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技術 誤り率測定装置および誤り率測定方法

出願人 アンリツ株式会社
発明者 砂山諒
出願日 2019年2月13日 (1年9ヶ月経過) 出願番号 2019-023538
公開日 2020年8月31日 (2ヶ月経過) 公開番号 2020-136727
状態 未査定
技術分野 デジタル伝送の保守管理 エラーの検出、防止
主要キーワード シーケンスパターン パルスパターン発生器 規格試験 誤り率測定装置 ステート遷移 ハイスピード ブロック分け ステートマシーン
関連する未来課題
重要な関連分野

この項目の情報は公開日時点(2020年8月31日)のものです。
また、この項目は機械的に抽出しているため、正しく解析できていない場合があります

図面 (8)

課題

ユーザが自由に編集して直感的な送信パターンの作成を可能にする。

解決手段

誤り率測定装置1は、リンク状態管理機構を搭載した被測定物Wに対してハイスピードシリアルバス規格に基づくオーダードセットを用い、被測定物Wを規格が定めるステート遷移させた状態で既知パターンテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って被測定物Wから受信する入力データのビット誤り率を測定するものであり、規格が定めるステートに遷移させるためのパターンバイナリベースまたはヘキサベースで編集可能なパターン編集画面5cを表示する表示部5と、オーダードセットをシンボル単位で編集可能なオーダードセット編集画面5aに切り替えて表示するように表示部5を制御する制御部6とを備える。

概要

背景

例えば下記特許文献1に開示されるように、誤り率測定装置は、固定データを含む既知パターンテスト信号被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率BER:Bit Error Rate)を測定する装置として従来から知られている。

ところで、USBやPCIeなどのハイスピードシリアルバス(High Speed Serial Bus )の規格では、LTSSM(Link Training &Status State Machine、以下、リンク状態管理機構と言う)と呼ばれるステートマシーンを持ち、これによりデバイス間の通信初期化やリンク速度の調整などを管理している。

また、従来の誤り率測定装置は、パルスパターン発生器(PPG)から規格が定める特定パターン高速切り替えることによってPCIe Gen1〜4,USB3.1のリンク状態管理機構を制御し、特定のステート遷移させる機能(シーケンスパターン機能)を備えている。なお、被測定物(DUT)をステート遷移させるパターンは、規格で定められており、それらのパターンの出力順をシーケンスパターン機能により組み合わせて出力できる。

概要

ユーザが自由に編集して直感的な送信パターンの作成を可能にする。誤り率測定装置1は、リンク状態管理機構を搭載した被測定物Wに対してハイスピードシリアルバスの規格に基づくオーダードセットを用い、被測定物Wを規格が定めるステートに遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って被測定物Wから受信する入力データのビット誤り率を測定するものであり、規格が定めるステートに遷移させるためのパターンをバイナリベースまたはヘキサベースで編集可能なパターン編集画面5cを表示する表示部5と、オーダードセットをシンボル単位で編集可能なオーダードセット編集画面5aに切り替えて表示するように表示部5を制御する制御部6とを備える。

目的

本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ユーザが自由に編集して直感的な送信パターンの作成が可能な誤り率測定装置および誤り率測定方法を提供する

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

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請求項1

リンク状態管理機構を搭載した被測定物(W)に対してハイスピードシリアルバス規格に基づくオーダードセットを用い、前記被測定物を前記規格が定めるステート遷移させた状態で既知パターンテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定装置(1)であって、前記規格が定めるステートに遷移させるためのパターンバイナリベースまたはヘキサベースで編集可能なパターン編集画面(5c)を表示する表示部(5)と、前記オーダードセットをシンボル単位で編集可能なオーダードセット編集画面(5a)に切り替えて表示するように前記表示部を制御する制御部(6)とを備えたことを特徴とする誤り率測定装置。

請求項2

前記制御部(6)は、前記オーダードセット編集画面(5a)におけるオーダードセットのシンボルを指定し、指定されたシンボルをビット単位で編集可能なシンボル編集画面(5b)を表示するように前記表示部(5)を制御することを特徴とする請求項1に記載の誤り率測定装置。

請求項3

リンク状態管理機構を搭載した被測定物(W)に対してハイスピードシリアルバスの規格に基づくオーダードセットを用い、前記被測定物を前記規格が定めるステートに遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定方法であって、前記規格が定めるステートに遷移させるためのパターンをバイナリベースまたはヘキサベースで編集可能なパターン編集画面(5c)を表示するステップと、前記オーダードセットをシンボル単位で編集可能なオーダードセット編集画面(5a)に切り替えて表示するステップとを含むことを特徴とする誤り率測定方法。

請求項4

前記オーダードセット編集画面(5a)におけるオーダードセットのシンボルを指定し、指定されたシンボルをビット単位で編集可能なシンボル編集画面(5b)を表示するステップを含むことを特徴とする請求項3に記載の誤り率測定方法。

技術分野

0001

本発明は、被測定物信号パターン折り返しのステート遷移させた状態で既知パターンテスト信号を被測定物を送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定装置および誤り率測定方法に関する。

背景技術

0002

例えば下記特許文献1に開示されるように、誤り率測定装置は、固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率(BER:Bit Error Rate)を測定する装置として従来から知られている。

0003

ところで、USBやPCIeなどのハイスピードシリアルバス(High Speed Serial Bus )の規格では、LTSSM(Link Training &Status State Machine、以下、リンク状態管理機構と言う)と呼ばれるステートマシーンを持ち、これによりデバイス間の通信初期化やリンク速度の調整などを管理している。

0004

また、従来の誤り率測定装置は、パルスパターン発生器(PPG)から規格が定める特定パターン高速切り替えることによってPCIe Gen1〜4,USB3.1のリンク状態管理機構を制御し、特定のステートに遷移させる機能(シーケンスパターン機能)を備えている。なお、被測定物(DUT)をステート遷移させるパターンは、規格で定められており、それらのパターンの出力順をシーケンスパターン機能により組み合わせて出力できる。

先行技術

0005

特開2007−274474号公報

発明が解決しようとする課題

0006

しかしながら、規格で定められたパターンは多岐にわたり、パターンの中の特定ビットにより性質が変わるものもあり、これら全てのパターンを網羅したプリセットデータとして装置に持たせ、かつユーザーの操作性を保つことが難しかった。

0007

このため、バイナリベースまたはヘキサベースのエディタによりパターン編集を行う既存のパターン編集機能流用することが考えられるが、この場合、ユーザが変更したい特定ビットが2進数16進数の羅列のどこに含まれているかを判別するのが非常に困難であり、パターンの編集に時間がかかるだけでなく、設定ミスを生じるおそれもあった。

0008

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ユーザが自由に編集して直感的な送信パターンの作成が可能な誤り率測定装置および誤り率測定方法を提供することを目的としている。

課題を解決するための手段

0009

上記目的を達成するため、本発明の請求項1に記載された誤り率測定装置は、リンク状態管理機構を搭載した被測定物Wに対してハイスピードシリアルバスの規格に基づくオーダードセットを用い、前記被測定物を前記規格が定めるステートに遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定装置1であって、
前記規格が定めるステートに遷移させるためのパターンをバイナリベースまたはヘキサベースで編集可能なパターン編集画面5cを表示する表示部5と、
前記オーダードセットをシンボル単位で編集可能なオーダードセット編集画面5aに切り替えて表示するように前記表示部を制御する制御部6とを備えたことを特徴とする。

0010

請求項2に記載された誤り率測定装置は、請求項1の誤り率測定装置において、
前記制御部6は、前記オーダードセット編集画面5aにおけるオーダードセットのシンボルを指定し、指定されたシンボルをビット単位で編集可能なシンボル編集画面5bを表示するように前記表示部5を制御することを特徴とする。

0011

請求項3に記載された誤り率測定方法は、リンク状態管理機構を搭載した被測定物Wに対してハイスピードシリアルバスの規格に基づくオーダードセットを用い、前記被測定物を前記規格が定めるステートに遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定方法であって、
前記規格が定めるステートに遷移させるためのパターンをバイナリベースまたはヘキサベースで編集可能なパターン編集画面5cを表示するステップと、
前記オーダードセットをシンボル単位で編集可能なオーダードセット編集画面5aに切り替えて表示するステップとを含むことを特徴とする。

0012

請求項4に記載された誤り率測定方法は、請求項3の誤り率測定装置において、
前記オーダードセット編集画面5aにおけるオーダードセットのシンボルを指定し、指定されたシンボルをビット単位で編集可能なシンボル編集画面5bを表示するステップを含むことを特徴とする。

発明の効果

0013

本発明によれば、PCIe,USBなどの各規格のエンコード規則に則り、オーダードセットの所望のシンボル単位または指定したシンボルをビット単位でユーザーが自由に編集することができる。その結果、バイナリベースやヘキサベースのエディタでは実現できなかった直感的な送信パターンの作成が可能になる。

図面の簡単な説明

0014

本発明に係る誤り率測定装置の概略構成を示すブロック図である。
USB Gen2のオーダードセットを一覧表示するオーダードセット編集画面の一例を示す図である。
図2のオーダードセット編集画面の所定のシンボルを指定してビット単位で編集するときのシンボル編集画面の一例を示す図である。
USB Gen1のSKPオーダードセットを一覧表示するオーダードセット編集画面の一例を示す図である。
図4のオーダードセット編集画面の所定のシンボルを指定してビット単位で編集するときのシンボル編集画面の一例を示す図である。
(a),(b)オーダードセットの編集方法フローチャートである。
パターン編集画面の一例を示す図である。

実施例

0015

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。

0016

本発明に係る誤り率測定装置および誤り率測定方法は、例えばUSB、PCIeなどのハイスピードシリアルバス(以下、HSBと略称する)の規格試験において、リンク状態管理機構を搭載した被測定物に対して規格に基づくオーダードセット(物理層パケット)を用い、被測定物を信号パターン折り返しのステート(ループバック)に遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信する入力データのビット誤り率を測定するものである。

0017

図1に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置1は、設定操作部2、記憶部3、測定部4、表示部5、制御部6を備えて概略構成される。

0018

設定操作部2は、ユーザによって操作されるものであり、例えば表示部5の表示画面(図2図4のオーダードセット編集画面5a、図3図5のシンボル編集画面5b、図7のパターン編集画面5c)上の各種ソフトキーカーソルキー矢印キーの他、装置本体に設けられるキー、スイッチ、ボタンなどで構成される。

0019

設定操作部2は、被測定物Wへの特定パターンやテスト信号の送信開始や停止の指示、被測定物Wの誤り率測定開始や停止の指示、図2図4のオーダードセット編集画面5a、図3図5のシンボル編集画面5bでのシンボル単位またはビット単位によるオーダードセットの編集、図7のパターン編集画面5cでのバイナリベースまたはヘキサベースによるパターンの編集などを行う際に操作される。

0020

例えば図2図4のオーダードセット編集画面5aでは、操作設定部2のソフトキーとして、「Add」、「Copy」、「Cut」、「Paste」、「Clear All」、「OK」、「Cancel」、「Save」、「Load」、「Pattern Edit」のソフトキー2a,2b,2c,2d,2e,2f,2g,2h,2i,2jが表示される。

0021

そして、上記ソフトキーを適宜操作することにより、ブロック分けされたオーダードセットのシンボル(#0〜#15)単位の編集、シンボル単位で編集されたオーダードセットの記憶部3への設定情報の保存、記憶部3に保存されたオーダードセットの設定情報の読み出しを行うことができる。

0022

また、オーダードセット編集画面5aにおいて、ブロック分けされたオーダードセットの複数のシンボルの中から編集したいシンボルを指定して「Pattern Edit」のソフトキー2jを押下すると、表示画面が例えば図3図5表示形式のシンボル編集画面5bに切り替わる。

0023

図3図5のシンボル編集画面5bでは、上記ソフトキーを適宜操作することにより、オーダードセット編集画面5aで指定されたオーダードセットのシンボルのビット単位での編集の他、ビット単位で編集されたオーダードセットの設定情報の記憶部3への保存、記憶部3に保存されたオーダードセットの設定情報の読み出しを行うことができる。

0024

なお、図示の例では、表示部5の表示画面上のソフトキーを設定操作部2の一部として構成しているが、誤り率測定装置1とは別体に設けられる外部入力装置を設定操作部2として用いることもできる。

0025

記憶部3は、編集画面(オーダードセット編集画面5a、シンボル編集画面5b、パターン編集画面5c)での編集に基づく特定パターンやオーダードセットの各種情報シンボル番号スペシャルシンボル、128ビットデータ、Kコード、8ビットデータなどの情報)、既知のテスト信号の情報、被測定物Wの誤り率の測定条件測定結果に関する各種情報を記憶する。

0026

測定部4は、パターン発生部4aとエラー検出部4bを備え、設定操作部2の操作情報や記憶部3の記憶情報に基づく制御部6の制御により被測定物WのHSBの規格試験を含む各種測定を行う。

0027

パターン発生部4aは、設定情報(オーダードセット編集画面5a、シンボル編集画面5b、パターン編集画面5cでの編集を反映した情報)に基づく特定パターン、被測定物Wの各種測定を行うための既知パターンのテスト信号を発生する。

0028

エラー検出部4bは、パターン発生部4aにて発生した特定パターンにより被測定物Wを信号パターン折り返しのステート(ループバック)に遷移させた状態でパターン発生部4aからのテスト信号の送信に伴って被測定物Wから折り返される入力データのエラーを検出し、被測定物WのHSBの規格試験を含む各種測定を行う。

0029

表示部5は、例えば装置本体に装備された液晶表示器などで構成される。表示部5は、制御部6の制御により、オーダードセット編集画面5a、シンボル編集画面5b、パターン編集画面5cを選択的に表示画面上に表示したり、不図示の特定パターンの設定画面の表示、被測定物Wへのテスト信号の送信に伴って被測定物Wから折り返される入力データのエラーの検出に基づく各種測定の結果の表示を行う。

0030

ここで、図2はUSB Gen2のオーダードセットを一覧表示するオーダードセット編集画面5aの一例を示している。このオーダードセット編集画面5aでは、オーダードセットをUSB Gen2(規格)が定めるシンボルごとにブロック分けしてシンボルの番号順(Symbol no.)にオーダードセットを一覧表示する。具体的には、USB Gen2のオーダードセットがシンボルの番号順の#0,#1,#2,#3,#4,#5,#6,#7,#8,#9,#10,#11,#12,#13,#14,#15の16個のブロックに分けられ、各ブロックのシンボルの説明(Symbol Description)、128ビットデータをオーダードセット編集画面5aに一覧表示する。

0031

また、図4はUSB Gen1のSKPオーダードセットを一覧表示するオーダードセット編集画面5aの一例を示している。このオーダードセット編集画面5aでは、USB Gen1のオーダードセットがシンボルの番号順(Symbol no.)の#0,#1,#2,#3,#4の5個のブロックに分けられ、各ブロックのシンボルの説明(Symbol Description)、Kコード、8ビットデータを一覧表示する。

0032

なお、初期時には、HSBの所定の規格(例えばUSB Gen1)が定めるオーダードセットのプリセットデータがオーダードセット編集画面5aに表示される。また、2回目以降は、前回終了時のオーダードセットがオーダードセット編集画面5aに表示される。

0033

さらに、図3図2のオーダードセット編集画面5aの所定のシンボルを指定してビット単位で編集するときのシンボル編集画面の一例を示している。このシンボル編集画面5bでは、図2のオーダードセット編集画面5aで指定されたシンボルの各フィールド(Field)のデータ(「0」または「1」、ビットの内容説明)をビット単位で編集可能に一覧表示する。

0034

また、図5図4のオーダードセット編集画面5aの所定のシンボルを指定してビット単位で編集するときのシンボル編集画面の一例を示している。このシンボル編集画面5bでは、図4のオーダードセット編集画面5aで指定されたシンボルの各フィールド(Field)のデータ(「0」または「1」)をビット単位で編集可能に一覧表示する。

0035

制御部6は、設定操作部2の操作情報や記憶部3の記憶情報に基づいて測定部4を制御して被測定物Wの各種測定を行うために各部を統括制御するもので、オーダードセットをシンボル単位またはビット単位で編集を行う際に表示部5を制御する表示制御手段6aを含む。

0036

さらに説明すると、表示制御手段6aは、オーダードセットをシンボル単位で編集を行うときに、図2図4のオーダードセット編集画面5aを表示するように表示部5を制御する。

0037

また、表示制御手段6aは、図2図4のオーダードセット編集画面5aにおいて編集したいオーダードセットのシンボルを指定して「Pattern Edit」のソフトキー2jが押下されると、図3図5のシンボル編集画面5bを表示するように表示部5を制御する。

0038

さらに、表示制御手段6aは、特に図示はしないが、被測定物Wの測定結果を表示するためのソフトキーが押下されると、エラー検出部4bの検出結果に基づく被測定物Wの測定結果画面を表示するように表示部5を制御する。

0039

次に、上記のように構成される誤り率測定装置1によるオーダードセットの編集方法について図6(a),(b)を参照しながら説明する。

0040

図6(a)に示すように、オーダードセットをシンボル単位で編集する場合には、図2図4のオーダードセット編集画面5aを表示する(ST1)。そして、このオーダードセット編集画面5aにおいて、「Add」、「Copy」、「Cut」、「Paste」、「Clear All」、「OK」、「Cancel」のソフトキー2a〜2gを含む設定操作部2の操作により、オーダードセットをシンボル単位で自由に編集を行う(ST2)。

0041

図6(b)に示すように、オーダードセット編集画面5aで指定したオーダードセットのシンボルをビット単位で編集する場合には、図2図4のオーダードセット編集画面5aを表示する(ST11)。そして、このオーダードセット編集画面5aから編集したいシンボルを選択し、「Pattern Edit」のソフトキーを押下し(ST12)、図3図4のシンボル編集画面5bを表示する(ST13)。そして、このシンボル編集画面5bにおいて、「Add」、「Copy」、「Cut」、「Paste」、「Clear All」、「OK」、「Cancel」のソフトキー2a〜2gを含む設定操作部2の操作により、オーダードセットのシンボルをビット単位で自由に編集を行う(ST14)。

0042

なお、上述したオーダードセット編集画面5aやシンボル編集画面5bでシンボル単位やビット単位で編集されたオーダードセットのデータは、「Save」のソフトキー2hを押下することで記憶部3に保存される。

0043

また、オーダードセット編集画面5aにおいて、「Load」のソフトキー2iを押下して記憶部3に保存されたオーダードセットのデータ一覧(不図示)を表示させ、このデータ一覧から編集したいオーダードセットのデータを指定して読み出すこともできる。

0044

このように、本実施の形態では、オーダードセット編集画面5aやシンボル編集画面5bにより、PCIe,USBなどの各規格のエンコード規則に則り、オーダードセットの所望のシンボル単位または指定したシンボルをビット単位でユーザーが自由に編集することができる。これにより、ユーザーは、編集したいオーダードセットのシンボルを指定し、指定したシンボル中の特定のビットを変更して編集することができる。その結果、バイナリベースやヘキサベースのエディタでは実現できなかった直感的な送信パターンの作成が可能になる。

0045

以上、本発明に係る誤り率測定装置および誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。

0046

1誤り率測定装置
2設定操作部
2a〜2jソフトキー
3 記憶部
4測定部
4aパターン発生部
4bエラー検出部
5 表示部
5aオーダードセット編集画面
5bシンボル編集画面
5cパターン編集画面
6 制御部
W被測定物(DUT)

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