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技術 測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法

出願人 アンリツ株式会社
発明者 齋藤岳人
出願日 2012年9月26日 (8年2ヶ月経過) 出願番号 2012-211996
公開日 2014年4月17日 (6年8ヶ月経過) 公開番号 2014-068179
状態 特許登録済
技術分野 デジタル伝送の保守管理 エラーの検出、防止 周波数測定,スペクトル分析
主要キーワード 設定制御装置 各測定チャンネル 設定面 光電変換部品 パルスパターン発生器 測定チャンネル 書き換えステップ 誤り検出装置
関連する未来課題
重要な関連分野

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図面 (7)

課題

複数の測定チャンネルを備えた誤り検出システムに係る測定パラメータ整合させて設定作業の簡便化を図ることのできる測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法を提供する。

解決手段

複数の測定チャンネルを備えた被設定機器に既に設定されている複数の測定チャンネルの第1の測定パラメータをそれぞれ取得し、いずれか1つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段を有し、測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルに測定パラメータ設定手段によって第2の測定パラメータが設定されたとき、測定チャンネル選択手段により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの第1の測定パラメータを、測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルの第2の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換える。

概要

背景

近年、各種のディジタル通信装置は、利用者数の増加やマルチメディア通信の普及に伴い、より大容量の伝送能力が求められている。そして、これらのディジタル通信装置におけるディジタル信号品質評価指標の一つとして、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率(Bit Error Rate)が知られている。

また、試験対象となる通信規格で規定された通信を行うための光電変換部品等の被試験デバイス(Device Under Test)に対して固定データを含むテスト信号を送信し、被試験デバイスを介して入力される被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較して、被測定信号の誤り率を検出する装置として、たとえば下記特許文献1に開示されるような誤り率測定装置が公知である。

図6は、下記特許文献1に開示される従来の誤り検出システム概略構成図である。図示のように、誤り検出装置300aは、RAM等のメモリによって構成されるデータ記憶部315と、集積回路等によって構成されるパルスパターン発生部316とからなるパルスパターン発生器210と、集積回路等によって構成される信号受信部317、同期検出部318、比較部319および誤り率算出部320とからなる誤り検出器211と、表示制御部321と、CRT液晶ディスプレイ等の表示機器322、およびキーボード等の操作部323とによって構成される。被試験デバイス200から受信した入力データと被試験デバイス200から受信されるべき既知のデータとを比較部319で比較して、誤り率算出部320にて誤り率を算出し、その誤り率の算出結果を表示機器322に表示する。

また、被試験デバイス200には従来の1チャンネルのみでは不可能であった大容量の伝送能力が求められているため、大容量化を実現するために被試験デバイス200が複数の入力および出力を有することから、その被試験デバイスの試験には複数のチャンネルの誤り測定が必要となっている。そこで、それぞれのチャンネルの誤り測定を行うために、誤り検出装置300aと同等の誤り検出装置300b、300cおよび300dを用意して誤り検出システム1300とし、複数の測定チャンネルの測定に対応する構成となっていた。

概要

複数の測定チャンネルを備えた誤り検出システムに係る測定パラメータ整合させて設定作業の簡便化をることのできる測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法を提供する。 複数の測定チャンネルを備えた被設定機器に既に設定されている複数の測定チャンネルの第1の測定パラメータをそれぞれ取得し、いずれか1つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段を有し、測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルに測定パラメータ設定手段によって第2の測定パラメータが設定されたとき、測定チャンネル選択手段により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの第1の測定パラメータを、測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルの第2の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換える。

目的

本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、複数の測定チャンネルを備えた誤り検出システムの測定パラメータを整合させて設定作業の簡便化を図ることのできる測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法を提供する

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
3件

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請求項1

表示部(22)を備え、複数の測定チャンネルを有する被設定機器の前記複数の測定チャンネルのそれぞれに入力される電気信号を測定または前記複数の測定チャンネルのそれぞれから所望の電気信号を出力するために必要な測定パラメータに対して、前記複数の測定チャンネル毎に前記測定パラメータの設定をそれぞれ行う測定パラメータ設定制御装置(12)であって、前記被設定機器に設定されている前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータを取得するとともに、設定後の前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第2の測定パラメータを前記被設定機器に対して書き換え処理する測定パラメータ処理部(32)と、前記表示部の表示画面上に取得した前記第1の測定パラメータを表示する測定パラメータ制御部(31)と、前記複数の測定チャンネルのうち、いずれか1つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段(50、70)と、前記第2の測定パラメータを設定するために前記複数の測定チャンネル毎にそれぞれ予め準備された測定パラメータ設定手段(52、53、55、57、75、77)とを前記表示部の前記表示画面上に表示制御する表示制御部(21)と、前記測定パラメータ処理部は、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルに前記測定パラメータ設定手段によって前記第2の測定パラメータが設定されたとき、前記測定チャンネル選択手段により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの前記第1の測定パラメータを、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルの前記第2の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換えることを特徴とする測定パラメータ設定制御装置。

請求項2

前記被設定機器は任意のディジタル信号を発生するためのパルスパターン発生器(10)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の伝送速度をあらわすビットレートと、前記ディジタル信号の振幅値とを少なくとも含むことを特徴とする請求項1に記載の測定パラメータ設定制御装置。

請求項3

前記被設定機器はディジタル信号の誤りを検出するための誤り検出器(11)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の0と1との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする請求項1に記載の測定パラメータ設定制御装置。

請求項4

前記被設定機器は前記パルスパターン発生器と、前記誤り検出器とから構成される誤り検出装置(100a、100b、100c、100d)からなる誤り検出システム(1000)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の0と1との発生パターンをあらわす前記ビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする請求項1に記載の測定パラメータ設定制御装置。

請求項5

複数の測定チャンネルを有する被設定機器の前記複数の測定チャンネルのそれぞれに入力される電気信号を測定または前記複数の測定チャンネルのそれぞれから所望の電気信号を出力するために必要な測定パラメータに対して、前記複数の測定チャンネル毎に前記測定パラメータの設定をそれぞれ行う測定パラメータ設定制御方法であって、前記被設定機器に設定されている前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータを取得するパラメータ取得ステップ(S201)と、取得した前記第1の測定パラメータを表示する測定パラメータ制御ステップ(S202)と、前記複数の測定チャンネルのうち、いずれか1つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段(50、70)と、前記第2の測定パラメータを設定するために前記複数の測定チャンネル毎にそれぞれ予め準備された測定パラメータ設定手段(52、53、55、57、75、77)とを表示制御する表示制御ステップ(S203)と、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルに前記測定パラメータ設定手段によって前記第2の測定パラメータが設定されたことを検出する設定検出ステップ(S204)と、前記被設定機器に対して前記測定チャンネル選択手段により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの前記第1の測定パラメータを、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルの前記第2の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換え処理するパラメータ書き換えステップ(S205)とを含むことを特徴とする測定パラメータ設定制御方法。

請求項6

前記被設定機器は任意のディジタル信号を発生するためのパルスパターン発生器(10)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の伝送速度をあらわすビットレートと、前記ディジタル信号の振幅値とを少なくとも含むことを特徴とする請求項5に記載の測定パラメータ設定制御方法。

請求項7

前記被設定機器はディジタル信号の誤りを検出するための誤り検出器(11)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の0と1との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする請求項5に記載の測定パラメータ設定制御方法。

請求項8

前記被設定機器は前記パルスパターン発生器と、前記誤り検出器とから構成される誤り検出装置(100a、100b、100c、100d)からなる誤り検出システム(1000)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の0と1との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする請求項5に記載の測定パラメータ設定制御方法。

技術分野

0001

本発明は、被試験デバイスディジタル信号伝達特性などを試験する用途に用いられる任意のディジタル信号を発生するためのパルスパターン発生器と、ディジタル信号の誤りを検出するための誤り検出器およびパルスパターン発生器と誤り検出器とから構成される誤り検出装置係り、この誤り検出装置において、特に複数の測定チャンネルを有する誤り検出装置からなる誤り検出システム測定条件を設定する測定パラメータの設定時に、各測定チャンネルの測定パラメータを整合させて操作性の向上を図る測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法に関するものである。

背景技術

0002

近年、各種のディジタル通信装置は、利用者数の増加やマルチメディア通信の普及に伴い、より大容量の伝送能力が求められている。そして、これらのディジタル通信装置におけるディジタル信号の品質評価指標の一つとして、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率(Bit Error Rate)が知られている。

0003

また、試験対象となる通信規格で規定された通信を行うための光電変換部品等の被試験デバイス(Device Under Test)に対して固定データを含むテスト信号を送信し、被試験デバイスを介して入力される被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較して、被測定信号の誤り率を検出する装置として、たとえば下記特許文献1に開示されるような誤り率測定装置が公知である。

0004

図6は、下記特許文献1に開示される従来の誤り検出システムの概略構成図である。図示のように、誤り検出装置300aは、RAM等のメモリによって構成されるデータ記憶部315と、集積回路等によって構成されるパルスパターン発生部316とからなるパルスパターン発生器210と、集積回路等によって構成される信号受信部317、同期検出部318、比較部319および誤り率算出部320とからなる誤り検出器211と、表示制御部321と、CRT液晶ディスプレイ等の表示機器322、およびキーボード等の操作部323とによって構成される。被試験デバイス200から受信した入力データと被試験デバイス200から受信されるべき既知のデータとを比較部319で比較して、誤り率算出部320にて誤り率を算出し、その誤り率の算出結果を表示機器322に表示する。

0005

また、被試験デバイス200には従来の1チャンネルのみでは不可能であった大容量の伝送能力が求められているため、大容量化を実現するために被試験デバイス200が複数の入力および出力を有することから、その被試験デバイスの試験には複数のチャンネルの誤り測定が必要となっている。そこで、それぞれのチャンネルの誤り測定を行うために、誤り検出装置300aと同等の誤り検出装置300b、300cおよび300dを用意して誤り検出システム1300とし、複数の測定チャンネルの測定に対応する構成となっていた。

先行技術

0006

特開2007−274474号公報

発明が解決しようとする課題

0007

ところで、従来の誤り検出システムのように、複数の測定チャンネルを備えているとき、測定条件を設定する測定パラメータの設定時に、いずれか1つの測定チャンネルの測定パラメータを設定した後に、他の複数の測定チャンネルにおいて対応する測定パラメータを同一にする場合に、他の複数の測定チャンネルの測定パラメータをそれぞれの測定チャンネル毎に設定する必要があった。たとえば、4チャンネルの測定チャンネルを有する誤り検出システムでは、4回の測定パラメータの設定操作が必要となる。このように、全ての測定チャンネルの測定パラメータを同一にしたい場合でも測定チャンネルの数だけ設定する必要があり、設定作業が煩雑であった。このため、操作が極めて煩雑となり、また測定チャンネル毎の設定忘れや設定間違いによる最適な測定ができない問題があり、解決が求められていた。

0008

しかも、誤り検出装置は、通常、送信側となるパルスパターン発生器と、受信側となる誤り検出器との組み合わせで構成され、パルスパターン発生器と誤り検出器で共通する測定パラメータであっても、パルスパターン発生器または誤り検出器の測定チャンネル毎に測定パラメータの設定が独立して具備されている。

0009

ここで、パルスパターン発生器と誤り検出器とで共有する測定パラメータを同一に設定する必要がある場合がある。この場合、従来はたとえば4チャンネルの測定チャンネルを有する誤り検出システムでは、パルスパターン発生器で4回の測定パラメータの設定操作、誤り検出器で4回の測定パラメータの設定操作を必要とし、合計8回もの設定操作が必要という問題があった。

0010

さらに、パルスパターン発生器と誤り検出器とで共有する測定パラメータがたとえば3項目ある場合、パルスパターン発生器と誤り検出器とでそれぞれ3項目設定し、かつ4チャンネル分の測定チャンネルに対して設定することとなり、合計24回もの設定操作が必要となるため、操作が極めて煩雑となり、また測定チャンネル毎の設定忘れや設定間違いによる最適な測定ができない問題があった。そして、被試験デバイス200にはさらなる大容量の伝送能力が求められており、大容量化に対応するために被試験デバイス200が有する複数チャンネルの数も増加が見込まれるため、複数チャンネルの数が増加すればするほど誤り測定システムの設定操作が煩雑となる問題がある。

0011

そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、複数の測定チャンネルを備えた誤り検出システムの測定パラメータを整合させて設定作業の簡便化を図ることのできる測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法を提供することを目的とするものである。

課題を解決するための手段

0012

上記した目的を達成するために、請求項1記載の測定パラメータ設定制御装置は、
表示部(22)を備え、複数の測定チャンネルを有する被設定機器の前記複数の測定チャンネルのそれぞれに入力される電気信号を測定または前記複数の測定チャンネルのそれぞれから所望の電気信号を出力するために必要な測定パラメータに対して、前記複数の測定チャンネル毎に前記測定パラメータの設定をそれぞれ行う測定パラメータ設定制御装置(12)であって、
前記被設定機器に設定されている前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータを取得するとともに、設定後の前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第2の測定パラメータを前記被設定機器に対して書き換え処理する測定パラメータ処理部(32)と、
前記表示部の表示画面上に取得した前記第1の測定パラメータを表示する測定パラメータ制御部(31)と、
前記複数の測定チャンネルのうち、いずれか1つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段(50、70)と、前記第2の測定パラメータを設定するために前記複数の測定チャンネル毎にそれぞれ予め準備された測定パラメータ設定手段(52、53、55、57、75、77)とを前記表示部の前記表示画面上に表示制御する表示制御部(21)と、
前記測定パラメータ処理部は、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルに前記測定パラメータ設定手段によって前記第2の測定パラメータが設定されたとき、前記測定チャンネル選択手段により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの前記第1の測定パラメータを、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルの前記第2の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換えることを特徴とする。

0013

請求項2記載の測定パラメータ設定制御装置は、請求項1記載の測定パラメータ設定制御装置において、
前記被設定機器は任意のディジタル信号を発生するためのパルスパターン発生器(10)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の伝送速度をあらわすビットレートと、前記ディジタル信号の振幅値とを少なくとも含むことを特徴とする。

0014

請求項3記載の測定パラメータ設定制御装置は、請求項1記載の測定パラメータ設定制御装置において、
前記被設定機器はディジタル信号の誤りを検出するための誤り検出器(11)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の0と1との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする。

0015

請求項4記載の測定パラメータ設定制御装置は、請求項1記載の測定パラメータ設定制御装置において、
前記被設定機器は前記パルスパターン発生器と、前記誤り検出器とから構成される誤り検出装置(100a、100b、100c、100d)からなる誤り検出システム(1000)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の0と1との発生パターンをあらわす前記ビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする。

0016

上記した目的を達成するために、請求項5記載の測定パラメータ設定制御方法は、
複数の測定チャンネルを有する被設定機器の前記複数の測定チャンネルのそれぞれに入力される電気信号を測定または前記複数の測定チャンネルのそれぞれから所望の電気信号を出力するために必要な測定パラメータに対して、前記複数の測定チャンネル毎に前記測定パラメータの設定をそれぞれ行う測定パラメータ設定制御方法であって、
前記被設定機器に設定されている前記複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータを取得するパラメータ取得ステップ(S201)と、
取得した前記第1の測定パラメータを表示する測定パラメータ制御ステップ(S202)と、
前記複数の測定チャンネルのうち、いずれか1つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段(50、70)と、前記第2の測定パラメータを設定するために前記複数の測定チャンネル毎にそれぞれ予め準備された測定パラメータ設定手段(52、53、55、57、75、77)とを表示制御する表示制御ステップ(S203)と、
前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルに前記測定パラメータ設定手段によって前記第2の測定パラメータが設定されたことを検出する設定検出ステップ(S204)と、
前記被設定機器に対して前記測定チャンネル選択手段により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの前記第1の測定パラメータを、前記測定チャンネル選択手段により選択された測定チャンネルの前記第2の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換え処理するパラメータ書き換えステップ(S205)とを含むことを特徴とする。

0017

請求項6記載の測定パラメータ設定制御方法は、請求項5記載の測定パラメータ設定制御方法において、
前記被設定機器は任意のディジタル信号を発生するためのパルスパターン発生器(10)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の伝送速度をあらわすビットレートと、前記ディジタル信号の振幅値とを少なくとも含むことを特徴とする。

0018

請求項7記載の測定パラメータ設定制御方法は、請求項5記載の測定パラメータ設定制御方法において、
前記被設定機器はディジタル信号の誤りを検出するための誤り検出器(11)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の0と1との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする。

0019

請求項8記載の測定パラメータ設定制御方法は、請求項5記載の測定パラメータ設定制御方法において、
前記被設定機器は前記パルスパターン発生器と、前記誤り検出器とから構成される誤り検出装置(100a、100b、100c、100d)からなる誤り検出システム(1000)であって、前記測定パラメータは、前記ディジタル信号の0と1との発生パターンをあらわすビットパターンを少なくとも含むことを特徴とする。

発明の効果

0020

本発明の測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法によれば、測定条件を設定する測定パラメータの設定時に、いずれか1つの測定チャンネルの測定パラメータを設定した後に、他の複数の測定チャンネルにおける対応する測定パラメータを同一にする場合に、他の複数の測定チャンネルの測定パラメータをそれぞれの測定チャンネル毎に設定する必要がなくなり、いずれか1つの測定チャンネルに対する1回の測定パラメータの設定操作で、他の複数の測定チャンネルについても同一の測定パラメータへと書き換えることが可能となる。さらに、測定チャンネル毎の設定忘れや間違いによる最適な測定ができない問題を解消することが可能となる。

0021

また、本発明の測定パラメータ設定制御装置および測定パラメータ設定制御方法によれば、パルスパターン発生器と誤り検出器とから構成される誤り検出装置からなる誤り検出システムにおいて、パルスパターン発生器と誤り検出器とで共有する測定パラメータがある場合、いずれか1つの測定チャンネルに対する1回の測定パラメータの設定操作で、誤り検出システム全体の他の複数の測定チャンネルについても同一の共有する測定パラメータへと書き換えることが可能となる。このように、測定パラメータを設定する場合に、その都度他の測定チャンネルに設定を行う必要がなく、ユーザビリティが向上する。さらに、パルスパターン発生器と誤り検出器とで共有する測定パラメータの項目の数が多い場合や、複数チャンネルの数が増加すればするほど誤り測定システムの設定操作が従来よりも簡便となる。

図面の簡単な説明

0022

本発明に係る測定パラメータ設定制御装置の装置構成を示す概略ブロック図である。
本発明に係るパルスパターン発生器の各測定項目等の画面例を示す説明図である。
本発明に係る誤り検出器の各測定項目等の画面例を示す説明図である。
パラメータ値設定時の処理動作を示す処理シーケンス図である。
パラメータ値設定時の処理動作を示すフローである。
従来の誤り検出システムの装置構成を示す概略ブロック図である。

実施例

0023

以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではなく、この形態に基づいて当業者等によりなされる実施可能な他の形態、実施例および運用技術等はすべて本発明の範疇に含まれる。

0024

(装置構成)
まず、本発明が適用される測定パラメータ設定制御装置12が組み込まれた誤り検出システム1000のシステム構成について、図1を参照しながら説明する。

0025

図1に示すように、本例の誤り検出システム1000は、被試験デバイス200の誤り率の測定を行うための測定システムであり、パルスパターン発生器10と、誤り検出器11とからなる誤り検出装置100a、100b、100c、100dと、測定パラメータ設定制御装置12を含んでいる。パルスパターン発生器10は、データ記憶部15、パルスパターン発生部16を備えている。誤り検出器11は、信号受信部17、同期検出部18、比較部19、誤り率算出部20を備えている。測定パラメータ設定制御装置12は、表示制御部21、測定パラメータ制御部31、測定パラメータ処理部32、表示部22、操作部23を備えている。

0026

パルスパターン発生器10は、データ記憶部15に記憶された所定のパルスパターンのテスト信号を、指定されたビットレートにてパルスパターン発生部16によって発生し、被試験デバイス200に対して送信するパルスパターン発生装置(Pulse Pattern Generator:PPG)の機能を有している。

0027

また、誤り検出器11は、パルスパターン発生器10からのテスト信号を被試験デバイス200を介して信号受信部17で受信して、同期検出部18にてパルスパターン発生器10に含まれるデータ記憶部15とのデータの同期を行い、比較部19にてパルスパターンのビットを比較し、比較結果から全ビット中で誤ったビットの数から誤り率を算出する誤り率算出部20により誤り率を測定する誤り率検出装置(Error Detector:ED)の機能を有している。

0028

パルスパターン発生器10および誤り検出器11は、表示制御部21の制御により、操作部23で設定された測定パラメータに基づき誤り測定に関する処理を行い、得られた測定結果を表示制御部21に出力している。

0029

表示制御部21は、パルスパターン発生器10および誤り検出器11を駆動制御するためのアプリケーションソフトウェアとして機能実現している。

0030

表示部22は、たとえば液晶ディスプレイやCRT等の表示機器で構成され、表示制御部21の表示制御に基づき、パルスパターン発生器10および誤り検出器11に関する設定項目画面の表示、パルスパターン発生器10および誤り検出器11で得られた測定結果の表示、誤り検出装置100a、100b、100cおよび100dの駆動や各種制御に関する表示内容を表示している。

0031

操作部23は、たとえば表示部22の表示画面に対応する設定面への接触操作による接触位置を検出するためのタッチセンサを備えるタッチパネルで構成される。操作部23は、ユーザが表示部22に表示されている設定項目画面のうち、特定の項目の位置を指やスタイラス等で触れることで、タッチセンサが画面上で検出した位置と項目の位置とが一致することを認識し、各項目に割り当てられた機能を実行するための項目選択信号を表示制御部21に出力している。ここでは、操作部23として、図2図3に示す複数の測定チャンネルのうちいずれか1つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段50、70および各種の測定パラメータを設定するための測定パラメータ設定手段52、53、55、57、75、77が、たとえばソフトキーとして表示部22に表示されているものとして説明する。

0032

ここで、複数の測定チャンネルとして、たとえば「CH1」から「CH4」の4チャンネルがあるものとする。この4チャンネルのうち、いずれか1つの測定チャンネルをチャンネル選択手段50、70にて選択し、この選択した測定チャンネルに対して設定したいパラメータである第2の測定パラメータを設定する。例として、「CH1」が選択されたものとする。

0033

たとえば「CH1」に対して測定パラメータ設定手段52、53、55、57、75、77から第2の測定パラメータが設定されると、測定パラメータ処理部32は、パルスパターンのデータを記憶しているデータ記憶部15、指定されたビットレートにてパルスパターンを発生するパルスパターン発生部16および誤り率算出部20の誤り率の測定条件に関して、既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータ、すなわち「CH1」から「CH4」の4チャンネルの第1の測定パラメータをそれぞれ取得するために、問合せ信号をデータ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20に出力している。

0034

データ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20は、測定パラメータ処理部32から問合せ信号が入力されると、既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータを測定パラメータ制御部31および測定パラメータ処理部32に出力している。

0035

測定パラメータ制御部31は、データ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20から既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータが入力されると、表示部22の表示を既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータに対応する内容に更新するように、表示部22に出力する。

0036

表示部22は、既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータに対応する内容に表示を更新する。

0037

測定パラメータ処理部32は、データ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20から既に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータが入力されると、「CH1」から「CH4」の測定パラメータを、チャンネル選択手段50、70にて選択された「CH1」に対して設定された第2の測定パラメータとなるように複数の測定チャンネルのデータ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20にそれぞれの第2の測定パラメータを出力する。

0038

また、測定パラメータ処理部32は、表示部22に複数の測定チャンネルのそれぞれの第2の測定パラメータを表示させるために測定パラメータ制御部31に複数の測定チャンネルのそれぞれの第2の測定パラメータを出力する。なお、第2の測定パラメータが設定されなくても、所定の時間間隔で自動的に複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータを取得し、表示部22の表示を複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータに対応する内容に適時更新してもよい。

0039

データ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20は、測定パラメータ処理部32から複数の測定チャンネルのそれぞれの第2の測定パラメータが入力されると、入力された複数の測定チャンネルのそれぞれの第2の測定パラメータとなるように測定条件の設定をそれぞれ行う。すなわち、測定チャンネル選択手段50、70にて選択されなかった「CH2」、「CH3」、「CH4」の測定パラメータは、選択された「CH1」に対して測定パラメータ設定手段52、53、55、57、75、77から設定された第2の測定パラメータになるようにデータ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20の測定条件が設定される。

0040

表示部22は、測定パラメータ制御部31を経由して測定パラメータ処理部32からの複数の測定チャンネルのそれぞれの第2の測定パラメータが入力されると、複数の測定チャンネルのそれぞれの第2の測定パラメータに対応する内容に表示を更新する。

0041

このようにして、測定チャンネル選択手段50、70によってたとえば「CH1」が選択された場合、選択されなかった「CH2」、「CH3」、「CH4」の測定パラメータは、「CH1」の測定パラメータ設定手段52、53、55、57、75、77に設定された第2の測定パラメータと同じ測定パラメータに設定される。

0042

ここで、複数の測定チャンネルを有する誤り検出システム1000の表示画面例を図2および図3を用いて説明する。はじめに、パルスパターン発生器10に対応する表示画面例を図2(a)、(b)に示す。ここでは、たとえば4つの測定チャンネル、Data1からData4を備えているとして説明する。なお、図示の設定項目画面は、あくまでも表示例であり、誤り測定システム1000を駆動する上で必要最小限の設定項目のみを表示した一例であり、システム仕様構成内容使用環境等に応じてユーザ所望の設定項目を任意に追加した画面構成とすることもできる。

0043

(パルスパターン発生器における動作例)
図2(a)は、パルスパターン発生器10の各測定項目の画面例40である。測定チャンネル選択手段50の実現手段の一例としたソフトキーは、既に表示されている各測定項目がData1からData4のうち、何れのチャンネルに対して設定を行っているかを示しており、プルダウンにより各チャンネルを選択できる。ここでは、たとえばData1が選択されている。

0044

次に、測定パラメータ設定手段に属する「Bit Rate」52、「Amplitude」53、「Pattern」55および「Error Addition」ボタン57、各チャンネルの各測定パラメータを共通させるか否かを設定する機能に関する「Setting」ボタン59および「Independent」ボタン60について説明する。

0045

「Output」項目51では、パルスパターン発生器10が出力するパルスパターンの伝送速度をあらわすビットレートである「Bit Rate」52、パルスパターンの電圧の振幅値である「Amplitude」53を数値で設定できる。ここでは、ビットレートがたとえば32.1000000Gbps、振幅値は1.000Vppに設定されている。なお、これらの値は、図示しないキーボード、ロータリーエンコーダ等の設定手段から設定可能である。

0046

「Pattern」項目54では、パルスパターン発生器10が出力するパルスパターンを「Pattern」55にて指定でき、たとえば擬似ランダム符号の1つであるPRBS7といったパターンを指定している。

0047

「Error Addition」項目56では、「Error Addition」ボタン57を押すと、図示しないError Addition設定画面が開き、ビットパターンの中で任意の場所にエラー挿入、たとえば0であるべきビットを任意に1としたり、たとえば1であるべきビットを任意に0とすることができる。

0048

「Combination Setting」項目58には、「Setting」ボタン59と、「Independent」ボタン60が含まれている。「Setting」ボタン59は、Data1からData4の各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するための画面を新たに開くためのボタンである。

0049

「Independent」ボタン60は、各チャンネルの測定パラメータを共通にせず、プルダウンにより選択されているチャンネル、ここでは例としてData1を単独で設定するためのボタンである。

0050

図2(b)は、パルスパターン発生器10の各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するための「Combination Setting」項目61の画面例41である。各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するためのチェックボックス「Output」62、「Pattern」63および「Error Add.」64について説明する。ここでは、Data1が「CH1」に、Data2が「CH2」に、Data3が「CH3」に、Data4が「CH4」にそれぞれ対応している。

0051

「Output」62は、たとえば「CH1」から「CH4」のチェックボックスが全てオンに設定されており、これは「CH1」から「CH4」の全ての「Output」項目61の設定が共通となることを示している。すなわち、パルスパターン発生器10が出力するパルスパターンのビットレートである「Bit Rate」52、パルスパターンの振幅である「Amplitude」53について、「CH1」から「CH4」の全てが共通となる。

0052

「Pattern」63は、たとえば「CH1」と「CH2」のみチェックボックスがオンに設定されており、これは「CH1」と「CH2」のみ「Pattern」62の設定が共通となることを示している。すなわち、パルスパターン発生器10が出力するパルスパターンは「Pattern」55で指定されたパターンについて、「CH1」と「CH2」のみが共通となる。そして、「CH3」と「CH4」に対してはそれぞれ独立した設定を図2(a)に示すパルスパターン発生器の各測定項目の画面例40において、測定チャンネル選択手段50の実現手段の一例としたソフトキーのプルダウンによりチャンネルを選択することにより行う。

0053

「Error Add.」64は、たとえば「CH1」から「CH4」のチェックボックスが全てオフに設定されており、これは「CH1」から「CH4」の全ての「Error Add.」64が独立となることを示している。すなわち、「Error Addition」ボタン57で行うビットパターンの中で任意の場所にエラー挿入する設定について、「CH1」から「CH4」でそれぞれ独立した設定を図2(a)のパルスパターン発生器の各測定項目の画面例40で測定チャンネル選択手段50の実現手段の一例としたソフトキーのプルダウンによりチャンネルを選択することにより行う。

0054

(誤り検出器における動作例)
次に、誤り検出器11に対応する表示画面例を図3(a)、(b)に示す。ここでは、たとえば4つの測定チャンネル、Data1からData4を備えているとして説明する。

0055

図3(a)は、誤り検出器11の各測定項目の画面例43である。プルダウン70は既に表示されている各測定項目がData1からData4のうち、何れのチャンネルに対して設定を行っているかを示しており、プルダウンにより各チャンネルを選択できる。

0056

次に、誤り率測定結果に関する「ER」72および「EC」73、測定パラメータ設定手段に属する「Measurement」ボタン75および「Pattern」77、各チャンネルの各測定パラメータを共通させるか否かを設定する機能に関する「Setting」ボタン79および「Independent」ボタン80について説明する。

0057

「Result」項目71では、誤り検出器11が検出した誤り率であるError Rateを表す「ER」72、誤り検出器11が所定期間内に検出した誤りの数であるError Countを表す「EC」73が数値で表示される。ここでは、誤り率ERがたとえば7.9744E−13、誤りの数ECは10と結果表示されている。

0058

「Measurement」項目74では、「Measurement」ボタン75を押すと、図示しないMeasurement設定画面が開き、誤り検出器11が受信した信号との同期を行う際に自動で同期確立を行うか否かの設定、同期確立方式に関する設定等が行える。

0059

「Pattern」77では、誤り検出器11に入力されるパルスパターンを「Pattern」77にて指定でき、たとえば擬似ランダム符号の1つであるPRBS7といったパターンを指定している。

0060

「Combination Setting」項目78には、「Setting」ボタン79と、「Independent」ボタン80が含まれている。「Setting」ボタン79は、Data1からData4の各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するための画面を新たに開くためのボタンである。

0061

「Independent」ボタン80は、各チャンネルの測定パラメータを共通にせず、プルダウンにより選択されているチャンネル、ここでは例としてData1を単独で設定するためのボタンである。

0062

図3(b)は、誤り検出器11の各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するための「Combination Setting」項目81の画面例44である。各チャンネルの各測定パラメータを共通にするか否かを設定するためのチェックボックス「Measure.」82および「Pattern」83について説明する。ここでは、Data1が「CH1」に、Data2が「CH2」に、Data3が「CH3」に、Data4が「CH4」にそれぞれ対応している。

0063

「Measure.」82は、たとえば「CH1」から「CH4」のチェックボックスが全てオンに設定されており、これは「CH1」から「CH4」の全ての「Measurement」項目74の設定が共通となることを示している。すなわち、誤り検出器11が受信した信号との同期を行う際に自動で同期確立を行うか否かの設定、同期確立方式に関する設定等について、「CH1」から「CH4」の全てが共通となる。

0064

「Pattern」83は、たとえば「CH1」と「CH2」のみチェックボックスがオンに設定されており、これは「CH1」と「CH2」のみ「Pattern」項目76の設定が共通となることを示している。すなわち、パルスパターン発生器10が出力するパルスパターンは「Pattern」77で指定されたパターンについて、「CH1」と「CH2」のみが共通となる。そして、「CH3」と「CH4」に対してはそれぞれ独立した設定を図3(a)に示す誤り検出器の各測定項目の画面例43において、測定チャンネル選択50の実現手段の一例としたソフトキーのプルダウンによりチャンネルを選択することにより行う。

0065

(誤り検出装置における動作例)
パルスパターン発生器10と、誤り検出器11からなる誤り検出装置において、パルスパターン発生器10と、誤り検出器11に亘って各チャンネルの各測定パラメータを設定する際の動作を図2(b)と図3(b)を用いて説明する。

0066

図2(b)の「Combination Setting」項目61にある「ED Combi.」65において、たとえば「CH1」と「CH3」のチェックボックスがオンに設定されている。これは「CH1」と「CH3」において、パルスパターン発生器10で設定した「Pattern」55の設定内容を、誤り検出器11(ED)と共有する測定項目となっている「Pattern」77の設定内容と一致させることを示している。すなわち、たとえば擬似ランダム符号の1つであるPRBS7といったパターンをパルスパターン発生器10にて設定すれば、誤り検出器11においても「CH1」と「CH3」において共通のパターンが設定される。

0067

図3(b)の「Combination Setting」項目81にある「PPGCombi.」84において、たとえば「CH1」と「CH3」のチェックボックスがオンに設定されている。これは「CH1」と「CH3」において、誤り検出器11で設定した「Pattern」77の設定内容を、パルスパターン発生器10(PPG)と共有する測定項目となっている「Pattern」55の設定内容と一致させることを示している。すなわち、たとえば擬似ランダム符号の1つであるPRBS7といったパターンを誤り検出器11にて設定すれば、パルスパターン発生器10においても「CH1」と「CH3」において共通のパターンが設定される。

0068

ところで、上述した形態において、操作部23の構成としてタッチパネルを採用し、表示部22に表示されるソフトキーをユーザが指やスタイラスによって設定操作を行う例で説明したが、これに限定されることはなく、たとえば装置筐体に設けられた操作キーテンキー等のハードキーを操作したり、表示部22に表示されるソフトキーをマウス等のポインティングデバイスで操作する等の外部入力装置からの信号に基づき測定パラメータの設定を行う構成とすることもできる。

0069

(測定パラメータ設定時の処理動作)
まず、図4を参照しながら、測定パラメータの設定時の処理動作について説明する。ユーザは、測定パラメータ設定手段52、53、55、57、75、77からパルスパターン発生器10および誤り検出器11の各種設定項目における第2の測定パラメータの設定を行う(ST1)。

0070

次に、測定パラメータ処理部32は、データ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20に既に設定されている第1の測定パラメータを取得するために、問合せ信号をデータ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20に出力する(ST2)。

0071

データ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20は、問合せ信号が入力されると、既に設定されている第1の測定パラメータを測定パラメータ制御部31および測定パラメータ処理部32に出力する(ST3)。

0072

測定パラメータ制御部31は、データ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20から既に設定されている第1の測定パラメータが入力されると、表示部22の表示を既に設定されている第1の測定パラメータに対応する値に更新するように、表示部22に出力する(ST4)。

0073

表示部22は、既に設定されている第1の測定パラメータに対応する値に表示を更新する(ST5)。

0074

測定パラメータ処理部32は、データ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20から既に設定されている第1の測定パラメータが入力されると、測定パラメータ設定手段52、53、55、57、75、77から設定された第2の測定パラメータとなるようにデータ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20に第2の測定パラメータを出力する。また、表示部22に第2の測定パラメータを表示させるために表示部22に第2の測定パラメータを出力する(ST6)。

0075

データ記憶部15、パルスパターン発生部16および誤り率算出部20は、測定パラメータ処理部32から第2の測定パラメータが入力されると、入力された第2の測定パラメータとなるように測定条件の設定をそれぞれ行う(ST7)。

0076

表示部22は、測定パラメータ処理部32からの第2の測定パラメータが入力されると、第2の測定パラメータに対応する値に表示を更新する(ST8)。

0077

次に、図5を参照しながらパラメータ値設定時の処理方法について説明する。はじめに、パルスパターン発生器10および誤り検出器11に設定されている複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータを取得する(S201)。

0078

次に、取得した複数の測定チャンネルのそれぞれの第1の測定パラメータを表示部22に表示する(S202)。

0079

複数の測定チャンネルのうち、いずれか1つの測定チャンネルを選択するための測定チャンネル選択手段50、70と、測定パラメータ設定手段52、53、55、57、75、77とを表示部22に表示する(S203)。なお、測定チャンネル選択手段50、70と、測定パラメータ設定手段52、53、55、57、75、77は表示部22に常に表示または操作部23から表示させるべく指定があったときに表示してもよい。

0080

次に、測定チャンネル選択手段50、70により選択された測定チャンネルに、第2の測定パラメータが設定されたか否かを検出する(S204)。

0081

次に、測定チャンネル選択手段50、70により選択されなかった他の複数の測定チャンネルの第1の測定パラメータを、測定チャンネル選択手段50、70により選択された測定チャンネルの第2の測定パラメータと同じ測定パラメータへと書き換え処理する(S205)。

0082

10…パルスパターン発生器
11…誤り検出器
12…測定パラメータ設定制御装置
15…データ記憶部
16…パルスパターン発生部
17…信号受信部
18…同期検出部
19…比較部
20…誤り率算出部
21…表示制御部
22…表示部
23…操作部
31…測定パラメータ制御部
32…測定パラメータ処理部
40…パルスパターン発生器の各測定項目の画面例
41…パルスパターン発生器の「Combination Setting」項目の画面例
42…誤り検出器の各測定項目の画面例
43…誤り検出器の「Combination Setting」項目の画面例
50…測定チャンネル選択手段(パルスパターン発生器)
51…「Output」項目
52…「Bit Rate」(測定パラメータ設定手段)
53…「Amplitude」(測定パラメータ設定手段)
54…「Pattern」項目
55…「Pattern」(測定パラメータ設定手段)
56…「Error Addition」項目
57…「Error Addition」ボタン(測定パラメータ設定手段)
58…「Combination Setting」項目
59…「Setting」ボタン
60…「Independent」ボタン
61…「Combination Setting」項目
62…「Output」チェックボックス
63…「Pattern」チェックボックス
64…「Error Add.」チェックボックス
65…「ED Combi.」チェックボックス
70…測定チャンネル選択手段(誤り検出器)
71…「Result」項目
72…「ER」(Error Rate)
73…「EC」(Error Count)
74…「Measurement」項目
75…「Measurement」ボタン(測定パラメータ設定手段)
76…「Pattern」項目
77…「Pattern」
78…「Combination Setting」項目
79…「Setting」ボタン
80…「Independent」ボタン
81…「Combination Setting」項目
82…「Measure.」チェックボックス
83…「Pattern」チェックボックス
84…「PPGCombi.」チェックボックス
100a、100b、100c、100d…誤り検出装置
200…被試験デバイス
210…パルスパターン発生器(従来)
211…誤り検出器(従来)
300a、300b、300c、300d…誤り検出装置(従来)
315…データ記憶部(従来)
316…パルスパターン発生部(従来)
317…信号受信部(従来)
318…同期検出部(従来)
319…比較部(従来)
320…誤り率算出部(従来)
321…表示制御部(従来)
322…表示部(従来)
323…操作部(従来)
1000…誤り検出システム
1300…誤り検出システム(従来)

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