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技術 光ディスク装置及びその制御方法

出願人 株式会社日立エルジーデータストレージ
発明者 中澤一樹濱田和英
出願日 2008年6月18日 (13年5ヶ月経過) 出願番号 2008-159484
公開日 2010年1月7日 (11年10ヶ月経過) 公開番号 2010-003336
状態 未査定
技術分野 光学的記録再生2(ヘッドの移動) 光ヘッド
主要キーワード 極性変化点 可動限界 REF電圧 モータ駆動方式 脱出速度 減速値 モータ駆動速度 減速フラグ
関連する未来課題
重要な関連分野

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図面 (6)

課題

ビームエキスパンダステッピングモータが既に噛み込み状態に陥っている場合、再起動のための処理時間を短縮すること。

解決手段

マイクロプロセッサ19は、位置センサ26からの検出信号を基にステッピングモータ23に噛み込み状態が発生したと判定したとき、EEPROM29に噛み込み状態を示すフラグと検出信号の極性を記憶しておく。装置起動時EEPROM29を参照し、噛み込み状態を示すフラグが記憶され、現在の検出信号の極性と異なる場合は、ステッピングモータ23を通常より減速して駆動させるように制御する。

概要

背景

高密度記録可能なブルーレイディスク(BD)では、ディスクの厚さ方向に第1の記録層と第2の記録層が所定の間隔をおいて配置されるため、一方の記録層から他方の記録層へ切り替わる際に球面収差が発生する。光ディスク装置ではこの球面収差を補正するために、光ピックアップ内ビームエキスパンダというモータ駆動補正レンズが組み込まれている。ビームエキスパンダは固定レンズ可動レンズで構成され、可動レンズの位置をステッピングモータ駆動制御することにより球面収差を補正している。

ステッピングモータは、簡単な構成で正確な位置決め制御を実現できるものであるが、負荷が大きすぎたり駆動周波数が高すぎると同期外れで制御が乱れることがある。この状態を「噛み込み」あるいは「脱調」と称する。噛み込みが発生するとビームエキスパンダが機能せず記録再生動作が不可能になるので、噛み込みを脱出するためのリカバリ処理が施される。

例えば特許文献1には、ステッピングモータの噛み込みを検出した場合、ステッピングモータの駆動周波数を下げトルクを増加させて駆動する光ディスク装置が開示されている。

特開2007−265597号公報

概要

ビームエキスパンダ用ステッピングモータが既に噛み込み状態に陥っている場合、再起動のための処理時間を短縮すること。マイクロプロセッサ19は、位置センサ26からの検出信号を基にステッピングモータ23に噛み込み状態が発生したと判定したとき、EEPROM29に噛み込み状態を示すフラグと検出信号の極性を記憶しておく。装置起動時EEPROM29を参照し、噛み込み状態を示すフラグが記憶され、現在の検出信号の極性と異なる場合は、ステッピングモータ23を通常より減速して駆動させるように制御する。

目的

本発明の目的は、ステッピングモータが既に噛み込み状態に陥っている場合の再起動のための処理時間を短縮することにある。

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
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請求項1

光ディスク照射するレーザビーム球面収差補正するビームエキスパンダを有する光ディスク装置において、上記ビームエキスパンダの可動レンズ光軸方向に移動させるステッピングモータと、該ステッピングモータを駆動するビームエキスパンダ駆動回路と、上記可動レンズが光軸方向の基準位置に達したことを検出する位置センサと、上記ビームエキスパンダ駆動回路を制御するマイクロプロセッサと、上記ステッピングモータを駆動するための情報を格納するメモリを備え、上記マイクロプロセッサは、上記位置センサからの検出信号を基に上記ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定したとき、上記メモリに噛み込み状態を示す情報を記憶しておき、装置起動時上記メモリを参照し、噛み込み状態を示す情報が記憶されている場合は、上記ビームエキスパンダ駆動回路に対し上記ステッピングモータを通常より減速して駆動させるように制御することを特徴とする光ディスク装置。

請求項2

請求項1記載の光ディスク装置において、前記位置センサは、前記可動レンズが前記基準位置に達したとき検出信号の極性反転するものであって、前記マイクロプロセッサは、前記ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定したとき、前記メモリに前記位置センサからの検出信号の極性を記憶しておき、装置起動時、前記メモリに記憶している検出信号の極性が現在の検出信号の極性と異なっている場合、前記ステッピングモータを通常より減速して駆動させるように制御することを特徴とする光ディスク装置。

請求項3

請求項1または2に記載の光ディスク装置において、前記マイクロプロセッサは、前記ステッピングモータを通常より減速して駆動することにより、前記可動レンズを前記基準位置に移動させることができた場合、そのときの速度を前記メモリに脱出速度として記憶し、装置起動時、前記ステッピングモータに噛み込み状態が発生している場合、前記ステッピングモータを前記メモリに記憶している上記脱出速度にて駆動させるように制御することを特徴とする光ディスク装置。

請求項4

光ピックアップ内の可動レンズをステッピングモータにより駆動する光ディスク装置の制御方法において、装置起動時、装置内のメモリに記憶した情報を参照して、上記ステッピングモータにより上記可動レンズを予め定めた基準位置へ移動させるステップと、位置センサにより上記可動レンズが上記基準位置に達したことを検出するステップと、上記位置センサにより上記可動レンズが上記基準位置に達したことを検出できなかった場合、上記ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定し上記メモリに記憶するステップとを有し、装置起動時上記メモリを参照し、上記ステッピングモータに噛み込み状態が発生している場合は、上記ステッピングモータを通常より減速して駆動させることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。

請求項5

請求項4に記載の光ディスク装置の制御方法において、前記位置センサは、前記可動レンズが前記基準位置に達したとき検出信号の極性が反転するものであって、前記ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定したとき、前記メモリに前記位置センサからの検出信号の極性を記憶し、装置起動時、前記メモリに記憶している検出信号の極性が現在の検出信号の極性と異なっている場合、前記ステッピングモータを通常より減速して駆動させることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。

請求項6

請求項4または5に記載の光ディスク装置の制御方法において、前記ステッピングモータを通常より減速して駆動することにより、前記可動レンズを前記基準位置に移動させることができた場合、そのときの速度を前記メモリに脱出速度として記憶し、装置起動時、前記ステッピングモータに噛み込み状態が発生している場合、前記ステッピングモータを前記メモリに記憶している上記脱出速度にて駆動させることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。

技術分野

0001

本発明は、光ディスクへの記録又は再生を行う光ディスク装置係り、特に光ピックアップ内可動レンズを駆動するステッピングモータの制御技術に関するものである。

背景技術

0002

高密度記録可能なブルーレイディスク(BD)では、ディスクの厚さ方向に第1の記録層と第2の記録層が所定の間隔をおいて配置されるため、一方の記録層から他方の記録層へ切り替わる際に球面収差が発生する。光ディスク装置ではこの球面収差を補正するために、光ピックアップ内にビームエキスパンダというモータ駆動補正レンズが組み込まれている。ビームエキスパンダは固定レンズと可動レンズで構成され、可動レンズの位置をステッピングモータで駆動制御することにより球面収差を補正している。

0003

ステッピングモータは、簡単な構成で正確な位置決め制御を実現できるものであるが、負荷が大きすぎたり駆動周波数が高すぎると同期外れで制御が乱れることがある。この状態を「噛み込み」あるいは「脱調」と称する。噛み込みが発生するとビームエキスパンダが機能せず記録再生動作が不可能になるので、噛み込みを脱出するためのリカバリ処理が施される。

0004

例えば特許文献1には、ステッピングモータの噛み込みを検出した場合、ステッピングモータの駆動周波数を下げトルクを増加させて駆動する光ディスク装置が開示されている。

0005

特開2007−265597号公報

発明が解決しようとする課題

0006

前記ビームエキスパンダにおいては、球面収差補正用の可動レンズの絶対位置を算出するために位置センサを備えている。位置センサは、可動レンズが基準位置(Rezero)を通過するとき、その極性Sense極性)が反転するように設定しておく。ビームエキスパンダを動作させるときは、まず可動レンズを往復移動させてSense極性が反転する位置を検出して停止させ(Rezero処理)、その位置を基準として所望の距離だけ移動させるようにする。

0007

Rezero処理においてSense極性が反転できなかった場合、すなわちRezero処理に失敗した場合には、一般にはステッピングモータに噛み込みが発生し可動レンズを駆動できなかったと判断する。ステッピングモータの噛み込みは、例えば、可動レンズをその可動限界端まで移動させたような場合、駆動負荷が増大することで発生する。このような場合、特許文献1のようにモータトルクを増大させることで噛み込み状態から脱出することができる。

0008

しかしながら、Rezero処理の失敗は他の原因でも生じる。ステッピングモータを駆動して可動レンズが移動し、Rezero位置を通過したにもかかわらず、何らかの原因により位置センサのSense極性が反転しない場合がある。これは、位置センサ自体は正常であるにもかかわらず、レンズ移動時の機械的振動や装置内ノイズ発生などの周囲環境が原因で、一時的にSense信号不良となる現象である。このように通過検出に失敗すると、可動レンズはそのまま移動を続け可動限界端に衝突して噛み込み状態に陥ってしまう。

0009

従来技術では、装置起動時のRezero処理は、ステッピングモータを予め設定している通常のトルクで駆動する。よって、モータが既に噛み込み状態に陥っている状態の場合においても、最初に通常のトルクで駆動するため可動レンズの移動ができずRezero処理に失敗することが多い。一旦Rezero処理に失敗すると、噛み込み状態を脱出するためにモータトルクを増大させてリカバリ処理を行い、再度Rezero処理を行う必要がある。このように、モータが既に噛み込み状態に陥っている場合の再起動処理は、噛み込み脱出までの処理時間が増大する問題があった。

0010

本発明の目的は、ステッピングモータが既に噛み込み状態に陥っている場合の再起動のための処理時間を短縮することにある。

課題を解決するための手段

0011

本発明は、光ディスクに照射するレーザビームの球面収差を補正するビームエキスパンダを有する光ディスク装置であって、ビームエキスパンダの可動レンズを光軸方向に移動させるステッピングモータと、ステッピングモータを駆動するビームエキスパンダ駆動回路と、可動レンズが光軸方向の基準位置に達したことを検出する位置センサと、ビームエキスパンダ駆動回路を制御するマイクロプロセッサと、ステッピングモータを駆動するための情報を格納するメモリを備える。マイクロプロセッサは、位置センサからの検出信号を基にステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定したとき、メモリに噛み込み状態を示す情報を記憶しておき、装置起動時メモリを参照し、噛み込み状態を示す情報が記憶されている場合は、ビームエキスパンダ駆動回路に対しステッピングモータを通常より減速して駆動させるように制御する。

0012

ここに前記位置センサは、可動レンズが基準位置に達したとき検出信号の極性が反転するものであって、前記マイクロプロセッサは、ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定したとき、メモリに位置センサからの検出信号の極性を記憶しておく。そして装置起動時、メモリに記憶している検出信号の極性が現在の検出信号の極性と異なっている場合、ステッピングモータを通常より減速して駆動させるように制御する。

0013

本発明は、光ピックアップ内の可動レンズをステッピングモータにより駆動する光ディスク装置の制御方法であって、装置起動時、装置内のメモリに記憶した情報を参照して、ステッピングモータにより可動レンズを予め定めた基準位置へ移動させるステップと、位置センサにより可動レンズが上記基準位置に達したことを検出するステップと、位置センサにより可動レンズが基準位置に達したことを検出できなかった場合、ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定しメモリに記憶するステップとを有する。そして装置起動時メモリを参照し、ステッピングモータに噛み込み状態が発生している場合は、ステッピングモータを通常より減速して駆動させる。

発明の効果

0014

本発明によれば、ビームエキスパンダ用ステッピングモータに噛み込み状態が発生しても、再起動時に迅速に噛み込み状態から脱出させることで起動処理時間を短縮する効果がある。

発明を実施するための最良の形態

0015

図1は、本発明による光ディスク装置の一実施例を示す構成図である。
スピンドルモータ2は、スピンドルモータ駆動回路3から供給される駆動電力によって、光ディスク(例えばBD)1を回転する。光ピックアップ4は、光ディスク1にレーザビームを照射し情報の記録または再生を行う。光ピックアップ4は、スレッドモータ15によりディスク半径方向へ移動する。その送り機構は、スレッドモータ15に螺旋状の溝が形成されたシャフト16を取付け、シャフト16の溝に光ピックアップ4に固定されたピン17を挿入する。スレッドモータ15はスレッド送り駆動回路18により回転し、光ピックアップ4全体を移動させる。

0016

光ピックアップ4において、半導体レーザ光源5から出射されたレーザビームは、ハーフミラー6とミラー7で反射され、対物レンズフォーカスレンズ)8によって微小光スポット集光され、光ディスク1に照射される。その際、レーザ駆動回路11は照射するレーザビームの強度を制御し、モニターディテクタ10は照射するレーザビームの強度を検出する。

0017

光ディスク1にて反射したレーザビームは、対物レンズ8で再度集光され、ミラー7で反射し、ハーフミラー6を透過して4分割光検出器9に達する。4分割光検出器9は、その受光領域が4個の受光素子に分割されていて、各々の受光素子で受光したレーザビームの光強度に応じた信号を出力する。

0018

信号処理回路12は4分割光検出器9からの出力信号を受け、情報再生信号フォーカスエラー信号FE信号)、トラッキングエラー信号TE信号)などを生成する。レンズアクチュエータ駆動回路13は、信号処理回路12から出力されるFE信号とTE信号に基づき、レンズアクチュエータ14に駆動信号を供給し、対物レンズ8の位置を光軸方向(フォーカス方向)とディスク半径方向(トラッキング方向)に調整する。

0019

本実施例では、光ピックアップ4はさらにビームエキスパンダ20を備える。BDディスク記録再生には、波長405nmのレーザ光開口数0.85の対物レンズ8を用いるが、DVDディスク等に比べ焦点ずれに対する許容値が厳しい。そこで、対物レンズ8とは別に、固定レンズ21と可動レンズ22を組み合わせたビームエキスパンダ20を設ける。可動レンズ22を光軸方向に移動調整することで、レーザビームを光ディスク1の記録面に精度良く絞り込み、球面収差を補正する。

0020

ビームエキスパンダ20の可動レンズ22の移動機構は、ビームエキスパンダ用ステッピングモータ23に螺旋状の溝が形成されたリードスクリュー25を取付け、リードスクリュー25の溝にレンズホルダ24を挿入して可動レンズ22を支持する。ステッピングモータ23は、ビームエキスパンダ駆動回路27により駆動される。このモータ23は、例えば10μm/ステップ(駆動周波数1000pps(パルス/ステップ))の高分解能を有し、駆動パルス数にて所定量の移動を実現する。また位置センサ26を設けて、移動時の基点となる基準位置(Rezero点)を検出する。

0021

マイクロプロセッサ(DSP)19は、スピンドルモータ駆動回路3、スレッド送り駆動回路18、レーザ駆動回路11、信号処理回路12、レンズアクチュエータ駆動回路13、ビームエキスパンダ駆動回路27に制御信号を送り、各部の動作を制御する。半導体メモリ(EEPROM)29には、マイクロプロセッサ19が各部を制御するための情報を記憶する。本実施例では、ビームエキスパンダ用ステッピングモータ23を駆動するために、噛み込み判定フラグ、Sense極性、減速フラグ脱出速度などの情報を格納する。

0022

本実施例でマイクロプロセッサ19は、位置センサ26によるRezero点の検出に失敗してステッピングモータ23に噛み込みが発生した場合、そのSense極性をEEPROM29に記憶しておく。そして、再起動時に再度Sense極性を検出し、EEPROM29に記憶している噛み込み時の極性と比較する。これらの極性が異なっていたら、Sense信号の不良による噛み込みと判定する。その場合、Rezero処理時の駆動速度を通常よりさらに低速にしてトルクを増大させ、噛み込みから脱出させ、可動レンズをRezero点に位置付ける。また、脱出した時の駆動速度をEEPROM29に記憶しておき、同じ現象が再発生した場合に、記憶しておいた速度で脱出する。これを繰り返すことで、装置に適した最適な速度で迅速に噛み込み状態から脱出させるものである。

0023

図2は、ビームエキスパンダのモータ駆動方式の一例を示す図である。ここにビームエキスパンダ用ステッピングモータ23は、A相/B相で駆動する2相駆動方式とする。マイクロプロセッサ(DSP)19はビームエキスパンダ駆動回路(ドライバ)27へA相/B相制御信号を出力する。A相/B相の電圧REF電圧に対して高いか低いかでモータの回転方向を制御し、またそのパルス周波数で回転速度を制御する。パルス周波数を下げて回転速度を減速すると、モータトルクを増大させることができる。あるいは、駆動電流A,Bを増加させることでも、モータトルクを増大させることができる。モータへの電力は、エキスパンダ電源28から供給される。

0024

図3は、ビームエキスパンダ20の可動レンズ22の移動を説明する図である。光ディスクがBDの場合、可動レンズ22の移動範囲は約2600μmであり、両端は可動限界端(壁面)31,32となっている。移動範囲の中に、基準位置としてRezero点30を設けている。Rezero点は、位置センサ(例えばフォトインタラプタ)26による検出信号(Sense信号)の極性変化点(High/Low)として定める。これは、装置が起動した段階では、ビームエキスパンダ内の可動レンズ22の位置を知ることができないからである。よって、可動レンズの位置決めは、まずSense信号によりRezero点30を探してから(Rezero処理)、可動レンズを所望の位置まで所定の距離を移動させる。

0025

この図では、可動限界端31からRezero点30までの領域33ではSense信号の極性がHighであり、可動限界端32からRezero点30までの領域34ではSense信号の極性がLowとなる。但し、Sense信号の変化は移動方向によりヒステリシスが存在するので、例えば、HighレベルからLowレベルに反転する位置をもってRezero点とする。BDの各記録層に対する可動レンズ位置は、Rezero点30を基準に、L0層が約+1010μm、L1層が約+190μmの距離にある。Rezero処理後、可動レンズをL0層またはL1層に対応する距離だけ移動させる。

0026

Rezero処理において、位置センサ26によるRezero点の検出に失敗した場合を説明する。例えば、領域33に存在する可動レンズを領域34に向かって移動させるとき、Rezero点30にてSense信号がHighレベルからLowレベル(符号35)に反転せず、Highレベル(符号35’)のままであったとする。すると可動レンズは極性がLowレベルに反転するまで移動を続ける結果、符号22’で示すように可動限界端32に衝突して、ステッピングモータ23は噛み込み状態に陥る。この状態では、Sense極性はHighレベルを示しており、EEPROM29にはこの極性と噛み込み状態を示すフラグを記憶する。

0027

次に装置を再起動時のRezero処理を説明する。このとき可動レンズは可動限界端32(符号22’)の位置に存在し、検出されるSense極性は正常な値であるLowレベル(符号35)を示す。現在のSense極性(Low)とEEPROM29に記憶している極性(High)とは異なり、このことからステッピングモータ23は、現在、Sense信号の不良に基づく噛み込み状態にあることが判明する。よってRezero処理にてこれから脱出させるため、モータ速度を減速しトルクを増大させて、可動レンズをRezero点30方向へ駆動させるように制御する。このようにすれば、1回目のRezero処理を失敗なく実行することができる。

0028

本実施例では、起動時のRezero処理を失敗なく実行させるために、ステッピングモータの噛み込み発生の履歴をEEPROM29に保存する。保存する情報は次の通りである。
(1)噛み込み判定フラグ:ステッピングモータが噛み込み状態であるかどうかを判定するフラグで、ON=噛み込み有りの状態、OFF=噛み込み無しの状態を示す。初期値はOFFとする。
(2)Sense極性:位置センサにて検出した可動レンズの位置を示す信号で、HighまたはLowの2値で区別。
(3)減速フラグ:ステッピングモータを減速して駆動することを指示するフラグで、ON=減速指示、OFF=通常速度を示す。初期値はOFFとする。
(4)脱出速度:ステッピングモータを駆動するときの速度の値。通常速度の他に複数の減速値を設定しておく。また、噛み込み状態から脱出できたときの速度を記憶する。

0029

以下、本実施例における装置起動時のビームエキスパンダ処理の流れを図4図5で説明する。
図4は、起動時のビームエキスパンダの処理の全体を示すフローチャートである。以下の一連の処理は、マイクロプロセッサ19はEEPROM29内の情報を読出し、または情報を更新しつつ、ビームエキスパンダ駆動回路27に制御信号を送り、ステッピングモータ23を駆動してビームエキスパンダ内の可動レンズ22を移動させる。

0030

光ディスク装置をパワーオンして起動(あるいは再起動)すると(S400)、可動レンズの現在位置を検出するため、位置センサ26にてSense極性を判定する。また、EEPROM29に記憶している噛み込み判定フラグとSense極性を読み出す(S401)。読み出した噛み込み判定フラグ=ON(噛み込み状態)で、かつ現在のSense極性と読み出したSense極性とが異なるかどうかを判定する(S402)。判定の結果、両者ともYesの場合、減速フラグ=ONに設定する(S403)。判定の結果、少なくとも一方がNoの場合、減速フラグ=OFFのままとする。

0031

次に、ビームエキスパンダ内の可動レンズ22の基準位置探索処理(Rezero処理)を行う(S404)。Rezero処理の詳細は図5にて説明するが、減速フラグの値に応じてステッピングモータ23の速度を減速し、トルクを増大させて実行する。Rezero処理の結果、正常に終了したか(可動レンズを基準位置に正常に位置付けできたか)どうかを判定する(S405)。正常に終了した場合は、噛み込みフラグ=OFFに設定し(S411)、ビームエキスパンダの起動処理を終了する(S412)。正常に終了しなかった場合(Rezero処理失敗時)は、噛み込み脱出のリカバリ処理(S406)へ進む。

0032

リカバリ処理では、モータ速度を別途定めた速度に減速して設定し、Sense極性が現在と逆極性になる方向へ可動レンズを駆動させる(S406)。その際、モータ駆動電流を増加させて設定することで、モータのトルクをさらに増大させても良い。リカバリ処理の結果、Sense信号の極性が反転したかどうか判定する(S407)。極性が反転すれば、可動レンズがRezero点を通過して噛み込み状態からのリカバリ成功したことになる。その場合は再度Rezero処理を実行する(S409)。極性が反転しなければ(S407でNo)、所定回数閾値)だけリトライする(S408)。このリトライ回数の閾値は例えば5回とし、5回の移動で可動レンズの全移動範囲をカバーできるようにする。所定回数リトライしても極性が反転しなければ、リカバリ処理に失敗したと判定する。その場合は、EEPROMの噛み込みフラグ=ONに設定し、そのときのSense極性を記憶して(S413)、エラー終了とする(S414)。上記S409でRezero処理を行った場合には、正常に終了したかどうかを判定し(S410)、正常であれば上記S411に進み、失敗したときは上記S413に進む。

0033

図5は、基準位置探索処理(Rezero処理)の詳細を示すフローチャートである。この処理は、図4のS404とS409のステップで実行する。
Rezero処理を開始すると(S500)、EEPROMに記憶している減速フラグを読み出して判定する(S501)。減速フラグ=ON(減速を指示)の場合は、EEPROMに格納されている複数の減速値の情報を参照して、モータ駆動速度を減速して設定する(S502)。例えば、前回のRezero処理で脱出できた速度が記憶されていれば、その値に設定する。また、前回のRezero処理に失敗した場合は、さらに低速度の値に設定する。減速フラグ=OFFの場合は、通常の速度に設定する。

0034

Rezero処理では、Sense信号の現在の極性を判定する(S503)。極性がHighであれば、可動レンズは図3の領域33内に位置し、極性がLowであれば、領域34内に位置する。極性がHighであればS504へ進み、極性がLowであればS507へ進む。

0035

S504では、可動レンズを極性がLowとなる領域34へ向かって移動させる。そして、極性がLowに反転するかどうか判定する(S506)。これを所定の時間繰り返し、反転せずにタイムアウトになれば(S505でYes)、Rezero処理失敗と判定しエラー終了とする(S515)。時間内に極性がLowに反転すれば(S506でYes)、S507へ進む。

0036

S507では現在の極性はLowであり、可動レンズを極性がHighとなる領域33へ向かって移動させる。そして、極性がHighに反転するかどうか判定する(S509)。これを所定の時間繰り返し、反転せずにタイムアウトになれば(S508でYes)、Rezero処理失敗と判定しエラー終了とする(S515)。時間内にHighに反転すれば(S509でYes)、S510へ進む。

0037

S510では、現在の極性はHighであり、可動レンズを極性がLowとなる領域34へ向かって移動させる。そして、極性がLowに反転するかどうか判定する(S512)。これを所定の時間繰り返し、反転せずにタイムアウトになれば(S511でYes)、Rezero処理失敗と判定しエラー終了とする(S515)。時間内にLowに反転すれば(S512でYes)、その速度を脱出できた速度としてEEPROMに記憶し(S513)、Rezero処理を正常終了とする(S514)。S512にて極性がHighからLowへ反転した位置を基準位置(Rezero点)として、可動レンズを位置付ける。

0038

本実施例の処理によれば、ステッピングモータの噛み込み発生の履歴をメモリに残し、次回の処理で利用する。すなわち、再起動時において既に噛み込みが発生し、かつ噛み込み時と現在のSense極性が異なっている場合、モータ速度を減速しトルクを増大させてRezero処理を実行する。よって、再起動時のRezero処理に失敗する確率が大幅に減少し、Rezero処理の失敗に伴うリカバリ処理(S406)や再度のRezero処理(S409)の工程を不要にして、起動処理のための時間を短縮することができる。さらに、装置毎に噛み込み状態から脱出できたときの駆動速度を記憶し、その速度を次回の処理に適用することで、Rezero処理の成功率をより高めることができる。

図面の簡単な説明

0039

本発明による光ディスク装置の一実施例を示す構成図。
ビームエキスパンダのモータ駆動方式の一例を示す図。
ビームエキスパンダの可動レンズ22の移動を説明する図。
起動時のビームエキスパンダの処理の全体を示すフローチャート。
基準位置探索処理(Rezero処理)を示すフローチャート。

符号の説明

0040

1…光ディスク、
2…スピンドルモータ、
4…光ピックアップ、
5…半導体レーザ光源、
8…対物レンズ(フォーカスレンズ)、
12…信号処理回路、
15…スレッドモータ、
19…マイクロプロセッサ(DSP)、
20…ビームエキスパンダ、
21…固定レンズ、
22…可動レンズ、
23…ビームエキスパンダ用ステッピングモータ、
24…レンズホルダ、
25…リードスクリュー、
26…位置センサ、
27…ビームエキスパンダ駆動回路、
29…EEPROM。

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