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技術 眼科装置

出願人 株式会社トプコン
発明者 田村太一
出願日 2016年11月18日 (4年1ヶ月経過) 出願番号 2016-224711
公開日 2017年3月30日 (3年9ヶ月経過) 公開番号 2017-060809
状態 特許登録済
技術分野 眼の診断装置
主要キーワード 光量波形 撮影用照明光 投光光軸 STEP 撮影用照明光源 焦点調整用 焦点合せ 反射光信号
関連する未来課題
重要な関連分野

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図面 (7)

課題

角膜膜厚の正確な値を測定可能眼科装置を提供する。

解決手段

検眼Eの角膜Cに向けて斜めからスリット光照射する角膜厚測定光学系11と、角膜Cからの反射光受光して光量を検出する角膜厚検出系12と、制御装置49とを具備し、制御装置49はスリット光の光量を変更可能であり、角膜Cに向けて光量の異なる2段階のスリット光を照射させ、2段階のスリット光のうち光量の大きい一方のスリット光から角膜Cの内皮反射された反射光の光量ピーク位置を取得し、光量の小さい他方のスリット光から角膜Cの表面で反射された反射光の光量ピーク位置を取得し、2つの光量ピーク位置の差から非接触にて角膜Cの膜厚を測定する。

概要

背景

角膜内皮細胞撮影は、照明光角膜に対して斜め方向から照射し、角膜内皮反射した光をCCD等の受光素子で捉えて撮影される。

角膜に撮影用の照明光を照射した場合、照明光の一部は角膜表面で反射され、角膜を透過した一部の光が角膜内皮で反射される。

内皮細胞の撮影を行うには、角膜表面で反射された光と角膜内皮で反射された光とを分離し、分離した角膜内皮で反射された反射光信号をCCD等の受光素子で捉えて撮影する必要がある。

この為、撮影の際に使用される照明光は、スリット光とされ、角膜表面からの反射光と角膜内皮からの反射光を分離する為、照明光を角膜に対して斜め方向から照射している。

又、角膜の膜厚を測定する際には、先ず角膜表面からの反射光信号と角膜内皮からの反射光信号を基に、図6に示される様な、光量波形データ65が取得される。次に該光量波形データ65を基に、角膜の内皮で反射された内皮反射光66の光量が極大となる光量ピーク位置と、角膜の表面で反射された表面反射光67の光量が極大となる光量ピーク位置を同時に求め、求めた光量ピーク位置同士の差から角膜の膜厚を求めている。

然し乍ら、前記内皮反射光66の光量に対し、前記表面反射光67の光量は数十倍大きく、該表面反射光67は飽和した信号となっており、正確なピーク位置を取得することができない。この為、従来では飽和した前記表面反射光67の重心を求め、該重心を前記表面反射光67の光量ピーク位置としており、角膜の膜厚を正確に測定するのは困難であった。

概要

角膜の膜厚の正確な値を測定可能眼科装置を提供する。被検眼Eの角膜Cに向けて斜めからスリット光を照射する角膜厚測定光学系11と、角膜Cからの反射光を受光して光量を検出する角膜厚検出系12と、制御装置49とを具備し、制御装置49はスリット光の光量を変更可能であり、角膜Cに向けて光量の異なる2段階のスリット光を照射させ、2段階のスリット光のうち光量の大きい一方のスリット光から角膜Cの内皮で反射された反射光の光量ピーク位置を取得し、光量の小さい他方のスリット光から角膜Cの表面で反射された反射光の光量ピーク位置を取得し、2つの光量ピーク位置の差から非接触にて角膜Cの膜厚を測定する。

目的

本発明は斯かる実情に鑑み、角膜の膜厚の正確な値を測定可能な眼科装置を提供する

効果

実績

技術文献被引用数
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牽制数
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請求項1

検眼角膜に向けて斜めからスリット光照射する角膜厚測定光学系と、前記角膜からの反射光受光して光量を検出する角膜厚検出系と、制御装置とを具備し、該制御装置は前記スリット光の光量を変更可能であり、前記角膜に向けて光量の異なる2段階のスリット光を照射させ、該2段階のスリット光のうち光量の大きい一方のスリット光から前記角膜の内皮反射された反射光の光量ピーク位置を取得し、光量の小さい他方のスリット光から前記角膜の表面で反射された反射光の光量ピーク位置を取得し、2つの光量ピーク位置の差から非接触にて前記角膜の膜厚を測定することを特徴とする眼科装置

請求項2

前記一方のスリット光は、前記角膜の内皮で反射された光量のピーク位置を取得可能な光量であり、前記他方のスリット光は、前記角膜の表面で反射された光量のピーク位置を取得可能な光量である請求項1の眼科装置。

請求項3

前記スリット光の光量は複数段階に変更可能であり、前記制御装置は少なくとも前記角膜の表面で反射された反射光の光量ピーク位置が取得可能な段階を選択する請求項1又は請求項2の眼科装置。

技術分野

0001

本発明は、非接触にて角膜内皮細胞撮影及び角膜膜厚測定を行う眼科装置に関するものである。

背景技術

0002

角膜内皮細胞の撮影は、照明光を角膜に対して斜め方向から照射し、角膜内皮反射した光をCCD等の受光素子で捉えて撮影される。

0003

角膜に撮影用の照明光を照射した場合、照明光の一部は角膜表面で反射され、角膜を透過した一部の光が角膜内皮で反射される。

0004

内皮細胞の撮影を行うには、角膜表面で反射された光と角膜内皮で反射された光とを分離し、分離した角膜内皮で反射された反射光信号をCCD等の受光素子で捉えて撮影する必要がある。

0005

この為、撮影の際に使用される照明光は、スリット光とされ、角膜表面からの反射光と角膜内皮からの反射光を分離する為、照明光を角膜に対して斜め方向から照射している。

0006

又、角膜の膜厚を測定する際には、先ず角膜表面からの反射光信号と角膜内皮からの反射光信号を基に、図6に示される様な、光量波形データ65が取得される。次に該光量波形データ65を基に、角膜の内皮で反射された内皮反射光66の光量が極大となる光量ピーク位置と、角膜の表面で反射された表面反射光67の光量が極大となる光量ピーク位置を同時に求め、求めた光量ピーク位置同士の差から角膜の膜厚を求めている。

0007

然し乍ら、前記内皮反射光66の光量に対し、前記表面反射光67の光量は数十倍大きく、該表面反射光67は飽和した信号となっており、正確なピーク位置を取得することができない。この為、従来では飽和した前記表面反射光67の重心を求め、該重心を前記表面反射光67の光量ピーク位置としており、角膜の膜厚を正確に測定するのは困難であった。

先行技術

0008

特開2004−290286号公報

発明が解決しようとする課題

0009

本発明は斯かる実情に鑑み、角膜の膜厚の正確な値を測定可能な眼科装置を提供するものである。

課題を解決するための手段

0010

本発明は、被検眼の角膜に向けて斜めからスリット光を照射する角膜厚測定光学系と、前記角膜からの反射光を受光して光量を検出する角膜厚検出系と、制御装置とを具備し、該制御装置は前記スリット光の光量を変更可能であり、前記角膜に向けて光量の異なる2段階のスリット光を照射させ、該2段階のスリット光のうち光量の大きい一方のスリット光から前記角膜の内皮で反射された反射光の光量ピーク位置を取得し、光量の小さい他方のスリット光から前記角膜の表面で反射された反射光の光量ピーク位置を取得し、2つの光量ピーク位置の差から非接触にて前記角膜の膜厚を測定する眼科装置に係るものである。

0011

又本発明は、前記一方のスリット光は、前記角膜の内皮で反射された光量のピーク位置を取得可能な光量であり、前記他方のスリット光は、前記角膜の表面で反射された光量のピーク位置を取得可能な光量である眼科装置に係るものである。

0012

更に又本発明は、前記スリット光の光量は複数段階に変更可能であり、前記制御装置は少なくとも前記角膜の表面で反射された反射光の光量ピーク位置が取得可能な段階を選択する眼科装置に係るものである。

発明の効果

0013

本発明によれば、被検眼の角膜に向けて斜めからスリット光を照射する角膜厚測定光学系と、前記角膜からの反射光を受光して光量を検出する角膜厚検出系と、制御装置とを具備し、該制御装置は前記スリット光の光量を変更可能であり、前記角膜に向けて光量の異なる2段階のスリット光を照射させ、該2段階のスリット光のうち光量の大きい一方のスリット光から前記角膜の内皮で反射された反射光の光量ピーク位置を取得し、光量の小さい他方のスリット光から前記角膜の表面で反射された反射光の光量ピーク位置を取得し、2つの光量ピーク位置の差から非接触にて前記角膜の膜厚を測定するので、該角膜の内皮からの反射光と、該角膜の表面からの反射光の正確な光量ピーク位置を取得することができ、前記角膜の正確な膜厚を測定することができる。

0014

又本発明によれば、前記一方のスリット光は、前記角膜の内皮で反射された光量のピーク位置を取得可能な光量であり、前記他方のスリット光は、前記角膜の表面で反射された光量のピーク位置を取得可能な光量であるので、該角膜の内皮からの反射光と、該角膜の表面からの反射光の正確な光量ピーク位置を取得することができ、前記角膜の正確な膜厚を測定することができる。

0015

更に又本発明によれば、前記スリット光の光量は複数段階に変更可能であり、前記制御装置は少なくとも前記角膜の表面で反射された反射光の光量ピーク位置が取得可能な段階を選択するので、前記角膜の厚さの個人差等により、該角膜の表面からの反射光の光量が異なる場合であっても、前記スリット光の光量を前記角膜の表面からの反射光の光量ピーク位置を得るのに最適な光量とすることができるという優れた効果を発揮する。

図面の簡単な説明

0016

本発明の実施例に係る眼科装置の概略構成図である。
前記眼科装置の制御装置の概略構成図である。
前記眼科装置により角膜の膜厚測定を説明するフローチャートである。
角膜の内皮からの反射光の光量ピーク位置を求める為の第1光量波形データを説明する説明図である。
角膜の表面からの反射光の光量ピーク位置を求める為の第2光量波形データを説明する説明図である。
従来の角膜の膜厚を求める為の光量波形データを説明する説明図である。

実施例

0017

以下、図面を参照しつつ本発明の実施例を説明する。

0018

先ず、本発明の実施例に係る眼科装置の概略構成を説明する。

0019

図1は、該眼科装置の基本的な光学系を示す概略構成図である。

0020

図1中、Eは被検眼、2はXYZの三軸方向に移動可能な装置本体を示している。該装置本体2の内部に、前眼部観察光学系3と、撮影用照明光学系4と、撮影光学系5と、Zアライメント投影系6と、Zアライメント検出系7と、XYアライメント投影系8と、固視投影系9と、XYアライメント検出系10と、角膜厚測定光学系11と、角膜厚検出系12とを有している。

0021

尚、前記XYアライメント検出系10は前記前眼部観察光学系3と兼用であり、前記角膜厚測定光学系11は前記Zアライメント投影系6と兼用であり、前記角膜厚検出系12は前記Zアライメント検出系7と兼用となっている。

0022

更に、構成を説明する。

0023

図1に於いて、前記前眼部観察光学系3は左右の前記被検眼Eに対応してそれぞれ配設され、前記前眼部観察光学系3の主光軸O1はそれぞれ前記被検眼Eの光軸合致する様に設けられ、前記主光軸O1は前記被検眼Eの角膜Cの頂点Pを通過する様に設定される。

0024

前記主光軸O1上に前記被検眼E側からハーフミラー15、対物レンズ16、受光素子17が設けられている。該受光素子17には、CCD素子が用いられ、又該受光素子17は前記対物レンズ16に関して前記XYアライメント投影系8によって前記角膜Cに投影された光が、該角膜Cで反射することによってできる虚像と共役の位置に配置されている。尚、前記主光軸O1、前記対物レンズ16、前記受光素子17は前記XYアライメント検出系10も構成する。

0025

前記撮影用照明光学系4は、前記頂点Pを通過する投光光軸O2を有し、該投光光軸O2は前記主光軸O1に対してθ1(30°)傾斜している。

0026

前記投光光軸O2上に、前記被検眼Eから離反する位置から該被検眼Eに向って、撮影用照明光源21、集光レンズ22、スリット板23、ダイクロイックミラー24、対物レンズ25が設けられている。

0027

前記撮影用照明光源21としては、可視光、例えば緑色光を発する発光ダイオードLED)が用いられる。前記スリット板23はスリット孔穿設されており、前記撮影用照明光源21から発せられた可視光がスリット光として照射される。前記スリット板23と前記角膜Cとは、前記対物レンズ25に関して共役となっている。

0028

又、前記スリット板23で形成されるスリット幅は、前記角膜Cの表面で反射された反射光と、角膜内皮で反射された反射光とが分離できる幅に制限される。

0029

前記Zアライメント投影系6は、前記ダイクロイックミラー24によって分岐される光軸O3上に光源26、集光レンズ27、スリット板28が設けられている。前記光源26としては、赤外光射出する発光ダイオード(LED)が用いられる。該光源26は複数段階に明るさを変更可能であり、例えば1/10、1/20、1/30、1/40、1/50の5段階に明るさを変更できる様になっている。

0030

前記スリット板28と前記角膜Cとは前記対物レンズ25に関して共役の位置となっている。前記ダイクロイックミラー24は緑色光を透過し、赤外光を反射する様になっている。尚、前記光軸O3、前記ダイクロイックミラー24、前記光源26、前記集光レンズ27、前記スリット板28は前記角膜厚測定光学系11も構成する。

0031

前記撮影光学系5は、前記主光軸O1に関して前記投光光軸O2と対称となっている撮影光軸O4を有し、該撮影光軸O4は前記頂点Pを透過する。従って、前記投光光軸O2と前記撮影光軸O4とは前記頂点Pに関し、入射光軸反射光軸の関係にあり、前記撮影光軸O4は前記主光軸O1に対してθ1(30°)傾斜している。

0032

該撮影光軸O4上には、前記被検眼E側から対物レンズ31、ダイクロイックミラー32、ミラー34を有し、前記撮影光軸O4は前記ミラー34で偏向され、偏向された撮影光軸O4上には焦点調整用リレーレンズ35、ミラー37が設けられ、該ミラー37で反射された光束は撮像素子36に結像される様になっている。尚、前記撮影光学系5は撮像部19を構成する。

0033

前記撮像素子36は、前記撮影光軸O4に対してθ2(15°)傾斜して設けられている。又、前記撮像素子36の傾斜方向は、撮影する内皮面の前記撮影光軸O4に対する傾斜方向と同一となっている。

0034

前記リレーレンズ35は、前記撮影光軸O4に沿って変位可能となっており、前記リレーレンズ35は焦点合せ機構39によって前記撮影光軸O4に沿って位置が調整される様になっている。前記角膜Cと前記撮像素子36とは前記対物レンズ31に関して共役の位置となっている。

0035

前記ダイクロイックミラー32で反射され、偏向される光軸O5上にはリレーレンズ40、受光センサ38が設けられている。該受光センサ38は、例えば2048画素ラインセンサ等の1次元センサであり、該受光センサ38は前記角膜Cと前記対物レンズ31に関し共役となっている。

0036

前記ダイクロイックミラー32は赤外光を反射し、緑色光を透過する光学特性を有しており、前記光源26で射出され、前記角膜Cで反射された赤外光は、前記受光センサ38に導かれる。前記ダイクロイックミラー32、前記リレーレンズ40、前記受光センサ38は前記Zアライメント検出系7を構成する。尚、前記光軸O5、前記ダイクロイックミラー32、前記リレーレンズ40、前記受光センサ38は前記角膜厚検出系12も構成する。

0037

次に、前記XYアライメント投影系8について説明する。

0038

前記ハーフミラー15で分岐された光軸O6上にはリレーレンズ41、ダイクロイックミラー42が設けられ、更に該ダイクロイックミラー42の反射光軸上にはリレーレンズ47、XYアライメント用光源46が設けられている。該XYアライメント用光源46は赤外光を射出し、前記ダイクロイックミラー42は赤外光を反射し、可視光を透過する特性を有している。

0039

該ダイクロイックミラー42の通過光軸上には、固視標43が設けられている。該固視標43は可視光で照明された図形パターンであってもよく、或は可視光を発する光源であってもよい。前記固視標43は前記リレーレンズ41によって、正規の被検眼Eが固視できる様に無限遠光として投影される、又は、近視の被検眼Eが固視できる様に発散光で投影してもよい。前記ハーフミラー15、前記リレーレンズ41、前記固視標43等は、前記固視投影系9を構成する。

0040

前記受光素子17が受光した結果、及び前記受光センサ38が受光した結果はアライメント検出部48で検出され、検出結果は制御部49に出力される。該制御部49は、検出結果に基づき本体駆動部52を制御し、前記装置本体2をXYZの所要の方向に移動させ、前記被検眼Eと前記装置本体2とのアライメントを実行する。

0041

又、アライメントの完了後、前記受光センサ38が受光した結果が光量波形変換部50で検出される。該光量波形変換部50は、連続する受光信号を光量波形データへとA/D変換し、前記制御部49に出力する。該制御部49は、前記光量波形変換部50により入力された光量波形データを基に、角膜内皮の膜厚を測定する。

0042

図2は、前記眼科装置の制御装置51の概略を示している。

0043

該制御装置51は、主に前記撮像部19、前記アライメント検出部48、光量波形変換部50、前記光源26、前記本体駆動部52、記憶部53、表示部54、操作部55を具備している。

0044

前記アライメント検出部48からアライメント検出結果が入力されると、前記制御部49は検出結果に基づき前記本体駆動部52を駆動し、前記装置本体2をアライメントさせる方向に変位させる。又、前記制御部49は、前記撮像部19を制御して該撮像部19による内皮細胞の画像を取得する。該撮像部19で取得された画像は前記制御部49に送出され、所要の画像処理がなされ、前記記憶部53に格納され、或は前記表示部54に表示される。

0045

アライメントの完了後、前記制御部49は前記光源26の光量を、前記角膜Cの内皮からの反射光のピーク位置が取得可能な光量(以下基準光量)となる様点灯を制御する。基準光量で点灯させた状態で、前記光量波形変換部50から検出結果、即ち前記角膜Cからの反射光の光量波形データが入力されると、前記制御部49は入力された光量波形データを図4に示される様な、第1光量波形データ57として前記記憶部53に格納する。

0046

又、前記制御部49は、前記光源26の点灯を制御し、該光源26の光量を前記角膜Cの表面からの反射光が飽和しない光量となる迄段階的に減少させ、例えば基準光量の1/20に減少させる。該光源26の光量を減少させた状態で、前記光量波形変換部50より前記角膜Cからの反射光の光量波形データが入力されると、前記制御部49は入力された光量波形データを図5に示される様な、第2光量波形データ58として前記記憶部53に格納する。

0047

更に、前記制御部49は、前記第1光量波形データ57と前記第2光量波形データ58から、角膜内皮からの内皮反射光59の光量の極大値ピーク値)が得られる前記受光センサ38上の位置である光量ピーク位置61と、角膜表面からの表面反射光62の光量の極大値(ピーク値)が得られる前記受光センサ38上の位置である光量ピーク位置63とを求め、求めた前記受光センサ38上の光量ピーク位置と該受光センサ38の画素ピッチを基に、角膜内皮の膜厚を測定する。

0048

又、前記操作部55からは、前記制御部49に必要な条件、撮影開始等の指示が入出力される。

0049

次に、図3のフローチャートを用い、前記眼科装置による角膜の膜厚測定について説明する。

0050

STEP:01 前記操作部55より前記角膜Cの膜厚測定開始指示が入力されると、先ず前記制御部49により1回目の測定かどうかが判断される。

0051

STEP:02 STEP:01にて1回目の測定であると判断されると、前記制御部49は前記光源26の点灯を制御し、該光源26を基準光量で点灯させる。

0052

STEP:03 前記スリット板28を介して前記光源26から照射され、前記角膜Cに反射されたスリット光は、連続するアナログの反射光信号として前記受光センサ38に受光され、前記光量波形変換部50に入力される。該光量波形変換部50は、入力された反射光信号をA/D変換することで、図4に示される様な前記第1光量波形データ57へと変換する。前記制御部49は、前記光量波形変換部50によって変換された前記第1光量波形データ57を前記記憶部53に格納する。

0053

STEP:04 STEP:03が終了すると、再度STEP:01の判断が行われる。STEP:01で1回目の測定ではないと判断されると、前記制御部49は、前記光源26の点灯を制御し、前記第2光量波形データ58に前記表面反射光62のピーク値が現れ、前記光量ピーク位置63が取得可能となる迄光量を段階的に減少させる。例えば、前記制御部49は基準光量の1/20迄減少させて前記光源26を点灯させる。

0054

STEP:05 前記スリット板28を介して前記光源26から照射され、前記角膜Cに反射されたスリット光は、連続するアナログの反射光信号として前記受光センサ38に受光され、前記光量波形変換部50に入力される。該光量波形変換部50は、入力された反射光信号をA/D変換することで、図5に示される様な前記第2光量波形データ58へと変換する。前記制御部49は、前記光量波形変換部50によって変換された前記第2光量波形データ58を前記記憶部53に格納する。

0055

STEP:06 該記憶部53に前記第1光量波形データ57、前記第2光量波形データ58が格納されると、次に前記制御部49は、前記第1光量波形データ57、前記第2光量波形データ58を基に、前記角膜Cの内皮で反射された前記内皮反射光59の前記受光センサ38上の前記光量ピーク位置61と、前記角膜Cの表面で反射された前記表面反射光62の前記受光センサ38上の前記光量ピーク位置63を求める。

0056

図4に示される様に、通常の光量でスリット光を照射した前記第1光量波形データ57は、前記内皮反射光59の前記光量ピーク位置61は得られるが、前記表面反射光62が飽和し、前記光量ピーク位置63を得ることができない。従って、前記制御部49は、前記第1光量波形データ57から前記内皮反射光59の前記光量ピーク位置61のみを取得する。

0057

又、図5に示される様に、前記第2光量波形データ58に前記表面反射光62の前記光量ピーク位置63が取得可能となる迄光量を段階的に減少させる。例えば、1/20迄光量を減少させたスリット光を照射した前記第2光量波形データ58では、光量の不足により前記内皮反射光59の前記光量ピーク位置61を得ることはできないが、前記表面反射光62は、飽和することなく前記光量ピーク位置63を得ることができる。従って、前記制御部49は、前記第2光量波形データ58から前記表面反射光62の前記光量ピーク位置63のみを取得する。

0058

STEP:07 最後に、前記制御部49は、前記第1光量波形データ57から取得した前記内皮反射光59の前記光量ピーク位置61と、前記第2光量波形データ58から取得した前記表面反射光62の前記光量ピーク位置63の差を求め、求めた光量ピーク位置61,63の差と前記受光センサ38の画素ピッチとから前記角膜Cの膜厚を演算し、該角膜Cの膜厚測定を終了する。

0059

上述の様に、本実施例に於いては、前記光源26の光量を変更可能とし、該光源26の光量を変更して前記内皮反射光59の前記光量ピーク位置61を取得可能な前記第1光量波形データ57と、前記表面反射光62の前記光量ピーク位置63を取得可能な前記第2光量波形データ58を取得可能となっている。

0060

従って、前記内皮反射光59と、前記表面反射光62の正確な光量ピーク位置61,63を取得することができ、前記角膜Cの正確な膜厚を測定することができる。

0061

又、前記光源26の光量を複数段階、例えば1/10、1/20、1/30、1/40、1/50の5段階に変更可能となっているので、前記角膜Cの厚さの個人差等により、通常の1/20の光量では前記表面反射光62の前記光量ピーク位置63が得られない場合であっても、最適な光量に変更可能であり、該光量ピーク位置63が取得可能な前記第2光量波形データ58を得ることができる。

0062

尚、本実施例に於いては、前記光源26の光量を5段階に制御可能としているが、6段階以上に制御可能としてもよいのは言う迄もない。

0063

又、本実施例に於いては、前記受光センサ38をラインセンサ等の1次元センサとしているが、2次元センサを用いてもよいのは言う迄もない。

0064

又、本実施例に於いては、前記内皮反射光59の前記光量ピーク位置61が取得可能な前記光源26の光量を基準光量としているが、前記表面反射光62の前記光量ピーク位置63が取得可能な前記光源26の光量を基準光量とし、該基準光量を前記内皮反射光59の前記光量ピーク位置61が取得可能となる迄段階的に増大させる様にしてもよい。

0065

又、前記角膜Cの膜厚測定後、再度第1光量波形データ57を取得し、該第1光量波形データ57と先に取得した前記第1光量波形データ57同士を比較してもよい。該第1光量波形データ57同士を比較することで、前記第1光量波形データ57の取得から前記第2光量波形データ58の取得迄の間に前記被検眼Eが動いているかどうかを確認することができ、前記角膜Cの膜厚測定の精度をより高めることができる。

0066

更に、前記光量波形データ57同士を比較した際に、前記被検眼Eが動いていると判断された場合には、STEP:01〜STEP:07の処理を複数回繰返し、測定された複数の前記角膜Cの膜厚を平均し、該角膜Cの膜厚としてもよい。

0067

2 装置本体
9固視投影系
11角膜厚測定光学系
12角膜厚検出系
26光源
49 制御部
50光量波形変換部
51制御装置
53 記憶部
57 第1光量波形データ
58 第2光量波形データ
59内皮反射光
61光量ピーク位置
62表面反射光
63 光量ピーク位置

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