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図面 (11)

課題

導通検査ピンを接触させた際の端子の変形を防止できるコネクタ導通検査具を提供する。

解決手段

コネクタ導通検査具11は、コネクタハウジング27に設けられた端子収容室29に連通する端子開口部33に嵌合して蓋をする端子開口挿入部13と、端子開口挿入部13によって端子開口部33が蓋をされた端子収容室29に連通する検査ピン開口部39に挿入され、端子収容室29内の端子35と電気的に接続される導通検査ピン15と、を備える。

概要

背景

ワイヤハーネスコネクタ内に挿入係止された端子に対して、導通の有無を検知するコネクタ導通検査を実施することがある。コネクタ導通検査には、例えば特許文献1に開示されるコネクタ導通検査具が用いられる。

このコネクタ導通検査具は、コネクタを嵌合する第一のブロック内に、コネクタ内の端子に一端部を接触させる進退自在な導通検査ピンと、端子を係止するコネクタの可撓係止ランス(可撓係止片)の撓み空間内に一端部を進入可能な絶縁性挿入検査ピンとをオフセットして備える。第一のブロックと第二のブロックとの間に回路基板が挟まれて配置される。第二のブロック内に導電性可動ピンが端子方向に弾性付勢されて設けられる。回路基板に導通検査ピンと可動ピンとの間でオフセット方向回路導体が設けられる。
そして、導通検査ピンの他端部が第一のブロック内で弾性部材を介して回路導体の一端部に接触する。回路導体の他端部が可動ピンに接触する。回路導体の他端部に沿って挿入検査ピンの他端部が回路基板の挿通部を通過して可動ピンに当接する。可動ピンに外部から通電され、挿入検査ピンの一端部が可撓係止ランスに当接した際に、挿入検査ピンの他端部が可動ピンを回路導体に対して接触解除方向に押圧する。

概要

導通検査ピンを接触させた際の端子の変形を防止できるコネクタ導通検査具を提供する。コネクタ導通検査具11は、コネクタハウジング27に設けられた端子収容室29に連通する端子開口部33に嵌合して蓋をする端子開口挿入部13と、端子開口挿入部13によって端子開口部33が蓋をされた端子収容室29に連通する検査ピン開口部39に挿入され、端子収容室29内の端子35と電気的に接続される導通検査ピン15と、を備える。

目的

本発明は上記状況に鑑みてなされたもので、その目的は、導通検査ピンを接触させた際の端子の変形を防止できるコネクタ導通検査具を提供する

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

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請求項1

コネクタハウジングに設けられた端子収容室に連通する端子開口部に嵌合して蓋をする端子開口挿入部と、前記端子開口挿入部によって前記端子開口部が蓋をされた前記端子収容室に連通する検査ピン開口部に挿入され、前記端子収容室内端子電気的に接続される導通検査ピンと、を備えることを特徴とするコネクタ導通検査具

請求項2

前記端子開口挿入部が、前記端子開口部に形成されたテーパ穴に一致する先細テーパ部を有することを特徴とする請求項1に記載のコネクタ導通検査具。

請求項3

前記端子開口挿入部が突設された検査具本体には、前記導通検査ピンが進退自在に設けられ、前記導通検査ピンは、前記検査具本体から突出した前記端子開口挿入部の前記テーパ部における大径端ピン先端が一致させられた待機位置から進出可能に設けられていることを特徴とする請求項2に記載のコネクタ導通検査具。

技術分野

0001

本発明は、コネクタ導通検査具に関する。

背景技術

0002

ワイヤハーネスのコネクタ内に挿入係止された端子に対して、導通の有無を検知するコネクタ導通検査を実施することがある。コネクタ導通検査には、例えば特許文献1に開示されるコネクタ導通検査具が用いられる。

0003

このコネクタ導通検査具は、コネクタを嵌合する第一のブロック内に、コネクタ内の端子に一端部を接触させる進退自在な導通検査ピンと、端子を係止するコネクタの可撓係止ランス(可撓係止片)の撓み空間内に一端部を進入可能な絶縁性挿入検査ピンとをオフセットして備える。第一のブロックと第二のブロックとの間に回路基板が挟まれて配置される。第二のブロック内に導電性可動ピンが端子方向に弾性付勢されて設けられる。回路基板に導通検査ピンと可動ピンとの間でオフセット方向回路導体が設けられる。
そして、導通検査ピンの他端部が第一のブロック内で弾性部材を介して回路導体の一端部に接触する。回路導体の他端部が可動ピンに接触する。回路導体の他端部に沿って挿入検査ピンの他端部が回路基板の挿通部を通過して可動ピンに当接する。可動ピンに外部から通電され、挿入検査ピンの一端部が可撓係止ランスに当接した際に、挿入検査ピンの他端部が可動ピンを回路導体に対して接触解除方向に押圧する。

先行技術

0004

特開2001−159654号公報

発明が解決しようとする課題

0005

しかしながら、従来のコネクタ導通検査具は、コネクタハウジング内に収容された端子の端子バネ部に導通検査ピンを誤挿入できてしまい、その結果、端子バネ部を変形させてしまう虞があった。端子バネ部が変形した端子は、相手コネクタとの嵌合時、相手端子に端子バネ部が適正に接触しない場合があり、導通不良の原因となる虞がある。

0006

本発明は上記状況に鑑みてなされたもので、その目的は、導通検査ピンを接触させた際の端子の変形を防止できるコネクタ導通検査具を提供することにある。

課題を解決するための手段

0007

本発明に係る上記目的は、下記構成により達成される。
(1)コネクタハウジングに設けられた端子収容室に連通する端子開口部に嵌合して蓋をする端子開口挿入部と、前記端子開口挿入部によって前記端子開口部が蓋をされた前記端子収容室に連通する検査ピン開口部に挿入され、前記端子収容室内の端子と電気的に接続される導通検査ピンと、を備えることを特徴とするコネクタ導通検査具。

0008

上記(1)の構成のコネクタ導通検査具によれば、導通検査時には、端子開口挿入部と導通検査ピンとが、導通検査位置に移動してコネクタハウジングの嵌合先端壁部に接近する。コネクタハウジングの嵌合先端壁部に接近した端子開口挿入部と導通検査ピンとは、先ず、端子開口挿入部が、端子収容室に連通する端子開口部に嵌合する。端子開口挿入部により端子開口部が蓋をされた端子収容室は、端子開口部からの導通検査ピンや異物の進入ができなくなる。その後、導通検査ピンは、端子開口挿入部により端子開口部が蓋をされた端子収容室に連通する検査ピン開口部に挿入される。検査ピン開口部に挿入された導通検査ピンは、端子へ接触することにより、導通検査を行える。このため、端子開口部から導通検査ピンが誤って端子収容室に進入し、端子を変形させる可能性がなくなる。
また、端子開口挿入部が端子開口部に嵌合することで、コネクタ導通検査具とコネクタハウジングとを位置決めすることができる。コネクタ導通検査具において、端子開口挿入部と導通検査ピンとの相対位置は定まっている。また、コネクタハウジングにおいて、端子開口部と検査ピン開口部との相対位置も定まっている。従って、端子開口挿入部が端子開口部に嵌合されることにより、導通検査ピンを検査ピン開口部内の端子へ位置決めすることができる。
この端子開口挿入部を利用した導通検査ピンの位置決め作用により、コネクタ導通検査具には、コネクタハウジングの位置決め機構別途設ける必要がなくなる。このため、コネクタ導通検査具の構造を簡略化でき、コネクタ導通検査具を安価に製作できるようになる。

0009

(2) 前記端子開口挿入部が、前記端子開口部に形成されたテーパ穴に一致する先細テーパ部を有することを特徴とする上記(1)に記載のコネクタ導通検査具。

0010

上記(2)の構成のコネクタ導通検査具によれば、端子開口挿入部が有するテーパ部は、端子開口部に形成された狭窄形状のテーパ穴に一致する先細形状となる。先細形状は、導通検査ピン移動方向に垂直な断面が、導通検査ピン移動方向の前方に向かうに従って、徐々に相似形で小さくなる。なお、端子開口挿入部の断面形状は、円形でも多角形でもよい。端子開口挿入部のテーパ部は、例えばこの断面が四角形の場合、頂部が底面と平行な面で平坦となった四角錐台形状とすることができる。この場合、端子開口部も、入口が四角錐台形状の空間となったテーパ穴となる。このように、端子開口挿入部と端子開口部が同一のテーパ面で嵌合することにより、嵌合中心軸を一致させる調芯作用が得られる。これにより、導通検査ピンと端子とをより高精度に位置決めすることができる。

0011

(3) 前記端子開口挿入部が突設された検査具本体には、前記導通検査ピンが進退自在に設けられ、前記導通検査ピンは、前記検査具本体から突出した前記端子開口挿入部の前記テーパ部における大径端ピン先端が一致させられた待機位置から進出可能に設けられていることを特徴とする上記(2)に記載のコネクタ導通検査具。

0012

上記(3)の構成のコネクタ導通検査具によれば、端子開口挿入部と導通検査ピンとが、検査具本体に設けられる。導通検査ピンは、検査具本体に対して導通検査ピン移動方向に進退自在に設けられる。ここで、検査具本体は、端子開口挿入部が端子開口部に蓋をした後、導通検査ピンを遅延して進出させる機構を備えることができる。この導通検査ピンの遅延進出機構は、例えば周知のリンク機構を用いて実現することができる。この遅延進出機構において、導通検査ピンは、端子開口部に対する端子開口挿入部の嵌合が完了するまで、待機位置に待機している。この待機位置において、導通検査ピンは、ピン先端がテーパ部における大径端(断面が最大の端部)と一致する。即ち、導通検査ピンは、端子開口挿入部の未嵌合状態では、テーパ部の基端である大径端まで後退した位置で待機する。これにより、導通検査ピンは、端子開口挿入部が端子開口部に嵌合するより先に端子に接触することが確実に防止される。

発明の効果

0013

本発明に係るコネクタ導通検査具によれば、導通検査ピンを接触させた際の端子の変形を防止できる。

0014

以上、本発明について簡潔に説明した。更に、以下に説明される発明を実施するための形態(以下、「実施形態」という。)を添付の図面を参照して通読することにより、本発明の詳細は更に明確化されるであろう。

図面の簡単な説明

0015

本発明の一実施形態に係るコネクタ導通検査具の斜視図である。
コネクタ導通検査具により導通検査されるコネクタの斜視図である。
端子開口部に端子開口挿入部が嵌合される直前のコネクタ導通検査具とコネクタの斜視図である。
図2に示したコネクタの正面図である。
図4に示した端子開口部近傍の要部拡大正面図である。
図1に示したコネクタ導通検査具の正面図である。
図6におけるA−A断面図である。
端子開口挿入部と導通検査ピンとの位置関係及び導通検査ピンの先端と端子のピン当接部との位置関係を表した断面図である。
端子開口挿入部の嵌合完了直後の状態を表す動作説明図である。
導通検査ピンが進出した状態を表す動作説明図である。

実施例

0016

以下、本発明に係る実施形態を、図面を参照して説明する。
図1は本発明の一実施形態に係るコネクタ導通検査具11の斜視図である。
本実施形態に係るコネクタ導通検査具11は、検査具本体17に突設された端子開口挿入部13と、検査具本体17に進退自在に設けられた導通検査ピン15と、を主要な構成として有する。

0017

コネクタ導通検査具11は、図1に示すように、検査具本体17が、扁平な略直方体で形成される。検査具本体17は、横長の矩形面となる一つの面が、検査具先端面19となる。検査具先端面19には、端子開口挿入部13が突設される。また、検査具本体17の下面21(図6参照)には、導通検査ピン15を収容するピン収容部23が、端子開口挿入部13の突出方向と反対方向に延在して設けられている。ピン収容部23には、導通検査ピン15が端子開口挿入部13の突出方向に進退自在に設けられている。

0018

図2はコネクタ導通検査具11により導通検査されるコネクタ25の斜視図である。
コネクタ導通検査具11により導通検査が行われるコネクタ25は、図2に示すように、例えば雌コネクタとなる。このコネクタ25は、コネクタハウジング27に、複数の雌端子をそれぞれに収容する複数の端子収容室29(図8参照)が形成されている。本実施形態では、3つの端子収容室29が、コネクタハウジング27の横方向に並んで形成されている。

0019

それぞれの端子収容室29には、コネクタハウジング27の嵌合先端壁部31において、端子開口部33が連通している。この端子開口部33には、相手コネクタ(雄コネクタ)の雄端子が進入する。それぞれの端子収容室29は、コネクタハウジング27の後端に、端子装着口が開口している。端子装着口からは、端子35(図8参照)に接続された電線37が導出される。

0020

図3は端子開口部33に端子開口挿入部13が嵌合される直前のコネクタ導通検査具11とコネクタ25の斜視図である。
本実施形態のコネクタ導通検査具11は、図3に示したように、導通検査時には、端子開口挿入部13と導通検査ピン15とが、導通検査位置に移動してコネクタハウジング27の嵌合先端壁部31に接近させられる。そして、端子35が収容されたコネクタハウジング27の複数の端子収容室29にそれぞれ連通する端子開口部33に対し、端子開口挿入部13を挿入した状態で導通検査を行う。コネクタハウジング27の端子開口部33は、横長の矩形穴で形成されている。端子開口挿入部13が嵌合された端子開口部33は、蓋をされた状態となり、導通検査ピン15やその他の異物の進入が不能となる。

0021

図4図2に示したコネクタ25の正面図、図5図4示した端子開口部33近傍の要部拡大正面図である。
図4に示すように、コネクタハウジング27の嵌合先端壁部31における端子開口部33の下方には、検査ピン開口部39が開口している。端子収容室29に収容された端子35は、これら端子開口部33と検査ピン開口部39とを介して外部からの接触が可能となる。

0022

図5に示すように、検査ピン開口部39の奥には、端子収容室29に収容された端子35のピン当接部41(図8参照)が配置される。検査ピン開口部39は、端子開口部33よりも横方向の距離が小さい略正方形開口穴となって、端子開口部33の左右方向中央位置に形成されている。後述する導通検査ピン15のピン先端47が当接するピン当接部41は、端子先端で折り返された端子バネ部の折り返し部であり、比較的強度が高い部分である。

0023

図6図1に示したコネクタ導通検査具11の正面図、図7図6におけるA−A断面図である。
コネクタ導通検査具11の端子開口挿入部13は、コネクタハウジング27の端子開口部33に応じた形状で形成される。本実施形態では、図6及び図7に示すように、端子開口部33が横長の矩形状となる。このため、端子開口挿入部13も横長の矩形状に形成されて検査具先端面19から突出している。

0024

端子開口挿入部13には、テーパ部43が形成される。テーパ部43は、端子開口部33に形成されるテーパ穴45と同一のテーパ面を有して形成される。本実施形態において、テーパ部43は、端子開口部33に形成された狭窄形状のテーパ穴45に一致する先細のテーパ面を有している。検査具本体17の下面21に設けられたピン収容部23に収容された導通検査ピン15は、ピン先端47がテーパ部43の基端である大径端49と一致する図7に示す位置が、待機位置となる。検査具本体17に進退自在に設けられた導通検査ピン15は、待機位置から、端子開口挿入部13の突出方向に向かって進出する。

0025

検査具本体17は、導通検査装置(図示略)に着脱自在に装着される。即ち、コネクタ導通検査具11は、検査対象となるコネクタ25に対応した端子開口挿入部13や導通検査ピン15を備えた複数種類のものを製作することができる。これにより、導通検査装置は、異なる仕様のコネクタ25に対して、コネクタ導通検査具11のみを適宜交換して導通検査を行うことができる。

0026

図8は端子開口挿入部13と導通検査ピン15との位置関係及び導通検査ピン15の先端と端子35のピン当接部41との位置関係を表した断面図である。
導通検査ピン15は、図8に示すように、待機位置において、ピン先端47から端子開口挿入部13の先端までの距離Lが設定される。即ち、待機位置の導通検査ピン15は、ピン先端47が端子開口挿入部13の先端から距離Lだけ後退している。

0027

一方、コネクタ25のコネクタハウジング27は、端子開口部33が形成される嵌合先端壁部31の肉厚が厚みTで形成される。端子35は、この嵌合先端壁部31の背部に、ピン当接部41が配置される位置で端子収容室29に収容されている。

0028

ここで、端子開口挿入部13の先端から後退している導通検査ピン15のピン先端47の距離Lは、嵌合先端壁部31の厚みTよりも大きく設定されている(L>T)。コネクタ導通検査具11は、端子開口挿入部13の先端から後退している導通検査ピン15のピン先端47の距離Lが、嵌合先端壁部31の厚みTよりも大きく設定されることにより、端子開口挿入部13が端子開口部33に未嵌合の状態では、導通検査ピン15が端子35のピン当接部41に干渉しないように構成されている。

0029

次に、上記した構成の作用を説明する。
図9は端子開口挿入部13の嵌合完了直後の状態を表す動作説明図である。
本実施形態に係るコネクタ導通検査具11では、導通検査時には、端子開口挿入部13と導通検査ピン15とを備えた検査具本体17が、導通検査位置に向ってB方向に移動してコネクタハウジング27の嵌合先端壁部31に接近する。コネクタハウジング27の嵌合先端壁部31に接近した端子開口挿入部13と導通検査ピン15とは、先ず、図9に示すように、端子開口挿入部13が、端子収容室29に連通する端子開口部33に嵌合する。端子開口挿入部13により端子開口部33が蓋をされた端子収容室29は、端子開口部33からの導通検査ピン15や異物の進入ができなくなる。

0030

図10は導通検査ピン15が進出した状態を表す動作説明図である。
その後、図10に示すように、導通検査ピン15は、待機位置から導通検査ピン移動方向Cへ移動し、端子開口挿入部13により端子開口部33が蓋をされた端子収容室29に連通する検査ピン開口部39に挿入される。検査ピン開口部39に挿入された導通検査ピン15は、端子35のピン当接部41へ接触することにより、導通検査を行える。このため、端子開口部33から導通検査ピン15が誤って端子収容室29に進入し、端子35の端子バネ部を変形させる可能性がなくなる。

0031

また、端子開口挿入部13が端子開口部33に嵌合することで、コネクタ導通検査具11とコネクタ25とを位置決めすることができる。コネクタ導通検査具11において、端子開口挿入部13と導通検査ピン15との相対位置は定まっている。また、コネクタ25のコネクタハウジング27において、端子開口部33と検査ピン開口部39との相対位置も定まっている。従って、端子開口挿入部13が端子開口部33に嵌合されることにより、導通検査ピン15を検査ピン開口部39内における端子35のピン当接部41へ位置決めすることができる。

0032

この端子開口挿入部13を利用した導通検査ピン15の位置決め作用により、コネクタ導通検査具11には、コネクタハウジング27の位置決め機構を別途設ける必要がなくなる。このため、コネクタ導通検査具11の構造を簡略化でき、コネクタ導通検査具11を安価に製作できるようになる。

0033

また、本実施形態のコネクタ導通検査具11では、端子開口挿入部13が有するテーパ部43は、端子開口部33に形成された狭窄形状のテーパ穴45に一致する先細形状となる。先細形状は、導通検査ピン移動方向Cに垂直な断面が、導通検査ピン移動方向Cの前方に向かうに従って、徐々に相似形で小さくなる。端子開口挿入部13の断面形状は、円形でも多角形でもよい。端子開口挿入部13のテーパ部43は、例えばこの断面が四角形の場合、頂部が底面と平行な面で平坦となった四角錐台形状とすることができる。この場合、端子開口部33も、入口が四角錐台形状の空間となったテーパ穴45となる。このように、端子開口挿入部13と端子開口部33が同一のテーパ面で嵌合することにより、嵌合中心軸を一致させる調芯作用が得られる。これにより、導通検査ピン15と端子35のピン当接部41とをより高精度に位置決めすることができる。

0034

更に、本実施形態のコネクタ導通検査具11では、端子開口挿入部13と導通検査ピン15とが、検査具本体17に設けられている。導通検査ピン15は、検査具本体17に対して導通検査ピン移動方向Cに進退自在に設けられる。ここで、検査具本体17は、端子開口挿入部13が端子開口部33に蓋をした後、導通検査ピン15を遅延して進出させる機構を備えることができる。この導通検査ピン15の遅延進出機構は、例えば周知のリンク機構を用いて実現することができる。この遅延進出機構において、導通検査ピン15は、端子開口部33に対する端子開口挿入部13の嵌合が完了するまで、待機位置に待機している。この待機位置において、導通検査ピン15は、ピン先端47がテーパ部43における大径端49(断面が最大の端部)と一致する。即ち、導通検査ピン15は、端子開口挿入部13の未嵌合状態では、テーパ部43の基端である大径端49まで後退した位置で待機する。これにより、導通検査ピン15は、端子開口挿入部13が端子開口部33に勘合するより先に端子35のピン当接部41に接触することが確実に防止される。

0035

従って、本実施形態に係るコネクタ導通検査具11によれば、導通検査ピン15を接触させた際の端子35の変形を防止できる。

0036

尚、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数、配置箇所、等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。

0037

例えば上記実施形態の構成例では、検査具本体17に一つの端子開口挿入部13及び導通検査ピン15が設けられる例を説明したが、本発明の検査具本体には、コネクタの複数の端子開口部及び検査ピン開口部39に応じた複数の端子開口挿入部及び導通検査ピンが設けられてもよい。

0038

ここで、上述した本発明に係るコネクタ導通検査具の実施形態の特徴をそれぞれ以下[1]〜[3]に簡潔に纏めて列記する。
[1]コネクタハウジング(27)に設けられた端子収容室(29)に連通する端子開口部(33)に嵌合して蓋をする端子開口挿入部(13)と、
前記端子開口挿入部(13)によって前記端子開口部(33)が蓋をされた前記端子収容室(29)に連通する検査ピン開口部(39)に挿入され、前記端子収容室(29)内の端子(35)と電気的に接続される導通検査ピン(15)と、
を備えることを特徴とするコネクタ導通検査具(11)。
[2] 前記端子開口挿入部(13)が、前記端子開口部(33)に形成されたテーパ穴(45)に一致する先細のテーパ部(43)を有することを特徴とする上記[1]に記載のコネクタ導通検査具(11)。
[3] 前記端子開口挿入部(13)が突設された検査具本体(17)には、前記導通検査ピン(15)が進退自在に設けられ、
前記導通検査ピン(15)は、前記検査具本体(17)から突出した前記端子開口挿入部(13)の前記テーパ部(43)における大径端(49)にピン先端(47)が一致させられた待機位置から進出可能に設けられていることを特徴とする上記[2]に記載のコネクタ導通検査具(11)。

0039

11…コネクタ導通検査具
13…端子開口挿入部
15…導通検査ピン
17…検査具本体
27…コネクタハウジング
29…端子収容室
33…端子開口部
35…端子
39…検査ピン開口部
43…テーパ部
45…テーパ穴
47…ピン先端
49…大径端

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