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技術 X線診断装置

出願人 キヤノンメディカルシステムズ株式会社
発明者 今川和夫阿部真吾石川貴之山岸順一
出願日 2018年9月21日 (2年3ヶ月経過) 出願番号 2018-177252
公開日 2020年3月26日 (8ヶ月経過) 公開番号 2020-044265
状態 未査定
技術分野 放射線診断機器
主要キーワード 変圧器方式 平行グリッド 簡易モデル 通常密度 グリッド移動 X線吸収 非接触入力 滅菌キャップ
関連する未来課題
重要な関連分野

この項目の情報は公開日時点(2020年3月26日)のものです。
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図面 (13)

課題

手技に応じて、グリッドの適切な使用を可能とすること。

解決手段

実施形態に係るX線診断装置は、X線発生部と、X線絞りと、X線検出部と、グリッドと、設定部と、グリッド移動制御部とを備える。X線発生部は、X線を発生する。X線絞りは、発生したX線を絞り込んで被検体照射させる。X線検出部は、前記被検体を透過したX線を検出する。グリッドは、前記X線検出部に対して移動可能であり、前記被検体を透過したX線の散乱線成分を除去する。グリッド移動制御部は、機構系の配置に基づいて、前記X線検出部からの前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。

概要

背景

X線診断装置は、収集するX線画像データ画質を向上させるため、被検体を透過したX線散乱線成分を除去するグリッドを備える。ここで、手技によっては散乱線が生じにくく、グリッドが必要ではない場合があるものの、手技ごとにグリッドを着脱することは容易ではない。

概要

手技に応じて、グリッドの適切な使用を可能とすること。実施形態に係るX線診断装置は、X線発生部と、X線絞りと、X線検出部と、グリッドと、設定部と、グリッド移動制御部とを備える。X線発生部は、X線を発生する。X線絞りは、発生したX線を絞り込んで被検体に照射させる。X線検出部は、前記被検体を透過したX線を検出する。グリッドは、前記X線検出部に対して移動可能であり、前記被検体を透過したX線の散乱線成分を除去する。グリッド移動制御部は、機構系の配置に基づいて、前記X線検出部からの前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。

目的

本発明が解決しようとする課題は、手技に応じて、グリッドの適切な使用を可能とすることである

効果

実績

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請求項1

X線を発生するX線発生部と、発生したX線を絞り込んで被検体照射させるX線絞りと、前記被検体を透過したX線を検出するX線検出部と、前記X線検出部に対して移動可能であり、前記被検体を透過したX線の散乱線成分を除去するグリッドと、機構系の配置に基づいて、前記X線検出部からの前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御するグリッド移動制御部とを備える、X線診断装置

請求項2

前記グリッド移動制御部は、前記被検体と前記グリッドとが接触しないように、前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する、請求項1に記載のX線診断装置。

請求項3

前記X線発生部、前記X線絞り、前記X線検出部及び前記グリッドを含んだ第1の撮像系とは異なる第2の撮像系を更に備え、前記グリッド移動制御部は、前記第2の撮像系と前記グリッドとが接触しないように、前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する、請求項1又は2に記載のX線診断装置。

請求項4

前記グリッド移動制御部は、前記被検体を載置する寝台と、前記グリッドとが接触しないように、前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する、請求項1〜3のいずれか一項に記載のX線診断装置。

請求項5

前記グリッド移動制御部は、前記X線発生部及び前記X線検出部を保持する保持装置と、前記グリッドとが接触しないように、前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する、請求項1〜4のいずれか一項に記載のX線診断装置。

請求項6

前記グリッド移動制御部は、前記配置の変化に応じて、前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を変化させる、請求項1〜5のいずれか一項に記載のX線診断装置。

請求項7

前記グリッド移動制御部は、前記配置が変化している間に、前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を変化させる、請求項6に記載のX線診断装置。

請求項8

前記グリッド移動制御部は、前記配置が変化する前に前記グリッドの飛び出しの量が最小となるように制御し、前記配置が変化した後に前記グリッドの飛び出しの量が増加するように制御する、請求項6に記載のX線診断装置。

請求項9

前記グリッド移動制御部は、機構系の配置に基づいて前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御し、制御後の前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方に基づいて、設定可能なX線照射領域を特定する、請求項1〜8のいずれか一項に記載のX線診断装置。

請求項10

前記グリッド移動制御部は、前記グリッドの飛び出しの量及び方向の組み合わせごとに設定可能なX線照射領域を特定し、当該X線照射領域と前記配置とに基づいて前記組み合わせのうちいずれかを選択し、選択した組み合わせに基づいて前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する、請求項1〜8のいずれか一項に記載のX線診断装置。

請求項11

前記グリッド移動制御部は、前記X線検出部における検出面に垂直な軸を回転軸として前記X線検出部及び前記グリッドを一体的に回転させることにより、前記グリッドの飛び出しの方向を制御する、請求項1〜10のいずれか一項に記載のX線診断装置。

技術分野

0001

本発明の実施形態は、X線診断装置に関する。

背景技術

0002

X線診断装置は、収集するX線画像データ画質を向上させるため、被検体を透過したX線散乱線成分を除去するグリッドを備える。ここで、手技によっては散乱線が生じにくく、グリッドが必要ではない場合があるものの、手技ごとにグリッドを着脱することは容易ではない。

先行技術

0003

特開2009−011488号公報

発明が解決しようとする課題

0004

本発明が解決しようとする課題は、手技に応じて、グリッドの適切な使用を可能とすることである。

課題を解決するための手段

0005

実施形態に係るX線診断装置は、X線発生部と、X線絞りと、X線検出部と、グリッドと、設定部と、グリッド移動制御部とを備える。X線発生部は、X線を発生する。X線絞りは、発生したX線を絞り込んで被検体に照射させる。X線検出部は、前記被検体を透過したX線を検出する。グリッドは、前記X線検出部に対して移動可能であり、前記被検体を透過したX線の散乱線成分を除去する。グリッド移動制御部は、機構系の配置に基づいて、前記X線検出部からの前記グリッドの飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。

図面の簡単な説明

0006

図1は、第1の実施形態に係るX線診断装置の構成の一例を示すブロック図である。
図2Aは、第1の実施形態に係るX線検出器の一例を示す図である。
図2Bは、第1の実施形態に係るX線検出器の一例を示す図である。
図2Cは、第1の実施形態に係るX線検出器及びグリッドの一例を示す図である。
図2Dは、第1の実施形態に係るX線検出器及びグリッドの一例を示す図である。
図2Eは、第1の実施形態に係るX線検出器及びグリッドの一例を示す図である。
図3は、第1の実施形態に係るグリッドの飛び出しの量について説明するための図である。
図4Aは、第1の実施形態に係る機構系の配置の変化について説明するための図である。
図4Bは、第1の実施形態に係る機構系の配置の変化について説明するための図である。
図5は、第1の実施形態に係るX線診断装置の処理の一連の流れを説明するためのフローチャートである。
図6Aは、第2の実施形態に係る設定可能なX線照射範囲について説明するための図である。
図6Bは、第2の実施形態に係る設定可能なX線照射範囲について説明するための図である。

実施例

0007

以下、図面を参照して、X線診断装置の実施形態について詳細に説明する。

0008

(第1の実施形態)
まず、第1の実施形態に係るX線診断装置1について、図1を用いて説明する。図1は、第1の実施形態に係るX線診断装置1の構成の一例を示すブロック図である。図1に示すように、X線診断装置1は、X線高電圧装置11と、X線管12と、X線絞り器13と、天板14と、Cアーム15と、X線検出器16と、グリッド17と、メモリ18と、ディスプレイ19と、入力インターフェース20と、処理回路21とを備える。

0009

X線高電圧装置11は、処理回路21による制御の下、X線管12に高電圧を供給する。例えば、X線高電圧装置11は、変圧器トランス)及び整流器等の電気回路を有し、X線管12に印加する高電圧を発生する高電圧発生装置と、X線管12が照射するX線に応じた出力電圧の制御を行うX線制御装置とを有する。なお、高電圧発生装置は、変圧器方式であってもよいし、インバータ方式であってもよい。

0010

X線管12は、熱電子を発生する陰極フィラメント)と、熱電子の衝突を受けてX線を発生する陽極ターゲット)とを有する真空管である。X線管12は、X線高電圧装置11から供給される高電圧を用いて、陰極から陽極に向けて熱電子を照射することにより、X線を発生する。なお、X線管12は、X線発生部の一例である。

0011

X線絞り器13は、X線管12により発生されたX線の照射範囲を絞り込むコリメータを有する。即ち、X線絞り器13は、X線管12により発生されたX線を絞り込んで被検体Pに照射させる。また、X線絞り器13は、X線管12により発生されたX線を調節するフィルタを有する。なお、X線絞り器13は、X線絞りの一例である。

0012

X線絞り器13におけるコリメータは、例えば、スライド可能な4枚の絞り羽根を有する。コリメータは、絞り羽根をスライドさせることで、X線管12が発生したX線を絞り込んで被検体Pに照射させる。ここで、絞り羽根は、鉛などで構成された板状部材であり、X線の照射範囲を調整するためにX線管12のX線照射口付近に設けられる。

0013

X線絞り器13におけるフィルタは、被検体Pに対する被曝線量の低減とX線画像データの画質向上を目的として、その材質や厚みによって透過するX線の線質を変化させ、被検体Pに吸収されやすい軟線成分を低減したり、X線画像データのコントラスト低下を招く高エネルギー成分を低減したりする。また、フィルタは、その材質や厚み、位置などによってX線の線量及び照射範囲を変化させ、X線管12から被検体Pへ照射されるX線が予め定められた分布になるようにX線を減衰させる。

0014

例えば、X線絞り器13は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路21による制御の下、駆動機構を動作させることによりX線の照射を制御する。例えば、X線絞り器13は、処理回路21から受け付け制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、コリメータの絞り羽根の開度を調整して、被検体Pに対して照射されるX線の照射範囲を制御する。また、例えば、X線絞り器13は、処理回路21から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、フィルタの位置を調整することで、被検体Pに対して照射されるX線の線量の分布を制御する。

0015

天板14は、被検体Pを載せるベッドであり、図示しない寝台駆動装置の上に配置される。なお、被検体Pは、X線診断装置1に含まれない。例えば、寝台駆動装置は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路21による制御の下、駆動機構を動作させることにより、天板14の移動・傾斜を制御する。例えば、寝台駆動装置は、処理回路21から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、天板14を移動させたり、傾斜させたりする。なお、以下では、被検体Pを載置する装置を寝台とも記載する。寝台は、例えば、天板14や寝台駆動装置を含む。

0016

Cアーム15は、X線管12及びX線絞り器13と、X線検出器16及びグリッド17とを、被検体Pを挟んで対向するように保持する。例えば、Cアーム15は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路21による制御の下、駆動機構を動作させることにより、回転したり移動したりする。例えば、Cアーム15は、処理回路21から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、X線管12及びX線絞り器13と、X線検出器16及びグリッド17とを被検体Pに対して回転・移動させ、X線の照射位置照射角度を制御する。なお、図1では、X線診断装置1がシングルプレーンの場合を例に挙げて説明しているが、実施形態はこれに限定されるものではなく、バイプレーンの場合であってもよい。また、Cアーム15は、保持装置の一例である。

0017

X線検出器16は、例えば、マトリクス状に配列された検出素子を有するX線平面検出器(Flat Panel Detector:FPD)である。X線検出器16は、X線管12から照射されて被検体Pを透過したX線を検出して、検出したX線量に対応した検出信号を処理回路21へと出力する。なお、X線検出器16は、X線検出部の一例である。

0018

ここで、X線検出器16は、複数の第1検出素子によりX線を検出する第1検出領域と、第1検出素子より微細な複数の第2検出素子によりX線を検出する第2検出領域とを有する。即ち、X線検出器16は、通常密度の第1検出領域と、高精細の第2検出領域とを有するハイブリッド検出器である。ここで、第1検出領域と第2検出領域とは重複してもよい。例えば、第1検出領域の一部が、第2検出領域であってもよい。なお、X線検出器16の構成については後に詳述する。

0019

グリッド17は、被検体Pを透過したX線の散乱線成分を除去する。例えば、グリッド17は、被検体PとX線検出器16との間に配置され、グリッド17を透過するX線から散乱線成分を除去する。

0020

例えば、グリッド17は、X線を吸収する複数の金属板鉛箔等)を、隙間を設けつつ平行に配置して構成される平行グリッドである。この場合、各金属板X線照射方向とが平行となるようにグリッド17を配置することで、散乱線は金属板により吸収され、散乱線以外のX線(X線管12から照射されたX線)は金属板の隙間を通ってX線検出器16により検出される。

0021

なお、グリッド17は平行グリッドに限られるものではない。例えば、グリッド17は、複数の金属板をX線焦点に向けて傾斜させた状態で配置した集束グリッドであってもよい。また、グリッド17は、複数の金属板の間を隙間とするのではなく、X線吸収の少ない中間物質により充填してもよい。即ち、グリッド17は、X線を吸収する金属板と、X線吸収の少ない中間物質とを交互に配置して構成されてもよい。

0022

メモリ18は、例えば、RAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子ハードディスク光ディスク等により実現される。例えば、メモリ18は、処理回路21によって収集されたX線画像データを受け付けて記憶する。また、メモリ18は、処理回路21によって読み出されて実行される各種機能に対応するプログラムを記憶する。なお、メモリ18は、X線診断装置1とネットワークを介して接続されたサーバ群クラウド)により実現されることとしてもよい。

0023

ディスプレイ19は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ19は、処理回路21による制御の下、操作者の指示を受け付けるためのGUI(Graphical User Interface)や、各種のX線画像を表示する。例えば、ディスプレイ19は、液晶ディスプレイやCRT(Cathode Ray Tube)ディスプレイである。なお、ディスプレイ19はデスクトップ型でもよいし、処理回路21と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。

0024

入力インターフェース20は、操作者からの各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作を電気信号に変換して処理回路21に出力する。例えば、入力インターフェース20は、マウスキーボードトラックボール、スイッチ、ボタンジョイスティック、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチスクリーン光学センサを用いた非接触入力回路音声入力回路等により実現される。なお、入力インターフェース20は、処理回路21と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。また、入力インターフェース20は、マウスやキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、X線診断装置1とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を処理回路21へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース20の例に含まれる。

0025

処理回路21は、制御機能211、設定機能212、収集機能213、グリッド移動制御機能214及び表示制御機能215を実行することで、X線診断装置1全体の動作を制御する。ここで、グリッド移動制御機能214は、グリッド移動制御部の一例である。

0026

例えば、処理回路21は、メモリ18から制御機能211に相当するプログラムを読み出して実行することにより、入力インターフェース20を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、処理回路21の各種機能を制御する。また、制御機能211は、X線診断装置1と他の装置との間におけるデータの送受信を制御する。例えば、制御機能211は、収集されたX線画像データを、図示しない画像保管装置に対して送信する。

0027

また、処理回路21は、メモリ18から設定機能212に相当するプログラムを読み出して実行することにより、被検体Pに対するX線の照射領域を設定する。例えば、設定機能212は、被検体Pの検査対象部位に応じて、被検体Pに対するX線の照射領域を設定する。ここで、設定機能212は、HIS(Hospital Information System)等のシステムから被検体Pの検査対象部位を自動取得してもよいし、操作者から検査対象部位の入力操作を受け付けてもよい。また、設定機能212は、操作者からX線の照射領域の入力操作を受け付けることにより、X線の照射領域を設定してもよい。なお、X線の照射領域については、FOV(Field of View)とも記載する。

0028

また、処理回路21は、メモリ18から収集機能213に相当するプログラムを読み出して実行することにより、X線画像データを収集する。例えば、収集機能213は、X線高電圧装置11を制御し、X線管12に供給する電圧を調整することで、被検体Pに対して照射されるX線量やオンオフを制御する。

0029

また、収集機能213は、設定機能212により設定されたX線の照射領域に応じて、X線診断装置10の機構系を制御する。ここで、X線診断装置10の機構系には、例えば、X線絞り器13やCアーム15、寝台等が含まれる。例えば、収集機能213は、X線絞り器13の動作を制御し、コリメータが有する絞り羽根の開度を調整することで、X線管12により発生されたX線の照射範囲を絞り込む。また、収集機能213は、X線絞り器13の動作を制御し、フィルタの位置を調整することで、X線の線量の分布を制御する。また、収集機能213は、Cアーム15の動作を制御することで、Cアーム15を回転させたり、移動させたりする。また、例えば、収集機能213は、寝台の動作を制御することで、天板14を移動させたり、傾斜させたりする。

0030

また、収集機能213は、X線検出器16から受信した検出信号に基づいてX線画像データを生成し、生成したX線画像データをメモリ18に格納する。また、収集機能213は、メモリ18が記憶するX線画像データに対して各種画像処理を行なってもよい。例えば、収集機能213は、X線画像データに対して、画像処理フィルタによるノイズ低減処理や、散乱線補正を実行する。

0031

また、処理回路21は、メモリ18からグリッド移動制御機能214に相当するプログラムを読み出して実行することにより、グリッド17を退避させるか否かを判定する。また、グリッド17を退避させると判定した場合、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置に基づいて、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。なお、グリッド移動制御機能214による処理については後に詳述する。また、処理回路21は、メモリ18から表示制御機能215に相当するプログラムを読み出して実行することにより、ディスプレイ19にGUIやX線画像を表示させる。

0032

図1に示すX線診断装置1においては、各処理機能コンピュータによって実行可能なプログラムの形態でメモリ18へ記憶されている。処理回路21は、メモリ18からプログラムを読み出して実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路21は、読み出したプログラムに対応する機能を有することとなる。なお、図1においては、制御機能211、設定機能212、収集機能213、グリッド移動制御機能214及び表示制御機能215の各処理機能が単一の処理回路21によって実現される場合を示したが、実施形態はこれに限られるものではない。例えば、処理回路21は、複数の独立したプロセッサを組み合わせて構成され、各プロセッサが各プログラムを実行することにより各処理機能を実現するものとしても構わない。また、処理回路21が有する各処理機能は、単一又は複数の処理回路に適宜に分散又は統合されて実現されてもよい。

0033

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、あるいは、特定用途向け集積回路(Application Specific IntegratedCircuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサはメモリ18に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。

0034

また、図1においては、単一のメモリ18が各処理機能に対応するプログラムを記憶するものとして説明した。しかしながら、複数のメモリ18を分散して配置し、処理回路21は、個別のメモリ18から対応するプログラムを読み出す構成としても構わない。また、メモリ18にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。

0035

また、処理回路21は、ネットワークを介して接続された外部装置のプロセッサを利用して、機能を実現することとしてもよい。例えば、処理回路21は、メモリ18から各機能に対応するプログラムを読み出して実行するとともに、X線診断装置1とネットワークを介して接続されたサーバ群(クラウド)を計算資源として利用することにより、図1に示す各機能を実現する。

0036

次に、図2Aを用いて、X線検出器16の一例について説明する。図2Aは、第1の実施形態に係るX線検出器16の一例を示す図である。図2Aに示すように、X線検出器16は、第1の光検出器161と、第2の光検出器162と、シンチレータ163とを有する。また、第1の光検出器161とシンチレータ163とにより、第1の検出器164が構成される。また、第2の光検出器162とシンチレータ163とにより、第2の検出器165が構成される。なお、図2Aにおいては、X線検出器16の検出面に垂直な方向をZ方向とし、検出面上で相互に直交する方向をX方向及びY方向とする。

0037

シンチレータ163は、X線管12から照射されたX線を光に変換する。例えば、X線管12は+Z方向にX線を照射し、シンチレータ163は、第1の光検出器161を透過したX線を光に変換する。

0038

第1の光検出器161は、例えば、アモルファスシリコンにより形成されたTFT(Thin Film Transistor)アレイを採用した2次元イメージセンサを備え、シンチレータ163によって変換された光を検出して検出信号(電気信号)を出力する。第2の光検出器162は、例えば、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)トランジスタを採用した2次元のイメージセンサを備え、シンチレータ163によって変換された光を検出して検出信号を出力する。即ち、シンチレータ163は、第1の検出器164及び第2の検出器165によって共用される。

0039

また、第1の光検出器161及び第2の光検出器162は、それぞれ、複数の検出素子から構成される。これら検出素子は、それぞれ、シンチレータ163によって変換された光を検出して検出信号を出力する。なお、以下では、第1の光検出器161を構成する検出素子を第1検出素子とも記載する。また、以下では、第2の光検出器162を構成する検出素子を第2検出素子とも記載する。図2Aに示すように、第2の光検出器162を構成する第2検出素子は、第1の光検出器161を構成する第1検出素子より微細である。即ち、第2の検出器165は、第1の検出器164と比較して高精細の検出器である。

0040

また、図2Aに示すように、X線検出器16は、第1検出領域R1と、第2検出領域R2とを有する。第1検出領域R1は、第1の検出器164の視野であって、複数の第1検出素子によりX線を検出することが可能な領域である。また、第2検出領域R2は、第2の検出器165の視野であって、複数の第2検出素子によりX線を検出することが可能な領域である。

0041

ここで、第1検出領域R1は、図2Bに示すように、X線検出器16の検出面の略全域に対応する矩形領域である。また、第2検出領域R2は、図2Bに示すように、X線検出器16の検出面のうち中央の一部に対応する矩形領域である。なお、図2Bは、第1の実施形態に係るX線検出器16の一例を示す図である。以下では、図2A及び図2Bに示したように、第1検出領域R1が第2検出領域R2より広い領域である場合について説明する。

0042

次に、図2Cを用いて、X線検出器16に対するグリッド17の配置について説明する。図2Cは、X線検出器16の全面に対してグリッド17が重畳するように、グリッド17を配置する場合を示す。例えば、図2Cに示すようにグリッド17を配置した後、X線管12は、+Z方向に向けてX線を照射する。この場合、X線管12から照射されたX線は、X線絞り器13によって絞り込まれ、被検体Pを透過し、グリッド17によって散乱線成分が除去された後、X線検出器16により検出される。なお、図2Cは、第1の実施形態に係るX線検出器16及びグリッド17の一例を示す図である。

0043

ここで、グリッド17は、X線検出器16に対して移動可能に構成される。一例を挙げると、グリッド17は、X線検出器16の検出面に対して平行にスライド移動可能となるようレールによって保持されるとともに、スライド移動のための機構を備える。ここで、スライド移動のための機構の例としては、例えば、図2Dに示すように、ラックアンドピニオンが挙げられる。なお、図2Dは、第1の実施形態に係るX線検出器16及びグリッド17の一例を示す図である。図2Dは、グリッド17がX線検出器16から−X方向に飛び出した状態を示す。

0044

具体的には、図2Dに示す場合、グリッド17は、円形歯車ピニオンとして有するとともに、ピニオンを回転させるためのモータ等を有する。なお、図2Dに示す場合、グリッド17は、2つのピニオンを有する。これら2つのピニオンは、1つのモータ等により回転される場合であってもよいし、ピニオンごとに設けられたモータ等により回転される場合であってもよい。

0045

また、X線検出器16は、グリッド17のピニオンに嵌合するラックを有する。この場合、グリッド17は、処理回路21による制御の下、ピニオンが回転することによって、X線検出器16に対して移動する。例えば、グリッド17は、ピニオンが右回り時計回り)に回転することによって、X線検出器16に対して+X方向に移動する。

0046

一例を挙げると、グリッド17は、図2Cに示した状態(X線検出器16から飛び出していない状態)から、ピニオンが左回りに回転することによってX線検出器16に対して−X方向に移動し、図2Dの位置まで移動する。更に、グリッド17は、ピニオンが右回りに回転することによってX線検出器16に対して+X方向に移動し、X線検出器16から飛び出していない状態を経て、図2Eの位置まで移動する。なお、図2Eは、第1の実施形態に係るX線検出器16及びグリッド17の一例を示す図である。

0047

上述したラック及びピニオンは、それぞれ、X線検出器16及びグリッド17の1辺にのみ設けられてもよいし、対向する2辺に設けられてもよい。また、グリッド17にラックが設けられ、X線検出器16にピニオンが設けられる場合であってもよい。また、グリッド17のスライド移動のための機構はラックアンドピニオンに限定されるものではなく、X線検出器16に対してグリッド17をスライド移動させることが可能な任意の機構を採用することができる。

0048

また、X線検出器16に対してグリッド17をスライド移動させるものとして説明したが、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、X線検出器16の検出面に垂直であり、かつ、X線検出器16及びグリッド17の端部を通る軸を回転軸として回転可能にグリッド17を構成することとしてもよい。また、例えば、グリッド17をアームにより保持し、X線検出器16に対して任意の方向に移動可能に構成することとしてもよい。

0049

なお、X線診断装置1は、X線検出器16及びグリッド17を覆うキャップ滅菌キャップ等)を更に有する場合であってもよい。このキャップは、例えば、X線検出器16に対してグリッド17が移動し、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しが生じた場合に、グリッド17の飛び出しを許容できるよう伸縮可能に構成される。また、例えば、キャップは、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しが生じた場合に、X線検出器16から飛び出したグリッド17を収納するポケットを有する。

0050

以上、X線診断装置1の構成について説明した。かかる構成のもと、X線診断装置1は、手技に応じて、グリッド17の適切な使用を可能とする。

0051

まず、設定機能212は、被検体Pに対するX線の照射領域を設定する。例えば、設定機能212は、被検体Pの検査対象部位に応じて、被検体Pに対するX線の照射領域を設定する。また、例えば、設定機能212は、操作者からX線の照射領域の入力操作を受け付けることにより、X線の照射領域を設定する。

0052

ここで、手技によっては散乱線が生じにくく、グリッド17が不要である場合がある。例えば、X線の照射領域が狭い場合、X線絞り器13がX線を絞り込むことによって散乱線が低減され、グリッド17を用いずとも十分な画質のX線画像データを得られる場合がある。一例を挙げると、被検体Pの検査対象部位が小さい場合、設定機能212は、検査対象部位のサイズに応じてX線の照射領域を狭い範囲に設定する。別の例を挙げると、第2の検出器165を用いて高精細のX線画像データを収集する場合、設定機能212は、第2検出領域R2のサイズに応じて、X線の照射領域を狭い範囲に設定する。

0053

また、例えば、被検体Pが小児である場合や体厚が十分に薄い場合、被検体Pを透過する際にX線が散乱されにくく、グリッド17を用いずとも十分な画質のX線画像データを得られる場合がある。また、例えば、被検体Pの手や足の検査である場合のように、検査対象部位の厚みが小さい場合、検査対象部位を透過する際にX線が散乱されにくく、グリッド17を用いずとも十分な画質のX線画像データを得られる場合がある。

0054

グリッド17が不要な手技である場合、グリッド移動制御機能214は、グリッド17をX線の照射領域から退避させると判定する。なお、以下では、第2検出領域R2にX線が照射されるようにX線の照射領域が設定され、グリッド移動制御機能214が、グリッド17をX線の照射領域から退避させると判定した場合について説明する。

0055

次に、グリッド移動制御機能214は、グリッド17をX線検出器16に対して移動させて、X線の照射領域から退避させる。例えば、グリッド移動制御機能214は、図2D及び図2Eに示したピニオンを回転させることにより、X線検出器16に対してグリッド17をスライド移動させて、第2検出領域R2からグリッド17を退避させる。ここで、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置に基づいて、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。

0056

具体的には、まず、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置を取得する。一例を挙げると、グリッド移動制御機能214は、Cアーム15の移動及び回転を制御する収集機能213から、Cアーム15の配置を取得する。ここで、Cアーム15の配置は、例えば、X線診断装置1が設置された部屋の床等を基準とした基準座標系において、Cアーム15の位置及び角度を示す情報である。また、グリッド移動制御機能214は、天板14の移動及び傾斜を制御する収集機能213から、天板14の配置を取得する。天板14の配置は、例えば、基準座標系において、天板14の位置及び角度を示す情報である。

0057

次に、グリッド移動制御機能214は、Cアーム15の配置に基づいて、Cアーム15により保持されるX線検出器16の配置を取得する。ここで、X線検出器16の配置は、例えば、基準座標系においてX線検出器16の位置及び角度を示す情報である。また、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16の配置、及び、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向に基づいて、グリッド17の配置を取得する。ここで、グリッド17の配置は、例えば、基準座標系においてグリッド17の位置及び角度を示す情報である。

0058

また、グリッド移動制御機能214は、天板14の配置に基づいて、天板14に載置される被検体Pの配置を取得する。ここで、被検体Pの配置は、例えば、基準座標系において被検体Pの位置及び角度を示す情報である。一例を挙げると、グリッド移動制御機能214は、天板14の上面から所定の高さの位置を被検体Pの位置として取得し、天板14の角度を被検体Pの角度として取得する。

0059

次に、グリッド移動制御機能214は、取得した機構系の配置に基づいて、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。例えば、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置に基づいて、グリッド17と、X線診断装置1における他の構成及び被検体Pとの接触が生じないようにグリッド17を移動させて、グリッド17をX線の照射領域から退避させる。

0060

まず、グリッド17の飛び出しの方向を制御する場合について説明する。例えば、グリッド移動制御機能214は、グリッド17と、X線診断装置1における他の構成及び被検体Pとの接触が生じないように、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの方向を制御する。

0061

一例を挙げると、グリッド移動制御機能214は、まず、X線検出器16から+X方向にグリッド17が飛び出した場合におけるグリッド17の配置を、基準座標系において算出する。即ち、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16から+X方向にグリッド17が飛び出した場合を仮定して、+X方向に飛び出したグリッド17の配置を基準座標系において算出する。次に、グリッド移動制御機能214は、+X方向に飛び出したグリッド17が占める領域を基準座標系において算出する。

0062

また、グリッド移動制御機能214は、Cアーム15の配置に基づいて、Cアーム15が占める領域を基準座標系において算出する。また、グリッド移動制御機能214は、天板14の配置に基づいて、寝台が占める領域を基準座標系において算出する。即ち、グリッド移動制御機能214は、天板14と、寝台のうち天板14以外の非可動部(寝台駆動装置等)とが占める領域を基準座標系において算出する。

0063

また、グリッド移動制御機能214は、被検体Pの配置に基づいて、被検体Pが占める領域を基準座標系において算出する。例えば、グリッド移動制御機能214は、被検体Pを表す簡易モデル(所定サイズの半円柱など)が占める領域を、被検体Pが占める領域として算出する。また、例えば、グリッド移動制御機能214は、被検体Pの患者情報(例えば、年齢性別、体重、身長等)に基づいて被検体Pの体型に合わせた患者モデルを取得し、取得した患者モデルが占める領域を、被検体Pが占める領域として算出する。なお、患者モデルは、例えば、年齢、性別、体重、身長といった体格に関わるパラメータの組み合わせごとに事前に生成されて、メモリ18に格納される。この場合、グリッド移動制御機能214は、被検体Pの患者情報に基づいて、被検体Pの体型に合わせた患者モデルをメモリ18から取得することができる。なお、グリッド移動制御機能214は、被検体Pの患者情報をHIS等のシステムから被検体Pの患者情報を自動取得してもよいし、操作者から患者情報の入力操作を受け付けてもよい。

0064

次に、グリッド移動制御機能214は、Cアーム15、寝台及び被検体Pが占める領域と、+X方向に飛び出したグリッド17が占める領域とが重複を生じるか否かを判定する。ここで重複を生じる場合、グリッド移動制御機能214は、+X方向に飛び出したグリッド17が、Cアーム15、寝台及び被検体Pと接触すると判定する。一方で、重複を生じない場合、グリッド移動制御機能214は、+X方向に飛び出したグリッド17が、Cアーム15、寝台及び被検体Pと接触しないと判定する。同様に、グリッド移動制御機能214は、−X方向に飛び出したグリッド17が、Cアーム15、寝台及び被検体Pと接触するか否かを判定する。

0065

そして、グリッド移動制御機能214は、判定の結果に基づいて、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの方向を制御し、グリッド17をX線の照射領域から退避させる。例えば、Cアーム15、寝台及び被検体Pに対して、+X方向に飛び出したグリッド17は接触を生じ、−X方向に飛び出したグリッド17は接触を生じないと判定した場合、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16から−X方向にグリッド17が飛び出すようにグリッド17を退避させる。ここで、X線検出器16からグリッド17が飛び出す量については、グリッド17をX線の照射領域から退避させることができ、かつ、X線検出器16に対してグリッド17を移動させる機構(ラックアンドピニオン等)により実現可能な任意の量を選択することができる。

0066

次に、グリッド17の飛び出しの量を制御する場合について説明する。例えば、グリッド移動制御機能214は、グリッド17と、X線診断装置1における他の構成及び被検体Pとの接触が生じないように、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量を制御する。

0067

例えば、グリッド移動制御機能214は、まず、X線検出器16から+X方向に長さ「L1」だけグリッド17が飛び出した場合におけるグリッド17の配置を、基準座標系において算出する。即ち、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16から長さ「L1」だけグリッド17が飛び出した場合を仮定して、長さ「L1」だけ飛び出したグリッド17の配置を基準座標系において算出する。なお、以下では、グリッド17のうちX線検出器16から飛び出した部分の長さを、飛び出し長さとも記載する。飛び出し長さは、グリッド17の飛び出しの量の一例である。

0068

ここで、長さ「L1」は、飛び出し長さの一例であって、グリッド17をX線の照射領域から退避させるために必要な最小値である。例えば、長さ「L1」は、図3に示すように、第2検出領域R2とグリッド17とが重畳せず、かつ、第2検出領域R2とグリッド17とが近接する位置までグリッド17を移動させた場合における飛び出し長さである。なお、図3は、第1の実施形態に係るグリッド17の飛び出しの量について説明するための図である。

0069

次に、グリッド移動制御機能214は、+X方向に長さ「L1」だけ飛び出したグリッド17が占める領域を基準座標系において算出する。同様に、グリッド移動制御機能214は、+X方向に長さ「L2」、「L3」・・・「LN」だけ飛び出したグリッド17のそれぞれについて、グリッド17が占める領域を基準座標系において算出する。ここで、長さ「L2」、「L3」・・・「LN」は、飛び出し長さの一例である。例えば、長さ「L1」、「L2」、「L3」・・・「LN」は順に大きくなる値とする。また、長さ「LN」は、X線検出器16からグリッド17が飛び出すことのできる最大値とする。例えば、長さ「LN」は、X線検出器16に対してグリッド17を移動させる機構(ラックアンドピニオン等)によって実現可能な最大値である。また、グリッド移動制御機能214は、Cアーム15、寝台及び被検体Pのそれぞれが占める領域を基準座標系において算出する。

0070

次に、グリッド移動制御機能214は、飛び出し長さごとに、Cアーム15、寝台及び被検体Pが占める領域と、グリッド17が占める領域とが重複を生じるか否かを判定する。即ち、グリッド移動制御機能214は、+X方向に長さ「L1」、「L2」、「L3」・・・「LN」だけ飛び出したグリッド17のそれぞれについて、Cアーム15、寝台及び被検体Pが占める領域と、グリッド17が占める領域とが重複を生じるか否かを判定する。これにより、グリッド移動制御機能214は、長さ「L1」、「L2」、「L3」・・・「LN」のそれぞれについて、グリッド17と、Cアーム15、寝台及び被検体Pとの接触が生じるか否かを判定する。

0071

例えば、グリッド移動制御機能214は、長さ「L3」・・・「LN」だけ飛び出したグリッド17のそれぞれについて、Cアーム15、寝台及び被検体Pとの接触が生じると判定する。即ち、グリッド移動制御機能214は、飛び出し長さが「L3」以上となる場合に、グリッド17と、Cアーム15、寝台及び被検体Pとの接触が生じると判定する。そして、グリッド移動制御機能214は、判定の結果に基づいて、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量を決定する。

0072

なお、グリッド17と、Cアーム15、寝台及び被検体Pとの接触が生じないと判定した飛び出し長さが複数ある場合、グリッド移動制御機能214は、例えば、操作者から選択操作を受け付けることで、グリッド17の飛び出しの量を決定する。例えば、長さ「L1」だけ飛び出したグリッド17、及び、長さ「L2」だけ飛び出したグリッド17のいずれについても接触を生じないと判定した場合、グリッド移動制御機能214は、長さ「L1」及び長さ「L2」のいずれか一方を選択する操作を受け付けて、グリッド17の飛び出しの量を決定する。或いは、グリッド移動制御機能214は、接触を生じないと判定した飛び出し長さのうちの最大値等を、グリッド17の飛び出しの量として自動的に決定してもよい。

0073

そして、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量を制御し、グリッド17をX線の照射領域から退避させる。例えば、長さ「L2」をグリッド17の飛び出しの量として決定した場合、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16から長さ「L2」だけグリッド17が飛び出すように、グリッド17を退避させる。

0074

これまで、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの方向を制御する場合、及び、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量を制御する場合について説明した。しかしながら、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量、及び、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの方向の双方を制御する場合であってもよい。

0075

例えば、グリッド移動制御機能214は、+X方向に長さ「L1」、「L2」、「L3」・・・「LN」だけ飛び出したグリッド17のそれぞれについて、Cアーム15、寝台及び被検体Pとの接触を生じるか否かを判定する。更に、グリッド移動制御機能214は、−X方向に長さ「L1」、「L2」、「L3」・・・「LN」だけ飛び出したグリッド17のそれぞれについて、Cアーム15、寝台及び被検体Pとの接触を生じるか否かを判定する。ここで、例えば、−X方向に長さ「L1」だけ飛び出したグリッド17のみ接触を生じないと判定した場合、グリッド移動制御機能214は、−X方向をグリッド17の飛び出しの方向として決定し、長さ「L1」をグリッド17の飛び出しの量として決定する。そして、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16から−X方向に長さ「L1」だけグリッド17が飛び出すように、グリッド17を退避させる。

0076

グリッド移動制御機能214がグリッド17を退避させた後、収集機能213は、X線管12からX線を発生させて、X線画像データを収集する。ここで、X線管12から発生したX線は、X線絞り器13により絞り込まれて被検体Pに照射される。また、被検体Pを透過したX線は、グリッド17を透過することなく、第2の検出器165によって検出される。ここで、検出されるX線は、グリッド17による散乱線成分の除去を受けていないものの、X線絞り器13により絞り込まれることで散乱線成分が低減されている。更に、収集機能213は、第2の検出器165から出力された検出信号に基づいてX線画像データを生成し、生成したX線画像データをメモリ18に格納する。ここで、生成されたX線画像データは、第2の検出器165により検出された検出信号に基づく高精細のX線画像データである。

0077

なお、グリッド17を退避させることなくX線画像データを収集することも考えられる。しかしながら、この場合、収集されるX線画像データにグリッド17が写りこむ場合がある。即ち、収集されるX線画像データに、グリッド17によるアーチファクトが生じる場合がある。特に、第2の検出器165を用いて収集された高精細のX線画像データにおいては、グリッド17によるアーチファクトが生じやすい。一方、グリッド17によるアーチファクトが生じない程度までグリッド17の構造を微細化することは、製造コストの増加や強度の低下を招くおそれがある。これに対し、グリッド移動制御機能214は、第2の検出器165を用いて高精細のX線画像データを収集する場合等、散乱線が生じにくい条件下においてはグリッド17をX線の照射領域から退避させることにより、グリッド17によるアーチファクトの発生を回避することができる。

0078

ここで、グリッド17を退避させた後、機構系の配置が変化する場合がある。例えば、図4Aに示す配置において第1のX線画像データを収集した後、図4Bに示すように配置を変化させて、第2のX線画像データを収集する場合がある。この場合、グリッド移動制御機能214は、配置の変化に応じて、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を変化させる。なお、図4A及び図4Bは、第1の実施形態に係る機構系の配置の変化について説明するための図である。

0079

具体的には、収集機能213は、まず、図4Aに示すように、グリッド17を−X方向に退避させた状態でX線管12からX線を発生させ、第1のX線画像データを収集する。次に、収集機能213は、Cアーム15を回転させる。これによって、図4Bに示すように、Cアーム15により保持されるX線管12、X線絞り器13、X線検出器16及びグリッド17は、被検体P及び天板14に対して移動及び回転する。また、X線管12の移動及び回転によって、図4Bに示すように、X線の照射領域も変化する。

0080

ここで、第1のX線画像データの収集時におけるグリッド17の飛び出しの量及び方向を維持したままCアーム15を回転させると、図4Bに示すように、グリッド17と、被検体P及び寝台との接触が生じる可能性がある。そこで、グリッド移動制御機能214は、配置の変化に応じて、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を変化させることにより、グリッド17と、被検体P及び寝台との接触を回避する。例えば、グリッド移動制御機能214は、図4Bの矢印に示す方向(+X方向)にグリッド17を移動させ、グリッド17の飛び出しの方向を−X方向から+X方向に変化させることにより、グリッド17と、被検体P及び寝台との接触を回避する。

0081

一例を挙げると、グリッド移動制御機能214は、図4Aに示す配置において第1のX線画像データが収集された後、機構系の配置が変化する前に、グリッド17の飛び出しの量が最小となるように制御する。例えば、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置が変化する前に、グリッド17が図2Cに示した状態(X線検出器16から飛び出していない状態)となるように制御する。これにより、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置が変化している間において、X線検出器16から飛び出したグリッド17と、被検体P及び寝台との接触を回避することができる。

0082

次に、収集機能213は、機構系の配置を変化させる。例えば、収集機能213は、Cアーム15を回転させて、機構系の配置を図4Aに示した状態から図4Bに示した状態に変化させる。そして、機構系の配置が変化した後、グリッド移動制御機能214は、グリッド17の飛び出しの量が増加するように制御する。例えば、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置が変化した後、X線検出器16から飛び出していない状態のグリッド17を+X方向に移動させて、図4Bに示す位置に退避させる。これにより、グリッド移動制御機能214は、グリッド17と被検体P及び寝台との接触を回避しつつも、図4Bに示す配置において第2のX線画像データを収集する際、X線の照射領域からグリッド17を退避させることができる。

0083

別の例を挙げると、グリッド移動制御機能214は、図4Aに示す配置において第1のX線画像データが収集された後、機構系の配置が変化している間に、グリッド17を移動させる。即ち、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置が変化している間に、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を変化させる。

0084

例えば、グリッド移動制御機能214は、収集機能213によるCアーム15の回転と並行して、図4Bの矢印に示す方向(+X方向)にグリッド17を移動させる。ここで、グリッド移動制御機能214は、順次変化するCアーム15の配置を順次取得する。また、グリッド移動制御機能214は、Cアーム15の配置に基づいて、Cアーム15により保持されるX線検出器16の配置を順次算出する。また、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16の配置、及び、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向に基づいて、グリッド17の配置を順次算出する。即ち、グリッド移動制御機能214は、グリッド17の現在の配置を順次算出する。

0085

また、グリッド移動制御機能214は、順次算出したグリッド17の配置に基づいて、グリッド17と、被検体P及び寝台との距離を順次算出する。即ち、グリッド移動制御機能214は、グリッド17の現在の配置に基づいて、グリッド17と、被検体P及び寝台との現在の距離を順次算出する。以下では、グリッド17と、被検体P及び寝台との現在の距離を、距離y1と記載する。より具体的には、距離y1は、グリッド17における各位置と、被検体P及び寝台における各位置との間の距離のうち、最短の距離である。なお、距離y1は、機構系の配置の変化及びグリッド17の移動により変化する値である。

0086

そして、グリッド移動制御機能214は、算出した距離y1に基づいて、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を変化させる。一例を挙げると、グリッド移動制御機能214は、距離y1と、閾値T1、及び、閾値T1より小さい閾値T2とを比較し、比較の結果に応じて、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を変化させる。

0087

具体的には、グリッド移動制御機能214は、収集機能213がCアーム15を回転させている間、距離y1を順次算出する。ここで、距離y1が閾値T1よりも大きい場合、グリッド移動制御機能214は、グリッド17を+X方向に移動させる。一方で、距離y1が閾値T1以下である場合、グリッド移動制御機能214は、グリッド17の移動速度を低下させる。ここで、距離y1が再度閾値T1よりも大きくなった場合、グリッド移動制御機能214は、グリッド17の移動速度を増加させる。また、距離y1が閾値T2以下である場合、グリッド移動制御機能214は、グリッド17の移動を停止させ、或いは、グリッド17を−X方向に移動させる。ここで、距離y1が再度閾値T2よりも大きくなった場合、グリッド移動制御機能214は、グリッド17を+X方向に移動させる。

0088

上述したように、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置が変化している間において、距離y1に応じてグリッド17の移動速度や移動方向を変化させて、グリッド17と、被検体P及び寝台との接触を回避する。例えば、グリッド移動制御機能214は、距離y1に応じてグリッド17の移動速度や移動方向を変化させつつ、グリッド17を図4Bに示す位置まで移動させる。これにより、グリッド移動制御機能214は、グリッド17と被検体P及び寝台との接触を回避しつつも、図4Bに示す配置において第2のX線画像データを収集する際、X線の照射領域からグリッド17を退避させることができる。

0089

また、上述したように、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置が変化している間に、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を変化させる。これにより、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置が変化している間に、グリッド17の移動の一部又は全部を完了することができる。即ち、グリッド移動制御機能214は、グリッド17をX線の照射領域から退避させるために要する時間を短縮することができる。

0090

次に、X線診断装置1による処理の手順の一例を、図5を用いて説明する。図5は、第1の実施形態に係るX線診断装置1の処理の一連の流れを説明するためのフローチャートである。ステップS101、ステップS102、ステップS103及びステップS104は、グリッド移動制御機能214に対応するステップである。ステップS105及びステップS106は、収集機能213に対応するステップである。なお、図5では、第1のX線画像データを収集した後、第2のX線画像データを収集するまでの処理について説明する。

0091

まず、処理回路21は、X線の照射領域からグリッド17を退避させた状態で第1のX線画像データを収集した後、機構系の配置を変化させるか否かを判定する(ステップS101)。ここで、配置を変化させる場合(ステップS101肯定)、処理回路21は、配置が変化することで、グリッド17と、被検体P及び寝台との接触が生じるか否かを判定する(ステップS102)。

0092

ここで、接触が生じると判定した場合(ステップS102肯定)、処理回路21は、グリッド17の制御及び機構系の配置の制御を行なう(ステップS103)。例えば、処理回路21は、グリッド17の飛び出しの量が最小となるように制御し、機構系の配置を変化させた後、グリッド17の飛び出しの量が増加するように制御する。また、例えば、処理回路21は、機構系の配置を変化させている間に、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を変化させる。これにより、処理回路21は、グリッド17と、被検体P及び寝台との接触を回避しつつ、X線の照射領域からグリッド17を退避させる。

0093

一方で、接触が生じないと判定した場合(ステップS102否定)、処理回路21は、機構系の配置の制御を行なう(ステップS104)。即ち、処理回路21は、グリッド17の飛び出しの量及び方向を変化させることなく、機構系の配置のみを変化させる。これにより、処理回路21は、X線の照射領域から退避した状態のまま、グリッド17を維持する。

0094

機構系の配置を変化させない場合(ステップS101否定)、或いは、ステップS103又はステップS104の後、処理回路21は、被検体Pに対してX線を照射する(ステップS105)。そして、処理回路21は、X線検出器16から出力された検出信号に基づいてX線画像データを生成し(ステップS106)、処理を終了する。

0095

上述したように、第1の実施形態によれば、X線管12は、X線を発生する。また、X線絞り器13は、発生したX線を絞り込んで被検体Pに照射させる。また、X線検出器16は、被検体Pを透過したX線を検出する。また、グリッド17は、X線検出器16に対して移動可能であり、被検体Pを透過したX線の散乱線成分を除去する。また、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置に基づいて、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。従って、第1の実施形態に係るX線診断装置1は、手技に応じて、グリッド17の適切な使用を可能とすることができる。

0096

即ち、X線診断装置1は、散乱線が生じにくい手技においては、機構系の配置に基づいてX線の照射領域からグリッド17を退避させる。これにより、X線診断装置1は、グリッド17と他の構成及び被検体Pとの接触を回避しつつ、収集されるX線画像データにおいてグリッド17によるアーチファクトの発生を回避することができる。

0097

また、X線管12が発生するX線量を一定として、グリッド17を退避させない場合とグリッド17を退避させる場合とを比較すると、グリッド17を退避させない場合、グリッド17により吸収されるX線の分だけX線検出器16に入射するX線量が低下し、X線画像データの画質が低下する。或いは、X線検出器16に入射するX線量を一定として、グリッド17を退避させない場合とグリッド17を退避させる場合とを比較すると、グリッド17を退避させない場合、グリッド17により吸収されるX線の分だけ被検体Pの被ばく量が増加することとなる。これに対して、X線診断装置1は、散乱線が生じにくい手技においてグリッド17を退避させることにより、X線検出器16に入射するX線量を増加させてX線画像データの画質を向上させ、或いは、X線管12が発生するX線量を減少させて被検体Pの被ばく量を低減することができる。

0098

また、X線管12が発生するX線量には上限が設けられる場合がある。ここで、グリッド17を退避させない場合、X線検出器16に入射するX線量が不十分となる場合がある。即ち、グリッド17を退避させない場合、グリッド17により吸収されるX線の分だけX線検出器16に入射するX線量が低下し、十分な画質のX線画像データが得られない場合がある。特に、第2の検出器165を用いて高精細のX線画像データを収集する場合、第2検出素子それぞれのサイズが小さいことから、入射するX線量が不十分となりやすい。これに対して、X線診断装置1は、散乱線が生じにくい手技においてグリッド17を退避させることにより、X線検出器16に入射するX線量が不十分となることを回避することができる。

0099

一方で、X線診断装置1は、散乱線が生じやすい手技においては、X線の照射領域からグリッド17を退避させず、グリッド17を用いてX線画像データを収集する。即ち、X線診断装置1は、散乱線が生じやすい手技においてはグリッド17を用いて散乱線の影響を低減し、X線画像データの画質を向上させることができる。換言すると、X線診断装置1は、手技に応じて、適切なグリッド17の使用状態を実現することができる。

0100

また、上述したように、第1の実施形態に係るX線診断装置1は、機構系の配置に基づいて、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。即ち、X線診断装置1は、操作者がグリッド17を退避させるための操作を行なわずとも、機構系の配置に基づいてグリッド17を退避させることができる。

0101

例えば、X線診断装置1は、操作者によってX線の照射領域が設定された後、機構系の配置に基づいて、グリッド17を自動で退避させる。即ち、操作者は、単一のユーザーインタフェース(UI:User Interface)を用いて、X線の照射領域の設定及びグリッド17の退避を簡便に行なうことができる。或いは、被検体Pの検査対象部位等に基づいてX線診断装置1がX線の照射領域を設定する場合、X線診断装置1は、X線の照射領域の設定及びグリッド17の退避に関する操作者の操作を省略することができる。

0102

また、上述したように、第1の実施形態に係るX線診断装置1は、機構系の配置の変化に応じて、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を変化させる。従って、X線診断装置1は、X線画像データの収集が複数回行なわれる場合においても、グリッド17の使用状態を随時変化させて、グリッド17の適切な使用を可能とすることができる。

0103

また、上述したように、第1の実施形態に係るX線診断装置1は、機構系の配置が変化している間に、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を変化させる。従って、X線診断装置1は、機構系の配置が変化している間にグリッド17の移動の一部又は全部を完了させて、グリッド17をX線の照射領域から退避させるために要する時間を短縮することができる。

0104

なお、これまで、Cアーム15、寝台及び被検体Pと、グリッド17とが接触しないように、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではない。

0105

例えば、X線診断装置1は、図1のX線管12、X線絞り器13、X線検出器16及びグリッド17を含んだ撮像系(以下、第1の撮像系)に加えて、第1の撮像系と異なる撮像系(以下、第2の撮像系)を更に備える。この場合、グリッド移動制御機能214は、第2の撮像系とグリッド17とが接触しないように、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。

0106

一例を挙げると、X線診断装置1は、バイプレーンであってもよい。例えば、X線診断装置1は、第2の撮像系として、図示しないX線管12a、X線絞り器13a、Cアーム15a、X線検出器16a及びグリッド17aを更に備える。Cアーム15aは、X線管12a及びX線絞り器13aと、X線検出器16a及びグリッド17aとを、被検体Pを挟んで対向するように保持する。この場合、グリッド移動制御機能214は、X線管12a、X線絞り器13a、Cアーム15a、X線検出器16a及びグリッド17aと、グリッド17とが接触しないように、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。ここで、第1の撮像系がF(Frontal)側の撮像系で第2の撮像系がL(Lateral)側の撮像系であってもよいし、第1の撮像系がL側の撮像系で第2の撮像系がF側の撮像系であってもよい。なお、L(Lateral)側の撮像系におけるアームは、Ωアームとも呼ばれる。

0107

別の例を挙げると、X線診断装置1は、デュアルプレーンであってもよい。例えば、X線診断装置1は、第2の撮像系として、図示しないX線管12b、X線絞り器13b、Cアーム15b、X線検出器16b及びグリッド17bを更に備える。例えば、第1の撮像系は、循環器検査用に大視野のX線検出器16を含み、第2の撮像系は、頭部の検査用に小視野のX線検出器16を含む。この場合、グリッド移動制御機能214は、X線管12b、X線絞り器13b、Cアーム15b、X線検出器16b及びグリッド17bと、グリッド17とが接触しないように、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。

0108

別の例を挙げると、X線診断装置1は、X線画像データを収集する第1の撮像系に加えて、X線画像データ以外の医用画像データを収集する第2の撮像系を更に備えてもよい。例えば、X線診断装置1は、アンギオ装置X線CT(Computed Tomography)装置とが一体化されたAngio-CT装置であってもよい。この場合、グリッド移動制御機能214は、CTスキャンを実行する架台装置と、グリッド17とが接触しないように、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。

0109

(第2の実施形態)
上述した第1の実施形態では、X線照射領域を設定し、設定されたX線照射領域からグリッド17を退避させように、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する場合について説明した。これに対し、第2の実施形態では、X線照射領域を設定する前にグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御し、制御後のグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方に基づいて、設定可能なX線照射領域を特定する場合について説明する。

0110

第2の実施形態に係るX線診断装置1は、図1に示した第1の実施形態に係るX線診断装置1と同様の構成を有し、グリッド移動制御機能214が行なう制御の一部が相違する。第1の実施形態において説明した構成と同様の構成を有する点については、図1と同一の符号を付し、説明を省略する。

0111

まず、グリッド移動制御機能214は、X線画像データの収集においてグリッド17を用いるか否かを判定する。例えば、グリッド移動制御機能214は、被検体Pが小児である場合や、被検体Pの体厚が十分に薄い場合、検査対象部位の厚みが小さい場合、グリッド17を用いない旨の入力操作を操作者から受け付けた場合等において、グリッド17を用いずにX線画像データを収集すると判定する。

0112

次に、グリッド移動制御機能214は、機構系の配置に基づいて、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。例えば、グリッド移動制御機能214は、X線診断装置1における他の構成及び被検体Pと接触しない範囲において、グリッド17の飛び出しの量が最大となるように、X線検出器16に対してグリッド17を移動させる。

0113

次に、グリッド移動制御機能214は、制御後のグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方に基づいて、設定可能なX線照射領域を特定する。即ち、グリッド17を用いずX線画像データを収集するためには、グリッド17とX線検出器16とが重複している領域をX線照射領域として設定することはできないため、グリッド17の飛び出しの量及び方向に応じて設定可能なX線照射領域は変化する。例えば、X線検出器16から−X方向に長さ「l1」だけグリッド17が飛び出した場合、設定可能なX線照射領域は、図6Aにて斜線で示す領域となる。また、X線検出器16から−X方向に長さ「l2」だけグリッド17が飛び出した場合、設定可能なX線照射領域は、図6Bにて斜線で示す領域となる。なお、図6A及び図6Bは、第2の実施形態に係る設定可能なX線照射範囲について説明するための図である。

0114

例えば、グリッド移動制御機能214は、グリッド17の飛び出しの量及び方向に基づいて、設定可能なX線照射領域を算出する。また、例えば、グリッド移動制御機能214は、グリッド17の飛び出しの量及び方向に対してX線照射領域を関連付けたテーブルD1から、設定可能なX線照射領域を読み出す。かかるテーブルD1は、例えば、X線診断装置1又は他の装置により事前に生成されて、メモリ18に格納される。

0115

次に、表示制御機能215は、設定可能なX線照射領域をディスプレイ19に表示させる。一例を挙げると、表示制御機能215は、図6A及び図6Bに示したように、X線検出器16とグリッド17との位置関係を示す画像をディスプレイ19に表示させる。別の例を挙げると、表示制御機能215は、X線検出器16とグリッド17との位置関係を示す画像と、被検体Pを示す画像(被検体Pを撮像したX線画像等)との重畳画像をディスプレイ19に表示させる。

0116

そして、設定機能212は、被検体Pに対するX線照射領域を設定する。例えば、設定機能212は、設定可能なX線照射領域を参照した操作者から、設定可能なX線照射領域のうち一部又は全部を指定する操作を受け付けることにより、X線照射領域を設定する。また、収集機能213は、設定されたX線照射領域に対してX線を照射させて、X線画像データを収集する。

0117

上述したように、第2の実施形態に係るグリッド移動制御機能214は、機構系の配置に基づいてグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御し、制御後のグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方に基づいて、設定可能なX線照射領域を特定する。従って、第2の実施形態に係るX線診断装置1は、グリッド17を退避させた上で設定可能なX線照射領域を操作者に提示し、X線照射領域の設定を支援することができる。

0118

(第3の実施形態)
上述した第2の実施形態では、グリッド17を移動させた後、グリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方に基づいて、設定可能なX線照射領域を特定する場合について説明した。これに対し、第3の実施形態では、グリッド17を移動させる前に、グリッド17の飛び出しの量及び方向の組み合わせごとに設定可能なX線照射領域を特定し、特定したX線照射領域に基づいて組み合わせのうちいずれかを選択し、選択した組み合わせに基づいてX線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する場合について説明する。

0119

第3の実施形態に係るX線診断装置1は、図1に示した第1の実施形態に係るX線診断装置1と同様の構成を有し、グリッド移動制御機能214が行なう制御の一部が相違する。第1の実施形態において説明した構成と同様の構成を有する点については、図1と同一の符号を付し、説明を省略する。

0120

まず、グリッド移動制御機能214は、X線画像データの収集においてグリッド17を用いるか否かを判定する。例えば、グリッド移動制御機能214は、被検体Pが小児である場合や、被検体Pの体厚が十分に薄い場合、検査対象部位の厚みが小さい場合、グリッド17を用いない旨の入力操作を操作者から受け付けた場合等において、グリッド17を用いずにX線画像データを収集すると判定する。

0121

次に、グリッド移動制御機能214は、グリッド17の飛び出しの量及び方向の組み合わせごとに、設定可能なX線照射領域を特定する。即ち、グリッド17を用いずX線画像データを収集するためには、グリッド17とX線検出器16とが重複している領域をX線照射領域として設定することはできないため、グリッド17の飛び出しの量及び方向に応じて設定可能なX線照射領域は変化する。例えば、X線検出器16から−X方向に長さ「l1」だけグリッド17が飛び出した場合、設定可能なX線照射領域は、図6Aにて斜線で示した領域となる。また、X線検出器16から−X方向に長さ「l2」だけグリッド17が飛び出した場合、設定可能なX線照射領域は、図6Bにて斜線で示した領域となる。

0122

例えば、グリッド移動制御機能214は、図6Aの組み合わせ(−X方向及び長さ「l1」の組み合わせ)、及び、図6Bの組み合わせ(−X方向及び長さ「l2」の組み合わせ)を含む複数の組み合わせのそれぞれについて、設定可能なX線照射領域を特定する。一例を挙げると、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16に対してグリッド17を移動させる機構(ラックアンドピニオン等)により実現可能な組み合わせのそれぞれについて、設定可能なX線照射領域を算出する。別の例を挙げると、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16に対してグリッド17を移動させる機構により実現可能な組み合わせのそれぞれについて、上述したテーブルD1から設定可能なX線照射領域を読み出す。

0123

次に、グリッド移動制御機能214は、特定したX線照射領域と機構系の配置とに基づいて、複数の組み合わせのうちいずれかを選択する。例えば、グリッド移動制御機能214は、まず、機構系の配置に基づいて、グリッド17と、X線診断装置1における他の構成(Cアーム15、寝台等)及び被検体Pとの接触が生じるか否かを判定する。即ち、グリッド移動制御機能214は、グリッド17の飛び出しの量及び方向の組み合わせごとに、各組み合わせに従ってグリッド17を移動させた場合に、グリッド17と、他の構成及び被検体Pとの接触が生じるか否かを判定する。

0124

次に、グリッド移動制御機能214は、接触が生じないと判定した複数の組み合わせのうち、いずれかを選択する。例えば、グリッド移動制御機能214は、複数の組み合わせそれぞれについて特定したX線照射領域のうちいずれかを選択する操作を操作者から受け付けることにより、組み合わせを選択する。

0125

例えば、まず、表示制御機能215は、X線照射領域をディスプレイ19に表示させる。一例を挙げると、表示制御機能215は、図6A及び図6Bに示したように、X線検出器16とグリッド17との位置関係を示す画像をディスプレイ19に表示させる。別の例を挙げると、表示制御機能215は、X線検出器16とグリッド17との位置関係を示す画像と、被検体Pを示す画像との重畳画像をディスプレイ19に表示させる。

0126

次に、操作者は、入力インターフェース20を介して、表示されたX線照射領域のうちいずれかを選択する操作を入力する。一例を挙げると、第2の検出器165を用いて高精細のX線画像データを収集する場合、操作者は、図6Bに示すように第2検出領域R2を含むX線照射領域を選択する。

0127

なお、操作者は、表示されたX線照射領域のうちいずれをも選択しない場合であってもよい。例えば、第2の検出器165を用いて高精細のX線画像データを収集する場合において、第2検出領域R2を含むX線照射領域が表示されていない場合、操作者は、表示されたX線照射領域のうちいずれをも選択しない旨の入力操作を行なう。また、操作者は、Cアーム15等の機構系の配置を変更して、被検体Pに対するX線の照射位置や照射角度を変更する。その後、グリッド移動制御機能214は、変更された機構系の配置に基づいて、グリッド17の飛び出しの量及び方向の組み合わせごとに設定可能なX線照射領域を再度特定する。また、表示制御機能215は、設定可能なX線照射領域をディスプレイ19に再度表示させる。

0128

そして、グリッド移動制御機能214は、操作者により選択されたX線照射領域に対応する組み合わせに基づいて、X線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。例えば、操作者が図6Bに示したX線照射領域を選択した場合、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16からグリッド17が−X方向に長さ「l2」だけ飛び出すように、グリッド17を移動させる。そして、グリッド移動制御機能214がグリッド17を退避させた後、収集機能213は、X線管12からX線を発生させて、X線画像データを収集する。

0129

上述したように、第3の実施形態に係るグリッド移動制御機能214は、グリッド17の飛び出しの量及び方向の組み合わせごとに設定可能なX線照射領域を特定し、特定したX線照射領域と、機構系の配置とに基づいて組み合わせのうちいずれかを選択し、選択した組み合わせに基づいてX線検出器16からのグリッド17の飛び出しの量及び方向のうち少なくとも一方を制御する。従って、第3の実施形態に係るX線診断装置1は、グリッド17を退避させることを考慮して設定可能なX線照射領域を特定し、X線照射領域の設定を支援することができる。

0130

(第4の実施形態)
さて、これまで第1〜3の実施形態について説明したが、上述した第1〜3の実施形態以外にも、種々の異なる形態にて実施されてよいものである。

0131

上述した実施形態では、グリッド17がX線検出器16に対して2方向(+X方向及び−X方向)に移動可能である場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、グリッド17は、X線検出器16に対して3方向以上に移動可能であってもよい。

0132

また、X線検出器16及びグリッド17は、X線検出器16の検出面に垂直な軸(Z軸)を回転軸として一体的に回転可能に構成されてもよい。この場合、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16及びグリッド17を一体的に回転させることにより、グリッド17の飛び出しの方向を制御することができる。例えば、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16及びグリッド17を一体的に回転させることにより、グリッド17の飛び出しの方向を変化させて、グリッド17と、他の構成及び被検体Pとの接触を回避することができる。

0133

一例を挙げると、X線検出器16の検出面の形状が長方形であり、X線検出器16に対してグリッド17が+X方向にのみ移動可能であり、グリッド17が+X方向に退避すると他の構成及び被検体Pとの接触を生じる場合において、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16及びグリッド17を「180°」回転させる。これにより、グリッド移動制御機能214は、グリッド17が退避する方向を変化させ、他の構成及び被検体Pとの接触を回避することができる。なお、X線検出器16及びグリッド17が「180°」回転することにより、収集機能213が収集するX線画像データも「180°」回転する。ここで、収集機能213は、画像処理により、X線検出器16及びグリッド17の回転前後で収集されたX線画像データの向きを揃えることができる。

0134

別の例を挙げると、X線検出器16の検出面の形状が正方形であり、X線検出器16に対してグリッド17が+X方向にのみ移動可能であり、グリッド17が+X方向に退避すると他の構成及び被検体Pとの接触を生じる場合において、グリッド移動制御機能214は、X線検出器16及びグリッド17を「90°」回転させる。これにより、グリッド移動制御機能214は、グリッド17が退避する方向を「90°」変化させ、他の構成及び被検体Pとの接触を回避することができる。なお、X線検出器16及びグリッド17が「90°」回転することにより、収集機能213が収集するX線画像データも「90°」回転する。ここで、収集機能213は、画像処理により、X線検出器16及びグリッド17の回転前後で収集されたX線画像データの向きを揃えることができる。同様に、グリッド移動制御機能214は、グリッド17が退避する方向を「180°」変化させてもよいし、グリッド17が退避する方向を「270°」変化させてもよい。

0135

また、上述した実施形態では、X線絞りの例として、X線管12により発生されたX線の照射範囲を絞り込むコリメータと、X線管12により発生されたX線を調節するフィルタとを有するX線絞り器13について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、X線診断装置1は、X線絞りとして、コリメータを備える場合であってもよい。

0136

また、上述した実施形態では、X線検出部の例として、第1の光検出器161、第2の光検出器162及びシンチレータ163を備えたX線検出器16について説明した。即ち、上述した実施形態では、X線検出部の例として、通常密度の第1検出領域R1と、高精細の第2検出領域R2とを有するハイブリッド検出器について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではない。例えば、X線診断装置1は、X線検出部として、第1の光検出器161及びシンチレータ163から構成される第1の検出器164を備えてもよい。また、例えば、X線診断装置1は、X線検出部として、第2の光検出器162及びシンチレータ163から構成される第2の検出器165を備えてもよい。また、例えば、X線診断装置1は、X線検出部として、入射したX線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器を備えてもよい。

0137

上述した実施形態に係る各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷使用状況などに応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。更に、各装置にて行われる各処理機能は、その全部又は任意の一部が、CPU及び当該CPUにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現されうる。

0138

また、上述した実施形態で説明した制御方法は、予め用意された制御プログラムパーソナルコンピュータワークステーション等のコンピュータで実行することによって実現することができる。この制御プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布することができる。また、この制御プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスクFD)、CD−ROM、MO、DVD等のコンピュータで読み取り可能な非一過性記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行することもできる。

0139

以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、手技に応じて、グリッドの適切な使用を可能とすることができる。

0140

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

0141

1X線診断装置
12X線管
13X線絞り器
16X線検出器
17グリッド
21処理回路
211制御機能
212設定機能
213収集機能
214グリッド移動制御機能
215 表示制御機能

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