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図面 (9)

課題・解決手段

相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を決定するシステム(800)が提供される。システム(800)は、センサーアセンブリ(810)と、センサーアセンブリ(810)に通信可能に結合されたメータ検証モジュール(820)とを含む。メータ検証モジュール(820)は、振動計のセンサーアセンブリ(810)に印加される第1の信号の周波数を決定し、第1の信号の周波数の周り復調ウィンドウを設定するように構成される。メータ検証モジュール(800)はまた、第1の信号および第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が復調ウィンドウの外側にあるように、センサーアセンブリに印加される第2の信号の周波数を決定するように構成される。

概要

背景

例えば、コリオリ質量流量計液体密度計、ガス密度計、液体粘度計ガス液体比重計、ガス/液体相密度計ガス分子量計などの振動計が一般に知られており、流体の特性を測定するために使用されている。一般に、メータセンサーアセンブリ電子部分を備える。センサーアセンブリ内の材料は、流動していてもよく、または静止していてもよい。センサーのタイプごとに固有の特性があるが、最適なパフォーマンスを実現するためにメータが責任を負なければならない。例えば、一部のセンサーには、特定の変位レベル振動するチューブ装置が必要になる場合がある。他のセンサーアセンブリタイプには、特別な補償アルゴリズムが必要な場合がある。

メータ電子機器は、他の機能を実行する中でも、通常、使用されている特定のセンサーのための保存されたセンサー校正値を含む。例えば、メータ電子機器には、基準センサー剛性測定値が含まれる場合がある。基準センサーの剛性は、基準条件の下で工場で測定された特定のセンサーアセンブリのためのセンサー形状に伴う基本的な測定値を表す。振動素子メータが顧客サイトに設置された後に測定されたセンサー剛性と基準センサー剛性との間の変化は、センサーアセンブリ内の他の原因に加えてコーティング侵食腐食または導管の損傷によるセンサーアセンブリ内の物理的変化を表す場合がある。メータ検証またはヘルスチェックテストは、これらの変化を検出できる。

メータ検証は、通常、センサーアセンブリの駆動装置に適用され得るマルチサインマルチコンポーネントなどとも呼ばれるマルチトーン駆動信号を用いて実行される。マルチトーン駆動信号は、通常、センサーアセンブリの共振周波数にある共振成分または駆動トーンと、駆動トーンから周波数間隔を空けている複数の非共振成分またはテストトーンとで構成される。これは、複数のテストトーンが順次に循環するアプローチとは異なる。テストトーンの順次の循環では、システムのどんな時間変動(例えば、温度依存効果、流量の変化)も、センサーアセンブリの周波数応答特性を破損する可能性がある。サンプリングされたデータが同時に取得されるため、マルチトーン駆動信号は有利である。

マルチトーン駆動信号の各テストトーンは、センサーアセンブリの周波数応答への入力である。センサーアセンブリにより供給される応答信号の成分は、周波数応答関数の出力である。これらの成分を対応するテストトーンと比較して、センサーアセンブリの周波数応答を特徴付ける。センサーアセンブリにコーティング、侵食、腐食または損傷が発生すると、センサーアセンブリの周波数応答が変化するであろう。ただし、センサーアセンブリの非線形性は、マルチトーン駆動信号から相互変調歪み信号を形成する可能性がある。

相互変調歪み信号により、センサーアセンブリのどんな基本的な変更もなく、センサーアセンブリの周波数応答が変化する可能性がある。より具体的には、マルチトーン駆動信号の駆動トーンとテストトーンは、テストトーンの1つの周波数またはその近くにあり得る周波数を有する相互変調歪み信号を誘導する可能性がある。その結果、相互変調歪み信号に対応する成分が、テストトーンの1つに対応する成分と干渉する可能性がある。この干渉により、周波数応答の特徴付けが不正確になる可能性がある。したがって、相互変調歪み信号干渉を防止する必要がある。

概要

相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を決定するシステム(800)が提供される。システム(800)は、センサーアセンブリ(810)と、センサーアセンブリ(810)に通信可能に結合されたメータ検証モジュール(820)とを含む。メータ検証モジュール(820)は、振動計のセンサーアセンブリ(810)に印加される第1の信号の周波数を決定し、第1の信号の周波数の周り復調ウィンドウを設定するように構成される。メータ検証モジュール(800)はまた、第1の信号および第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が復調ウィンドウの外側にあるように、センサーアセンブリに印加される第2の信号の周波数を決定するように構成される。

目的

メータ電子機器20は、リード線100を介してセンサーアセンブリ10に接続され、経路26を介して密度質量流量および温度情報ならびに他の情報を提供する

効果

実績

技術文献被引用数
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牽制数
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請求項1

相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を決定するためのシステム(800)であって、センサーアセンブリ(810)と、前記センサーアセンブリ(810)に通信可能に結合されたメータ検証モジュール(820)と、を備え、前記メータ検証モジュール(820)が、振動計の前記センサーアセンブリ(810)に印加される第1の信号の周波数を決定し、前記第1の信号の周波数の周り復調ウィンドウを設定し、前記第1の信号および第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が前記復調ウィンドウの外側にあるように、前記センサーアセンブリに印加される前記第2の信号の周波数を決定するように構成される、システム(800)。

請求項2

前記メータ検証モジュール(820)が、前記第1の信号の周波数を含む帯域幅を決定し、前記第2の信号の周波数が前記第1の信号の周波数を含む前記帯域幅内にあるように前記第2の信号の周波数を決定するようにさらに構成される、請求項1に記載のシステム(800)。

請求項3

前記帯域幅が前記センサーアセンブリの周波数応答帯域幅である、請求項2に記載のシステム(800)。

請求項4

前記第1の信号の周波数が前記センサーアセンブリの共振周波数である、請求項1から3のいずれか一項に記載のシステム(800)。

請求項5

記相互変調歪み信号が、前記メータ検証モジュール(820)および前記センサーアセンブリ(810)のうちの1つで生成される、請求項1から4のいずれか一項に記載のシステム(800)。

請求項6

前記第1の信号および前記第2の信号が、前記メータ検証モジュール(820)により前記センサーアセンブリ(810)に印加される駆動信号の成分である、請求項1から5のいずれか一項に記載のシステム(800)。

請求項7

前記第2の信号が、前記センサーアセンブリ(810)に印加されて前記センサーアセンブリ(810)の周波数応答特徴付ける、請求項1から6のいずれか一項に記載のシステム(800)。

請求項8

前記第1の信号および前記第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が前記復調ウィンドウの外側にあるように、前記センサーアセンブリ(810)に印加される前記第2の信号の周波数を決定するように構成される前記メータ検証モジュール(820)が、前記相互変調歪みが前記復調ウィンドウに近接するように前記第2の信号の周波数を決定するように構成される前記メータ検証モジュール(820)を含む、請求項1から7のいずれか一項に記載のシステム(800)。

請求項9

前記メータ検証モジュール(820)が、1つ以上の追加の信号により生成された複数の相互変調歪み信号の周波数が前記第1の信号の前記復調ウィンドウの外側にあるように前記1つ以上の追加の信号の周波数を決定するようにさらに構成される、請求項1から8のいずれか一項に記載のシステム(800)。

請求項10

前記メータ検証モジュール(820)が、前記第1の信号の周波数を含む帯域幅を決定し、前記1つ以上の追加の信号の周波数が前記第1の信号の周波数を含む前記帯域幅内にあるように前記1つ以上の追加の信号の周波数を決定するようにさらに構成される、請求項9に記載のシステム(800)。

請求項11

前記メータ検証モジュール(820)が、前記1つ以上の追加の信号の周りに復調ウィンドウを設定し、前記1つ以上の追加の信号により生成された複数の相互変調歪み信号の周波数が前記1つ以上の追加の信号の前記復調ウィンドウの外側にあるように前記1つ以上の追加の信号の周波数を決定するようにさらに構成される、請求項9に記載のシステム(800)。

請求項12

相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を決定する方法であって、振動計のセンサーアセンブリに印加される第1の信号の周波数を決定することと、前記第1の信号の周波数の周りに復調ウィンドウを設定することと、前記第1の信号および前記第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が前記復調ウィンドウの外側にあるように、前記センサーアセンブリに印加される前記第2の信号の周波数を決定することとを含む、方法。

請求項13

前記第1の信号の周波数を含む帯域幅を決定することと、前記第2の信号の周波数が前記第1の信号の周波数を含む前記帯域幅内にあるように前記第2の信号の周波数を決定することとをさらに含む、請求項12に記載の方法。

請求項14

前記帯域幅が前記センサーアセンブリの周波数応答帯域幅である、請求項13に記載の方法。

請求項15

前記第1の信号の周波数が前記センサーアセンブリの共振周波数である、請求項12から14のいずれか一項に記載の方法。

請求項16

前記相互変調歪み信号が、メータ電子機器および前記センサーアセンブリのうちの1つで生成される、請求項12から15のいずれか一項に記載の方法。

請求項17

前記第1の信号および前記第2の信号が、前記メータ電子機器により前記センサーアセンブリに印加される駆動信号の成分である、請求項12から16のいずれか一項に記載の方法。

請求項18

前記第2の信号が、前記センサーアセンブリに印加されて前記センサーアセンブリを特徴付ける、請求項12から17のいずれか一項に記載の方法。

請求項19

前記第1の信号および前記第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が前記復調ウィンドウの外側にあるように、センサーアセンブリに印加される第2の信号の周波数を決定することが、前記相互変調歪みが前記復調ウィンドウに近接するように第2の信号の周波数を決定することを含む、請求項12から18のいずれか一項に記載の方法。

請求項20

1つ以上の追加の信号により生成された複数の相互変調歪み信号の周波数が前記第1の信号の前記復調ウィンドウの外側にあるように前記1つ以上の追加の信号の周波数を決定することをさらに含む、請求項12から19のいずれか一項に記載の方法。

請求項21

前記第1の信号の周波数を含む帯域幅を決定することと、前記1つ以上の追加の信号の周波数が前記第1の信号の周波数を含む帯域幅内にあるように前記1つ以上の追加の信号の周波数を決定することとをさらに含む、請求項20に記載の方法。

請求項22

前記1つ以上の追加の信号の周りに復調ウィンドウを設定することと、前記1つ以上の追加の信号により生成された複数の相互変調歪み信号の周波数が前記1つ以上の追加の信号の復調ウィンドウの外側にあるように前記1つ以上の追加の信号の周波数を決定することをさらに含む、請求項20に記載の方法。

技術分野

0001

下記の実施形態は、相互変調歪みに関し、より具体的には、相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔に関する。

背景技術

0002

例えば、コリオリ質量流量計液体密度計、ガス密度計、液体粘度計ガス液体比重計、ガス/液体相密度計ガス分子量計などの振動計が一般に知られており、流体の特性を測定するために使用されている。一般に、メータセンサーアセンブリ電子部分を備える。センサーアセンブリ内の材料は、流動していてもよく、または静止していてもよい。センサーのタイプごとに固有の特性があるが、最適なパフォーマンスを実現するためにメータが責任を負なければならない。例えば、一部のセンサーには、特定の変位レベル振動するチューブ装置が必要になる場合がある。他のセンサーアセンブリタイプには、特別な補償アルゴリズムが必要な場合がある。

0003

メータ電子機器は、他の機能を実行する中でも、通常、使用されている特定のセンサーのための保存されたセンサー校正値を含む。例えば、メータ電子機器には、基準センサー剛性測定値が含まれる場合がある。基準センサーの剛性は、基準条件の下で工場で測定された特定のセンサーアセンブリのためのセンサー形状に伴う基本的な測定値を表す。振動素子メータが顧客サイトに設置された後に測定されたセンサー剛性と基準センサー剛性との間の変化は、センサーアセンブリ内の他の原因に加えてコーティング侵食腐食または導管の損傷によるセンサーアセンブリ内の物理的変化を表す場合がある。メータ検証またはヘルスチェックテストは、これらの変化を検出できる。

0004

メータ検証は、通常、センサーアセンブリの駆動装置に適用され得るマルチサインマルチコンポーネントなどとも呼ばれるマルチトーン駆動信号を用いて実行される。マルチトーン駆動信号は、通常、センサーアセンブリの共振周波数にある共振成分または駆動トーンと、駆動トーンから周波数間隔を空けている複数の非共振成分またはテストトーンとで構成される。これは、複数のテストトーンが順次に循環するアプローチとは異なる。テストトーンの順次の循環では、システムのどんな時間変動(例えば、温度依存効果、流量の変化)も、センサーアセンブリの周波数応答特性を破損する可能性がある。サンプリングされたデータが同時に取得されるため、マルチトーン駆動信号は有利である。

0005

マルチトーン駆動信号の各テストトーンは、センサーアセンブリの周波数応答への入力である。センサーアセンブリにより供給される応答信号の成分は、周波数応答関数の出力である。これらの成分を対応するテストトーンと比較して、センサーアセンブリの周波数応答を特徴付ける。センサーアセンブリにコーティング、侵食、腐食または損傷が発生すると、センサーアセンブリの周波数応答が変化するであろう。ただし、センサーアセンブリの非線形性は、マルチトーン駆動信号から相互変調歪み信号を形成する可能性がある。

0006

相互変調歪み信号により、センサーアセンブリのどんな基本的な変更もなく、センサーアセンブリの周波数応答が変化する可能性がある。より具体的には、マルチトーン駆動信号の駆動トーンとテストトーンは、テストトーンの1つの周波数またはその近くにあり得る周波数を有する相互変調歪み信号を誘導する可能性がある。その結果、相互変調歪み信号に対応する成分が、テストトーンの1つに対応する成分と干渉する可能性がある。この干渉により、周波数応答の特徴付けが不正確になる可能性がある。したがって、相互変調歪み信号干渉を防止する必要がある。

0007

相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を決定するためのシステム(800)が提供される。一実施形態によれば、システム(800)は、センサーアセンブリ(810)と、センサーアセンブリ(810)に通信可能に結合されたメータ検証モジュール(820)とを備える。メータ検証モジュール(820)は、振動計のセンサーアセンブリ(810)に印加される第1の信号の周波数を決定し、第1の信号の周波数の周り復調ウィンドウを設定するように構成される。メータ検証モジュール(820)はまた、第1の信号および第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が復調ウィンドウの外側にあるように、センサーアセンブリに印加される第2の信号の周波数を決定するように構成される。

0008

相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を決定する方法が提供される。一実施形態によれば、本方法は、振動計のセンサーアセンブリに印加される第1の信号の周波数を決定することと、第1の信号の周波数の周りに復調ウィンドウを設定することと、第1の信号および第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が復調ウィンドウの外側にあるように、センサーアセンブリに印加される第2の信号の周波数を決定することとを含む。

0009

態様
一態様によれば、相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を決定するためのシステム(800)は、センサーアセンブリ(810)と、センサーアセンブリ(810)に通信可能に結合されたメータ検証モジュール(820)とを備える。メータ検証モジュール(820)は、振動メータのセンサーアセンブリ(810)に印加される第1の信号の周波数を決定し、第1の信号の周波数の周りに復調ウィンドウを設定し、第1の信号および第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が復調ウィンドウの外側にあるように、センサーアセンブリに印加される第2の信号の周波数を決定するように構成される。

0010

好ましくは、メータ検証モジュール(820)は、第1の信号の周波数を含む帯域幅を決定し、第2の信号の周波数が第1の信号の周波数を含む帯域幅内にあるように第2の信号の周波数を決定するようにさらに構成される。

0011

好ましくは、帯域幅は、センサーアセンブリの周波数応答帯域幅である。

0012

好ましくは、第1の信号の周波数は、センサーアセンブリの共振周波数である。

0013

好ましくは、相互変調歪み信号は、メータ検証モジュール(820)およびセンサーアセンブリ(810)のうちの1つで生成される。

0014

好ましくは、第1の信号および第2の信号は、メータ検証モジュール(820)によりセンサーアセンブリ(810)に印加される駆動信号の成分である。

0015

好ましくは、第2の信号は、センサーアセンブリ(810)に印加されてセンサーアセンブリ(810)の周波数応答を特徴付ける。

0016

好ましくは、第1の信号および第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が復調ウィンドウの外側にあるように、センサーアセンブリ(810)に印加される第2の信号の周波数を決定するように構成されるメータ検証モジュール(820)は、相互変調歪みが復調ウィンドウに近接するように第2の信号の周波数を決定するように構成されるメータ検証モジュール(820)を含む。

0017

好ましくは、メータ検証モジュール(820)は、1つ以上の追加の信号により生成された複数の相互変調歪み信号の周波数が第1の信号の復調ウィンドウの外側にあるように1つ以上の追加の信号の周波数を決定するようにさらに構成される。

0018

好ましくは、メータ検証モジュール(820)は、第1の信号の周波数を含む帯域幅を決定し、1つ以上の追加の信号の周波数が第1の信号の周波数を含む帯域幅内にあるように1つ以上の追加の信号の周波数を決定するようにさらに構成される。

0019

好ましくは、メータ検証モジュール(820)は、1つ以上の追加の信号の周りに復調ウィンドウを設定し、1つ以上の追加の信号により生成された複数の相互変調歪み信号の周波数が1つ以上の追加の信号の復調ウィンドウの外側にあるように1つ以上の追加の信号の周波数を決定するようにさらに構成される。

0020

一態様によれば、相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を決定する方法は、振動計のセンサーアセンブリに印加される第1の信号の周波数を決定することと、第1の信号の周波数の周りに復調ウィンドウを設定することと、第1の信号および第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が復調ウィンドウの外側にあるように、センサーアセンブリに印加される第2の信号の周波数を決定することとを含む。

0021

好ましくは、本方法は、第1の信号の周波数を含む帯域幅を決定することと、第2の信号の周波数が第1の信号の周波数を含む帯域幅内にあるように第2の信号の周波数を決定することをさらに含む。

0022

好ましくは、帯域幅は、センサーアセンブリの周波数応答帯域幅である。

0023

好ましくは、第1の信号の周波数は、センサーアセンブリの共振周波数である。

0024

好ましくは、相互変調歪み信号は、メータ電子機器およびセンサーアセンブリのうちの1つで生成される。

0025

好ましくは、第1の信号および第2の信号は、メータ電子機器によりセンサーアセンブリに印加される駆動信号の成分である。

0026

好ましくは、第2の信号は、センサーアセンブリに印加されてセンサーアセンブリを特徴付ける。

0027

好ましくは、第1の信号および第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が復調ウィンドウの外側にあるように、センサーアセンブリに印加される第2の信号の周波数を決定することは、相互変調歪みが復調ウィンドウに近接するように第2の信号の周波数を決定することを含む。

0028

好ましくは、本方法は、1つ以上の追加の信号により生成された複数の相互変調歪み信号の周波数が第1の信号の復調ウィンドウの外側にあるように1つ以上の追加の信号の周波数を決定することをさらに含む。

0029

好ましくは、本方法は、第1の信号の周波数を含む帯域幅を決定することと、1つ以上の追加の信号の周波数が第1の信号の周波数を含む帯域幅内にあるように1つ以上の追加の信号の周波数を決定することをさらに含む。

0030

好ましくは、本方法は、1つ以上の追加の信号の周りに復調ウィンドウを設定することと、1つ以上の追加の信号により生成された複数の相互変調歪み信号の周波数が1つ以上の追加の信号の復調ウィンドウの外側にあるように1つ以上の追加の信号の周波数を決定することをさらに含む。

図面の簡単な説明

0031

同じ参照番号は、すべての図面で同じ要素を表す。図面は必ずしも縮尺通りではないことを理解されたい。
相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を使用する振動計5を示す図である。
マルチトーン駆動信号における相互変調歪み信号を示すグラフ200を示す図である。
相互変調歪みを示すグラフ300を示す図である。
相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を示すグラフ400を示す図である。
相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を示すグラフ500を示す図である。
相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を示すグラフ600を示す図である。
一実施形態による相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を決定する本方法700を示す図である。
センサーアセンブリ810とメータ検証モジュール820とで構成されるシステム800を示す図である。

実施例

0032

図1から8と以下の説明は、相互変調歪み信号干渉を防止するために、周波数間隔の実施形態の最良のモードを作成および使用する方法を当業者に教示する特定の実施例を示す。発明の原理を教示する目的で、いくつかの従来の態様は簡略化または省略されている。当業者は、本説明の範囲内に入るこれらの実施例からの変形を理解するであろう。当業者は、下記の特徴を種々の方法で組み合わせて、最適な周波数間隔を決定する複数の変形を形成して、相互変調歪み信号干渉を防止できることを理解するであろう。その結果、下記の実施形態は、下記の特定の実施例に限定されず、特許請求の範囲とそれらの均等物のみにより限定される。

0033

相互変調歪み信号による干渉は、振動計のセンサーアセンブリに印加される駆動信号などの第1の信号の周波数を決定し、第1の信号の周波数の周りに復調ウィンドウを設定することにより防止できる。第1の信号と混合されると相互変調歪み信号を生成する第2の信号の周波数は、相互変調歪み信号の周波数が復調ウィンドウの外側にあるように決定できる。したがって、相互変調歪み信号は、センサーアセンブリの周波数応答の特徴付けには含まれない。その結果、特徴付けはより正確になり、したがって、腐食、侵食、堆積およびセンサーアセンブリの他の問題を確実に検出できる。

0034

図1は、相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を使用する振動計5を示す。図1に示すように、振動計5は、センサーアセンブリ10とメータ電子機器20を備える。センサーアセンブリ10は、プロセス材料質量流量と密度応答する。メータ電子機器20は、リード線100を介してセンサーアセンブリ10に接続され、経路26を介して密度、質量流量および温度情報ならびに他の情報を提供する。

0035

センサーアセンブリ10は、一対のマニホールド150と150’、フランジネック110と110’を有する一対のフランジ103と103’、一対の平行な導管130と130’、駆動機構180、測温抵抗体RTD)190および一対のピックオフセンサー170lと170rを含む。導管130と130’は、2つの本質的に真っ直ぐな入口脚131、131’と出口脚134、134’を有し、これらは導管取付ブロック120と120’で互いに向かってまとまっている。導管130、130’は、それらの長さに沿った2つの対称位置で曲がり、それらの長さ全体にわたって本質的に平行である。ブレースバー140と140’は、各導管130、130’がその周りで振動する軸WとW’を規定する役割を果たす。導管130、130’の脚131、131’と134、134’は、導管取付ブロック120と120’に固定的に取り付けられ、これらのブロックは、同様にマニホールド150と150’に固定的に取り付けられる。これにより、センサーアセンブリ10を通る連続した閉じた材料経路が提供される。

0036

穴102と102’を有するフランジ103と103’が、入口端104と出口端104’を介して、測定されるプロセス材料を運ぶプロセスライン(図示せず)に接続されると、材料は、フランジ103内のオリフィス101を通ってメータの入口端104に入り、マニホールド150を通って表面121を有する導管取付ブロック120に導かれる。マニホールド150内で材料は分割され、導管130、130’を通って送られる。導管130、130’を出ると、プロセス材料は、表面121’とマニホールド150’を有するブロック120’内で単一の流れに再結合され、その後、穴を有するフランジ103’によりプロセスライン(図示せず)102’に接続された出口端104’に送られる。

0037

導管130、130’は、それぞれ曲げ軸W−WとW’−W’の周りで実質的に同じ質量分布慣性モーメントおよびヤング率を有するように選択され、導管取付ブロック120、120’に適切に取り付けられる。これらの曲げ軸はブレースバー140、140’を通る。導管のヤング率は温度とともに変化し、この変化が流量と密度の計算に影響するため、導管130’の温度を連続的に測定するためにRTD190が導管130’に取り付けられる。導管130’の温度、したがって、そこを流れる所与電流に対してRTD190を横切って現れる電圧は、導管130’を流れる材料の温度により支配される。RTD190を横切って現れる温度依存電圧は、メータ電子機器20による周知の方法で使用され、導管温度の任意の変化による導管130、130’の弾性率の変化を補償する。RTD190は、リード線195によりメータ電子機器20に接続される。

0038

導管130、130’の両方は、駆動機構180により、それぞれの曲げ軸WとW’に関して反対方向に、かつ流量計の第1の位相外れ曲げモードと呼ばれるところで駆動される。この駆動機構180は、導管130’に取り付けられた磁石と導管130に取り付けられ、両方の導管130、130’を振動させるために交流電流が流れる対向コイルなど、多くの周知の構成のうちのいずれか1つを備えてもよい。適切な駆動信号は、メータ電子機器20によりリード線185を介して駆動機構180に印加される。

0039

メータ電子機器20は、リード線195上のRTD温度信号およびそれぞれ左右のセンサー信号165l、165rを運ぶリード線100上に現れる左右のセンサー信号を受信する。メータ電子機器20は、リード線185上に現れる駆動信号を生成して、機構180を駆動し、導管130、130’を振動させる。メータ電子機器20は、左右のセンサー信号とRTD信号を処理して、センサーアセンブリ10を流れる材料の質量流量と密度を計算する。この情報は、他の情報とともに、メータ電子機器20により経路26を介して信号として印加される。

0040

図2は、マルチトーン駆動信号における相互変調歪み信号を示すグラフ200を示す。図2に示すように、グラフ200は、周波数軸210と大きさ軸220を含む。周波数軸は、ヘルツ(Hz)単位であり、0から30の範囲である。大きさ軸220は、フルスケール比であり、0から1の範囲である。グラフ200はまた、約20Hzを対称中心とする2つの信号230を含む。図2に示すように、グラフ200は、偶数次相互変調歪み信号240aと奇数次相互変調歪み信号240bとで構成される相互変調歪み信号240を含む。

0041

2つの信号230は、約20Hzを対称中心とし、約0.9の大きさを有するものとして示されている。2つの信号230は、例えば、図1を参照して叙述されたセンサーアセンブリ10にマルチトーン駆動信号を使用して供給されてもよい。より具体的には、マルチトーン駆動信号は、駆動機構180に供給される2つの信号230で構成されてもよい。

0042

相互変調歪み信号240は、リード線100上のセンサー信号内にあるかもしれず、メータ電子機器20またはセンサーアセンブリ10により引き起こされるかもしれない。例えば、相互変調歪み信号240は、マルチトーン駆動信号がメータ電子機器20内の増幅器に近いか、または飽和状態にあるために生成される可能性がある。相互変調歪み信号240は、センサーアセンブリ10内のピックオフセンサー170l、170rおよび駆動機構180または他のデバイスまたは構造などのアセンブリ10内の非線形性のためであり得る。相互変調歪み信号240の周波数は、2つの信号230の周波数間の差の倍数である。理解できるように、より多くの入力信号が追加されると、相互変調歪み信号の数が増加し、それにより、1つ以上の相互変調歪み信号が入力信号と同じ周波数を有するようになる可能性がある。

0043

図3は、相互変調歪みを示すグラフ300を示す。図3に示すように、グラフ300は、周波数軸310と大きさ軸320を含む。周波数軸310は、ヘルツ(Hz)単位であり、95Hzから105Hzの範囲である。大きさ軸320は、フルスケール比であり、0から1の範囲である。グラフ300は、「駆動トーン」としてラベル付けされ、マルチトーン駆動信号の共振成分であり得る第1の信号330を含む。第1の信号330は100Hzの周波数を有する。

0044

また、マルチトーン駆動信号の非共振成分(例えば、センサーアセンブリの共振周波数ではない)であり得るテストトーン340が示されている。テストトーン340は、第2から第5の信号340dで構成される。グラフ300は相互変調歪み信号350も含む。明確に記載する目的のために、可能な相互変調歪み信号のすべては示されていない。その代わりに、図3に示す相互変調歪み信号350は、第1の信号330と第3の信号340bから生成される。相互変調歪み信号350の1つは、第4の信号340cと同じ周波数を有する干渉信号350aである。テストトーン340は、振動計5のリード線185上に現れる駆動信号などの駆動信号に導入できる。したがって、リード線185上に現れる駆動信号は、第1の信号330と第2の信号から第5の信号340a−340dとを含むことができる。

0045

第2の信号から第5の信号340a−340dの大きさは、測定され且つセンサーアセンブリ10を特徴付けるために使用され得る。例えば、第2の信号から第5の信号340a−340dの1つに対応する出力の大きさ比は、その周波数のセンサーアセンブリ10の応答を特徴付けることができる。種々の周波数で4つのテストトーンを利用することにより、ある範囲の周波数にわたるセンサーアセンブリ10の周波数応答を近似できる。しかし、第4の信号340cと同じ周波数にある干渉信号350aは、テストトーン340の1つではなく、周波数応答の入力として測定されないため、センサーアセンブリ10の周波数応答は不正確であり、したがって、侵食、腐食、堆積などを正しく検出できない場合がある。

0046

干渉信号350aの周波数は、第1の信号330と第3の信号340bとの間の周波数間隔を変えることにより変えることができる。より具体的には、干渉信号350aの周波数は、第1の信号330と第3の信号340bとの周波数間の差の倍数であり得る。したがって、第3の信号340bの周波数を増加または減少させると、干渉信号350aの周波数が増加または減少するであろう。これは、干渉信号350aを第4の信号340cから遠ざけ、それにより、干渉信号350aがセンサーアセンブリ10の周波数応答を特徴付けることに含まれることを防止するであろう。

0047

しかし、単純に干渉信号350aを第4の信号340cから遠ざけるのみでは、干渉信号350aがセンサーアセンブリ10の周波数応答を特徴付けることに含まれることを防止するとは限らない。例えば、干渉信号350aの周波数が第4の信号340cの周波数と異なる場合でも、干渉信号350aは、なお復調ウィンドウ内にある可能性があり、したがって、センサーアセンブリからの応答信号に干渉成分を誘導する可能性がある。

0048

図4は、相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を示すグラフ400を示す。図4に示すように、グラフ400は、周波数軸410と大きさ軸420を含む。周波数軸410は、ヘルツ(Hz)単位であり、92Hzから108Hzの範囲である。大きさ軸420は、フルスケール比であり、0から1までの範囲である。グラフ400は、駆動トーンまたはセンサーアセンブリの共振周波数での共振信号であり得る第1の信号430を含む。また、マルチトーン駆動信号の非共振成分であるテストトーンであり得る第2の信号440および相互変調歪み信号450が示されている。図4には、第1の信号430に伴う第1の復調ウィンドウ460aと第2の信号440に伴う第2の復調ウィンドウ460bも示されている。

0049

第1および第2の復調ウィンドウ460a、460bは、第1および第2の信号430、440が通過することを可能にする第1および第2の信号430、440の周波数の周りの周波数範囲であってもよい。例えば、第1および第2の復調ウィンドウ460a、460bは、約1Hz幅であり得る。したがって、第1の信号430用の復調ウィンドウは、約99.5Hzから約100.5Hzの範囲であり得る。第2の信号440用の復調ウィンドウは、約101.5Hzから約102.5Hzの範囲であり得る。相互変調歪み信号450は、98Hzと104Hzの周波数にあり、これらは第1および第2の復調ウィンドウ460a、460b内にない。その結果、相互変調歪み信号450は、センサーアセンブリ10の周波数応答を決定することに含まれない。追加のテストトーンなどの追加の信号は、以下に記載のように周波数間隔が適切に選択される場合、復調ウィンドウ内にない可能性がある追加の相互変調歪み信号をもたらすであろう。

0050

図5は、相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を示すグラフ500を示す。図5に示すように、グラフ500は、周波数軸510と大きさ軸520を含む。周波数軸510は、ヘルツ(Hz)単位であり、92Hzから108Hzの範囲である。大きさ軸520は、フルスケール比であり、0から1の範囲である。グラフ500は、駆動トーンまたはセンサーアセンブリの共振周波数での信号であり得る第1の信号530を含む。また、第2の信号540a、第3の信号540b、第4の信号540cおよび第5の信号540dで構成され、マルチトーン駆動信号の非共振正弦波成分であり得るテストトーン540が示されている。グラフ500は相互変調歪み信号550も含む。第1の信号530に伴う復調ウィンドウ560とテストトーン540も示されている。復調ウィンドウ560は、第1から第5の信号530、540a−540dにそれぞれ伴う第1から第5の復調ウィンドウ560a−560eを含む。

0051

第1の信号530と第2から第5の信号540a−540dはリード線185上のマルチトーン駆動信号を含んでもよい。第1の信号530は、100Hzであるとして示されるセンサーアセンブリの共振周波数であってもよい。第2、第3、第4および第5の信号540a−540dは、それぞれ95Hz、97Hz、102Hzおよび103.5Hzであるように示されている。第2から第5の信号540a−540dは、周波数間隔を空けて、第1の信号530から、および互いにオフセットされている。周波数間隔は、図5に示すように、相互変調歪み信号550が第1から第4の復調ウィンドウ560b−560e内にないことを保証するように選択されてもよい。より具体的には、相互変調歪み信号550のすべての周波数は、第1の信号530と第2から第5の信号540a−540dの種々の周波数間隔について決定されてもよい。理解できるように、他の周波数間隔は、やはり復調ウィンドウ560内にない相互変調歪み信号550をもたらしてもよい。

0052

さらに、センサーアセンブリ10は、センサーアセンブリ10が軽く減衰する周波数範囲を有する可能性があり、これは、本明細書では、センサーアセンブリ10の周波数応答帯域幅と呼ぶ。より具体的には、センサーアセンブリ10は、センサーアセンブリ10の応答が駆動トーン周波数から急速に減少する駆動トーン周波数について非常に軽く減衰する可能性がある。周波数間隔が大きすぎる場合、第1の信号530は、周波数応答帯域幅内の中心にある可能性があり、1つ以上のテストトーン540は、周波数応答帯域幅の外側にある可能性がある。これにより、センサーアセンブリ10の周波数応答を特徴付けるのに不十分な信号対雑音比を有する成分を有するセンサー信号が得られる可能性がある。

0053

この信号対雑音比の問題を回避するために、テストトーン540の周波数は、センサーアセンブリ10の周波数応答帯域幅内にあるように、第1の信号530の周波数に近くてもよい。したがって、テストトーン540の図5の実施形態では、第2の信号540aと第5の信号540dであるテストトーン540の最低周波数最高周波数との間の周波数間隔を最小化することが望ましい場合がある。この最小化の実施例を、図6を参照して以下に記載する。

0054

図6は、相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を示すグラフ600を示す。

0055

図6に示すように、グラフ600は、周波数軸610と大きさ軸620を含む。周波数軸610は、ヘルツ(Hz)単位であり、92Hzから108Hzの範囲である。大きさ軸620は、フルスケール比であり、0から1の範囲である。グラフ600は、駆動トーンまたはセンサーアセンブリの共振周波数での信号であり得る第1の信号630を含む。また、第2の信号640a、第3の信号640b、第4の信号640cおよび第5の信号640dで構成されるテストトーン640が示されている。テストトーン640は非共振周波数の正弦波成分であってもよい。グラフ600は相互変調歪み信号650も含む。第1の信号630に伴う復調ウィンドウ660とテストトーン640も示されている。復調ウィンドウ660は、第1の信号630と第2の信号640aから第5の信号640dに伴う第1から第5の復調ウィンドウ660a−660eを含む。

0056

理解できるように、第2および第5の信号640a、640dは、図5を参照した上記の第2および第5の信号540a、540dよりも互いに近い。第2および第5の信号640a、640dはセンサーアセンブリの周波数応答帯域幅内にあってもよい。その結果、テストトーン640に対応するセンサー信号の信号は、許容可能な信号対雑音比を有し得る。さらに、相互変調歪み信号650のいくつかは復調ウィンドウ660b−660eに隣接する。より具体的には、相互変調歪み信号650のいくつかは復調ウィンドウ660b−660eの隣にあるが外側である。したがって、相互変調歪み信号650は、復調ウィンドウ660b−660eによって通過されないが、テストトーン640に対応するセンサー信号の成分が通過することは許容される。

0057

したがって、相互変調歪み信号650がテストトーン640に対応する信号と干渉することを防止することにより、センサーアセンブリ10の周波数応答の特徴付けをより正確にできる。周波数応答の特徴付けはまた、第2の信号640aと第5の信号640dとの間のより狭い周波数間隔から生ずる十分な信号対雑音比のため、より正確であり得る。周波数間隔を決定できる例示的な方法とシステムを以下により詳細に記載する。

0058

図7は、一実施形態による相互変調歪み信号干渉を防止するための周波数間隔を決定する本方法700を示す。図7に示すように、本方法700は、ステップ710で振動計のセンサーアセンブリに印加される第1の信号の周波数を決定する。ステップ720では、本方法700は、第1の信号の周波数の周りに復調ウィンドウを設定する。本方法700は、ステップ730で、第1の信号および第2の信号により生成された相互変調歪み信号の周波数が復調ウィンドウの外側にあるように、センサーアセンブリに印加される第2の信号の周波数を決定する。

0059

第1の信号の周波数は、ステップ710で、例えば、リード線100上に現れる左右のセンサー信号に基づいて信号を生成することにより決定されてもよい。すなわち、第1の信号は、センサーアセンブリ10に供給されたマルチトーン駆動信号の駆動トーンであってもよく、これは、次いで、駆動トーンの周波数を決定するフィードバックループに左右のセンサー信号を供給する。

0060

ステップ720では、例えば、第1の信号の周波数に関連付けられた上限値と下限値を決定することにより、復調ウィンドウを第1の信号の周波数の周りに設定できる。復調ウィンドウの上限値は、第1の信号の周波数に許容値を足すことにより設定でき、復調ウィンドウの下限値は、第1の信号の周波数から許容値を引くことにより設定できる。したがって、復調は第1の周波数について対称である。あるいは、上限値と下限値は、第1の周波数について対称でなくてもよく、したがって、異なる量だけ第1の周波数からオフセットされてもよい。

0061

ステップ730では、第2の信号の周波数は、例えば、第2の周波数をある値に繰り返し設定し、相互変調歪み信号の周波数を決定し、相互変調歪み信号が復調ウィンドウ内にあるかどうかを判断することにより決定できる。例えば、復調ウィンドウの上限または下限の周波数と第1の信号の周波数に基づいて相互変調歪み信号の周波数を決定するなど、他の方法を採用してもよい。

0062

一例では、第2の信号の周波数を決定する場合に、離散解空間を採用してもよい。第1の信号の復調ウィンドウは、すべてのテスト周波数を、第1の信号の周波数(例えば、駆動トーン周波数)および任意の他のテストトーン周波数からの少なくとも復調ウィンドウ幅dFにする。IM歪み信号は入力周波数間の間隔に基づいて表示されるため、特定の入力ペアによる相互変調歪み信号も、それらの周波数からの少なくともdFと表示される。したがって、解空間は、第1の信号の周波数を中心とした解像度dFの格子上のテストトーンに限定される。この単純化により、ブルートフォース最適化手順を追求することが実用的になる。例えば、センサーアセンブリの周波数応答帯域幅であり得る20dFの帯域幅内にすべて配置された4つのテストトーンの探索空間全体は、n−choose−kの問題である。2*20=40の潜在的な周波数から(駆動周波数を使用できないため)、4つの周波数が選択される。この選択を行う方法の数は、40!/(40−4)!4!=91390と評価される。

0063

本方法700は、第1の信号の種々の周波数について繰り返すことができる。例えば、第1の信号の周波数を決定するステップは、第1の信号の別の周波数を決定することを含んでもよい。これは、振動計のクラスに伴う周波数範囲内のある周波数であり得る。この搬送周波数に伴う第2の信号の周波数は、第2の信号を搬送周波数の第1の信号で変調することにより決定できる。ベースバンド周波数で設定された復調ウィンドウは、搬送周波数での復調ウィンドウと同じであってもよく、または同じでなくてもよい。このプロセスを以下の記載で示す。

0064

例えば、[−6 −4 5 7]の基本テストトーン周波数で第2から第5の信号で構成される基本テストトーンベクトルを取得できる。この基本テストトーン周波数のベクトルは、dFとして定義される種々の復調ウィンドウ幅を有し得る他の搬送周波数に変調できる。この例では、本方法700は、100Hzなどの70Hzから125Hzの範囲内にあるように第1の周波数を決定できる。本方法700は、ステップ720で、復調ウィンドウの幅(dF)が0.267Hzであることを決定できる。本方法700は、第2の信号の周波数が100Hzから1.6Hzを引いたものであると決定できる。復調ウィンドウ幅の幅は0.267Hzであるため、第2のトーンの周波数は、基本トーンベクトルのその要素にdF(この場合−1.6Hzに等しい−6*0.267Hz)を掛けることによって決定される。追加のテストトーンなどの追加の信号に対して同様のステップを実行できる。

0065

例えば、351Hzから600Hzの周波数範囲には、389.1Hzの第1の信号周波数または搬送周波数があってもよく、これは、メータアセンブリからのセンサー信号から決定できる。351Hzから600Hzの周波数範囲には1.3333Hzの幅の復調ウィンドウがあってもよい。したがって、基本テストトーンベクトルに1.3333Hzを掛けて[−8.000 −5.333 6.667 9.333]Hzのテストトーンベクトルに到達できる。第1の信号に対して搬送周波数が389.1Hzの場合、第2の信号の周波数は381.1Hzになり、これは389.1Hz−8.0Hzに等しくなる。

0066

上記のように、本方法700は、ステップ730で相互変調歪み信号が第1の信号の復調ウィンドウの外側にあることを検証できる。このステップは、基本トーンベクトルがすべての所望の搬送周波数について機能することを保証するために、種々の搬送周波数に対して実行できる。例えば、上記のように、基本テストトーンベクトルは、第2から第5の信号と、70Hzから125Hzの範囲のそれに伴う周波数に対して決定されてもよく、次いで、上記の種々の搬送周波数に変調された第2から第5の信号を使用することにより、他の搬送周波数で検証されてもよい。

0067

結果の表は次のとおり:

0068

したがって、周波数が389.10Hzの搬送波または駆動トーンの上記の実施例については、第2の信号は381.10Hz、第3の信号は383.77Hz、第4の信号は395.77Hz、第5の信号は398.43Hzである。

0069

本方法700は、第2の信号の周波数が第1の信号の周波数を含む帯域幅内にあるように第1の信号の周波数を含む帯域幅を決定し第2の信号の周波数を決定することをさらに含んでもよい。帯域幅は、第1および第2の信号が印加されるセンサーアセンブリの周波数応答帯域幅であってもよい。例えば、上記センサーアセンブリ10は、応答が実質的に共振するかまたは軽く減衰する周波数の比較的狭い範囲を有し得る。メータ検証を適切に実行するには、第2、第3または第4の信号がこの帯域幅内にある必要がある。

0070

図8は、センサーアセンブリ810とメータ検証モジュール820とで構成されるシステム800を示す。図8に示すように、センサーアセンブリ810は、メータ検証モジュール820に通信可能に結合される。メータ検証モジュール820は、センサーアセンブリ810に駆動信号を供給する駆動回路822を含む。センサーアセンブリ810は、メータ検証モジュール820に通信可能に結合され、メータ検証モジュール820にセンサー信号を供給する。復調フィルタ824は、センサーアセンブリ810からセンサー信号を受信し、復調ウィンドウ内または復調フィルタ824のウィンドウ内にある信号を通過させる。復調フィルタ824によって通過される信号は、FRF評価ユニットに供給される。ノッチフィルタ826も、センサー信号を受信し、これは、共振成分を駆動回路822と流量および密度測定モジュール827とへ通過させ、流量および密度測定モジュール827は、流体の流体特性を決定できる。

0071

センサーアセンブリ810は、図1を参照して上述されたセンサーアセンブリ10を表すモデルであってもよい。あるいは、センサーアセンブリ810は、駆動回路822から電気駆動信号を受信する実際のセンサーアセンブリであってもよい。いずれの場合も、センサーアセンブリ810は、メータ検証モジュール820からマルチトーン駆動信号を受信し、メータ検証モジュール820にセンサー信号を供給してセンサーアセンブリ810を特徴付ける。したがって、マルチトーン駆動信号は、センサーアセンブリ810の周波数応答に対する入力であり、センサー信号は、センサーアセンブリ810の周波数応答の出力である。入力と出力を比較することにより、センサーアセンブリ810の周波数応答を特徴付けることができる。さらに、分析解法は、例えば、センサーアセンブリ810の特徴付けに曲線適合させることにより定式化してもよい。

0072

駆動回路822は、共振成分の周波数を追跡し、センサーアセンブリ810に供給された駆動信号の駆動トーンの周波数を調整するフィードバック回路で構成されてもよい。駆動回路822は、駆動信号を生成または供給する信号発生器、増幅器なども含んでもよく、これらは、駆動トーンとテストトーンを含むマルチトーン駆動信号であり得る。上記のように、マルチトーン駆動信号の頂点駆動増幅器電力容量を超えると、相互変調歪み信号が生成される可能性がある。

0073

復調フィルタ824は、復調ウィンドウ内にある信号を通過させる。例えば、図6を参照すると、復調フィルタ824は、復調ウィンドウ660b−660e内にある信号を通過させる。なお図6を参照すると、相互変調歪み信号650は、復調ウィンドウ660b−660e内にないため、復調フィルタ824によって通過されない。その結果、メータ検証モジュール820は、第2から第5の信号640a−640dでセンサーアセンブリ810を正確に検証できる。

0074

相互変調歪み信号650は、メータ検証中にテストトーン640が使用される場合にのみ存在する可能性があるため、振動メータ5の生産動作中には復調フィルタ824とノッチフィルタ826は使用されない場合がある。より具体的には、動作中に、振動計5は、センサーアセンブリ810の共振周波数の周波数を有する正弦波信号で構成される単一成分信号のみを供給してもよい。

0075

本方法700により決定された復調フィルタ824を利用するメータ検証中に、図6に示すテストトーン640が駆動回路822により駆動信号に導入され得る。すなわち、メータ検証モジュール820を使用して、図1に示すセンサーアセンブリ10を検証してもよい。したがって、メータ検証中に、メータ検証モジュール820はマルチトーン駆動信号をセンサーアセンブリ10に供給する。さらに、メータ検証モジュール820は、供給されたセンサー信号を、復調フィルタ824とノッチフィルタ826を備えたセンサーアセンブリ10によりフィルタリングしてもよい。

0076

新たな有用な振動計5、本方法700およびシステム800ならびに他の実施形態は、メータ検証中の相互変調歪み信号干渉を防止できる。より具体的には、振動計5、本方法700およびシステム800を使用して、相互変調歪み信号650が、復調フィルタ824によって通過されるテストトーン640を破損または影響しないことを保証できる。したがって、振動計5のメータ検証は、例えば、センサーアセンブリ810に印加される第1の信号630の周波数を決定し、第1の信号630の周波数の周りに復調ウィンドウ660aを設定し、第1の信号630および第2の信号640aにより生成された相互変調歪み信号650の周波数が復調ウィンドウ660b−660eの外側になるように、センサーアセンブリ810に印加される第2の信号640aの周波数を決定することにより特に改善される。

0077

その結果、メータ検証は、侵食、腐食または他の状態がセンサーアセンブリ10に存在するかどうかを正しく判断できる。例えば、マルチトーン駆動信号のテストトーン640の周波数は、相互変調歪み信号650の周波数を変更する温度変化による復調ウィンドウ660a内で変化する可能性がある。テストトーン640が温度により変化する場合、相互変調歪み信号が復調ウィンドウ660b−660e内に決して入らないように、復調ウィンドウ660b−660dとテストトーン640の周波数を設定することにより、センサーアセンブリ10の周波数応答を正確に特徴付けることができる。

0078

上記の実施形態の詳細な説明は、本発明の範囲内にあると発明者により企図されたすべての実施形態の網羅的な説明ではない。実際、当業者は、上記の実施形態の特定の要素を種々組み合わせて、または排除してさらなる実施形態を作成することができ、このようなさらなる実施形態が本説明の範囲および教示内に入ることを認識するであろう。また、当業者には、上記実施形態を全体的または部分的に組み合わせて、本説明の範囲および教示内で追加の実施形態を作成できることも明らかであろう。

0079

したがって、本明細書では特定の実施形態を例示目的で説明しているが、当業者が認識するように、本説明の範囲内で種々の同等の修正が可能である。本明細書で提供される教示は、上記および添付の図面に示す実施形態だけでなく、相互変調歪み信号干渉を防止するために他の周波数間隔に適用できる。したがって、上記の実施形態の範囲は、添付の特許請求の範囲から決定されるべきである。

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