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技術 有機発光表示装置及びその駆動方法

出願人 エルジーディスプレイカンパニーリミテッド
発明者 鄭載訓尹在煥
出願日 2013年12月19日 (6年2ヶ月経過) 出願番号 2013-262171
公開日 2014年7月7日 (5年8ヶ月経過) 公開番号 2014-126873
状態 特許登録済
技術分野 エレクトロルミネッセンス光源 陰極線管以外の表示装置の制御 EL表示装置の制御
主要キーワード センシングモード 工程ばらつき 信号伝送部材 散布度 センシングトランジスタ 誤差補正装置 演算補正 センシングライン
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図面 (14)

課題

解決手段

ゲートラインデータライン及びセンシングラインとの交差領域に形成された画素を含む表示パネルと;ゲートラインにゲート信号を供給するゲート駆動部と;データラインにデータ電圧を供給するデータ駆動部、及びセンシングラインを通じて画素に含まれた駆動トランジスタ特性変化情報センシングしてセンシングデータを生成するアナログ−デジタルコンバータを有するセンシング部を含むデータ駆動集積回路と;アナログ−デジタルコンバータのゲイン誤差及びオフセット誤差が保存されているメモリと;ゲイン誤差及びオフセット誤差に基づいてセンシングデータを補正し、補正されたセンシングデータに基づいて、入力される入力データを変調してデータ駆動集積回路に供給するタイミング制御部とを含む。

概要

背景

最近、マルチメディア発達に伴い、平板表示装置重要性が増大している。これに応じて、液晶表示装置プラズマ表示装置有機発光表示装置などの平板表示装置が商用化されている。

平板表示装置のうち有機発光表示装置は、電子正孔との再結合によって光を発生する有機発光素子を用いて映像を表示するもので、高速応答速度を有し、自発光であるから視野角に問題がないので、次世代平板表示装置として注目されている。

一般的な有機発光表示装置の1画素は、有機発光素子及びそれを駆動するための駆動トランジスタを含む画素回路からなる。しかし、一般的な有機発光表示装置は、薄膜トランジスタの製造工程の不均一、及び駆動時間によって各画素毎に駆動トランジスタの閾値電圧移動度特性が異なるため、同一のデータ電圧印加しても、各画素の駆動トランジスタに流れる電流量が互いに異なるようになる。このような各画素の駆動トランジスタに流れる電流量ばらつきは、各画素間輝度ばらつきを誘発させて、画質均一性を低下させる。このような問題点を解決するための方法は、特許文献1乃至特許文献3などに開示されている。

前記各特許文献は、各画素にセンシングトランジスタ及びセンシングラインを形成し、データ駆動部、すなわち、データ駆動集積回路に含まれたセンシング部のアナログ−デジタルコンバータを用いて、駆動トランジスタの駆動によってセンシングラインに充電される電圧をセンシングし、センシングされた電圧によってデータを補正することによって駆動トランジスタの特性変化補償して、各画素間の輝度ばらつきによる画質の低下を防止する。

しかし、一般に、アナログ−デジタルコンバータは、ゲイン誤差(gain error)及びオフセット誤差(offset error)を有し、データ駆動集積回路の製造工程におけるデータ駆動集積回路間の工程ばらつきによってアナログ−デジタルコンバータから出力される出力データのばらつきが発生し、さらに、データ駆動集積回路内のアナログ−デジタルコンバータ間でもばらつきが発生するようになる。

前記ゲイン誤差とは、アナログ入力に対する理想的なデジタル出力と比較して、実際のデジタル出力が一定の比率だけずれる誤差を意味するもので、アナログ入力範囲の中心部に正確に一致していた値がアナログ入力範囲の最低値最高値に近接することによって発生する誤差である。即ち、増幅器における入力と出力との関係は、ある関数法則に基づいて変化している。このとき、実際に得られたゲインを関数で表した場合の直線の傾きが、理想的にゲインが得られた場合の直線の傾きとは一致しない場合がある。この傾きの差が、ゲイン誤差と称されている。即ち、ゲイン誤差とは、増幅器を通して得たゲインの値と、理想的なゲインの値との間に生じた誤差のことである。ゲイン誤差は、入出力直線の傾きの誤差として考えることができる。ゲイン誤差は、実際に得られたゲインを関数で表した場合の直線の傾きと理想的にゲインが得られた場合の直線の傾きとの比で表すこともできる。

前記オフセット誤差とは、アナログ入力に対する理想的なデジタル出力に対して、実際のデジタル出力が一定の量だけずれる誤差を意味するもので、使用者が知っている信号を計測した時に、測定値が全体的に高いか、または低く出る程度を意味する。即ち、オフセット誤差とは、ゼロのアナログ入力をアナログ−デジタル変換して得られるデジタル出力と理想的なデジタル出力(ゼロ)との差のことである。

図1は、アナログ−デジタルコンバータの入力電圧に対する出力データ(出力電圧)を示す波形図で、図2は、一般的な有機発光表示装置において、複数のデータ駆動集積回路間の出力ばらつきを説明するための波形図である。

図1において、Aグラフは、入力電圧に対する理想的な出力データ(出力電圧)を示すグラフであり、Bグラフは、入力電圧に対する実際の出力データ(出力電圧)を示すグラフである。

図1からわかるように、アナログ−デジタルコンバータの入力端子に同一の入力電圧を印加しても、アナログ−デジタルコンバータの出力データにばらつきが発生するようになる。すなわち、ゲイン誤差及びオフセット誤差がない理想的なアナログ−デジタルコンバータの出力データは、Aグラフのように、入力電圧(x)と理想的なゲイン(a)との乗算演算(×)によって決定される。しかし、一般に、アナログ−デジタルコンバータは、ゲイン誤差及びオフセット誤差を有するため、実際のアナログ−デジタルコンバータの出力データは、Bグラフのように、入力電圧(x)と実際のゲイン(a’)との乗算演算(×)値(x×a’)と、実際のオフセット誤差(すなわち、0の入力電圧に対する出力)(b)との和によって決定される。

このような、アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきは、図2からわかるように、データ駆動集積回路(D−IC #1〜#8)間でも発生することを確認することができる。

したがって、前記各特許文献は、前述したアナログ−デジタルコンバータのセンシングデータのばらつきによってずれたセンシングデータに基づいてデータを補正するため、駆動トランジスタの特性変化をより正確に補償できない。

概要

アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきを確実に補償し得る有機発光表示装置を提供する。ゲートラインデータライン及びセンシングラインとの交差領域に形成された画素を含む表示パネルと;ゲートラインにゲート信号を供給するゲート駆動部と;データラインにデータ電圧を供給するデータ駆動部、及びセンシングラインを通じて画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングしてセンシングデータを生成するアナログ−デジタルコンバータを有するセンシング部を含むデータ駆動集積回路と;アナログ−デジタルコンバータのゲイン誤差及びオフセット誤差が保存されているメモリと;ゲイン誤差及びオフセット誤差に基づいてセンシングデータを補正し、補正されたセンシングデータに基づいて、入力される入力データを変調してデータ駆動集積回路に供給するタイミング制御部とを含む。

目的

本発明の目的は、アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきを確実に補償し得る有機発光表示装置及びその駆動方法を提供する

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

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請求項1

ゲートラインデータライン及びセンシングラインとの交差領域にそれぞれ形成された複数個画素を含む表示パネルと、前記ゲートラインにゲート信号を供給するためのゲート駆動部と、前記データラインにデータ電圧を供給するデータ駆動部、及び前記センシングラインを通じて複数個の画素のそれぞれに含まれた駆動トランジスタ特性変化情報センシングしてセンシングデータを生成する複数個のアナログ−デジタルコンバータを有するセンシング部を含む複数個のデータ駆動集積回路と、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差が保存されているメモリと、前記ゲイン誤差及び前記オフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正し、補正されたセンシングデータに基づいて、入力される入力データを変調して前記複数個のデータ駆動集積回路に供給するタイミング制御部と、を含んで構成されることを特徴とする、有機発光表示装置

請求項2

前記タイミング制御部は、前記センシングデータから前記オフセット誤差を減算演算し、減算演算の結果値を前記ゲイン誤差で除算演算して、前記補正されたセンシングデータを算出することを特徴とする、請求項1に記載の有機発光表示装置。

請求項3

前記タイミング制御部は、ADCばらつき補正モードの間、前記センシング部をプリチャージ期間センシング期間とに分けて駆動させ、前記センシング部は、前記プリチャージ期間の間、前記センシングラインのそれぞれにテスト電圧を供給し、前記センシング期間の間、前記アナログ−デジタルコンバータから出力される測定データを前記タイミング制御部に供給することを特徴とする、請求項1に記載の有機発光表示装置。

請求項4

前記タイミング制御部は、前記テスト電圧の電圧レベルを段階的に増加させ、前記アナログ−デジタルコンバータから出力される電圧レベルによる測定データを取得して外部の誤差補正装置に提供し、前記誤差補正装置から提供される前記ゲイン誤差及びオフセット誤差を前記メモリに保存することを特徴とする、請求項3に記載の有機発光表示装置。

請求項5

前記センシング部は、前記センシングラインを通じて、表示期間中、選択された水平ラインの画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングして、前記センシングデータを前記タイミング制御部に供給し、前記タイミング制御部は、前記ゲイン誤差及び前記オフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正し、補正されたセンシングデータに基づいて、前記水平ラインの画素に供給される入力データを変調することを特徴とする、請求項1に記載の有機発光表示装置。

請求項6

ゲートラインとデータライン及びセンシングラインとの交差領域にそれぞれ形成された複数個の画素を有する表示パネルと、前記センシングラインに選択的に接続される複数個のアナログ−デジタルコンバータを有するセンシング部が内蔵された複数個のデータ駆動集積回路とを含む有機発光表示装置の駆動方法において、前記センシングラインのそれぞれに供給されたテスト電圧による前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれの出力データに基づいて、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を算出する段階(A)と、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを通じて、複数個の画素のそれぞれに含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングして、各画素のセンシングデータを生成する段階(B)と、前記ゲイン誤差及びオフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正する段階(C)と、補正されたセンシングデータに基づいて、入力される入力データを変調して前記複数個のデータ駆動集積回路に供給する段階(D)と、を含んでなることを特徴とする、有機発光表示装置の駆動方法。

請求項7

前記段階(C)は、前記センシングデータから前記オフセット誤差を減算演算し、前記減算演算の結果値を前記ゲイン誤差で除算演算して、前記補正されたセンシングデータを算出することを特徴とする、請求項6に記載の有機発光表示装置の駆動方法。

請求項8

前記段階(A)は、前記ゲートラインにゲートオフ電圧ベルのゲート信号を供給する段階(A1)と、前記センシングラインにテスト電圧を供給し、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを用いて、前記テスト電圧が供給された前記センシングラインのそれぞれの電圧をセンシングする段階(A2)と、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれから出力される前記データ電圧による測定データを取得する段階(A3)と、前記測定データに基づき、最小二乗法を用いて、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を算出して、メモリに保存する段階(A4)と、を含んでなることを特徴とする、請求項6に記載の有機発光表示装置の駆動方法。

請求項9

前記段階(A2)は、前記テスト電圧の電圧レベルを段階的に増加させ、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを用いて、段階的に増加するテスト電圧が供給された前記センシングラインのそれぞれの電圧をセンシングし、前記段階(A4)は、テスト電圧の一定区間別に前記ゲイン誤差及びオフセット誤差を算出することを特徴とする、請求項8に記載の有機発光表示装置の駆動方法。

請求項10

前記段階(A4)は、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれに共通のゲイン誤差及びオフセット誤差を算出し、前記段階(C)は、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのセンシングデータに共通のゲイン誤差及びオフセット誤差を適用して補正することを特徴とする、請求項8に記載の有機発光表示装置の駆動方法。

技術分野

0001

本発明は、有機発光表示装置係り、より具体的には、駆動トランジスタ特性変化補償して、映像輝度均一性を向上させることができるようにした有機発光表示装置及びその駆動方法に関する。

背景技術

0002

最近、マルチメディア発達に伴い、平板表示装置重要性が増大している。これに応じて、液晶表示装置プラズマ表示装置、有機発光表示装置などの平板表示装置が商用化されている。

0003

平板表示装置のうち有機発光表示装置は、電子正孔との再結合によって光を発生する有機発光素子を用いて映像を表示するもので、高速応答速度を有し、自発光であるから視野角に問題がないので、次世代平板表示装置として注目されている。

0004

一般的な有機発光表示装置の1画素は、有機発光素子及びそれを駆動するための駆動トランジスタを含む画素回路からなる。しかし、一般的な有機発光表示装置は、薄膜トランジスタの製造工程の不均一、及び駆動時間によって各画素毎に駆動トランジスタの閾値電圧移動度特性が異なるため、同一のデータ電圧印加しても、各画素の駆動トランジスタに流れる電流量が互いに異なるようになる。このような各画素の駆動トランジスタに流れる電流量ばらつきは、各画素間輝度ばらつきを誘発させて、画質均一性を低下させる。このような問題点を解決するための方法は、特許文献1乃至特許文献3などに開示されている。

0005

前記各特許文献は、各画素にセンシングトランジスタ及びセンシングラインを形成し、データ駆動部、すなわち、データ駆動集積回路に含まれたセンシング部のアナログ−デジタルコンバータを用いて、駆動トランジスタの駆動によってセンシングラインに充電される電圧をセンシングし、センシングされた電圧によってデータを補正することによって駆動トランジスタの特性変化を補償して、各画素間の輝度ばらつきによる画質の低下を防止する。

0006

しかし、一般に、アナログ−デジタルコンバータは、ゲイン誤差(gain error)及びオフセット誤差(offset error)を有し、データ駆動集積回路の製造工程におけるデータ駆動集積回路間の工程ばらつきによってアナログ−デジタルコンバータから出力される出力データのばらつきが発生し、さらに、データ駆動集積回路内のアナログ−デジタルコンバータ間でもばらつきが発生するようになる。

0007

前記ゲイン誤差とは、アナログ入力に対する理想的なデジタル出力と比較して、実際のデジタル出力が一定の比率だけずれる誤差を意味するもので、アナログ入力範囲の中心部に正確に一致していた値がアナログ入力範囲の最低値最高値に近接することによって発生する誤差である。即ち、増幅器における入力と出力との関係は、ある関数法則に基づいて変化している。このとき、実際に得られたゲインを関数で表した場合の直線の傾きが、理想的にゲインが得られた場合の直線の傾きとは一致しない場合がある。この傾きの差が、ゲイン誤差と称されている。即ち、ゲイン誤差とは、増幅器を通して得たゲインの値と、理想的なゲインの値との間に生じた誤差のことである。ゲイン誤差は、入出力直線の傾きの誤差として考えることができる。ゲイン誤差は、実際に得られたゲインを関数で表した場合の直線の傾きと理想的にゲインが得られた場合の直線の傾きとの比で表すこともできる。

0008

前記オフセット誤差とは、アナログ入力に対する理想的なデジタル出力に対して、実際のデジタル出力が一定の量だけずれる誤差を意味するもので、使用者が知っている信号を計測した時に、測定値が全体的に高いか、または低く出る程度を意味する。即ち、オフセット誤差とは、ゼロのアナログ入力をアナログ−デジタル変換して得られるデジタル出力と理想的なデジタル出力(ゼロ)との差のことである。

0009

図1は、アナログ−デジタルコンバータの入力電圧に対する出力データ(出力電圧)を示す波形図で、図2は、一般的な有機発光表示装置において、複数のデータ駆動集積回路間の出力ばらつきを説明するための波形図である。

0010

図1において、Aグラフは、入力電圧に対する理想的な出力データ(出力電圧)を示すグラフであり、Bグラフは、入力電圧に対する実際の出力データ(出力電圧)を示すグラフである。

0011

図1からわかるように、アナログ−デジタルコンバータの入力端子に同一の入力電圧を印加しても、アナログ−デジタルコンバータの出力データにばらつきが発生するようになる。すなわち、ゲイン誤差及びオフセット誤差がない理想的なアナログ−デジタルコンバータの出力データは、Aグラフのように、入力電圧(x)と理想的なゲイン(a)との乗算演算(×)によって決定される。しかし、一般に、アナログ−デジタルコンバータは、ゲイン誤差及びオフセット誤差を有するため、実際のアナログ−デジタルコンバータの出力データは、Bグラフのように、入力電圧(x)と実際のゲイン(a’)との乗算演算(×)値(x×a’)と、実際のオフセット誤差(すなわち、0の入力電圧に対する出力)(b)との和によって決定される。

0012

このような、アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきは、図2からわかるように、データ駆動集積回路(D−IC #1〜#8)間でも発生することを確認することができる。

0013

したがって、前記各特許文献は、前述したアナログ−デジタルコンバータのセンシングデータのばらつきによってずれたセンシングデータに基づいてデータを補正するため、駆動トランジスタの特性変化をより正確に補償できない。

先行技術

0014

韓国公開特許第10−2010−0047505号公報
韓国公開特許第10−2011−0066506号公報
韓国登録特許第10−1073226号公報

発明が解決しようとする課題

0015

このように、従来は、アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきを必ずしも十分に補償し得なかった。

0016

本発明の目的は、アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきを確実に補償し得る有機発光表示装置及びその駆動方法を提供することにある。

課題を解決するための手段

0017

前述した技術的課題を達成するための本発明に係る有機発光表示装置は、ゲートラインデータライン及びセンシングラインとの交差領域にそれぞれ形成された複数個の画素を含む表示パネルと;前記ゲートラインにゲート信号を供給するためのゲート駆動部と;前記データラインにデータ電圧を供給するデータ駆動部、及び前記センシングラインを通じて複数個の画素のそれぞれに含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングしてセンシングデータを生成する複数個のアナログ−デジタルコンバータを有するセンシング部を含む複数個のデータ駆動集積回路と;前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差が保存されているメモリと;前記ゲイン誤差及び前記オフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正し、補正されたセンシングデータに基づいて、入力される入力データを変調して前記複数個のデータ駆動集積回路に供給するタイミング制御部と;を含んで構成されることを特徴とする。

0018

前記タイミング制御部は、前記センシングデータから前記オフセット誤差を減算演算し、減算演算の結果値を前記ゲイン誤差で除算演算して、前記補正されたセンシングデータを算出することを特徴とする。

0019

前記タイミング制御部は、ADCばらつき補正モードの間、前記センシング部をプリチャージ期間センシング期間とに分けて駆動させ、前記センシング部は、前記プリチャージ期間の間、前記センシングラインのそれぞれにテスト電圧を供給し、前記センシング期間の間、前記アナログ−デジタルコンバータから出力される測定データを前記タイミング制御部に供給することを特徴とする。

0020

前記タイミング制御部は、前記テスト電圧の電圧レベルを段階的に増加させ、前記アナログ−デジタルコンバータから出力される電圧レベルによる測定データを取得して外部の誤差補正装置に提供し、前記誤差補正装置から提供される前記ゲイン誤差及びオフセット誤差を前記メモリに保存することを特徴とする。

0021

前記センシング部は、前記センシングラインを通じて、表示期間中、選択された水平ラインの画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングして、前記センシングデータを前記タイミング制御部に供給し、前記タイミング制御部は、前記ゲイン誤差及び前記オフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正し、補正されたセンシングデータに基づいて、前記水平ラインの画素に供給される入力データを変調することを特徴とする。

0022

前述した技術的課題を達成するための本発明に係る有機発光表示装置の駆動方法は、ゲートラインとデータライン及びセンシングラインとの交差領域にそれぞれ形成された複数個の画素を有する表示パネルと;前記センシングラインに選択的に接続される複数個のアナログ−デジタルコンバータを有するセンシング部が内蔵された複数個のデータ駆動集積回路と;を含む有機発光表示装置の駆動方法において、前記センシングラインのそれぞれに供給されたテスト電圧による前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれの出力データに基づいて、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を算出する段階(A)と;前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを通じて、複数個の画素のそれぞれに含まれた駆動トランジスタの特性変化情報をセンシングして、各画素のセンシングデータを生成する段階(B)と;前記ゲイン誤差及びオフセット誤差に基づいて前記センシングデータを補正する段階(C)と;補正されたセンシングデータに基づいて、入力される入力データを変調して前記複数個のデータ駆動集積回路に供給する段階(D)と;を含んでなることを特徴とする。

0023

前記段階(C)は、前記センシングデータから前記オフセット誤差を減算演算し、前記減算演算の結果値を前記ゲイン誤差で除算演算して、前記補正されたセンシングデータを算出することを特徴とする。

0024

前記段階(A)は、前記ゲートラインにゲートオフ電圧ベルのゲート信号を供給する段階(A1)と;前記センシングラインにテスト電圧を供給し、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを用いて、前記テスト電圧が供給された前記センシングラインのそれぞれの電圧をセンシングする段階(A2)と;前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれから出力される前記データ電圧による測定データを取得する段階(A3)と;前記測定データに基づき、最小二乗法を用い、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を算出して、メモリに保存する段階(A4)と;を含んでなることを特徴とする。

0025

前記段階(A2)は、前記テスト電圧の電圧レベルを段階的に増加させ、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータそれぞれを用いて、段階的に増加するテスト電圧が供給された前記センシングラインのそれぞれの電圧をセンシングし、前記段階(A4)は、テスト電圧の一定区間別に前記ゲイン誤差及びオフセット誤差を算出することを特徴とする。

0026

前記段階(A4)は、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれに共通のゲイン誤差及びオフセット誤差を算出し、前記段階(C)は、前記複数個のアナログ−デジタルコンバータのそれぞれのセンシングデータに共通のゲイン誤差及びオフセット誤差を適用して補正することを特徴とする。

発明の効果

0027

本発明によれば、アナログ−デジタルコンバータ間の出力ばらつきによるセンシングデータのばらつきを低減することができ、各画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化をより正確に補償することができる。

図面の簡単な説明

0028

アナログ−デジタルコンバータの入力電圧に対する出力データを示す波形図である。
一般的な有機発光表示装置において、複数のデータ駆動集積回路間の出力ばらつきを説明するための波形図である。
本発明の実施例に係る有機発光表示装置を説明するための図である。
図3に示した1画素の構造を示す図である。
図3に示したデータ駆動集積回路を説明するための図である。
本発明の実施例に係るアナログ−デジタルコンバータの誤差補正装置を説明するための図である。
図8に示した誤差補正装置の構成を説明するための図である。
本発明に係る誤差補正装置を用いたADCばらつき補正モード時回路動作、及びゲイン誤差及びオフセット誤差を算出する過程を説明するための図である。
図8に示したアナログ−デジタルコンバータのテスト電圧に対する測定データを示す波形図である。
テスト電圧の区間別ゲイン誤差及びオフセット誤差の演算補正を説明するための図(その1)である。
テスト電圧の区間別ゲイン誤差及びオフセット誤差の演算補正を説明するための図(その2)である。
本発明に係るゲイン誤差及びオフセット誤差を適用した補正を行う前後のセンシングデータをデータ駆動集積回路別に比較して示す図である。
複数のデータ駆動集積回路のセンシングデータ間のばらつきを説明するための図である。

実施例

0029

単数表現は、文脈上明らかに他の意味として定義しない限り、複数の表現を含むものと理解しなければならず、「第1」、「第2」などの用語は、一つの構成要素を他の構成要素から区別するためのもので、これらの用語によって権利範囲が限定されてはならない。

0030

「含む」または「有する」などの用語は、一つまたはそれ以上の他の特徴や数字、段階、動作、構成要素、部品、又はこれらを組み合わせたものの存在または付加可能性をあらかじめ排除しないものと理解しなければならない。

0031

「少なくとも一つ」という用語は、一つ以上の関連項目から提示可能な全ての組み合わせを含むものと理解しなければならない。例えば、「第1項目、第2項目、及び第3項目のうち少なくとも一つ」の意味は、第1項目、第2項目、または第3項目のそれぞれだけでなく、第1項目、第2項目、及び第3項目のうち二つ以上から提示できる全ての項目の組み合わせを意味する。

0032

以下では、本発明に係る有機発光表示装置及びその駆動方法の好ましい実施例を、添付の図面を参照して詳細に説明する。

0033

図3は、本発明の実施例に係る有機発光表示装置を説明するための図であり、図4は、図3に示した1画素の構造を示す図であり、図5は、図3に示したデータ駆動集積回路を説明するための図である。

0034

図3乃至図5を参照すると、本発明の実施例に係る有機発光表示装置は、表示パネル100、ゲート駆動部200、複数のデータ駆動集積回路300、メモリ400、及びタイミング制御部500を含む。

0035

前記表示パネル100は複数個の画素Pを含む。前記複数個の画素Pは、複数個のゲートライングループGL、複数個のデータラインDLi、及び前記複数個のデータラインDLiに並行する複数個のセンシングラインSLiの交差によって確定される画素領域にそれぞれ形成される。

0036

前記複数個のゲートライングループGLiのそれぞれは、前記表示パネル100の第1方向、例えば、水平方向に沿って並ぶように形成される。このとき、前記複数個のゲートライングループGLiのそれぞれは、互いに隣接した第1及び第2ゲートラインGLa,GLbからなる。このような各ゲートライングループGLiの第1及び第2ゲートラインGLa,GLbには、前記ゲート駆動部200から第1及び第2ゲート信号GSa,GSbが個別的に供給される。

0037

前記複数個のデータラインDLiのそれぞれは、複数のゲートライングループGLiのそれぞれと交差するように表示パネル100の第2方向、例えば、垂直方向に沿って並ぶように形成される。このような各データラインDLiには、前記データ駆動集積回路300からデータ電圧Vdataが個別的に供給される。このとき、前記複数個のデータラインDLiのそれぞれには、該当の画素Pに含まれた駆動トランジスタの閾値電圧及び移動度のそれぞれが補償されたデータ電圧Vdataが供給される。

0038

前記複数個のセンシングラインSLiのそれぞれは、複数個のデータラインDLiのそれぞれに並ぶように形成される。このような各センシングラインSLiには、前記データ駆動集積回路300から基準電圧Vrefまたはプリチャージ電圧Vpreが選択的に供給される。すなわち、前記基準電圧Vrefは、表示モード時に各センシングラインSLiに選択的に供給され、前記プリチャージ電圧Vpreは、センシングモード時にセンシングラインSLiに選択的に供給される。一方、各センシングラインSLiには、アナログ−デジタルコンバータのばらつき補正モード(以下、”ADCばらつき補正モード”という)時にテスト電圧が供給される。

0039

前記表示パネル100には、複数個のデータラインDLiのそれぞれに並ぶように形成された複数個の駆動電圧ラインPLiが形成されている。前記複数個の駆動電圧ラインPLiのそれぞれには、電圧供給部(図示せず)から駆動電圧DDが供給される。

0040

前記複数個の画素Pのそれぞれは、有機発光素子OLED、及び画素回路PCを含む。

0041

前記有機発光素子OLEDは、画素回路PCの駆動によって駆動電圧ラインPLiからカソード電圧SSラインに流れるデータ電流Ioledに比例して発光する。そのために、有機発光素子OLEDは、アノード電極(図示せず)、アノード電極上に形成された有機層(図示せず)、及び有機層上に形成されたカソード電極CEを含む。このとき、有機層は、正孔輸送層有機発光層電子輸送層の構造、または正孔注入層/正孔輸送層/有機発光層/電子輸送層/電子注入層の構造を有するように形成することができる。さらに、前記有機層は、有機発光層の発光効率及び/または寿命などを向上させるための機能層をさらに含んでなることができる。そして、カソード電極CEは、複数の画素Pのそれぞれに個別的に形成するか、または複数の画素Pに共通に接続されるように形成することができる。

0042

前記画素回路PCは、第1スイッチングトランジスタTsw1、第2スイッチングトランジスタTsw2、駆動トランジスタTdr、及びキャパシタCstを含むことができる。ここで、トランジスタTsw1,Tsw2,Tdrは、N型薄膜トランジスタ(TFT)であって、a−Si TFT、poly−Si TFT、Oxide TFT、Organic TFTなどであってもよい。

0043

前記第1スイッチングトランジスタTsw1は、ゲートライングループGLiの第1ゲートラインGLaに接続されたゲート電極、隣接したデータラインDLiに接続された第1電極、及び駆動トランジスタTdrのゲート電極である第1ノードn1に接続された第2電極を含む。このような前記第1スイッチングトランジスタTsw1は、前記第1ゲートラインGLaに供給されるゲートオン電圧レベルの第1ゲート信号GSaに応じて、データラインDLiに供給される前記データ電圧Vdataを、第1ノードn1、すなわち、駆動トランジスタTdrのゲート電極に供給する。

0044

前記第2スイッチングトランジスタTsw2は、ゲートライングループGLiの第2ゲートラインGLbに接続されたゲート電極、隣接したセンシングラインSLiに接続された第1電極、及び駆動トランジスタTdrのソース電極である第2ノードn2に接続された第2電極を含む。このような第2スイッチングトランジスタTsw2は、前記第2ゲートラインGLbに供給されるゲートオン電圧レベルの第2ゲート信号GSbに応じて、センシングラインSLiに供給される前記基準電圧Vref(またはプリチャージ電圧Vpre)を、第2ノードn2、すなわち、駆動トランジスタTdrのソース電極に供給する。

0045

前記キャパシタCstは、駆動トランジスタTdrのゲート電極及びソース電極、すなわち、第1及び第2ノードn1,n2間に接続される第1及び第2電極を含む。このようなキャパシタCstは、第1及び第2ノードn1,n2のそれぞれに供給される電圧の差電圧を充電した後、充電された電圧によって駆動トランジスタTdrをスイッチングさせる。

0046

前記駆動トランジスタTdrは、第1スイッチングトランジスタTsw1の第2電極及びキャパシタCstの第1電極に共通に接続されたゲート電極、第2スイッチングトランジスタTsw2の第1電極とキャパシタCstの第2電極及び有機発光素子OLEDに共通に接続されたソース電極、及び駆動電圧ラインPLiに接続されたドレイン電極を含む。このような駆動トランジスタTdrは、キャパシタCstの電圧によってターンオンされることによって、駆動電圧ラインPLiから有機発光素子OLEDに流れる電流量を制御する。

0047

このような画素回路PCは、前記ゲート駆動部200から供給されるゲート信号によるデータ充電期間及び発光期間で動作する。すなわち、前記画素回路PCは、前記データ充電期間の間、前記キャパシタCstにデータ電圧Vdataと基準電圧Vrefとの差電圧(Vdata−Vref)を充電し、前記発光期間の間、前記キャパシタCstに保存された電圧によって駆動トランジスタTdrをターンオンさせて、データ電圧Vdataと基準電圧Vrefとの差電圧(Vdata−Vref)によって決定されるデータ電流Ioledで有機発光素子OLEDを発光させる。

0048

上述した実施例においては、画素回路PCが3個のトランジスタ及び一つのキャパシタで構成される場合を説明したが、画素回路PCを構成するトランジスタ及びキャパシタの個数は多様に変形可能である。

0049

前記ゲート駆動部200は、前記表示パネル100の一側及び/または両側の非表示領域に形成されて、ゲートラインGLに接続される。このとき、前記ゲート駆動部200は、各画素Pのトランジスタ形成工程と共に表示パネル100の基板直接形成されて、前記ゲートラインGLのそれぞれの一側または両側に接続可能である。

0050

前記ゲート駆動部200は、前記タイミング制御部500の制御によって、1水平期間(1水平走査期間)毎にゲートオン電圧レベルの第1及び第2ゲート信号GSa,GSbを生成して、ゲートライングループGLiに順次供給する。このとき、前記第1及び第2ゲート信号GSa,GSbのそれぞれは、各画素Pのデータ充電期間の間にゲートオン電圧レベルを有し、各画素Pの発光期間の間にゲートオフ電圧レベルを有する。

0051

また、前記ゲート駆動部200は、前記タイミング制御部500の制御によって、1フレーム期間中、一部の水平期間に設定されたセンシング期間の間、選択された水平ラインの各画素Pを初期化期間電圧充電期間及び電圧センシング期間で駆動するための第1及び第2ゲート信号GSa,GSbを生成して、該当のゲートライングループGLiに供給する。このとき、前記第1ゲート信号GSaは、前記初期化期間及び電圧充電期間の間にのみゲートオン電圧レベルを有し、前記第2ゲート信号GSbは、センシング期間の間にゲートオン電圧レベルを有する。

0052

なお、前記ゲート駆動部200は、集積回路(IC)の形態で形成されて、表示パネル100の一側及び/または両側の非表示領域に実装されたり、または集積回路(IC)の形態で形成されて、ゲートフレキシブル回路フィルム(図示せず)に実装されてもよい。このとき、前記ゲートフレキシブル回路フィルムは、フィルム着工程によって表示パネル100に付着される。

0053

前記複数個のデータ駆動集積回路300のそれぞれは、前記データラインDL及び前記センシングラインSLのそれぞれに接続される。このような前記複数個のデータ駆動集積回路300のそれぞれは、前記タイミング制御部500の制御によって、各画素Pにデータ電圧及び基準電圧を供給し、センシングラインを用いて、水平ラインのうち選択された水平ラインの各画素に含まれた駆動トランジスタTdrの閾値電圧及び移動度特性の変化をセンシングして、駆動トランジスタTdrの閾値電圧センシングデータ及び移動度センシングデータを生成して、タイミング制御部500に提供する。このような前記複数個のデータ駆動集積回路300のそれぞれは、データフレキシブル回路フィルム310に実装される。前記複数個のデータフレキシブル回路フィルム310の一側は、フィルム付着工程によって表示パネル100に形成されたデータパッド部に付着され、複数個のデータフレキシブル回路フィルム310の他側は、フィルム付着工程によってデータプリント回路基板600に付着される。

0054

前記複数個のデータ駆動集積回路300のそれぞれは、データ駆動部302及びセンシング部320を含む。

0055

前記データ駆動部302は、1水平期間毎に前記タイミング制御部500から各画素Pの画素データDATAの供給を受けてデータ電圧Vdataに変換してデータラインDLiに供給する。そして、前記データ駆動部302は、前記センシング期間の間に前記タイミング制御部500から供給されるセンシング用データDATAを、センシング用データ電圧Vdataに変換してデータラインDLiに供給する。結果的に、前記データ駆動部302は、各水平期間のデータ充電期間の間、データ電圧VdataをデータラインDLiに供給し、前記センシング期間の初期化期間、または初期化期間及び電圧充電期間の間、センシング用データ電圧VdataをデータラインDLiに供給する。そのために、前記データ駆動部302は、前記タイミング制御部500から供給されるデータスタート信号及びデータシフト信号に基づいてサンプリング信号を生成するシフトレジスタと、サンプリング信号に応じて画素データDATAをラッチするラッチ部と、複数の基準ガンマ電圧を用いて複数の階調電圧を生成する階調電圧生成部と、複数の階調電圧のうち、ラッチされたデータに対応する階調電圧をデータ電圧Vdataとして選択して出力するデジタルアナログコンバータと、データ出力信号に応じて前記データ電圧VdataをデータラインDLiに出力する出力部と、を含んで構成することができる。

0056

なお、図5では、前記データ駆動部302が一つのデータラインDLiに接続されるものと示したが、設定されたチャネル数に対応するデータラインに接続される。

0057

前記センシング部320は、各画素PのセンシングラインSLi毎に接続されるもので、スイッチング部322及びアナログ−デジタルコンバータ324を含む。

0058

前記スイッチング部322は、基準電圧Vrefが供給される基準電圧供給ラインRVL、プリチャージ電圧Vpreが供給されるプリチャージ電圧供給ラインPVL、及びアナログ−デジタルコンバータ324を、前記タイミング制御部500の制御によって選択的にセンシングラインSLiに接続させる。すなわち、前記スイッチング部322は、前記各水平期間の間、基準電圧供給ラインRVLをセンシングラインSLiに接続させる。反面、前記スイッチング部322は、前記センシング期間の初期化期間の間、プリチャージ電圧供給ラインPVLをセンシングラインSLiに接続させ、前記センシング期間のデータ充電期間の間、前記センシングラインSLiをフローティング(floating)させ、前記センシング期間の電圧センシング期間の間、前記センシングラインSLiをアナログ−デジタルコンバータ324に接続させる。

0059

前記基準電圧Vrefは、前記データ駆動部302の階調電圧生成部から出力される階調電圧のいずれか一つの電圧であってもよく、この場合、基準電圧供給ラインRVLは前記階調電圧生成部に接続される。ここで、前記基準電圧Vrefは、0(Zero)の電圧レベルを有するか、または前記有機発光素子OLEDの導通電圧未満の電圧レベルを有することができる。

0060

また、前記プリチャージ電圧Vpreもまた、階調電圧生成部から出力される階調電圧のいずれか一つの電圧であってもよく、この場合、プリチャージ電圧供給ラインPVLは前記階調電圧生成部に接続される。

0061

前記アナログ−デジタルコンバータ324は、前記スイッチング部322のスイッチングによってセンシングラインSLiに接続されると、前記センシングラインSLiに充電された電圧をセンシングし、センシングされた電圧をデジタル変換してセンシングデータSdataを生成し、生成されたセンシングデータSdataをタイミング制御部500に供給する。ここで、前記センシングデータSdataは、プリント回路基板600に形成されたセンシングデータ伝送ライン610及び信号伝送部材800を介して、制御基板700に実装されたタイミング制御部500に供給される。

0062

前記メモリ400は、制御基板700に実装されており、前述したセンシング部320に含まれた各アナログ−デジタルコンバータ324のゲイン誤差及びオフセット誤差が保存されている。このような各アナログ−デジタルコンバータ324のゲイン誤差及びオフセット誤差は、有機発光表示装置の製品出荷前最終検査工程で行われるADCばらつき補正モードによって、各アナログ−デジタルコンバータ324から出力される測定データに基づき、補正演算過程を通じて算出されて、前記メモリ400に保存される。このとき、前記補正演算過程は、複数のデータ駆動集積回路300のそれぞれに内蔵された全てのアナログ−デジタルコンバータ324のそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を個別的に算出するか、またはデータ駆動集積回路300単位でアナログ−デジタルコンバータ324のそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差を算出するか、または全てのアナログ−デジタルコンバータ324に共通のゲイン誤差及びオフセット誤差を算出することができる。このようなADCばらつき補正モード及び補正演算過程については後述する。

0063

なお、前記メモリ400は、タイミング制御部500に内蔵することができる。

0064

前記タイミング制御部500は、前記制御基板700に実装されており、前記ユーザーコネクタ710を介して外部のシステム本体(図示せず)またはグラフィックカード(図示せず)から入力されるタイミング同期信号及び映像データの供給を受ける。

0065

まず、前記タイミング制御部500は、垂直同期信号水平同期信号データイネーブル信号クロック信号などのタイミング同期信号に基づいて、ゲート駆動部200及び複数のデータ駆動集積回路300のそれぞれの駆動タイミングを制御する。

0066

前記タイミング制御部500は、1水平期間単位で、前記各ゲートライングループGLiに接続された各画素Pがデータ充電期間及び発光期間で駆動されるように、ゲート駆動部200の駆動タイミングを制御し、データ充電期間の間、データラインDLiにデータ電圧Vdataが供給され、基準電圧VrefがセンシングラインSLiに供給されるように、複数のデータ駆動集積回路300の駆動タイミングを制御する。

0067

前記タイミング制御部500は、前記センシング期間の間、選択された水平ラインの各画素Pが初期化期間、電圧充電期間、及び電圧センシング期間で駆動されるように、ゲート駆動部200の駆動を制御し、初期化期間または初期化期間及び電圧充電期間の間、データラインDLiにセンシング用データ電圧Vdataが供給されるように、複数のデータ駆動集積回路300のそれぞれの駆動を制御する。ここで、前記センシング期間の間、選択された水平ラインの各画素Pに含まれた駆動トランジスタTdrの閾値電圧及び移動度特性の変化をセンシングする方法は、特許文献1乃至3に詳細に記載されているので、これについての説明は省略する。

0068

前記タイミング制御部500は、前記メモリ400に保存されたゲイン誤差及びオフセット誤差に基づいて、複数のデータ駆動集積回路300のセンシング部320から供給された各画素Pの駆動トランジスタTdrの閾値電圧及び移動度特性の変化に対応するセンシングデータSdataを補正して、補正されたセンシングデータを算出し、算出された各画素Pの補正されたセンシングデータを別途のメモリ部(図示せず)に保存する。このとき、前記タイミング制御部500は、下記の数式1のように、ゲイン誤差及びオフセット誤差によってセンシングデータSdataを補正することができる。

0069

0070

数式1において、yは、補正されたセンシングデータを意味し、xは、センシングデータSdataを意味し、aは、アナログ−デジタルコンバータのゲイン誤差を意味し、bは、アナログ−デジタルコンバータのオフセット誤差を意味する。このような前記補正されたセンシングデータ(y)は、前記アナログ−デジタルコンバータ324の入力電圧に対する測定データの誤差が補償された値を有する。

0071

そして、前記タイミング制御部500は、外部から入力データが入力されると、前記メモリ部に保存された該当の画素の補正されたセンシングデータによって該当の画素Pの入力データを変調して、複数のデータ駆動集積回路300に供給する。これによって、タイミング制御部500は、補正されたセンシングデータに基づいて、駆動トランジスタTdrの閾値電圧及び移動度特性の変化を入力データに反映して、変調データを生成するようになる。

0072

一方、前記タイミング制御部500は、外部から供給される測定同期信号によって、ゲート駆動部200及び複数のデータ駆動集積回路300のそれぞれをADCばらつき補正モードで動作させる。

0073

具体的に、前記ADCばらつき補正モードの際に、前記タイミング制御部500は、全てのゲートライングループGLiにゲートオフ電圧レベルのゲート信号GSが供給されるように、ゲート駆動部200の駆動を制御する。その後、前記タイミング制御部500は、複数のデータ駆動集積回路300のそれぞれに内蔵されたセンシング部320を、プリチャージ期間及びセンシング期間で駆動させる。次に、前記タイミング制御部500は、前記センシング期間によってセンシング部320のアナログ−デジタルコンバータ324から出力される測定データを外部の誤差補正装置に出力し、前記誤差補正装置から供給されるアナログ−デジタルコンバータ324のそれぞれのゲイン誤差及びオフセット誤差、データ駆動集積回路300単位のゲイン誤差及びオフセット誤差、全てのアナログ−デジタルコンバータ324に共通のゲイン誤差及びオフセット誤差をメモリ400に保存する。

0074

前記ADCばらつき補正モードの際に、前記センシング部320は、前記プリチャージ期間の間、センシングラインSLiにテスト電圧Vtestを供給し、前記センシング期間の間、前記アナログ−デジタルコンバータ324から出力される測定データをタイミング制御部500に供給する。このとき、前記タイミング制御部500は、前記プリチャージ期間の間、前記センシングラインSLiに供給されるテスト電圧Vtestを複数の期間単位で増加させることができる。

0075

このような本発明の実施例に係る有機発光表示装置は、メモリ400に保存されたセンシング部320のアナログ−デジタルコンバータ324のゲイン誤差及びオフセット誤差に基づいて、選択された水平ラインの画素に含まれた駆動トランジスタTdrの閾値電圧及び移動度特性に対応するセンシングデータを補正し、補正されたセンシングデータによって入力データを変調することによって、アナログ−デジタルコンバータ324間の出力ばらつきによるセンシングデータのばらつきを低減することができ、各画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化をより正確に補償することができる。

0076

図6は、本発明の実施例に係るアナログ−デジタルコンバータの誤差補正装置を説明するための図であり、図7は、図6に示された誤差補正装置の構成を説明するための図である。

0077

図6及び図7を参照すると、本発明に係る誤差補正装置900は、前述した有機発光表示装置の制御基板700に実装されたユーザーコネクタ710を通じて前述したタイミング制御部500と通信しながら、前述したADCばらつき補正モードを行う。そのために、本発明に係る誤差補正装置900は、測定同期信号生成部910、テスト電圧設定部920、及び誤差算出部930を含む。

0078

前記測定同期信号生成部910は、ADCばらつき補正モードを生成するための測定同期信号Msyncを生成して、タイミング制御部500に供給する。これによって、タイミング制御部500は、測定同期信号Msyncに応じて表示パネル100の駆動モードをADCばらつき補正モードに設定し、前述したゲート駆動部200及び複数のデータ駆動集積回路300のそれぞれをADCばらつき補正モードで動作させる。

0079

前記テスト電圧設定部920は、前記測定同期信号Msyncに基づいて、センシングラインSLiに供給されるテスト電圧Vtestの電圧値を設定するための電圧設定信号TVSを生成して、タイミング制御部500に供給する。これによって、タイミング制御部500は、前記電圧設定信号TVSに対応するテスト電圧VtestがセンシングラインSLiに供給されるように電圧供給部を制御するか、または前述した基準ガンマ電圧生成部の出力電圧を制御する。

0080

前記誤差算出部930は、タイミング制御部500からデータ集積回路300単位で供給される測定データMsensingを分析して、アナログ−デジタルコンバータ324のゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)を算出する。このとき、前記誤差算出部930は、測定データMsensingに基づき、最小二乗法を用いて、ゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)を算出することができる。

0081

そして、前記誤差算出部930は、算出されたゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)をタイミング制御部500に供給する。これによって、タイミング制御部500は、前記誤差算出部930から供給される前記ゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)をメモリ400に保存する。

0082

図8は、本発明に係る誤差補正装置を用いたADCばらつき補正モード時の回路動作、及びゲイン誤差及びオフセット誤差を算出する過程を説明するための図である。

0083

まず、前記タイミング制御部500は、前記測定同期信号Msyncのプリチャージ期間によって前記ゲート駆動部200の駆動を制御して、表示パネル100の全てのゲートライングループGLiにゲートオフ電圧レベルのゲート信号GSa,GSbが供給されるようにする。これと同時に、前記タイミング制御部500は、前記電圧設定信号TVSに対応するテスト電圧Vtestがプリチャージ電圧供給ラインPVLに供給されるようにし、これと同時に、複数のデータ駆動集積回路300に内蔵されたセンシング部320のスイッチング部322を制御して、センシングラインSLiをプリチャージ電圧供給ラインPVLに接続させることによって、各センシングラインSLiにテスト電圧Vtestを充電する。

0084

次に、前記タイミング制御部500は、前記測定同期信号Msyncのセンシング期間によってセンシング部320のスイッチング部322を制御して、センシングラインSLiをアナログ−デジタルコンバータ324に接続させる。これによって、各センシングラインSLiに接続されたアナログ−デジタルコンバータ324のそれぞれは、該当のセンシングラインSLiの電圧をデジタル変換して測定データMsensingを生成し、生成された測定データMsensingをタイミング制御部500に供給し、タイミング制御部500は、測定データMsensingを誤差算出部930に供給する。

0085

次に、前記タイミング制御部500は、前記電圧設定信号TVSに応じて前記テスト電圧Vtestの電圧レベルを段階的に増加させながら、電圧レベルによる期間別に、前述した過程を繰り返して行うことによって、図9に示したように、テスト電圧Vtestの電圧レベルに対する測定データMsensingを誤差算出部930に供給する。

0086

次に、前記誤差算出部930は、前記テスト電圧Vtestの電圧レベルにおける測定データMsensingに基づき、最小二乗法(least square method)を用い、測定データMsensingの散布度に基づいて、XとYとの間に存在する標本回帰線(y=ax+b)からゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)を算出する。

0087

具体的に、前記テスト電圧Vtestの電圧レベルによる測定データMsensingによる標本回帰線が、”y=ax+b”であれば、誤差の二乗の和は、下記の数式2の通りである。

0088

0089

前記誤差算出部930は、下記の数式3のように、上記の数式2の関数(f)のa、bに対する偏微分値が0であるa、bを求めることによって、前記ゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)を算出する。

0090

0091

このとき、前記誤差算出部930は、前記テスト電圧Vtestの電圧レベルによって反復的に測定された測定データMsensingを平均化して、上記の数式2の関数の従属変数yiに代入することによって、前記テスト電圧Vtestの電圧レベルによって間欠的に発生する測定データMsensingのエラー値を補正するようになる。すなわち、前記誤差算出部930は、加算される測定データMsensingと以前の測定データMsensingとを比較して、正常範囲を超えると、該当の測定データMsensing値に平均測定データMsensing値を加算し、正常範囲であるときは、加算される測定データMsensingと以前の測定データMsensingとを加算するようになる。

0092

なお、前記アナログ−デジタルコンバータ324自体のゲイン誤差及びオフセット誤差による線形性の問題により、ゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)の補正値は、理想的に補正されなければならない測定データMsensing値にずれを生じさせることがある。このようなずれを防止するために、前記誤差算出部930は、図10に示されたCグラフのように、前記テスト電圧Vtestの電圧レベルに対して測定データMsensingの線形性が維持される区間に分割して、区間別にゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)を演算して補正する。このように、前記区間別にゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)を演算して補正するようになれば、補正された測定データMsensing値は、図11に示された区間別に演算補正を行っていないDグラフと比べて、Eグラフのように誤差が減少して、理想的なAグラフに近似化するようになる。

0093

一方、前記誤差算出部930は、データ駆動集積回路300間のゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)を補正して、全てのアナログ−デジタルコンバータに共通のゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)を算出することができ、この場合、タイミング制御部500は、水平ラインのセンシング期間時に複数個のアナログ−デジタルコンバータ324のそれぞれから供給されるセンシングデータSdataに、共通のゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)を適用して、補正されたセンシングデータを生成するようになる。

0094

前述したような前記誤差算出部930は、最小二乗法を用いた回帰分析を通じて算出された各アナログ−デジタルコンバータ324に対するゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)を、タイミング制御部500に提供する。これによって、前記タイミング制御部500は、誤差算出部930によって提供される前記ゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)をメモリ400に保存し、前述したADCばらつき補正モードを終了する。ここで、各アナログ−デジタルコンバータ324に対するゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)は、ルックアップテーブル(Look Up Table)を生成してメモリ400に保存することができる。

0095

図12は、本発明に係るゲイン誤差及びオフセット誤差を適用した補正を行う前後のセンシングデータをデータ駆動集積回路別に比較して示す図であり、図12の(a)は、前記センシングデータにゲイン誤差及びオフセット誤差を適用した補正が行わた後のセンシングデータを示し、図12の(b)は、前記センシングデータにゲイン誤差及びオフセット誤差を適用した補正が行われていないセンシングデータを示す。

0096

図12の(a)からわかるように、前記ゲイン誤差及びオフセット誤差が適用されて補正されたセンシングデータの場合、データ駆動集積回路間のばらつきが減少されたことがわかる。

0097

図13は、複数のデータ駆動集積回路のセンシングデータ間のばらつきを説明するための図である。

0098

図13からわかるように、複数のデータ駆動集積回路のそれぞれから出力されるセンシングデータSdataの場合、アナログ−デジタルコンバータ324のゲイン誤差及びオフセット誤差によってデータ駆動集積回路(D−IC #1〜#8)毎にばらつきが発生するが、前述したADCばらつき補正モードによって算出されたゲイン誤差(a)及びオフセット誤差(b)によって補正されたセンシングデータSdata'の場合、データ駆動集積回路(D−IC #1〜#8)毎にばらつきが減少したことを確認することができる。

0099

なお、本発明の実施例に係る有機発光表示装置において、表示パネル100に形成された各画素Pの構造は、特許文献1乃至3に開示された画素構造からなることができる。この場合、本発明の実施例に係る有機発光表示装置は、前述したように、特許文献1乃至3に開示されたセンシング方法によってセンシングされた各画素に含まれた駆動トランジスタの特性変化に対するセンシングデータを補正することによって、アナログ−デジタルコンバータの出力ばらつきによる問題点を解決することができる。

0100

以上で説明した本発明は、前述した実施例及び添付の図面に限定されるものではなく、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲内で様々な置換、変形及び変更が可能であるということが、本発明の属する技術分野における通常の知識を有する者にとって明らかである。

0101

100表示パネル
200ゲート駆動部
300データ駆動集積回路
302データ駆動部
320センシング部
322スイッチング部
324アナログ−デジタルコンバータ
400メモリ
500タイミング制御部
600プリント回路基板
700制御基板
900誤差補正装置
910 測定同期信号生成部
920テスト電圧設定部
930誤差算出部

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