏差σLに基づいて決定され得る。詳細は、次の式(4)に示される:



ここで、x=(y−Pave)/(Ceq・σL)であり、yの値範囲は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、zは、正規分布曲線関数の積分変数である。

0111

ヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウ内のサンプリング点歪度の確率分布を表すために使用され、Q(x)は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用されるから、それら2つに対して乗算及び積分を実行した結果をヒストグラム分布関数の積分で割ることは、ノイズがσLであるときに光受信器が光信号を誤って決定する確率(すなわち、ビット誤り率)を、正規化された様態で表し得る。例えば、第1式の式の左側にある第1項は、光信号1が誤って0と決定される確率を計算するために使用され、式の左側にある第2項は、光信号0が誤って1と決定される確率を計算するために使用される。それら2つの項の夫々の2分の1が求められ、そして、2分の1どうしが足し合わされて、σLの値の下での試験アイパターンに対応するビット誤り率が得られる。

0112

本願のこの実施形態で、目標ビット誤り率は、前方誤り訂正(forward error correction,FEC)の閾値である。具体的に言えば、第1式中の目標ビット誤り率BERtargetに対応するσLの値は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率BERtargetに達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。具体的に言えば、σLの値により、第1式の式の左側にある2つの項を加算することによって得られるビット誤り率が目標ビット誤り率BERtargetよりも大きくなることが可能である場合に、光受信器は、FECを通じて、光送信器によって送信された光信号を正確に受信することができない。従って、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率BERtargetに達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、統計解析法において第1式を使用することによって推定され得る。

0113

第2標準偏差σLが第1式を使用することによって計算される場合に、処理デバイスは、第1式をパースすることによって第2標準偏差σLの値を取得することができないので、処理デバイスは、数値シミュレーションを通じて、第1式を満足する第2標準偏差σLを決定してよい。具体的に:

0114

図5は、本願の実施形態に従う更なる他の適合性試験方法の略フローチャートである。図5に示されるように、方法は、次のステップを含む。

0115

S301.第2標準偏差の値として初期値を使用し、値を第1式に代入して初期ビット誤り率を得る。

0116

S302.初期ビット誤り率が目標ビット誤り率に等しいかどうかを判定し、初期ビット誤り率が目標ビット誤り率に等しい場合には、ステップS303を実行し、あるいは、初期ビット誤り率が目標ビット誤り率に等しくない場合には、ステップS304を実行する。

0117

S303.初期ビット誤り率に対応する初期値を第2標準偏差として使用する。

0118

S304.初期ビット誤り率が目標ビット誤り率よりも大きいかどうかを判定し、初期ビット誤り率が目標ビット誤り率よりも大きい場合には、S305を実行し、あるいは、初期ビット誤り率が目標ビット誤り率よりも大きくない場合には、S306を実行する。

0119

S305.初期値を減らす。

0120

S305が実行された後、S301が実行される。

0121

S306.初期値を増やす。

0122

S306が実行された後、S301が実行される。

0123

図5に示される方法に従って、処理デバイスは、数値シミュレーションを通じて、第1式を満足する第2標準偏差σLを決定し得る。

0124

処理デバイスが第2標準偏差σLをどのように決定するかは、第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも高く、第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも低い例を使用することによって、記載及び紹介されることが理解され得る。当業者であれば、第2標準偏差σLは、第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも低く、第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも高い場合に上記方法で依然として決定され得る、と理解し得る。詳細は、ここで再び記載されない。

0125

相応して、処理デバイスはまた、第2標準偏差σLを決定する方法において依然として、第3標準偏差σRを決定し得る。第3サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも高く、第4サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも低い、と考えられる。処理デバイスが第1式を使用することによって第3標準偏差σRを決定する場合に、第1式は、次の式(5)に示され得る:



ここで、fur(y)は、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、flr(y)は、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、正規分布曲線関数Q(x)は、正規分布曲線においてxよりも大きい値を有する領域であってよく、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用され、yは、xの独立変数である。第3標準偏差σRが決定される場合に、正規分布曲線関数Q(x)は、ノイズエンハンスメント係数Ceq、試験アイパターンの平均光パワーPave、及び第3標準偏差σRに基づいて決定され得る。詳細は、次の式(6)に示される:



ここで、x=(y−Pave)/(Ceq・σR)であり、yの値範囲は、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、zは、正規分布曲線関数の積分変数である。

0126

上記の式(5)及び(6)によって表される意味については、第2標準偏差を計算する式(3)及び(4)の説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。その上、処理デバイスが、数値シミュレーションを通じて、第1式を満足する第3標準偏差σRをどのように決定するかについては、処理デバイスによって数値シミュレーションを通じて、第1式を満足する第2標準偏差σLを決定することの説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

0127

処理デバイスが第3標準偏差σRをどのように決定するかは、第3サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも高く、第4サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも低い例を使用することによって、記載及び紹介されることが理解され得る。当業者であれば、第3標準偏差σRは、第3サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも低く、第4サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点が試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも高い場合に上記方法で依然として決定され得る、と理解し得る。詳細は、ここで再び記載されない。

0128

上記の方法で第2標準偏差σL及び第3標準偏差σRを決定した後、処理デバイスは、第2標準偏差σL及び第3標準偏差σRのうちの小さい方の値を第1標準偏差σGとして使用してよい。試験アイパターンが水平方向に対称である場合に、第2標準偏差σL及び第3標準偏差σRは等しいはずであることが留意されるべきである。しかし、試験アイパターンは、光送信器の性能要因などにより、水平方向に対称であり得ないので、より小さい標準偏差を有している試験アイパターンの側が、第2標準偏差σL及び第3標準偏差σRを計算する方法において取得され得る。より小さい標準偏差は、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得るより悪い最も高い相加性ノイズを示すので、その後の計算及び処理は、2つの側の標準偏差のうちの小さい方の標準偏差を使用することによって実行され、それにより、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすかどうかは、正確に決定され得る。

0129

受信端に位置するオシロスコープ、光−電気変換器、などのベースノイズは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差が計算されるときに考慮されない。しかし、試験アイパターンを構成するために又はサンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を取り出すために必要なデータは、受信端のベースノイズを含む。受信端のベースノイズは、実際の伝送シナリオでは存在しないので、受信端のベースノイズは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズのより小さい計算された標準偏差をもたらす。従って、処理デバイスは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの取得された標準偏差Rの正確さを確かにするよう、第1標準偏差σGを取得した後に受信端のベースノイズを加えてよい。

0130

具体的な実施中に、処理デバイスは、第1標準偏差σG及び第4標準偏差σSに基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rを決定してよい。詳細は、次の式(7)に示される:

R=√(σG2+σS2) (7)

0131

ここでの第4標準偏差σSは、光受信器側のベースノイズ和の分散である。図1に示される試験システムに対応して、光受信器側のベースノイズは、受信端での光−電気変換器のベースノイズ及びオシロスコープのベースノイズを含む。従って、試験シンボルパターンが図1に示される試験システムを使用することによって収集される場合に、第4標準偏差σSは、受信端での光−電気変換器のベースノイズ和及びオシロスコープのベースノイズ和の標準偏差である。

0132

目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rを決定した後、処理デバイスは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rに基づいて第1パラメータTの値を決定してよい。詳細は、次の式(8)に示される:

T=10log10((OMA/2Q)×(1/R))+M (8)

ここで、OMAは、試験アイパターンの光変調振幅であり、Qは、前もってセットされたQ係数であり、Mは、第1補償係数である。

0133

前もってセットされたQ係数は、目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのQ係数であり、ここでの前もってセットされたアイパターンは、符号間干渉及びノイズがないアイパターンである。試験シンボルパターンの光変調振幅OMAは、次の式(9)に示され得る:

OMA=Pu−Pl (9)

ここで、Puは、試験アイパターンの上眼瞼の平均光パワーであり、Plは、試験アイパターンの下眼瞼の平均光パワーである。

0134

上記の式(7)に対応して、実際のリンクで光受信器によって使用される光電子検出器ポジティブイントリンシックネガティブ(positive-intrinsic-negative,PIN)フォトダイオード(PIN光受信器と簡単に呼ばれる)である場合に、Mの値は0であり得る。実際のリンクで光受信器によって使用される光電子検出器が他のタイプの光電子検出器(非PIN光受信器)である場合に、第1補償係数Mは、試験アイパターンの消光比に基づいて決定され得る。具体的に言えば、Mは、独立変数として試験アイパターンの消光比を使用する経験的関数である。経験的関数は、光受信器モデルを構成し、シミュレーションを実行することによって、決定され得る。ここでの消光比は、次の式(10)に示され得る:

ER=Pu/Pl (10)

0135

前もってセットされたQ係数に対するOMAの比は、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を表し得るので、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に対する、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差の比は、前もってセットされたQ係数に対するOMAの比を、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rで割ることによって、取得され得る。その比を使用することによって、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができることが正確に決定され得る。例えば、第1パラメータTの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光送信器によって送信された光信号に対する適合性試験は成功する、と決定される。言い換えれば、光送信器によって送信された光信号は、光受信器の使用要件を満たすことができる。第1パラメータTの値が前もってセットされた閾値よりも大きい場合に、光送信器によって送信された光信号に対する適合性試験は失敗する、と決定される。言い換えれば、光送信器によって送信された光信号は、光受信器の使用要件を満たすことができない。

0136

上記の実施形態で記載されたように、実際のリンクでの光受信器は、PIN光受信器及び非PIN光受信器を含む。非PIN光受信器の場合に、非PINの総ノイズは、主に相互インピーダンス増幅器(transimpedance amplifier,TIA)の熱ノイズを含まない。このシナリオでは、光送信器が光信号を非PIN光受信器へ送信する場合に、イコライゼーション受信方法で非PIN光受信器によって受信される光信号に基づいて合成を通じて取得されるアイパターンにおいて、アイパターンの上眼瞼が目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差と、アイパターンの下眼瞼が目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差とは、もはや等しくなく、アイパターンの消光比とともに変化する。従って、第1パラメータTの値を計算するときに、処理デバイスは、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される第2補償係数M1によって引き起こされる影響を考慮する必要がある。

0137

具体的な実施中、第2補償係数M1と消光比との間の関係は、消光比と補償係数との間のチェックリスト、又は消光比と補償係数との間の関数関係を使用することによって、表され得る。チェックリスト又は関数関係は、前もってセットされた光受信器(標準光受信器代替的に呼ばれ得る)のモデルを構成することによって決定されてよい。次の2つの方法が、具体的に含まれてよい:

0138

第1の方法で、前もってセットされた光受信器のモデルを構成した後、処理デバイスは、各消光比の下での前もってセットされた光受信器の第5標準偏差及び第6標準偏差を取得してよい。第5標準偏差は、各消光比の下で前もってセットされた光受信器によって受信される光信号に対応するアイパターンの上眼瞼が目標ビット誤り率に達するときにサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、第6標準偏差は、各消光比の下で前もってセットされた光受信器によって受信される光信号に対応するアイパターンの下眼瞼が目標ビット誤り率に達するときにサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。

0139

次いで、処理デバイスは、各消光比に対応する補償係数を取得するよう、第5標準偏差を各消光比の下での第6標準偏差で割り算してよく、各消光比に対応する補償係数に基づいて消光比と補償係数との間のチェックリスト又は消光比と補償係数との間の関数関係を更に確立してよい。

0140

任意に、各消光比の下での前もってセットされた光受信器の取得された第5標準偏差及び第6標準偏差は、前もってセットされた決定レベルにおけるかつ各消光比の下での前もってセットされた光受信器の第5標準偏差及び第6標準偏差であってよい。前もってセットされた決定レベルは、例えば、Rresponsivity(P0+P1)/2又はRresponsivity(σ1P0+σ0P1)/(σ1+σ0)に等しくなり得る。Rresponsivityは、前もってセットされた光受信器の応答速度であり、P0は、各消光比の下で前もってセットされた光受信器によって受信される光信号に対応するアイパターンの上眼瞼の平均光パワーであり、P1は、各消光比の下で前もってセットされた光受信器によって受信される光信号に対応するアイパターンの下眼瞼の平均光パワーであり、σ1は、第5標準偏差であり、σ0は、第6標準偏差である。

0141

前もってセットされた光受信器は、具体的に、前もってセットされたバンド幅、応答速度、熱ノイズ、ショットノイズ、及び自然放射ビートノイズのような光受信器のパラメータに基づいて決定されてよいことが理解され得る。パラメータの値は、光受信器の製造者のシミュレーション、製造、及び試験プロセスにおいて典型的な値を使用することによって決定されてよい。

0142

第2の方法で、前もってセットされた光受信器のモデルを構成した後、処理デバイスは、各消光比の下での前もってセットされた光受信器の各感度値に対応する第5標準偏差及び第6標準偏差を取得してよい。ここでの感度値は、目標ビット誤り率が到達されるときに各消光比の下での前もってセットされた光受信器の感度値である。

0143

次いで、処理デバイスは、各消光比の下での各感度値に対応する補償係数を取得するよう、各消光比の下での各感度値に対応する第5標準偏差を第6標準偏差で割り、各消光比の下での各感度値に対応する補償係数に基づいて、消光比、感度、及び補償係数の間のチェックリスト、又は消光比、感度、及び補償係数の間の関数関係を確立してよい。

0144

任意に、各消光比の下での前もってセットされた光受信器の各感度値に対応する取得された第5標準偏差及び第6標準偏差は、前もってセットされた決定レベルにおけるかつ各消光比の下での前もってセットされた光受信器の各感度値に対応する第5標準偏差及び第6標準偏差であってよい。前もってセットされた決定レベル及び前もってセットされた光受信器の説明については、上記の説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

0145

実際のリンクで光受信器が非PIN光受信器である場合に、第2補償係数M1の値は、試験アイパターンの消光比、又は上記の方法のうちのどちらか一方で決定される、消光比と補償係数との間のチェックリスト、又は上記の方法のうちのどちらか一方で決定される、消光比と補償係数との間の関数関係に基づいて、決定されてよいことが留意されるべきである。第2補償係数M1の値が第2の方法で決定される場合に、光受信器の感度が更に考慮される必要があることが理解され得る。詳細は、ここでは記載されない。実際のリンクで光受信器がPIN光受信器である場合に、第2補償係数M1の値は、1であってよく、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される必要がない。

0146

以下は、処理デバイスが第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、ノイズエンハンスメント係数Ceq、及び試験アイパターンの消光比に基づいて決定される第2補償係数M1に基づいて、どのように第1パラメータの値を計算するかについて記載される。具体的に:

0147

第1に、処理デバイスが第2標準偏差σLをどのように決定するかが、依然として例として図3に示される第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウを使用することによって、記載される。言い換えれば、第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも高く、第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも低い、と考えられる。

0148

処理デバイスは、第1サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ful(y)を決定し、第2サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数fll(y)を決定してよい。ヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点歪度の確率分布を表すために使用される。

0149

それから、処理デバイスは、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数ful(y)、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数fll(y)、目標ビット誤り率BERtarget、及び第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Q(xul)、第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Q(xll)に基づいて第2標準偏差σLを決定してよい。具体的な実施中に、処理デバイスは、第2式を使用することによって、第2標準偏差σLを決定してよい。第2式は、次の式(11)に示されてよい:

0150

第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Q(xul)は、正規分布曲線においてxulよりも大きい値を有する領域であってよく、第1サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用される。第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Q(xll)は、正規分布曲線においてxllよりも大きい値を有する領域であってよく、第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用される。yは、xul及びxllの独立変数である。

0151

第2標準偏差σLが決定される場合に、第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Q(xul)は、ノイズエンハンスメント係数Ceq、前もってセットされた光パワー閾値Pth、第2標準偏差σL、及び第2補償係数M1に基づいて決定され得る。詳細は、次の式(12)に示される:

0152

第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Q(xll)は、ノイズエンハンスメント係数Ceq、前もってセットされた光パワー閾値Pth、及び第2標準偏差σLに基づいて決定され得る。詳細は、次の式(13)に示される:



ここで、xul=(y−Pth)/(Ceq・M1・σL)であり、xll=(Pth−y)/(Ceq・σL)であり、yの値範囲は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、zは、正規分布曲線関数の積分変数である。

0153

前もってセットされた光パワー閾値Pthの値は、具体的に、光受信器によって実際の適用シナリオでの光信号を決定する閾値に基づいて、決定されてよい。例えば、Pth=Pave±a又はPth=(σidealP1+M2・σidealP0)/((M2+1)・σideal)±bである。σidealは、前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差である。前もってセットされた光送信器は、ノイズ、ジッタ、及び符号間干渉がない光信号を送信する光送信器である。前もってセットされた光送信器によって送信される光信号に基づいて取得されるアイパターンは、前もってセットされたアイパターンと呼ばれる。P1は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の平均光パワーであり、P0は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の平均光パワーであり、M2は、第3補償係数であり、第3補償係数は、前もってセットされたアイパターンの消光比と、上記の方法のうちのどちらか一方で決定される、消光比と補償係数との間のチェックリスト、又は上記の方法のうちのどちらか一方で決定される、消光比と補償係数との間の関数関係とに基づいて決定される。a及びbは両方とも、0以上であり、具体的に、試験要件に従ってセットされてよい。

0154

サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数は、サンプリングウィンドウ内のサンプリング点歪度の確率分布を表すために使用され、サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用されるから、それら2つに対して乗算及び積分を実行した結果をヒストグラム分布関数の積分で割ることは、ノイズがσLであるときに光受信器が光信号を誤って決定する確率(すなわち、ビット誤り率)を、正規化された様態で表し得る。例えば、第2式の式の左側にある第1項は、光信号1が誤って0と決定される確率を計算するために使用され、式の左側にある第2項は、光信号0が誤って1と決定される確率を計算するために使用される。それら2つの項の夫々の2分の1が求められ、そして、2分の1どうしが足し合わされて、σLの値の下での試験アイパターンに対応するビット誤り率が得られる。

0155

本願のこの実施形態で、目標ビット誤り率は、前方誤り訂正(forward error correction,FEC)の閾値である。具体的に言えば、第1式中の目標ビット誤り率BERtargetに対応するσLの値は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率BERtargetに達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。具体的に言えば、σLの値により、第2式の式の左側にある2つの項を加算することによって得られるビット誤り率が目標ビット誤り率BERtargetよりも大きくなることが可能である場合に、光受信器は、FECを通じて、光送信器によって送信された光信号を正確に受信することができない。従って、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率BERtargetに達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差は、統計解析法において第2式を使用することによって推定され得る。

0156

第2標準偏差σLが上記の第2式を使用することによって計算される場合に、処理デバイスは、第2式をパースすることによって第2標準偏差σLの値を取得することができないので、処理デバイスは、数値シミュレーションを通じて、第2式を満足する第2標準偏差σLを決定してよい。処理デバイスが、数値シミュレーションを通じて、第2式を満足する第2標準偏差σLをどのように決定するかについては、処理デバイスによって、数値シミュレーションを通じて、第1式を満足する第2標準偏差σLを決定することの説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

0157

相応して、処理デバイスまた、第2標準偏差σLを決定する方法において依然として、第3標準偏差σRを決定し得る。第3サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも高く、第4サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーPaveの概略線よりも低い、と考えられる。処理デバイスが第2式を使用することによって第3標準偏差σRを決定する場合に、第2式は、次の式(14)に示され得る:



ここで、fur(y)は、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、flr(y)は、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、Q(xur)は、第3サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、Q(xur)は、正規分布曲線においてxurよりも大きい値を有する領域であってよく、第3サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用され、Q(xlr)は、第4サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、Q(xlr)は、正規分布曲線においてxlrよりも大きい値を有する領域であってよく、第4サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの確率分布を表すために使用され、yは、xur及びxlrの独立変数である。

0158

第3標準偏差σRが決定される場合に、第3サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Q(xur)は、ノイズエンハンスメント係数Ceq、前もってセットされた光パワー閾値Pth、第3標準偏差σR、及び第2補償係数M1に基づいて決定され得る。詳細は、次の式(15)に示される:

0159

第4サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数Q(xlr)は、ノイズエンハンスメント係数Ceq、前もってセットされた光パワー閾値Pth、及び第3標準偏差σRに基づいて決定され得る。詳細は、次の式(16)に示される:



ここで、xur=(y−Pth)/(Ceq・M1・σR)であり、xlr=(Pth−y)/(Ceq・σR)であり、yの値範囲は、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、M1は、試験アイパターンの消光比に基づいて決定され、zは、正規分布曲線関数の積分変数である。

0160

上記の式(15)及び(16)によって表される意味については、第2標準偏差を計算する式(12)及び(13)の説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。その上、処理デバイスが、数値シミュレーションを通じて、第2式を満足する第3標準偏差σRをどのように決定するかについては、処理デバイスによって数値シミュレーションを通じて、第2式を満足する第2標準偏差σLを決定することの説明を参照されたい。詳細は、ここで再び記載されない。

0161

上記の方法で第2標準偏差σL及び第3標準偏差σRを決定した後、処理デバイスは、第2標準偏差σL及び第3標準偏差σRのうちの小さい方の値を第1標準偏差σGとして使用してよい。第2標準偏差σL及び第3標準偏差σRのうちの小さい方の値を第1標準偏差σGとして使用する技術的な効果については、“第2標準偏差σL及び第3標準偏差σRのうちの小さい方の値を第1標準偏差σGとして使用すること”の説明を参照されたい。

0162

相応して、処理デバイスは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの取得された標準偏差Rの正確さを確かにするよう、第1標準偏差σGを取得した後に受信端のベースノイズを加えてよい。

0163

具体的な実施中に、処理デバイスは、第1標準偏差σG、第2補償係数M1、及び第4標準偏差σSに基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rを決定してよい。詳細は、次の式(17)に示される:

R=√([(1+M1)σG]2+σS2) (17)

0164

ここでの第4標準偏差σSは、光受信器側のベースノイズ和の分散である。図1に示される試験システムに対応して、光受信器側のベースノイズは、受信端での光−電気変換器のベースノイズ及びオシロスコープのベースノイズを含む。従って、試験シンボルパターンが図1に示される試験システムを使用することによって収集される場合に、第4標準偏差σSは、受信端での光−電気変換器のベースノイズ和及びオシロスコープのベースノイズ和の標準偏差である。

0165

目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rを決定した後、処理デバイスは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rに基づいて第1パラメータTの値を決定してよい。詳細は、次の式(18)に示される:

T=10log10(Rpreset/R) (18)

ここで、Rpresetは、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Rpresetは、具体的に、次の方法で取得されてよい。

0166

処理デバイスは、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号に基づいて取得される前もってセットされたアイパターンを取得してよく、更には、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数Q(xu)、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数Q(xl)、及び目標ビット誤り率BERtargetに基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rpresetを決定してよい。

0167

具体的な実施中に、処理デバイスは、第3式を使用することによって、前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差σidealを決定してよい。第3式は、次の式(19)に示され得る:

(1/2)[Q(xu)+Q(xl)]=BERtarget (19)

ここで、



であり、xu=(Puideal−Pth)/(M2・σideal)であり、



であり、xl=(Pth−Plideal)/σidealであり、Puidealは、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の平均光パワー値であり、Plidealは、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の平均光パワー値であり、Pthは、前もってセットされた光パワー閾値であり、M2は、第3補償係数であり、第3補償係数は、前もってセットされたアイパターンの消光比に基づいて決定され得る。

0168

前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差σidealが取得された後、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rpresetは、σidealに基づいて決定されてよい。具体的な実施中に、処理デバイスは、前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差σideal及び第3補償係数M2に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rpresetを決定してよい。詳細は、次の式(20)に示される:

Rpreset=(1+M2)σideal (20)

0169

Rpresetは、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を表し得るので、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に対する、目標ビット誤り率が到達されるときに理想的な光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差の比は、Rpresetを、目標ビット誤り率が到達されるときに試験対象の光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差Rで割ることによって、取得され得る。その比を使用することによって、光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができることが正確に決定され得る。例えば、第1パラメータTの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光送信器によって送信された光信号に対する適合性試験は成功する、と決定される。言い換えれば、光送信器によって送信された光信号は、光受信器の使用要件を満たすことができる。第1パラメータTの値が前もってセットされた閾値よりも大きい場合に、光送信器によって送信された光信号に対する適合性試験は失敗する、と決定される。言い換えれば、光送信器によって送信された光信号は、光受信器の使用要件を満たすことができない。

0170

光送信器によって送信される光信号内の試験シンボルパターンが試験システムを使用することによって受信端で収集される場合に、テスターが、偏光回転子を回転させることによって、検出されるべき光送信器の相対強度ノイズを最大に調整し、それにより、光送信器によって送信される光信号が、光送信器の相対強度ノイズが最も高いときに送信されるならば、このシナリオで、相対強度ノイズが最も高いときに光送信器によって送信された光信号を収集し、上記の方法実施形態のうちのいずれか1つで適合性試験方法を実行することによって取得される光信号の適合性試験結果は、光送信器の適合性試験結果を表すことができる。言い換えれば、第1パラメータTの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光送信器に対する適合性試験は成功する、と決定される。第1パラメータTの値が前もってセットされた閾値よりも大きい場合に、光送信器に対する適合性試験は失敗する、と決定される。

0171

本願の実施形態で提供される適合性試験方法に従って、イコライゼーション補償は、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号に含まれる試験シンボルパターンに対して実行され、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される第1パラメータの値は、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数と、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて取得される試験アイパターンとに基づいて計算され、それにより、光受信器がイコライゼーション受信方法を使用する場合に、第1パラメータの値に基づいて、NRZ−PAM2スキームを用いて光送信器によって送信された光信号が光受信器の使用要件を満たすことができるかどうかが判定され得る。

0172

図6は、本願の実施形態に従う適合性試験装置の略構造図である。この実施形態における適合性試験装置は、上記の処理デバイスであってよく、あるいは、処理デバイスに適用されるチップであってよい。適合性試験装置は、上記の方法実施形態における処理デバイスの動作を実行するよう構成されてよい。図6に示されるように、通信装置は、取得モジュール11、処理モジュール12、及び決定モジュール13を含んでよい。

0173

取得モジュール11は、光送信器によって送信される光信号において試験シンボルパターンを取得するよう構成され、このとき、光信号は、非ゼロ復帰パルス振幅変調2レベルスキームを使用することによって変調を通じて光送信器によって生成される。

0174

処理モジュール12は、試験シンボルパターンに対してイコライゼーション補償を実行し、イコライゼーション補償が実行された試験シンボルパターンを使用することによって合成を通じて試験アイパターンを生成し;試験アイパターンと、イコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数とに基づいて、第1パラメータの値を計算するよう構成され、第1パラメータは、光送信器の送信器分散アイパターン閉塞度を決定するために使用される。ここで記載されるイコライゼーション補償に対応するノイズエンハンスメント係数は、例えば、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルと、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答とに基づいて、決定される。例えば、ノイズエンハンスメント係数は、Ceq=√(∫fN(f)×Heq(f)df)に従って決定されるか、あるいは、ノイズエンハンスメント係数は、Ceq=√(∫fN(f)×|Heq(f)|2df)に従って決定され、ここで、fは周波数であり、N(f)は、イコライゼーション補償に対応する入力端の正規化されたノイズパワースペクトルであり、Heq(f)は、イコライゼーション補償に対応する正規化された周波数応答であり、∫fN(f)dfは1に等しく、Heq(f)は、fが0に等しいときに1に等しい。

0175

決定モジュール13は、第1パラメータの値が前もってセットされた閾値以下である場合に、光信号に対する適合性試験が成功すると決定するよう構成される。

0176

可能な実施で、光信号が最も高い相対強度ノイズの下で光送信器によって送信される場合に、光信号に対する適合性試験が成功することは、光送信器に対する適合性試験が成功することを表すために使用される。

0177

可能な実施で、処理モジュール12は、試験アイパターンに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、及び第4サンプリングウィンドウのヒストグラムを構成し;第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第1標準偏差を決定し;第1標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定し;目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差に基づいて第1パラメータの値を決定するよう特に構成される。第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの左部分において垂直方向に対称に分布し、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウは、試験アイパターンの右部分において垂直方向に対称に分布し、第1標準偏差は、第2標準偏差及び第3標準偏差のうちの小さい方の値であり、第2標準偏差は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、第3標準偏差は、第3サンプリングウィンドウ及び第4サンプリングウィンドウが目標ビット誤り率に達するときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差である。

0178

例えば、処理モジュール12は、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第2標準偏差を決定し;第3サンプリングウィンドウのヒストグラム、第4サンプリングウィンドウのヒストグラム、及びノイズエンハンスメント係数に基づいて第3標準偏差を決定し;第2標準偏差及び第3標準偏差のうちの小さい方の値を第1標準偏差として使用するよう特に構成される。

0179

第1サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの上眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも高く、第2サンプリングウィンドウに含まれる全てのサンプリング点は、試験アイパターンの下眼瞼に位置し、試験アイパターンの平均光パワーよりも低い、と考えられる。処理モジュール12は、次の2つの方法で第1パラメータの値を決定してよい。詳細は、次の通りである:

0180

方法1:処理モジュール12は、第1サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第2サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、及び正規分布曲線関数に基づいて第2標準偏差を決定するよう特に構成される。

0181

正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、試験アイパターンの平均光パワー、及び第2標準偏差に基づいて決定される。例えば、正規分布曲線関数は、



に従って決定される。Q(x)は、正規分布曲線関数であり、x=(y−Pave)/(Ceq・σL)であり、yは、xの独立変数であり、yの値範囲は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Paveは、試験アイパターンの平均光パワーであり、σLは、第2標準偏差であり、Ceqは、ノイズエンハンスメント係数であり、zは、正規分布曲線関数の積分変数である。

0182

この方法で、処理モジュール12は、数値シミュレーションを通じて、第1式を満足する第2標準偏差を決定してよい、第1式は:



である。ful(y)は、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、Q(x)は、正規分布曲線関数であり、fll(y)は、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、BERtargetは、目標ビット誤り率である。

0183

この方法で、処理モジュール12は、第1標準偏差及び第4標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定してよく、第4標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。例えば、処理モジュール12は、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を得るよう、第1標準偏差の二乗と第4標準偏差の二乗との和の平方根を計算するよう特に構成される。

0184

この方法で、処理モジュール12は、T=10log10((OMA/2Q)×(1/R))+Mに従って第1パラメータの値を決定してよい。Tは、第1パラメータであり、OMAは、光変調振幅であり、Qは、前もってセットされたQ係数であり、Rは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Mは、第1補償係数であり、Mは、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。前もってセットされたQ係数は、例えば、目標ビット誤り率の下での前もってセットされたアイパターンのQ係数であり、前もってセットされたアイパターンは、符号間干渉及びノイズがないアイパターンである。

0185

方法2:処理モジュール12は、第1サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第2サンプリングウィンドウのヒストグラムに基づいて第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数を決定し、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数、目標ビット誤り率、第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数、及び第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数に基づいて第2標準偏差を決定してよい。

0186

第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、第2標準偏差、及び第2補償係数に基づいて決定される。第2補償係数は、試験アイパターンの消光比に基づいて決定される。例えば、第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、



に従って決定される。第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、ノイズエンハンスメント係数、前もってセットされた光パワー閾値、及び第2標準偏差に基づいて決定される。例えば、第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数は、



に従って決定される。

0187

Q(xul)は、第1サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、xul=(y−Pth)/(Ceq・M1・σL)であり、Q(xll)は、第2サンプリングウィンドウの正規分布曲線関数であり、xll=(Pth−y)/(Ceq・σL)であり、yは、xul及びxllの独立変数であり、yの値範囲は、第1サンプリングウィンドウ及び第2サンプリングウィンドウにおけるサンプリング点に対応する光パワー値の最大値及び最小値の間のインターバルであり、Pthは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σLは、第2標準偏差であり、Ceqは、ノイズエンハンスメント係数であり、M1は、第2補償係数であり、zは、正規分布曲線関数の積分変数である。

0188

この方法で、処理モジュール12は、数値シミュレーションを通じて、第2式を満足する第2標準偏差を決定してよく、第2式は、



である。ful(y)は、第1サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、fll(y)は、第2サンプリングウィンドウのヒストグラム分布関数であり、BERtargetは、目標ビット誤り率である。

0189

この方法で、処理モジュール12は、第1標準偏差、第2補償係数、及び第4標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定してよく、第4標準偏差は、光受信器側のベースノイズ和の分散である。例えば、処理モジュール12は、R=√([(1+M1)σG]2+σS2)に従って、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう特に構成され、ここで、Rは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、M1は、第2補償係数であり、σGは、第1標準偏差であり、σSは、第4標準偏差である。

0190

この方法で、処理モジュール12は、T=10log10(Rpreset/R)に従って第1パラメータの値を決定してよい。Tは、第1パラメータであり、Rpresetは、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、Rは、目標ビット誤り率が到達されるときに光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差であり、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号は、ノイズ、ジッタ、及び符号間干渉がない。

0191

この方法で、処理モジュール12は、前もってセットされた光送信器によって送信される光信号に基づいて取得される前もってセットされたアイパターンを取得し、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数、及び目標ビット誤り率に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう更に構成される。例えば、処理モジュール12は、数値シミュレーションを通じて、第3式を満足しかつ前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差を決定し、前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差に基づいて、目標ビット誤り率が到達されるときに前もってセットされた光送信器によってサポートされ得る最も高い相加性ノイズの標準偏差を決定するよう特に構成され、このとき、第3式は:

(1/2)[Q(xu)+Q(xl)]=BERtarget

である。

0192

Q(xu)は、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の正規分布曲線関数であり、



であり、xu=(Puideal−Pth)/(M2・σideal)であり、Q(xl)は、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の正規分布曲線関数であり、



であり、xl=(Pth−Plideal)/σidealであり、Puidealは、前もってセットされたアイパターンの上眼瞼の平均光パワー値であり、Plidealは、前もってセットされたアイパターンの下眼瞼の平均光パワー値であり、Pthは、前もってセットされた光パワー閾値であり、σidealは、前もってセットされた光送信器に対応する第1標準偏差であり、zは、正規分布曲線関数の積分変数であり、M2は、第3補償係数であり、第3補償係数は、前もってセットされたアイパターンの消光比に基づいて決定される。

0193

本願のこの実施形態で提供される適合性試験装置は、上記の方法実施形態における処理デバイスの動作を実行してよく、実施原理及び技術的な効果は同様である。詳細は、ここで再び記載されない。

0194

上記のモジュールは、処理要素によって呼び出されるソフトウェアの形で実施されてよく、あるいは、ハードウェアの形で実施されてよい、ことが留意されるべきである。例えば、処理モジュールは、別に配置された処理要素であってよく、あるいは、実施のために上記の装置のチップに組み込まれてよい。更に、処理モジュールは、プログラムコードの形で上記の装置のメモリに記憶されてよく、処理ユニットの機能を実行するよう上記の装置の処理要素によって呼び出される。更に、ユニットの一部又は全ては、一体化されてよく、あるいは、ユニットは、独立して実施されてよい。処理要素は、集積回路であってよく、信号処理能力を備えている。実施プロセスにおいて、上記の方法のステップ又は上記のユニットは、処理要素内のハードウェア集積論理回路を使用することによって、又はソフトウェアの形をとる命令を使用することによって、実施可能である。

0195

例えば、上記のユニットは、1つ以上の特定用途向け集積回路(application specific integrated circuit,ASIC)、1つ以上のデジタル信号プロセッサ(digital signal processor,DSP)、又は1つ以上のフィールドプログラマブルゲートアレイ(field programmable gate array,FPGA)のような、方法を実施するための1つ以上の集積回路として構成されてよい。他の例として、ユニットが処理コンポーネントによってプログラムコードをスケジューリングすることによって実施される場合に、処理コンポーネントは、汎用プロセッサ、例えば、中東演算処理装置(Central Processing Unit,CPU)又はプログラムコードを呼び出すことができる他のプロセッサであってよい。更なる他の例として、ユニットは、システムオン・ア・チップ(system-on-a-chip,SOC)の形で一体化され実施されてよい。

0196

図7は、本願の実施形態に従う他の適合性試験装置の略構造図である。図7に示されるように、適合性試験装置は、少なくとも1つのプロセッサ21、メモリ22、などを含んでよい。図7は、1つのプロセッサを含む適合性試験装置の例を示す。更に、当業者であれば、図7に示される適合性試験装置の構造が適合性試験装置に対する制限を構成せず、適合性試験装置が図示されるよりも多い又は少ないコンポーネントを含んでよく、あるいは、いくつかのコンポーネントが組み合わされてよく、あるいは、異なるコンポーネント配置が使用されてよい、と理解し得る。

0197

プロセッサ21は、CPU、又はASIC、又は本願のこの実施形態を実施するよう構成された1つ以上の集積回路であってよい。メモリ22は、高速ランダムアクセス・メモリ(rando-access memory,RAM)を含んでよく、あるいは、不揮発性メモリ(non-volatile memory,NVM)、例えば、少なくとも1つの磁気ディスクストレージを更に含んでもよい。メモリ22は、様々な処理機能を達成しかつ本願の方法ステップを実施するよう、様々な命令を記憶してよい。

0198

本願のこの実施形態で、メモリ22は、コンピュータ実行可能なプログラムコードを記憶するよう構成され、プログラムコードは命令を含む。プロセッサ21が命令を実行する場合に、命令は、適合性試験装置のプロセッサ21が、上記の方法実施形態における処理デバイスの動作を実行することを可能にする。その実施原理及び技術的な効果は同様であり、詳細はここで再び記載されない。

0199

具体的な実施中に、メモリ22及びプロセッサ21が独立して実施される場合に、メモリ22及びプロセッサ21は、互いに接続され、バスを通じて互いと通信してよい。バスは、工業標準アーキテクチャ(Industry Standard Architecture,略してISA)バス、周辺機器相互接続(Peripheral Component,略してPCI)バス、拡張工業標準アーキテクチャ(Extended Industry Standard Architecture,略してEISA)バス、などであってよい。バスは、アドレスバスデータバスコントロールバス、などに分類され得るが、それは、ただ1つのバス又はただ1つのタイプのバスしか存在しないことを示すものではない。メモリ22及びプロセッサ21が実施のための1つのチップに組み込まれる場合に、メモリ22及びプロセッサ21は、内部インターフェースを通じて互いと通信してよい。

0200

本願の実施形態は、コンピュータ可読記憶媒体を更に提供する。コンピュータ可読記憶媒体は、USBフラッシュドライブリムーバブルハードディスクリード・オンリー・メモリ(ROM,Read-Only Memory)、ランダム・アクセス・メモリ(RAM,Random Access Memory)、磁気ディスク、又は光ディスクのような、プログラムコードを記憶することができる様々な媒体を含んでよい。具体的に、コンピュータ可読記憶媒体は、プログラム命令を記憶し、プログラム命令は、上記の実施形態における方法で使用されてよい。

0201

上記の実施形態の一部又は全ては、ソフトウェア、ハードウェア、ファームウェア、又はそれらの任意の組み合わせを使用することによって実施されてよい。ソフトウェアが実施形態を実施するために使用される場合に、実施形態は、コンピュータプログラム製品の形で完全に又は部分的に実施されてよい。コンピュータプログラム製品は、1つ以上のコンピュータ命令を含む。コンピュータプログラム命令がコンピュータでロードされ実行される場合に、本願の実施形態に従うプロシージャ又は機能は、全て又は部分的に生成される。コンピュータは、汎用コンピュータ、専用コンピュータ、コンピュータネットワーク、又は他のプログラム可能な装置であってよい。コンピュータ命令は、コンピュータ可読記憶媒体に記憶されてよく、あるいは、コンピュータ可読記憶媒体から他のコンピュータ可読記憶媒体へ伝送されてよい。例えば、コンピュータ命令は、ウェブサイト、コンピュータ、サーバ、又はデータセンターから他のウェブサイト、コンピュータ、サーバ、又はデータセンターへ有線(例えば、赤外線同軸ケーブル光ファイバ、若しくはデジタル加入者回線(DSL))又は無線(例えば、赤外線、電波、若しくはマイクロ波)で伝送されてよい。コンピュータ記憶媒体は、コンピュータによってアクセス可能な任意の使用可能な媒体、又は1つ以上の使用可能な媒体を組み込む、サーバ若しくはデータセンターのようなデータ記憶デバイスであってよい。使用可能な媒体は、磁気媒体(例えば、フロッピーディスクハードディスク、又は磁気テープ)、光学媒体(例えば、DVD)、半導体媒体(例えば、ソリッドステートドライブSolid State Disk(SSD))、などであってよい。

0202

本願における「複数の〜」は、2又は2よりも多いを指す。本明細書中の「及び/又は」という語は、関連するオブジェクトについて記載するための関連付け関係を単に記載し、3つの関係が存在する可能性があることを表す。例えば、A及び/又はBは、次の3つの場合:Aのみが存在する、A及びBの両方が存在する、Bのみが存在する、を表し得る。更に、「/」の文字は、関連するオブジェクトの間の“論理和”関係を通常は示す。式中、「/」の文字は、関連するオブジェクトの間の“除算”関係を示す。

0203

本願の実施形態で使用される数符号は、説明を容易にするために区別されるにすぎず、本願の実施形態の範囲を制限するために使用されないことが理解され得る。

0204

上記のプロセスのシーケンス番号は、本願の実施形態における実行順序を意味しないことが理解されるべきである。プロセスの実行順序は、プロセッサの機能及び内部ロジックに従って決定されるべきであり、本願の実施形態の実施プロセスに対する如何なる制限としても解釈されるべきではない。

0205

本願は、2018年4月27日付けで「CONFORMANCE TESTING METHODANDAPPRATUS, AND STORAGEMEDIUM」と題されて中国国家知識産権局に出願された中国特許出願第201810395321.4号の優先権を主張するとともに、2018年6月13日付けで「CONFORMANCE TESTING METHOD AND APPRATUS, AND STORAGE MEDIUM」と題されて中国国家知識産権局に出願された中国特許出願第201810609797.3号の優先権を主張する。なお、これらの中国特許出願は、その全文を参照により本願に援用される。

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