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技術 テストパターン発生装置

出願人 株式会社シバソク
発明者 小松崎敏宏
出願日 2005年2月10日 (16年10ヶ月経過) 出願番号 2005-033878
公開日 2006年8月24日 (15年4ヶ月経過) 公開番号 2006-222714
状態 未査定
技術分野 立体TV及びTVの試験,検査,測定等
主要キーワード 垂直アドレスカウンタ テストパターン発生装置 工場出荷 パターンデータメモリ 更新モード 更新回路 カラーバー 固定パターン
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重要な関連分野

この項目の情報は公開日時点(2006年8月24日)のものです。
また、この項目は機械的に抽出しているため、正しく解析できていない場合があります

図面 (3)

課題

本発明は、テストパターン発生装置に関し、例えばテレビジョン受像機カラーモニタ液晶表示パネル等の試験に適用して、複数のテストパターンを1画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができるようにする。

解決手段

本発明は、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ1ライン分記録してパターンデータメモリ5に保持し、垂直アドレスカウンタ2のカウント値に応じて選択データメモリ3から選択データSEL1を出力してこのパターンデータメモリ5に保持したテストパターンの画像データを選択出力するようにして、この選択データメモリ3に保持した選択データSELを書き換える。

概要

背景

従来、テレビジョン受像機カラーモニタ液晶表示パネル等の各種表示装置は、工場出荷時、例えば特開平6−14349号公報等に開示のテストパターン発生装置に接続してグレースケールカラーバー等の種々のテストパターンを表示し、これにより表示の特性を試験するようになされている。

このためテストパターン発生装置は、リードオンリメモリによる画像メモリにテストパターンの画像データを記録して保持し、この画像データを読み出して出力するようになされている。

ところでこの種の表示装置の試験では、例えば画面を上下に分割して1画面で複数のテストパターンを表示することにより、複数の試験を一度に実行して試験の効率を図る場合がある。このような1画面で複数のテストパターンを表示する場合にあっては、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を、試験対象に応じて種々に変更することが求められる。

しかしながら従来のテストパターン発生装置は、画像メモリに記録された固定パターンによる画像しか表示し得ず、これによりこのように複数のテストパターンを1画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することが困難な問題があった。
特開平6−14349号公報

概要

本発明は、テストパターン発生装置に関し、例えばテレビジョン受像機、カラーモニタ、液晶表示パネル等の試験に適用して、複数のテストパターンを1画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができるようにする。 本発明は、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ1ライン分記録してパターンデータメモリ5に保持し、垂直アドレスカウンタ2のカウント値に応じて選択データメモリ3から選択データSEL1を出力してこのパターンデータメモリ5に保持したテストパターンの画像データを選択出力するようにして、この選択データメモリ3に保持した選択データSELを書き換える。

目的

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
1件

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請求項1

垂直同期信号によりカウント値リセットし、水平同期信号カウントする垂直アドレスカウンタと、テストパターンを選択する選択データを保持し、前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記選択データを出力する選択データメモリと、前記水平同期信号によりカウント値をリセットし、クロックをカウントする水平アドレスカウンタと、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ1ライン分記録して保持し、前記選択データにより特定されるテストパターンの画像データを前記水平アドレスカウンタのカウント値に応じて出力するパターンデータメモリと、前記選択データメモリに記録した選択データを書き換え更新回路とを備えることを特徴とするテストパターン発生装置

請求項2

前記更新回路は、前記選択データメモリに記録した選択データを作業用メモリにロードした後、前記作業用メモリにロードした選択データを書き換えて前記選択データメモリに記録し直し、前記作業用メモリに前記選択データをロードした後、前記選択データメモリに記録し直す迄の間、前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記作業用メモリより前記選択データを出力し、前記選択データメモリからの選択データに代えて、該作業用メモリより出力される選択データにより、前記パターンデータメモリから画像データを出力することを特徴とする請求項1に記載のテストパターン発生装置。

技術分野

0001

本発明は、テストパターン発生装置に関し、例えばテレビジョン受像機カラーモニタ液晶表示パネル等の試験に適用することができる。本発明は、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ1ライン分記録してパターンデータメモリに保持し、垂直アドレスカウンタカウント値に応じて選択データメモリから選択データを出力してこのパターンデータメモリに保持したテストパターンの画像データを選択出力するようにして、この選択データメモリに保持した選択データを書き換えることにより、複数のテストパターンを1画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができるようにする。

背景技術

0002

従来、テレビジョン受像機、カラーモニタ、液晶表示パネル等の各種表示装置は、工場出荷時、例えば特開平6−14349号公報等に開示のテストパターン発生装置に接続してグレースケールカラーバー等の種々のテストパターンを表示し、これにより表示の特性を試験するようになされている。

0003

このためテストパターン発生装置は、リードオンリメモリによる画像メモリにテストパターンの画像データを記録して保持し、この画像データを読み出して出力するようになされている。

0004

ところでこの種の表示装置の試験では、例えば画面を上下に分割して1画面で複数のテストパターンを表示することにより、複数の試験を一度に実行して試験の効率を図る場合がある。このような1画面で複数のテストパターンを表示する場合にあっては、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を、試験対象に応じて種々に変更することが求められる。

0005

しかしながら従来のテストパターン発生装置は、画像メモリに記録された固定パターンによる画像しか表示し得ず、これによりこのように複数のテストパターンを1画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することが困難な問題があった。
特開平6−14349号公報

発明が解決しようとする課題

0006

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、複数のテストパターンを1画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができるテストパターン発生装置を提案しようとするものである。

課題を解決するための手段

0007

かかる課題を解決するため請求項1の発明においては、テストパターン発生装置に適用して、水平同期信号によりカウント値をリセットし、垂直同期信号カウントする垂直アドレスカウンタと、テストパターンを選択する選択データを保持し、前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記選択データを出力する選択データメモリと、前記水平同期信号によりカウント値をリセットし、クロックをカウントする水平アドレスカウンタと、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ1ライン分記録して保持し、前記選択データにより特定されるテストパターンの画像データを前記水平アドレスカウンタのカウント値に応じて出力するパターンデータメモリと、前記選択データメモリに記録した選択データを書き換える更新回路とを備えるようにする。

0008

また請求項2の発明においては、請求項1の構成において、前記更新回路は、前記選択データメモリに記録した選択データを作業用メモリにロードした後、前記作業用メモリにロードした選択データを書き換えて前記選択データメモリに記録し直し、前記作業用メモリに前記選択データをロードした後、前記選択データメモリに記録し直す迄の間、前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記作業用メモリより前記選択データを出力し、前記選択データメモリからの選択データに代えて、該作業用メモリより出力される選択データにより、前記パターンデータメモリから画像データを出力する。

0009

請求項1の構成により、テストパターン発生装置に適用して、垂直同期信号によりカウント値をリセットし、水平同期信号をカウントする垂直アドレスカウンタと、テストパターンを選択する選択データを保持し、前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記選択データを出力する選択データメモリと、前記水平同期信号によりカウント値をリセットし、クロックをカウントする水平アドレスカウンタと、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ1ライン分記録して保持し、前記選択データにより特定されるテストパターンの画像データを前記水平アドレスカウンタのカウント値に応じて出力するパターンデータメモリと、前記選択データメモリに記録した選択データを書き換える更新回路とを備えるようにすれば、選択データメモリに記録した選択データの設定により複数のテストパターンを1画面で表示することができる。また必要に応じて更新回路により選択データメモリに記録した選択データを書き換えることにより、このように複数のテストパターンを1画面で表示するようにして、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができる。

0010

また請求項2の構成により、請求項1の構成において、前記更新回路は、前記選択データメモリに記録した選択データを作業用メモリにロードした後、前記作業用メモリにロードした選択データを書き換えて前記選択データメモリに記録し直し、前記作業用メモリに前記選択データをロードした後、前記選択データメモリに記録し直す迄の間、前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記作業用メモリより前記選択データを出力し、前記選択データメモリからの選択データに代えて、該作業用メモリより出力される選択データにより、前記パターンデータメモリから画像データを出力すれば、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を確認しながら、これらを種々に変更することができ、その分、作業の能率を向上することができる。

発明の効果

0011

本発明によれば、複数のテストパターンを1画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができる。

発明を実施するための最良の形態

0012

以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施例を詳述する。

0013

(1)実施例の構成
図1は、本発明の実施例に係るテストパターン発生装置を示すブロック図である。このテストパターン発生装置1において、垂直アドレスカウンタ2は、局内同期信号の垂直同期信号によりカウント値をリセットし、この局内同期信号の水平同期信号をカウントする。

0014

選択データメモリ3は、表示に供するテストパターンを選択する選択データSELを保持する書き換え可能なメモリであり、例えばフラッシュROMにより形成される。選択データメモリ3は、垂直アドレスカウンタ2のカウント値に応じて保持した選択データSEL1を出力する。

0015

セレクタ4は、通常の動作モードにおいて、この選択データメモリ3から出力される選択データSEL1をパターンデータメモリ5に出力する。セレクタ4は、テストパターン更新回路6の制御により、テストパターンの更新モードでは、選択データメモリ3から出力される選択データSEL1に代えて、このテストパターン更新回路6から出力される選択データSEL2をパターンデータメモリ5に出力する。

0016

水平アドレスカウンタ7は、局内同期信号の水平同期信号カウント値をリセットし、この局内同期信号のクロックをカウントする。

0017

パターンデータメモリ5は、複数種類のテストパターンの画像データをそれぞれ1ライン分づつ保持するメモリであり、例えばフラッシュROMにより形成される。パターンデータメモリ5は、セレクタ4から出力される選択データSELにより選択されるテストパターンの画像データを、水平アドレスカウンタ7のカウント値に応じて順次出力する。

0018

これによりこのテストパターン発生装置1では、通常の動作モードにおいては、選択データメモリ3に保持された選択データSEL1に応じて、所望するテストパターンを表示できるようになされ、例えば画面の上半分及び下半分でそれぞれパターンデータメモリ5に保持されたカラーバー、グレースケールの画像データを選択するように選択データSEL1を選択データメモリ3に設定して、これらカラーバー、グレースケールによる複数のテストパターンを1画面で表示することができるようになされている。

0019

テストパターン更新回路6は、オペレータによる操作に応動して全体の動作モードを更新モードに切り換え、この選択データメモリ3に保持された選択データSEL1を更新する。

0020

すなわちこのテストパターン更新回路6において、作業用メモリ12は、書き込み、読み出しの速度の速い書き換え可能なメモリにより形成され、この実施例ではDPRAMにより形成される。作業用メモリ12は、垂直アドレスカウンタ2のカウント値に応じて保持した選択データSEL2を出力する。

0021

コントローラ11は、このテストパターン発生装置1全体の動作を制御する制御手段であり、オペレータによる操作に応動して全体の動作モードを更新モードに切り換え、選択データメモリ3に記録された選択データSEL1を更新する。

0022

ここで図2は、この更新モードにおけるコントローラ11の処理手順を示すフローチャートである。コントローラ11は、動作モードを更新モードに切り換えると、この処理手順を開始し、ステップSP1からステップSP2に移る。ここでコントローラ11は、選択データメモリ3に記録された選択データSEL1を作業用メモリ12にロードした後、作業用メモリ12の動作を立ち上げる。

0023

また続くステップSP3において、セレクタ4の設定を切り換え、これにより選択データメモリ3に記録された選択データSEL1に代えて、作業用メモリ12に格納した選択データSEL2によりパターンデータメモリ5に保持された画像データを選択してテストパターンを表示する。

0024

続いてコントローラ11は、ステップSP4に移り、ここでオペレータの操作に応じて作業用メモリ12に格納した選択データSEL2を更新する。具体的に、オペレータにより、1つのテストパターンを画面全体で表示するように指示した場合、垂直アドレスカウンタ2から出力される全てのカウント値でこの1つのテストパターンの画像データを選択するように、選択データSEL2を設定する。また1画面の上半分、下半分でそれぞれ第1及び第2のテストパターンを表示するように指示した場合、垂直アドレスカウンタ2から出力されるカウント値により、1画面の上半分、下半分にそれぞれこれら第1及び第2のテストパターンの画像データを選択するように、選択データSEL2を設定する。またユーザーにより垂直方向に1画面を4当分した複数種類のテストパターンの表示が指示されると、同様にして、選択データSEL2を設定する。またこのような複数のテストパターンの表示に係る境界の変更が指示されると、この変更の指示に対応するように選択データSEL2を更新する。

0025

コントローラ11は、このようにして選択データSEL2を更新すると、ステップSP5に移り、ここでオペレータにより更新モードの終了が指示されたか否か判断し、ここで否定結果が得られると、ステップSP4に戻る。これに対してステップSP5で肯定結果が得られると、ステップSP5からステップSP6に移り、作業用メモリ12に記録された選択データを選択データメモリ3にアップロードし、これにより選択データメモリ3の内容を更新する。

0026

また続くステップSP7において、セレクタ4の設定を元の状態に戻し、ステップSP8に移ってこの処理手順を終了する。

0027

(2)実施例の動作
以上の構成において、このテストパターン発生装置1では、垂直アドレスカウンタ2により水平同期信号がカウントされ、このカウント値に応じて、選択データメモリ3からテストパターンを特定する選択データSEL1が出力される。また水平アドレスカウンタ7によりクロックがカウントされ、複数種類のテストパターンによる画像データを1ライン分づつ保持したパターンデータメモリ5から、選択データSELにより特定されるテストパターンの画像データが、水平アドレスカウンタ7のカウント値に応じて順次出力される。

0028

これによりこのテストパターン発生装置1では、例えば1つのテストパターンを特定するように、垂直アドレスカウンタ2による全てのカウント値に対して選択データメモリ3の選択データSEL1を設定することにより、1画面で所望する1つのテストパターンを表示することができる。またこれに代えて画面の上半分と下半分とでそれぞれ第1及び第2のテストパターンを特定するように、垂直アドレスカウンタ2によるカウント値に対して選択データメモリ3の選択データSEL1を設定することにより、画面の上下でそれぞれ第1及び第2のテストパターンを表示することができ、さらには第1及び第2のテストパターンの境界を所望の箇所に設定することができる。

0029

これによりこのテストパターン発生装置1では、オペレータにより動作モードが更新モードに切り換えられると、テストパターン更新回路6により、この選択データメモリ3に保持された選択データSEL1が書き換えられる。これによりこのテストパターン発生装置1では、複数のテストパターンを1画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができる。

0030

テストパターン発生装置1では、この更新モードにおいて、選択データメモリ3に保持された選択データSEL1が、選択データメモリ3より動作速度の速い作業用メモリ12に一旦ロードされ、この作業用メモリ12上で選択データSEL1が更新された後、選択データメモリ3にアップロードされて更新される。またこれら一連の作業において、この作業用メモリ12にロードされた選択データSEL2によりテストパターンを表示するように、セレクタ4によりパターンデータメモリ5の入力が切り換えられる。

0031

これによりこのテストパターン発生装置1では、選択データの更新結果を表示装置により確認しながら、選択データを更新することができ、その分、選択データの更新に係る作業を効率良く実行することができる。

0032

(3)実施例の効果
以上の構成によれば、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ1ライン分記録してパターンデータメモリに保持し、垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて選択データメモリから選択データを出力してこのパターンデータメモリに保持したテストパターンの画像データを選択出力するようにして、この選択データメモリに保持した選択データを書き換えることにより、複数のテストパターンを1画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができる。

0033

またこの選択データの更新においては、選択データメモリに記録した選択データを作業用メモリにロードした後、この作業用メモリ上で選択データを書き換えて選択データメモリに記録し直すと共に、これらの処理の間、この作業用メモリの選択データによりテストパターンを表示するようにしたことにより、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を確認しながら、種々に選択データを変更することができ、その分、作業の能率を向上することができる。

0034

なお上述の実施例においては、選択データメモリに記録された選択データを作業用メモリにロードして更新することにより、更新結果をリアルタイムモニタできるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、選択データメモリに動作速度の速いメモリを適用して、更新結果をリアルタイムでモニタしながら選択データメモリ上で直接更新するようにしてもよい。

0035

本発明は、例えばテレビジョン受像機、カラーモニタ、液晶表示パネル等の試験に適用することができる。

図面の簡単な説明

0036

本発明の実施例に係るテストパターン発生装置を示すブロック図である。
図1のテストパターン発生装置のコントローラの処理手順を示すフローチャートである。

符号の説明

0037

1……テストパターン発生装置、2……垂直アドレスカウンタ、3……選択データメモリ、4……セレクタ、5……パターンデータメモリ、6……テストパターン更新回路、7……水平アドレスカウンタ、11……コントローラ、12……作業用メモリ

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