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技術 自覚式検眼装置及び自覚式検眼プログラム

出願人 株式会社ニデック
発明者 滝井通浩立花献
出願日 2019年3月1日 (1年11ヶ月経過) 出願番号 2019-037304
公開日 2020年9月3日 (5ヶ月経過) 公開番号 2020-137915
状態 未査定
技術分野
  • -
主要キーワード ウェアラブルデバイス 矯正状態 瞳孔情報 矯正値 差分像 測定指標 経線方向 検査距離
関連する未来課題
重要な関連分野

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図面 (11)

課題

検眼測定結果を正確に得ることができる自覚式検眼装置を提供する。

解決手段

被検眼に向けて視標光束投影する投光光学系光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系を有し、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、被検眼の自覚測定中における第1前眼部画像を取得する前眼部画像取得手段と、第1前眼部画像に基づいて、被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する細目情報取得手段と、細目情報に関する情報を出力する出力手段と、を備える。

概要

背景

自覚式検眼装置として、被検者眼前光学部材(例えば、球面レンズ円柱レンズ、等)を配置し、この光学部材を介した視標呈示することによって、被検眼光学特性を測定するものが知られている(特許文献1参照)。

概要

被検眼の測定結果を正確に得ることができる自覚式検眼装置を提供する。 被検眼に向けて視標光束投影する投光光学系光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系を有し、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、被検眼の自覚測定中における第1前眼部画像を取得する前眼部画像取得手段と、第1前眼部画像に基づいて、被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する細目情報取得手段と、細目情報に関する情報を出力する出力手段と、を備える。

目的

本開示は、上記従来技術に鑑み、被検眼の測定結果を正確に得ることができる自覚式検眼装置を提供する

効果

実績

技術文献被引用数
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牽制数
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請求項1

検眼に向けて視標光束投影する投光光学系光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、前記被検眼の自覚測定中における第1前眼部画像を取得する前眼部画像取得手段と、前記第1前眼部画像に基づいて、前記被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する細目情報取得手段と、前記細目情報に関する情報を出力する出力手段と、を備えることを特徴とする自覚式検眼装置。

請求項2

請求項1の自覚式検眼装置において、前記前眼部画像取得手段は、前記被検眼が開瞼した状態の第2前眼部画像を基準画像として取得するとともに、前記自覚式測定中における前記第1前眼部画像を参照画像として取得し、前記細目情報取得手段は、前記基準画像と前記参照画像を比較することによって、前記細目情報を取得することを特徴とする自覚式検眼装置。

請求項3

請求項2の自覚式検眼装置において、前記細目情報取得手段は、前記基準画像及び前記参照画像から前記被検眼の瞳孔形状変化に関する瞳孔情報を取得し、前記瞳孔情報を比較することによって、前記細目情報を取得することを特徴とする自覚式検眼装置。

請求項4

請求項1〜3のいずれかの自覚式検眼装置において、前眼部画像取得手段は、所定の時間以上で連続的に前記第1前眼部画像を取得し、前記細目情報取得手段は、前記所定の時間以上で連続的に取得された前記第1前眼部画像に基づいて、前記細目情報を取得することを特徴とする自覚式検眼装置。

請求項5

請求項1〜4のいずれかの自覚式検眼装置において、前記前眼部画像取得手段により取得された前記第1前眼部画像に基づいて、前記被検眼が眼を細めた状態か否かを判定する判定手段を備え、前記細目情報取得手段は、前記細目情報として、前記判定手段の判定結果を取得することを特徴とする自覚式検眼装置。

請求項6

請求項1〜5のいずれかの自覚式検眼装置において、前記細目情報取得手段により取得された前記細目情報に基づいて、前記自覚式測定の測定結果適否を示す判定情報を取得する判定情報取得手段を備え、前記出力手段は、前記細目情報とともに、前記判定情報を出力することを特徴とする自覚式検眼装置。

請求項7

被検眼に向けて視標光束を投影する投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置にて用いる自覚式検眼プログラムであって、前記自覚式検眼装置のプロセッサに実行されることで、前記被検眼の自覚式測定中における前眼部画像を取得する前眼部画像取得ステップと、前記前眼部画像に基づいて、前記被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する細目情報取得ステップと、前記細目情報に関する情報を出力する出力ステップと、を前記自覚式検眼装置に実行させることを特徴とする自覚式検眼プログラム。

技術分野

0001

本開示は、被検眼光学特性自覚的に測定する自覚式検眼装置、及び、自覚式検眼装置にて用いる自覚検眼プログラムに関する。

背景技術

0002

自覚式検眼装置として、被検者眼前光学部材(例えば、球面レンズ円柱レンズ、等)を配置し、この光学部材を介した視標呈示することによって、被検眼の光学特性を測定するものが知られている(特許文献1参照)。

先行技術

0003

特開平5−176893号公報

発明が解決しようとする課題

0004

自覚式測定時において、被検者は、呈示された視標を観察する際に、眼を細めることがある。被検者が眼を細めた状態と眼を細めていない状態では、視標の見え方が変化してしまうため、検者は被検眼の測定結果を正確に得られない場合があった。

0005

本開示は、上記従来技術に鑑み、被検眼の測定結果を正確に得ることができる自覚式検眼装置を提供することを技術課題とする。

課題を解決するための手段

0006

上記課題を解決するために、本開示は、以下のような構成を備えることを特徴とする。

0007

(1)本開示の第1態様に係る自覚式検眼装置は、被検眼に向けて視標光束投影する投光光学系光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、前記被検眼の自覚式測定中における第1前眼部画像を取得する前眼部画像取得手段と、前記第1前眼部画像に基づいて、前記被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する細目情報取得手段と、前記細目情報に関する情報を出力する出力手段と、を備えることを特徴とする。

0008

(2)本開示の第2態様に係る自覚式検眼プログラムは、被検眼に向けて視標光束を投影する投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置にて用いる自覚式検眼プログラムであって、前記自覚式検眼装置のプロセッサに実行されることで、前記被検眼の自覚式測定中における前眼部画像を取得する前眼部画像取得ステップと、前記前眼部画像に基づいて、前記被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する細目情報取得ステップと、前記細目情報に関する情報を出力する出力ステップと、を前記自覚式検眼装置に実行させることを特徴とする。

図面の簡単な説明

0009

検眼装置外観図である。
測定部を示す図である。
検眼装置の内部を正面方向から見た概略構成図である。
検眼装置の内部を側面方向から見た概略構成図である。
検眼装置の内部を上面方向から見た概略構成図である。
検眼装置の制御系を示す図である。
基準画像の一例である。
参照画像の一例である。
被検眼の細目状態とまばたき状態の時間経過にともなう参照画像の変化を示す図である。
被検眼の矯正度数と細目情報の変化を表すグラフの一例である。

実施例

0010

概要
本開示の実施形態に係る自覚式検眼装置(以下、検眼装置と省略する)の概要について説明する。以下の<>にて分類された項目は、独立または関連して利用されうる。

0011

本実施形態における検眼装置は、被検眼の光学特性を自覚的に測定する。被検眼の光学特性は、被検眼の眼屈折度(例えば、被検眼の球面度数円柱度数乱視軸角度、等)、コントラスト感度両眼視機能(例えば、斜位量立体視機能、等)、等の少なくともいずれかであってもよい。

0012

また、本実施形態における検眼装置は、被検眼の自覚式測定中に、被検眼が眼を細めた状態(細目状態)か否かを示す細目情報を取得する。被検眼は、開瞼した状態(言い換えると、自然に眼を開いた自然視の状態)で視標を観察するが、まばたきをした状態(まばたき状態)、眼を細めた状態(細目状態)、眼を見開いた状態(見開き状態)、等になることがある。例えば、まばたき状態は、被検眼の開瞼状態を基準に、瞼が閉じて開き、瞳孔が瞬間的に認識できなくなる状態である。例えば、細目状態は、被検眼の開瞼状態を基準に、瞼の位置は下がるが閉じはせず、瞳孔を持続して認識できる状態である。例えば、見開き状態は、被検眼の開瞼状態を基準に、瞼の位置が上がり、瞳孔を持続して認識できる状態である。本実施形態では、被検眼のまばたきと区別して、被検眼の細目情報が取得されてもよい。

0013

<投光光学系>
検眼装置は、投光光学系(例えば、投光光学系30)を備えてもよい。投光光学系は、被検眼に向けて視標光束を投影する。投光光学系は、被検眼に向けて視標光束を投影するための視標呈示手段を有してもよい。例えば、視標呈示手段には、ディスプレイ(例えば、ディスプレイ31)を用いてもよい。ディスプレイは、LCOS(Liquid crystal on silicon)、LCD(Liquid Crystal Display)、有機EL(Electro Luminescence)等であってもよい。また、例えば、視標呈示手段には、光源DMD(Digital Micromirror Device)、視標呈示用の可視光源と視標板、等を用いてもよい。投光光学系は、被検眼に視標呈示手段から出射した視標光束を導光する少なくとも1つの光学部材を有してもよい。

0014

なお、本実施形態において、検眼装置は必ずしも投光光学系を備えなくてもよく、検眼装置とは別に、投光光学系を備える装置を設ける構成としてもよい。すなわち、検眼装置は少なくとも後述の矯正光学系を備える構成であってもよい。

0015

<矯正光学系>
検眼装置は、矯正光学系(例えば、投光光学系30、矯正光学系60)を備える。矯正光学系は、投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化させる。視標光束の光学特性は、視標光束の球面度数、円柱度数、乱視軸角度、等の少なくともいずれかであってもよい。

0016

矯正光学系は、視標光束の光学特性を変更可能な構成であればよい。例えば、矯正光学系は、光学素子を制御することで、視標光束の光学特性を変更可能としてもよい。光学素子は、球面レンズ、円柱レンズ、クロスシリンダレンズロータリプリズム波面変調素子可変焦点レンズ、等の少なくともいずれかであってもよい。もちろん、これらの光学素子とは異なる光学素子であってもよい。

0017

また、例えば、矯正光学系は、被検眼に対する視標の呈示位置呈示距離)を光学的に変更することで、被検眼の球面度数を矯正してもよい。この場合、視標の呈示位置を光学的に変更するために、視標呈示手段を光軸方向に移動させる構成としてもよい。また、この場合、視標の呈示位置を光学的に変更するために、光路中に配置された光学素子(例えば、球面レンズ等)を光軸方向に移動させる構成としてもよい。

0018

なお、矯正光学系は、光学素子を制御する構成と、視標呈示手段を光軸方向に移動させる構成と、光路中に配置された光学素子を光軸方向に移動させる構成と、を組み合わせた構成であってもよい。

0019

本実施形態において、矯正光学系は、被検眼の眼前に光学素子を配置する眼屈折力測定ユニットフォロプタ)であってもよい。例えば、眼屈折力測定ユニットは、可変焦点レンズを有し、可変焦点レンズの屈折力を変化させる構成であってもよい。また、例えば、眼屈折力測定ユニットは、複数の光学素子が同一円周上に配置されたレンズディスクと、レンズディスクを回転させるための駆動手段(例えば、モータ)と、を有し、駆動手段の駆動によって、光学素子を電気的に切り換える構成であってもよい。もちろん、眼屈折力測定ユニットは、可変焦点レンズと、レンズディスク及び駆動手段と、を有する構成であってもよい。これらの構成を備える場合、被検眼に向けた視標光束は、眼屈折力測定ユニットを介して投影される。

0020

また、本実施形態において、矯正光学系は、投光光学系が備える視標呈示手段と、被検眼に視標呈示手段から出射した視標光束を導光するための光学部材と、の間に光学素子を配置して、光学素子を制御することで、視標光束の光学特性を変更する構成であってもよい。すなわち、矯正光学系は、ファントムレンズ屈折計(ファントム矯正光学系)の構成であってもよい。この場合、矯正光学系によって矯正された視標光束が、光学部材を介して被検眼に導光される。

0021

<前眼部画像取得手段>
検眼装置は、前眼部画像取得手段(例えば、制御部70)を備える。前眼部画像取得手段は、被検眼の前眼部画像を取得する。前眼部画像取得手段は、被検眼の自覚式測定中における前眼部画像(第1前眼部画像)を取得してもよい。なお、前眼部画像は、左被検眼の前眼部画像あるいは右被検眼の前眼部画像のいずれかでもよい。また、前眼部画像は、左被検眼及び右被検眼の前眼部画像でもよい。

0022

検眼装置は、検眼装置とは別に、被検眼の前眼部を撮像するための装置を備えてもよい。この場合、前眼部画像取得手段は、被検眼の前眼部を撮像するための装置が撮像した前眼部画像を受信することによって、前眼部画像を取得してもよい。一例として、被検眼の前眼部を撮像するための装置は、ウェアラブルデバイス(例えば、眼鏡ウェアラブル端末ヘッドマウントディスプレイ、等)であってもよい。

0023

検眼装置は、前眼部撮像手段(例えば、前眼部撮像光学系100)を備えてもよい。前眼部撮像手段は、被検眼の自覚式測定中における前眼部画像を撮像する。この場合、前眼部画像取得手段は、前眼部撮像手段によって撮像された前眼部画像を取得してもよい。

0024

本実施形態において、前眼部画像取得手段は、被検眼が開瞼した状態の前眼部画像(第2前眼部画像)を、基準画像として取得する。被検眼が開瞼した状態の前眼部画像とは、被検眼が自然に眼を開いた自然視の状態の前眼部画像である。言い換えると、被検眼が通常ものを見ている状態の前眼部画像である。例えば、被検眼が開瞼状態でも眼が細い場合等、被検眼によって基準となる状態は都度異なるため、基準画像を取得することで、後述の細目情報を精度よく得ることができる。

0025

このような基準画像は、被検眼に対して自覚式測定を実施するよりも先に取得する構成であってもよい。例えば、基準画像とする前眼部画像を事前に受信することで取得しておいてもよい。また、例えば、被検眼の前眼部を、自覚式測定以前に実施する動作の所定のタイミングで撮像することで、基準画像を取得してもよい。一例として、被検眼と検眼装置のアライメント(位置合わせ)を開始または終了するタイミング、被検眼に対する他覚式測定を開始または終了するタイミング、であってもよい。

0026

また、このような基準画像は、被検眼に対する自覚式測定の実施中に取得する構成であってもよい。例えば、被検眼の前眼部を、自覚式測定における所定のタイミングで撮像することで、基準画像を取得してもよい。一例として、自覚式測定を開始または終了するタイミング、等であってもよい。

0027

また、このような基準画像は、被検眼に対して自覚式測定を実施した後に取得する構成であってもよい。例えば、基準画像とする前眼部画像を事後に受信することで取得してもよい。また、例えば、自覚式測定中に取得された前眼部画像(すなわち、後述する参照画像)における適切な前眼部画像を、基準画像として取得してもよい。

0028

本実施形態において、前眼部画像取得手段は、自覚式測定中における前眼部画像を、参照画像として取得する。自覚式測定中における前眼部画像は、被検眼が開瞼した状態の前眼部画像、被検眼が眼を細めた状態の前眼部画像、被検眼がまばたきした状態の前眼部画像、等を含んでいてもよい。

0029

前眼部画像取得手段は、被検眼の参照画像を、所定の時間以上で連続的に取得してもよい。例えば、前眼部画像手段は、被検眼の参照画像を、自覚式測定を開始してから終了するまでの間、連続的に取得してもよい。また、例えば、前眼部画像取得手段は、被検眼の参照画像を、自覚式測定中の特定のタイミングにて、連続的に取得してもよい。一例としては、被検眼の矯正度数を変更したタイミング、等でもよい。なお、所定の時間とは、被検眼の細目状態とまばたき状態を区別することができる時間であればよい。

0030

<細目情報取得手段>
検眼装置は、細目情報取得手段(例えば、制御部70)を備える。細目情報取得手段は、被検眼の前眼部画像に基づいて、被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する。細目情報は、被検眼が眼を細めた状態を示す情報、被検眼が眼を細めていない状態を示す情報(例えば、開瞼状態、まばたき状態、見開き状態、等)の少なくともいずれかであってもよい。

0031

細目情報は、被検眼が眼を細めた状態か否かを示すことができる情報であればよい。例えば、細目情報は、前眼部画像取得手段による取得結果(すなわち、被検眼の前眼部画像)であってもよい。この場合、細目情報取得手段は、細目情報として、基準画像と参照画像をともに取得してもよい。また、例えば、細目情報は、被検眼の前眼部画像に基づいて取得される細目の程度等であってもよい。この場合、細目の程度は数値的に表されてもよい。一例として、被検眼の開瞼状態を基準とした眼の開き具合を、比率等の数値で表してもよい。また、この場合、細目の程度は、細目の程度を評価するための評価指標で表されてもよい。一例として、評価指標が所定の閾値以上であれば細目であることを表す評価指標を付け、評価指標が所定の閾値未満であれば細目でないことを表す評価指標を付けてもよい。なお、評価指標に対する閾値は、いくつ設定されてもよい。

0032

本実施形態において、細目情報取得手段は、被検眼の基準画像と参照画像を比較することによって、細目情報を取得する。なお、被検眼の基準画像と参照画像の比較では、被検眼の開瞼の基準に対する開瞼の変化が比較されればよく、これによって、細目情報が、被検眼の細目状態、見開き状態、等を示す情報として取得されてもよい。例えば、被検眼の開瞼状態と、細目状態あるいは見開き状態と、をこのような比較から容易に区別することができる。

0033

被検眼の基準画像と参照画像は、解析処理により比較されてもよい。例えば、基準画像及び参照画像における輝度立ち上がり立ち下がりによるエッジの検出により比較されてもよい。また、例えば、基準画像及び参照画像における輝度の差分処理(例えば、減算、除算、等)により比較されてもよい。なお、輝度値に限定されず、彩度色相、等による比較でもよい。

0034

被検眼の基準画像と参照画像の比較には、被検眼が眼を細めた状態か否かを検出できる特徴部分の情報が用いられてもよい。一例としては、被検眼の輪郭、被検眼の睫毛の位置、被検眼の虹彩情報(例えば、虹彩の形状、虹彩の面積、等)、被検眼の瞳孔情報(例えば、瞳孔の形状、瞳孔の面積、等)、等が挙げられる。

0035

本実施形態では、細目情報取得手段が、基準画像及び参照画像から被検眼の瞳孔の形状変化に関する瞳孔情報を取得し、瞳孔情報を比較することによって、細目情報を取得する。例えば、被検眼の前眼部画像が赤外線カメラ等により撮像された画像である場合、被検眼の輪郭、睫毛、虹彩、等に比べて、瞳孔はコントラストが強く観察されるため、瞳孔情報を用いることで、基準画像と参照画像はより比較しやすくなる。

0036

本実施形態においては、検眼装置が、判定手段(例えば、制御部70)を備えていてもよい。判定手段は、前眼部画像取得手段により取得された第1前眼部画像に基づいて、被検眼が眼を細めた状態か否かを判定する。例えば、判定手段は、基準画像に対して参照画像が一致するか否かを判定してもよい。一例としては、被検眼の瞳孔情報が一致するか否か等を判定してもよい。より詳細には、被検眼の瞳孔形状円形状であるか否か、等を判定してもよい。このような場合、細目情報取得手段は、判定手段による判定結果を、被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報として取得してもよい。細目情報取得手段は、判定手段による判定結果を用いることで、被検眼の細目情報を容易に取得できる。

0037

細目情報取得手段は、前眼部画像取得手段によって所定の時間以上で連続的に取得された参照画像(第1前眼部画像)に基づいて、被検眼の細目情報を取得してもよい。例えば、細目情報取得手段は、前眼部画像取得手段によって所定の時間以上で連続的に取得された参照画像の変化に基づいて、被検眼の細目情報を取得してもよい。一例として、細目情報取得手段は、前眼部画像取得手段によって所定の時間以上で連続的に取得された参照画像における瞳孔情報の変化に基づいて、被検眼の細目情報を取得してもよい。

0038

例えば、被検眼の細目状態は経過時間に対して継続されることが多いが、まばたき状態は経過時間に対して一瞬で終了するため、これらの経過時間の違いを所定の時間以上で連続的に取得された参照画像から検出することで、後述の細目情報を適切に取得することができる。

0039

判定情報取得手段>
検眼装置は、判定情報取得手段(例えば、制御部70)を備える。判定情報取得手段は、細目情報取得手段により取得された被検眼の細目情報に基づいて、被検眼に対する自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を取得する。判定情報は、被検眼に対する自覚式測定の測定結果が適切であることを示す情報、被検眼に対する自覚式測定の測定結果が不適切であることを示す情報、の少なくともいずれかであってもよい。

0040

判定情報は、自覚式測定の測定結果が適切か否かを示すことができる情報であればよい。例えば、判定情報は、被検眼の細目情報に基づいて、自覚式測定の測定結果が適切であるか否かを、測定結果の適否を評価するための評価指標で示した情報であってもよい。例えば、評価指標は、被検眼の細目情報に基づく判定結果を、所定の基準に基づいて分類した評価記号(例えば、A評価、B評価、…、n評価、等)として示すものであってもよい。なお、所定の基準はいくつ設定されてもよい。また、例えば、評価指標は、被検眼の細目情報に基づく判定結果を、自覚式測定の測定結果の信頼度として示すものであってもよい。信頼度は、予め実験シミュレーション等から設定されたテーブルや演算式を用いることで求められてもよい。

0041

本実施形態においては、判定情報取得手段が、所定の時間以上で連続的に取得された参照画像に対する各々の細目情報に基づいて、被検眼に対する自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を取得する。例えば、判定情報取得手段は、連続的に取得された参照画像から、連続した所定の時間以上(所定の枚数以上)で細目であることを示す細目情報が得られた場合に、自覚式測定の測定結果を不適切とする判定情報を取得してもよい。また、例えば、判定情報取得手段は、連続的に取得された参照画像から、所定の回数以上で細目であることを示す細目情報が得られた場合に、自覚式測定の測定結果を不適切とする判定情報を取得してもよい。

0042

判定情報取得手段は、このような判定情報を、自覚式測定の全体の測定結果が適切か不適切かを示す情報として取得してもよい。また、判定情報取得手段は、このような判定情報を、自覚式測定の一部の測定結果が適切か不適切かを示す情報として取得してもよい。一例として、被検眼の矯正状態毎に、自覚式測定の測定結果が適切か不適切かを示す判定情報を取得してもよい。

0043

<出力手段>
検眼装置は、出力手段(例えば、制御部70)を備える。出力手段は、被検眼の細目情報に関する情報を出力する。本実施形態において、出力手段は、細目情報に関する情報として、被検眼が眼を細めた状態を示す細目情報に関する情報のみを出力してもよい。また、本実施形態において、出力手段は、細目情報に関する情報として、被検眼が眼を細めた状態を示す細目情報に関する情報と、被検眼が眼を細めていない状態を示す細目情報に関する情報と、を出力してもよい。

0044

出力手段は、細目情報に関する情報を、表示手段(例えば、モニタ4)への表示による出力、音声ガイドの発生による出力、メモリサーバ等への保存による出力、プリンタ等への印刷による出力、等の少なくともいずれかによって出力してもよい。細目情報に関する情報が出力されることで、検者は被検眼が自覚式測定においてどのような状態で視標を観察しているかを把握することができる。また、検者は適切な指示や動作を行いやすく、被検眼の測定結果をより正確に得ることができる。

0045

本実施形態において、出力手段は、細目情報に関する情報として、細目情報そのものを出力してもよい。例えば、細目情報が前眼部画像取得手段による取得結果であった場合、出力手段は基準画像と参照画像をともに出力してもよい。また、例えば、細目情報が細目の程度等であった場合、出力手段は細目の程度を表す数値や評価指標を出力してもよい。これによって、検者は、細目情報から、被検眼が細目状態であるか否かを容易に判断できる。

0046

また、本実施形態において、出力手段は、細目情報に関する情報として、細目情報に基づいた情報を出力してもよい。例えば、細目情報に基づいた検者を誘導するための誘導情報を出力してもよい。一例として、誘導情報は、検者の次の動作を示す情報、被検者への指示内容を示す情報、等でもよい。これによって、検者は、細目情報に基づく情報から、適切な指示や動作を容易に行うことができる。

0047

なお、本実施形態において、判定情報取得手段により自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報が取得される場合、出力手段は、被検眼の細目情報に関する情報とともに、判定情報を出力してもよい。この場合、出力手段は、判定情報取得手段により取得された判定情報を、前述の評価記号、信頼度、等として出力してもよい。また、この場合、出力手段は、判定情報取得手段により取得された判定情報を、前述の評価記号、信頼度、等に基づいて色分けしたグラフ等として出力してもよい。これによって、検者は、被検眼に対する自覚式測定が適切であるかを容易に判断することができるようになる。

0048

なお、本開示は、本実施形態に記載する装置に限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェアプログラム)を、ネットワークまたは各種記憶媒体等を介してシステムあるいは装置に供給し、システムあるいは装置の制御装置(例えば、CPU等)がプログラムを読み出して実行することも可能である。

0049

<実施例>
以下、典型的な実施形態の1つである実施例について説明する。

0050

図1は、検眼装置1の外観図である。例えば、検眼装置1は、筐体2、呈示窓3、モニタ4、顎台5、基台6、前眼部撮像光学系100、等を備える。筐体2は、基台6に固定される。筐体2の内部には、後述する測定部7が設けられる。呈示窓3は、被検者の眼(被検眼E)に視標を呈示するために用いる。モニタ4は、被検眼Eの光学特性の測定結果等を表示する。モニタ4は、タッチパネル機能をもつディスプレイである。すなわち、モニタ4が操作部(コントローラ)として機能する。なお、モニタ4はタッチパネル式でなくてもよく、モニタ4と操作部とを別に設ける構成であってもよい。この場合には、マウスジョイスティックキーボード携帯端末、等の少なくともいずれかを操作部として用いてもよい。モニタ4から入力された操作指示に応じた信号は、後述する制御部70に出力される。顎台5は、基台6に固定される。顎台5は、被検眼Eと検眼装置1との距離を一定に保つために用いる。なお、顎台5に限定されず、額当て、顔当て、等を用いて、被検眼Eと検眼装置1との距離を一定に保つ構成としてもよい。

0051

前眼部撮像光学系100は、被検者の前眼部を撮像するために用いる。前眼部撮像光学系100は、図示なき撮像素子とレンズで構成される。前眼部撮像光学系100は、被検眼Eの左被検眼EL及び右被検眼ERの少なくとも一方を撮像して、その前眼部画像を取得する。前眼部撮像光学系100による前眼部の撮像は、後述する制御部70に制御される。また、前眼部撮像光学系100により取得された前眼部画像は、後述する制御部70に解析される。

0052

<測定部>
測定部7からの視標光束は、呈示窓3を介して被検眼Eに導光される。測定部7は、左眼用測定部7Lと右眼用測定部7Rを備える。測定部7は、左右一対の後述する自覚式測定部と、左右一対の後述する他覚式測定部と、を有する。本実施例における左眼用測定部7Lと右眼用測定部7Rは、同一の部材で構成される。もちろん、左眼用測定部7Lと右眼用測定部7Rは、その少なくとも一部が異なる部材で構成されてもよい。

0053

図2は、測定部7を示す図である。図2では、測定部7として、左眼用測定部7Lを例に挙げる。右眼用測定部7Rは、左眼用測定部7Lと同様の構成であるため省略する。例えば、左眼用測定部7Lは、自覚式測定光学系25、他覚式測定光学系10、第1指標投影光学系45、第2指標投影光学系46、観察光学系50、等を備える。

0054

<自覚式測定光学系>
自覚式測定光学系25は、被検眼Eの光学特性を自覚的に測定する自覚式測定部の構成の一部として用いられる(詳細は後述する)。本実施例では、被検眼Eの光学特性として、被検眼Eの眼屈折力を測定する自覚式測定部を例に挙げる。なお、被検眼Eの光学特性は、眼屈折力の他、コントラスト感度、両眼視機能(例えば、斜位量、立体視機能、等)、等であってもよい。例えば、自覚式測定光学系25は、投光光学系(視標投光系)30、矯正光学系60、及び、補正光学系90、で構成される。

0055

<投光光学系>
投光光学系30は、被検眼Eに向けて視標光束を投影する。例えば、投光光学系30は、ディスプレイ31、投光レンズ33、投光レンズ34、反射ミラー36、ダイクロイックミラー35、ダイクロイックミラー29、対物レンズ14、等を備える。

0056

ディスプレイ31には、視標(固視標、検査視標、等)が表示される。ディスプレイ31から出射した視標光束は、投光レンズ33、投光レンズ34、反射ミラー36、ダイクロイックミラー35、ダイクロイックミラー29、対物レンズ14、の順に光学部材を経由して、被検眼Eに投影される。

0057

<矯正光学系>
矯正光学系60は、投光光学系30の光路中に配置される。また、矯正光学系60は、ディスプレイ31から出射した視標光束の光学特性を変化させる。例えば、矯正光学系60は、乱視矯正光学系63、駆動機構39、等を備える。

0058

乱視矯正光学系63は、被検眼Eの円柱度数や乱視軸角度を矯正するために用いる。乱視矯正光学系63は、投光レンズ33と投光レンズ34の間に配置される。乱視矯正光学系63は、焦点距離の等しい、2枚の正の円柱レンズ61aと円柱レンズ61bで構成される。円柱レンズ61aと円柱レンズ61bは、回転機構62aと回転機構62bの駆動によって、光軸L2を中心として、各々が独立に回転する。なお、本実施例では、乱視矯正光学系63として、円柱レンズ61aと円柱レンズ61bを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。乱視矯正光学系63は、円柱度数、乱視軸角度、等を矯正できる構成であればよい。一例としては、投光光学系30の光路矯正レンズ出し入れしてもよい。

0059

駆動機構39は、モータ及びスライド機構からなる。駆動機構39は、後述する駆動ユニット95を光軸L2方向に移動させることで、ディスプレイ31を光軸L2方向に移動させる。他覚式測定では、ディスプレイ31を移動させることで、被検眼Eに雲霧をかけることができる。自覚式測定では、ディスプレイ31を移動させることで、被検眼Eに対する視標の呈示位置(呈示距離)を光学的に変更し、被検眼Eの球面度数を矯正することができる。すなわち、本実施例では、ディスプレイ31の位置を変更することで、被検眼Eの球面度数を矯正する球面矯正光学系が構成されている。なお、球面矯正光学系の構成は、本実施例とは異なっていてもよい。例えば、多数の光学素子を光路中に配置することで、球面度数を矯正してもよい。また、例えば、レンズを光路中に配置し、レンズを光軸方向に移動させることで、球面度数を矯正してもよい。

0060

なお、本実施例では、球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度を矯正する矯正光学系が例示されている。しかし、矯正光学系は、他の光学特性(例えば、プリズム値、等)を矯正してもよい。プリズム値が矯正されることで、被検眼が斜位眼であっても、被検眼に視標光束が適切に投影される。

0061

また、本実施例では、円柱度数及び乱視軸角度を矯正する乱視矯正光学系63と、球面度数を矯正する駆動機構39が別で設けられている。しかし、球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度が同一の構成によって矯正されてもよい。例えば、波面を変調させる光学系によって、球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度が矯正されてもよい。また、複数の光学素子(例えば、球面レンズ、円柱レンズ、および分散プリズム等の少なくともいずれか)が同一円周上に配置されたレンズディスクと、レンズディスクを回転させるアクチュエータが、矯正光学系として用いられてもよい。この場合、レンズディスクが回転されて、光軸L2上に位置する光学素子が切り替えられることで、種々の光学特性が矯正される。また、光軸L2上に配置された光学素子(例えば、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、およびロータリプリズム等の少なくともいずれか)が、アクチュエータによって回転されてもよい。

0062

<補正光学系>
補正光学系90は、対物レンズ14と偏向ミラー81(後述)の間に配置される。補正光学系90は、自覚式測定で生じる光学収差(例えば、非点収差、等)を補正するために用いる。補正光学系90は、円柱度数と乱視軸角度を調整することで、非点収差を補正する。補正光学系90は、焦点距離の等しい、2枚の正の円柱レンズ91aと円柱レンズ91bで構成される。円柱レンズ91aと円柱レンズ91bは、回転機構92aと回転機構92bの駆動によって、光軸L3を中心として、各々が独立に回転する。なお、本実施例では、補正光学系90として、2枚の正の円柱レンズ91aと円柱レンズ91bを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。補正光学系90は、非点収差を矯正できる構成であればよい。例えば、この場合には、光軸L3に補正レンズを出し入れしてもよい。

0063

<他覚式測定光学系>
他覚式測定光学系10は、被検眼の光学特性を他覚的に測定する他覚式測定部の構成の一部として用いられる(詳細は後述する)。本実施例では、被検眼Eの光学特性として、被検眼Eの眼屈折力を測定する他覚式測定部を例に挙げて説明する。なお、被検眼Eの光学特性は、眼屈折力の他、眼軸長角膜形状、等であってもよい。例えば、他覚式測定光学系10は、投影光学系10a、受光光学系10b、及び、補正光学系90、で構成される。

0064

投影光学系(投光光学系)10aは、被検眼Eの瞳孔中心部を介して、被検眼Eの眼底スポット状の測定指標を投影する。例えば、投影光学系10aは、光源11、リレーレンズ12、ホールミラー13、プリズム15、ダイクロイックミラー35、ダイクロイックミラー29、対物レンズ14、等を備える。

0065

光源11は、測定光束を出射する。光源11は、被検眼Eの眼底と共役な関係となっている。ホールミラー13のホール部は、被検眼Eの瞳孔と共役な関係となっている。プリズム15は、光束偏向部材である。プリズム15は、被検眼Eの瞳孔と共役な位置から外れた位置に配置され、プリズム15を通過する測定光束を光軸L1に対して偏心させる。プリズム15は、光軸L1を中心として、駆動部(モータ)23により回転駆動される。ダイクロイックミラー35は、他覚式測定光学系10の光路と、後述する自覚式測定光学系25の光路と、を共通にする。すなわち、ダイクロイックミラー35は、他覚式測定光学系10の光軸L1と、自覚式測定光学系25の光軸L2と、を同軸にする。ダイクロイックミラー29は、光路分岐部材である。ダイクロイックミラー29は、投影光学系10aによる測定光束と、自覚式測定光学系25による測定光束と、を反射して被検眼Eに導く。

0066

受光光学系10bは、被検眼Eの眼底で反射された眼底反射光束を、被検眼Eの瞳孔周辺部を介してリング状に取り出す。例えば、受光光学系10bは、対物レンズ14、ダイクロイックミラー29、ダイクロイックミラー35、プリズム15、ホールミラー13、リレーレンズ16、ミラー17、受光絞り18、コリメータレンズ19、リングレンズ20、撮像素子22、等を備える。リングレンズ20は、リング状に形成されたレンズ部と、レンズ部以外の領域に遮光用コーティングを施した遮光部と、から構成される。リングレンズ20は、被検眼Eの瞳孔と光学的に共役な位置関係となっている。受光絞り18と撮像素子22は、被検眼Eの眼底と共役な関係となっている。撮像素子22からの出力は、制御部70に入力される。

0067

本実施例において、投影光学系10aが備える光源11と、受光光学系10bが備える受光絞り18、コリメータレンズ19、リングレンズ20、及び撮像素子22と、投光光学系30が備えるディスプレイ31と、は駆動機構39により光軸方向に一体的に移動可能となっている。つまり、光源11、受光絞り18、コリメータレンズ19、リングレンズ20、撮像素子22、及び、ディスプレイ31、が駆動ユニット95として同期し、駆動機構39がこれらを一体的に移動させる。例えば、駆動機構39が移動した移動位置は、図示なきポテンショメータによって検出される。

0068

駆動ユニット95は、外側のリング光束が各経線方向に関して撮像素子22上に入射するように、他覚式測定光学系10の一部を光軸方向に移動させる。すなわち、他覚式測定光学系10の一部を被検眼Eの球面屈折誤差球面屈折力)に応じて光軸L1方向に移動させることで、球面屈折誤差を補正し、被検眼Eの眼底に対して光源11、受光絞り18及び撮像素子22が光学的に共役になるようにする。なお、ホールミラー13とリングレンズ20は、駆動ユニット95の移動量にかかわらず、被検眼Eの瞳と一定の倍率で共役になるように配置されている。

0069

上記の構成において、光源11から出射された測定光束は、リレーレンズ12、ホールミラー13、プリズム15、ダイクロイックミラー35、ダイクロイックミラー29、対物レンズ14、を経て被検眼Eの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム15によって、ホールミラー13におけるホール部の瞳投影像(瞳上での投影光束)は高速偏心回転される。眼底に投影された点光源像は、反射・散乱されて被検眼Eから射出し、対物レンズ14によって集光され、ダイクロイックミラー29、ダイクロイックミラー35、高速回転するプリズム15、ホールミラー13、リレーレンズ16、ミラー17を介して受光絞り18の位置に再び集光され、コリメータレンズ19とリングレンズ20とによって撮像素子22にリング状の像が結像する。

0070

例えば、プリズム15は、投影光学系10aと受光光学系10bの共通光路に配置されている。例えば、眼底からの反射光束は投影光学系10aと同じプリズム15を通過するため、それ以降の光学系では、あたかも瞳孔上における投影光束・反射光束(受光光束)の偏心がなかったかのように逆走査される。

0071

なお、本実施例において、他覚式測定部の構成は変更することが可能である。例えば、他覚式測定部は、瞳孔周辺部から眼底にリング状の測定指標を投影し、瞳孔中心部から眼底反射光を取り出し、撮像素子22にリング状の眼底反射像を受光させる構成を備えていてもよい。また、他覚式測定部はシャックハルトマンセンサを備えていてもよいし、スリットを投影する位相差方式の構成を備えていてもよい。

0072

<第1指標投影光学系及び第2指標投影光学系>
例えば、本実施例においては、第1指標投影光学系45及び第2指標投影光学系46が、補正光学系90と、偏向ミラー81との間に配置される。もちろん、第1指標投影光学系45及び第2指標投影光学系46の配置位置は、これに限定されない。例えば、第1指標投影光学系45と第2指標投影光学系46は、筐体2のカバーに備えられていてもよい。例えば、この場合には、第1指標投影光学系45及び第2指標投影光学系46が、呈示窓3の周囲に配置される構成が挙げられる。

0073

例えば、第1指標投影光学系45は、光軸L3を中心に配置されたリング状の赤外光源を備える。例えば、第1指標投影光学系45は、被検眼Eの角膜アライメント指標を投影するための近赤外光を発する。例えば、第2指標投影光学系46は、第1指標投影光学系45とは異なる位置に配置されたリング状の赤外光源を備える。なお、図2では、便宜上、第1指標投影光学系45と第2指標投影光学系46におけるリング状の赤外光源の一部(断面部分)のみが図示されている。本実施例において、第1指標投影光学系45は、被検者眼の角膜に無限遠のアライメント指標を投影する。また、第2指標投影光学系46は、被検者眼の角膜に有限遠のアライメント指標を投影する。なお、第2指標投影光学系46から出射されるアライメント光は、観察光学系50によって被検眼の前眼部を撮影するための前眼部撮影光としても用いられる。また、第1指標投影光学系45および第2指標投影光学系46の光源は、リング状の光源に限定されず、複数の点状の光源、またはライン状の光源等であってもよい。

0074

<観察光学系>
観察光学系(撮像光学系)50は、対物レンズ14、ダイクロイックミラー29、撮像レンズ51、撮像素子52、等を備える。ダイクロイックミラー29は、前眼部観察光及びアライメント光を透過する。撮像素子52は、被検眼Eの前眼部と略共役な位置に配置された撮像面をもつ。撮像素子52からの出力は、制御部70に入力される。これによって、被検眼Eの前眼部画像は撮像素子52により撮像され、モニタ4上に表示される。なお、この観察光学系50は、第1指標投影光学系45及び第2指標投影光学系46によって、被検眼Eの角膜に形成されるアライメント指標像を検出する光学系を兼ね、制御部70によってアライメント指標像の位置が検出される。

0075

<検眼装置内部構成>
以下、検眼装置1の内部構成について説明する。図3は、本実施例に係る検眼装置1の内部を正面方向(図1のA方向)から見た概略構成図である。図4は、本実施例に係る検眼装置1の内部を側面方向(図1のB方向)から見た概略構成図である。図5は、本実施例に係る検眼装置1の内部を上面方向(図1のC方向)から見た概略構成図である。なお、図4及び図5では、説明の便宜上、左眼用測定部7Lの光軸のみを示している。

0076

例えば、検眼装置1は、自覚式測定部と、他覚式測定部と、を備える。例えば、自覚式測定部及び他覚式測定部において、測定部7からの視標光束は、光学部材(例えば、後述する凹面ミラー85)の光軸Lに一致する光路を通過して被検眼Eに導光されてもよい。また、例えば、自覚式測定部及び他覚式測定部において、測定部7からの視標光束は、光学部材(例えば、後述する凹面ミラー85)の光軸Lから外れた光路を通過して被検眼Eに導光されてもよい。例えば、本実施例において、光軸Lは凹面ミラー85の球中心に向かう軸である。なお、以下では、測定部7からの視標光束が凹面ミラー85の光軸Lから外れた経路を通過する構成を例に挙げる。すなわち、測定部7からの視標光束が凹面ミラー85の光軸Lに対して斜め方向から照射され、その反射光束が被検眼Eに導光される。

0077

例えば、自覚式測定部は、測定部7、偏向ミラー81、駆動機構82、駆動部83、反射ミラー84、凹面ミラー85で構成される。なお、自覚式測定部はこの構成に限定されない。例えば、反射ミラー84を有しない構成であってもよい。この場合には、測定部7からの視標光束が、偏向ミラー81を介した後に凹面ミラー85の光軸Lに対して斜め方向から照射されてもよい。また、例えば、ハーフミラーを有する構成であってもよい。この場合には、測定部7からの視標光束を、ハーフミラーを介して凹面ミラー85の光軸Lに対して斜め方向に照射し、その反射光束を被検眼Eに導光してもよい。なお、本実施例では凹面ミラー85を配置しているが、凹面ミラー85ではなく、凸レンズを配置した構成であってもよい。

0078

例えば、他覚式測定部は、測定部7、偏向ミラー81、反射ミラー84、凹面ミラー85で構成される。なお、他覚式測定部はこの構成に限定されない。例えば、反射ミラー84を有しない構成であってもよい。この場合には、測定部7からの視標光束が、偏向ミラー81を介した後に凹面ミラー85の光軸Lに対して斜め方向から照射されてもよい。また、例えば、ハーフミラーを有する構成であってもよい。この場合には、測定部7からの視標光束を、ハーフミラーを介して凹面ミラー85の光軸Lに対して斜め方向に照射し、その反射光束を被検眼Eに導光してもよい。なお、本実施例では凹面ミラー85を配置しているが、凹面ミラー85ではなく凸レンズを配置した構成であってもよい。

0079

例えば、検眼装置1は、左眼用駆動部9Lと右眼用駆動部9Rとを有し、左眼用測定部7L及び右眼用測定部7RをそれぞれX方向に移動することができる。例えば、左眼用測定部7L及び右眼用測定部7Rが移動されることによって、偏向ミラー81と測定部7との間の距離が変更され、Z方向における視標光束の呈示位置が変更される。これによって、矯正光学系60によって矯正された視標光束を被検眼Eに導光し、矯正光学系60によって矯正された視標光束の像が被検眼Eの眼底に形成されるように、測定部7をZ方向に調整することができる。

0080

例えば、偏向ミラー81は、左右一対にそれぞれ設けられた、右眼用の偏向ミラー81Rと左眼用の偏向ミラー81Lとを有する。例えば、偏向ミラー81は、矯正光学系60と被検眼Eとの間に配置される。すなわち、本実施例における矯正光学系60は、左右一対に設けられた左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系とを有しており、左眼用の偏向ミラー81Lは左眼用矯正光学系と左被検眼ELの間に配置され、右眼用の偏向ミラー81Rは右眼用矯正光学系と右被検眼ERの間に配置される。例えば、偏向ミラー81は、瞳の共役位置に配置されることが好ましい。

0081

例えば、左眼用の偏向ミラー81Lは、左眼用測定部7Lから投影される光束を反射し、左被検眼ELに導光する。また、例えば、左眼用の偏向ミラー81Lは、左被検眼ELで反射された反射光を反射し、左眼用測定部7Lに導光する。例えば、右眼用の偏向ミラー81Rは、右眼用測定部7Rから投影される光束を反射し、右被検眼ERに導光する。また、例えば、右眼用の偏向ミラー81Rは、右被検眼ERで反射された反射光を反射し、右眼用測定部7Rに導光する。なお、本実施例においては、測定部7から投影される光束を反射し、被検眼Eに導光する偏向部材として、偏向ミラー81を用いる構成を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。偏向部材は、測定部7から投影される光束を反射し、被検眼Eに導光する偏向部材であればよい。例えば、偏向部材としては、プリズムやレンズ等が挙げられる。

0082

例えば、駆動機構82は、モータ(駆動部)等からなる。例えば、駆動機構82は、左眼用の偏向ミラー81Lを駆動するための駆動機構82Lと、右眼用の偏向ミラー81Rを駆動するための駆動機構82Rと、を有する。例えば、駆動機構82の駆動によって、偏向ミラー81は回転移動する。例えば、駆動機構82は、水平方向(X方向)の回転軸、及び鉛直方向(Y方向)の回転軸に対して偏向ミラー81を回転させる。すなわち、駆動機構82は偏向ミラー81をXY方向に回転させる。なお、偏向ミラー81の回転は、水平方向又は鉛直方向の一方であってもよい。

0083

例えば、駆動部83は、モータ等からなる。例えば、駆動部83は、左眼用の偏向ミラー81Lを駆動するための駆動部83Lと、右眼用の偏向ミラー81Rを駆動するための駆動部83Rと、を有する。例えば、駆動部83の駆動によって、偏向ミラー81はX方向に移動する。例えば、左眼用の偏向ミラー81L及び右眼用の偏向ミラー81Rが移動されることによって、左眼用の偏向ミラー81L及び右眼用の偏向ミラー81Rとの間の距離が変更され、被検眼Eの瞳孔間距離にあわせて、左眼用光路と右眼用光路との間のX方向における距離を変更することができる。

0084

なお、例えば、偏向ミラー81は、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて複数設けられてもよい。例えば、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて、2つの偏向ミラーが設けられる(例えば、左眼用光路で2つの偏向ミラー等)構成が挙げられる。この場合、一方の偏向ミラーがX方向に回転され、他方の偏向ミラーがY方向に回転されてもよい。例えば、偏向ミラー81が回転移動されることによって、矯正光学系60の像を被検眼の眼前に形成するためのみかけの光束を偏向させることにより、像の形成位置を光学的に補正することができる。

0085

例えば、凹面ミラー85は、右眼用測定部7Rと左眼用測定部7Lとで共有される。例えば、凹面ミラー85は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、で共有される。すなわち、凹面ミラー85は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、を共に通過する位置に配置されている。もちろん、凹面ミラー85は、右眼用光路と左眼用光路とで共有される構成でなくてもよい。すなわち、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、でそれぞれ凹面ミラーが設けられる構成であってもよい。例えば、凹面ミラー85は、矯正光学系を通過した視標光束を被検眼Eに導光し、矯正光学系を通過した視標光束の像を被検眼Eの眼前に形成する。なお、本実施例においては凹面ミラー85を用いる構成を例に挙げて説明したが、これに限定されず、種々の光学部材を用いることができる。例えば、光学部材としては、レンズや平面ミラー等を用いることができる。

0086

例えば、凹面ミラー85は、自覚式測定部と、他覚式測定部と、で兼用される。例えば、自覚式測定光学系25から投影された視標光束は、凹面ミラー85を介して、被検眼Eに投影される。例えば、他覚式測定光学系10から投影された測定光は、凹面ミラー85を介して、被検眼Eに投影される。また、例えば、他覚式測定光学系10から投影された測定光の反射光は、凹面ミラー85を介して、他覚式測定光学系10の受光光学系10bに導光される。なお、本実施例においては、他覚式測定光学系10による測定光の反射光が、凹面ミラー85を介して、他覚式測定光学系10の受光光学系10bに導光される構成を例に挙げているがこれに限定されない。例えば、他覚式測定光学系10による測定光の反射光は、凹面ミラー85を介さない構成であってもよい。

0087

より詳細には、例えば、本実施例においては、自覚式測定部における凹面ミラー85から被検眼Eまでの間の光軸と、他覚式測定部における凹面ミラー85から被検眼Eまでの間の光軸と、が少なくとも同軸で構成されている。例えば、本実施例においては、ダイクロイックミラー35によって、自覚式測定光学系25の光軸L2と他覚式測定光学系10の光軸L1とが合成され、同軸となっている。

0088

<自覚式測定部の光路>
以下、自覚式測定部の光路について説明する。例えば、自覚測定部は、矯正光学系60を通過した視標光束を、凹面ミラー85によって被検眼方向に反射することで被検眼Eに視標光束を導光し、矯正光学系60を通過した視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼Eの眼前に形成する。例えば、このとき、矯正光学系60を通過した視標光束は、凹面ミラー85の光軸Lから外れた光路を通過して凹面ミラー85へ入射し、凹面ミラー85の光軸Lから外れた光路を通過するように反射されて、被検眼Eに導光される。例えば、被検者から見た視標は、被検眼Eからディスプレイ31までの実際の距離よりも遠方にあるように見える。すなわち、凹面ミラー85を用いることで被検眼Eに対する視標の呈示距離を延長し、所定の検査距離の位置に視標光束の像が見えるように、被検者に視標を呈示することができる。

0089

より詳細に説明する。なお、以下の説明においては左眼用光路を例に挙げて説明するが、右眼用光路においても左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の自覚測定部において、左眼用測定部7Lのディスプレイ31から投影された視標光束は、投光レンズ33を介して、乱視矯正光学系63に入射する。乱視矯正光学系63を通過した視標光束は、反射ミラー36、ダイクロイックミラー35、ダイクロイックミラー29、対物レンズ14を経由して、補正光学系90に入射する。補正光学系90を通過した視標光束は、左眼用測定部7Lから左眼用の偏向ミラー81Lに向けて導光される。左眼用測定部7Lから出射されて左眼用の偏向ミラー81で反射された視標光束は、反射ミラー84により凹面ミラー85に向けて反射される。例えば、ディスプレイ31から出射した視標光束は、このように光学部材を経由することで左被検眼ELに到達する。

0090

これによって、左被検眼ELの眼鏡装用位置(例えば、角膜頂点位置から12mm程度)を基準として、矯正光学系60により矯正された視標が左被検眼ELの眼底上に形成される。従って、乱視矯正光学系63があたかも眼前に配置されたことと、球面度数の矯正光学系(本実施例においては、駆動機構39の駆動)による球面度数の調整が眼前で行われたことと、が等価になっており、被検者は凹面ミラー85を介して自然な状態で視標の像を視準することができる。なお、本実施例においては、右眼用光路においても、左眼用光路と同様の構成であり、左被検眼EL及び右被検眼ERの眼鏡装用位置(例えば、角膜頂点位置から12mm程度)を基準として、左右一対の矯正光学系60により矯正された視標が、両被検眼の眼底上に形成されるようになっている。このようにして、被検者は自然視の状態で視標を直視しつつ検者に対する応答を行い、視標が適正に見えるまで矯正光学系60による矯正を図り、その矯正値に基づいて自覚的に被検眼の光学特性の測定を行う。

0091

<他覚式測定部の光路>
次いで、他覚式測定部の光路について説明する。なお、以下の説明においては左眼用光路を例に挙げて説明するが、右眼用光路においても左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の他覚測定部において、他覚式測定光学系10における投影光学系10aの光源11から出射された測定光は、リレーレンズ12から対物レンズ14までを介して補正光学系90に入射する。補正光学系90を通過した測定光は、左眼用測定部7Lから左眼用の偏向ミラー81Lに向けて投影される。左眼用測定部7Lから出射されて左眼用の偏向ミラー81で反射された測定光は、反射ミラー84によって凹面ミラー85に向けて反射される。凹面ミラーによって反射された測定光は、反射ミラー84を透過して左被検眼ELに到達し、左被検眼ELの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム15によって、ホールミラー13のホール部の瞳投影像(瞳上での投影光束)は高速に偏心回転される。

0092

左被検眼ELの眼底上に形成された点光源像の光は、反射・散乱されて被検眼Eを射出し、測定光が通過した光路を経由して対物レンズ14により集光され、ダイクロイックミラー29、ダイクロイックミラー35、プリズム15、ホールミラー13、リレーレンズ16、ミラー17までを介する。ミラー17までを介した反射光は、受光絞り18の開口上で再び集光され、コリメータレンズ19にて略平行光束(正視眼の場合)とされ、リングレンズ20によってリング状光束として取り出され、リング像として撮像素子22に受光される。受光したリング像を解析することによって、他覚的に被検眼Eの光学特性を測定することができる。

0093

<制御部>
図6は、本実施例に係る検眼装置1の制御系を示す図である。例えば、制御部70には、モニタ4、不揮発性メモリ75(以下、メモリ75)、測定部7が備える光源11、撮像素子22、ディスプレイ31、撮像素子52等の各種部材が電気的に接続されている。また、例えば、制御部70には、駆動部9、駆動機構39、回転機構62aと62b、駆動部83、回転機構92aと92bがそれぞれ備える図示なき駆動部が電気的に接続されている。

0094

例えば、制御部70は、CPU(プロセッサ)、RAM、ROM、等を備える。例えば、CPUは、検眼装置1における各部材の制御を司る。例えば、RAMは、各種の情報を一時的に記憶する。例えば、ROMには、検眼装置1の動作を制御するための各種プログラム、各種検査のための視標データ初期値等が記憶されている。なお、制御部70は、複数の制御部(つまり、複数のプロセッサ)によって構成されてもよい。

0095

例えば、メモリ75は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、メモリ75としては、ハードディスクドライブフラッシュROM、USBメモリ、等を使用することができる。例えば、メモリ75には、自覚式測定部及び他覚式測定部を制御するための制御プログラムが記憶されている。

0096

制御動作
検眼装置1の制御動作について説明する。

0097

検者は、被検眼Eに固視標を呈示するとともに、被検眼Eの角膜にアライメント指標像を投影して被検眼Eと測定部7のアライメントを完了させると、被検眼Eに対する自覚式測定を実施する。

0098

自覚式測定では、被検眼Eを様々な矯正度数で矯正し、検査視標の見え具合を確認しながら、測定が進められる。通常、被検者は、被検眼Eが開瞼した開瞼状態にて、呈示された検査視標を観察する。言い換えると、被検者は、被検眼Eが自然に眼を開いた自然視の状態にて、呈示された検査視標を観察する。被検眼Eが開瞼状態にあるときは、被検眼Eに投影した視標光束が瞼に遮られることなく入射する。

0099

しかし、被検者は、検査視標が見にくかったとき等、被検眼Eを細めた細目状態にて、呈示された検査視標を観察していることがある。被検眼Eが細目状態にあると、被検眼Eに投影する視標光束の一部が瞼に遮られて入射する。被検眼Eの眼屈折度は被検眼Eの角膜形状等により異なるが、瞼に遮られた視標光束の一部は角膜形状等の影響を受けなくなる。

0100

このため、被検眼Eが開瞼状態にあるか細目状態にあるかによって、視標光束の結像状態が変化し、検査視標の見え方が異なってしまう。一例として、被検眼が乱視(特に、直乱視)である場合には、細目状態になることで検査視標の見え方が大きく変わり、測定結果が不正確になりやすい。

0101

そこで、本実施例では、被検眼Eに対する自覚式測定を実施している間、被検眼Eが開瞼した開瞼状態か、被検眼Eが眼を細めた細目状態か、を示す細目情報を取得し、細目情報をモニタ4に表示する。これによって、検者は、被検者に対して適切な指示を出すこと、再測定するか否かを判断すること、等を容易に行うことができる。

0102

以下、本実施例における自覚式測定について、詳細に説明する。

0103

<第1前眼部画像(基準画像)の取得>
検者は、被検眼Eに対する自覚式測定を開始する前に、被検眼Eの開瞼状態における前眼部画像(第1前眼部画像)を、後述する細目情報の取得の際に用いる基準画像として取得する。検者は、モニタ4から被検眼Eの基準画像を取得するための操作信号を入力する。制御部70は、操作信号に応じて、前眼部撮像光学系100を制御し、被検眼Eの前眼部を撮像させる。また、制御部70は、撮影された前眼部画像をモニタ4に表示する。

0104

検者は、前眼部画像を観察し、被検眼Eが開瞼状態(自然視状態)であるかを、被検眼Eの周囲(例えば、目元目尻、等)や眉間しわを寄せていないか、人間の上瞼から下瞼までの平均的な幅と同程度に開いているか、等から判断してもよい。被検眼Eが見開いた状態や半目状態であった場合は、基準画像を取得するための操作信号を再度入力してもよい。制御部70は、検者に適切と判断された前眼部画像を、被検眼Eの基準画像としてメモリ75に記憶させる。

0105

もちろん、制御部70は、撮影された前眼部画像の適否を自動判定し、適切な前眼部画像を、被検眼Eの基準画像としてメモリ75に記憶させてもよい。

0106

<基準画像の解析>
制御部70は、取得された基準画像を解析処理することで、基準画像における被検眼Eの瞳孔の形状に関する瞳孔情報を取得する。例えば、瞳孔情報は、瞳孔の形状、瞳孔の面積、等であってもよい。本実施例では、瞳孔情報として、瞳孔の形状を取得する場合を例に挙げる。

0107

図7は、基準画像110の一例である。制御部70は、基準画像110の輝度値を検出し、輝度の立ち上がりや立ち下がりから、基準画像110における瞳孔の中心位置K1と、瞳孔のエッジP1を検出する。例えば、制御部70は、瞳孔の中心位置K1を基準に、各動径角における瞳孔のエッジP1の位置座標ピクセル座標)を求める。瞳孔のエッジP1の位置座標は、後述する細目情報の取得の際に用いられる。また、例えば、制御部70は、基準画像110における瞳孔のエッジP1の形状を、基準画像110における瞳孔の形状(以下、瞳孔形状P1と称す)として、メモリ75に記憶させる。本実施例において、基準画像110における瞳孔形状P1は円形状である。

0108

<自覚式測定の開始>
検者は、被検眼Eの基準画像110を取得すると、被検眼Eに対する自覚式測定を開始する。検者は、モニタ4から自覚式測定を開始するための操作信号を入力する。制御部70は、操作信号に応じて前眼部撮像光学系100を制御し、被検眼Eの前眼部の撮像を開始する。また、制御部70は、操作信号に応じてディスプレイ31に検査視標を表示させ、被検眼Eに検査視標を投影する。また、制御部70は、操作信号に応じて自覚式測定光学系25における投光光学系30と矯正光学系60の少なくともいずれかを制御し、被検眼Eの眼屈折度を所定のディオプタ値(例えば、0D等)に矯正する。

0109

例えば、制御部70は、予め取得した被検眼Eの他覚式測定における光学特性(すなわち、他覚値)、被検眼Eの自覚式測定における光学特性(すなわち、自覚値)、等に基づき、ディスプレイ31を光軸L2方向へ移動させて、被検眼Eの球面度数を矯正してもよい。また、例えば、制御部70は、被検眼Eの他覚値、自覚値、等に基づき、円柱レンズ61aと61bを光軸L2周りに回転させて、被検眼Eの円柱度数と乱視軸角度の少なくともいずれかを矯正してもよい。これによって、被検眼Eの眼屈折度は所定のディオプタ値(例えば、0D等)に矯正されるとともに、被検眼Eの眼屈折度が所定のディオプタ値となる矯正度数が取得される。

0110

<自覚式測定中における第2前眼部画像(参照画像)の取得>
検者は、被検者に表示した検査視標の向き(例えば、ランドルト環視標のすき間の向き)を問い、被検者の回答を考慮しながら、被検眼Eを矯正する矯正度数が適切であるかを確認する。被検眼Eを矯正する矯正度数が不適切であれば、矯正度数を変更し、再度、適切であるかを確認する。

0111

本実施例では、被検眼Eを矯正する矯正度数を変更し、被検眼Eに対する自覚式測定を実施している間、被検眼Eの前眼部画像(第2前眼部画像)が、後述する細目情報の取得の際に用いる参照画像として、順次に取得される。例えば、制御部70は、被検眼Eの前眼部を、自覚式測定の開始から終了まで、所定のフレームレート(例えば、30fps)で、連続的に撮像させてもよい。また、制御部70は、連続的に撮像された各々の前眼部画像を、被検眼Eの参照画像(第1参照画像、第2参照画像、…、第n参照画像)として、順次メモリ75に記憶させる。

0112

<参照画像の解析>
制御部70は、連続的に撮像された各々の参照画像を解析処理することで、各々の参照画像における被検眼Eの瞳孔の形状に関する瞳孔情報を取得する。本実施例では、基準画像110と同様、参照画像においても、瞳孔情報として瞳孔の形状が取得される。

0113

図8は、参照画像120の一例である。制御部70は、参照画像120の輝度値を検出し、輝度の立ち上がりや立ち下がりから、参照画像120における瞳孔の中心位置K2と、瞳孔のエッジP2を検出してもよい。例えば、制御部70は、瞳孔の中心位置K2を基準に、各動径角における瞳孔のエッジP2の位置座標(ピクセル座標)を求める。瞳孔のエッジP2の位置座標は、後述する細目情報の取得の際に用いられる。また、例えば、制御部70は、参照画像120における瞳孔のエッジP2の形状を、参照画像120における瞳孔の形状(以下、瞳孔形状P2と称す)として、メモリ75に記憶させる。本実施例において、参照画像120における瞳孔形状P2は、円の上部と下部が平坦となった形状である。

0114

<細目情報の取得>
制御部70は、基準画像110と参照画像120に基づいて、被検眼が開瞼状態か細目状態かを示す細目情報を取得する。本実施例では、制御部70が、基準画像110と参照画像120を比較し、基準画像110の瞳孔形状P1に対して参照画像120の瞳孔形状P2が変化したか否かを検出することで、細目情報が取得される。

0115

制御部70は、基準画像110における瞳孔のエッジP1の位置座標と、参照画像120における瞳孔のエッジP2の位置座標と、が各経線方向において同一(略同一)であるかを比較し、比較結果に基づいて、瞳孔形状が変化したか否かを検出してもよい。例えば、制御部70は、基準画像110における瞳孔のエッジP1の位置座標と、参照画像120における瞳孔のエッジP2の位置座標と、がすべての経線方向において一致(略一致)した場合に、瞳孔形状P1に対して瞳孔形状P2は変化しておらず、同一形状(略同一形状)であると検出してもよい。このとき、制御部70は、検出結果に基づいて、被検眼Eが開瞼状態であると判定し、被検眼Eが開瞼状態であることを示す第1細目情報を取得してもよい。

0116

また、例えば、制御部70は、基準画像110における瞳孔のエッジP1の位置座標と、参照画像120における瞳孔のエッジP2の位置座標と、が少なくとも1つの経線方向において一致しなかった場合に、瞳孔形状P1に対して瞳孔形状P2は変化し、互いに異なる形状であると検出してもよい。一例として、図7に示す基準画像110から取得された瞳孔形状P1と、図8に示す参照画像120から取得された瞳孔形状P2と、では、動径角θn1〜動径角θn2までの範囲と、動径角θn3〜動径角θn4までの範囲と、において各々の座標位置が一致しないため、瞳孔形状P1と瞳孔形状P2が互いに異なる形状であると検出される。このとき、制御部70は、検出結果に基づいて、被検眼Eは細目状態であると判定し、被検眼Eが細目状態であることを示す第2細目情報を取得してもよい。

0117

なお、被検眼Eがまばたきをすると、瞼が瞬間的に瞳孔にかかるため、基準画像110の瞳孔形状P1に対して参照画像120の瞳孔形状P2が異なる形状となり得る。このため、被検眼Eがまばたきをしたまばたき状態が細目状態として判定され、第2細目情報が取得される可能性がある。

0118

図9は、被検眼Eの細目状態とまばたき状態の時間経過にともなう参照画像120の変化を示す図である。被検眼Eの細目状態は、被検眼Eが所定の検査視標を観察している間、継続されることが多い。一方、被検眼Eのまばたき状態は、一瞬間的な速さ(例えば、100〜150ミリ秒)で終了する。制御部70は、被検眼Eのまばたき状態を細目状態として誤判定することを防ぐため、連続的に撮像された各々の参照画像を解析処理した際、所定の時間t以上で、瞳孔形状P1に対して瞳孔形状P2が異なる形状であることを検出した際に、被検眼Eが細目状態であると判定し、第2細目情報を取得してもよい。所定の時間tは、被検眼Eの細目状態とまばたき状態を区別できる時間(例えば、0.5秒間以上)であればよい。

0119

なお、一例として、連続的にフレームレート30fpsで各々の参照画像120を取得し、0.5秒間以上の時間で瞳孔形状P1に対する瞳孔形状P2の変化を検出するときは、連続した15枚以上の参照画像120において瞳孔形状の変化が検出された場合に、被検眼Eが細目状態であると判定し、第2細目情報が取得されてもよい。つまり、連続的に取得される各々の参照画像120のうち、フレームレートに基づく所定の画像枚数以上で、瞳孔形状P1に対する瞳孔形状P2の変化が検出された場合に、被検眼Eが細目状態であると判定し、第2細目情報が取得されてもよい。

0120

<細目情報に関する情報の出力>
制御部70は、取得した細目情報(第1細目情報あるいは第2細目情報)をモニタ4に表示する。一例として、制御部70は、細目情報をメッセージとして表示してもよい。この場合、制御部70は、第1細目情報を取得した際に、「眼を開けています」等のメッセージを表示してもよい。また、この場合、制御部70は、第2細目情報を取得した際に、「眼を細めています」等のメッセージを表示してもよい。

0121

検者は、モニタ4に表示されるメッセージを確認することで、被検眼Eが適切に検査視標を観察しているかを確認することができる。例えば、第2細目情報を取得した際のメッセージが表示されたときには、被検者に眼を大きく開けるように指示を出してもよいし、所定の矯正度数での自覚式測定を再度実施してもよい。制御部70は、検者が適切と判断した矯正度数を、自覚式測定における被検眼Eの光学特性(自覚値)として取得する。また、制御部70は、被検眼Eの自覚値をメモリ75に記憶する。

0122

以上説明したように、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、被検眼の自覚式測定中における第1前眼部画像を取得し、第1前眼部画像に基づいて、被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得し、細目情報に関する情報を出力する。これによって、検者は、被検眼が自覚式測定においてどのような状態で視標を観察しているかを把握することができ、適切な指示や操作を行いやすく、被検眼の測定結果をより正確に得ることができる。

0123

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、被検眼が開瞼した状態の第2前眼部画像を基準画像として取得するとともに、自覚式測定中における第1前眼部画像を参照画像として取得し、基準画像と参照画像を比較することによって、細目情報を取得する。第2前眼部画像を用いることによって、被検眼の開瞼状態と細目状態が容易に区別される。

0124

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、基準画像及び参照画像から被検眼の瞳孔の形状変化に関する瞳孔情報を取得し、瞳孔情報を比較することによって、細目情報を取得する。基準画像及び参照画像における特徴部分として、コントラストが明確な瞳孔を検出し、その瞳孔情報を利用することで、被検眼の開瞼状態と細目状態がより区別されやすくなる。

0125

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、所定の時間以上で連続的に第1前眼部画像を取得し、第1前眼部画像に基づいて細目情報を取得する。例えば、被検眼が細目状態になったときとまばたきをした状態は、どちらも瞼がかかるため、互いに区別し難いことがある。しかし、細目状態は長く継続される場合が多いため、このように連続的な第1前眼部画像を用いることで、細目状態を適切に取得することができる。

0126

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、第1前眼部画像に基づいて、被検眼が眼を細めた状態か否かを判定し、判定結果を細目情報として取得する。これによって、被検眼の細目状態が容易に判断され、細目情報が容易に取得される。

0127

変容例>
なお、本実施例では、被検眼Eの基準画像110と参照画像120を比較する際、基準画像110と参照画像120から瞳孔のエッジを検出し、各エッジのすべての動径角における位置座標から瞳孔形状が変化したか否かを検出する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。被検眼Eが細目状態になるときは、被検眼Eの上瞼または下瞼が移動するため、所定の動径角における位置座標のみから、瞳孔形状が変化したか否かを検出する構成としてもよい。例えば、瞳孔の中心位置を基準とし、各エッジの動径角90度及び270度の少なくともいずれかの位置座標から、瞳孔形状が変化したか否かを検出してもよい。

0128

なお、本実施例では、被検眼Eの基準画像110と参照画像120を比較する際、基準画像110と参照画像120から瞳孔のエッジを検出し、各エッジの位置座標から瞳孔形状が変化したか否かを検出する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、基準画像110と参照画像120から瞳孔のエッジを検出し、瞳孔のエッジを近似(例えば、円近似、楕円近似、等)によりフィッティングすることで、その差分から瞳孔形状が変化したか否かを検出してもよい。また、例えば、基準画像110と参照画像120を差分処理し、得られた差分像から瞳孔形状が変化したか否かを検出してもよい。この場合、制御部70は、差分像にエッジが現れなかったときに、瞳孔形状P1に対して瞳孔形状P2は変化しておらず、同一形状(略同一形状)であると検出してもよい。また、この場合、制御部70は、差分像にエッジが現れたときに、瞳孔形状P1に対して瞳孔形状P2が変化し、互いに異なる形状であると検出してもよい。

0129

なお、本実施例では、被検眼Eの基準画像110と参照画像120を比較する際、瞳孔情報として、瞳孔の形状を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。瞳孔情報として、瞳孔の面積(瞳孔面積)を取得する構成であってもよい。この場合、制御部70は、基準画像110における瞳孔のエッジP1の位置座標から求められる図形の面積と、参照画像120における瞳孔のエッジP2の位置座標から求められる図形の面積と、が同一(略同一)であるかを比較し、比較結果に基づいて、瞳孔面積が変化したか否かを検出してもよい。例えば、制御部70は、基準画像110における瞳孔面積と、参照画像120における瞳孔面積と、が一致(略一致)した場合に、被検眼Eが開瞼状態であると判定し、第1細目情報を取得してもよい。また、例えば、制御部70は、基準画像110における瞳孔面積と、参照画像120における瞳孔面積と、が一致しなかった場合に、被検眼Eが細目状態であると判定し、第2細目情報を取得してもよい。

0130

なお、被検眼Eの基準画像110と参照画像120を比較する際には、前述の瞳孔形状や瞳孔面積の変化を検出するための閾値を設けてもよい。一例として、基準画像110における瞳孔形状P1と、参照画像120における瞳孔形状P2と、の類似度に予め閾値を設定してもよい。制御部70は、所定の類似度以上のときに、瞳孔形状P1と瞳孔形状P2を一致として、被検眼Eが開瞼状態であると判定してもよい。所定の類似度未満のときは、瞳孔形状P1と瞳孔形状P2が異なるとして、被検眼Eが細目状態であると判定してもよい。また、一例として、基準画像110における瞳孔面積に対して予め所定の閾値を設定してもよい。制御部70は、参照画像120における瞳孔面積が所定の閾値以上のときに、双方の瞳孔面積を一致として、被検眼Eが開瞼状態であると判定してもよい。参照画像120における瞳孔面積が所定の閾値未満のときは、双方の瞳孔面積が異なるとして、被検眼Eが細目状態であると判定してもよい。

0131

なお、本実施例では、被検眼に対する自覚式測定中に、基準画像110と参照画像120の比較に基づく細目情報が取得され、細目情報に関する情報が逐次出力される構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼に対する自覚式測定を終えた後に、基準画像110と参照画像120の比較に基づく細目情報が取得され、自覚式測定の測定結果とともに細目情報に関する情報が出力される構成としてもよい。

0132

例えば、この場合には、被検眼Eの眼屈折度を矯正した矯正度数と、順次撮像される被検眼Eの参照画像120と、を自覚式測定中に関連付けて記憶しておいてもよい。また、例えば、この場合には、被検眼Eに呈示した検査視標の視力値と、順次撮像される被検眼Eの参照画像120と、を自覚式測定中に関連付けて記憶しておいてもよい。もちろん、被検眼Eの矯正度数と、被検眼Eに呈示した検査視標の視力値と、参照画像120と、を自覚式測定中に関連付けて記憶しておいてもよい。制御部70は、自覚式測定後に、基準画像110と、各々の情報が関連付けられた参照画像120と、を比較し、細目情報に関する情報を出力してもよい。これによって、検者は、被検眼Eがどの矯正度数で矯正されたときに細目状態となっていたか、被検眼Eがどの視力値の検査視標を呈示したときに細目状態となっていたか、等を容易に認識することができる。

0133

以下、このような構成の一例について、被検眼Eの矯正度数と参照画像120を関連付けて記憶する場合を例に挙げて説明する。被検眼Eに対する自覚式測定を実施している間、制御部70は、被検眼Eの眼屈折度を矯正した矯正度数と、前眼部撮像光学系100により撮像される被検眼Eの参照画像120と、を関連付けて記憶する。例えば、制御部70は、検者が被検眼Eの所定の矯正度数を設定したタイミング(つまり、所定の矯正度数に切り換えたタイミング)毎に、順次に取得されていく参照画像120を分割することで、被検眼Eの矯正度数と、被検眼Eの連続的な参照画像120と、を関連付けて記憶してもよい。

0134

制御部70は、被検眼に対する自覚式測定を一通り終えると、被検眼Eの矯正度数に対応する参照画像120を解析処理し、被検眼Eの矯正度数毎の細目情報を取得する。制御部70は、被検眼Eの基準画像110と、被検眼Eのある矯正度数に対応する連続した参照画像120と、をそれぞれ比較する。例えば、制御部70は、所定の時間t未満で瞳孔形状が異なることを検出した際に、被検眼Eがある矯正度数では開瞼状態であったと判定し、第1細目情報を取得してもよい。また、例えば、制御部70は、所定の時間t以上で瞳孔形状が異なることを検出した際に、被検眼Eがある矯正度数では細目状態であったと判定し、第2細目情報を取得してもよい。

0135

制御部70は、被検眼Eの矯正度数毎に取得した細目情報(第1細目情報または第2細目情報)をモニタ4に表示する。一例として、制御部70は、被検眼Eの矯正度数と対応する細目情報を一覧表示にしてもよい。より詳細には、被検眼Eの矯正度数に対して、被検眼Eが開瞼状態であったか細目状態であったかが、記号(例えば、開瞼状態であれば「〇」、細目状態であれば「×」、等)で表示されてもよい。

0136

なお、上記では、被検眼Eの矯正度数と参照画像120を関連付けて記憶したが、自覚式測定の時間経過に対応させて被検眼Eの矯正度数と参照画像120を関連付けて記憶してもよい。この場合、自覚式測定の時間経過にともなう被検眼の矯正度数と細目情報の変化をグラフとして表すこともできる。図10は、被検眼の矯正度数と細目情報の変化を表すグラフの一例である。例えば、グラフの横軸は、自覚式測定の経過時間にともなう被検眼の矯正度数の変化を示している。例えば、グラフの縦軸は、被検眼Eの細目情報の変化を示している。本実施例においては、基準画像110と参照画像120の比較により、被検眼Eの細目情報として、被検眼Eの細目の程度130が表されてもよい。

0137

例えば、このように、被検眼Eに対する自覚式測定を実施した後で、被検眼Eの矯正度数と細目情報を確認できるような構成とすることで、検者は、被検眼がどの矯正度数のときに細目状態となったか等を容易に判断できるようになる。

0138

本実施例では、被検眼Eの細目情報とともに、被検眼Eの細目情報に基づいた自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を出力するようにしてもよい。例えば、制御部70は、被検眼Eの細目情報に基づく判定情報として、自覚式測定の測定結果の信頼度を算出する。信頼度は、被検眼Eの基準画像110における細目の程度を基準とし、これに対する参照画像120毎の細目の程度を比率として表したものでもよい。

0139

制御部70は、自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を、自覚式測定の全体の測定結果の適否を示す情報として出力してもよい。例えば、この場合、制御部70は、自覚式測定の開始から終了までの参照画像120から算出した信頼度を出力してもよい。また、制御部70は、自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を、自覚式測定の一部の測定結果の適否を示す情報として出力してもよい。例えば、自覚式測定において被検眼Eを矯正した矯正度数毎の測定結果の適否を示してもよい。この場合、制御部70は、被検眼Eの矯正度数に対応付けられた参照画像120から算出した信頼度140を出力してもよい。

0140

なお、上記では、被検眼Eの細目情報に基づく判定情報として信頼度を算出する構成を例に挙げたがこれに限定されない。例えば、被検眼Eの細目情報に基づく判定情報として、被検眼Eの連続的に取得された参照画像120から、所定の回数以上で細目であることを示す細目情報が得られたか否かに基づいて、自覚式測定が適切か否かを示す判定情報を出力してもよい。

0141

例えば、このように、被検眼Eに対する自覚式測定を実施した後で、被検眼Eの矯正度数と細目情報に加え、さらに自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を確認できるような構成とすることで、検者は、自覚式測定を一からやり直すか、あるいは、どの矯正度数での測定を再実施すべきか、等を容易に判断できるようになる。

0142

なお、本実施例では、被検眼に対する自覚式測定を開始する前に、被検眼Eの基準画像110を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼に対する自覚式測定が終了した後で、被検眼Eの基準画像110として、メモリに記憶された被検眼Eの参照画像120の中から適切な画像を選択してもよい。この場合、制御部70は、被検眼Eの基準画像110として、被検眼Eの参照画像120から求められた瞳孔情報(瞳孔形状や瞳孔面積)が最も大きな画像を選択してもよい。また、この場合、制御部70は、被検眼Eの基準画像110として、被検眼Eの参照画像120から求められた瞳孔情報(瞳孔形状や瞳孔面積)が最も多い画像を選択してもよい。より詳細には、例えば、被検眼Eの参照画像120から、瞳孔情報Aの画像が10枚、瞳孔情報Bの画像が100枚、瞳孔画像Cの画像が50枚得られたとき、被検眼Eの基準画像110として、瞳孔情報Bの画像を選択してもよい。

0143

なお、本実施例における検眼装置1では、被検者が眼鏡を装用した状態にて、被検眼Eに対する自覚式測定を実行してもよい。この場合、制御部70は、被検者が眼鏡を装用した状態での基準画像を取得し、この基準画像と、順次に撮像される参照画像と、を比較することで、被検眼Eの細目情報を取得してもよい。また、制御部70は、これらの基準画像と参照画像を比較することで、基準画像における被検眼Eと眼鏡のフレームとの位置関係と、参照画像における被検眼Eと眼鏡のフレームとの位置関係と、の変化を示す関係情報を、さらに取得してもよい。例えば、関係情報は、被検眼Eの瞳孔とフレームの位置関係を示す情報であってもよい。

0144

例えば、被検眼Eが呈示された検査視標を観察した際の見え方は、眼鏡のフレームに嵌め込まれたレンズの屈折力、被検眼の視線がレンズを通過した位置、等によって大きく変化することがある。一例として、被検眼Eが検査視標を正面から観察したときと、被検者が顔を傾けて被検眼Eが検査視標を見下ろすように観察したときでは、見え方が変化する。このため、例えば、細目情報に関する情報として、細目情報と関係情報を並べて表示することで、被検眼が自覚式測定において検査視標を適切に観察していたかを、容易に判断することができる。

0145

なお、本実施例における検眼装置1は、自覚式測定部を用いた自覚式測定を実行している間に、他覚式測定部を用いた他覚式測定を実行することができる。例えば、被検眼Eに対する自覚式測定と同時に、被検眼Eの眼底に反射されたリング像が撮像及び解析されることで、被検眼Eに対する他覚式測定が行われる。このような場合、被検眼Eの開瞼状態あるいは細目状態は、被検眼Eの他覚式測定に基づいて判定されてもよい。

0146

例えば、制御部70は、被検眼Eが開瞼状態のときに得られた基準となるリング像と、自覚式測定を進めることで逐次変化するリング像と、を比較することで、被検眼Eの開瞼状態や細目状態を判定する構成としてもよい。一例として、制御部70は、所定の時間以上でリング像が欠けて検出された場合に、被検眼が細目状態であると判定してもよい。また、例えば、制御部70は、他覚式測定の測定結果の安定性から、被検眼Eの開瞼状態や細目状態を判定する構成としてもよい。一例として、被検眼Eの他覚式測定における眼屈折度のゆらぎを検出し、ゆらぎが所定の閾値以上となった場合に、被検眼が細目状態であると判定してもよい。

0147

なお、本実施例では、自覚式検眼装置として、被検眼Eの眼前に光学部材等を配置せず、被検眼の眼前を開放した状態で、自覚式測定を実施できるような装置を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、自覚式検眼装置は、被検眼の眼前に配置され、矯正光学系を内部に有する眼屈折力測定ユニットを備えるような装置でもよい。この場合、眼屈折力測定ユニットに被検眼Eの前眼部を撮像するための撮像部が設けられてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、特開2012−90956号公報に記載のような視標呈示装置別途設けられた装置でもよい。この場合、視標呈示装置に撮像部が設けられてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、特開2005−52677号公報に記載のような視力検査装置であってもよく、視力検査装置が撮像部を備える構成としてもよい。つまり、本実施例においては、検眼装置が被検眼の前眼部画像を取得可能な構成を備えていればよい。

0148

1検眼装置
筺体
4モニタ
5顎台
7測定部
10 他覚式測定光学系
25自覚式測定光学系
30投光光学系
45 第1指標投影光学系
46 第2指標投影光学系
50観察光学系
60矯正光学系
70 制御部
75メモリ
90補正光学系
100 前眼部撮像光学系

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