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技術 抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法

出願人 日本電産サンキョー株式会社
発明者 山本久
出願日 2011年3月30日 (9年9ヶ月経過) 出願番号 2011-076760
公開日 2012年11月1日 (8年1ヶ月経過) 公開番号 2012-210737
状態 拒絶査定
技術分野 サーマルプリンタ(構造) サーマルプリンタ(制御)
主要キーワード 抵抗値出力 セット部品 直流定電圧源 非反転アンプ 抵抗検出回路 比較抵抗 組立費 並列関係
関連する未来課題
重要な関連分野

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図面 (4)

課題

接続されている個々の部品バラツキ初期値温度変動等)に影響することなく、抵抗体抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法を提供する。

解決手段

抵抗値自動測定回路は、記録媒体に対して異なる電流値印字消去・記録・再生等を行う抵抗体R2と、抵抗体R2の比較基準となる基準抵抗R3と、がスイッチング手段2に対して並列に接続され、制御手段3は、抵抗体R2を通電状態にし基準抵抗R3を不通電状態にしたときに抵抗体R2に印加される第1電位Vaと、抵抗体R2を不通電状態にし基準抵抗R3を通電状態にしたときに基準抵抗R3に印加される第2電位Vbと、を計測し、第1電位Vaと第2電位Vbとの電位差を基に抵抗R2の抵抗値を測定する。

概要

背景

カード等の記録媒体印字を行う印字ヘッド印字内容消去する消去ヘッド磁気情報を書き込む記録ヘッド等の抵抗体は、その抵抗体に流す電流によって印字濃度消去濃度及び記録電流等が変化することから、印字濃度や消去濃度及び記録電流等の特性を均一にして一定の品質を保つためには、その抵抗体に流れる電流値を個々に微調整する必要がある。

そのため、抵抗体の抵抗値を測定することは極めて重要であって、特に印字ヘッドでは、印字ヘッドに流す電流による印字濃度への影響が顕著にでるため、被抵抗値測定体側の抵抗値出力機能を利用して抵抗値を検出したり、予め表示されている抵抗値を目視で読み取ることで、抵抗値を知り得ていた。

一方で、抵抗体の抵抗値は温度特性等によって変化することから、抵抗値を測定可能抵抗検出回路印字装置実装して、抵抗値を測定する技術が知られている(例えば、特許文献1参照)。すなわち、抵抗体であるヘッドの抵抗値を印字装置に組込んだ状態で測定可能な回路を設け、印字動作に至らない微小電流をヘッドに通電し、ヘッド抵抗による電圧降下分を読み取ることで、ヘッドの抵抗値を測定している。

概要

接続されている個々の部品バラツキ初期値温度変動等)に影響することなく、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法を提供する。抵抗値自動測定回路は、記録媒体に対して異なる電流値で印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体R2と、抵抗体R2の比較基準となる基準抵抗R3と、がスイッチング手段2に対して並列に接続され、制御手段3は、抵抗体R2を通電状態にし基準抵抗R3を不通電状態にしたときに抵抗体R2に印加される第1電位Vaと、抵抗体R2を不通電状態にし基準抵抗R3を通電状態にしたときに基準抵抗R3に印加される第2電位Vbと、を計測し、第1電位Vaと第2電位Vbとの電位差を基に抵抗R2の抵抗値を測定する。

目的

本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、その目的は、接続されている個々の部品のバラツキ(初期値、温度変動等)に影響することなく、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法を提供する

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

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請求項1

記録媒体に対して異なる電流値印字消去・記録・再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、が並列に接続され、前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にする又は前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にするためのスイッチング手段と、前記スイッチング手段を制御して前記抵抗体に印加される第1電位と前記基準抵抗に印加される第2電位とを計測し、前記第1電位と前記第2電位との電位差を基に前記抵抗体の抵抗値を測定する制御手段と、を少なくとも備えることを特徴とする抵抗値自動測定回路

請求項2

前記制御手段は、前記電位差と前記抵抗体の抵抗値との関係を示すデータテーブルを有することを特徴とする請求項1記載の抵抗値自動測定回路。

請求項3

前記第1電位又は前記第2電位の計測分解能を向上する増幅回路及び/又は差分回路を備えることを特徴とする請求項1又は2記載の抵抗値自動測定回路。

請求項4

前記スイッチング手段は、前記抵抗体を通電/不通電状態にする第1スイッチ部と、前記基準抵抗を通電/不通電状態にする第2スイッチ部と、で構成され、互いに並列関係にある前記第1スイッチ部を含む第1回路と前記第2スイッチ部を含む第2回路には、特性の近似する部品がそれぞれ接続されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか記載の抵抗値自動測定回路。

請求項5

請求項1から4のいずれか記載の抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置

請求項6

少なくとも、記録媒体に対して異なる電流値で印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、がスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法であって、前記スイッチング手段により前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にして、前記抵抗体に印加される第1電位を計測する第1計測ステップと、前記スイッチング手段により前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にして、前記基準抵抗に印加される第2電位を計測する第2計測ステップと、前記第1計測ステップで計測された前記第1電位と前記第2計測ステップで計測された前記第2電位との差分から、前記抵抗体の抵抗値を測定する第3ステップと、を有することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。

請求項7

前記基準抵抗として、所定の抵抗公差を有する金属皮膜抵抗を使用することを特徴とする請求項6記載の抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。

請求項8

前記抵抗体の交換時や、前記抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置の初期立ち上げ時又は起動時に、抵抗体の抵抗値を測定することを特徴とする請求項6又は7記載の抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。

技術分野

0001

本発明は、記録媒体に対して異なる電流値印字消去・記録・再生等を行う抵抗体抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法に関する。

背景技術

0002

カード等の記録媒体に印字を行う印字ヘッド印字内容を消去する消去ヘッド磁気情報を書き込む記録ヘッド等の抵抗体は、その抵抗体に流す電流によって印字濃度消去濃度及び記録電流等が変化することから、印字濃度や消去濃度及び記録電流等の特性を均一にして一定の品質を保つためには、その抵抗体に流れる電流値を個々に微調整する必要がある。

0003

そのため、抵抗体の抵抗値を測定することは極めて重要であって、特に印字ヘッドでは、印字ヘッドに流す電流による印字濃度への影響が顕著にでるため、被抵抗値測定体側の抵抗値出力機能を利用して抵抗値を検出したり、予め表示されている抵抗値を目視で読み取ることで、抵抗値を知り得ていた。

0004

一方で、抵抗体の抵抗値は温度特性等によって変化することから、抵抗値を測定可能抵抗検出回路印字装置実装して、抵抗値を測定する技術が知られている(例えば、特許文献1参照)。すなわち、抵抗体であるヘッドの抵抗値を印字装置に組込んだ状態で測定可能な回路を設け、印字動作に至らない微小電流をヘッドに通電し、ヘッド抵抗による電圧降下分を読み取ることで、ヘッドの抵抗値を測定している。

先行技術

0005

特開平2−215551号公報(第2頁左上欄)

発明が解決しようとする課題

0006

しかしながら、被抵抗値測定体側に抵抗値出力機能がない場合は、抵抗値を検出することができない。一般的に、印字ヘッドには抵抗値出力機能が備わっていることが多いが、消去ヘッドや記録ヘッド等の他の部品では抵抗値出力機能が備わっていないことが殆どである。

0007

また、予め表示されている抵抗値を目視で読み取ることは、自動測定ができず、温度特性等のバラツキを考慮することができないばかりか、読み取った抵抗値を不揮発性メモリに記憶させたり、ディップスイッチロータリスイッチ切替えなどを行ったりする必要があるため、組立性が悪く組立コストの増加になる。

0008

さらに、特許文献1の技術では、単純にヘッド抵抗による電圧降下分だけを読み取ってヘッドの抵抗値を測定していることから、電源電圧固定抵抗スイッチングトランジスタ抵抗等といった部品の個々のバラツキ(初期値温度変動等)の影響を大きく受けることになり、正確な抵抗値の測定ができない。すなわち、測定精度を上げるためには、全ての部品の精度をアップする必要があるが、個々の部品が高価となりコストの増加になる。

0009

本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、その目的は、接続されている個々の部品のバラツキ(初期値、温度変動等)に影響することなく、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法を提供することにある。

課題を解決するための手段

0010

以上のような課題を解決するために、本発明は、以下のものを提供する。

0011

(1)記録媒体に対して異なる電流値で印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、が並列に接続され、前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にする又は前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にするためのスイッチング手段と、前記スイッチング手段を制御して前記抵抗体に印加される第1電位と前記基準抵抗に印加される第2電位とを計測し、前記第1電位と前記第2電位との電位差を基に前記抵抗体の抵抗値を測定する制御手段と、を少なくとも備えることを特徴とする抵抗値自動測定回路。

0012

本発明によれば、抵抗体と基準抵抗とがスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路において、スイッチング手段を制御して計測される第1電位及び第2電位と基準抵抗の抵抗値とが分かれば、第1電位と第2電位の差分及び基準抵抗の抵抗値を基に抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。

0013

すなわち、抵抗体を含む回路と基準抵抗を含む回路とが並列に構成されており、このような簡易回路構成によって抵抗体や基準抵抗以外の部品による影響を抑制することが可能となり、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。

0014

(2) 前記制御手段は、前記電位差と前記抵抗体の抵抗値との関係を示すデータテーブルを有することを特徴とする抵抗値自動測定回路。

0015

本発明によれば、制御手段は、第1電位と第2電位との電位差と抵抗体の抵抗値との関係を示すデータテーブルを予め有していることから、第1電位と第2電位との電位差を算出するという簡易な計算のみを制御手段が行い、抵抗値の測定はデータテーブルを参照することで、計算式に基づいて抵抗値を算出する方法に比べて、制御手段の負荷を少なくしてより高速に抵抗値を測定することができる。

0016

(3) 前記第1電位又は前記第2電位の計測分解能を向上する増幅回路及び/又は差分回路を備えることを特徴とする抵抗値自動測定回路。

0017

本発明によれば、第1電位及び第2電位を計測する制御手段の前に増幅回路及び/又は差分回路を備えることにより、制御手段の性能限界の影響を受けることなく、第1電位及び第2電位を精度よく計測することができる。

0018

すなわち、第1電位及び第2電位を制御手段のアナログ入力ポートに入力してデジタル計測する場合、制御手段のA/D変換の分解性能によっては、第1電位及び第2電位を計測する時点で非常に大きな誤差を生じかねないが、増幅回路と差分回路によって制御手段のA/D変換の分解性能を相対的に上げることで、第1電位及び第2電位を精度よく計測することができる。

0019

(4) 前記スイッチング手段は、前記抵抗体を通電/不通電状態にする第1スイッチ部と、前記基準抵抗を通電/不通電状態にする第2スイッチ部と、で構成され、互いに並列関係にある前記第1スイッチ部を含む第1回路と前記第2スイッチ部を含む第2回路には、特性の近似する部品がそれぞれ接続されていることを特徴とする抵抗値自動測定回路。

0020

本発明によれば、互いに並列関係にある第1回路と第2回路には、温度特性など特性の近似する部品がそれぞれ接続されていることから、基準抵抗と比較して抵抗体の抵抗値を求める際には、第1回路と第2回路を構成する各部品の個体差による影響を大きく受けることがないので、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。

0021

(5) 上記(1)から(4)の抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置。

0022

本発明によれば、記録媒体処理装置は、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路を搭載していることから、記録媒体に対して印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体に最適な電流を流すことができる。

0023

(6) 少なくとも、記録媒体に対して異なる電流値で印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、がスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法であって、前記スイッチング手段により前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にして、前記抵抗体に印加される第1電位を計測する第1計測ステップと、前記スイッチング手段により前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にして、前記基準抵抗に印加される第2電位を計測する第2計測ステップと、前記第1計測ステップで計測された前記第1電位と前記第2計測ステップで計測された前記第2電位との差分から、前記抵抗体の抵抗値を測定する第3ステップと、を有することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。

0024

本発明によれば、抵抗体と基準抵抗とがスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法において、スイッチング手段を制御して計測される第1電位及び第2電位と基準抵抗の抵抗値とが分かれば、第1電位と第2電位の差分及び基準抵抗の抵抗値を基に抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。

0025

(7) 前記基準抵抗として、所定の抵抗公差を有する金属皮膜抵抗を使用することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。

0026

本発明によれば、第1電位及び第2電位と基準抵抗の抵抗値とから抵抗体の抵抗値を測定するにあたって、抵抗交差が低く温度特性の良い金属皮膜抵抗を基準抵抗として使用することから、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。

0027

また、抵抗体の抵抗値の測定精度に大きな影響を及ぼす基準抵抗に金属皮膜抵抗を使用し、基準抵抗以外は一般的な特性の部品を使用することによって、全体的な部品コストを抑えた上で、高精度の抵抗値測定をすることができる。

0028

(8) 前記抵抗体の交換時や、前記抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置の初期立ち上げ時又は起動時に、抵抗体の抵抗値を測定することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。

0029

本発明によれば、修理性能改善等の目的で抵抗体を交換したときや、経時・経年使用頻度使用条件等での抵抗値変化監視する目的で抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置を立ち上げるとき又は起動したときに、抵抗体の抵抗値を測定することから、記録媒体に対して印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体に常に最適な電流を流すことができる。

発明の効果

0030

本発明に係る抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法は、簡易な回路構成によって抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができ、記録媒体に対して印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体に常に最適な電流を流すことができる。

図面の簡単な説明

0031

本発明の実施の形態に係る記録媒体処理装置の回路ブロック図である。
第1電位と第2電位との電位差を基に抵抗体の抵抗値を測定するためのデータテーブルの一例である。
本発明の実施の形態に係る抵抗値自動測定方法を説明するためのフロー図である。

実施例

0032

以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。

0033

図1は、本発明の実施の形態に係る記録媒体処理装置1の回路ブロック図である。

0034

図1において、記録媒体処理装置1は、ヘッドの抵抗体R2と、ヘッドの抵抗体R2の抵抗値を測定するための比較基準となる基準抵抗R3と、がスイッチング手段2を介して並列に接続されている。スイッチング手段2のスイッチング制御はCPU等の制御手段3によって行われ、また、制御手段3に入力される電位の計測分解能を向上するための回路4がスイッチング手段2と制御手段3との間に直列に接続されている。

0035

なお、ヘッドの抵抗体R2の本来の機能(印字・消去・記録・再生等)を実行するには、制御手段3からのPWM制御によって駆動回路5を駆動して、抵抗体R2に所定の電流を流す。また、制御手段3が駆動回路5を駆動させる手段は、電圧制御電流制御であってもよい。

0036

このように、本発明の実施の形態に係る記録媒体処理装置1においては、制御手段3によって制御されるスイッチング手段2を介して並列に接続された抵抗体R2を含む第1回路と基準抵抗R3を含む第2回路とで抵抗体R2の抵抗値を測定する抵抗値自動測定回路が主として構成され、抵抗体R2の抵抗値を測定するための直流定電圧源Vc、固定抵抗R1、抵抗体R2からの逆流を防止するダイオードD1R、基準抵抗R3からの逆流を防止するダイオードD1L等の諸部品を抵抗値自動測定回路は有しており、直流定電圧源Vcの電圧から固定抵抗R1の電圧降下分を引いた第1スイッチQ1の前段の電位Vaと、直流定電圧源Vcの電圧から固定抵抗R1の電圧降下分を引いた第2スイッチQ2の前段の電位Vbと、を回路4を介して制御手段3に入力して計測し、第1電位Vaと第2電位Vbとの電位差と基準抵抗の抵抗値を基に抵抗体の抵抗値R2を測定する。

0037

ここで、スイッチング手段2は、抵抗体R2を通電/不通電状態にする第1スイッチ部Q1と、基準抵抗R3を通電/不通電状態にする第2スイッチ部Q2と、で構成されており、制御手段3からのON信号の入力によって第1スイッチ部Q1又は第2スイッチ部Q2が駆動する。第1スイッチ部Q1と第2スイッチ部Q2の態様は、トランジスタリレー等が挙げられる。

0038

また、第1スイッチ部Q1を介して接続されているダイオードD1R、抵抗体R2を含む第1回路と、第2スイッチ部Q2を介して接続されているダイオードD1L、基準抵抗R3を含む第2回路とは、Q1≒Q2(Q1とQ2のON抵抗の近似)、D1R≒D1L(D1RとD1Lの順方向電圧の近似)、R2≒R3(R2とR3の抵抗値の近似)というように、互いに特性の近似する部品を使用することが好ましい。なお、Q1とQ2のセット部品、D1RとD1Lのセット部品というように、特性の近似する複数個のトランジスタやダイオードが入ったユニットを使用することも可能である。

0039

また、直流定電圧源Vc、固定抵抗R1、スイッチ部Q1,Q2、ダイオードD1R,D1Lは、一般的な公差性能の部品でよく、基準抵抗R3のみは、抵抗公差が低く温度特性の良い金属皮膜抵抗を使用する。

0040

また、回路4は、電位の測定分解能を上げるために非反転アンプを用いたり、測定分解能を非反転アンプよりも更に上げるために前列差分器後列に非反転アンプを接続して、差分器で電位Va及びVbを一律に下げてから非反転アンプで増幅することができるものである。これは、第1電位Vaと第2電位Vbの変化量を大きくして測定分解能を上げるためのものであり、デジタル制御している制御手段3の性能に応じて簡易的に適宜組み込むことができる。例えば、制御手段3としてのCPUの電源(デジタル、アナログ用電源共)が3.3V、CPUのA/D変換が1024段階(=210)の場合は、3.3/1024=0.0032V単位での電圧測定しかできないことから、回路4を組み込むことによって、より細かい単位での電圧測定が可能となる。

0041

なお、回路4とは別に、直流定電圧源Vcの電圧を上げることで、第1電位Vaと第2電位Vbを上げることも可能である。この場合は、回路上の部品に印加される電圧や電流が増加することから、使用部品の耐定格値が高いものを使用することが必要となり、部品の実装面積パターン幅、部品コストが増加することもある。従って、一般的には、直流定電圧源Vcの電圧を上げることよりも、回路4を設けて測定の分解能を上げる方が好ましい。

0042

図2は、第1電位Vaと第2電位Vbとの電位差を基に抵抗体R2の抵抗値を測定するためのデータテーブルの一例である。

0043

本発明の実施の形態に係る記録媒体処理装置1においては、制御手段3のメモリ部に図2に示すようなデータテーブルが記憶されており、制御手段3に入力される第1電位Vaと第2電位Vb(実際には、Va及びVbは回路4で増幅される)との差分を算出してデータテーブルと比較することにより、抵抗体R2の抵抗値を測定することができる。

0044

図3は、本発明の実施の形態に係る抵抗値自動測定方法を説明するためのフロー図である。

0045

本発明の実施の形態に係る抵抗値自動測定方法は、抵抗体R2の交換時や、記録媒体処理装置の初期立ち上げ時又は起動時に、制御手段3の自動認識又はオペレータによる操作を契機として実行される。

0046

直流定電圧源VcがON状態にあるときに、まず、制御手段3は、第1スイッチ部Q1をH(High)、第2スイッチ部Q2をL(Low)にセットすることで、第1スイッチ部Q1をON、第2スイッチ部Q2をOFFにして、抵抗体R2を通電状態にする(ステップS1)。この状態で、制御手段3に第1電位Va(回路4で増幅された第1電位)が入力されて、第1電位Vaを計測する(ステップS2)。

0047

次いで、制御手段3は、第1スイッチ部Q1をL(Low)、第2スイッチ部Q2をH(High)にセットすることで、第1スイッチ部Q1をOFF、第2スイッチ部Q2をONにして、基準抵抗R3を通電状態にする(ステップS3)。この状態で、制御手段3に第2電位Vb(回路4で増幅された第2電位)が入力されて、第2電位Vbを計測する(ステップS4)。

0048

次いで、制御手段3は、計測した第1電位Vaと第2電位Vbとの差分を算出した後(ステップS5)、データテーブルを参照して(ステップS6)、抵抗体R2の抵抗値を決定し(ステップS7)、本サブルーチンを終了する。

0049

図1に示す回路ブロック図において、第1電位Vaのみから抵抗体R2の抵抗値を求めると、次式に示す関係式となる。

0050

0051

また、図1に示す回路ブロック図において、第1電位Va及び第2電位Vbから抵抗体R2の抵抗値を求めると、次式に示す関係式となる。

0052

0053

両式を比較すると、第1電位Vaのみから抵抗体R2の抵抗値を求める方式(例えば、前述した特許文献1の記載)では、R2は、R1、Ron、Vc、Vfに影響することから、VaのみからR2を算出すると誤差が大きくなる。一方で、第1電位Va及び第2電位Vbから抵抗体R2の抵抗値を求める方式(本願発明)では、Vfに影響せず、Va−Vbは非常に小さくVc−Vaは大きいため、(Va−Vb)/(Vc−Va)≒0と近似でき、R1とRonにも影響しないことから、結果的に、R2は、R3、Va、Vb、Vcに影響することとなる。さらに、Vcに比べてVaとVbは小さいことから、(Vc−Vb)/(Vc−Va)≒1と近似でき、結果的に、R2は、R3、Va、Vb、に影響することとなる。

0054

従って、R3として、抵抗公差が低く温度特性の良い金属皮膜抵抗を使用し、Va及びVbを精度よく測定することで、従来よりも高精度でR2を算出することができる。例えば、R3の抵抗公差の仕様としては、±1%、±0.5%等が好適である。

0055

[本実施の形態の主な効果]
本発明は、抵抗体R2の抵抗値は、比較抵抗R3、第1電位Va、第2電位Vbに大きく影響し、他の部品の影響は少ないことから、比較抵抗R3を高性能の部品として、Va及びVbを精度よく測定することで、高精度で抵抗体R2の抵抗値を算出することができる。従って、抵抗体R2の抵抗値を手動で測定して記録媒体処理装置に手動で設定する等の必要がなく、組立性が良く組立費用の削減となる。

0056

また、比較抵抗R3として、±1%程度の抵抗公差の金属皮膜抵抗を使用したり、増幅回路や増幅回路及び差分回路を用いることで、比較抵抗R3、第1電位Va、第2電位Vbの計測精度を高めることで、高精度で抵抗体R2の抵抗値を算出することができる。

0057

1記録媒体処理装置
2スイッチング手段
3 制御手段
4回路(非反転アンプ、差分器)
5駆動回路
R2抵抗体
R3 基準抵抗

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