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技術 光記録方法、評価指標取得方法、光記録装置、マイクロCPU素子、及びコンピュータプログラム

出願人 太陽誘電株式会社
発明者 垣本博哉宮澤冬樹関口慎生
出願日 2005年8月9日 (16年6ヶ月経過) 出願番号 2005-230529
公開日 2007年2月22日 (14年11ヶ月経過) 公開番号 2007-048359
状態 拒絶査定
技術分野 光学的記録再生1 光ヘッド
主要キーワード 切り替え数 特性関係 レーザ光照射条件 切替回数 パルス対 テスト手段 回転速度一定 スペース列
関連する未来課題
重要な関連分野

この項目の情報は公開日時点(2007年2月22日)のものです。
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図面 (20)

課題

情報記録前テスト時間を短縮して情報を短時間で記録できる光記録方法評価指標取得方法光記録装置ワンチップCPU素子、及びコンピュータプログラムを提供する。

解決手段

第1記録層11に対して記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行い、第1記録層11への情報の記録に適した照射条件導出し、第1記録層のテストにて行ったテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、第2及び第3記録層12,13にテスト情報の記録及び再生を行い、第1記録層11のテスト結果と第2或いは第3記録層12,13のテスト結果とに基づいて、第2或いは第3記録層12,13への情報の記録に適した照射条件を導出する。これにより、第2及び第3記録層12,13の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができる。

概要

背景

従来、レーザ光を用いて周知のDVD等の光記録メディア光記録媒体)にデータを記録する光記録装置において、所定の記録メディアデータ記録を行う場合、一般的には、実際のデータ記録に先立って、記録メディア内に設けられたテスト記録領域を用いたテスト記録によって、記録メディアに適した記録条件を求めることがなされている。

しかし、高速および大容量記録要求の高まる光記録装置において、複数の記録層を有する多層型光記録メディアにデータ記録を行う際、各記録層によって記録感度、光の反射率熱伝導率等の記録特性が異なるため、該各記録層に応じた記録パルス条件を求める必要がある。

このような記録パルス条件を求める従来技術としては、図25及び図26に示すように、各記録メディアの種類毎に記録速度等の条件に応じて、各記録層毎に良好な記録が可能な記録パルス条件を記録したデータテーブルを記録ドライブ(光記録装置)のメモリに予め持たせておき、実際に記録メディアにデータ記録を行う際には、記録メディア種別、記録層、記録速度に応じた記録パルス条件を上記データテーブルから読み出して、これを設定し、データの記録を行うといった方法が一般的に用いられている。

また、記録ドライブ自体の個体差バラツキ或いはレーザ温度依存性等を考慮し、記録レーザパワーの条件のみをデータ記録に先立って行われるテスト記録において調整を行うといった方法も一般的に用いられている。
特開2005−100610号公報
特開2003−22532号公報
特開2004−171740号公報
特開2004−247024号公報
WO2002−029791号公報
特開2003−178448号公報

概要

情報記録前テスト時間を短縮して情報を短時間で記録できる光記録方法評価指標取得方法、光記録装置、ワンチップCPU素子、及びコンピュータプログラムを提供する。第1記録層11に対して記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行い、第1記録層11への情報の記録に適した照射条件導出し、第1記録層のテストにて行ったテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、第2及び第3記録層12,13にテスト情報の記録及び再生を行い、第1記録層11のテスト結果と第2或いは第3記録層12,13のテスト結果とに基づいて、第2或いは第3記録層12,13への情報の記録に適した照射条件を導出する。これにより、第2及び第3記録層12,13の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができる。

目的

従って、データ記録を行う記録メディアおよび記録ドライブの特性に応じて、記録速度毎最適記録条件を短時間で求めるための技術開発が望まれている。

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

この技術が所属する分野

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請求項1

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体レーザ光照射して情報の記録を行う際に、各記録層テスト領域テスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行することを特徴とする光記録方法。

請求項2

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行することを特徴とする光記録方法。

請求項3

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップで用いたテスト記録条件数より少ない条件数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行することを特徴とする光記録方法。

請求項4

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行し、前記基準記録層テストステップは、前記一の記録層にテスト情報の記録を行う第1テスト情報記録ステップと、前記第1テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第1テスト情報再生ステップを含み、前記他の記録層テストステップは、前記他の記録層にテスト情報の記録を行う第2テスト情報記録ステップと、前記第2テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第2テスト情報再生ステップとを含み、前記第1テスト情報記録ステップと前記第1テスト情報再生ステップとを切り替え回数よりも前記第2テスト情報記録ステップと前記第2テスト情報再生ステップとを切り替える回数が少なく設定されていることを特徴とする光記録方法。

請求項5

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットを複数回実行する基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記他の記録層に、前記基準記録層テストステップにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行することを特徴とする光記録方法。

請求項6

前記基準記録層テストステップでは、前記一の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生並びにパルス幅の記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生の双方を行い、前記他の記録層テストステップでは、前記他の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生又はパルス幅の記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生の何れか一方を行うことを特徴とする請求項1乃至請求項5の何れかに記載の光記録方法。

請求項7

前記基準記録層テストステップでは、前記一の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生並びにパルス幅の記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生の双方を行い、前記他の記録層テストステップでは、前記他の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生を行い、前記他の記録層照射条件導出ステップでは、前記基準記録層テストステップにおいて得られたレーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整評価指標及びパルス幅調整用評価指標と、前記他の記録層テストステップにおいて得られたレーザパワーの段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標とから、前記他の記録層におけるパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するパルス幅調整用評価指標を導出し、さらに、前記光記録装置は、前記他の記録層におけるレーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標及びパルス幅調整用評価指標が情報の記録に適した所定の値になるように前記他の記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する調整ステップを実行することを特徴とする請求項1乃至請求項5の何れかに記載の光記録方法。

請求項8

前記基準記録層テストステップでは、前記一の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生並びにパルス幅の記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生の双方を行い、前記他の記録層テストステップでは、前記他の記録層に、パルス幅の記録条件を段階的に変化させるテスト情報の記録及び再生を行い、前記他の記録層照射条件導出ステップでは、前記基準記録層テストステップにおいて得られたレーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標及びパルス幅調整用評価指標と、前記他の記録層テストステップにおいて得られたパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するパルス幅調整用評価指標とから、レーザパワーの段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を導出し、さらに、前記光記録装置は、前記他の記録層におけるレーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標及びパルス幅調整用評価指標が情報の記録に適した所定の値になるように前記他の記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する調整ステップを実行することを特徴とする請求項1乃至請求項5の何れかに記載の光記録方法。

請求項9

さらに前記光記録装置は、予め定められた所定の記録速度において、前記調整ステップによる調整によって所定の品位での記録が可能な場合を記録可能と判断すると共に、前記調整ステップによる調整によって所定の品位での記録が不可能な場合を記録困難と判断する判断ステップを実行することを特徴とする請求項7又は請求項8に記載の光記録方法。

請求項10

さらに前記光記録装置は、前記判断ステップにおいて予め定められた所定の記録速度で記録可能と判断された場合に、当該所定の記録速度で実記録を行い、前記判断ステップにおいて当該所定の記録速度では記録困難と判断された場合に、当該所定の記録速度よりも低い記録速度で記録を行うか又は記録を中止する制御ステップを実行することを特徴とする請求項9に記載の光記録方法。

請求項11

前記光記録装置は、前記判断ステップにおいて予め定められた所定の記録速度で記録可能と判断された場合に、当該所定の記録速度で実記録を行い、前記判断ステップにおいて当該所定の記録速度では記録困難と判断された場合には、前記他の記録層テストステップを再度実行することを特徴とする請求項9に記載の光記録方法。

請求項12

さらに前記光記録装置は、前記判断ステップによる判断結果または判断結果に対する処理内容の少なくとも何れか一方を表示する表示ステップを実行することを特徴とする請求項9乃至請求項11の何れかに記載の光記録方法。

請求項13

さらに前記光記録装置は、前記判断ステップによる判断結果または判断結果に対する処理内容の少なくとも何れか一方を、テスト記録が行われた記録媒体又はテスト記録を行った当該光記録装置の少なくとも何れか一方に記録するステップを実行することを特徴とする請求項9乃至請求項12の何れかに記載の光記録方法。

請求項14

さらに前記光記録装置は、前記判断ステップによる判断結果と、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて導出された評価指標と、前記調整ステップにおける調整結果を示すデータのうちの少なくとも何れか1つを、テスト記録が行われた記録媒体又はテスト記録を行った当該光記録装置の少なくとも何れか一方に記録するステップを実行することを特徴とする請求項9に記載の光記録方法。

請求項15

前記評価指標及び前記調整結果を示すデータのうちの一方は、テスト記録条件に関するデータを含むことを特徴とする請求項14に記載の光記録方法。

請求項16

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件を決定するための評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層にレーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、前記テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報の再生を行うに際して、レーザパワーの記録条件の変化に対するパルス位相ずれ及び長さずれ及び振幅ずれのうちの少なくとも何れか1つを含むパルス幅調整用評価指標の変化を取得する取得ステップと、前記レーザパワーの変化と前記取得したパルス幅調整用評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、前記他の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第2のテスト情報記録ステップと、前記第2のテスト記録の結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるレーザパワーの変化に対するパルス幅調整用評価指標の変化の関係を算出する算出ステップと、前記算出ステップで得られた関係を用いて前記他の記録層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標を求めるステップとを実行することを特徴とする評価指標取得方法。

請求項17

光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件の評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層にパルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、前記テスト情報記録ステップにより前記一の記録層に記録されたテスト情報の再生を行うに際して、パルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を取得する取得ステップと、前記パルス幅の変化と前記レーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、前記他の記録層に、パルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第2のテスト情報記録ステップと、前記第2のテスト記録結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標の変化の関係を算出する算出ステップと、前記算出ステップで得られた関係を用いて前記他の記録層におけるレーザパワー条件を決定するためのレーザパワー調整用評価指標を求めるステップとを実行することを特徴とする評価指標取得方法。

請求項18

光記録装置が、記録媒体の記録層にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、前記記録層に情報の記録及び情報の再生を行ってレーザ光の照射条件の評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、前記光記録装置は、前記記録層にテスト記録情報および/またはユーザーデータ記録情報の記録を行う情報記録ステップと、前記情報記録ステップにより記録された情報を再生し、該再生情報から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標を取得するステップとを実行することを特徴とする評価指標取得方法。

請求項19

前記複数種の評価指標は少なくともレーザパワー調整用評価指標とパルス幅調整用評価指標の何れかを含むことを特徴とする請求項18に記載の評価指標取得方法。

請求項20

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テスト手段と、前記基準記録層テスト手段により得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出手段と、前記基準記録層テスト手段によって行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テスト手段と、前記基準記録層テスト手段により得られたテスト結果と、前記他の記録層テスト手段により得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項21

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テスト手段と、前記基準記録層テスト手段により得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出手段と、前記基準記録層テスト手段によって行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テスト手段と、前記基準記録層テスト手段により得られたテスト結果と、前記他の記録層テスト手段により得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項22

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、前記一の記録層に複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テスト手段と、前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出手段と、前記基準記録層テスト手段で用いたテスト記録条件数より少ない条件数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テスト手段と、前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果と、前記他の記録層テスト手段によって得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項23

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、前記一の記録層に複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録を行う第1テスト情報記録手段と、前記第1テスト情報記録手段により記録されたテスト情報を再生する第1テスト情報再生手段と、前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出手段と、前記他の記録層にテスト情報の記録を行う第2テスト情報記録手段と、前記第2テスト情報記録手段により記録されたテスト情報を再生する第2テスト情報再生手段と、前記第1テスト情報記録手段によるテスト情報の記録と前記第1テスト情報再生手段によるテスト情報の再生とを切り替える回数よりも、前記第2テスト情報記録手段によるテスト情報の記録と前記第2テスト情報再生手段によるテスト情報の再生とを切り替える回数を少なくして、前記テスト情報の記録と再生を切り替える切替手段と、前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果と、前記他の記録層テスト手段によって得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項24

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、前記一の記録層に、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットを複数回実行する基準記録層テスト手段と、前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出手段と、前記他の記録層に、前記基準記録層テスト手段におけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テスト手段と、前記基準記録層テスト手段によって得られたテスト結果と、前記他の記録層テスト手段によって得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項25

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、前記一の記録層にレーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録手段と、前記テスト情報記録手段によって記録されたテスト情報の再生を行うに際して、レーザパワーの記録条件の変化に対するパルスの位相ずれ及び長さずれ及び振幅ずれのうちの少なくとも何れか1つを含むパルス幅評価指標の変化を取得する取得手段と、前記レーザパワーの変化とパルス幅評価指標の変化との相関関係を求める相関関係取得手段と、前記他の層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第2のテスト情報記録手段と、前記第2のテスト記録の結果を前記相関関係取得手段によって求めた相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅の変化に対するパルス幅評価指標の変化の関係を算出する算出手段と、前記算出手段によって得られた関係を用いて前記他の層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標を求めるパルス幅調整用評価指標取得手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項26

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件の評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、前記一の記録層にパルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録手段と、前記テスト情報記録手段によって前記一の記録層に記録されたテスト情報の再生を行うに際して、パルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を取得するレーザパワー調整用評価指標取得手段と、前記パルス幅の変化と前記レーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係を求める相関取得手段と、前記他の記録層に、パルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第2のテスト情報記録手段と、前記第2のテスト記録結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を算出する算出手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項27

記録媒体の記録層にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、前記記録層に情報の記録及び情報の再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置であって、前記記録層にテスト記録情報および/またはユーザーデータ記録情報の記録を行う情報記録手段と、前記情報記録手段によって記録された情報を再生し、該再生情報から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標を取得する評価指標取得手段とを備えていることを特徴とする光記録装置。

請求項28

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップによって行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項29

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項30

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、前記一の記録層に複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップで用いたテスト記録条件数より少ない条件数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項31

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、前記一の記録層に複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録を行う第1テスト情報記録ステップと、前記第1テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第1テスト情報再生ステップと、前記基準記録層テストステップによって得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記他の記録層にテスト情報の記録を行う第2テスト情報記録ステップと、前記第2テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第2テスト情報再生ステップと、前記第1テスト情報記録ステップによるテスト情報の記録と前記第1テスト情報再生手段によるテスト情報の再生とを切り替える回数よりも、前記第2テスト情報記録手段によるテスト情報の記録と前記第2テスト情報再生手段によるテスト情報の再生とを切り替える回数を少なくして、前記テスト情報の記録と再生を切り替えるステップと、前記基準記録層テストステップによって得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップによって得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項32

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、前記一の記録層に、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットを複数回実行する基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記他の記録層に、前記基準記録層テストステップにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項33

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、前記一の記録層にレーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、前記テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報の再生を行うに際して、レーザパワーの記録条件の変化に対するパルスの位相ずれ及び長さずれ及び振幅ずれのうちの少なくとも何れか1つを含むパルス幅評価指標の変化を取得する取得ステップと、前記パワーの変化とパルス幅評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、前記他の層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第2のテスト情報記録ステップと、前記第2のテスト記録の結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅の変化に対するパルス幅評価指標の変化の関係を算出する算出ステップと、前記算出ステップで得られた関係を用いて前記他の層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標を求めるステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項34

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、前記一の記録層にパルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、前記テスト情報記録ステップにより前記一の記録層に記録されたテスト情報の再生を行うに際して、パルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を取得する取得ステップと、前記パルス幅の変化と前記レーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、前記他の記録層に、パルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第2のテスト情報記録ステップと、前記第2のテスト記録結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を算出する算出ステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項35

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層に情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるワンチップCPU素子であって、動作制御を行うコンピュータプログラムが記録されているメモリ回路を有し、前記メモリ回路には、前記記録層にテスト記録情報および/またはユーザデータ記録情報の記録を行う記録ステップと、前記情報記録ステップにより記録された情報を再生し、該再生情報から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標を取得するステップとを含むコンピュータプログラムが格納されていることを特徴とするワンチップCPU素子。

請求項36

一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録装置に用いるCPU素子を動作させるコンピュータプログラムであって、前記請求項1乃至請求項19の何れかに記載の処理ステップを含むことを特徴とするコンピュータプログラム。

技術分野

0001

本発明は、複数の記録層を有する光記録媒体への情報の記録に関するもので、特に、情報書き込み時のテスト時間を短縮可能な光記録方法評価指標取得方法光記録装置マイクロCPU素子、及びコンピュータプログラムに関するものである。

背景技術

0002

従来、レーザ光を用いて周知のDVD等の光記録メディア(光記録媒体)にデータを記録する光記録装置において、所定の記録メディアデータ記録を行う場合、一般的には、実際のデータ記録に先立って、記録メディア内に設けられたテスト記録領域を用いたテスト記録によって、記録メディアに適した記録条件を求めることがなされている。

0003

しかし、高速および大容量記録要求の高まる光記録装置において、複数の記録層を有する多層型光記録メディアにデータ記録を行う際、各記録層によって記録感度、光の反射率熱伝導率等の記録特性が異なるため、該各記録層に応じた記録パルス条件を求める必要がある。

0004

このような記録パルス条件を求める従来技術としては、図25及び図26に示すように、各記録メディアの種類毎に記録速度等の条件に応じて、各記録層毎に良好な記録が可能な記録パルス条件を記録したデータテーブルを記録ドライブ(光記録装置)のメモリに予め持たせておき、実際に記録メディアにデータ記録を行う際には、記録メディア種別、記録層、記録速度に応じた記録パルス条件を上記データテーブルから読み出して、これを設定し、データの記録を行うといった方法が一般的に用いられている。

0005

また、記録ドライブ自体の個体差バラツキ或いはレーザ温度依存性等を考慮し、記録レーザパワーの条件のみをデータ記録に先立って行われるテスト記録において調整を行うといった方法も一般的に用いられている。
特開2005−100610号公報
特開2003−22532号公報
特開2004−171740号公報
特開2004−247024号公報
WO2002−029791号公報
特開2003−178448号公報

発明が解決しようとする課題

0006

しかしながら、上記従来技術においては、有限である記録ドライブのメモリ容量への負担が大きく、高容量のメモリーを用いた場合は記録ドライブのコストアップに繋がるため、対応できる記録メディアの数が制限されるといった第1の課題点を有する。

0007

また記録レーザパワーのみで補えない記録メディアおよび記録ドライブの持つ特性バラツキに十分に対応できず、さらには記録ドライブのメモリに予め記憶されなかった記録メディアおよび記録ドライブが発売された後に発売された記録メディア等の「未知の種類の光記録メディア」に対しても、一部ではファームアップという形で対応しているが、十分な対応ができないといった第2の課題点を有する。

0008

従って、データ記録を行う記録メディアおよび記録ドライブの特性に応じて、記録速度毎最適記録条件を短時間で求めるための技術開発が望まれている。

0009

本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録できる光記録方法、評価指標取得方法、光記録装置、ワンチップCPU素子、及びコンピュータプログラムを提供することである。

課題を解決するための手段

0010

本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域テスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。

0011

本発明の光記録方法によれば、前記基準記録層テストステップにおいて、前記一の記録層に対して、記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記基準記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出される。

0012

さらに、前記他の記録層テストステップにおいて、前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われる。

0013

また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。

0014

本発明によれば、前記基準記録層テストステップにおいて、前記一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記基準記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出される。

0015

さらに、前記他の記録層テストステップにおいて、前記基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われる。

0016

また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記基準記録層テストステップで用いたテスト記録条件数より少ない条件数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。

0017

本発明によれば、前記基準記録層テストステップにおいて、前記一の記録層に対して、複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記基準記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出される。

0018

さらに、前記他の記録層テストステップにおいて、前記基準記録層テストステップで用いたテスト記録条件数より少ない条件数で前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われる。

0019

また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生を行う基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記他の記録層にテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行し、前記基準記録層テストステップは、前記一の記録層にテスト情報の記録を行う第1テスト情報記録ステップと、前記第1テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第1テスト情報再生ステップを含み、前記他の記録層テストステップは、前記他の記録層にテスト情報の記録を行う第2テスト情報記録ステップと、前記第2テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第2テスト情報再生ステップとを含み、前記第1テスト情報記録ステップと前記第1テスト情報再生ステップとを切り替え回数よりも前記第2テスト情報記録ステップと前記第2テスト情報再生ステップとを切り替える回数が少なく設定されている光記録方法を提案する。

0020

本発明によれば、前記基準記録層テストステップにおいて、前記一の記録層に対して、複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録を行う第1テスト情報記録ステップと、前記第1テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第1テスト情報再生ステップが、所定回数切り替えて実行される。

0021

さらに、基準記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出される。

0022

また、前記他の記録層テストステップにおいて、前記他の記録層にテスト情報の記録を行う第2テスト情報記録ステップと、前記第2テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報を再生する第2テスト情報再生ステップが、前記基準記録層テストステップにおける切替回数よりも少なく設定された回数切り替えられて実行される。

0023

さらに、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われる。

0024

また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報の記録及び再生を行ってレーザ光の照射条件を導出し、該照射条件を用いて前記記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う光記録方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層に、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットを複数回実行する基準記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する基準記録層照射条件導出ステップと、前記他の記録層に、前記基準記録層テストステップにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生を行う他の記録層テストステップと、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と、前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件を導出する他の記録層照射条件導出ステップとを実行する光記録方法を提案する。

0025

本発明によれば、前記基準記録層テストステップにおいて、前記一の記録層に対して、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットが複数回実行され、また、前記基準記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出される。

0026

さらに、他の記録層テストステップにおいて、前記他の記録層に対して、前記基準記録層テストステップにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生が行われ、また、前記他の記録層照射条件導出ステップにおいて、前記基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と前記他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、前記他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われる。

0027

また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件を決定するための評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層にレーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、前記テスト情報記録ステップにより記録されたテスト情報の再生を行うに際して、レーザパワーの記録条件の変化に対するパルス位相ずれ及び長さずれ及び振幅ずれのうちの少なくとも何れか1つを含むパルス幅評価指標の変化を取得する取得ステップと、前記パワーの変化とパルス幅評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、前記他の記録層に、レーザパワーの記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第2のテスト情報記録ステップと、前記第2のテスト記録の結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅の変化に対するパルス幅評価指標の変化の関係を算出する算出ステップと、前記算出ステップで得られた関係を用いて前記他の記録層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標を求めるステップとを実行する評価指標取得方法を提案する。

0028

本発明の評価指標取得方法によれば、前記一の記録層におけるレーザパワーの変化とパルス幅評価指標の変化との相関関係と、前記他の記録層におけるレーザパワーの変化に対するパルス幅評価指標の変化の関係が算出され、該関係を用いて前記他の記録層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標が求められる。

0029

また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、一の記録層と他の記録層とを含む複数層からなる記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、各記録層のテスト領域にテスト情報を記録した後に該記録したテスト情報の再生を行ってレーザ光の照射条件の評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、前記光記録装置は、前記一の記録層にパルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行うテスト情報記録ステップと、前記テスト情報記録ステップにより前記一の記録層に記録されたテスト情報の再生を行うに際して、パルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標を取得する取得ステップと、前記パルス幅の変化と前記レーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係を求めるステップと、前記他の記録層に、パルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録を行う第2のテスト情報記録ステップと、前記第2のテスト記録結果を前記相関関係に適合させて他の記録層におけるパルス幅記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標の変化の関係を算出する算出ステップと、前記算出ステップで得られた関係を用いて前記他の記録層におけるレーザパワー条件を決定するためのレーザパワー調整用評価指標を求めるステップとを実行する評価指標取得方法を提案する。

0030

本発明の評価指標取得方法によれば、一の記録層にパルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録が行われ、一の記録層に記録されたテスト情報の再生を行うに際して、パルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標が取得される。さらに、パルス幅の変化とレーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係が求められる。また、他の記録層に対して、パルス幅の記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録が行われ、この記録結果が前記相関関係に適合されて他の記録層におけるパルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標が算出される。

0031

また、本発明は、上記課題を解決するために、光記録装置が、記録媒体の記録層にレーザ光を照射して情報の記録を行う際に、前記記録層に情報の記録及び情報の再生を行ってレーザ光の照射条件の評価指標を取得し、該評価指標を用いてレーザ光の照射条件を調整する光記録方法における評価指標取得方法であって、前記光記録装置は、前記記録層にテスト記録情報および/またはユーザーデータ記録情報の記録を行う記録ステップと、前記情報記録ステップにより記録された情報を再生し、該再生情報から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標を取得するステップとを実行する評価指標取得方法を提案する。

0032

本発明の評価指標取得方法によれば、前記記録層に情報の記録が行われ、これにより記録された情報が再生されて、該再生情報及び前記記録条件から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標が取得される。

0033

また、本発明は、上記課題を解決するために、上記光記録方法における各処理ステップを実行する手段を備えた光記録装置と、該光記録装置に用いるワンチップCPU素子、及び前記光記録装置に用いるCPUを駆動して前記光記録方法を実行するコンピュータプログラムを提案する。

発明の効果

0034

本発明の光記録方法によれば、一の記録層に対して、記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、これにより得られたテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、一の記録層のテスト結果と他の記録層のテスト結果とに基づいて、他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて他の記録層への情報記録が行われるので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0035

また、本発明の光記録方法によれば、一の記録層に記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、このテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、基準記録層テストステップにて行われたテスト記録条件のうちの何れか一種類のテスト記録条件で、他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、一の記録層のテスト結果と他の記録層のテスト結果とに基づいて、他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われるので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0036

また、本発明の光記録方法によれば、一の記録層に対して、複数回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生が行われ、このテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、基準記録層テストステップで用いたテスト記録条件数より少ない条件数で他の記録層にテスト情報の記録及び再生が行われ、基準記録層テストステップにより得られたテスト結果と他の記録層テストステップにより得られたテスト結果とに基づいて、他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて他の記録層への情報記録が行われるので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0037

また、本発明の光記録方法によれば、一の記録層に対して複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が所定回数切り替えて実行され、このテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、他の記録層に対してテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が前記一の記録層における切替回数よりも少ない回数切り替えられて実行され、一の記録層のテスト結果と他の記録層のテスト結果とに基づいて、他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われるので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0038

また、本発明の光記録方法によれば、一の記録層に対して、記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットが複数回実行され、このテスト結果に基づいて一の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、他の記録層に対して、前記一の記録層のテストにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ない回数にてテスト情報の記録及び再生が行われ、一の記録層のテスト結果と他の記録層のテスト結果とに基づいて、他の記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて前記他の記録層への情報記録が行われるので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0039

また、本発明の評価指標取得方法によれば、一の記録層におけるレーザパワーの変化とパルス幅評価指標の変化との相関関係と、他の記録層におけるレーザパワーの変化に対するパルス幅評価指標の変化の関係が算出され、該関係を用いて前記他の記録層におけるパルス幅条件を決定するためのパルス幅調整用評価指標が求められるため、前記他の記録層におけるパルス幅評価指標が計算によって算出され、このパルス幅評価指標を求めるために実際のテスト記録を行う必要がないので、他の記録層の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0040

また、本発明の評価指標取得方法によれば、一の記録層におけるパルス幅の変化とレーザパワー調整用評価指標の変化との相関関係に対して、他の記録層においてパルス幅の記録条件を段階的に変化させて行われたテストの記録結果が適合されて、他の記録層におけるパルス幅の記録条件の変化に対するレーザパワー調整用評価指標が算出されるため、評価指標の種類毎にテスト情報の記録を行う必要がないので、テスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0041

また、本発明の評価指標取得方法によれば、記録層に記録条件を段階的に変化させてテスト情報の記録が行われ、これにより記録されたテスト情報が再生されて、該再生情報及び前記記録条件から、レーザ光の照射条件に関する複数種の評価指標が取得されるため、評価指標の種類毎にテスト情報の記録を行う必要がないので、テスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。さらに、テスト記録に用いる記録領域を従来に比べて削減することができる。

0042

また、本発明の光記録装置によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。

0043

さらに、本発明のマイクロCPU素子によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。

0044

また、本発明のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録方法を容易に実現することができる。

発明を実施するための最良の形態

0045

以下、図面を参照して本発明の一実施形態を説明する。

0046

図1は本発明の第1実施形態における光記録装置の構成及び光ディスクの構成を示す図である。図において、10は光ディスクで、周知のDVD、HD−DVD、Blu−rayディスク等の多層型光記録媒体であり、本実施形態ではレーザ光照射面から最も離れた位置から第1記録層11、第2記録層12、第3記録層13の順で3つの記録層を有する光記録媒体である。尚、本実施形態では3つの記録層を有する光記録媒体を用いて説明するが、2層以上の記録層を有する光記録媒体を光ディスク10として光記録装置100によって情報の記録再生を行うことができる。

0047

100は光記録装置で、光ピックアップ110と、レーザダイオード(以下、LDと称する)ドライバ121、スライサ122、復調回路123、特性値検出部124、ワンチップCPU素子(以下、CPUと称する)125、メモリ127、インタフェース(以下、I/Fと称する)128とを備えている。尚、ここでは、本発明に特に関係する構成部分のみを記載して説明する。

0048

また、光記録装置100には、パーソナルコンピュータディスプレイ等からなる表示部131と、キーボード等からなる操作部132が接続されている。

0049

光ピックアップ110は、レーザダイオード(以下、LDと称する)111と、フォトディテクタ(以下、PDと称する)112、コリメートレンズ113、対物レンズ114、検出レンズ115、ビームスプリッタ116を有している。LD111から射出されたレーザ光はコリメートレンズ113とビームスプリッタ116と対物レンズ114を透過して光ディスク10に照射される。また、光ディスク10によって反射されたレーザ光は対物レンズ114を透過した後にビームスプリッタ116によって反射され、検出レンズ115を介してPD112に入射される。PD112は入射した光の光量に対応した値の電流を出力する。

0050

LDドライバ121はCPU素子125から入力した記録信号に基づいてLD111に駆動電流を供給してLD111を発光させる。

0051

スライサ122は、PD112から出力電流を所定の閾値スライスして2値電圧信号に変換して出力する。

0052

復調回路123は、スライサ122から出力される符号化されている2値化信号を復調してCPU125に出力する回路であり、例えば、スライサ122から出力された2値化電圧信号である3T〜11Tのパルス幅でEFM変調されて符号化された信号を復調したディジタル信号をCPU125に出力する。

0053

特性値検出部124は、PD112から出力された電流信号を入力し、この電流値に基づいて光ディスク10からの反射光から特性値を検出してディジタル情報としてCPU125に出力する。この反射光から検出する特性値としては、例えば、記録レーザパワーや記録パルス条件に依存し、且つ記録パルス条件を最適化するのに相応しい特性値であればよく、本実施形態では、β、アシンメトリ(Asymmetry)、位相、振幅等を検出している。

0054

CPU125は、周知のワンチップCPU素子で、内部にCPUをどうさせるためのコンピュータプログラムが格納されているメモリ回路126を備えている。また、CPU125は、駆動機構部(図示せず)を制御して光りピックアップ110の位置、トラッキングフォーカスの調整及び光ディスク10の回転駆動制御を行うと共に、メモリ127に蓄積されているデータテーブルに基づいて外部から入力された情報を光ディスク10に記録する(書き込む)、或いは光ディスク10に記録されている情報を読み出して外部装置に出力する。また、後述する処理によって光ディスク10への情報記録時におけるテストを行い最適なレーザ光条件を求めて、情報の記録を行えるようにしている。

0055

メモリ回路127は、CPU125に接続され、内部には従来例と同様のストラテジテーブルとして他種類の光ディスクに対応したデータがデータテーブルに記録されている。

0056

I/F128はCPUと外部の表示部131及び操作部132を接続するためのインタフェースであると共に、外部装置とCPU125との間の記録・再生情報の転送を行う。

0057

上記構成では、LD111から出力されたレーザ光を用いて、光ディスク10に対する情報の記録再生を行い、パーソナルコンピュータ(PC)等の外部装置との間で情報の送受信を行う。尚、光記録装置100は、光ディスク10へ情報を記録するときに、第1記録層11、第2記録12、第3記録層13の順に情報の記録を行うものである。

0058

光ディスク10に対して情報の記録を行う場合は、記録情報を符号化し、この符号化した記録情報をCPU125で処理することで、光ディスク10に対する記録条件となるストラデジを決定し、このストラテジをLDドライバ121で記録パルスに変換し、この記録パルスに基づいてパルス化されたレーザ光をLD111から出力する。

0059

LDドライバ121は、入力された記録パルスに基づいてLD111を駆動し、LD111はこの記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をコリメートレンズ113、ビームスプリッタ116、対物レンズ114を介して、線速度一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク10に照射し、これにより光ディスク10に、所望の記録情報に対応したピットスペース列からなる記録パターンが記録される。

0060

また、光ディスク10に情報を記録する際には、周知のように光ディスク10のテスト領域にテスト情報の記録及びその再生を行って最適なレーザ光の照射条件を決定する。本実施形態の光記録装置100では、このレーザ光の照射条件を決定するテスト時間を従来よりも短縮することができる。

0061

以下に、本実施形態におけるレーザ光の照射条件を決定する方法に関して詳細に説明する。

0062

図2及び図3は第1実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へ情報を記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へ情報を記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。

0063

即ち、第1記録層11に情報を記録する際には、図2に示す処理を実行する。この処理では、従来と同様の記録レーザ光強度最適化(OPC:Optimum Power Control ,以下OPCと称する)によって所定回数のレーザパワー調整用テスト記録と所定回数のパルス幅調整用テスト記録の2種類のテスト記録条件によるテストを行い、記録した情報を再生して(SA1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SA2)。このパラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図4に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。

0064

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SA3)。この特性関係式としては、例えば、図5グラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式、図6のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式、図7のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がり位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相の関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。ここでは、レーザパワーを段階的に変化させて記録したテスト情報から2種類のパラメータ(評価指標)、すなわち図5のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式と、図6のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出している。

0065

この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SA4)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SA5)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0066

前記SA5の判定の結果、適用可能であるときは後述するSA8の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SA6)、記録中止か否かを判定して(SA7)、記録中止のときは後述するSA10の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SA5の処理に移行する。

0067

前記SA5の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録する共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SA8)。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク10に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク10或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ(評価指標)或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。

0068

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SA9)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SA10)、第1記録層11への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。

0069

また、第1記録層11以外の他の記録層12,13へ情報記録を行うときは、図3に示す処理を行う。

0070

即ち、第1記録層11以外の記録層12,13に情報を記録する際には、図3に示す処理を実行する。この処理では、従来と同様のOPCによってレーザパワー調整用テスト記録だけの1種類のテスト記録条件によるテストを第1記録層11における回数よりも少ない回数だけ行い、記録した情報を再生して(SB1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SB2)。また、レーザパワー調整用テスト記録は図4に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。

0071

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SB3)。この特性関係式としては、例えば、図8のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。

0072

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12,13におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図9のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SB4)。

0073

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SB5)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SB6)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0074

前記SB6の判定の結果、適用可能であるときは後述するSB9の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SB7)、記録中止か否かを判定して(SB8)、記録中止のときは後述するSB11の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SB6の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記SB1の処理から繰り返すようにしても良い。

0075

前記SB6の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録する共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SB9)。

0076

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SB10)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SB12)、第2或いは第3記録層12,13への情報記録を終了する。

0077

上記実施形態によれば、第1記録層11に対して記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、これにより得られたテスト結果に基づいて第1記録層11への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第1記録層のテストにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、第2及び第3記録層12,13にテスト情報の記録及び再生が行われ、第1記録層11のテスト結果と第2或いは第3記録層12,13のテスト結果とに基づいて、第2或いは第3記録層12,13への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第2或いは第3記録層12,13への情報記録が行われるので、第2及び第3記録層12,13の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0078

また、第2或いは第3記録層12,13のテスト記録においてはレーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っていないので、テスト時間をさらに短縮することができる。

0079

上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第1記録層11以外の記録層に関してはレーザパワー調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。

0080

また、本実施形態の光記録装置100によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。さらに、本実施形態のマイクロCPU素子125によれば、上記光記録方法を容易に実現することができる。また、本実施形態のコンピュータプログラムによれば、任意のCPUを用いて上記光記録装置100及び光記録方法を容易に実現することができる。

0081

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、光ディスク10としてHD−DVDを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。また、光ディスク10として周知のBlu−rayディスクを用いる場合はDVDとは規格が異なるため、第1記録層においては、図10のグラフに示すようなレーザパワー(Write PW)とアシンメトリー(Asymmetry)との関係を表した特性関係式と、図11のグラフに示すようなレーザパワー(Write PW)と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式と、図12のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出し、第1記録層以外の記録層においては、テストによって図13のグラフに示すようなレーザパワー(Write PW)と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を求め、これらの特性関係式の相関関係から他の記録層における図14のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))と振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測して、他の記録層における最適値を求めることができる。また、パルス幅調整用パラメータ(評価指標)とは、位相ずれ、長さずれ、振幅ずれを意味するものである。

0082

次に、本発明の第2実施形態を説明する。

0083

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第2実施形態では第1記録層11以外の記録層12,13における記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0084

即ち、本実施形態における光記録装置100において、光ディスク10の第1記録層11への情報記録処理図2のフローチャートに示す第1実施形態の処理と同じである。また、第1記録層11以外の記録層12,13への情報記録処理は図15のフローチャートに示すように、従来と同様のOPCによってパルス幅調整用テスト記録だけの1種類のテスト記録条件によるテストを第1記録層11における回数よりも少ない回数だけ行い、記録した情報を再生して(SC1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SC2)。また、パルス幅調整用テスト記録は段階的にパルス幅を変化させて行う。

0085

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SC3)。この特性関係式としては、例えば、図9のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。

0086

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12,13におけるレーザパワーとパルスの位置ズレとの関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SC4)。

0087

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SC5)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SC6)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0088

前記SC6の判定の結果、適用可能であるときは後述するSC9の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SC7)、記録中止か否かを判定して(SC8)、記録中止のときは後述するSC11の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SC6の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記SC1の処理から繰り返すようにしても良い。

0089

前記SC6の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録する共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SC9)。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク10に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク10或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ(評価指標)或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。

0090

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SC10)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SC12)、第2或いは第3記録層12,13への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。

0091

上記実施形態によれば、第1記録層11に対して記録条件の種類変更を伴うテスト情報の記録及び再生が行われ、これにより得られたテスト結果に基づいて第1記録層11への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第1記録層のテストにて行われたテスト記録条件の種類の変更回数より少ない変更回数で、第2及び第3記録層12,13にテスト情報の記録及び再生が行われ、第1記録層11のテスト結果と第2或いは第3記録層12,13のテスト結果とに基づいて、第2或いは第3記録層12,13への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第2或いは第3記録層12,13への情報記録が行われるので、第2及び第3記録層12,13の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0092

また、第2或いは第3記録層12,13のテスト記録においてはパルス幅を変化させるテストのみを行ってるので、テスト時間をさらに短縮することができる。

0093

上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第1記録層11以外の記録層に関してはパルス幅調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。

0094

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0095

次に、本発明の第3実施形態を説明する。

0096

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第3実施形態では光ディスク10の各記録層11,12,13における記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0097

図16及び図17は第3実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へ情報を記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へ情報を記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。

0098

即ち、第1記録層11に情報を記録する際には、図16のフローチャートに示す処理を実行する。この処理では、従来と同様のOPCによって所定条件数のレーザパワー調整用テスト記録と所定条件数のパルス幅調整用テスト記録の2種類のテスト記録条件によるテストを行い、記録した情報を再生して(SD1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SD2)。

0099

例えば、レーザパワー調整用テスト記録に用いる条件としては、レーザパワーを、1mW、2mW、…、10mWとした10個の条件にて行う。さらに、パルス幅調整用テスト記録の条件も同様に異なる10個の条件にて行う。

0100

また、パラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図4に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。

0101

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SD3)。この特性関係式としては、例えば、図5のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式、図6のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式、図7のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。ここでは、レーザパワーを段階的に変化させて記録したテスト情報から2種類のパラメータ(評価指標)、すなわち図5のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式と、図6のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出している。

0102

この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SD4)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SD5)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0103

前記SD5の判定の結果、適用可能であるときは後述するSD8の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SD6)、記録中止か否かを判定して(SD7)、記録中止のときは後述するSD10の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SD5の処理に移行する。

0104

前記SD5の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録する共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SD8)。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク10に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク10或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ(評価指標)或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。

0105

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SD9)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SD10)、第1記録層11への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。

0106

また、第1記録層11以外の他の記録層12,13へ情報記録を行うときは、図17のフローチャートに示す処理を行う。

0107

即ち、第1記録層11以外の記録層12,13に情報を記録する際には、図17に示す処理を実行する。この処理では、従来と同様のOPCによってレーザパワー調整用テスト記録だけの1種類のテスト記録条件によるテストを第1記録層11における条件数よりも少ない条件数だけ行い、記録した情報を再生して(SE1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SE2)。また、レーザパワー調整用テスト記録は図4に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。ここでは、第1記録層11のテスト記録において用いていた10の条件(1mW、…、10mW)の中の5つの条件を用いてテスト記録を行う。

0108

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SE3)。この特性関係式としては、例えば、図8のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。

0109

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12,13におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図9のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SE4)。

0110

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SE5)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SE6)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0111

前記SE6の判定の結果、適用可能であるときは後述するSE9の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SE7)、記録中止か否かを判定して(SE8)、記録中止のときは後述するSE11の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SE6の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記SE1の処理から繰り返すようにしても良い。

0112

前記SE6の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録する共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SE9)。

0113

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SE10)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SE12)、第2或いは第3記録層12,13への情報記録を終了する。

0114

上記実施形態によれば、第1記録層11に対して10回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生が行われ、このテスト結果に基づいて第1記録層11への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第1記録層のテスト記録で用いたテスト記録条件数より少ない5つの条件で他の記録層12,13にテスト情報の記録及び再生が行われ、第1記録層11のテスト結果と第2或いは第3記録層12,13のテスト結果とに基づいて、第2或いは第3記録層12,13への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第2或いは第3記録層12,13への情報記録が行われるので、第2或いは第3記録層12,13の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0115

また、第2或いは第3記録層12,13のテスト記録においてはレーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っていないので、テスト時間をさらに短縮することができる。

0116

上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第1記録層11以外の記録層に関しては条件数を減らしてレーザパワー調整用テストのみを行い、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。

0117

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0118

次に、本発明の第4実施形態を説明する。

0119

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第4実施形態では第1記録層11以外の記録層12,13における記録処理が第3実施形態のものと一部異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0120

即ち、本実施形態における光記録装置100において、光ディスク10の第1記録層11への情報記録処理は図16のフローチャートに示す第3実施形態の処理と同じである。また、第1記録層11以外の記録層12,13への情報記録処理は図18のフローチャートに示すように、従来と同様のOPCによってパルス幅調整用テスト記録だけの1種類のテスト記録条件によるテストを第1記録層11における条件数よりも少ない条件数だけ行い、記録した情報を再生して(SF1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SF2)。また、パルス幅調整用テスト記録は段階的にパルス幅を変化させて行う。ここでは、第1記録層11のテスト記録において用いていた10のパルス幅条件の中の5つの条件を用いてテスト記録を行う。

0121

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SF3)。この特性関係式としては、例えば、図9のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。

0122

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12,13におけるレーザパワーとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SF4)。

0123

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SF5)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SF6)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0124

前記SF6の判定の結果、適用可能であるときは後述するSF9の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SF7)、記録中止か否かを判定して(SF8)、記録中止のときは後述するSF11の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SF6の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記SF1の処理から繰り返すようにしても良い。

0125

前記SF6の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録する共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SF9)。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク10に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク10或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ(評価指標)或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。

0126

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SF10)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SF12)、第2或いは第3記録層12,13への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。

0127

上記実施形態によれば、第1記録層11に対して10回の条件変更を伴うテスト記録条件にてテスト情報の記録及び再生が行われ、このテスト結果に基づいて第1記録層11への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第1記録層のテスト記録で用いたテスト記録条件数より少ない5つの条件で他の記録層12,13にテスト情報の記録及び再生が行われ、第1記録層11のテスト結果と第2或いは第3記録層12,13のテスト結果とに基づいて、第2或いは第3記録層12,13への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第2或いは第3記録層12,13への情報記録が行われるので、第2或いは第3記録層12,13の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0128

また、第2或いは第3記録層12,13のテスト記録においてはパルス幅を変化させるテストのみを行ってるので、テスト時間をさらに短縮することができる。

0129

上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第1記録層11以外の記録層に関してはパルス幅調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。

0130

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0131

次に、本発明の第5実施形態を説明する。

0132

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第5実施形態では光ディスク10の各記録層11,12,13における記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0133

図19及び図20は第5実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へ情報を記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へ情報を記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。

0134

即ち、第1記録層11に情報を記録する際には、図19のフローチャートに示す処理を実行する。この処理では、従来と同様のOPCによってレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録の2種類のテスト記録条件によるテストを行い、記録した情報を再生して(SG1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SG2)。この際、記録と再生が所定回数切り替えて行われる
また、パラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図4に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。

0135

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SG3)。この特性関係式としては、例えば、図5のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式、図6のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式、図7のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。ここでは、レーザパワーを段階的に変化させて記録したテスト情報から2種類のパラメータ(評価指標)、すなわち図5のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式と、図6のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出している。

0136

この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SG4)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SG5)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0137

前記SG5の判定の結果、適用可能であるときは後述するSG8の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SG6)、記録中止か否かを判定して(SG7)、記録中止のときは後述するSG10の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SG5の処理に移行する。

0138

前記SG5の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録する共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SG8)。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク10に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク10或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ(評価指標)或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。

0139

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SG9)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SG10)、第1記録層11への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。

0140

また、第1記録層11以外の他の記録層12,13へ情報記録を行うときは、図20のフローチャートに示す処理を行う。この処理では、従来と同様のOPCによってレーザパワー調整用テスト記録だけの1種類のテスト記録条件によるテストを第1記録層11における記録と再生の切り替え数よりも少ない切り替え数だけ行い、記録した情報を再生して(SH1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SH2)。また、レーザパワー調整用テスト記録は図4に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。

0141

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SH3)。この特性関係式としては、例えば、図8のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。

0142

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12,13におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図9のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SH4)。

0143

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SH5)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SH6)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0144

前記SH6の判定の結果、適用可能であるときは後述するSH9の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SH7)、記録中止か否かを判定して(SH8)、記録中止のときは後述するSH11の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SH6の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記SH1の処理から繰り返すようにしても良い。

0145

前記SH6の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録する共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SH9)。

0146

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SH10)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SH12)、第2或いは第3記録層12,13への情報記録を終了する。

0147

上記実施形態によれば、第1記録層11に対して複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が所定回数切り替えて実行され、このテスト結果に基づいて第1記録層11への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、他の記録層12,13に対してテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が第1記録層11における切替回数よりも少ない回数切り替えられて実行され、第1記録層11のテスト結果と第2或いは第3記録層12,13のテスト結果とに基づいて、第2或いは第3記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第2或いは第3記録層12,13への情報記録が行われるので、第2及び第3記録層12,13の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0148

また、第2或いは第3記録層12,13のテスト記録においてはレーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っていないので、テスト時間をさらに短縮することができる。

0149

上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第1記録層11以外の記録層に関しては記録と再生の切り替え数を減らしてレーザパワー調整用テストのみを行い、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。

0150

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0151

次に、本発明の第6実施形態を説明する。

0152

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第6実施形態では第1記録層11以外の記録層12,13における記録処理が第5実施形態のものと一部異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0153

即ち、本実施形態における光記録装置100において、光ディスク10の第1記録層11への情報記録処理は図19のフローチャートに示す第5実施形態の処理と同じである。また、第1記録層11以外の記録層12,13への情報記録処理は図21のフローチャートに示すように、従来と同様のOPCによってパルス幅調整用テスト記録だけの1種類のテスト記録条件によるテストを第1記録層11における記録と再生の切り替え数よりも少ない切り替え数だけ行い、記録した情報を再生して(SI1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SI2)。また、パルス幅調整用テスト記録は段階的にパルス幅を変化させて行う。

0154

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SI3)。この特性関係式としては、例えば、図9のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。

0155

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12,13におけるパルスの位置ズレとパルス位相補正パラメータとの関係、すなわち図8のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SI4)。

0156

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SI5)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SI6)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0157

前記SI6の判定の結果、適用可能であるときは後述するSI9の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SI7)、記録中止か否かを判定して(SI8)、記録中止のときは後述するSI11の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SI6の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記SI1の処理から繰り返すようにしても良い。

0158

前記SI6の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録する共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SI9)。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク10に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク10或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ(評価指標)或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。

0159

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SI10)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SI12)、第2或いは第3記録層12,13への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。

0160

上記実施形態によれば、第1記録層11に対して複数種類のテスト記録条件にてテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が所定回数切り替えて実行され、このテスト結果に基づいて第1記録層11への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、他の記録層12,13に対してテスト情報の記録と再生を行う際に、この記録と再生が第1記録層11における切替回数よりも少ない回数切り替えられて実行され、第1記録層11のテスト結果と第2或いは第3記録層12,13のテスト結果とに基づいて、第2或いは第3記録層への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第2或いは第3記録層12,13への情報記録が行われるので、第2及び第3記録層12,13の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0161

また、第2或いは第3記録層12,13のテスト記録においてはパルス幅を変化させるテストのみを行ってるので、テスト時間をさらに短縮することができる。

0162

上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第1記録層11以外の記録層に関してはパルス幅調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。

0163

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0164

次に、本発明の第7実施形態を説明する。

0165

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第7実施形態では光ディスク10の各記録層11,12,13における記録処理が異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0166

図22及び図23は第7実施形態における記録層への記録処理を説明するフローチャートである。この処理を実行するコンピュータプログラムはCPU125のメモリ回路126に予め記憶されており、CPU125によってこれらの処理が行われる。また、本実施形態では光ディスク10の第1記録層11へ情報を記録する際のテスト処理は従来とほぼ同様であるが、第1記録層11以外の記録層へ情報を記録する際のテスト処理は第1記録層11におけるテスト処理とは異なり、その時間を短縮できるようにしている。

0167

即ち、第1記録層11に情報を記録する際には、図22のフローチャートに示す処理を実行する。この処理では、従来と同様のOPCによってレーザパワー調整用テスト記録とパルス幅調整用テスト記録の2種類のテスト記録条件によるテストを行い、記録した情報を再生して(SJ1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SJ2)。この際、記録と再生を1セットとしてこのセットが所定回数行われる。

0168

また、パラメータとしては、例えば、DVDの場合はβ(Asymmetry)、レーザ光照射パワー、パルスの位相等が挙げられる。また、レーザパワー調整用テスト記録は図4に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行い、パルス幅調整用テスト記録は同様に段階的にパルス幅を変化させて行う。尚、上記パラメータを検出する際に、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができる場合はそれを用い、メモリ127に記憶されているストラテジテーブルのデータを用いることができない未知の種類の光ディスク10の場合は周知のオートストラテジ検出処理を行うことになる。

0169

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SJ3)。この特性関係式としては、例えば、図5のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式、図6のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相すなわちパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとの関係における位相補正パラメータを表した特性関係式、図7のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。ここでは、レーザパワーを段階的に変化させて記録したテスト情報から2種類のパラメータ(評価指標)、すなわち図5のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とβとの関係を表した特性関係式と、図6のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出している。

0170

この後、上記求めた特性関係式から得られたパラメータを用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SJ4)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SJ5)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0171

前記SJ5の判定の結果、適用可能であるときは後述するSJ8の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SJ6)、記録中止か否かを判定して(SJ7)、記録中止のときは後述するSJ10の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SJ5の処理に移行する。

0172

前記SJ5の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録する共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SJ8)。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク10に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク10或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ(評価指標)或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。

0173

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SJ9)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SJ10)、第1記録層11への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。

0174

また、第1記録層11以外の他の記録層12,13へ情報記録を行うときは、図23のフローチャートに示す処理を行う。この処理では、従来と同様のOPCによってレーザパワー調整用テスト記録だけの1種類のテスト記録条件によるテストを第1記録層11における記録と再生のセット実行回数よりも少ないセット実行回数だけ行い、記録した情報を再生して(SK1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SK2)。また、レーザパワー調整用テスト記録は図4に示すように段階的にレーザパワー(Wrigte PW)を変化させて行う。

0175

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SK3)。この特性関係式としては、例えば、図8のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。

0176

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12,13におけるパルスの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図9のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SK4)。

0177

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SK5)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SK6)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0178

前記SK6の判定の結果、適用可能であるときは後述するSK9の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SK7)、記録中止か否かを判定して(SK8)、記録中止のときは後述するSK11の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SK6の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記SK1の処理から繰り返すようにしても良い。

0179

前記SK6の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録する共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SK9)。

0180

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SK10)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SK12)、第2或いは第3記録層12,13への情報記録を終了する。

0181

上記実施形態によれば、第1記録層11に対して記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットが複数回実行され、このテスト結果に基づいて第1記録層11への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第1記録層11以外の他の記録層12,13に対して、第1記録層11のテストにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ないセット回数にてテスト情報の記録及び再生が行われ、第1記録層11のテスト結果と第2或いは第3記録層12,13のテスト結果とに基づいて、第2或いは第3記録層12,13への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第2或いは第3記録層12,13への情報記録が行われるので、第2及び第3記録層12,13の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0182

また、第2或いは第3記録層12,13のテスト記録においてはレーザパワーを変化させるテストのみを行い、時間とテスト領域を多く使用するパルス幅を変化させたテストを行っていないので、テスト時間をさらに短縮することができる。

0183

上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第1記録層11以外の記録層に関しては記録と再生を1セットとしてこのセット数を減らしてレーザパワー調整用テストのみを行い、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。

0184

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0185

次に、本発明の第8実施形態を説明する。

0186

本実施形態における装置構成は前述した第1実施形態と同様であり、第1実施形態との相違点は、第8実施形態では第1記録層11以外の記録層12,13における記録処理が第7実施形態のものと一部異なるコンピュータプログラムを格納したCPU125を用いていることである。以下の説明において第1実施形態と同一構成部分は同一符号を用いて説明する。

0187

即ち、本実施形態における光記録装置100において、光ディスク10の第1記録層11への情報記録処理は図22のフローチャートに示す第7実施形態の処理と同じである。また、第1記録層11以外の記録層12,13への情報記録処理は図24のフローチャートに示すように、従来と同様のOPCによってパルス幅調整用テスト記録だけの1種類のテスト記録条件によるテストを第1記録層11における記録と再生のセット実行回数よりも少ないセット実行回数だけ行い、記録した情報を再生して(SL1)、レーザ光照射条件におけるパラメータ(評価指標)を検出する(SL2)。また、パルス幅調整用テスト記録は段階的にパルス幅を変化させて行う。

0188

次いで、上記求めたパラメータから特性関係式を導出する(SL3)。この特性関係式としては、例えば、図9のグラフに示すようなパルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレ(Pluse (Topr,Tlast))とパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係式を導出する。

0189

この後、上記求めた特性関係式と第1記録層11において求めた特性関係式から得られたパラメータを用いて、他の記録層12,13におけるレーザパワーとパルス位相との間系におけるパルス位相補正パラメータ、すなわち図8のグラフに示すようなレーザパワー(Wrigte PW)とパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係式を予測する(SL4)。

0190

次いで、上記の特性関係式を用いてレーザパワーとパルス幅の最適値を導出する(SL5)。さらに、この最適値が所望する記録速度において調整を施した上で情報を所定の品位で記録するために適用が可能であるか否かを判定する(SL6)。尚、この調整では、レーザパワー及びパルス幅の段階的な記録条件の変化に対するレーザパワー調整用パラメータ(評価指標)及びパルス幅調整用パラメータ(評価指標)が情報を所定の品位で記録するのに適した所定の値になるように記録層に照射するレーザ光のレーザパワー及びパルス幅のうちの少なくとも何れか一方を調整する。この調整にはOPCを行っても良い。

0191

前記SL6の判定の結果、適用可能であるときは後述するSL9の処理に移行し、適用不可能であるときは記録速度を低下させた所定記録速度に設定するか或いは記録を中止に設定し(SL7)、記録中止か否かを判定して(SL8)、記録中止のときは後述するSL11の処理に移行し、記録速度を低下させて設定したときは前記SL6の処理に移行する。尚、記録速度を低下させても適用不可能であるときは、記録中止に代えて再度前記SL1の処理から繰り返すようにしても良い。

0192

前記SL6の判定の結果、前記最適値が所望する記録速度に適用可能であるときは、判断結果と処理内容及びパラメータ(評価指標)と調整結果の情報を、光ディスク10に記録すると共にメモリ127に光ディスク10のメディアIDに対応させて記録する(SL9)。このように、記録として残しておくことにより、次に同じ種類の光ディスク10に記録を行う際にこの情報を活用することができる。尚、上記の情報に合わせてテスト記録に用いた条件データを記録するようにしても良い。また、上記の情報を光ディスク10或いはメモリ127の何れか一方のみに記録しておいても良い。また、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良いし、また、パラメータ(評価指標)或いはこれを用いた調整結果の何れか一方のみの情報を記録するようにしても良い。

0193

この後、前記求めた最適値を用いて光ディスク10への情報記録を行う(SL10)。次いで、上記の判断結果と処理内容を表示部131に表示して(SL12)、第2或いは第3記録層12,13への情報記録を終了する。尚、判断結果或いはこの判断に伴う処理内容の何れか一方のみを表示部131に表示するようにしても良い。

0194

上記実施形態によれば、第1記録層11に対して記録条件の段階的変更で構成されたテスト情報の記録及び再生のセットが複数回実行され、このテスト結果に基づいて第1記録層11への情報の記録に適した照射条件が導出され、さらに、第1記録層11以外の他の記録層12,13に対して、第1記録層11のテストにおけるテスト情報の記録及び再生のセットの実行回数よりも少ないセット回数にてテスト情報の記録及び再生が行われ、第1記録層11のテスト結果と第2或いは第3記録層12,13のテスト結果とに基づいて、第2或いは第3記録層12,13への情報の記録に適した照射条件が導出され、該照射条件を用いて第2或いは第3記録層12,13への情報記録が行われるので、第2及び第3記録層12,13の照射条件を導出するためのテスト時間を短縮することができ、情報記録前のテスト時間を短縮して情報を短時間で記録することができる。

0195

また、第2或いは第3記録層12,13のテスト記録においてはパルス幅を変化させるテストのみを行ってるので、テスト時間をさらに短縮することができる。

0196

上記のように、通常のテスト記録では、レーザパワー調整用テストでレーザパワー対βの特性関係を求め、この特性関係から最適なレーザパワーを導出し、パルス幅調整用テストでパルス対位相ズレの特性関係を求め、この特性関係から最適なパルス幅すなわちストラテジを求めているが、本実施形態では、第1記録層11以外の記録層に関してはパルス幅調整用テストのみを行い、テスト記録条件の数を減らしてテスト時間を短縮した上で、最適なレーザパワーとパルス幅を有するストラテジを導出できるようにしている。

0197

尚、上記実施形態では光ディスク10として周知の多層型DVDを用いた例を挙げて説明したが、第1実施形態と同様に光ディスク10としてHD−DVDや周知のBlu−rayディスクを用いたときも同様の処理にて上記効果を得ることができる。

0198

また、上記実施形態は、本発明の一具体例にすぎず、本発明が上記実施形態の構成のみに限定されることはない。例えば、上記各実施形態では最適値を求めた後に調整処理を行っているが、調整処理を行う必要がなければ、この調整処理を省いても良い。また、記録速度の低下や記録中止の処理、判断処理の結果等の表示処理及びこの情報の記録処理なども必要に応じて実施することが好ましい。

0199

また、上記各実施形態では、第1記録層11を基準として他の記録層12,13への照射レーザ光の最適値を短時間で求めるようにしたが、第1記録層以外の記録層を基準として他の記録層への照射レーザ光の最適値を短時間で求めるようにしても良い。また、上記各実施形態ではレーザ光照射面から離れた位置にある第1記録層11から順に照射面に近い位置にある第3記録層13へと順に情報記録を行うようにしたがこれに限定されることはなく、第1記録層11以外の記録層を初めとして情報記録を行うようにしても良い。

図面の簡単な説明

0200

本発明の第1実施形態における光記録装置の構成及び光ディスクの構成を示す図
本発明の第1実施形態における第1記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第1実施形態における第1記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
レーザパワー調整用テスト記録における段階的なレーザパワー変化を説明する図
レーザパワーとβとの関係を表した特性関係を示す図
レーザパワーとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
レーザパワーとパルス位相との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
レーザパワーとアシンメトリーとの関係を表した特性関係を示す図
レーザパワーと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
レーザパワーと振幅との関係における位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
パルスの立ち上がり及び立ち下がりの位置ズレとパルス位相との関係におけるパルス位相補正パラメータを表した特性関係を示す図
本発明の第2実施形態における第1記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第3実施形態における第1記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第3実施形態における第1記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第4実施形態における第1記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第5実施形態における第1記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第5実施形態における第1記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第6実施形態における第1記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第7実施形態における第1記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第7実施形態における第1記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
本発明の第8実施形態における第1記録層以外の記録層への記録処理を説明するフローチャート
従来例のストラテジテーブルを示す図
従来例のストラテジテーブルを示す図

符号の説明

0201

10…光ディスク(記録媒体)、11…第1記録層(一の記録層)、12…第2記録層(他の記録層)、13…第3記録層(他の記録層)、100…光記録装置、110…光ピックアップ、111…レーザダイオード(LD)、112…フォトディテクタ(PD)、113…コリメートレンズ、114…対物レンズ、115…検出レンズ、116…ビームスプリッタ、121…LDドライバ、122…スライサ、123…復調回路、124…特性値検出部、125…ワンチップCPU素子(CPU)、126…メモリ回路、127…メモリ、128…インタフェース(I/F)、131…表示部、132…操作部。

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