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技術 有機発光表示装置及びその駆動方法

出願人 エルジーディスプレイカンパニーリミテッド
発明者 チェ,ナムソクチェ,ジンテクリー,ジェイソン
出願日 2017年11月14日 (1年11ヶ月経過) 出願番号 2017-218721
公開日 2018年6月7日 (1年4ヶ月経過) 公開番号 2018-087974
状態 特許登録済
技術分野 EL表示装置の制御 エレクトロルミネッセンス光源 陰極線管以外の表示装置の制御
主要キーワード ストレスデータ 信頼度低下 データ信号対 温度劣化 劣化予測 有機物質層 常温環境 累積使用量
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図面 (11)

課題

画素間の劣化状態差を補償する有機発光表示装置及びその駆動方法を提供する。

解決手段

表示領域にマトリックス配列されて、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素、及び前記各サブ画素に対応する有機発光素子を含む表示パネル、及び前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成し、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第1及び第2の温度劣化データを生成し、前記劣化予測データ、前記第1及び第2の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素に対応する個別補償ゲイン値を算出し、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値に基づいて、前記各サブ画素の入力データを補正する劣化補償部200を含む有機発光表示装置を提供する。かかる有機発光表示装置は、有機発光素子の周辺温度によって白色光色温度が変動することを補償することができる。

概要

背景

平面表示装置(Flat Display Device)はTV、携帯電話ノートパソコン及びタブレット等のような様々な電子機器に適用される。このため表示装置薄型化・軽量化及び省消費電力化等を開発する研究を続けている。

平面表示装置の代表的な例としては、液晶ディスプレイ(Liquid Crystal Display device:LCD)、プラズマディスプレイ(Plasma Display Panel device:PDP)、電界放出ディスプレイ(Field Emission Display device:FED)、ELディスプレイ(Electro Luminescence Display device:ELD)、電気湿潤表示装置(Electro−Wetting Display device:EWD)及び有機発光表示装置(Organic Light Emitting Display device:OLED)等があげられる。

その中で、有機発光表示装置は、各サブ画素に対応する有機発光素子を利用して映像を表示する。さらに、有機発光表示装置は、カラー映像を表示するため、異なる色相に対応する2つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素を含む。

ところが、有機発光素子は使用量によって次第に劣化する。すなわち、各サブ画素の使用量によって、同じ駆動電流に対する輝度が異なる。これにより、各サブ画素の輝度に対する均一度及び信頼度が低下する問題点、及び画質が低下する問題点がある。

また、カラー映像を表示する有機発光表示装置の場合、各単位画素に含まれる2つ以上のサブ画素各々は、白色に対応する光を放出する有機発光素子と、異なる色相に対応するカラーフィルタを含む。

一般的に、白色光を放出する有機発光素子は、赤色光緑色光との混色からなる黄色光に対応する第1の有機発光層と、青色光に対応する第2の有機発光層を含む。
ところが、第1及び第2の有機発光層は、温度による劣化量が異なるという問題点がある。それにより、有機発光素子の周辺温度及び該温度が維持される時間によって、各サブ画素の有機発光素子で放出される白色光の色温度が変動することで、画質が低下する問題点がある。

概要

画素間の劣化状態差を補償する有機発光表示装置及びその駆動方法を提供する。表示領域にマトリックス配列されて、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素、及び前記各サブ画素に対応する有機発光素子を含む表示パネル、及び前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成し、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第1及び第2の温度劣化データを生成し、前記劣化予測データ、前記第1及び第2の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素に対応する個別補償ゲイン値を算出し、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値に基づいて、前記各サブ画素の入力データを補正する劣化補償部200を含む有機発光表示装置を提供する。かかる有機発光表示装置は、有機発光素子の周辺温度によって白色光の色温度が変動することを補償することができる。

目的

本発明は、有機発光素子の周辺温度によって白色光の色温度が変動することを補償することができる、有機発光表示装置及びその駆動方法を提供する

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

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請求項1

表示領域にマトリックス配列されて、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素、及び前記各サブ画素に対応する有機発光素子を含む表示パネル;前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成して、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第1及び第2の温度劣化データを生成し、前記劣化予測データ、前記第1及び第2の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素に対応する個別補償ゲイン値を算出して、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値に基づいて、前記各サブ画素の入力データを補正する劣化補償部;前記各サブ画素にスキャン信号を供給するゲート駆動部;前記各サブ画素に前記劣化補償部の出力値に対応するデータ信号を供給するデータ駆動部;及び前記ゲート駆動部と前記データ駆動部それぞれの駆動を制御するタイミングコントローラを含む有機発光表示装置。

請求項2

前記劣化補償部は、前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する劣化予測データ生成部;前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第1及び第2の温度劣化データを生成する温度劣化データ生成部;前記劣化予測データ、前記第1及び第2の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する個別補償ゲイン値算出部;及び前記各サブ画素の個別補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力データを補正して、前記各サブ画素の入力補正データを生成する個別補償部を含む、請求項1に記載の有機発光表示装置。

請求項3

前記温度劣化データ生成部は、所定の測定周期において、前記装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると、第1のストレスデータを累積して、前記所定の測定周期において、前記装置温度データが前記臨界温度データ未満であると、第2のストレスデータを累積して、前記累積した第1のストレスデータに基づいて、前記第1の温度劣化データを生成して、前記累積した第2のストレスデータに基づいて、前記第2の温度劣化データを生成して、前記第1の温度劣化データは、前記有機発光素子に含まれた第1の有機発光層劣化状態に対応して、前記第2の温度劣化データは、前記有機発光素子に含まれた第2の有機発光層の劣化状態に対応して、前記第1の有機発光層は赤色と緑色との混色に対応して、前記第2の有機発光層は青色に対応する、請求項2に記載の有機発光表示装置。

請求項4

前記各単位画素は赤色、緑色、青色及び白色に対応する第1、第2、第3及び第4サブ画素を含み、前記個別補償ゲイン値算出部は、前記各サブ画素の劣化予測データに基づいて、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出して、前記第1の温度劣化データにさらに基づいて、前記第1及び第2サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値を算出して、前記第2の温度劣化データにさらに基づいて、前記第3サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する、請求項3に記載の有機発光表示装置。

請求項5

前記劣化補償部は、全体サブ画素の累積データに対応する最大累積データ、平均累積データ及び最小累積データのうちいずれかに基づいて、前記全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値を算出するグローバル補償ゲイン値算出部;前記グローバル補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力補正データを変調して、前記各サブ画素の入力変調データを生成するグローバル補償部をさらに含む、請求項2に記載の有機発光表示装置。

請求項6

前記各サブ画素の入力変調データをカウンティングして、前記各サブ画素の累積データを生成するデータ累積部;前記各サブ画素の累積データを保有する第1メモリー;及び前記累積した第1及び第2のストレスデータを保有する第2メモリーをさらに含む、請求項5に記載の有機発光表示装置。

請求項7

表示領域にマトリックス配列されて、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素、及び前記各サブ画素に対応する有機発光素子を含む有機発光表示装置を駆動する方法において、前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する段階;所定の測定周期において、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると、第1のストレスデータを累積する段階;前記所定の測定周期において、前記装置温度データが前記臨界温度データ未満であると、第2のストレスデータを累積する段階;前記累積した第1のストレスデータに基づいて第1の温度劣化データを生成する段階;前記累積した第2のストレスデータに基づいて第2の温度劣化データを生成する段階;前記各サブ画素の劣化予測データと前記第1及び第2の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する段階;及び前記各サブ画素の個別補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力データを補正して、前記各サブ画素の入力補正データを生成する段階を含む、有機発光表示装置の駆動方法

請求項8

前記第1のストレスデータは、前記臨界温度データ以上の環境における第1の有機発光層の累積使用量に対応して、前記第2のストレスデータは、前記臨界温度データ未満の環境における第2の有機発光層の累積使用量に対応して、前記第1の有機発光層は赤色と緑色との混色に対応して、前記第2の有機発光層は青色に対応する、請求項7に記載の有機発光表示装置の駆動方法。

請求項9

前記各単位画素は赤色、緑色、青色及び白色に対応する第1、第2、第3及び第4サブ画素を含み、前記第1及び第2サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値は、前記各サブ画素の劣化予測データと前記第1の温度劣化データに基づいて算出されて、前記第3サブ画素の個別補償ゲイン値は、前記各サブ画素の劣化予測データと前記第2の温度劣化データに基づいて算出される、請求項8に記載の有機発光表示装置の駆動方法。

請求項10

全体サブ画素の累積データに対応する最大累積データ、平均累積データ及び最小累積データのうちいずれかに基づいて、前記全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値を算出する段階;及び前記グローバル補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力補正データを変調して、前記各サブ画素の入力変調データを生成する段階をさらに含む、請求項7に記載の有機発光表示装置の駆動方法。

請求項11

前記各サブ画素の入力変調データをカウンティングして、前記各サブ画素の累積データを生成する段階をさらに含む、請求項7に記載の有機発光表示装置の駆動方法。

技術分野

0001

本発明は、有機発光表示装置及びその駆動方法に関し、特に、画素間の劣化状態差を補償する有機発光表示装置及びその駆動方法に関する。

背景技術

0002

平面表示装置(Flat Display Device)はTV、携帯電話ノートパソコン及びタブレット等のような様々な電子機器に適用される。このため表示装置薄型化・軽量化及び省消費電力化等を開発する研究を続けている。

0003

平面表示装置の代表的な例としては、液晶ディスプレイ(Liquid Crystal Display device:LCD)、プラズマディスプレイ(Plasma Display Panel device:PDP)、電界放出ディスプレイ(Field Emission Display device:FED)、ELディスプレイ(Electro Luminescence Display device:ELD)、電気湿潤表示装置(Electro−Wetting Display device:EWD)及び有機発光表示装置(Organic Light Emitting Display device:OLED)等があげられる。

0004

その中で、有機発光表示装置は、各サブ画素に対応する有機発光素子を利用して映像を表示する。さらに、有機発光表示装置は、カラー映像を表示するため、異なる色相に対応する2つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素を含む。

0005

ところが、有機発光素子は使用量によって次第に劣化する。すなわち、各サブ画素の使用量によって、同じ駆動電流に対する輝度が異なる。これにより、各サブ画素の輝度に対する均一度及び信頼度が低下する問題点、及び画質が低下する問題点がある。

0006

また、カラー映像を表示する有機発光表示装置の場合、各単位画素に含まれる2つ以上のサブ画素各々は、白色に対応する光を放出する有機発光素子と、異なる色相に対応するカラーフィルタを含む。

0007

一般的に、白色光を放出する有機発光素子は、赤色光緑色光との混色からなる黄色光に対応する第1の有機発光層と、青色光に対応する第2の有機発光層を含む。
ところが、第1及び第2の有機発光層は、温度による劣化量が異なるという問題点がある。それにより、有機発光素子の周辺温度及び該温度が維持される時間によって、各サブ画素の有機発光素子で放出される白色光の色温度が変動することで、画質が低下する問題点がある。

発明が解決しようとする課題

0008

本発明は、有機発光素子の周辺温度によって白色光の色温度が変動することを補償することができる、有機発光表示装置及びその駆動方法を提供するためのものである。

0009

本発明の目的は、以上で言及した目的に制限されないし、言及していない本発明の他の目的及び特長は、下記の説明により理解され、本発明の実施形態によりさらに明らかに理解されるだろう。また、本発明の目的及び特長は、特許請求の範囲に示した手段及びその組み合わせによって実現できることが理解されるだろう。

課題を解決するための手段

0010

本発明の一例示は、表示領域にマトリックス配列されて、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素、及び前記各サブ画素に対応する有機発光素子を含む表示パネル、及び前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成して、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第1及び第2の温度劣化データを生成し、前記劣化予測データ、前記第1及び第2の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素に対応する個別補償ゲイン値を算出して、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値に基づいて、前記各サブ画素の入力データを補正する劣化補償部を含む有機発光表示装置を提供する。

0011

前記劣化補償部は、前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する劣化予測データ生成部、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第1及び第2の温度劣化データを生成する温度劣化データ生成部、前記劣化予測データ、前記第1及び第2の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する個別補償ゲイン値算出部、及び前記各サブ画素の個別補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力データを補正して、前記各サブ画素の入力補正データを生成する個別補償部を含む。

0012

ここで、前記温度劣化データ生成部は、所定の測定周期において前記装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると、第1のストレスデータを累積して、前記所定の測定周期において前記装置温度データが前記臨界温度データ未満であると、第2のストレスデータを累積して、前記累積した第1のストレスデータに基づいて、前記第1の温度劣化データを生成して、前記累積した第2のストレスデータに基づいて、前記第2の温度劣化データを生成する。

0013

そして、本発明の他の一例示は、表示領域にマトリックス配列されて、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素、及び前記各サブ画素に対応する有機発光素子を含む有機発光表示装置を駆動する方法において、前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する段階、所定の測定周期において、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると、第1のストレスデータを累積する段階、前記所定の測定周期において、前記装置温度データが前記臨界温度データ未満であると、第2のストレスデータを累積する段階、前記累積した第1のストレスデータに基づいて、第1の温度劣化データを生成する段階、前記累積した第2のストレスデータに基づいて、第2の温度劣化データを生成する段階、前記各サブ画素の劣化予測データと前記第1及び第2の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する段階、及び前記各サブ画素の個別補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力データを補正して、前記各サブ画素の入力補正データを生成する段階を含む有機発光表示装置の駆動方法を提供する。

発明の効果

0014

本発明の一実施形態による有機発光表示装置は、有機発光素子の周辺温度によって第1及び第2の有機発光層の劣化状態を予測して、第1及び第2の温度劣化データを生成する。そして、各サブ画素の劣化予測データと第1及び第2の温度劣化データに基づいて、各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する。

0015

これにより、白色を放出するサブ画素の第1及び第2の有機発光層は、周辺温度によって相違して劣化されるとしても、白色の色温度を維持することができる。したがって、劣化による画質低下及び画質の信頼度低下を防止することができる。

図面の簡単な説明

0016

本発明の一実施形態による有機発光表示装置を概略的に示す図面である。
図1の各サブ画素に対応する等価回路図である。
図1の劣化補償部を示す図面である。
本発明の一実施形態による有機発光表示装置の駆動方法を示した手順図である。
周辺温度による輝度変化率の差を示した図面である。
周辺温度による色温度変化率の差を示した図面である。
色座標において、周辺温度による色温度変化の方向を示した図面である。
赤色または緑色に対応するサブ画素及び白色に対応するサブ画素において、製造時の輝度、劣化時の輝度、劣化予測データに従い補償された輝度、及び劣化予測データと第1の温度劣化データに従い補償された輝度を概略的に示す図面である。
青色に対応するサブ画素及び白色に対応するサブ画素において、製造時の輝度、劣化時の輝度、劣化予測データに従い補償された輝度、及び劣化予測データと第2の温度劣化データに従い補償された輝度を概略的に示す図面である。
個別補償ゲイン値によって補償された輝度、及び個別補償ゲイン値とグローバル補償ゲイン値によって補償された輝度を示す図面である。

実施例

0017

以下、本発明の一実施形態による有機発光表示装置及びその駆動方法について添付図面を参考にして詳説する。

0018

先ず、図1及び図2を参照して、本発明の一実施形態による有機発光表示装置について説明する。

0019

図1は、本発明の一実施形態による有機発光表示装置を概略的に示す図面である。図2は、図1の各サブ画素に対応する等価回路図である。

0020

図1に示したように、本発明の一実施形態による有機発光表示装置は表示パネル100、劣化補償部200、ゲート駆動部310、データ駆動部320、タイミングコントローラ330、第1及び第2メモリー410,420を含む。

0021

表示パネル100は、映像が表示される表示領域にマトリックス配列される複数の単位画素を含む。複数の単位画素各々は、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素(SP)からなる。

0022

各サブ画素(SP)は、互に交差するゲートライン(GL)とデータライン(DL)により定義される画素領域に配置される。各サブ画素(SP)は、有機発光素子(OLED)とこれを駆動する画素回路(PC)を含む。

0023

また、表示パネル100は、第1方向(図1の左右方向)に配置されたゲートライン(GL)と第2電源ラインPL2)及び第2方向(図1の上下方向)に配置されたデータライン(DL)と第1電源ライン(PL1)をさらに含む。

0024

ゲートライン(GL)は、各サブ画素(SP)にゲート信号(GS)を印加するためのものであり、データライン(DL)は、各サブ画素(SP)にデータ信号(Vdata)を印加するためのものである。第1電源ライン(PL1)は、各サブ画素(SP)に第1駆動電源を印加するためのものであり、第2電源ライン(PL2)は、各サブ画素(SP)に第2駆動電源を印加するためのものである。

0025

各単位画素に含まれる2つ以上のサブ画素(SP)各々の有機発光素子(OLED)は、白色光を放出する素子である。

0026

すなわち、図1に詳しく示していないが、有機発光素子(OLED)は、赤色光と緑色光との混色からなる黄色光に対応する第1の有機発光層と、青色光に対応する第2の有機発光層を含む。

0027

この場合、2つ以上のサブ画素(SP)は、異なる色相に対応するカラーフィルタをさらに含む。例示として、各単位画素に含まれる2つ以上のサブ画素(SP)は赤色、緑色、青色及び白色に対応する第1、第2、第3及び第4サブ画素を含む。

0028

その中で、赤色に対応する第1サブ画素は、白色光を放出する有機発光素子(OLED)と白色光のうち赤色光をフィルタリングする第1カラーフィルタを含む。緑色に対応する第2サブ画素は、白色光を放出する有機発光素子(OLED)と白色光のうち緑色光をフィルタリングする第2カラーフィルタを含む。青色に対応する第3サブ画素は、白色光を放出する有機発光素子(OLED)と白色光のうち青色光をフィルタリングする第3カラーフィルタを含む。そして、白色に対応する第4サブ画素は、白色光を放出する有機発光素子(OLED)と白色光を透過する第4カラーフィルタを含む。

0029

図2に示したように、各サブ画素(SP)の画素回路は、スイッチングトランジスタ(Tsw)、駆動トランジスタ(Tdr)及びストレージキャパシタ(Cst)を含む。

0030

スイッチングトランジスタ(Tsw)は、ゲートライン(GL)、データライン(DL)及び駆動トランジスタ(Tdr)に連結される。かかるスイッチングトランジスタ(Tsw)は、ゲートライン(GL)のゲート信号(GS)に基づいてターンオンすると、データライン(DL)のデータ信号(Vdata)を駆動トランジスタ(Tdr)及びストレージキャパシタ(Cst)に伝達する。

0031

ストレージキャパシタ(Cst)は、駆動トランジスタ(Tdr)のゲート端子ソース端子の間に連結されて、ターンオンしたスイッチングトランジスタ(Tsw)を通じて供給されるデータ信号(Vdata)で充填される。

0032

駆動トランジスタ(Tdr)は、データ信号(Vdata)及びストレージキャパシタ(Cst)の充填電圧によりターンオンする。そして、ターンオンした駆動トランジスタ(Tdr)を通じて、第1及び第2駆動電源(VDD,VSS)の間の電流経路が発生して、駆動電流(Ioled)が有機発光素子(OLED)に供給される。

0033

さらに、図1に戻って説明する。

0034

劣化補償部200は、各サブ画素(SP)の劣化状態によって各サブ画素(SP)の入力データを補償して、各サブ画素(SP)の入力変調データ(Mdata)を生成する。

0035

具体的には、劣化補償部200は、各サブ画素(SP)の累積データに基づいて、各サブ画素(SP)の劣化予測データを生成する。劣化補償部200は、有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第1及び第2の温度劣化データを生成する。劣化補償部200は、劣化予測データ、第1及び第2の温度劣化データに基づいて、各サブ画素(SP)に対応する個別補償ゲイン値を算出する。劣化補償部200は、各サブ画素(SP)の個別補償ゲイン値によって各サブ画素(SP)の入力データ(Idata)を補償して、各サブ画素(SP)の入力補償データを生成する。そして、劣化補償部200は、全体サブ画素(SP)の累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値を算出し、グローバル補償ゲイン値に基づいて、各サブ画素(SP)の入力変調データ(Mdata)を生成する。このような劣化補償部200については、以下にさらに詳説する。

0036

ゲート駆動部310は、ゲートライン(GL)を通じて各サブ画素(SP)にゲート信号(GS)を供給する。すなわち、ゲート駆動部310は、タイミングコントローラ330のゲート制御信号GCS)に基づいて、各サブ画素(SP)にゲート信号(GS)を供給する。

0037

データ駆動部320は、データライン(DL)を通じて複数のサブ画素(SP)にデータ信号(Vdata)を供給する。ここで、データ信号(Vdata)は、劣化補償部200の出力値に対応する。すなわち、データ駆動部320は、劣化補償部200から出力された各サブ画素(SP)の入力変調データ(Mdata)に対応する各サブ画素(SP)のデータ信号(Vdata)を生成する。

0038

そして、データ駆動部320は、タイミングコントローラ330のデータ制御信号(DCS)及び画素データ(DATA)に基づいて、各サブ画素(SP)にデータ信号(Vdata)を供給する。例示として、データ駆動部320はデータ制御信号(DCS)に従い複数の基準ガンマ電圧を利用して、画素データ(DATA)をアナログ形態のデータ信号(Vdata)に変換して、データ信号(Vdata)を各サブ画素(SP)に供給する。

0039

タイミングコントローラ330は、ゲート駆動部310とデータ駆動部320それぞれの駆動を制御する。

0040

例示として、タイミングコントローラ330は、外部から入力されるタイミング同期信号(TSS)に基づいて、ゲート制御信号(GCS)及びデータ制御信号(DCS)を生成する。ゲート制御信号(GCS)は、ゲート駆動部310の駆動を制御するためのものであり、データ制御信号(DCS)は、データ駆動部320の駆動を制御するためのものである。ここで、タイミング同期信号(TSS)は垂直同期信号水平同期信号データイネーブル信号及びドットクロック等を含む。

0041

そして、タイミングコントローラ330は、表示パネル100の画素配列構造に対応して、劣化補償部200で出力された入力変調データ(Mdata)を整列する。そして、整列済み画素データ(DATA)をデータ駆動部320に供給する。

0042

一方、劣化補償部200は、タイミングコントローラ330の一部の構成要素で具現することができる。すなわち、劣化補償部200は、タイミングコントローラ330にプログラム形態またはロジック形態で内蔵することができる。

0043

第1メモリー410は、劣化補償部200による各サブ画素(SP)の累積データ(Adata)を保有する。

0044

第2メモリー420は、劣化補償部200により累積した第1及び第2のストレスデータ(TDdata)を保有する。

0045

次に、図3及び図4を参照して、本発明の一実施形態による劣化補償部及びそれを含む有機発光表示装置の駆動方法について説明する。

0046

図3は、図1の劣化補償部を示す図面である。図4は、本発明の一実施形態による有機発光表示装置の駆動方法を示した手順図である。

0047

図3に示したように、本発明の一実施形態による劣化補償部200は、劣化予測データ生成部210、温度劣化データ生成部220、個別補償ゲイン値算出部230、個別補償部240、グローバル補償ゲイン値算出部250、グローバル補償部260及びデータ累積部270を含む。

0048

劣化予測データ生成部210は、各サブ画素の累積データ(Adata)に基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する。ここで、劣化予測データは、使用量による有機発光素子の劣化状態に関するデータモリングを利用して、累積データに対応するサブ画素の劣化状態を予測した値に生成される。

0049

温度劣化データ生成部220は、有機発光表示装置の内外部の周辺温度に対応する装置温度データに基づいて、第1及び第2の温度劣化データを生成する。ここで、第1及び第2の温度劣化データは、有機発光素子の周辺温度及び有機発光素子の使用量による第1及び第2の有機発光層それぞれの劣化状態に関するデータモデリングを利用して、装置温度データ及び該装置温度データが維持された期間に対応する第1及び第2の有機発光層それぞれの劣化状態を予測した値に生成される。

0050

例示として、温度劣化データ生成部220は、所定の測定周期において装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると、第2メモリー420に保有された第1のストレスデータを累積する反面、所定の測定周期において装置温度データが所定の臨界温度データ未満であると、第2メモリー420に保有された第2のストレスデータを累積する。

0051

ここで、第1のストレスデータは、白色を放出する有機発光素子において、黄色光に対応する第1の有機発光層が臨界温度データ(TH_T)以上の環境に露出した状態で使われた量をカウンティングするためのものである。

0052

そして、第2のストレスデータは、白色を放出する有機発光素子において、青色光に対応する第2の有機発光層が臨界温度データ(TH_T)未満の環境に露出した状態で使われた量をカウンティングするためのものである。

0053

ここで、第1有機物質層は、赤色光と緑色光との混色からなる黄色光に対応して、第2有機物質層は青色光に対応する。

0054

そして、臨界温度データは、実験を通じて第1有機物質層が第2有機物質層よりさらに多く劣化される臨界温度に設定することができる。例示として、臨界温度データは約60℃である。

0055

温度劣化データ生成部220は、累積した第1のストレスデータに対応する第1の温度劣化データを生成して、累積した第2のストレスデータに対応する第2の温度劣化データを生成する。

0056

ここで、第1及び第2の温度劣化データは、第1及び第2のストレスデータに対応する第1及び第2有機物質層の劣化状態を予測するデータモデリングで作成された所定のルックアップテーブルを利用して生成することができる。

0057

個別補償ゲイン値算出部230は、各サブ画素の劣化予測データ、第1及び第2の温度劣化データに基づいて、各サブ画素の個別補償ゲイン値(PCG)を算出する。

0058

すなわち、個別補償ゲイン値算出部230は、各サブ画素の劣化予測データに基づいて、各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する。このとき、個別補償ゲイン値算出部230は、第1の温度劣化データにさらに基づいて、赤色光及び緑色光を放出する第1及び第2サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値を算出する。そして、個別補償ゲイン値算出部230は、第2の温度劣化データにさらに基づいて、青色光を放出する第3サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する。そして、個別補償ゲイン値算出部230は、白色光を放出する第4サブ画素の劣化予測データに基づいて、第4サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する。

0059

一例として、第1サブ画素の個別補償ゲイン値は、第1サブ画素の劣化予測データ及び第1の温度劣化データに基づいて算出されて、第2サブ画素の個別補償ゲイン値は、第2サブ画素の劣化予測データ及び第1の温度劣化データに基づいて算出される。そして、第3サブ画素の個別補償ゲイン値は、第3サブ画素の劣化予測データ及び第2の温度劣化データに基づいて算出されて、第4サブ画素の個別補償ゲイン値は、第4サブ画素の劣化予測データに基づいて算出される。

0060

このようにすれば、白色光を放出する有機発光素子の第1及び第2の有機発光層は、周辺温度によって劣化する度合いが異なることを補償することができる。

0061

すなわち、本発明の一実施形態によれば、臨界温度データ以上の高温環境において、黄色光を放出する第1の有機発光層は、第2の有機発光層より多く劣化されることに対応して、赤色光及び緑色光に対応する第1及び第2サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値を増加させる。一方、臨界温度データ未満の常温環境において、青色光を放出する第2の有機発光層は、第1の有機発光層より多く劣化されることに対応して、青色光に対応する第3サブ画素の個別補償ゲイン値を増加させる。

0062

ところが、各サブ画素に供給されるデータ信号は、各サブ画素の個別補償ゲイン値に対応するため、結果として、各サブ画素に供給されるデータ信号は、第1及び第2の有機発光層それぞれの劣化状態に対応する第1及び第2の温度劣化データに従い調節することができる。したがって、第1及び第2サブ画素の輝度を調節するか、または第3サブ画素の輝度を調節することで、第1及び第2の有機発光層の劣化状態が異なることを補償することができる。これにより、白色光の色温度を維持することができる。

0063

また、個別補償ゲイン値生成部230による各サブ画素の個別補償ゲイン値は、1以上の実数として算出される。

0064

個別補償部240は、各サブ画素の個別補償ゲイン値(PCG)によって各サブ画素の入力データ(Idata)を補正して、各サブ画素の入力補正データ(Idata')を生成する。

0065

例示として、個別補償部240は、各サブ画素に対応する入力データ(Idata)と個別補償ゲイン値(PCG)を乗算演算(X)した値で入力補正データ(Idata')を生成する。但し、これは単なる例示であって、個別補償ゲイン値(PCG)に基づいて、入力データ(Idata)を補正する演算は、状況によって多様に変更され得る。

0066

グローバル補償ゲイン値算出部250は、全体サブ画素の累積データに対応する最大累積データ、平均累積データ及び最小累積データのうちいずれかに基づいて、全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値(GCG)を算出する。ここで、グローバル補償ゲイン値(GCG)は、全体サブ画素のデータ信号を共通して調節するためのものであり、0以上1未満の実数に算出される。

0067

例示として、グローバル補償ゲイン値算出部250は、全体サブ画素の累積データのうち最大値である最大累積データを検出する。そして、最大累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値(GCG)を算出することができる。この場合、最大累積データに基づくグローバル補償ゲイン値(GCG)によって全体サブ画素の輝度が減少することで、最大累積データに対応するサブ画素の有機発光素子の劣化速度遅延させることができる。

0068

これと違って、グローバル補償ゲイン値算出部250は、全体サブ画素の累積データに対する平均である平均累積データを算出する。そして、平均累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値(GCG)を算出することができる。または、全体サブ画素の累積データのうち最小値である最小累積データを検出して、最小累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値(GCG)を算出することもできる。

0069

グローバル補償部260は、グローバル補償ゲイン値(GCG)によって各サブ画素の入力補正データ(Idata')を変調して、各サブ画素の入力変調データ(Mdata)を生成する。例示として、グローバル補償部260は、各サブ画素に対応する入力補正データ(Idata')とグローバル補償ゲイン値(GCG)を乗算演算(X)した値で入力変調データ(Mdata)を生成することができる。但し、これは単なる例示であって、グローバル補償ゲイン値(GCG)に基づいて、入力補正データ(Idata')を変調する演算は、状況によって多様に変更され得る。

0070

データ累積部270は、グローバル補償部260から出力される入力補正データ(Mdata)を累積合算して、第1メモリー410に保有された各サブ画素の累積データ(Adata)を更新する。

0071

図4に示したように、本発明の一実施形態による有機発光表示装置の駆動方法は、各サブ画素の累積データを生成する段階(S11)、各サブ画素の累積データに基づいて各サブ画素の劣化予測データを生成する段階(S12)、所定の測定周期において(S21)、有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると(S22)、白色に対応するサブ画素の有機発光素子に含まれた第1の有機発光層の劣化状態に対応する第1のストレスデータを累積する段階(S23)、所定の測定周期において(S21)装置温度データが臨界温度データ未満であると(S22)、白色に対応するサブ画素の有機発光素子に含まれた第2の有機発光層の劣化状態に対応する第2のストレスデータを累積する段階(S24)、累積した第1のストレスデータに基づいて第1の温度劣化データを生成する段階(S25)、累積した第2のストレスデータに基づいて第2の温度劣化データを生成する段階(S26)、各サブ画素の劣化予測データ、第1及び第2の温度劣化データに基づいて各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する段階(S30)、各サブ画素の個別補償ゲイン値によって各サブ画素の入力データを補正して、各サブ画素の入力補正データを生成する段階(S40)、全体サブ画素各々の累積データに基づいて全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値を算出する段階(S50)、及びグローバル補償ゲイン値によって各サブ画素の入力データを変調して、各サブ画素の入力変調データを生成する段階(S60)を含む。

0072

具体的には、データ累積部270は、タイミングコントローラ330に供給される各サブ画素の入力変調データ(Mdata)を累積して、各サブ画素の累積データ(Adata)を生成し、これを第1メモリー410に伝達する。(S11)すなわち、第1メモリー410は、各サブ画素の累積データ(Adata)を保有する。

0073

劣化予測データ生成部210は、第1メモリー410に保有された各サブ画素の累積データ(Adata)に基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する。(S12)ここで、劣化予測データは、各サブ画素の有機発光素子の使用量による劣化状態を予測した値である。

0074

温度劣化データ生成部220は、測定周期(MC)をカウントするためのタイマーを含む。すなわち、温度劣化データ生成部220は、タイマーが測定周期(MC)を指示しないと(S21)、タイマーをカウンティングする。(S211)これに、タイマーが測定周期(MC)を指示すると(S21)、タイマーをリセットして(S212)、装置温度データを所定の臨界温度データ(TH_T)と比較する。(S22)

0075

温度劣化データ生成部220は、所定の測定周期(MC)において装置温度データが臨界温度データ(TH_T)以上であると、第2メモリー420に保有された第1のストレスデータを累積する。(S23)一方、温度劣化データ生成部220は、所定の測定周期(MC)において装置温度データが臨界温度データ(TH_T)未満であると、第2メモリー420に保有された第2のストレスデータを累積する。(S24)

0076

ここで、第1のストレスデータは、白色を放出する有機発光素子において黄色光に対応する第1の有機発光層が、臨界温度データ(TH_T)以上の環境に露出した状態で使われた量をカウンティングするためのものである。

0077

第2のストレスデータは、白色を放出する有機発光素子において青色光に対応する第2の有機発光層が、臨界温度データ(TH_T)未満の環境に露出した状態で使われた量をカウンティングするためのものである。

0078

臨界温度データは、第1の有機発光層が第2の有機発光層より多く劣化される温度に設定される。例示として、臨界温度データは約60℃に設定される。

0079

そして、第2メモリー420は、累積した第1及び第2のストレスデータを保有する。

0080

温度劣化データ生成部220は、第1のストレスデータに対応する第1の温度劣化データを生成して(S25)、第2のストレスデータに対応する第2の温度劣化データを生成する。(S26)ここで、第1の温度劣化データは、第1の有機発光層の劣化状態を予測した値に対応して、第2の温度劣化データは、第2の有機発光層の劣化状態を予測した値に対応する。

0081

個別補償ゲイン値算出部230は、各サブ画素の劣化予測データと第1及び第2の温度劣化データに基づいて、各サブ画素の個別補償ゲイン値(PCG)を算出する。(S30)

0082

ここで、各単位画素に含まれる2つ以上のサブ画素の中で、赤色光及び緑色光に対応する第1及び第2サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値(PCG)は、それぞれの劣化予測データと第1の温度劣化データに基づいて算出される。

0083

そして、青色光に対応する第3サブ画素の個別補償ゲイン値(PCG)は、第3サブ画素の劣化予測データと第2の温度劣化データに基づいて算出される。

0084

個別補償部240は、各サブ画素の個別補償ゲイン値(PCG)によって各サブ画素の入力データ(Idata)を補正して、各サブ画素の入力補正データ(Idata')を生成する。(S40)

0085

グローバル補償ゲイン値算出部250は、各サブ画素の累積データ(Adata)に基づいて、全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値を算出する。(S50)

0086

例示として、グローバル補償ゲイン値は、全体サブ画素の累積データの中で最大値、平均値及び最小値のうちいずれかに基づいて算出することができる。

0087

グローバル補償部260は、グローバル補償ゲイン値によって各サブ画素の入力補正データを変調して、各サブ画素の入力変調データ(Mdata)を生成する。(S60)

0088

以上のように、本発明の一実施形態による有機発光表示装置の劣化補償部200は、有機発光素子の周辺温度によって第1及び第2の有機発光層の劣化状態を予測して、第1及び第2の温度劣化データを生成する。そして、赤色光及び緑色光を放出する第1及び第2サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値を算出する際に、各サブ画素の劣化予測データと共に、黄色光に対応する第1の有機発光層の劣化状態に対応する第1の温度劣化データを反映する。また、青色光を放出する第3サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する際に、第3サブ画素の劣化予測データと共に、青色光に対応する第2の有機発光層の劣化状態に対応する第2の温度劣化データを反映する。

0089

これにより、白色光を放出する有機発光素子において臨界温度データ以上の周辺温度によって黄色光を放出する第1の有機発光層は、青色光を放出する第2の有機発光層よりさらに多く劣化された場合には、赤色光及び緑色光を放出する第1及び第2サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値を調節して、第1及び第2サブ画素のうち少なくとも一つの輝度を増加させることで、白色光が青色に片寄る色温度を有することを防止することができる。

0090

また、白色光を放出する有機発光素子において臨界温度データ未満の周辺温度によって青色光を放出する第2の有機発光層は、第1の有機発光層よりさらに多く劣化された場合には、青色光を放出する第3サブ画素の個別補償ゲイン値を調節して、第3サブ画素の輝度を増加させることで、白色光が黄色に片寄る色温度を有することを防止することができる。

0091

したがって、周辺温度による第1及び第2の有機発光層の劣化差を補償することができ、白色光の色温度変化を防止することができる。

0092

これについて、図5ないし図9を参照してさらに詳説する。

0093

図5は、周辺温度による輝度変化率の差を示した図面である。図6は、周辺温度による色温度変化率の差を示した図面である。図7は、色座標において、周辺温度による色温度変化の方向を示した図面である。図8は、赤色または緑色に対応するサブ画素及び白色に対応するサブ画素において、製造時の輝度、劣化時の輝度、劣化予測データに従い補償された輝度及び劣化予測データと第1の温度劣化データに従い補償された輝度を概略的に示す図面である。そして、図9は、青色に対応するサブ画素及び白色に対応するサブ画素において、製造時の輝度、劣化時の輝度、劣化予測データに従い補償された輝度及び劣化予測データと第2の温度劣化データに従い補償された輝度を概略的に示す図面である。

0094

図5に示したように、時間が経過するほど有機発光素子は劣化されて、有機発光素子の輝度は、初期に比べて次第に減少される。また、周辺温度が60℃以上である場合の輝度変化率は、周辺温度が約33℃である場合の輝度変化率より大きい傾きに下がることを確認することができる。参考に、図5において、横軸累積駆動時間であり、縦軸初期輝度と対比して劣化された輝度の割合を示す。

0095

そして、図6に示したように、周辺温度が60℃以上である場合の色温度変化率は、累積駆動時間が経過するほど次第に上がる反面、周辺温度が約33℃である場合の色温度変化率は、累積駆動時間が経過するほど次第に下がることを確認することができる。ここで、色温度変化率の上昇は、白色の色温度が青色に近づくことを意味し、色温度変化率の下降は、白色の色温度が赤色または緑色に近づくことを意味する。

0096

すなわち、図7に示したように、周辺温度が60℃以上である場合、白色の色温度は青色に近づくA方向に変動する。一方、周辺温度が約33℃である常温の場合、白色の色温度は、赤色と緑色の間の黄色に近づくB方向に変動する。

0097

これによって、本発明の一実施形態によれば、周辺温度によって白色の色温度が変動するだけ各単位画素の赤色、緑色及び青色に対応する第1、第2及び第3サブ画素の輝度を変更することで、白色の色温度を維持することができる。

0098

例示として、図8bに示したように、有機発光表示装置の累積駆動時間によって、青色の輝度(B)及び白色の輝度(W)は、同じデータ信号対初期値図8a)に比べて減少する。

0099

これに、図8cに示したように、有機発光表示装置の累積駆動時間による有機発光素子の劣化を補償するための各サブ画素の劣化予測データを通じて、青色の輝度(B)及び白色の輝度(W)は、初期値(図8a)と類似になれる。

0100

そして、本発明の一実施形態によれば、有機発光表示装置の温度により白色を放出するサブ画素において、青色に対応する第2の有機発光層は、黄色に対応する第1の有機発光層よりさらに多く劣化される相異点を補償するための第2温度劣化データを通じて、青色の輝度(B)を初期値より高く増加させる。これにより、第2の有機発光層は、第1の有機発光層よりさらに多く劣化されるとしても、白色の色温度は黄色に片寄らないように維持することができる。

0101

さらに、図9bに示したように、有機発光表示装置の累積駆動時間によって、赤色の輝度(R)及び白色の輝度(W)は、同じデータ信号対比初期値(図9a)に比べて減少する。

0102

これに、図9cに示したように、有機発光表示装置の累積駆動時間による有機発光素子の劣化を補償するための各サブ画素の劣化予測データを通じて、赤色の輝度(R)及び白色の輝度(W)は初期値(図9a)と類似になれる。

0103

そして、本発明の一実施形態によれば、有機発光表示装置の温度により白色を放出するサブ画素において、黄色に対応する第1の有機発光層は、青色に対応する第2の有機発光層よりさらに多く劣化される相異点を補償するための第1温度劣化データを通じて、赤色の輝度(R)を初期値より高く増加させる。これにより、第1の有機発光層は、第2の有機発光層よりさらに多く劣化されるとしても、白色の色温度が青色に片寄らないように維持することができる。

0104

一方、本発明の一実施形態によれば、グローバル補償ゲイン値に基づいて、各サブ画素の変調データ(Mdata)を生成する。

0105

例示として、グローバル補償ゲイン値算出部250は、全体サブ画素各々の累積データ(Adata)のうち最高値を検出して、最高累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値を算出することができる。そして、グローバル補償ゲイン値によって、各サブ画素の入力補正データ(Idata')は全体として減少される。

0106

図10は、個別補償ゲイン値によって補償された輝度、及び個別補償ゲイン値とグローバル補償ゲイン値によって補償された輝度を示す図面である。

0107

図10に示したように、最高累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値を算出する場合、個別補償ゲイン値とグローバル補償ゲイン値によって補償された輝度(B)は、個別補償ゲイン値によって補償された輝度(A)に比べて全体として減少される。

0108

このようにすれば、有機発光素子の劣化速度を遅延させるという特長がある。すなわち、最高累積データのサブ画素は、比較的に大きい個別補償ゲイン値によってさらに大きい輝度を表示するように駆動されると、他のサブ画素に比べてさらに早く劣化されることで、結果として不良になる問題点がある。一方、本発明の一実施形態によれば、全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値によって全体サブ画素の輝度を調節することで、全体サブ画素の劣化速度を比較的に均一に合わせることができ、それにより装置の寿命を増加することができる。

0109

以上で説明した本発明は、上述した実施形態及び添付図面に限定されるものではなく、本発明の技術的思想を脱しない範囲内で様々な置換、変形及び変更が可能であることは、本発明が属する技術分野で従来の知識を有する者においては自明である。

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