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図面 (9)

課題

先行技術の問題点の少なくとも一つを軽減する。

解決手段

検眼断層画像撮影する眼科装置であって、光源からの光を測定光参照光とに分割する分割手段と、対物レンズユニットを含み、被検眼に測定光を導光かつ集光させる導光光学系と、導光光学系の光路中に配置され、前眼部と眼底との間で測定光の集光位置を光軸方向に変更可能な集光位置可変手段と、測定光と参照光との干渉光を検出する検出手段と、検出手段の検出結果に基づいて前眼部と眼底部の断層画像を形成する画像形成手段を備え、集光位置可変手段は、集光位置を変更する2つ以上の光学部材を駆動させる駆動部を備え、眼底部の断層画像を得る際、対物レンズユニットに入射する光束がテレセントリック、前眼部の断層画像を得る際、対物レンズユニットから射出される光束がテレセントリック、に設定可能であることを特徴とする。

概要

背景

光走査光学系(例えば、ガルバノミラー)を用いて眼底上で測定光走査し、眼底像を得る眼科装置としては、眼底断層像撮影装置(例えば、光干渉断層計(Optical Coherence Tomography:OCT))、眼底正面像撮影装置(例えば、走査型検眼装置(Scanning Laser Opthalmoscope:SLO))などが知られている(特許文献1参照)。

ところで、近年、例えば、光学素子光路に対して挿脱することによって、被検眼の眼底と前眼部とで、作動距離切り換え撮影を行う眼科装置が提案されている。

概要

先行技術の問題点の少なくとも一つを軽減する。 被検眼の断層画像を撮影する眼科装置であって、光源からの光を測定光と参照光とに分割する分割手段と、対物レンズユニットを含み、被検眼に測定光を導光かつ集光させる導光光学系と、導光光学系の光路中に配置され、前眼部と眼底との間で測定光の集光位置を光軸方向に変更可能な集光位置可変手段と、測定光と参照光との干渉光を検出する検出手段と、検出手段の検出結果に基づいて前眼部と眼底部の断層画像を形成する画像形成手段を備え、集光位置可変手段は、集光位置を変更する2つ以上の光学部材を駆動させる駆動部を備え、眼底部の断層画像を得る際、対物レンズユニットに入射する光束がテレセントリック、前眼部の断層画像を得る際、対物レンズユニットから射出される光束がテレセントリック、に設定可能であることを特徴とする。

目的

上記の問題点を鑑み、先行技術の問題点の少なくとも一つを軽減することを技術課題とする

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

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請求項1

検眼断層画像撮影するための眼科装置であって、光源からの光を測定光参照光とに分割する分割手段と、対物レンズユニットを含み、前記被検眼に前記測定光を導光かつ集光させる導光光学系と、前記導光光学系の光路中に配置され、前眼部と眼底との間で前記測定光の集光位置を光軸方向に変更可能な集光位置可変手段と、前記導光光学系を介して被検眼に導かれた前記測定光と、前記参照光との干渉光を検出する検出手段であって、前記制御手段の制御に応じた前記干渉光のそれぞれを検出する検出手段と、前記検出手段による前記干渉光の検出結果に基づいて、前記前眼部と前記眼底部の断層画像をそれぞれ形成する画像形成手段と、を備え、前記集光位置可変手段は、集光位置と対物レンズユニットからの射出角度を変更するための少なくとも2つの光学部材を駆動させる駆動部を備え、眼底部の断層画像を得る際に、前記導光光学系は対物レンズユニットに入射する光束がテレセントリック、前眼部の断層画像を得る際に、前記導光光学系は対物レンズユニットから射出される光束がテレセントリック、に設定可能であることを特徴とする眼科装置。

請求項2

前記集光位置可変手段は、前記駆動部を制御し、眼底部の断層画像を得る際、走査光学系の走査面と瞳孔共役関係になり、前眼部の断層画像を得る際、前眼部観察時、前記走査光学系の走査面と瞳孔面が瞳‐像関係になり、さらに瞳孔面への照射光束がテレセントリックになるように、前記光学部材を駆動させることを特徴とする請求項1の眼科装置。

請求項3

前記屈折力可変手段は、第1屈折力可変系および第2屈折力可変系を備え、前記第1屈折力可変系および前記第2屈折力可変系が、以下の式を満たすように配置されることを特徴とする請求項2の眼科装置。{dは前記第1屈折力可変系の最も走査光学系側屈折面から前記第2屈折力可変系の最も走査光学系側の屈折面までの距離、Gc1は前眼部撮影時の前記第1屈折力可変系の焦点距離、Gc2は前眼部撮影時の前記第2屈折力可変系の焦点距離、Foは前記対物レンズユニットの焦点距離。}

請求項4

前記屈折力可変手段は、第1屈折力可変系および第2屈折力可変系を備え、前記第1屈折力可変系および前記第2屈折力可変系が、以下の式を満たすように配置されることを特徴とする請求項2の眼科装置。{dは前記第1屈折力可変系の最も走査光学系側の屈折面から前記第2屈折力可変系の最も走査光学系側の屈折面までの距離、Gc1は前眼部撮影時の前記第1屈折力可変系の焦点距離、Gc2は前眼部撮影時の前記第2屈折力可変系の焦点距離、Foは前記対物レンズユニットの焦点距離。}

技術分野

0001

本開示は、被検眼断層像撮影するための眼科装置に関する。

背景技術

0002

光走査光学系(例えば、ガルバノミラー)を用いて眼底上で測定光走査し、眼底像を得る眼科装置としては、眼底断層像撮影装置(例えば、光干渉断層計(Optical Coherence Tomography:OCT))、眼底正面像撮影装置(例えば、走査型検眼装置(Scanning Laser Opthalmoscope:SLO))などが知られている(特許文献1参照)。

0003

ところで、近年、例えば、光学素子光路に対して挿脱することによって、被検眼の眼底と前眼部とで、作動距離切り換えて撮影を行う眼科装置が提案されている。

先行技術

0004

特開2008−29467号公報

発明が解決しようとする課題

0005

しかしながら、従来の装置の場合、前眼部画像倍率が変化することがあった。また、前眼部を撮影する際に専用のアタッチメント等を装置に装着する必要があり、手間であった。

0006

上記の問題点を鑑み、先行技術の問題点の少なくとも一つを軽減することを技術課題とする。

課題を解決するための手段

0007

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。

0008

(1) 被検眼の断層画像を撮影するための眼科装置であって、光源からの光を測定光と参照光とに分割する分割手段と、対物レンズユニットを含み、前記被検眼に前記測定光を導光かつ集光させる導光光学系と、前記導光光学系の光路中に配置され、前眼部と眼底との間で前記測定光の集光位置を光軸方向に変更可能な集光位置可変手段と、前記導光光学系を介して被検眼に導かれた前記測定光と、前記参照光との干渉光を検出する検出手段であって、前記制御手段の制御に応じた前記干渉光のそれぞれを検出する検出手段と、前記検出手段による前記干渉光の検出結果に基づいて、前記前眼部と前記眼底部の断層画像をそれぞれ形成する画像形成手段と、を備え、前記集光位置可変手段は、集光位置と対物レンズユニットからの射出角度を変更するための少なくとも2つの光学部材を駆動させる駆動部を備え、眼底部の断層画像を得る際は、前記導光光学系は対物レンズユニットに入射する光束がテレセントリック、前眼部の断層画像を得る際は、前記導光光学系は対物レンズユニットから射出される光束がテレセントリック、に設定可能であることを特徴とする。

図面の簡単な説明

0009

本実施例の眼科装置の構成を示す概略図である。
焦点位置可変系を説明するための図である。
焦点位置可変系の一例である液晶レンズを説明する図である。
屈折力可変素子を2つ備えた焦点距離可変系を説明するための図である。
表示モニタに表示された眼底と前眼部の断層画像の一例を示す画像である。
導光光学系の一例を示す図である。
屈折力可変系の制御の一例を説明するための図である。
屈折力可変系の制御の一例を説明するための図である。

実施例

0010

概要
以下、第1実施形態の概要を説明する。第1実施形態の眼科装置は、例えば、被検眼の深さ情報を取得するための眼科装置1である(図1参照)。眼科装置1は、例えば、フーリエドメイン光コヒーレンストモグラフィーFD−OCT)を基本的構成とする。眼科装置1は、干渉光学系100(OCT光学系)、制御部70を含む。FD−OCTとしては、波長掃引式OCT(SS−OCT:Swept source-OCT)、スペクトルドメインOCT(SD−OCT:Spectral Domain OCT)が代表的である。もちろん、これに限定されず、タイムドメインOCT(TD−OCT)であってもよい。

0011

眼科装置1は、分割器(例えば、ファイバーカップラー26)と、導光光学系10と、屈折力可変系13と、制御部70と、検出部83を主に備える(図1参照)。分割器は、例えば、光源からの光を測定光と参照光とに分割する。導光光学系10は、例えば、対物レンズ11を含み、被検眼Eに測定光を導く。

0012

屈折力可変系13は、例えば、導光光学系10の光軸L1に対して静止した状態で屈折力を変更可能である(図4参照)。なお、屈折力可変系13は、例えば、導光光学系10の光路に対して3次元的に固定されてもよいし、移動可能であってもよい。

0013

制御部70は、屈折力可変系13を制御して測定光の集光位置を変更する。検出部83は、導光光学系10を介して被検眼Eに導かれた測定光と、参照光との干渉光を検出する。例えば、検出部83は、制御部70の制御に応じた干渉光のそれぞれを検出してもよい。

0014

本実施形態の眼科装置1は、例えば、屈折力可変系13を備えることによって、装置の大型化または複雑化を抑えた構成で、集光位置を変更してもよい。

0015

なお、屈折力可変系13は、例えば、屈折力を電気的に変更するための構造として屈折力可変素子(例えば、液晶レンズ14a,14b、液体レンズ非線形光学部材分子部材、回転非対称な光学部材など)を備えてもよい。なお、屈折力可変系13は、例えば、屈折力可変素子を2つ以上備えてもよい。これによって、集光位置の制御をより好適に行ってもよい。なお、屈折力可変系13は、例えば、液晶レンズ14a,14bなどを備えてもよい。液晶レンズ14a,14bは、例えば、電圧印加することで屈折力が変化する屈折力可変素子である。

0016

なお、眼科装置1は、さらに走査部(例えば、走査光学系23)と、画像形成部(例えば、制御部70など)を備えてもよい。走査部は、例えば、被検体上において測定光を走査する。画像形成部は、例えば、検出部83による干渉光の検出結果に基づいて、前眼部Ecと眼底部Erの断層画像をそれぞれ形成する。この場合、制御部70は、例えば、屈折力可変系13を制御して、走査部によって走査される測定光の横断方向における走査位置に応じて、測定光の集光位置を調整してもよい。これによって、被検眼Eの形状に合わせて測定光の集光位置を調整してもよい。

0017

なお、眼科装置1は、さらに切替部(例えば、参照ミラー31,参照ミラー駆動部50,制御部70など)を備えてもよい。切替部は、例えば、測定光または参照光の光路長を眼底部Erと前眼部Ecのいずれかに対応した光路長に切り替える。

0018

この場合、制御部70は、切替部による光路長の切り替えと、屈折力可変系13による屈折力の変更とを同期させてもよい。これによって、被検眼Eの撮影をスムーズに行ってもよい。

0019

さらに、制御部70は、例えば、切替部を制御して眼底部と前眼部のいずれかに対応した光路長に交互に切り替えると共に、屈折力可変系13を制御して切替部によって設定された対応する被検眼部位に集光位置を変化させてもよい。

0020

さらに、制御部70は、光路長に合わせて集光位置を変更してもよいし、集光位置に合わせて光路長が変更されてもよい。つまり、特定の被検眼部位の深さ情報を得るために、切換手段と屈折力可変部13が連動して制御され、深さ情報を得る対象部位の変化に応じて光路長と集光位置が設定されればよい。

0021

なお、制御部70は、屈折力可変系13を制御して測定光の集光位置を少なくとも3つ変更してもよい。さらに、制御部70は、屈折力可変系13を制御して、被検眼部位への集光位置を眼底と前眼部との間で交互に変化させてもよい。

0022

以下、第2実施形態の概要について説明する。第2実施形態の眼科装置は、例えば、被検眼の断層画像を撮影するための眼科装置1である(図1参照)。眼科装置1は、例えば、フーリエドメイン光コヒーレンストモグラフィー(FD−OCT)を基本的構成とする。眼科装置1は、干渉光学系100(OCT光学系)、制御部70を含む。FD−OCTとしては、波長掃引式OCT(SS−OCT:Swept source-OCT)、スペクトルドメインOCT(SD−OCT:Spectral Domain OCT)が代表的である。もちろん、これに限定されず、タイムドメインOCT(TD−OCT)であってもよい。なお、眼科装置1は、例えば、OCT原理を用いて被検眼Eの深さ情報を得るための干渉計に係る構成を有してもよい。

0023

第2実施形態の眼科装置1は、例えば、分割部(例えば、ファイバーカップラー26など)と、導光光学系10と、集光位置可変系12と、検出部83と、画像形成手段(例えば、制御部70など)と、を主に備える(図1図4参照)。

0024

分割部は、例えば、光源からの光を測定光と参照光とに分割する。導光光学系10は、例えば、対物レンズユニット11を含み、被検眼Eに測定光を導光かつ集光させる。検出部83は、例えば、導光光学系10を介して被検眼Eに導かれた測定光と、参照光との干渉光を検出する。例えば、検出部83は、制御部70の制御に応じた干渉光のそれぞれを検出してもよい。画像形成手段は、例えば、検出部83による干渉光の検出結果に基づいて、前眼部Ecと眼底部Erの断層画像をそれぞれ形成する。

0025

集光位置可変系12は、例えば、導光光学系10の光路中に配置され、前眼部Ecと眼底Erとの間で測定光の集光位置を光軸方向に変更させる。なお、集光位置可変系12は、例えば、駆動部(例えば、制御部70など)を備えてもよい。駆動部は、例えば、集光位置を変更するための少なくとも2つの光学部材(例えば、液晶レンズ14a,14bなど)を駆動させてもよいし、対物レンズユニットからの射出角度を変更するための少なくとも2つの光学部材(例えば、液晶レンズ14a,14bなど)を駆動させてもよい。

0026

なお、駆動部は、モータによって光学部材を物理的に変位させてもよいし、電気的制御によって光学部材の屈折力を変化させてもよい。集光位置可変系12は、眼底部Erの断層画像を得る際は、導光光学系10の対物レンズユニット11に入射する光束がテレセントリックになるように屈折力を設定してもよい。さらに集光位置可変系12は、前眼部Ecの断層画像を得る際は、導光光学系10の対物レンズユニット11から射出される光束がテレセントリックになるように屈折力を設定してもよい。

0027

なお、集光位置可変系12は、駆動部を制御し、眼底部の断層画像を得る際、走査光学系の走査面と瞳孔共役関係になるように光学部材を駆動させてもよい。さらに集光位置可変系12は、駆動部を制御し、前眼部の断層画像を得る際、前眼部観察時、走査光学系の走査面と瞳孔面が瞳‐像関係になり、瞳孔面への照射光束がテレセントリックになるように、光学部材を駆動させてもよい。

0028

<実施例>
本実施例を図面に基づいて説明する。図1は、本実施例に係る眼科装置の光学系及び制御系を示す図である。なお、本実施例においては、被検眼の奥行き方向をZ方向(光軸L1方向)、奥行き方向に垂直な平面上の水平方向成分をX方向、鉛直方向成分をY方向として説明する。

0029

<全体構成>
本装置は、光コヒーレンストモグラフィーデバイスOCTデバイス)1である。図1において、OCTデバイス1は、干渉光学系(OCT光学系)200と、固視投影ユニット300と、制御部(例えばCPU)70と、導光光学系10を備える。

0030

<光学系>
OCT光学系200は、測定光源から発せられた光束を測定光と参照光に分割する。さらに、OCT光学系200は、分割された測定光束被検眼眼底Erに導き,参照光を参照光学系に導いた後、眼底Erで反射又は後方散乱された測定光と参照光とが合成された光の干渉信号検出器受光素子)83により検出する。

0031

OCT光学系200は、例えば、ファイバーカップラー26と、測定光源27と、光ファイバ38a,38b,38c,38dと、測定光学系200aと、参照光学系200bと、分光光学系800と、を備える。

0032

[OCT光源]
OCT光源27はOCT光学系200の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントの光を発する光源であり、例えば、SLD光源等が用いられる。OCT光源27には、例えば、中心波長840nmで50nmの帯域を持つ光源が用いられる。

0033

ファイバ
光ファイバ38a,38b,38c,38dは、内部に光を通過させ、OCT光源27、カップラー26、測定光学系200a、参照光学系200b、分光光学系800等を繋ぐ

0034

[ファイバーカップラー]
ファイバーカップラー26は光分割部材光結合部材としての役割を兼用する。OCT光源27から発せられた光は、導光路としての光ファイバ38aを介して、ファイバーカップラー26によって参照光と測定光とに分割される。測定光は光ファイバ38bを介して被検眼Eへと向かい、参照光は光ファイバ38c(ポラライザ偏光素子)33)を介して参照ミラー31へと向かう。

0035

[測定光学系]
測定光学系200aは、例えば、測定光を被検眼眼底Erに導く。測定光学系200aは、コリメータレンズ21、フォーカス用光学部材フォーカシングレンズ)24、走査光学系(光スキャナ)23と、リレーレンズ22等が配置されている。走査光学系23は、例えば、2つのガルバノミラーによって構成され、走査駆動機構51の駆動により、OCT光源27から発せられた測定光を眼底上で二次元的(XY方向)に走査させるために用いられる。なお、走査光学系23は、例えば、AOM(音響光学素子)やレゾナントスキャナ等によって構成されていてもよい。

0036

フォーカシングレンズ24は、駆動部24aの駆動によって、光軸方向に移動可能となっており、被検者眼底Erに対する視度補正するために用いられる。

0037

なお、フォーカシングレンズ24は、駆動部24aの駆動によって光軸方向に移動され、その移動可能範囲が設定されている。フォーカシングレンズ24は、例えば、屈折力が−14Dに対応する位置(−14Dの屈折力でフォーカスが合う位置)から屈折力が+14Dに対応する位置までの範囲を移動可能である。

0038

光ファイバ38bの端部39bから出射した測定光は、コリメータレンズ21によってコリメートされる。その後、測定光は、フォーカシングレンズ24を介して走査光学系23に達し、2つのガルバノミラーの駆動により反射方向が変えられる。そして、走査光学系23で反射された測定光は、リレーレンズ22を介して、後述するダイクロイックミラー40で反射された後、導光光学系10を介して、被検眼眼底に集光される。

0039

そして、眼底Erで反射した測定光は、導光光学系10を介して、ダイクロイックミラー40で反射され、OCT光学系200に向かう。その後、眼底Erで反射した測定光は、リレーレンズ22、走査光学系23の2つのガルバノミラー、フォーカシングレンズ24及びコリメータレンズ21を介して、光ファイバ38bの端部39bに入射する。端部39bに入射した測定光は、光ファイバ38b、ファイバーカップラー26、光ファイバ38dを介して、光ファイバ38dの端部84aに達する。

0040

[参照光学系]
参照光学系200bは、参照光を生成する。参照光は、眼底Erによって反射された測定光の反射光と合成される光である。参照光学系200bは、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系200bは、例えば、反射光学系(例えば、参照ミラー31)によって形成され、カップラー26からの光を反射光学系により反射することにより再度カップラー26に戻し、検出器83に導く。他の例としては、参照光学系200bは、透過光学系(例えば、光ファイバー)によって形成され、カップラー26からの光を戻さず透過させることにより検出器83へと導く。

0041

例えば、参照光を参照ミラー31に向けて出射する光路には、光ファイバ38c、参照光を出射する光ファイバ38cの端部39c、コリメータレンズ29、参照ミラー31が配置されている。光ファイバ38cは、参照光の偏光方向を変化させるため、駆動機構34により回転移動される。すなわち、光ファイバ38c及び駆動機構34は、偏光方向を調整するためのポラライザ33として用いられる。なお、ポラライザとしては、上記構成に限定されず、測定光の光路又は参照光の光路に配置されるポラライザを駆動させることにより、測定光と参照光の偏光状態を略一致させるものであればよい。例えば、1/2波長板や1/4波長板を用いることやファイバに圧力を加えて変形させることで偏光状態を変えるもの等が適用できる。

0042

なお、ポラライザ33(偏光コントローラ)は、測定光と参照光の偏光方向を一致させるために、測定光と参照光の少なくともいずれかの偏光方向を調整する構成であればよい。例えば、ポラライザ33は、測定光の光路に配置された構成であってもよい。

0043

また、参照ミラー駆動部50は、参照ミラー31を駆動させ、参照光の光路長を調整する。

0044

光ファイバ38cの端部39cから出射した参照光は、コリメータレンズ29で平行光束とされ、参照ミラー31で反射される。その後、参照光はコリメータレンズ29によって集光されて光ファイバ38cの端部39cに入射する。端部39cに入射した参照光は、光ファイバ38c、光ファイバ38c(ポラライザ33)を介して、ファイバーカップラー26に達し、ファイバ38dを介して分光光学系800に導かれる。

0045

[分光光学系]
分光光学系800は、例えば、参照光と測定光による干渉光を周波数波長)毎に分光し、分光された干渉光を検出器83(本実施例においては、1次元受光素子)に受光させる。

0046

そして、OCT光源27から発せられた光によって前述のように生成される参照光と被検眼眼底Erに照射された測定光である眼底反射光は、ファイバーカップラー26にて合成されて干渉光とされる。その後、干渉光は、光ファイバ38dを通じて端部84aから出射される。分光光学系800(スペクトロメータ部)は、周波数毎の干渉信号を得るために干渉光を周波数成分に分光する。分光光学系800(スペクトロメータ部)は、例えば、コリメータレンズ80、グレーティングミラー回折格子)81、集光レンズ82、検出器83を有する。検出器83は、赤外域感度を有する一次元素子ラインセンサ)を用いている。

0047

ここで、端部84aから出射された干渉光は、コリメータレンズ80にて平行光とされた後、グレーティングミラー81にて周波数成分に分光される。そして、周波数成分に分光された干渉光は、集光レンズ82を介して、検出器83の受光面に集光する。これによって、検出器83上で干渉縞スペクトル情報スペクトル信号)が記録される。そして、検出器83からの出力信号に基づいて、フーリエ変換を用いて解析することで、眼の断層像(眼底断層像)を撮像する。すなわち、そのスペクトル情報が制御部70へと入力され、フーリエ変換を用いて解析することで、被検眼の深さ方向における情報が計測可能となる。

0048

ここで、制御部70は、走査光学系23により測定光を眼底上で所定の横断方向に走査することにより断層像を取得できる。例えば、X方向もしくはY方向に走査することにより、被検眼眼底のXZ面もしくはYZ面における断層像(眼底断層像)を取得できる(なお、本実施形態においては、このように測定光を眼底に対して一次元走査し、断層像を得る方式をBスキャンとする)。なお、取得された眼底断層像は、制御部70に接続されたメモリ72に記憶される。さらに、走査光学系23の駆動を制御して、測定光をXY方向に二次元的に走査することにより、検出器83からの出力信号に基づき被検者眼眼底のXY方向に関する二次元動画像や被検眼眼底の三次元画像を取得できる。

0049

[固視標投影ユニット]
次に、固視標投影ユニット300について説明する。固視標投影ユニット300は、眼Eの視線方向を誘導するための光学系を有する。固視標投影ユニット300は、眼Eに呈示する固視標を有し、複数の方向に眼Eを誘導できる。

0050

例えば、固視標投影ユニット300は、可視光を発する可視光源を有し、視標呈示位置を二次元的に変更させる。これにより、視線方向が変更され、結果的に撮像部位が変更される。例えば、撮影光軸と同方向から固視標が呈示されると、眼底の中心部が撮像部位として設定される。また、撮影光軸に対して固視標が上方に呈示されると、眼底の上部が撮像部位として設定される。すなわち、撮影光軸に対する視標の位置に応じて撮影部位が変更される。

0051

固視標投影ユニット300としては、例えば、マトリクス状に配列されたLEDの点灯位置により固視位置を調整する構成、光源からの光を光スキャナによって走査させ、光源の点灯制御により固視位置を調整する構成、等、種々の構成が考えられる。また、投影ユニット300は、内部固視灯タイプであってもよいし、外部固視灯タイプであってもよい。

0052

[ダイクロイックミラー]
本実施例のOCTデバイス1は、例えば、ダイクロイックミラー40を備える。例えば、ダイクロイックミラー40は、OCT光学系200の測定光として用いられる波長成分の光を反射し、固視標投影ユニット300に用いられる波長成分の光を透過する特性を有する。

0053

<制御系>
また、制御部70には、表示モニタ75、メモリ72、操作部74、参照ミラー駆動部50、フォーカシングレンズ駆動部24a、光ファイバ38cの駆動機構34、後述する焦点距離可変12等が接続されている。

0054

<導光光学系>
導光光学系10は、被検眼Eに測定光を導くために設けられる。導光光学系10は、例えば、対物レンズユニット11、集光位置可変系12等を備える。

0055

[集光位置可変系]
集光位置可変系12は、例えば、導光光学系10を通る測定光の集光位置を変化させる。集光位置可変系12は、例えば、光学素子の挿脱機構を備えてもよい。そして、集光位置可変系12は、導光光学系10の光軸に対して光学素子を挿脱することによって導光光学系10を通る測定光の集光位置を変化させてもよい。なお、集光位置可変系12として、例えば、屈折力を変更可能な屈折力可変系13が用いられてもよい。屈折力可変系13は、例えば、屈折力を変化させることによって、測定光の集光位置を変化させてもよい。

0056

なお、本実施例においては、集光位置可変系12として屈折力可変系13を用いた場合について説明する。屈折力可変系13は、例えば、屈折力を変化させることによって、測定光の集光位置を眼底部Erと前眼部Ecで切り換える。なお、屈折力可変系13は、連続的に屈折力を変更してもよい。

0057

屈折力可変系13は、例えば、被検眼Eに対して対物レンズユニット11の奥側に配置される。本実施例においては、屈折力可変系13は、対物レンズユニット11とダイクロイックミラー40の間に配置される。ただし、屈折力可変系13は、対物レンズユニット11に関して被検眼側に配置されてもよいし、対物レンズユニット11の中間に配置されてもよい。

0058

図2(a)は、屈折力可変系13の屈折力を制御して、測定光を眼底部Erに集光させたときの状態を示す。測定光を眼底部Erに集光させる場合、制御部70は屈折力可変系13を制御し、導光光学系10によって被検眼に照射される測定光が平行光束になるように、屈折力可変系13の屈折力を変化させる。被検眼が正視眼であれば、角膜及び水晶体等の屈折力によって、測定光は眼底Erに集光する。被検眼が正視眼でなければ、被検眼Eの屈折度数に合わせて屈折力可変系13の屈折力を調整してもよい。

0059

図2(b)は、屈折力可変系13の屈折力を制御して、測定光を前眼部Ecに集光させたときの状態を示す。測定光を前眼部Ecに集光させる場合、制御部70は屈折力可変系13を制御し、導光光学系10によって被検眼Eに照射される測定光が被検眼Eの前眼部Ecに集光するように、屈折力可変系13の屈折力を変化させる。

0060

このように、屈折力可変系13は、屈折力可変系13自体を光軸L1に対して移動されることなく、制御部70によって電気的に駆動されることで屈折力を変化させることができる。このため、屈折力可変系13は、光軸L1に対して3次元的に固定されてもよい。

0061

なお、本実施例の屈折力可変系13は、例えば、第1と第2の2つの屈折力可変系13a,13bを備える(図4参照)。ここで、第1屈折力可変系13aは、例えば、走査光学系側に配置される。第2屈折力可変系13bは、例えば、第1屈折力可変系13aよりも被検眼側に配置される。第1屈折力可変系13aは、例えば、液晶レンズ14aを備える。第2屈折力可変系13bは、例えば、液晶レンズ14bを備える。

0062

なお、液晶レンズ14a,14bは、可変焦点レンズ一種であり、印加する電圧を制御することによって屈折力が連続的に変化する構造を備えるレンズである。液晶レンズ14a,14bは、例えば、図3(a)に示すように、液晶層61が対抗する2つの透明電極63,64に挟まれた構造になっている。

0063

本実施例の透明電極63は中央部に開口部Hが設けられ、電圧を加えることによって、液晶層61に不均一な電場を発生させる。不均一な電場によって、液晶層61の中の液晶分子62の配向分布勾配が生じる(図3(b)参照)。さらに、液晶分子62の配向分布に勾配が生じると、液晶層61の屈折率分布にも勾配が生じる。例えば、図3(b)に示すように、開口部Hの中心から周辺に向かって液晶層61の屈折率が小さくなる。光は屈折率の低いところから高いところに屈折するという性質があるため、液晶層61がレンズのような特性を持つようになる。したがって、制御部70は、液晶層61に加える電圧を制御することによって、焦点距離を任意に変化させることができる。

0064

本実施例の眼科装置は、例えば、上記のような液晶レンズ14a,14bの屈折力を変化させることによって、測定光の集光位置を変化させる。例えば、測定光の集光位置を眼底部Erから前眼部Ecに切り換える場合、制御部70は、液晶レンズ14a,14bに加える電圧を変化させて測定光の集光位置を変化させる。より詳細には、制御部70は、液晶レンズ14a,14bの電極に加える電圧を大きくすることで、液晶レンズ14a,14bの屈折力を大きくする。例えば、図4(a)のように、導光光学系10を通過した測定光が眼底部Erに集光している状態において、液晶レンズ14a,14bの屈折力が大きくなると、図4(b)のように測定光が前眼部Ecに集光するようになる。このように、制御部70は電圧を変化させることによって液晶レンズ14a,14bの屈折力を変化させ、測定光の集光位置を変化させてもよい。

0065

<眼底前眼切換方法>
以上のような構成の眼科装置(OCTデバイス1)において、眼底部Erの撮影と前眼部Ecの撮影の切り換えについて説明する。

0066

まず、眼底部Erを撮影する場合、制御部70は、導光光学系10から出射される測定光が平行光束になるように、屈折力可変系13を所定の屈折力に調整する。さらに、制御部70は参照ミラー駆動部50を制御して参照ミラー31を移動させ、光路長を調整する。例えば、制御部70は、予め設定された所定の第1位置に参照ミラー31を移動させる。これによって、参照ミラー31によって反射された参照光と、眼底部Erによって反射された測定光の光路長が等しくなり、ファイバーカップラー26にて参照光と測定光が合波されると干渉信号が生成される。検出器83は、この干渉信号を取得し、画像生成手段(例えば、制御部70)に送る。画像生成手段は、干渉信号を受け取ると、眼底断層画像W1(図5参照)を取得する。

0067

続いて、前眼部Ecの撮影に切り換える場合、制御部70は屈折力可変系13を制御して、測定光が前眼部Ecに集光するように屈折力を調整する。例えば、前述のように、屈折力可変系13の屈折力を大きくし、測定光が前眼部Ecに集光するように切り換える。さらに、制御部70は、参照ミラー駆動部50を制御して参照ミラー31を移動させ、光路長を調整する。例えば、制御部70は、予め設定された所定の第2位置に参照ミラー31を移動させる。これによって、参照ミラー31によって反射された参照光と、前眼部Ecによって反射された測定光の光路長が等しくなり、ファイバーカップラー26にて参照光と測定光が合波されると干渉信号が生成させる。検出器83は、この干渉信号を取得し、画像生成手段に送る。画像生成手段は、干渉信号を受け取ると、前眼部断層画像W2を生成する(図5参照)。

0068

以上のように、測定光の集光位置を切り換える際に参照ミラー31を切り換えることによって、眼底部Erと前眼部Ecの両方の断層画像を取得することができる。レンズ等の光学部材を駆動させて屈折力を変化させる場合に比べ、液晶レンズ等の屈折力可変素子(例えば、液晶レンズ、液体レンズなど)を用いて屈折力を変化させる場合は、より速く屈折力を切り換えできる。

0069

このように、眼底部Erと前眼部Ecの断層画像を高速で取得できるため、両者をほぼ同時に表示モニタ75に表示することが可能である。このように、眼底部Erと前眼部Ecを別々に撮影することなく同時に撮影できるため、眼底部Erと前眼部Ecの断層画像を容易に見比べることができる。さらに、同時に撮影して表示することができるため、別々に撮影する場合に比べて、撮影時間が短縮される。なお、制御部70は、時系列的に近い前眼部Erと眼底部Ecの画像を一枚に合成して表示モニタ75に表示させてもよい。例えば、交互に撮影された眼底部と前眼部の断層画像を一枚に合成してもよい。

0070

なお、眼底部Erと前眼部Ecの撮影を素早く切り換えることによって、眼底撮影時と前眼撮影時の被検眼Eの位置ずれが少なくて済む。従って、眼底部Erと前眼部Ecのずれが少ないため、眼底断層像と前眼断層像からより精度よく眼軸長を求めることができる。

0071

以上のように、本実施例の屈折力可変系13は、光軸L1に対して固定された状態で、測定光の集光位置を変化させることができる。したがって、屈折力可変系13は、レンズ等の光学素子の駆動によって屈折力を変化させる構成に比べ、高速で眼底・前眼の切り換えを行うことができる。

0072

なお、本実施例の屈折力可変系13は、連続的に屈折力を変化させることができる。これによって、眼屈折力可変系13は、眼軸長の異なる様々な被検眼に対して集光位置の切り替えを連続的に行うことができる。

0073

また、屈折力可変系13は、サーボモータなどの機械的な駆動系を備える必要がなく、装置の省スペース化を実現できる。

0074

また、屈折力可変系13に機械的な駆動系を設ける必要がないため、装置組み立て時のキャリブレーションが容易に行える。仮に、レンズ等の光学部材を駆動させることによって、光軸L1に挿脱するようにした場合、レンズの駆動軸または駆動停止位置等の調整が必要となり、装置の組み立てに手間がかかる。また、測定光を3つ以上の集光位置に切り換えて照射させる場合、レンズが複数必要になり、それぞれに対してキャリブレーションが必要となる。

0075

これに比べ、本実施例の屈折力可変系13は、光軸L1に対して3次元的に固定されているため、装置組み立て時のキャリブレーションが容易である。

0076

なお、本実施例の導光光学系10は、集光位置可変系12によってテレセントリック光学系を形成している。例えば、眼底撮影において測定光を投光する際、本実施例の集光位置可変系12は、対物レンズユニット11に関して物体側テレセントリックになるように制御される。つまり、集光位置可変系12は、集光位置可変系12を介して対物レンズユニット11に入射する測定光の主光線が、対物レンズユニット11の光軸に対して平行になるように測定光を入射させる。この結果、対物レンズユニット11を通過した測定光の主光線は、走査光学系23による走査位置に関係なく、対物レンズユニット11の後側焦点を通る。なお、典型的には、対物レンズユニット11の後側焦点と被検眼の瞳孔とが一致するようにアライメントが行われる。

0077

さらに前眼撮影において測定光を投光する際、本実施例の集光位置可変系は、対物レンズユニット11に関して像側テレセントリックになるように制御される。屈折力可変系13は、例えば、集光位置可変系12を介して対物レンズユニット11に入射する測定光の主光線が、走査光学系23による走査位置に関係なく、対物レンズユニット11の前側焦点を通るように測定光を入射させる。この結果、対物レンズユニット11を通過した測定光の主光線は、対物レンズユニット11の光軸に対して平行となる。

0078

このように、本実施例の集光位置可変系12は、眼底撮影と前眼部撮影の切り換えに応じて屈折力を変化させることによって、対物レンズユニット11の入射光束をテレセントリックとするか、出射光束をテレセントリックとするか切り換えできる。集光位置可変系12は、眼底撮影時と前眼撮影時とで対物レンズユニット11に関して物体側テレセントリック及び像側テレセントリックの状態を切り換えることで、それぞれの撮影に適した状態の測定光を被検眼に投光できる。

0079

<導光光学系の条件>
なお、本実施例のように、集光位置可変系12が2つの屈折力可変系13a,13bを備える場合、あるいは2つの光学素子を駆動させる駆動機構を備える場合、導光光学系10はテレセントリック光学系を形成させるために以下に示す条件を満たすことが好ましい。

0080

例えば、眼底撮影時おいて、測定光学系は、「走査光学系の走査面と瞳孔が共役関係である」という第1条件を満たすことが好ましい。さらに、前眼部撮影時において、例えば、導光光学系10は、「走査光学系の走査面と瞳孔面が瞳−像の関係である」という第2条件、「瞳孔面への入射光束がテレセントリックである」という第3条件を満たすことが好ましい。

0081

以下、図4を用いて、前述の条件について説明する。なお、以下の説明では、焦点位置可変系12として屈折力可変系13を用いた構成を例に挙げて説明する。なお、図4において、眼底観察時の第1屈折力可変系13aの焦点距離をGr1、第2屈折力可変系13bの焦点距離をGr2とする。さらに、前眼部観察時の第1屈折力可変系13aの焦点距離をGc1、第2屈折力可変系13bの焦点距離をGc2とする。加えて、走査光学系23の操作面から第1屈折力可変系13aの主点までの距離をZ、第1屈折力可変系13aの主点から第2屈折力可変系13bの主点までの距離をX、第2屈折力可変系13bの主点から、対物レンズユニット11の前側焦点までの距離をΔとする。ここで、主点とは、被検眼へ導光する際の後側主点かつ被検眼からの反射・後方散乱光回収して測定光学系に戻す際の前側主点である点と呼ぶべきだが、誤解の余地がない場合には、簡単のため主点という。

0082

まず、前述の第1条件について説明する。眼底観察時において導光光学系10が第1条件を満たす場合、以下に示す式(1)、及び式(2)を満たす必要がある。

0083

0084

0085

なお、式(1)は、第2屈折力可変系13aと第2屈折力可変系13bとの合成系である屈折力可変系13の後側焦点が対物レンズユニット11の前側焦点に一致する条件である。式(2)は、屈折力可変系13の前側焦点が走査光学系23の走査面上にある条件である。これらを満たすことで、走査光学系23の走査面の共役像絞り像)が瞳孔面に形成される。すなわち、第1条件を満足することが出来る。

0086

次いで、前述の第2条件について説明する。前眼部観察時において導光光学系10が第2条件を満たす場合、以下に示す式(3)を満たす必要がある。

0087

0088

式(3)は、距離Xが前眼部撮影時の第1屈折力可変系13aと第2屈折力可変系13bのそれぞれの焦点距離の和に等しくなることを示している。すなわち、前眼部撮影時において、第1屈折力可変系13aと第2屈折力可変系13bの合成系がアフォーカルであることを示している。
続いて、前述の第3条件について説明する。前眼部観察時において導光光学系10が第3条件を満たす場合、以下に示す式(4)を満たす必要がある。

0089

0090

式(4)は、前眼部撮影時において、対物レンズユニット11より射出される測定光束をテレセントリックにするための条件である。すなわち、屈折力可変系13によって作られる走査光学系23の走査面の共役像(絞り像)の位置が、対物レンズユニット11の前側焦点に一致することを示している。
本装置において、これら4つの式(1)〜(4)を全て満足した場合、第1条件〜第3条件を満たすことができる理想的な構成となる。
なお、実際の装置構成においては、この理想的な構成を厳密に実現する必要はない。

0091

眼底観察時に対物レンズユニット11より射出される測定光が被検眼Eの瞳孔面と瞳共役であるかは、屈折力可変系13の焦点が対物レンズユニットの前側焦点とどれだけ一致しているかで決定されており、実際の装置構成においてその差異が小さければ、第1条件を満たしているのと同等の効果が得られる。際しては、次式(5)を満足するように構成すると良い。

0092

0093

ここでΔrは次式(6)で定義される関数である。

0094

0095

ここで、(5)式は、被検眼の眼底における上記理想的な構成の導光光学系からの外れ食い違い)が、屈折力にして±14D(ディオプター)内に収まることを示している。これは、以下のようにして導出される。
実際の装置構成における第1屈折力可変系13aの主点と第2屈折力可変系13bの主点の距離Xは、第1屈折力可変系13aの第一屈折面から第2屈折力可変系13bの第一屈折面までの光学距離dにほぼ等しいので、屈折力可変系13の焦点が出来るのは、第2屈折力可変系13bの主点からΔr(d)離れた位置である。
一方、前記理想的な構成の導光光学系における屈折力可変系13の焦点位置は、式(1)右辺のXに式(3)を代入して、Δr(Gc1+Gc2)と書くことができる。
従って、眼底における上記理想的な構成の導光光学系からの外れは、Δr(d)とΔr(Gc1+Gc2)の差が対物レンズユニットの縦倍率だけ拡大または縮小されたものであるから、屈折力で表すと次式となる。

0096

0097

これが±14Dより小さい条件から、(5)が導出される。
なお上記条件式は眼科装置で一般的に用いられる±14の視度調整範囲に抑えられていることとしたが、±14Dより大きな範囲でもよく、被検眼Eの遠視または近視度合いを考慮した範囲が好ましい。ただし、本装置1の測定精度を高めるためには、より0に近いことが好ましい。例えば、±10Dより小さい範囲が好ましい。この場合の式を式(8)に示す。

0098

0099

同様に、前眼部観察時においても、対物レンズユニット11より射出される測定光が被検眼の瞳孔面に集光しかつテレセントリックであるかは、屈折力可変系13によって作られる、走査光学系23の走査面の共役像(絞り像)の位置が対物レンズユニット11の前側焦点にとどれだけ一致するかで決定されている。実際の装置構成においてその差異が小さければ、第2条件、第3条件を満たしているのと同等の効果が得られる。際しては、次式(9)を満足するように構成すると良い。

0100

0101

ここでΔcは次式(10)で定義される関数である。

0102

0103

ここで、(9)式は、被検眼Eの前眼部における上記理想的な構成の導光光学系からの外れ(食い違い)が、最軸外主光線の射出角度にして±3°以内に収まることを示している。

0104

すなわち、実際の装置構成における第1屈折力可変系13aの主点と第2屈折力可変系13bの主点の距離は、第1屈折力可変系13aの第一屈折面から第2屈折力可変系13bの第一屈折面までの光学距離dにほぼ等しい。また、屈折力可変系13がほぼアフォーカルに構成できているものとすれば、式(2)は成り立っていると考えてよい。従って、屈折力可変系13によって作られる、走査光学系23の走査面の共役像(絞り像)の位置は、第2屈折力可変系13bの主点から、次式だけ後方となる。

0105

0106

これは、式(10)で定義したΔc(s)を用いて次式で表される。

0107

0108

一方、理想的な構成の導光光学系における屈折力可変系13によって作られる、走査光学系23の走査面の共役像(絞り像)の位置は、式(4)右辺のZに式(2)を代入し、更にXを式(3)で置換したものとして、次式で表すことができる。

0109

0110

従って、前眼部における上記理想的な構成の導光光学系からの外れは、式(12)と式(13)の差(すなわち、Δc(d)とΔc(Gc1+Gc2)の差)であって、対物レンズユニット11の焦点距離FOとの比程度の最軸外主光線の角度変化となって現れる。これが±3°より小さい条件として、式(9)が導出される。

0111

なお、傾角θの範囲は±3°より大きな範囲でもよく、テレセントリックと見なすことがでる範囲が好ましい。ただし、導光光学系10のテレセントリック性を高めるためには、傾角θは、より0に近いことが好ましい。このため、傾角θの範囲は、例えば、±2°より小さい範囲が好ましい。この場合の式を式(14)に示す。

0112

0113

なお、図6に示す例では、第1屈折力可変系13aは、例えば、液晶レンズ14aと光学素子15を備える。さらに、第2屈折力可変系13bは、例えば、液晶レンズ13bと光学素子16を備える。この場合、上記の条件を満たすことを確認するには、眼底撮影および前眼部撮影時の第1屈折力可変系13aと第2屈折力可変系13bの焦点距離Gr1,Gr2,Gc1,Gc2と、対物レンズユニット11の焦点距離Foを求める。さらに、第1屈折力可変系13aの第1屈折面である光学素子15の前面から、第2屈折力可変系13bの第1屈折面である液晶レンズ14bの前面までの距離dを計測する。そして、式(5)または式(7)、及び式(9)または式(14)に代入することで、上記の条件を満たすか否か確認できる。

0114

以上のように、屈折力可変系13は、眼底撮影時と前眼撮影時とで対物レンズユニット11に関するテレセントリックの状態を切り換えることで、眼底部Erと前眼部Ecのそれぞれの撮影に適した状態の測定光を被検眼Eに投光できる。

0115

導光光学系10は、少なくとも前眼部撮影時に前眼部に対してテレセントリックな測定光を照射してもよい。テレセントリックな測定光によって、被検眼Eの位置の変化による撮影画像倍率変化を低減させることができる。これによって、撮影画像から精度よく距離計測が行える。

0116

なお、前眼撮影時にテレセントリックな測定光を照射することによって、被検眼Eの作動距離方向の位置ずれによって生じる断層画像の歪みが生じにくくなる。これによって、検者は、歪みの少ない断層画像を観察することができ、断層画像による診断を行い易い。

0117

さらに、前眼部撮影時にテレセントリックな測定光を照射することによって、被測定部からの戻り光(反射光または後方散乱光)の回収効率が向上するため、画像の周辺部が暗くなることを低減できる。

0118

なお、本実施例のように、液晶レンズ等の屈折率可変素子を用いた構成でなくとも、上記の条件式を当てはめることによって、テレセントリック光学系を実現することができる。例えば、光学素子(例えば、一般的な光学レンズ)を駆動部によって駆動させて、導光光学系10の集光位置を切り換える構成(例えば、光軸L1方向に光学素子を移動させる機構、導光光学系10の光路に光学素子を挿脱させる機構)であっても、上記の条件を満たせば、被検眼Eの眼底部Erと前眼部Ecが良好に撮影できる。

0119

なお、本実施例においては、屈折力可変系13に液晶レンズを用いるものとしたが、これに限らない。例えば、屈折力可変系13には、液体レンズ、非線形光学部材、分子部材、回転非対称な光学部材等が用いられてもよい。液体レンズは、例えば、2種類の液体境界面を電圧等によって変化させ、屈折率を変化させる部材である。
非線形光学部材は、例えば、電場を印加した際に非線形光学効果によって屈折率分布を変化させる部材である。例えば、非線形光学部材としては、タンタル酸ニオブ酸カリウム(KTN)等の結晶が挙げられる。分子部材は、例えば、化学変化または熱変化による組成変化によって屈折率分布が変化する分子材料である。例えば、分子材料は、カリックスレゾルシンアレーン誘導体などの短波長の光による異性化を利用した材料(フォトクロミック材料)、電子注入によるエネルギーレベルの変化を利用した屈折率可変材料(例えば、石英系のガラス)等であってもよい。また、熱による物性変化を利用したサーモミック材料等であってもよい。

0120

なお、制御部70は、測定光のスキャン位置に応じて屈折力可変ユニットの屈折力を変化させてもよい。例えば、制御部70は、前眼部の形状に応じて屈折力可変ユニットの屈折力を変化させてもよい。例えば、前眼部は対物レンズ側に凸な曲面であるので、角膜の周辺部を走査する場合は、角膜の中心部を走査する場合に比べて測定光を対物レンズから離れた位置に集光させるようにしてもよい。例えば、制御部70は、屈折力可変ユニットの屈折力を小さくすることで、測定光を対物レンズから離れた位置に集光させるようにしてもよい。

0121

このように、測定光のスキャン位置に応じて、測定光の集光位置を調整することによって、測定光が前眼部により精度の良い断層画像を取得することができる。

0122

なお、本実施例において、制御部70は、屈折力可変系13の屈折力を制御することによって、光軸方向に連続的に集光位置を移動させてもよい。例えば、図7(a)に示すように、制御部70は、XY平面の同じ位置において、複数回(図7の例では時間T1〜Tnまでのn回)Bスキャンを行い、複数の断層画像を取得する。このとき、制御部70は、屈折力可変系13の屈折力を制御し、光軸方向に連続的に集光位置Dを移動させる。これによって、集光位置Dの異なる複数の断層画像が取得される。例えば、制御部70は、集光位置Dの異なる複数の画像を加算平均処理することによって、撮影範囲全域にわたってコントラストの良い画像を生成してもよい(図7(b)参照)。

0123

なお、図7の例において、制御部70は、集光位置Dを一定の速度vで移動させている。これによって、加算平均処理を行った場合、画像に深さ方向のコントラスト差が生じることを低減できる。ただし、集光位置の移動は等速でなくともよい。

0124

なお、制御部70は、屈折力可変系13の屈折力を制御し、光軸方向に段階的に集光位置を移動させてもよい。例えば、図7に示すように、制御部70は、集光位置を角膜、水晶体、眼底にそれぞれ移動させて撮影した画像を加算平均処理によって一つの画像に合成してもよい(図7(d)参照)。これによって、角膜、水晶体、眼底等に対してフォーカスのあった画像を生成してもよい。

0125

例えば、図8(a)に示すように、制御部70は、屈折力可変系13の屈折力を制御することによって、集光位置を角膜の位置D1に合わせる。そして、制御部70は、OCT光学系200によって被検眼Eの断層画像を取得する。この場合、集光位置に設定された角膜の画像が良好に取得される。次いで、図8(b)に示すように、制御部70は、集光位置を水晶体の位置D2に合わせ、OCT光学系200によって被検眼Eの断層画像を取得する。この場合、集光位置に設定された水晶体の画像が良好に取得される。続いて、図8(c)に示すように、制御部70は、集光位置を眼底の位置D3に合わせ、OCT光学系200によって被検眼Eの断層画像を取得する。この場合、集光位置に設定された眼底の画像が良好に取得される。このように、集光位置を移動させることによって、各部位ごとにフォーカスの合った画像を取得してもよい。

0126

なお、制御部70は、屈折力可変系13の屈折力を制御し、A−scan速度よりも早い速度で集光位置を移動させてもよい。例えば、1回のA−scan中に集光位置を複数回往復して切り替えてもよい。これによって、撮影範囲全域にわたってフォーカスの合った画像を取得してもよい。

0127

なお、OCT光学系がTD−OCT(Time domain OCT)の場合、制御部70は、集光位置の移動と、参照ミラー31との移動を連動させてもよい。これによって、撮影範囲全域にわたってフォーカスの合った画像を取得してもよい。

0128

1眼科装置
10導光光学系
11対物レンズユニット
12集光位置可変系
13屈折力可変系
23走査光学系
26ファイバーカップラー
70 制御部
83検出器
200a測定光学系
200b 参照光学系

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