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図面 (8)

課題

試験時間の短縮が可能な試験装置を提供する。

解決手段

複数の波長帯の信号を出力する第1被試験物および第2被試験物から出力される信号を用いて、第1および第2被試験物について第1項目の試験を行う第1試験部と、第1および第2被試験物から出力される信号を用いて、第1および第2被試験物について第2項目の試験を行う第2試験部と、試験の順番を制御する制御部と、を具備し、制御部は、第1期間に、第1の波長帯の信号を用い、第1試験部が第1および第2被試験物について第1項目の試験を順に行い、並行して、第2試験部が第2および第1被試験物について第2項目の試験を順に行い、第1期間後の第2期間に、第2の波長帯の信号を用い、第1試験部が第1および第2被試験物について第1項目の試験を順に行い、並行して、第2試験部が第2および第1被試験物について第2項目の試験を順に行うように制御する試験装置。

概要

背景

光信号を出力する発光装置の特性について、試験装置を用いた試験が行われる(例えば特許文献1)。発光装置が光信号を出力し、試験装置が光信号を用いて、試験項目ごとに試験を行う。

概要

試験時間の短縮が可能な試験装置を提供する。複数の波長帯の信号を出力する第1被試験物および第2被試験物から出力される信号を用いて、第1および第2被試験物について第1項目の試験を行う第1試験部と、第1および第2被試験物から出力される信号を用いて、第1および第2被試験物について第2項目の試験を行う第2試験部と、試験の順番を制御する制御部と、を具備し、制御部は、第1期間に、第1の波長帯の信号を用い、第1試験部が第1および第2被試験物について第1項目の試験を順に行い、並行して、第2試験部が第2および第1被試験物について第2項目の試験を順に行い、第1期間後の第2期間に、第2の波長帯の信号を用い、第1試験部が第1および第2被試験物について第1項目の試験を順に行い、並行して、第2試験部が第2および第1被試験物について第2項目の試験を順に行うように制御する試験装置。

目的

そこで、試験時間の短縮が可能な試験装置を提供することを目的とする

効果

実績

技術文献被引用数
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牽制数
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請求項1

それぞれ複数の波長帯の信号を出力する第1被試験物および第2被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第1被試験物および前記第2被試験物について第1項目試験を行う第1試験部と、前記第1被試験物および前記第2被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第1被試験物および前記第2被試験物について第2項目の試験を行う第2試験部と、前記第1試験部および前記第2試験部が行う試験の順番を制御する制御部と、を具備し、前記制御部は、第1期間に、前記複数の波長帯のうち第1の波長帯の信号を用い、前記第1試験部が前記第1被試験物および前記第2被試験物それぞれについて前記第1項目の試験を順に行い、かつ前記第1試験部による試験と並行して、前記第2試験部が前記第2被試験物および前記第1被試験物それぞれについて前記第2項目の試験を順に行い、前記第1期間後の第2期間に、前記複数の波長帯のうち第2の波長帯の信号を用い、前記第1試験部が前記第1被試験物および前記第2被試験物それぞれについて前記第1項目の試験を順に行い、かつ前記第1試験部による試験と並行して、前記第2試験部が前記第2被試験物および前記第1被試験物それぞれについて前記第2項目の試験を順に行うように制御する試験装置

請求項2

前記第1被試験物および前記第2被試験物の少なくとも一方から前記複数の波長帯の信号が入力される複数の第1入力ポートと、前記第1試験部または前記第2試験部に接続される第1出力ポートとを有し、前記複数の第1入力ポートのうち1つを選択して前記第1出力ポートに接続する第1スイッチを具備し、前記制御部は、前記第1期間において前記第1出力ポートから前記第1の波長帯の信号が出力され、前記第2期間において前記第1出力ポートから前記第2の波長帯の信号が出力されるように前記第1スイッチを制御する請求項1に記載の試験装置。

請求項3

前記第1被試験物から前記複数の波長帯の信号のうち1つの波長帯の信号が入力する第2入力ポート、前記第2被試験物から前記1つの波長帯の信号が入力する第3入力ポート、前記第1試験部に接続された第2出力ポート、および前記第2試験部に接続された第3出力ポートを有する第2スイッチを具備し、前記制御部は、前記第1期間および前記第2期間のそれぞれにおいて、前記第2入力ポートと前記第2出力ポートとが接続され、かつ前記第3入力ポートと前記第3出力ポートとが接続された後、前記第2入力ポートと前記第3出力ポートとが接続され、かつ前記第3入力ポートと前記第2出力ポートとが接続されるように、前記第2スイッチを制御する請求項1または2に記載の試験装置。

請求項4

前記第1被試験物および前記第2被試験物は、光源から出力される光信号を受信する受信部を含み、前記波長帯ごとに前記受信部の試験を行う第3試験部を具備し、前記制御部は、前記第1期間に、前記第3試験部が前記第1の波長帯における前記第1被試験物および前記第2被試験物それぞれの前記受信部の試験を行い、前記第2期間に、前記第3試験部が前記第2の波長帯における前記第1被試験物および前記第2被試験物の前記受信部の試験を行うように制御する請求項1から3のいずれか一項に記載の試験装置。

請求項5

前記第1試験部および前記第2試験部のいずれか一方は光信号のパワーを測定するパワー測定部を含み、前記第1被試験物または前記第2被試験物から前記パワー測定部までの光信号の経路と少なくとも一部において同じ経路を伝播した光信号のパワーと、前記第1被試験物または前記第2被試験物から前記パワー測定部までの経路を伝播しない光信号のパワーとの差に基づいて、前記パワー測定部のパワーの測定結果補正する補正部と、を具備する請求項1から4のいずれか一項に記載の試験装置。

技術分野

0001

本発明は試験装置に関するものである。

背景技術

0002

光信号を出力する発光装置の特性について、試験装置を用いた試験が行われる(例えば特許文献1)。発光装置が光信号を出力し、試験装置が光信号を用いて、試験項目ごとに試験を行う。

先行技術

0003

特開2007−271590号公報

発明が解決しようとする課題

0004

例えば光トランシーバなどの装置は、複数の波長帯の光信号を出力する。試験装置は波長帯ごとに試験を行うものであるため、試験装置の設定を波長帯に応じたものに変更する。この結果、試験時間が長くなってしまう。

0005

そこで、試験時間の短縮が可能な試験装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段

0006

本発明に係る試験装置は、それぞれ複数の波長帯の信号を出力する第1被試験物および第2被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第1被試験物および前記第2被試験物について第1項目の試験を行う第1試験部と、前記第1被試験物および前記第2被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第1被試験物および前記第2被試験物について第2項目の試験を行う第2試験部と、前記第1試験部および前記第2試験部が行う試験の順番を制御する制御部と、を具備し、前記制御部は、第1期間に、前記複数の波長帯のうち第1の波長帯の信号を用い、前記第1試験部が前記第1被試験物および前記第2被試験物それぞれについて前記第1項目の試験を順に行い、かつ前記第1試験部による試験と並行して、前記第2試験部が前記第2被試験物および前記第1被試験物それぞれについて前記第2項目の試験を順に行い、前記第1期間後の第2期間に、前記複数の波長帯のうち第2の波長帯の信号を用い、前記第1試験部が前記第1被試験物および前記第2被試験物それぞれについて前記第1項目の試験を順に行い、かつ前記第1試験部による試験と並行して、前記第2試験部が前記第2被試験物および前記第1被試験物それぞれについて前記第2項目の試験を順に行うように制御するものである。

発明の効果

0007

上記発明によれば、試験時間の短縮が可能である。

図面の簡単な説明

0008

図1は試験装置を例示するブロック図である。
図2(a)および図2(b)は被試験物、分岐部、第1スイッチおよび第2スイッチを拡大したブロック図である。
図3(a)は受信部を例示するブロック図である。図3(b)は送信部を例示するブロック図である。
図4は試験装置による試験の順番を示す表である。
図5は試験装置による試験を示すフローチャートである。
図6は試験装置による試験を示すフローチャートである。
図7は光信号の損失の測定の際の試験装置を示すブロック図である。

0009

[本願発明の実施形態の説明]
最初に本願発明の実施形態の内容を列記して説明する。
本願発明の一形態は、(1)それぞれ複数の波長帯の信号を出力する第1被試験物および第2被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第1被試験物および前記第2被試験物について第1項目の試験を行う第1試験部と、前記第1被試験物および前記第2被試験物から出力される信号を用いて、前記波長帯ごとに、前記第1被試験物および前記第2被試験物について第2項目の試験を行う第2試験部と、前記第1試験部および前記第2試験部が行う試験の順番を制御する制御部と、を具備し、前記制御部は、第1期間に、前記複数の波長帯のうち第1の波長帯の信号を用い、前記第1試験部が前記第1被試験物および前記第2被試験物それぞれについて前記第1項目の試験を順に行い、かつ前記第1試験部による試験と並行して、前記第2試験部が前記第2被試験物および前記第1被試験物それぞれについて前記第2項目の試験を順に行い、前記第1期間後の第2期間に、前記複数の波長帯のうち第2の波長帯の信号を用い、前記第1試験部が前記第1被試験物および前記第2被試験物それぞれについて前記第1項目の試験を順に行い、かつ前記第1試験部による試験と並行して、前記第2試験部が前記第2被試験物および前記第1被試験物それぞれについて前記第2項目の試験を順に行うように制御する試験装置である。同一の波長帯における試験を連続して行い、その後に別の波長帯における試験を行うため、第1試験部および第2試験部の設定の回数が少なくなる。また第1試験部と第2試験部とを並行して稼働させる。この結果、試験時間の短縮が可能である。
(2)前記第1被試験物および前記第2被試験物の少なくとも一方から前記複数の波長帯の信号が入力される複数の第1入力ポートと、前記第1試験部または前記第2試験部に接続される第1出力ポートとを有し、前記複数の第1入力ポートのうち1つを選択して前記第1出力ポートに接続する第1スイッチを具備し、前記制御部は、前記第1期間において前記第1出力ポートから前記第1の波長帯の信号が出力され、前記第2期間において前記第1出力ポートから前記第2の波長帯の信号が出力されるように前記第1スイッチを制御してもよい。これにより、複数の波長帯のうちから1つの波長帯を選択し、当該波長帯における試験が可能である。
(3)前記第1被試験物から前記複数の波長帯の信号のうち1つの波長帯の信号が入力する第2入力ポート、前記第2被試験物から前記1つの波長帯の信号が入力する第3入力ポート、前記第1試験部に接続された第2出力ポート、および前記第2試験部に接続された第3出力ポートを有する第2スイッチを具備し、前記制御部は、前記第1期間および前記第2期間のそれぞれにおいて、前記第2入力ポートと前記第2出力ポートとが接続され、かつ前記第3入力ポートと前記第3出力ポートとが接続された後、前記第2入力ポートと前記第3出力ポートとが接続され、かつ前記第3入力ポートと前記第2出力ポートとが接続されるように、前記第2スイッチを制御してもよい。第1および第2被試験物と第1および第2試験部との接続を切り替えることで、試験項目の選択が可能である。
(4)前記第1被試験物および前記第2被試験物は、光源から出力される光信号を受信する受信部を含み、前記波長帯ごとに前記受信部の試験を行う第3試験部を具備し、前記制御部は、前記第1期間に、前記第3試験部が前記第1の波長帯における前記第1被試験物および前記第2被試験物それぞれの前記受信部の試験を行い、前記第2期間に、前記第3試験部が前記第2の波長帯における前記第1被試験物および前記第2被試験物の前記受信部の試験を行うように制御してもよい。同一の波長帯において第1被試験物および第2被試験部それぞれの送信試験および受信試験を連続で行うため、試験時間の短縮が可能である。
(5)前記第1試験部および前記第2試験部のいずれか一方は光信号のパワーを測定するパワー測定部を含み、前記第1被試験物または前記第2被試験物から前記パワー測定部までの光信号の経路と少なくとも一部において同じ経路を伝播した光信号のパワーと、前記第1被試験物または前記第2被試験物から前記パワー測定部までの経路を伝播しない光信号のパワーとの差に基づいて、前記パワー測定部のパワーの測定結果補正する補正部と、を具備してもよい。経路におけるパワーの損失に基づいてパワーの測定結果を補正することで、試験の精度が向上する。

0010

[本願発明の実施形態の詳細]
本発明の実施形態に係る試験装置の具体例を、以下に図面を参照しつつ説明する。なお、本発明はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

0011

(試験装置)
実施例1に係る試験装置100は、被試験物40aおよび40bの試験を行うものである。図1は試験装置100を例示するブロック図である。図1に示すように、試験装置100は、制御部10、分岐部12a、12b、18、24aおよび24b、第1スイッチ14aおよび14b、第2スイッチ16、試験部20a〜20f、光源22aおよび22b、減衰器25aおよび25b、合波部26aおよび26b、ハイパワー光源28、アンプ30、ならびに第3スイッチ32を備える。

0012

制御部10は例えばパーソナルコンピュータなどであり、CPU(Central Processing Unit、中央処理装置)などの処理装置、ならびにハードディスクドライブ(HDD:Hard Disc Drive)およびSSD(Solid State Drive)などの記憶部を有する。制御部10は例えば記憶部に記憶されたプログラムを実行することで、試験装置100による試験を制御する。具体的には、制御部10は例えば第1スイッチ14aおよび14b、第2スイッチ16におけるポートの接続を変更することができる。また制御部10は、試験部20a〜20dの波長帯に対する設定、および試験部20e、20fの試験を行うための光の経路(光源〜被試験物までの経路)の設定をすることができる。経路の設定とは例えば第3スイッチ32の経路およびポートの変更などである。

0013

光源22aから出力される光信号は例えば4つの波長帯を含む。分岐部24aは光源22aから入力される光信号を波長帯ごとに4つに分岐させ、減衰器25aに出力する。減衰器25aは4つの光信号を減衰させ、合波部26aに出力する。合波部26aは4つの光信号を1つの光信号として、第3スイッチ32に出力する。光源22b、分岐部24b、減衰器25b、合波部26bも同様に機能し、合波部26bは光信号を第3スイッチ32に出力する。

0014

ハイパワー光源28はアンプ30に光信号を出力し、アンプ30は光信号を増幅して第3スイッチ32に出力する。第3スイッチ32は、合波部26aから入力される光信号とアンプ30から入力される光信号を選択して光信号La0として被試験物40aに出力する。第3スイッチ32は、合波部26bから入力される光信号を選択して光信号Lb0として被試験物40bに出力する。

0015

(被試験物)
被試験物40aおよび40bは、例えばCFP(C Form-factor Pluggable)およびQSFP(Quad Small Form‐factor Pluggable)28などの規格に対応した光トランシーバである。被試験物40aおよび40bは、第3スイッチ32から光信号が入力され、かつ光信号を出力する。被試験物40aが出力する光信号Laおよび被試験物40bが出力する光信号Lbは、それぞれ4つの波長帯(第1の波長帯〜第4の波長帯)を含む信号である。

0016

図2(a)および図2(b)は被試験物、分岐部、第1スイッチおよび第2スイッチを拡大したブロック図である。図2(a)と図2(b)とでは、第2スイッチ16のポートの接続が異なる。

0017

図2(a)および図2(b)に示すように、被試験物40aは送信部42aおよび受信部44aを備え、被試験物40bは送信部42bおよび受信部44bを備える。受信部44aおよび44bは例えばROSA(Receiver Optical Subassembly)である。送信部42aおよび42bは例えばTOSA(Transmitter Optical Subassembly)である。

0018

図3(a)は受信部44aを例示するブロック図である。図3(a)に示すように、受信部44aは例えば分岐部45および4つの受光素子46を含む。分岐部45は、第3スイッチ32から入力される光信号La0を波長帯の異なる4つの光信号に分け、受光素子46に出力する。受光素子46は例えばフォトダイオードなどであり、光信号を電気信号に変換し出力する。受信部44bも受信部44aと同様の構成を有する。

0019

図3(b)は送信部42aを例示するブロック図である。図3(b)に示すように、送信部42aは例えば4つの発光素子41および合波部43を含む。発光素子41は例えば半導体レーザ素子などであり、電気信号を光信号に変換する。4つの発光素子41が出力する光信号の波長は互いに異なり、第1の波長帯〜第4の波長帯のそれぞれに対応する。合波部43は、4つの発光素子41から入力される4つの光信号を1つの光信号Laに合波し、出力する。送信部42bも送信部42aと同様の構成を有する。

0020

図2(a)および図2(b)に示すように、被試験物40aが出力する光信号をLa、被試験物40bが出力する光信号をLbとする。分岐部12aは、被試験物40aから入力される光信号Laを、波長帯の異なる4つの光信号La1〜La4に分ける。分岐部12bは、被試験物40bから入力される光信号Lbを、波長帯の異なる4つの光信号Lb1〜Lb4に分ける。

0021

(第1スイッチ)
第1スイッチ14aは、4つの入力ポートPa1〜Pa4、および1つの出力ポートPa5を有する。入力ポートPa1〜Pa4には、光信号La1〜La4のそれぞれが入力する。第1スイッチ14aは、入力ポートPa1〜Pa4のうち1つを選択して出力ポートPa5と接続することができる。出力ポートPa5からは、光信号La1〜La4のうち選択された入力ポートPa1〜Pa4に対応する光信号が出力される。第1スイッチ14bは、4つの入力ポートPb1〜Pb4、および1つの出力ポートPb5を有する。第1スイッチ14bは入力ポートPb1〜Pb4のうち1つを選択して出力ポートPb5と接続する。出力ポートPb5からは光信号Lb1〜Lb4のうち選択された入力ポートPb1〜Pb4に対応する光信号が出力される。

0022

このように、第1スイッチ14aは、被試験物40aの出力する光信号Laのうち1つの波長帯に対応した光信号(La1〜La4のいずれか)を出力する。第1スイッチ14bは、被試験物40bの出力する光信号Lbのうち1つの波長帯に対応した光信号(Lb1〜Lb4のいずれか)を出力する。図1に示した制御部10は、第1スイッチ14aおよび14bにおける、入力ポートと出力ポートとの接続を制御する。

0023

(第2スイッチ)
第2スイッチ16は2つの入力ポートP1およびP2、2つの出力ポートP3およびP4を備える。入力ポートP1は第1スイッチ14aの出力ポートPa5に接続され、入力ポートP2は第1スイッチ14bの出力ポートPb5に接続されている。第2スイッチ16は、入力ポートP1およびP2の一方を出力ポートP3およびP4の一方と接続し、入力ポートP1およびP2の他方を出力ポートP3およびP4の他方と接続する。

0024

図2(a)においては、入力ポートP1と出力ポートP3とが接続され、入力ポートP2と出力ポートP4とが接続されている。4つの光信号La1〜La4のうち1つが、第1スイッチ14aの出力ポートPa5から、第2スイッチ16の入力ポートP1に入力する。入力ポートP1に入力した光信号は、出力ポートP3から図1の試験部20aに入力する。4つの光信号Lb1〜Lb4のうち1つが、第1スイッチ14bの出力ポートPb5から、第2スイッチ16の入力ポートP2に入力する。入力ポートP2に入力した光信号は、出力ポートP4から図1の分岐部18に入力する。光信号は分岐部18において3つに分けられ、試験部20b〜20dに入力する。

0025

図2(b)においては、入力ポートP1と出力ポートP4とが接続され、入力ポートP2と出力ポートP3とが接続されている。4つの光信号La1〜La4のうち1つは、第1スイッチ14aの出力ポートPa5、第2スイッチ16の入力ポートP1および出力ポートP4を介して、図1の分岐部18に入力する。光信号は分岐部18において3つに分けられ、試験部20b〜20dに入力する。4つの光信号Lb1〜Lb4のうち1つが、第1スイッチ14bの出力ポートPb5、第2スイッチ16の入力ポートP2および出力ポートP3を介して、図1の試験部20aに入力する。

0026

このように、第2スイッチ16は、被試験物40aおよび40bの一方を試験部20aに接続し、被試験物40aおよび40bの他方を試験部20b〜20dに接続する。図1に示した制御部10は、第2スイッチ16における入力ポートの選択を制御する。

0027

(試験部)
図1に示すように、試験装置100は、試験項目に対応した複数の試験部20a〜20fを有する。試験部20a〜20fのそれぞれは、一回の試験において一台の被試験物の試験を行うものであり、二台の被試験物に対して同時に試験を行うものではない。また試験部20a〜20fは、波長帯ごとに試験を行う。試験部20a〜20dは被試験物の送信部の試験を行い、試験部20eおよび20fは受信部の試験を行う。

0028

試験部20a〜20dには、光信号La1〜Lb4のいずれかが入力する。試験部20aは波形測定器であり、光信号の波形の試験を行う。波形の試験は例えばマスク試験、消光比クロスポイントについての試験を含む。試験部20bは光スペクトラムアナライザであり、光信号の波長の試験を行う。波長の試験は例えば光信号の中心波長の測定を含む。試験部20cは光パワーメータであり、光信号のパワーの試験を行う。パワーの試験は例えば光信号の出力のモニタ、OMA(Optical Modulation Amplitude)、パワー誤差の試験などを含む。試験部20dは送信感度の試験を行うものであり、例えば光信号の誤り率を測定する。

0029

図1に示す電気信号SaおよびSbは被試験物の受信部が出力する電気信号である。試験部20eには被試験物40aから電気信号Saが入力し、試験部20eは電気信号Saを用いて被試験物40aの受信部44aの試験を行う。試験部20fには被試験物40bから電気信号Sbが入力し、試験部20fは電気信号Sbを用いて被試験物40bの受信部44bの試験を行う。受信部44aおよび44bの試験は、受信感度、信号のLOS(Loss of Signal)、パワー誤差などである。

0030

制御部10は、試験部20a〜20dの設定を波長帯ごとに変更する。例えば第1の波長帯の光信号La1またはLb1を用いて試験を行う場合、試験部20a〜20dの設定を第1の波長帯に対応したものとする。第2の波長帯の光信号La2またはLb2を用いて試験を行う場合、第1の波長帯に対応した設定から第2の波長帯に対応した設定に変更する。こうした設定の回数が多くなると試験時間が長くなる。したがって試験時間の短縮のため、設定の回数を減らすことが好ましい。

0031

(試験)
図4は試験装置100による試験の順番を示す表である。図4に示すように、最初に第1の波長帯における試験を行い、その後に第2の波長帯における試験、第3の波長帯における試験、第4の波長帯における試験を順に行う。各波長帯において、被試験物40aおよび40bに対し、試験部20a〜20fがそれぞれの試験項目に応じた試験を行う。試験部20a〜20dは送信試験、試験部20eおよび20fは受信試験に用いられる。

0032

期間t1は第1の波長帯の試験期間である。複数の試験部が同時に稼働するように、被試験物40aの試験と被試験物40bの試験とは並行して実施する。被試験物40aについて、試験部20aによる波形の試験、試験部20bによる波長の試験、試験部20cによるパワーの試験、試験部20dによる誤り率の試験、試験部20eによる受信試験を行う。被試験物40aの試験と並行して、被試験物40bについて、試験部20bによる試験、試験部20cによる試験、試験部20dによる試験、試験部20aによる試験、試験部20fによる受信試験を順に行う。

0033

期間t1のうちの期間ta1において、試験部20aは被試験物40aの試験を行い、それと同時に試験部20b〜20dは被試験物40bの試験を行う。期間ta1後のtb1において、試験部20b〜20eは被試験物40aの試験を行い、同時に試験部20aは被試験物40bの試験を行う。その後、期間tc1において、試験部20fは被試験物40bの受信試験を行う。

0034

第1の波長帯における試験の終了後(期間t1後)、期間t2において第2の波長帯における試験を行う。さらに期間t2後の期間t3およびt4において、第3の波長帯および第4の波長帯の試験を行う。各波長帯における試験の順番、つまり試験部20a〜20fの動作の順番は第1の波長帯における試験と同じである。以上のような試験は、図1の制御部10が制御を行うことで実現される。

0035

図5および図6は試験装置100による試験を示すフローチャートである。図5に示すように、制御部10は、試験部の設定を第1の波長帯に対応した設定とする(ステップS10)。制御部10は、被試験物40aと試験部20aとを接続する(ステップS12)。すなわち、制御部10は、図2(a)の第1スイッチ14aの入力ポートPa1と出力ポートPa5とを接続し、第2スイッチ16の入力ポートP1と出力ポートP3とを接続する。これにより、図3(b)の4つの発光素子41のうち1つが出力する第1の波長帯の光信号La1が、図2(a)の第1スイッチ14aおよび第2スイッチ16を介して、図1の試験部20aに入力する。

0036

制御部10は、被試験物40bと試験部20b〜20dとを接続する(ステップS14)。すなわち制御部10は、図2(a)の第1スイッチ14bの入力ポートPb1と出力ポートPb5とを接続し、第2スイッチ16の入力ポートP2と出力ポートP4とを接続する。これにより、第1の波長帯の光信号Lb1が第1スイッチ14aおよび第2スイッチ16を介して、図1の試験部20b〜20dに入力する。図5に示すように、試験部20aは被試験物40aの試験を行い(ステップS16)、それと並行して試験部20b〜20dは被試験物40bの試験を行う(ステップS18)。ステップS12〜S18は図4の期間ta1に対応する。

0037

制御部10は、被試験物40aと試験部20b〜20dとを接続する(ステップS20)。すなわち図2(b)に示すように、制御部10は、第2スイッチ16の入力ポートP1と出力ポートP4とを接続する。これにより、光信号La1が第1スイッチ14aおよび第2スイッチ16を介して、図1の試験部20b〜20dに入力する。制御部10は、被試験物40bと試験部20aとを接続する(ステップS22)。すなわち図2(b)に示すように、制御部10は、第2スイッチ16の入力ポートP2と出力ポートP3とを接続する。これにより、光信号Lb1が第1スイッチ14aおよび第2スイッチ16を介して、図1の試験部20aに入力する。図5に示すように、試験部20b〜20eは被試験物40aの試験を行う(ステップS24)。それと並行して、試験部20aは被試験物40bの試験を行い、試験部20fも受信試験を行う(ステップS26)。ステップS20〜S26は図4の期間tb1およびtc1に対応する。

0038

制御部10は、試験部20a〜20dの設定および光経路の設定を第2の波長帯に対応した設定とする(ステップS28)。ステップS12〜S26に対応するステップS30〜S44において、第2の波長帯における、被試験物40aおよび40bの試験が実施される。図6に示すように、制御部10は、試験部20a〜20dの設定および光経路の設定を第3の波長帯に対応した設定とする(ステップS46)。ステップS12〜S26に対応するステップS48〜S62において、第3の波長帯における、被試験物40aおよび40bの試験が実施される。制御部10は、試験部20a〜20dの設定および光経路の設定を第4の波長帯に対応した設定とする(ステップS64)。ステップS12〜S26に対応するステップS66〜S80において、第3の波長帯における、被試験物40aおよび40bの試験が実施される。ステップS80の後、制御は終了する。

0039

実施例1によれば、波長帯ごとに被試験物40aおよび40bの試験を行う。すなわち、制御部10が第1の波長帯に対応して試験部20a〜20dの設定および光経路の設定をした後、第1の波長帯における被試験物40aおよび40bの試験が行われる(図4の期間t1、図5のステップS10〜S26)。第1の波長帯における試験がすべて終了した後、制御部10は試験部20a〜20dの設定および光経路の設定を第2の波長帯に対応したものとする(図5のステップS28)。第2の波長帯における被試験物40aおよび40bの試験が行われる(ステップS30〜S44)。さらに、第3の波長帯および第4の波長帯における試験が行われる(ステップS46〜S80)。このように、同じ波長帯における試験を連続して行い、終了後に別の波長帯の試験に移行する。したがって、試験部20a〜20dの設定および光経路の設定の回数は波長帯と同じであり、実施例1においては4回である。この結果、試験時間を短縮することができる。

0040

被試験物ごとに試験を行うと、試験部の設定の回数が増加し、試験時間が長くなる。例えば、第1〜第4の波長帯における被試験物40aの試験を行い、その後に第1〜第4の波長帯における被試験物40bの試験を行う。この場合、試験部20a〜20dの設定および光経路の設定の回数は、被試験物の数と波長帯の数との積である8回となる。このため試験時間は長くなる。被試験物の数が増えると、設定の回数および試験時間はさらに増加する。実施例1によれば、設定の回数は波長帯の数に等しいため、試験時間は短くなる。また、被試験物の数が3つ以上の場合でも設定の回数は変わらないため、試験時間の大幅な増加は抑制される。

0041

実施例1においては、試験部20a〜20eを並行して稼働させる。すなわち、試験部20aは光信号La1を用いて被試験物40aの試験を行い、この試験と並行して試験部20b〜20dは光信号Lb1を用いて被試験物40bの試験を行う(図4の期間ta1、図5のステップS12〜S18)。また、試験部20b〜20dは光信号La1を用いて被試験物40aの試験を行い、当該試験と並行して、試験部20aは光信号Lb1を用いて被試験物40bの試験を行う(図4の期間tb1、図5のステップS20〜S26)。このため試験時間を効果的に短縮することができる。

0042

試験項目は変更してもよく、試験項目の数の増減をしてもよい。試験項目に応じた試験部を試験装置100に設け、並行して動作させればよい。特に、図4のように長い時間がかかる試験と、短い時間で実行できる試験とを同時に行うことが、試験時間の短縮には有効である。例えば、複数の試験のうち、試験部20aによる波形の試験には最も長い時間がかかる。したがって、試験部20aが稼働している間、他の試験部20b〜20dも稼働することが好ましい。

0043

各波長帯における試験の順番は同一とすることが好ましい。例えば、図4に示した試験の順番を第1〜第4の波長帯にも適用する。制御部10は各波長帯において同一の処理を行えばよいため、処理が簡略化される。

0044

第1の波長帯における試験を行う場合、制御部10は、第1スイッチ14aの入力ポートPa1と出力ポートPa5とを接続し、第1スイッチ14bの入力ポートPb1と出力ポートPb5とを接続する。これにより、第1の波長帯の光信号La1が出力ポートPa5から出力され、光信号Lb1が出力ポートPb5から出力される。第2〜第4の波長帯において試験を行う場合、制御部10は第1スイッチ14aおよび14bそれぞれの入力ポートを切り替えて出力ポートに接続する。すなわち第1スイッチ14aおよび14bの入力ポートの選択により、複数の波長帯から1つの波長帯の選択が可能である。

0045

制御部10は、第2スイッチ16の入力ポートP1と出力ポートP3とを接続し、入力ポートP2と出力ポートP4とを接続する。これにより図3の期間ta1の試験が行われる。また、制御部10は、入力ポートP1と出力ポートP4とを接続し、入力ポートP2と出力ポートP3とを接続する。これにより図3の期間tb1の試験が行われる。このように、第2スイッチ16の入力ポートと出力ポートとの接続の切り替えにより、被試験物と試験部との接続を切り替え、試験項目の選択が可能である。被試験物の数および試験項目の数などに応じて、第1スイッチおよび第2スイッチの数を変更してもよい。

0046

試験部20a〜20dが第1の波長帯における送信部42aおよび42bの試験を行う期間t1において、試験部20eは第1の波長帯における受信部44aの試験を行い、試験部20fは受信部44bの試験を行う。他の波長帯においても同様である。同一の波長帯において、送信試験および受信試験を連続して実施するため、試験部の設定の回数が少なくなり、試験時間が短縮される。

0047

試験装置100における光信号の経路は例えば光ファイバなどであり、光信号のパワーは経路において損失する。したがって、試験の前に経路における損失を測定し、その損失を用いてパワーの測定結果を補正することが好ましい。

0048

図7は光信号の損失の測定の際の試験装置100を示すブロック図である。図7に示すように、光源22aおよび22bからは光信号を出力させず、ハイパワー光源28から光信号を出力させる。第3スイッチ32が出力する光信号を2つの光信号Lc0およびLd0に分岐させる。分岐直後の光信号Lc0およびLd0のパワーは同程度である。光信号Lc0は被試験物40aから試験部20cまでの経路を通らない。光信号Lc0のパワーを不図示の測定器で測定する。測定される光信号Lc0のパワーは、被試験物40aから試験部20cまでの経路における損失を含まないパワーである。

0049

光信号Ld0は、第3スイッチ32から、分岐部12a、第1スイッチ14a、第2スイッチ16、分岐部18を通じて、試験部20cに入力する。つまり光信号Ld0は、光信号La1の経路のうち、被試験物40aから分岐部12aまでの経路を除いた経路を通って試験部20cに入力する。すなわち、試験部20cは、被試験物40aから試験部20cまでの経路において損失した後の光信号Ld0のパワーを測定する。

0050

制御部10は補正部として機能する。すなわち制御部10は、光信号Lc0のパワーと光信号Ld0のパワーとの差分を損失量として算出し、被試験物40aの光信号のパワーの測定結果を補正する。補正とは、例えば損失量をパワーの測定結果に加算することなどである。これによりパワーの測定の精度が向上する。

実施例

0051

光信号Ld0は、被試験物40aから試験部20cまでの経路の少なくとも一部を通ればよく、好ましくは分岐部12aから試験部20cまでのように経路の大部分を通る。これにより損失を精度高く算出することができる。分岐部12aから第1スイッチ14aまでの他の経路(光信号La2〜La4の経路)、および被試験物40bから試験部20cまでの経路における損失も、上記と同様の方法で取得することができる。

0052

10 制御部
12a、12b、18、24a、24b、45分岐部
14a、14b 第1スイッチ
16 第2スイッチ
20a〜20f試験部
22a、22b光源
25a、25b減衰器
26a、26b、43合波部
28ハイパワー光源
30アンプ
32 第3スイッチ
40a、40b被試験物
41発光素子
42a、42b 送信部
44a、44b 受信部
46受光素子
Pa1〜Pa4、Pb1〜Pb4、P1、P2入力ポート
Pa5、Pb5、P3、P4出力ポート
100 試験装置

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