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技術 磁界分布測定装置、温度分布測定装置、磁界分布測定方法及び温度分布測定方法

出願人 船井電機株式会社
発明者 伊澤文仁
出願日 2006年12月27日 (13年11ヶ月経過) 出願番号 2006-352690
公開日 2008年7月17日 (12年5ヶ月経過) 公開番号 2008-165874
状態 未査定
技術分野 温度及び熱量の測定 磁気的変量の測定 その他の記録再生2(光磁気記録等) 光学的記録再生1 磁気記録再生1 磁気記録媒体の製造
主要キーワード ビームスポット半径 温度分布測定装置 産業プラント 温度分布測定 垂直磁界強度 機器材料 ポラライザー 磁気的性質
関連する未来課題
重要な関連分野

この項目の情報は公開日時点(2008年7月17日)のものです。
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図面 (14)

課題

磁気記録媒体に記録された磁区磁界分布を測定する磁界分布測定装置及び磁界分布測定方法と、光磁気記録媒体における磁区記録時のレーザビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定装置及び温度分布測定方法と、を提供する。

解決手段

磁区が記録された光磁気記録媒体Mを偏光顕微鏡1で観察して得た画像データから階調度データを算出し、そして、当該階調度データから算出された磁界強度データに基づいて磁界分布を出力して、光磁気記録媒体Mに記録された磁区の磁界分布を測定するとともに、記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体Mを偏光顕微鏡1で観察して得た画像データから階調度データを算出し、当該階調度データから磁界強度データを算出し、そして、当該磁界強度データから算出された温度データに基づいて温度分布を出力して、光磁気記録媒体Mにおける磁区記録時のレーザビームスポット内の温度分布を測定するよう構成した。

概要

背景

磁気記録媒体光磁気記録媒体に記録された磁区磁界分布は、微小磁区を形成する上で重要なパラメータになる。
また、光磁気記録媒体は、熱(記録用レーザビーム)と外部磁界とによって磁区を記録するため、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布も、微小磁区を形成する上で重要なパラメータになる。

しかしながら、現在、磁気記録媒体や光磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布や、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布は、シミュレーションによって得られているだけで、実測されていない。

ところで、例えば、情報(磁区)が記録された記録媒体の記録領域を、走査型プローブ顕微鏡により観察する方法(例えば、特許文献1参照)や、例えば、光磁気記録媒体に磁区を記録した後、偏光顕微鏡により磁区観察を行う方法(例えば、特許文献2参照)が提案されている。
また、磁気記録媒体の飽和記録磁界を測定する方法、磁気記録媒体に対する磁気ヘッドの飽和記録電流を測定する方法、磁気ヘッドの垂直磁界強度分布を測定する方法が提案されている(例えば、特許文献3参照)。

また、産業プラント機器材料の損傷や残留応力の状態などを評価するために、機器材料の磁気的性質磁気センサにより検出することによって磁区の大きさを求める方法が提案されている(例えば、特許文献4参照)。
特開2002−131212号公報
特開平07ー334877号公報
特開平05−128448号公報
特開平05−264511号公報

概要

磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定装置及び磁界分布測定方法と、光磁気記録媒体における磁区記録時のレーザビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定装置及び温度分布測定方法と、を提供する。磁区が記録された光磁気記録媒体Mを偏光顕微鏡1で観察して得た画像データから階調度データを算出し、そして、当該階調度データから算出された磁界強度データに基づいて磁界分布を出力して、光磁気記録媒体Mに記録された磁区の磁界分布を測定するとともに、記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体Mを偏光顕微鏡1で観察して得た画像データから階調度データを算出し、当該階調度データから磁界強度データを算出し、そして、当該磁界強度データから算出された温度データに基づいて温度分布を出力して、光磁気記録媒体Mにおける磁区記録時のレーザビームスポット内の温度分布を測定するよう構成した。

目的

本発明の課題は、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定装置及び磁界分布測定方法と、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定装置及び温度分布測定方法と、を提供することにある。

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

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請求項1

磁気記録媒体に記録された磁区磁界分布を測定する磁界分布測定装置において、磁区が記録された磁気記録媒体の表面を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影手段と、前記撮影手段にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出手段と、前記階調度データ算出手段にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出手段と、前記磁界強度データ算出手段にて得られた磁界強度データに基づいて、前記磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を出力する磁界分布出力手段と、を備えることを特徴とする磁界分布測定装置。

請求項2

光磁気記録媒体における記録用レーザビームビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定装置において、前記記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体の表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影手段と、前記撮影手段にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出手段と、前記階調度データ算出手段にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出手段と、前記磁界強度データ算出手段にて得られた磁界強度データから温度データを算出する温度データ算出手段と、前記温度データ算出手段にて得られた温度データに基づいて、前記光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を出力する温度分布出力手段と、を備えることを特徴とする温度分布測定装置。

請求項3

磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定方法において、磁区が記録された磁気記録媒体の表面を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影ステップと、前記撮影ステップにて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップと、前記階調度データ算出ステップにて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップと、前記磁界強度データ算出ステップにて得られた磁界強度データに基づいて、前記磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を出力する磁界分布出力ステップと、を備えることを特徴とする磁界分布測定方法。

請求項4

光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定方法において、前記記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体の表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影ステップと、前記撮影ステップにて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップと、前記階調度データ算出ステップにて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップと、前記磁界強度データ算出ステップにて得られた磁界強度データから温度データを算出する温度データ算出ステップと、前記温度データ算出ステップにて得られた温度データに基づいて、前記光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を出力する温度分布出力ステップと、を備えることを特徴とする温度分布測定方法。

技術分野

背景技術

0002

磁気記録媒体や光磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布は、微小磁区を形成する上で重要なパラメータになる。
また、光磁気記録媒体は、熱(記録用レーザビーム)と外部磁界とによって磁区を記録するため、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布も、微小磁区を形成する上で重要なパラメータになる。

0003

しかしながら、現在、磁気記録媒体や光磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布や、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布は、シミュレーションによって得られているだけで、実測されていない。

0004

ところで、例えば、情報(磁区)が記録された記録媒体の記録領域を、走査型プローブ顕微鏡により観察する方法(例えば、特許文献1参照)や、例えば、光磁気記録媒体に磁区を記録した後、偏光顕微鏡により磁区観察を行う方法(例えば、特許文献2参照)が提案されている。
また、磁気記録媒体の飽和記録磁界を測定する方法、磁気記録媒体に対する磁気ヘッドの飽和記録電流を測定する方法、磁気ヘッドの垂直磁界強度分布を測定する方法が提案されている(例えば、特許文献3参照)。

0005

また、産業プラント機器材料の損傷や残留応力の状態などを評価するために、機器材料の磁気的性質磁気センサにより検出することによって磁区の大きさを求める方法が提案されている(例えば、特許文献4参照)。
特開2002−131212号公報
特開平07ー334877号公報
特開平05−128448号公報
特開平05−264511号公報

発明が解決しようとする課題

0006

しかしながら、特許文献1に開示された技術では、実測によって、記録媒体に対する磁界感度や熱的安定性の評価、磁区の形状の安定性を評価することはできるが、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布や、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布は評価することができない。
また、特許文献2に開示された技術では、実測によって、磁区を観察することはできるが、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布や、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布は評価することができない。
また、特許文献3に開示された技術では、実測によって、磁気記録用の磁気ヘッドの磁界変換効率等を評価することはできるが、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布や、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布は評価することができない。
また、特許文献4に開示された技術は、実測によって、産業プラントの機器材料の磁区の状態変化を求めることはできるが、産業プラントの機器材料に対応した技術であるため、微小磁区が記録された磁気記録媒体や光磁気記録媒体に対応させるのは困難である。

0007

本発明の課題は、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定装置及び磁界分布測定方法と、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定装置及び温度分布測定方法と、を提供することにある。

課題を解決するための手段

0008

上記課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、
磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定装置において、
磁区が記録された磁気記録媒体の表面を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影手段と、
前記撮影手段にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出手段と、
前記階調度データ算出手段にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出手段と、
前記磁界強度データ算出手段にて得られた磁界強度データに基づいて、前記磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を出力する磁界分布出力手段と、
を備えることを特徴とする。

0009

請求項2に記載の発明は、
光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定装置において、
前記記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体の表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影手段と、
前記撮影手段にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出手段と、
前記階調度データ算出手段にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出手段と、
前記磁界強度データ算出手段にて得られた磁界強度データから温度データを算出する温度データ算出手段と、
前記温度データ算出手段にて得られた温度データに基づいて、前記光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を出力する温度分布出力手段と、
を備えることを特徴とする。

0010

請求項3に記載の発明は、
磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定方法において、
磁区が記録された磁気記録媒体の表面を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影ステップと、
前記撮影ステップにて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップと、
前記階調度データ算出ステップにて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップと、
前記磁界強度データ算出ステップにて得られた磁界強度データに基づいて、前記磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を出力する磁界分布出力ステップと、
を備えることを特徴とする。

0011

請求項4に記載の発明は、
光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定方法において、
前記記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体の表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡により観察して画像データを撮影する撮影ステップと、
前記撮影ステップにて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップと、
前記階調度データ算出ステップにて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップと、
前記磁界強度データ算出ステップにて得られた磁界強度データから温度データを算出する温度データ算出ステップと、
前記温度データ算出ステップにて得られた温度データに基づいて、前記光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を出力する温度分布出力ステップと、
を備えることを特徴とする。

発明の効果

0012

請求項1及び3に記載の発明によれば、磁区が記録された磁気記録媒体の表面を偏光顕微鏡により観察して画像データが撮影され、得られた画像データから階調度データが算出される。そして、階調度磁界強度との間には、一定の相関関係があるため、階調度データから磁界強度データが算出できる。さらに、得られた磁界強度データに基づいて、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布が出力される。
したがって、実際に磁気記録媒体を観察して得た結果を用いて、磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定することができる。

0013

請求項2及び4に記載の発明によれば、記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体の表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡により観察して画像データが撮影され、得られた画像データから階調度データが算出される。そして、階調度と磁界強度との間には一定の相関関係があるため、階調度データから磁界強度データが算出できる。さらに、得られた磁界強度データから温度データが算出され、当該温度データに基づいて、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布が出力される。
したがって、実際に光磁気記録媒体を観察して得た結果を用いて、光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定することができる。

発明を実施するための最良の形態

0014

以下、図を参照して、本発明にかかる磁気記録媒体における磁界分布測定装置及び磁界分布測定方法、光磁気記録媒体における温度分布測定装置及び温度分布測定方法の最良の形態を詳細に説明する。なお、発明の範囲は、図示例に限定されない。

0015

<磁界分布測定装置>
まず、磁気記録媒体としての、例えば、図2に示す光磁気記録媒体Mに記録された磁区mdの磁界分布D1を測定する磁界分布測定装置E1について、図1図5を参照して説明する。

0016

光磁気記録媒体Mには、例えば、熱(記録用レーザビームB)と外部磁界とによって磁区mdが記録される。
具体的には、光磁気記録媒体Mに記録用レーザビームBを照射すると、その記録用レーザビームBが照射された領域内は温度が上昇して保磁力が減少する。このときに外部磁界を与えると、記録用レーザビームBが照射された領域内の磁化反転するため、磁区mdを記録することができる。
ここで、光磁気記録媒体Mに記録された磁区mdは、例えば、底面及び上面の半径が「r1」の円筒形をなしているとする。

0017

光磁気記録媒体Mに記録された磁区mdの磁界分布D1を測定する磁界分布測定装置E1は、例えば、図1に示すように、偏光顕微鏡1と、偏光顕微鏡1に接続された磁界分布測定部3と、などを備えて構成される。

0018

偏光顕微鏡1は、例えば、磁界分布測定部3から入力される制御信号に従って、磁区mdが記録された光磁気記録媒体Mの表面を観察して画像データを撮影し、そして、当該画像データを磁界分布測定部3に出力する。

0019

具体的には、偏光顕微鏡1は、例えば、図1に示すように、観察用レーザビーム発光する発光部11と、発光部11により発光された観察用レーザビームを偏光する偏光板ポラライザー)12と、偏光板12により偏光された観察用レーザビームを光磁気記録媒体Mへと導くとともに、光磁気記録媒体Mにより反射された観察用レーザビームを偏光板14へと導くハーフミラー13と、ハーフミラー13により導かれた観察用レーザビームを偏光する偏光板(アナライザー)14と、偏光板14により偏光された観察用レーザビームに基づく画像データを撮影して磁界分布測定部3に出力するCCDカメラ15と、発光部11により発光された観察用レーザビームがCCDカメラ15に到着するまでの光路上に配置された1又は複数の所定のレンズ(図示省略)と、などにより構成される。

0020

磁界分布測定部3は、例えば、図1に示すように、CPU(Central Processing Unit)31と、RAM(Random Access Memory)32と、ROM(Read Only Memory)33と、表示部34と、プリント出力部35と、などを備えている。

0021

CPU31は、例えば、ROM33に記憶された磁界分布測定部3用の各種処理プログラムに従って各種の制御動作を行う。

0022

RAM32は、例えば、CPU31によって実行される処理プログラムなどを展開するためのプログラム格納領域や、入力データや上記処理プログラムが実行される際に生じる処理結果などを格納するデータ格納領域などを備える。

0023

ROM33は、例えば、磁界分布測定部3で実行可能なシステムプログラム、当該システムプログラムで実行可能な各種処理プログラム、これら各種処理プログラムを実行する際に使用されるデータ、CPU31によって演算処理された処理結果のデータなどを記憶する。なお、プログラムは、コンピュータ読み取り可能なプログラムコードの形でROM33に記憶されている。

0024

具体的には、ROM33は、例えば、図1に示すように、偏光顕微鏡制御プログラム331と、階調度データ算出プログラム332と、磁界強度データ算出プログラム333と、磁界分布出力制御プログラム334と、などを記憶している。

0025

偏光顕微鏡制御プログラム331は、例えば、偏光顕微鏡1に制御信号を入力して、磁区mdが記録された光磁気記録媒体Mの表面を観察させて画像データを撮影させ、そして、当該画像データを磁界分布測定部3に出力させる機能を、CPU31に実現させる。

0026

ここで、磁区mdが記録された光磁気記録媒体Mの表面に、偏光された観察用レーザビームを照射すると、磁区mdの磁化の向きに応じて、観察用レーザビームの偏光面が回転する。
したがって、例えば、光磁気記録媒体Mに記録された磁化が上向きの磁区mdを偏光顕微鏡1により観察して画像データを撮影すると、例えば、図2の左側に示すような画像データが撮影され、例えば、光磁気記録媒体Mに記録された磁化が下向きの磁区mdを偏光顕微鏡1により観察して画像データを撮影すると、例えば、図2の右側に示すような、磁化が上向きの磁区mdの画像データ(例えば、図2の左側の画像データ)よりも淡い色の画像データが撮影される。

0027

さらに、磁化が上向きの磁区mdと、磁化が下向きの磁区mdと、が隣り合う場合、これらの磁区md同士の境界付近の磁化の向きは、隣の磁区mdの磁化の向きに影響されるため、隣の磁区mdとの境界付近の磁界強度は、磁区mdの中心付近の磁界強度よりも小さくなる。
したがって、例えば、光磁気記録媒体Mに記録された磁化が上向きの磁区mdを偏光顕微鏡1により観察して画像データを撮影すると、例えば、図2の左側に示すような、隣の磁区mdとの境界付近の色が、磁区mdの中心付近よりも淡い色の画像データが撮影され、例えば、光磁気記録媒体Mに記録された磁化が下向きの磁区mdを偏光顕微鏡1により観察して画像データを撮影すると、例えば、図2の右側に示すような、隣の磁区mdとの境界付近の色が、磁区mdの中心付近よりも濃い色の画像データが撮影される。

0028

なお、撮影手段は、例えば、CCDカメラ15と、偏光顕微鏡制御プログラム331を実行したCPU31と、によって構成される。

0029

階調度データ算出プログラム332は、例えば、偏光顕微鏡1のCCDカメラ15により撮影された画像データから階調度データを算出する機能を、CPU31に実現させる。

0030

具体的には、CPU31は、例えば、偏光顕微鏡1により撮影された画像データに含まれる各ピクセルにおける画像の濃淡に関する情報に基づいて、各ピクセルの階調度データを算出する。
そして、CPU31により算出される階調度データに基づく階調度の段階は「0」〜「c」の「c+1」段階(例えば、「0」〜「255」の「256」段階)であるとする。

0031

ここで、CPU31により算出される階調度データに基づく階調度分布のうち、磁化が上向きの磁区mdの階調度分布は、例えば、図3(a)に示すように、磁区mdの中心に近づくほど階調度の値が低下する分布を示す。
一方、CPU31により算出される階調度データに基づく階調度分布のうち、磁化が下向きの磁区mdの階調度分布は、例えば、図3(b)に示すように、磁区mdの中心に近づくほど階調度の値が増加する分布を示す。

0032

CPU31は、かかる階調度データ算出プログラム332を実行することによって、階調度データ算出手段として機能する。

0033

磁界強度データ算出プログラム333は、例えば、階調度データ算出プログラム332を実行したCPU31により算出された階調度データから磁界強度データを算出する機能を、CPU31に実現させる。

0034

具体的には、CPU31は、例えば、予め設定された階調度(C)と磁界強度(H)との関係式(H=f(C))に基づいて、階調度データから磁界強度データを算出する。
ここで、階調度(C)と磁界強度(H)との関係式(H=f(C))は、例えば、図4に示すように、階調度の値が中間(「c/2」)である場合に、磁界強度が「0」となり、そして、階調度の値が中間から遠ざかるほど磁界強度が増加するように設定されている。

0035

CPU31は、かかる磁界強度データ算出プログラム333を実行することによって、磁界強度データ算出手段として機能する。

0036

磁界分布出力制御プログラム334は、例えば、表示部34及び/又はプリント出力部35に制御信号を入力して、磁界強度データ算出プログラム333を実行したCPU31により算出された磁界強度データに基づいて、光磁気記録媒体Mに記録された磁区mdの磁界分布D1を出力させる機能を、CPU31に実現させる。

0037

ここで、出力される磁界分布D1のうち、磁化が上向きの磁区mdの磁界分布D1は、例えば、図5(a)に示すように、磁区mdの中心に近づくほど磁界強度が増加する磁界分布D1を示す。
また、出力される磁界分布D1のうち、磁化が下向きの磁区mdの磁界分布D1は、例えば、図5(b)に示すように、磁区mdの中心に近づくほど磁界強度が増加する磁界分布D1を示す。

0038

表示部34は、例えば、LCD(Liquid Crystal Display)パネルなどから構成され、例えば、CPU31から入力される制御信号に従って、所与表示処理を行う。

0039

プリント出力部35は、例えば、給紙部(図示省略)と排紙部(図示省略)などを備え、例えば、CPU31から入力される制御信号に従って、所与のプリント出力処理を行う。

0040

なお、磁界分布出力手段は、例えば、磁界分布出力制御プログラム334を実行したCPU31と、表示部34及び/又はプリント出力部35と、によって構成される。

0041

<磁界分布測定方法>
次に、磁界分布測定装置E1によって光磁気記録媒体Mに記録された磁区mdの磁界分布D1を測定する磁界分布測定方法について、図6に示すフローチャートを参照して説明する。

0042

まず、磁界分布測定部3のCPU31は、偏光顕微鏡制御プログラム331を実行して、偏光顕微鏡1に制御信号を入力して、磁区mdが記録された光磁気記録媒体Mの表面を観察させて画像データを撮影させる(ステップS11(撮影ステップ))。

0043

ステップS11(撮影ステップ)にて得られた画像データが磁界分布測定部3に入力されると、CPU31は、階調度データ算出プログラム332を実行して、当該画像データから階調度データを算出する(ステップS12(階調度データ算出ステップ))。

0044

次いで、CPU31は、磁界強度データ算出プログラム333を実行して、ステップS12(階調度データ算出ステップ)にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する(ステップS13(磁界強度データ算出ステップ))。

0045

次いで、CPU31は、磁界分布出力制御プログラム334を実行して、表示部34及び/又はプリント出力部35に制御信号を入力して、ステップS13(磁界強度データ算出ステップ)にて得られた磁界強度データに基づいて、光磁気記録媒体Mに記録された磁区mdの磁界分布D1を出力させ(ステップS14(磁界分布出力ステップ))、本処理を終了する。

0046

<温度分布測定装置>
次に、光磁気記録媒体Mにおける記録用レーザビームBのビームスポット内の温度分布D2を測定する温度分布測定装置E2について、図7図12を参照して説明する。
なお、温度分布測定装置E2においては、磁界分布測定装置E1(図1)の構成と異なる箇所のみについて説明し、その他の共通する部分は同一符号を付して説明する。

0047

磁区md記録時(記録用レーザビームB照射時)の、光磁気記録媒体Mにおける記録用レーザビームBのビームスポット内の温度分布D2を測定する温度分布測定装置E2は、例えば、図7に示すように、偏光顕微鏡1と、記録用レーザビーム照射部5と、偏光顕微鏡1と記録用レーザビーム照射部5とに接続された温度分布測定部7と、などを備えて構成される。

0048

偏光顕微鏡1は、例えば、温度分布測定部7から入力される制御信号に従って、記録用レーザビームB照射中の光磁気記録媒体Mの表面におけるビームスポット内を観察して画像データを撮影し、そして、当該画像データを温度分布測定部7に出力する。

0049

記録用レーザビーム照射部5は、例えば、温度分布測定部7から入力される制御信号に従って、光磁気記録媒体Mに記録用レーザビームBを照射する。

0050

具体的には、記録用レーザビーム照射部5は、例えば、記録用レーザビームBを発光する発光部51と、発光部51により発光された記録用レーザビームBを光磁気記録媒体Mへと反射する反射板52と、などにより構成される。
ここで、光磁気記録媒体Mにおける記録用レーザビームBのビームスポット半径は、例えば、「r2」であるとする。
また、反射板52は、例えば、偏光顕微鏡1の発光部11により発光された観察用レーザビームは透過するようになっている。

0051

なお、偏光顕微鏡1の発光部11により発光される観察用レーザビームと、記録用レーザビーム照射部5の発光部51により発光される記録用レーザビームBとは、波長が異なるため、記録用レーザビームBは、偏光顕微鏡1での観察に影響を及ぼさないようになっている。

0052

温度分布測定部7は、例えば、図7に示すように、CPU71と、RAM72と、ROM73と、表示部34と、プリント出力部35と、などを備えている。

0053

CPU71は、例えば、ROM73に記憶された温度分布測定部7用の各種処理プログラムに従って各種の制御動作を行う。

0054

RAM72は、例えば、CPU71によって実行される処理プログラムなどを展開するためのプログラム格納領域や、入力データや上記処理プログラムが実行される際に生じる処理結果などを格納するデータ格納領域などを備える。

0055

ROM73は、例えば、温度分布測定部7で実行可能なシステムプログラム、当該システムプログラムで実行可能な各種処理プログラム、これら各種処理プログラムを実行する際に使用されるデータ、CPU71によって演算処理された処理結果のデータなどを記憶する。なお、プログラムは、コンピュータが読み取り可能なプログラムコードの形でROM73に記憶されている。

0056

具体的には、ROM73は、例えば、図7に示すように、偏光顕微鏡制御プログラム731と、記録用レーザビーム照射部制御プログラム732と、階調度データ算出プログラム733と、磁界強度データ算出プログラム734と、温度データ算出プログラム735と、温度分布出力制御プログラム736と、などを記憶している。

0057

偏光顕微鏡制御プログラム731は、例えば、偏光顕微鏡1に制御信号を入力して、記録用レーザビームB照射中の光磁気記録媒体Mの表面におけるビームスポット内を観察させて画像データを撮影させ、そして、当該画像データを温度分布測定部7に出力させる機能を、CPU71に実現させる。

0058

具体的には、CPU71は、例えば、記録用レーザビーム照射部制御プログラム732を実行したCPU71により制御された記録用レーザビーム照射部5の発光部51による記録用レーザビームBの発光に同期させて、CCDカメラ15に画像データを撮影させる。すなわち、CPU71は、例えば、光磁気記録媒体Mに記録用レーザビームBが照射された瞬間の画像データを、CCDカメラ15に撮影させる。

0059

ここで、光磁気記録媒体Mに記録用レーザビームBを照射すると保磁力が減少するが、これは、記録用レーザビームB照射領域の温度の上昇に伴って、磁化の向きが一方向に揃わなくなるためである。すなわち、光磁気記録媒体Mに記録用レーザビームBを照射すると、記録用レーザビームB照射領域の磁界強度が減少する。
したがって、例えば、磁化の向きが一定方向(例えば、下向き)に揃っている光磁気記録媒体Mの表面を偏光顕微鏡1により観察して画像データを撮影すると、記録用レーザビームBが照射されていないときは、例えば、図8(a)に示すような最も淡い色の画像データが撮影され、記録用レーザビームBが照射された瞬間は、例えば、図8(b)に示すような、記録用レーザビームBが照射されていないときの画像データ(例えば、図8(a)の画像データ)よりも濃い色の画像データが撮影される。

0060

さらに、一般に、レーザビームのビームスポット内では、ビームスポットの中心に近づくにつれて温度が上昇することが知られている。すなわち、光磁気記録媒体Mの表面に記録用レーザビームBを照射すると、ビームスポットの中心に近づくほど、磁化の向きが一方向に揃わなくなり、磁界強度が減少することになる。
したがって、例えば、記録用レーザビームB照射中の光磁気記録媒体Mの表面におけるビームスポット内を偏光顕微鏡1により観察して画像データを撮影すると、例えば、図8(b)に示すような、ビームスポットの中心に近づくほど色が濃くなる画像データが撮影される。

0061

記録用レーザビーム照射部制御プログラム732は、例えば、記録用レーザビーム照射部5に制御信号を入力して、光磁気記録媒体Mに記録用レーザビームBを照射させる機能を、CPU71に実現させる。

0062

なお、撮影手段は、例えば、CCDカメラ15と、記録用レーザビーム照射部5と、偏光顕微鏡制御プログラム731を実行したCPU71と、記録用レーザビーム照射部制御プログラム732を実行したCPU71と、によって構成される。

0063

階調度データ算出プログラム733は、偏光顕微鏡1のCCDカメラ15により撮影された画像データから階調度データを算出する機能を、CPU71に実現させる。

0064

具体的には、CPU71は、例えば、偏光顕微鏡1により撮影された画像データに含まれる各ピクセルにおける画像の濃淡に関する情報に基づいて、各ピクセルの階調度データを算出する。
そして、CPU71により算出される階調度データに基づく階調度の段階は「c+1」段階(例えば、「256」段階)であるとする。

0065

ここで、CPU71により算出される階調度データに基づく、記録用レーザビームB照射中の光磁気記録媒体Mの表面におけるビームスポット内の階調度分布は、例えば、図9に示すように、ビームスポットの中心に近づくほど階調度の値が減少する分布を示す。

0066

CPU71は、かかる階調度データ算出プログラム733を実行することによって、階調度データ算出手段として機能する。

0067

磁界強度データ算出プログラム734は、例えば、階調度データ算出プログラム733を実行したCPU71により算出された階調度データから磁界強度データを算出する機能を、CPU71に実現させる。

0068

具体的には、CPU71は、例えば、予め設定された階調度(C)と磁界強度(H)との関係式(例えば、図4に示すH=f(C))に基づいて、階調度データから磁界強度データを算出する。

0069

ここで、CPU71により算出される磁界強度データに基づく、記録用レーザビームB照射中の光磁気記録媒体Mの表面におけるビームスポット内の磁界分布D1は、例えば、図10に示すように、レーザビームスポットの中心に近づくほど階調度が減少する分布を示す。

0070

CPU71は、かかる磁界強度算出プログラム734を実行することによって、磁界強度算出手段として機能する。

0071

温度データ算出プログラム735は、例えば、磁界強度データ算出プログラム734を実行したCPU71により算出された磁界強度データから温度データを算出する機能を、CPU71に実現させる。

0072

具体的には、CPU71は、例えば、予め設定された磁界強度(H)とビームスポット内温度(T)との関係式(T=f(H))に基づいて、磁界強度データから温度データを算出する。
ここで、磁界強度(H)とビームスポット内温度(T)との関係式(T=f(H))は、例えば、図11に示すように、磁界強度が増加するほどビームスポット内温度が減少するように設定されている。

0073

CPU71は、かかる温度データ算出プログラム735を実行することによって、温度データ算出手段として機能する。

0074

温度分布出力制御プログラム736は、例えば、表示部34及び/又はプリント出力部35に制御信号を入力して、温度データ算出プログラム735を実行したCPU71より算出された温度データに基づいて、光磁気記録媒体Mにおける記録用レーザビームBのビームスポット内の温度分布D2を出力させる機能を、CPU71に実現させる。

0075

ここで、出力される記録用レーザビームB照射中の光磁気記録媒体Mの表面におけるビームスポット内の温度分布D2は、例えば、図12に示すように、ビームスポットの中心に近づくほど温度が増加する温度分布D2を示す。

0076

なお、温度分布出力手段は、例えば、温度分布出力制御プログラム736を実行したCPU71と、表示部34及び/又はプリント出力部35と、によって構成される。

0077

<温度分布測定方法>
次に、温度分布測定装置E2によって光磁気記録媒体Mにおける記録用レーザビームBのビームスポット内の温度分布D2を測定する温度分布測定方法について、図13に示すフローチャートを参照して説明する。

0078

まず、温度分布測定部7のCPU71は、偏光顕微鏡制御プログラム731を実行して、偏光顕微鏡1に制御信号を入力するとともに、記録用レーザビーム照射部制御プログラム732を実行して、記録用レーザビーム照射部5に制御信号を入力して、記録用レーザビームB照射中の光磁気記録媒体Mの表面におけるビームスポット内を観察させて画像データを撮影させる(ステップS31(撮影ステップ))。

0079

ステップS31(撮影ステップ)にて撮影された画像データが温度分布測定部7に入力されると、CPU71は、階調度データ算出プログラム733を実行して、当該画像データから階調度データを算出する(ステップS32(階調度データ算出ステップ))。

0080

次いで、CPU71は、磁界強度データ算出プログラム734を実行して、ステップS32(階調度データ算出ステップ)にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する(ステップS33(磁界強度データ算出ステップ))。

0081

次いで、CPU71は、温度データ算出プログラム735を実行して、ステップS33(磁界強度データ算出ステップ)にて得られた磁界強度データから温度データを算出する(ステップS34(温度データ算出ステップ))。

0082

次いで、CPU71は、温度分布出力制御プログラム736を実行して、表示部34及び/又はプリント出力部35に制御信号を入力して、ステップS34(温度データ算出ステップ)にて得られた温度データに基づいて、光磁気記録媒体Mにおける記録用レーザビームBのビームスポット内の温度分布D2を出力させ(ステップS35(温度分布出力ステップ))、本処理を終了する。

0083

以上説明した本発明の磁界分布測定装置E1及び磁界分布測定方法によれば、偏光顕微鏡1(CCDカメラ15など)と偏光顕微鏡制御プログラム331を実行したCPU31とが、磁区mdが記録された光磁気記録媒体Mの表面を観察して画像データを撮影する撮影ステップ(ステップS11)と、階調度データ算出プログラム322を実行したCPU31が、撮影ステップ(ステップS11)にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップ(ステップS12)と、磁界強度データ算出プログラム333を実行したCPU31が、階調度データ算出ステップ(ステップS12)にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップ(ステップS13)と、磁界分布出力制御プログラム334を実行したCPU31と表示部34及び/又はプリント出力部35とが、磁界強度データ算出ステップ(ステップS13)にて得られた磁界強度データに基づいて、光磁気記録媒体Mに記録された磁区mdの磁界分布を出力する磁界分布出力ステップ(ステップS14)と、を備えている。
したがって、実際に光磁気記録媒体Mを観察して得た結果を用いて、光磁気記録媒体Mに記録された磁区mdの磁界分布を測定することができる。

0084

また、以上説明した本発明の温度分布測定装置E2及び温度分布測定方法によれば、偏光顕微鏡1(CCDカメラ15など)と記録用レーザビーム照射部5と偏光顕微鏡制御プログラム731を実行したCPU71と記録用レーザビーム照射部制御プログラム732を実行したCPU71とが、記録用レーザビームB照射中の光磁気記録媒体Mの表面におけるビームスポット内を観察して画像データを撮影する撮影ステップ(ステップS31)と、階調度データ算出プログラム733を実行したCPU71が、撮影ステップ(ステップS31)にて得られた画像データから階調度データを算出する階調度データ算出ステップ(ステップS32)と、磁界強度データ算出プログラム734を実行したCPU71が、階調度データ算出ステップ(ステップS32)にて得られた階調度データから磁界強度データを算出する磁界強度データ算出ステップ(ステップS33)と、温度データ算出プログラム735を実行したCPU71が、磁界強度データ算出ステップ(ステップS33)にて得られた磁界強度データから温度データを算出する温度データ算出ステップ(ステップS34)と、温度分布出力制御プログラム736を実行したCPU71が、温度データ算出ステップ(ステップS34)にて得られた温度データに基づいて、光磁気記録媒体Mにおける記録用レーザビームBのビームスポット内の温度分布D2を出力する温度分布出力ステップ(ステップS35)と、を備えている。
したがって、実際に光磁気記録媒体Mを観察して得た結果を用いて、光磁気記録媒体Mにおける記録用レーザビームBのビームスポット内の温度分布D2を測定することができる。

0085

なお、本発明は、上記した実施の形態のものに限るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。

0086

磁界分布測定方法を光磁気記録媒体Mに適用するようにしたが、磁界分布測定方法は、磁区mdが記録された記録媒体であれば、光磁気記録媒体Mであっても、磁気記録媒体であっても、適用可能である。

0087

光磁気記録媒体Mに記録された磁区mdの磁界分布D1(例えば、図5)や、光磁気記録媒体Mにおける記録用レーザビームBのビームスポット内の温度分布D2(例えば、図12)を、二次元の分布で出力するようにしたが、例えば、三次元の分布で出力するようにしてもよい。

0088

光磁気記録媒体Mに記録された磁区の形状は、円筒形の限りではなく、任意である。

0089

図2図5図8図12に示した画像データの図、分布図は、この限りではなく、その要旨を逸脱しない範囲で任意である。

図面の簡単な説明

0090

光磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定するための、磁界分布測定装置の構成を示す図である。
光磁気記録媒体に記録された磁区の模式図と、磁化が上向きの磁区を撮影して得た画像データと、磁化が下向きの磁区を撮影して得た画像データと、を示す図である。
磁化が上向きの磁区の画像データから得た階調度分布を示す図(a)と、磁化が下向きの磁区の画像データから得た階調度分布を示す図(b)である。
階調度と磁界強度の関係を示す図である。
磁化が上向きの磁区の磁界分布を示す図(a)と、磁化が下向きの磁区の磁界分布を示す図(b)である。
磁界分布測定装置によって光磁気記録媒体に記録された磁区の磁界分布を測定する磁界分布測定方法を説明するためのフローチャートである。
光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定するための温度分布測定装置の構成を示す図である。
記録用レーザビームが照射されていない光磁気記録媒体を撮影して得た画像データ(a)と、記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体におけるビームスポット内を撮影して得た画像データ(b)である。
記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体におけるビームスポット内の画像データから得た階調度分布を示す図である。
記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体におけるビームスポット内の磁界分布を示す図である。
磁界強度とビームスポット内温度の関係を示す図である。
記録用レーザビーム照射中の光磁気記録媒体におけるビームスポット内の温度分布を示す図である。
温度分布測定装置によって光磁気記録媒体における記録用レーザビームのビームスポット内の温度分布を測定する温度分布測定方法を説明するためのフローチャートである。

符号の説明

0091

1偏光顕微鏡
5記録用レーザビーム照射部(撮影手段)
15CCDカメラ(撮影手段)
31 CPU(撮影手段、階調度データ算出手段、磁界強度データ算出手段、磁界分布出力手段)
71 CPU(撮影手段、階調度データ算出手段、磁界強度算出手段、温度データ算出手段、温度分布出力手段)
34 表示部(磁界分布出力手段、温度分布出力手段)
35プリント出力部(磁界分布出力手段、温度分布出力手段)
331 偏光顕微鏡制御プログラム(撮影手段)
332 階調度データ算出プログラム(階調度データ算出手段)
333 磁界強度データ算出プログラム(磁界強度データ算出手段)
334 磁界分布出力制御プログラム(磁界分布出力手段)
731 偏光顕微鏡制御プログラム(撮影手段)
732 記録用レーザビーム照射部制御プログラム(撮影手段)
733 階調度データ算出プログラム(階調度データ算出手段)
734 磁界強度算出プログラム(磁界強度算出手段)
735 温度データ算出プログラム(温度データ算出手段)
736 温度分布出力制御プログラム(温度分布出力手段)
B 記録用レーザビーム
D1 磁界分布
D2 温度分布
E1磁界分布測定装置
E2温度分布測定装置
M光磁気記録媒体(磁気記録媒体)
md 磁区

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