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技術 光記録方法、光記録装置、ワンチップCPU素子、及びコンピュータプログラム

出願人 太陽誘電株式会社
発明者 垣本博哉宮澤冬樹関口慎生
出願日 2005年8月9日 (16年6ヶ月経過) 出願番号 2005-230541
公開日 2007年2月22日 (14年11ヶ月経過) 公開番号 2007-048361
状態 特許登録済
技術分野 光学的記録再生1 光ヘッド
主要キーワード 特性関係 レーザ光照射条件 使用領域内 好条件 パルス対 回転速度一定 スペース列 パルス幅調整
関連する未来課題
重要な関連分野

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図面 (20)

課題

情報記録前テスト時間を短縮して情報を短時間で記録できる光記録方法光記録装置ワンチップCPU素子、及びコンピュータプログラムを提供する。

解決手段

実際の情報記録に先立って、第1記録層11に情報の記録を行うときは第1記録層11にテスト記録を行って第1記録層11に適した記録パルス条件を所定のテスト時間内で導出し、第2記録層12に情報の記録を行うときは第2記録層にテスト記録を行い、第2記録層12におけるテスト時間よりも少ない時間内に第2記録層12の記録パルス条件を導出する。これにより、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

概要

背景

従来、レーザ光を用いて周知のDVD等の光記録メディア光記録媒体)にデータを記録する光記録装置において、所定の記録メディアに情報の記録を行う場合、一般的には、実際の情報記録に先立って、記録メディア内に設けられたテスト記録領域を用いたテスト記録によって、記録メディアに適した記録条件を求めることがなされている。

しかし、高速および大容量記録要求の高まる光記録装置において、複数の記録層を有する多層型光記録メディアに情報の記録を行う際、各記録層によって記録感度、光の反射率熱伝導率等の記録特性が異なるため、該各記録層に応じた記録パルス条件を求める必要がある。

このような記録パルス条件を求める従来技術としては、図19及び図20に示すように、各記録メディアの種類毎に記録速度等の条件に応じて、各記録層毎に良好な記が可能な記録パルス条件を記録したデータテーブルを記録ドライブ(光記録装置)のメモリに予め持たせておき、実際に記録メディアに情報の記録を行う際には、記録メディア種別、記録層、記録速度に応じた記録パルス条件を上記データテーブルから読み出して、これを設定し、データの記録を行うといった方法が一般的に用いられている。

また、記録ドライブ自体の個体差バラツキ或いはレーザ温度依存性等を考慮し、記録レーザパワーの条件のみを情報の記録に先立って行われるテスト記録において調整を行うといった方法も一般的に用いられている。
特開2005−100610号公報
特開2003−22532号公報
特開2004−171740号公報
特開2004−247024号公報
WO2002−029791号公報
特開2003−178448号公報

概要

情報記録前テスト時間を短縮して情報を短時間で記録できる光記録方法、光記録装置、ワンチップCPU素子、及びコンピュータプログラムを提供する。実際の情報記録に先立って、第1記録層11に情報の記録を行うときは第1記録層11にテスト記録を行って第1記録層11に適した記録パルス条件を所定のテスト時間内で導出し、第2記録層12に情報の記録を行うときは第2記録層にテスト記録を行い、第2記録層12におけるテスト時間よりも少ない時間内に第2記録層12の記録パルス条件を導出する。これにより、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

目的

本発明は前記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録できる光記録方法、光記録装置、ワンチップCPU素子、及びコンピュータプログラムを提供することにある。

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

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請求項1

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体レーザ光パルス照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域テストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層にテスト記録を行って前記一の記録層に適した記録パルス条件を所定のテスト時間内で導出する第1導出ステップと、実際の情報記録に先立って他の記録層にテストを行って前記一の記録層におけるテスト時間よりも少ない時間内に、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行することを特徴とする光記録方法。

請求項2

前記光記録装置は、前記第2導出ステップにおいて、前記他の記録層にテスト記録を行い、前記一の記録層の記録パルス条件および前記一の記録層のテスト記録により求めた所定の特性値と前記他の記録層のテスト記録結果に基づいて、前記他の記録層の記録パルス条件を導出することを特徴とする請求項1に記載の光記録方法。

請求項3

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層の所定量内のテスト使用領域にテスト記録を行って前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、実際の情報記録に先立って他の記録層にテスト記録を行って前記一の記録層のテスト使用領域よりも少ないテスト使用領域を用いてテスト記録を行い、該テスト記録結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップを実行することを特徴とする光記録方法。

請求項4

前記光記録装置は、前記第2導出ステップにおいて、前記他の記録層にテスト記録を行い、前記一の記録層の記録パルス条件および前記一の記録層のテスト記録により求めた特性値および前記他の記録層のテスト記録結果に基づいて、前記他の記録層の記録パルス条件を導出することを特徴とする請求項3に記載の光記録方法。

請求項5

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に、テストデータを所定の記録時間内で記録すると共に所定の再生時間内でテストデータを再生して、前記一の記録層に適した記録パルス条件を所定のテスト時間内で導出する第1導出ステップと、実際の情報記録に先立って他の記録層にテスト記録を行い、前記一の記録層におけるテスト記録時間よりも少ないテスト記録時間および前記一の記録層におけるテスト再生時間よりも少ないテスト再生時間のうちの少なくとも何れか一方を満たすテスト時間内に、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行することを特徴とする光記録方法。

請求項6

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定の情報記録長内のテストデータの記録を行うと共に所定の情報再生長内のテストデータの再生を行って、前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層におけるテスト記録長よりも少ないテスト記録長および前記一の記録層におけるテスト再生長よりも少ないテスト再生長の少なくとも何れか一方を満たすように前記他の記録層にテストデータの記録及び再生を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行することを特徴とする光記録方法。

請求項7

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層におけるテストデータとは異なるデータパターンを有するテストデータを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行することを特徴とする光記録方法。

請求項8

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に、複数種所定データパターンを含むテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層に用いた複数のデータパターンのうちの一部の種類のデータパターンを含むテストデータを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行することを特徴とする光記録方法。

請求項9

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に所定のテストデータを記録してこれを再生するテストを所定の評価パラメータを用いて行い、該テストの結果に基づいて前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層におけるテストの評価パラメータと異なる評価パラメータを用いて前記他の記録層におけるテストを行い、該テストの結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行することを特徴とする光記録方法。

請求項10

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置であって、実際の情報記録に先立って一の記録層にテスト記録を行って前記一の記録層に適した記録パルス条件を所定のテスト時間内で導出する第1導出手段と、実際の情報記録に先立って他の記録層にテストを行い、前記一の記録層におけるテスト時間よりも少ない時間内に、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項11

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置であって、実際の情報記録に先立って一の記録層の所定量内のテスト使用領域にテスト記録を行って前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出手段と、実際の情報記録に先立って他の記録層にテスト記録を行い、前記一の記録層のテスト使用領域よりも少ないテスト使用領域を用いてテスト記録を行い、該テスト記録結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項12

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置であって、実際の情報記録に先立って一の記録層に、テストデータを所定の記録時間内で記録すると共に所定の再生時間内でテストデータを再生して、前記一の記録層に適した記録パルス条件を所定のテスト時間内で導出する第1導出手段と、実際の情報記録に先立って他の記録層にテスト記録を行い、前記一の記録層におけるテスト記録時間よりも少ないテスト記録時間および前記一の記録層におけるテスト再生時間よりも少ないテスト再生時間のうちの少なくとも何れか一方を満たすテスト時間内に、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項13

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置であって、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定の情報記録長内のテストデータの記録を行うと共に所定の情報再生長内のテストデータの再生を行って、前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出手段と、前記一の記録層におけるテスト記録長よりも少ないテスト記録長および前記一の記録層におけるテスト再生長よりも少ないテスト再生長の少なくとも何れか一方を満たすように前記他の記録層にテストデータの記録及び再生を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項14

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置であって、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出手段と、前記一の記録層におけるテストデータとは異なるデータパターンを有するテストデータを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項15

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置であって、実際の情報記録に先立って一の記録層に、複数種の所定データパターンを含むテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出手段と、前記一の記録層に用いた複数のデータパターンのうちの少なくとも1種類のデータパターンを含むテストデータを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項16

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置であって、実際の情報記録に先立って一の記録層に所定のテストデータを記録してこれを再生するテストを所定の評価パラメータを用いて行い、該テストの結果に基づいて前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出手段と、前記一の記録層におけるテストの評価パラメータと異なる評価パラメータを用いて前記他の記録層におけるテストを行い、該テストの結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項17

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、実際の情報記録に先立って一の記録層にテスト記録を行って前記一の記録層に適した記録パルス条件を所定のテスト時間内で導出する第1導出ステップと、実際の情報記録に先立って他の記録層にテストを行い、前記一の記録層におけるテスト時間よりも少ない時間内に、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項18

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、実際の情報記録に先立って一の記録層の所定量内のテスト使用領域にテスト記録を行って前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、実際の情報記録に先立って他の記録層にテスト記録を行い、前記一の記録層のテスト使用領域よりも少ないテスト使用領域を用いてテスト記録を行い、該テスト記録結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項19

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、実際の情報記録に先立って一の記録層に、テストデータを所定の記録時間内で記録すると共に所定の再生時間内でテストデータを再生して、前記一の記録層に適した記録パルス条件を所定のテスト時間内で導出する第1導出ステップと、実際の情報記録に先立って他の記録層にテスト記録を行い、前記一の記録層におけるテスト記録時間よりも少ないテスト記録時間および前記一の記録層におけるテスト再生時間よりも少ないテスト再生時間のうちの少なくとも何れか一方を満たすテスト時間内に、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項20

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定の情報記録長内のテストデータの記録を行うと共に所定の情報再生長内のテストデータの再生を行って、前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層におけるテスト記録長よりも少ないテスト記録長および前記一の記録層におけるテスト再生長よりも少ないテスト再生長の少なくとも何れか一方を満たすように前記他の記録層にテストデータの記録及び再生を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項21

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層におけるテストデータとは異なるデータパターンを有するテストデータを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項22

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、実際の情報記録に先立って一の記録層に、複数種の所定データパターンを含むテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層に用いた複数のデータパターンのうちの少なくとも1種類のデータパターンを含むテストデータを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項23

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、実際の情報記録に先立って一の記録層に所定のテストデータを記録してこれを再生するテストを所定の評価パラメータを用いて行い、該テストの結果に基づいて前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層におけるテストの評価パラメータと異なる評価パラメータを用いて前記他の記録層におけるテストを行い、該テストの結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項24

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるCPU素子を動作させるコンピュータプログラムであって、請求項1乃至請求項9の何れかに記載の処理ステップを含むことを特徴とするコンピュータプログラム。

技術分野

0001

本発明は、複数の記録層を有する光記録媒体への情報の記録に関するもので、特に、情報書き込み時のテスト時間を短縮可能な光記録方法光記録装置マイクロCPU素子、及びコンピュータプログラムに関するものである。

背景技術

0002

従来、レーザ光を用いて周知のDVD等の光記録メディア(光記録媒体)にデータを記録する光記録装置において、所定の記録メディアに情報の記録を行う場合、一般的には、実際の情報記録に先立って、記録メディア内に設けられたテスト記録領域を用いたテスト記録によって、記録メディアに適した記録条件を求めることがなされている。

0003

しかし、高速および大容量記録要求の高まる光記録装置において、複数の記録層を有する多層型光記録メディアに情報の記録を行う際、各記録層によって記録感度、光の反射率熱伝導率等の記録特性が異なるため、該各記録層に応じた記録パルス条件を求める必要がある。

0004

このような記録パルス条件を求める従来技術としては、図19及び図20に示すように、各記録メディアの種類毎に記録速度等の条件に応じて、各記録層毎に良好な記が可能な記録パルス条件を記録したデータテーブルを記録ドライブ(光記録装置)のメモリに予め持たせておき、実際に記録メディアに情報の記録を行う際には、記録メディア種別、記録層、記録速度に応じた記録パルス条件を上記データテーブルから読み出して、これを設定し、データの記録を行うといった方法が一般的に用いられている。

0005

また、記録ドライブ自体の個体差バラツキ或いはレーザ温度依存性等を考慮し、記録レーザパワーの条件のみを情報の記録に先立って行われるテスト記録において調整を行うといった方法も一般的に用いられている。
特開2005−100610号公報
特開2003−22532号公報
特開2004−171740号公報
特開2004−247024号公報
WO2002−029791号公報
特開2003−178448号公報

発明が解決しようとする課題

0006

しかしながら、上記従来技術においては、有限である記録ドライブのメモリ容量への負担が大きく、高容量のメモリーを用いた場合は記録ドライブのコストアップに繋がるため、対応できる記録メディアの数が制限されるといった第1の課題点を有する。

0007

また記録レーザパワーのみで補えない記録メディアおよび記録ドライブの持つ特性バラツキに十分に対応できず、さらには記録ドライブのメモリに予め記憶されなかった記録メディアおよび記録ドライブが発売された後に発売された記録メディア等の「未知の種類の光記録メディア」に対しても、一部ではファームアップという形で対応しているが、十分な対応ができないといった第2の課題点を有する。

0008

さらには、複数層におけるテスト記録により情報記録以外の所要時間が増加するといった第3の課題点を有する。

0009

上記3つの課題に対応する多層型光ディスクの記録条件最適化手法構築が求められている。

0010

本発明は前記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録できる光記録方法、光記録装置、ワンチップCPU素子、及びコンピュータプログラムを提供することにある。

課題を解決するための手段

0011

本発明は上記の目的を達成するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体レーザ光パルス照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域テストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層にテスト記録を行って前記一の記録層に適した記録パルス条件を所定のテスト時間内で導出する第1導出ステップと、実際の情報記録に先立って他の記録層にテスト記録を行い、前記一の記録層におけるテスト時間よりも少ない時間内に、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。

0012

本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層にテスト記録が行われて前記一の記録層に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出されると共に、前記他の記録層においては、前記一の記録層におけるテスト時間よりも少ない時間内に記録パルス条件が導出される。

0013

本発明は上記の目的を達成するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層の所定量内のテスト使用領域にテスト記録を行って前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、実際の情報記録に先立って他の記録層にテスト記録を行い、前記一の記録層のテスト使用領域よりも少ないテスト使用領域を用いてテスト記録を行い、該テスト記録結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップを実行する光記録方法を提案する。

0014

本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層の所定量内のテスト使用領域にテスト記録が行われて前記一の記録層に適した記録パルス条件が導出され、前記他の記録層においては、前記一の記録層のテスト使用領域よりも少ないテスト使用領域を用いてテスト記録が行われ、該テスト記録結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件が導出される。

0015

本発明は上記の目的を達成するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に、テストデータを所定の記録時間内で記録すると共に所定の再生時間内でテストデータを再生して、前記一の記録層に適した記録パルス条件を所定のテスト時間内で導出する第1導出ステップと、実際の情報記録に先立って他の記録層にテスト記録を行い、前記一の記録層におけるテスト記録時間よりも少ないテスト記録時間および前記一の記録層におけるテスト再生時間よりも少ないテスト再生時間のうちの少なくとも何れか一方を満たすテスト時間内に、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。

0016

本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、テストデータが所定の記録時間内で記録されると共に所定の再生時間内でテストデータが再生されて、前記一の記録層に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出される。さらに、前記他の記録層においては、前記一の記録層におけるテスト記録時間よりも少ないテスト記録時間および前記一の記録層におけるテスト再生時間よりも少ないテスト再生時間のうちの少なくとも何れか一方を満たすテスト時間内に記録パルス条件が導出される。

0017

本発明は上記の目的を達成するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定の情報記録長内のテストデータの記録を行うと共に所定の情報再生長内のテストデータの再生を行って、前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層におけるテスト記録長よりも少ないテスト記録長および前記一の記録層におけるテスト再生長よりも少ないテスト再生長の少なくとも何れか一方を満たすように前記他の記録層にテストデータの記録及び再生を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。

0018

本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定の情報記録長内のテストデータの記録が行われると共に所定の情報再生長内のテストデータの再生が行われて、前記一の記録層に適した記録パルス条件が導出される。さらに、前記他の記録層においては、前記一の記録層におけるテスト記録長よりも少ないテスト記録長および前記一の記録層におけるテスト再生長よりも少ないテスト再生長の少なくとも何れか一方を満たすように前記他の記録層にテストデータの記録及び再生が行われて記録パルス条件が導出される。

0019

本発明は上記の目的を達成するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層におけるテストデータとは異なるデータパターンを有するテストデータを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。

0020

本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件が導出される。さらに、前記他の記録層においては、前記一の記録層におけるテストデータとは異なるデータパターンを有するテストデータを用いてテスト記録が行われ、前記他の記録層の記録パルス条件が導出される。

0021

本発明は上記の目的を達成するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に、複数種所定データパターンを含むテストデータを記録してこれを再生し、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層に用いた複数のデータパターンのうちの一部の種類のデータパターンを含むテストデータを用いて前記他の記録層におけるテスト記録を行って、前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。

0022

本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、複数種の所定データパターンを含むテストデータが記録され、これが再生されて一の記録層に適した記録パルス条件が導出される。さらに、前記他の記録層においては、前記一の記録層に用いた複数のデータパターンのうちの一部の種類のデータパターンを含むテストデータを用いてテスト記録が行われ、前記他の記録層の記録パルス条件が導出される。

0023

本発明は上記の目的を達成するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う際に、前記記録層のテスト領域にテストデータの記録及び再生を行って記録パルス条件を導出し、該記録パルス条件に基づいて前記記録媒体にレーザ光パルスを照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、実際の情報記録に先立って一の記録層に所定のテストデータを記録してこれを再生するテストを所定の評価パラメータを用いて行い、該テストの結果に基づいて前記一の記録層に適した記録パルス条件を導出する第1導出ステップと、前記一の記録層におけるテストの評価パラメータと異なる評価パラメータを用いて前記他の記録層におけるテストを行い、該テストの結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件を導出する第2導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。

0024

本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に所定のテストデータを記録してこれを再生するテストが所定の評価パラメータを用いて行われ、該テストの結果に基づいて前記一の記録層に適した記録パルス条件が導出される。さらに、前記他の記録層においては、前記一の記録層におけるテストの評価パラメータとは異なる評価パラメータを用いてテストが行われ、該テストの結果に基づいて前記他の記録層の記録パルス条件が導出される。

0025

また、本発明は、上記の目的を達成するために、上記光記録方法における各処理ステップを実行する手段を備えた光記録装置と、該光記録装置に用いるワンチップCPU素子、及び前記光記録装置に用いるCPUを駆動して前記光記録方法を実行するコンピュータプログラムを提案する。

発明の効果

0026

本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層にテスト記録が行われて一の記録層に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出されると共に、他の記録層においては、一の記録層におけるテスト時間よりも少ない時間内に記録パルス条件が導出されるので、他の記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0027

また、本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層の所定量内のテスト使用領域にテスト記録が行われて一の記録層に適した記録パルス条件が導出され、他の記録層においては、一の記録層のテスト使用領域よりも少ないテスト使用領域を用いてテスト記録が行われ、該テスト記録結果に基づいて他の記録層の記録パルス条件が導出されるので、他の記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0028

また、本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、テストデータが所定の記録時間内で記録されると共に所定の再生時間内でテストデータが再生されて、一の記録層に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出され、さらに、他の記録層においては、一の記録層におけるテスト記録時間よりも少ないテスト記録時間および一の記録層におけるテスト再生時間よりも少ないテスト再生時間のうちの少なくとも何れか一方を満たすテスト時間内に記録パルス条件が導出されるので、他の記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0029

また、本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定の情報記録長内のテストデータの記録が行われると共に所定の情報再生長内のテストデータの再生が行われて、一の記録層に適した記録パルス条件が導出され、さらに、他の記録層においては、一の記録層におけるテスト記録長よりも少ないテスト記録長および一の記録層におけるテスト再生長よりも少ないテスト再生長の少なくとも何れか一方を満たすように他の記録層にテストデータの記録及び再生が行われて記録パルス条件が導出されるので、他の記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0030

また、本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、所定のデータパターンからなるテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により一の記録層に適した記録パルス条件が導出され、さらに、他の記録層においては、一の記録層におけるテストデータとは異なるデータパターンを有するテストデータを用いてテスト記録が行われ、他の記録層の記録パルス条件が導出されるので、他の記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0031

また、本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に、複数種の所定データパターンを含むテストデータが記録され、これが再生されて一の記録層に適した記録パルス条件が導出され、さらに、他の記録層においては、一の記録層に用いた複数のデータパターンのうちの一部の種類のデータパターンを含むテストデータを用いてテスト記録が行われ、他の記録層の記録パルス条件が導出されるので、他の記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0032

また、本発明の光記録方法によれば、実際の情報記録に先立って一の記録層に所定のテストデータを記録してこれを再生するテストが所定の評価パラメータを用いて行われ、該テストの結果に基づいて一の記録層に適した記録パルス条件が導出され、さらに、他の記録層においては、一の記録層におけるテストの評価パラメータとは異なる評価パラメータを用いてテストが行われ、該テストの結果に基づいて他の記録層の記録パルス条件が導出されるので、他の記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0033

また、本発明の光記録装置によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。

0034

さらに、本発明のマイクロCPU素子によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。

0035

また、本発明のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録方法を容易に実現することができる。

発明を実施するための最良の形態

0036

以下、図面を参照して本発明の一実施形態を説明する。

0037

図1は本発明の第1実施形態における光記録装置の構成及び光ディスクの構成を示す図である。図において、10は光ディスクで、周知のDVD、HD−DVD、Blu−rayディスク等の多層型光記録媒体であり、本実施形態ではレーザ光照射面から最も離れた位置から第1記録層11、第2記録層12の順で2つの記録層を有する光記録媒体である。尚、本実施形態では2つの記録層を有する光記録媒体を用いて説明するが、3層以上の記録層を有する光記録媒体を光ディスク10として光記録装置100によって情報の記録再生を行うことができる。

0038

100は光記録装置で、光ピックアップ110と、レーザダイオード(以下、LDと称する)ドライバ121、スライサ122、データ復調回路123、特性値検出部124、ワンチップCPU素子(以下、CPUと称する)125、メモリ127、インタフェース(以下、I/Fと称する)128とを備えている。尚、ここでは、本発明に特に関係する構成部分のみを記載して説明する。

0039

また、光記録装置100には、パーソナルコンピュータディスプレイ等からなる表示部131と、キーボード等からなる操作部132が接続されている。

0040

光ピックアップ110は、レーザダイオード(以下、LDと称する)111と、フォトディテクタ(以下、PDと称する)112、コリメートレンズ113、対物レンズ114、検出レンズ115、ビームスプリッタ116を有している。LD111から射出されたレーザ光はコリメートレンズ113とビームスプリッタ116と対物レンズ114を透過して光ディスク10に照射される。また、光ディスク10によって反射されたレーザ光は対物レンズ114を透過した後にビームスプリッタ116によって反射され、検出レンズ115を介してPD112に入射される。PD112は入射した光の光量に対応した値の電流を出力する。

0041

LDドライバ121はCPU素子125から入力した記録信号に基づいてLD111に駆動電流を供給してLD111を発光させる。

0042

スライサ122は、PD112から出力電流を所定の閾値スライスして2値電圧信号に変換して出力する。

0043

データ復調回路123は、スライサ122から出力される符号化されている2値化信号を復調してCPU125に出力する回路であり、例えば、スライサ122から出力された2値化電圧信号である3T〜11Tのパルス幅でEFM変調されて符号化された信号を復調したディジタル信号をCPU125に出力する。

0044

特性値検出部124は、PD112から出力された電流信号を入力し、この電流値に基づいて光ディスク10からの反射光から特性値を検出してディジタル情報としてCPU125に出力する。この反射光から検出する特性値としては、例えば、記録レーザパワーや記録パルス条件に依存し、且つ記録パルス条件を最適化するのに相応しい特性値であればよく、本実施形態では、β、アシンメトリ(Asymmetry)、位相振幅等を検出している。

0045

CPU125は、周知のワンチップCPU素子で、内部にCPUをどうさせるためのコンピュータプログラムが格納されているメモリ回路126を備えている。また、CPU125は、駆動機構部(図示せず)を制御して光りピックアップ110の位置、トラッキングフォーカスの調整及び光ディスク10の回転駆動制御を行うと共に、メモリ127に蓄積されているデータテーブルに基づいて外部から入力されたデータを光ディスク10に記録する(書き込む)、或いは光ディスク10に記録されているデータを読み出して外部装置に出力する。また、後述する処理によって光ディスク10への情報の記録時におけるテストを行い最適なレーザ好条件を求めて、データの記録を行えるようにしている。

0046

メモリ回路127は、CPU125に接続され、内部には従来例と同様のストラテジテーブルとして他種類の光ディスクに対応したデータがデータテーブルに記録されている。

0047

I/F128はCPUと外部の表示部131及び操作部132を接続するためのインタフェースであると共に、外部装置とCPU125との間の記録・再生データ転送を行う。

0048

上記構成では、LD111から出力されたレーザ光を用いて、光ディスク10に対する情報の記録再生を行い、パーソナルコンピュータ(PC)等の外部装置との間でデータの送受信を行う。尚、光記録装置100は、光ディスク10へデータを記録するときに、第1記録層11、第2記録12の順に情報の記録を行うものである。

0049

光ディスク10に対して情報の記録を行う場合は、記録データを符号化し、この符号化した記録データをCPU125で処理することで、光ディスク10に対する記録条件となるストラデジを決定し、このストラテジをLDドライバ121で記録パルスに変換し、この記録パルスに基づいてパルス化されたレーザ光をLD111から出力する。

0050

LDドライバ121は、入力された記録パルスに基づいてLD111を駆動し、LD111はこの記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をコリメートレンズ113、ビームスプリッタ116、対物レンズ114を介して、線速度一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク10に照射し、これにより光ディスク10に、所望の記録データに対応したピットスペース列からなる記録パターンが記録される。

0051

また、光ディスク10にデータを記録する際には、周知のように光ディスク10のテスト領域にテストデータの記録及びその再生を行って最適なレーザ光の照射条件を決定する。本実施形態の光記録装置100では、このレーザ光の照射条件を決定するテスト時間を従来よりも短縮することができる。

0052

以下に、本実施形態におけるレーザ光の照射条件を決定する方法に関して詳細に説明する。

0053

図2は第1実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。

0054

即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図2に示す処理を実行する。処理を開始すると、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SA1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSA9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様の記録レーザ光強度最適化(OPC:Optimum Power Control ,以下OPCと称する)によって調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを所定回数行い、記録した情報を再生して(SA2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SA3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワーパルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。

0055

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SA4)。この特性関係式としては、例えば、図4グラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式、図5のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式、図6のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がり位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。ここでは、レーザパワーを段階的に変化させて記録したテストデータから2種類のパラメータ、すなわち図4のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式と、図5のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出している。

0056

この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SA5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SA6)。

0057

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SA7)、記録層の変更を必要とするときは前記SA1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SA8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SA6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0058

一方、前記SA1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いたのと同じ調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを第1記録層11における回数よりも少ない回数だけ行い、記録した情報を再生して(SA9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SA10)。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。

0059

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SA11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。

0060

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SA12)。

0061

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SA13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SA6)。

0062

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SA7)、記録層の変更を必要とするときは前記SA1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SA8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SA6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0063

上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11にテスト記録が行われて第1記録層11に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出されると共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層11におけるテスト時間よりも少ない時間内に記録パルス条件が導出されるので、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0064

上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第1記録層11以外の記録層に関してはレーザパワー調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。

0065

また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。

0066

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、光ディスク10としてHD−DVDを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。また、光ディスク10として周知のBlu−rayディスクを用いる場合はDVDとは規格が異なるため、第1記録層においては、図9のグラフに示すようなレーザパワー(Write PW)とアシンメトリー(Asymmetry)との関係を表した特性関係式と、図10のグラフに示すようなレーザパワー(Write PW)と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式と、図11のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出し、第1記録層以外の記録層においては、テストによって図12のグラフに示すようなレーザパワー(Write PW)と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を求め、これらの特性関係式の相関関係から他の記録層における図13のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測して、他の記録層における最適値を求めることができる。また、パルス幅調整用パラメータ(評価指標)とは、位相ずれ、長さずれ、振幅ずれを意味するものである。

0067

次に、本発明の第2実施形態を説明する。

0068

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第2実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0069

以下に、本実施形態におけるレーザ光の記録パルス条件を決定する方法に関して詳細に説明する。

0070

図14は第2実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。

0071

即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図14に示すように、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SB1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSB9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様のOPCによって調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを所定の使用領域内で行い、記録した情報を再生して(SB2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SB3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。

0072

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SB4)。この特性関係式は、第1実施形態と同じである。

0073

この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SB5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SB6)。

0074

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SB7)、記録層の変更を必要とするときは前記SB1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SB8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SB6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0075

一方、前記SB1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いたのと同じ調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを第1記録層11における使用領域よりも少ない使用領域を用いて行い、記録した情報を再生して(SB9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SB10)。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。

0076

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SB11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。

0077

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SB12)。

0078

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SB13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SB6)。

0079

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SB7)、記録層の変更を必要とするときは前記SB1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SB8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SB6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0080

上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11に所定のテスト使用領域にテスト記録が行われて第1記録層11に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出されると共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層11におけるテスト使用領域よりも少ないテスト使用領域を用いてテスト記録が行われ記録パルス条件が導出されるので、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0081

また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。

0082

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0083

次に、本発明の第3実施形態を説明する。

0084

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第3実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0085

図15は第3実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。

0086

即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図15に示すように、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SC1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSC9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様のOPCによって調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを所定の記録時間で行い、記録した情報を再生して(SC2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SC3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。

0087

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SC4)。この特性関係式は、第1実施形態と同じである。

0088

この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SC5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SC6)。

0089

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SC7)、記録層の変更を必要とするときは前記SC1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SC8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SC6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0090

一方、前記SC1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いたのと同じ調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを第1記録層11における記録時間よりも少ない記録時間で行い、記録した情報を再生して(SC9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SC10)。この際、テストデータの再生に要する時間も第1記録層11における再生時間よりも短くなる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。

0091

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SC11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。

0092

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SC12)。

0093

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SC13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SC6)。

0094

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SC7)、記録層の変更を必要とするときは前記SC1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SC8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SC6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0095

上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11に、テストデータが所定の記録時間内で記録されると共に所定の再生時間内でテストデータが再生されて、第1記録層11に適した記録パルス条件が所定のテスト時間内で導出されると共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層11におけるテスト記録時間よりも少ないテスト記録時間および第1記録層11におけるテスト再生時間よりも少ないテスト再生時間のうちの少なくとも何れか一方を満たすテスト時間内に記録パルス条件が導出されるので、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0096

また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。

0097

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0098

次に、本発明の第4実施形態を説明する。

0099

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第4実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0100

図16は第4実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。

0101

即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図16に示すように、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SD1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSD9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様のOPCによって所定記録長の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを行い、記録した情報を再生して(SD2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SD3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。

0102

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SD4)。この特性関係式は、第1実施形態と同じである。

0103

この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SD5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SD6)。

0104

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SD7)、記録層の変更を必要とするときは前記SD1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SD8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SD6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0105

一方、前記SD1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いた調整用データパターンの記録長よりも短い記録長の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを行い、記録した情報を再生して(SD9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SD10)。この際、テストデータの記録及び再生に要する時間は第1記録層11における記録時間及び再生時間よりも短くなる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。

0106

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SD11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。

0107

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SD12)。

0108

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SD13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SD6)。

0109

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SD7)、記録層の変更を必要とするときは前記SD1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SD8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SD6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0110

上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11に、所定の情報記録長内のテストデータの記録が行われると共に所定の情報再生長内のテストデータの再生が行われて、第1記録層11に適した記録パルス条件が導出されると共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層11におけるテスト記録長よりも少ないテスト記録長および第1記録層11におけるテスト再生長よりも少ないテスト再生長の少なくとも何れか一方を満たすように第2記録層12にテストデータの記録及び再生が行われて記録パルス条件が導出されるので、第2記録層の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0111

また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。

0112

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0113

次に、本発明の第5実施形態を説明する。

0114

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第5実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0115

図17は第5実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。

0116

即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図17に示すように、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SE1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSE9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様のOPCによって所定の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを行い、記録した情報を再生して(SE2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SE3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。

0117

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SE4)。この特性関係式は、第1実施形態と同じである。

0118

この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SE5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SE6)。

0119

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SE7)、記録層の変更を必要とするときは前記SE1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SE8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SE6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0120

一方、前記SE1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いた調整用データパターンとは異なる調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを行い、記録した情報を再生して(SE9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SE10)。この際、第2記録層12において用いる調整用データパターンとしては、例えば、パルス幅の変動が顕著に現れる短いパルス幅の信号を並べたデータパターンを用いている。このようにパルス幅が短い信号のみを並べたデータパターンを用いるので、第1記録層11のテストに比べてデータパターンの記録及び再生に要する時間を短縮することができる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。

0121

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SE11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。

0122

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SE12)。

0123

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SE13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SE6)。

0124

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SE7)、記録層の変更を必要とするときは前記SE1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SE8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SE6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0125

上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11に、所定のデータパターンからなるテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により第1記録層11に適した記録パルス条件が導出されと共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層におけるテストデータとは異なるデータパターンを有するテストデータを用いてテスト記録が行われ、第2記録層12の記録パルス条件が導出されるので、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0126

また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。

0127

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0128

次に、本発明の第6実施形態を説明する。

0129

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第6実施形態では記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0130

図18は第6実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へデータを記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へデータを記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。

0131

即ち、第1記録層11にデータを記録する際には、図18に示すように、光ディスク10の第1記録層11への記録か否かを判定する(SF1)。第1記録層11以外の記録層へ情報の記録を行う場合は後述するSF9の処理に移行し、第1記録層11へデータを記録する場合は、従来と同様のOPCによって所定の複数種類の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録によるテストを行い、記録した情報を再生して(SF2)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SF3)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図3に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。

0132

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SF4)。この特性関係式は、第1実施形態と同じである。

0133

この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出し(SF5)、この最適記録パルス条件を用いて第1記録層11への実際の情報記録を行う(SF6)。

0134

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SF7)、記録層の変更を必要とするときは前記SF1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SF8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SF6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0135

一方、前記SF1の判定の結果、情報の記録を第1記録層11以外の記録層に行う場合は、まず、従来と同様のOPCによって、第1記録層11のテストに用いた複数種類の調整用データパターンのうちの一部の種類の調整用データパターンを用いてレーザパワー調整用テスト記録だけによるテストを行い、記録した情報を再生して(SF9)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(特性値)を検出する(SF10)。この際、第2記録層12において用いる調整用データパターンとしては、第1記録層11において用いた複数種類のデータパターンのうちの一部の種類のみを用いるので、第1記録層11のテストに比べてデータパターンの記録及び再生に要する時間を短縮することができる。尚、レーザパワー調整用テスト記録は図3示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。

0136

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SF11)。この特性関係式としては、例えば、図7のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。このように、第2記録層12への記録を行う際には、第1記録層11とは異なる特性関係式のみを導出しているため、これによっても時間短縮を図ることができる。

0137

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SF12)。

0138

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適記録パルス条件を導出する(SF13)。この後、前記求めた最適記録パルス条件を用いて光ディスク10への情報の記録を行う(SF6)。

0139

次いで、データの記録の途中で記録層の変更が必要か否かを判定し(SF7)、記録層の変更を必要とするときは前記SF1の処理に移行し、必要ないときは情報の記録を終了したか否かを判定する(SF8)。この判定の結果、情報の記録を終了していないときは前記SF6の処理に移行し、情報の記録を終了したときは、処理を終了する。

0140

上記実施形態によれば、実際の情報記録に先立って第1記録層11に、複数種の所定のデータパターンを含むテストデータが記録され、これが再生され、該テスト記録により第1記録層11に適した記録パルス条件が導出されと共に、第2記録層12においては、レーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っておらず、第1記録層11における複数種データパターンのうちの一部の種類のデータパターンをを用いてテスト記録が行われ、第2記録層12の記録パルス条件が導出されるので、第2記録層12の記録パルス条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0141

また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。

0142

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0143

また、上記実施形態は、本発明の一具体例にすぎず、本発明が上記実施形態の構成のみに限定されることはない。例えば、上記実施形態では2層の記録層11,12を有する光ディスク10を用いて説明したが、3層以上の記録層を有する光ディスクへの情報の記録においても同様の効果を得ることができることは言うまでもない。

0144

また、上記各実施形態では、第1記録層11を基準として他の記録層12への照射レーザ光の最適値を短時間で求めるようにしたが、第1記録層以外の記録層を基準として他の記録層への照射レーザ光の最適値を短時間で求めるようにしても良い。また、上記各実施形態ではレーザ光照射面から離れた位置にある第1記録層11から順に照射面に近い位置にある第2記録層12へと順に情報記録を行うようにしたがこれに限定されることはなく、第1記録層11以外の記録層を初めとして情報記録を行うようにしても良い。

図面の簡単な説明

0145

本発明の第1実施形態における光記録装置の構成及び光ディスクの構成を示す図
本発明の第1実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
レーザパワー調整用テスト記録における段階的なレーザパワー変化を説明する図
レーザパワーとβとの関係を表した特性関係を示す図
レーザパワーとパルス位相との関係を表した特性関係を示す図
パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
レーザパワーとパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
レーザパワーとアシンメトリーとの関係を表した特性関係を示す図
レーザパワーと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
レーザパワーと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
本発明の第2実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第3実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第4実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第5実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第6実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャート
従来例のストラテジテーブルを示す図
従来例のストラテジテーブルを示す図

符号の説明

0146

10…光ディスク(記録媒体)、11…第1記録層(一の記録層)、12…第2記録層(他の記録層)、100…光記録装置、110…光ピックアップ、111…レーザダイオード(LD)、112…フォトディテクタ(PD)、113…コリメートレンズ、114…対物レンズ、115…検出レンズ、116…ビームスプリッタ、121…LDドライバ、122…スライサ、123…データ復調回路、124…特性値検出部、125…ワンチップCPU素子(CPU)、126…メモリ回路、127…メモリ、128…インタフェース(I/F)、131…表示部、132…操作部。

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