図面 (/)

この項目の情報は公開日時点(2005年7月14日)のものです。
また、この項目は機械的に抽出しているため、正しく解析できていない場合があります

図面 (7)

課題

電動イミュニティ試験電磁妨害波ベルの決定と実験の停止を自動化した試験装置を得る。

解決手段

電磁妨害波耐力が評価される被試験装置に対して、所定時間間隔ごと出力レベルを変化させながら電磁妨害波を発生させる電磁妨害波発生部と、被試験装置に含まれる回路より信号を検出する回路信号検出部を有し、回路信号検出部が信号を検出しなくなった場合に異常が発生したと判定する回路状態判定部と、被試験装置の温度を測定する温度検出部を有し、電磁妨害波発生部が電磁妨害波の出力レベルを変化させる所定時間間隔ごとに、温度検出部が測定した温度に基づいて温度変化量を測定する温度変化測定部と、次タイミング時点で被試験装置に印加する電磁妨害波の出力レベルを、前タイミング時点の温度変化量を超えないレベルに決定する制御部を設けた。

概要

背景

従来、伝導イミュニティ試験を行う装置は、個別の試験構成部を組合せて、互いに接続することで試験系を構成してきた。個別の試験構成部とは、外部から電磁妨害波が結合されて、電磁妨害波耐力が評価される対象装置である被試験装置、被試験装置に結合する電磁妨害波を発生するシグナルジェネレータ、被試験装置と接続されたケーブルにシグナルジェネレータが発生した電磁妨害波を結合するプローブ波形観測オシロスコープなどがある。また、特開2000−304794号公報には、通信機器を被試験装置とする伝導イミュニティ試験装置が開示されている。

特許公開2000−304794号公報

概要

電動イミュニティ試験の電磁妨害波レベルの決定と実験の停止を自動化した試験装置を得る。 電磁妨害波耐力が評価される被試験装置に対して、所定時間間隔ごと出力レベルを変化させながら電磁妨害波を発生させる電磁妨害波発生部と、被試験装置に含まれる回路より信号を検出する回路信号検出部を有し、回路信号検出部が信号を検出しなくなった場合に異常が発生したと判定する回路状態判定部と、被試験装置の温度を測定する温度検出部を有し、電磁妨害波発生部が電磁妨害波の出力レベルを変化させる所定時間間隔ごとに、温度検出部が測定した温度に基づいて温度変化量を測定する温度変化測定部と、次タイミング時点で被試験装置に印加する電磁妨害波の出力レベルを、前タイミング時点の温度変化量を超えないレベルに決定する制御部を設けた。

目的

効果

実績

技術文献被引用数
1件
牽制数
0件

この技術が所属する分野

ライセンス契約や譲渡などの可能性がある特許掲載中! 開放特許随時追加・更新中 詳しくはこちら

請求項1

外部から印加された電磁妨害波に対する電磁妨害波耐力が評価される被試験装置に対して、所定時間間隔ごと出力レベルを変化させながら電磁妨害波を発生させる電磁妨害波発生部と、前記被試験装置に含まれる回路上において信号を伝達する回路パターンより信号を検出する回路信号検出部が前記回路パターンの信号を検出しなくなった場合に、前記被試験装置に異常が発生したと判定する回路状態判定部と、前記電磁妨害波発生部が電磁妨害波の出力レベルを変化させる所定時間間隔ごとに、前記被試験装置の前記回路パターンに形成された素子や前記被試験装置内部の雰囲気温度を測定する温度検出部が測定した温度に基づいて温度変化量を測定する温度変化測定部と、次回、前記被試験装置に印加する電磁妨害波の出力レベルを、前記温度変化測定部が測定した直近の温度変化量を超えないレベルに決定するとともに、決定された次回出力レベルの電磁妨害波を前記電磁妨害波発生部に発生させる処理を継続させ、前記回路状態判定部が前記被試験装置に異常が発生したと判定した場合に、前記電磁妨害波発生部が前記被試験装置に電磁妨害波を印加する処理を停止させる制御部を設けたことを特徴とする伝導イミュニティ試験装置

請求項2

制御部は、前記回路状態判定部が前記被試験装置に異常が発生したと判定すると、前記電磁妨害発生部が前記被試験装置に電磁妨害波を印加する処理を停止させることを報知する警報部を設けたことを特徴とする請求項1に記載の伝導イミュニティ試験装置。

技術分野

0001

本発明は、電子機器信号線電源線等のケーブル線電磁妨害波を結合(カップリング)し、被試験装置の電磁妨害波に対する感受性を評価する伝導妨害波感受性試験(以下、伝導イミュニティ試験と称する)を行う装置に関するものであって、特に、伝導イミュニティ試験時に被試験装置に結合する電磁妨害波の入力レベルの調整、誤動作の検出、破壊の確認ならびに試験の停止までを自動で行うものである。

背景技術

0002

従来、伝導イミュニティ試験を行う装置は、個別の試験構成部を組合せて、互いに接続することで試験系を構成してきた。個別の試験構成部とは、外部から電磁妨害波が結合されて、電磁妨害波耐力が評価される対象装置である被試験装置、被試験装置に結合する電磁妨害波を発生するシグナルジェネレータ、被試験装置と接続されたケーブルにシグナルジェネレータが発生した電磁妨害波を結合するプローブ波形観測オシロスコープなどがある。また、特開2000−304794号公報には、通信機器を被試験装置とする伝導イミュニティ試験装置が開示されている。

0003

特許公開2000−304794号公報

発明が解決しようとする課題

0004

しかしながら、一般的な伝導イミュニティ試験装置は、試験中の電磁妨害波の入力レベルを電磁妨害波印加後、被試験装置の状態を試験員が確認してからその都度調整しなければならず操作性が極めて悪かった。また、電磁妨害波の入力レベルの決定には作業者熟練が必要であるため、測定結果には作業者によるバラつきが含まれてしまい、収集データの精度や再現性にも問題があった。

0005

さらに、従来の試験系では被試験装置が破壊された場合、試験員が手動で装置を停止させなければならないため、被試験装置の破壊に試験員が気付くのが遅れると試験系において無駄な電力消費されるという問題もあった。

課題を解決するための手段

0006

本発明に係る伝導イミュニティ試験装置は、外部から印加された電磁妨害波に対する電磁妨害波耐力が評価される被試験装置に対して、所定時間間隔ごと出力レベルを変化させながら電磁妨害波を発生させる電磁妨害波発生部と、前記被試験装置に含まれる回路上において信号を伝達する回路パターンより信号を検出する回路信号検出部が前記回路パターンの信号を検出しなくなった場合に、前記被試験装置に異常が発生したと判定する回路状態判定部と、前記電磁妨害波発生部が電磁妨害波の出力レベルを変化させる所定時間間隔ごとに、前記被試験装置の前記回路パターンに形成された素子や前記被試験装置内部の雰囲気温度を測定する温度検出部が測定した温度に基づいて温度変化量を測定する温度変化測定部と、次回、前記被試験装置に印加する電磁妨害波の出力レベルを、前記温度変化測定部が測定した直近の温度変化量を超えないレベルに決定するとともに、決定された次回出力レベルの電磁妨害波を前記電磁妨害波発生部に発生させる処理を継続させ、前記回路状態判定部が前記被試験装置に異常が発生したと判定した場合、前記電磁妨害波発生部が前記被試験装置に電磁妨害波を印加する処理を停止させる制御部を設けたものである。

発明の効果

0007

本発明に係る伝導イミュニティ試験装置は、外部から印加された電磁妨害波に対する電磁妨害波耐力が評価される被試験装置に対して、所定時間間隔ごとに出力レベルを変化させながら電磁妨害波を発生させる電磁妨害波発生部と、前記被試験装置に含まれる回路上において信号を伝達する回路パターンより信号を検出する回路信号検出部が前記回路パターンの信号を検出しなくなった場合に、前記被試験装置に異常が発生したと判定する回路状態判定部と、前記電磁妨害波発生部が電磁妨害波の出力レベルを変化させる所定時間間隔ごとに、前記被試験装置の前記回路パターンに形成された素子や前記被試験装置内部の雰囲気温度を測定する温度検出部が測定した温度に基づいて温度変化量を測定する温度変化測定部と、次回、前記被試験装置に印加する電磁妨害波の出力レベルを、前記温度変化測定部が測定した直近の温度変化量を超えないレベルに決定するとともに、決定された次回出力レベルの電磁妨害波を前記電磁妨害波発生部に発生させる処理を継続させ、前記回路状態判定部が前記被試験装置に異常が発生したと判定した場合、前記電磁妨害波発生部が前記被試験装置に電磁妨害波を印加する処理を停止させる制御部を設けたので、被試験装置に異常が発生する「破壊レベル付近で、電磁妨害波のレベルを小刻みに変化させることが可能となり、「破壊レベル」付近の被試験装置の温度データを精密に測定することが可能となる。また、電磁妨害波のレベル変化量を固定した状態で試験を行うよりも試験時間を短縮できる。

発明を実施するための最良の形態

0008

実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1に係る伝導イミュニティ試験装置の構成を示すブロック図である。電磁妨害波の発生や、電磁妨害波のレベルの制御、被試験装置に設けられた各種センサから得られた信号の解析を行い、電磁妨害波のレベルを決定し、決定されたレベルで電磁妨害波を発生させる伝導イミュニティ試験装置1は、電磁妨害波結合部2を用いて被試験装置3のケーブル4に電磁妨害波を結合(カップリング)させる。伝導イミュニティ試験装置1は、電磁妨害波発生部5、電磁妨害波発生部5が出力した電磁妨害波を測定する電磁妨害波測定部6、電磁妨害波発生部5が出力した電磁妨害波を増幅する増幅部7を備えている。

0009

また、伝導イミュニティ試験装置1は、被試験装置3内部の電気回路電子回路に流れる信号の状態を検出するセンサである回路信号検出部8からの信号に基づいて、被試験装置3内部の回路が破壊されたか判定する回路状態判定部9、被試験装置3内部に設けられて、被試験装置の素子温度や雰囲気温度を検出するセンサである温度検出部10からの信号に基づいて、電磁妨害波が印加された被試験装置3内部の温度の変移量を測定する温度変化測定部11、温度変化測定部11が測定した被試験装置3内部の温度の変移量に基づいて電磁妨害波のレベルを制御するとともに、回路状態判定部9が被試験装置3内部の回路に異常が発生したことを検出したときには電磁妨害波の出力を停止して、伝導イミュニティ試験を終了させる制御部12、伝導イミュニティ試験中に被試験装置3に結合した電磁妨害波のレベルを記録するレベル記録部13をさらに備える。

0010

図2は電磁妨害波発生部5が出力する電磁妨害波が矩形パルス波である場合の波形を示す図である。図3は電磁妨害波発生部5が出力する電磁妨害波がサージ耐圧試験波である場合の波形を示す図である。また、図4は、時間(電磁妨害波の入力タイミング)と電磁妨害波のレベルの関係を示す図である。図4は、t0〜tnに時間が経過するのに伴い、より強いレベルの電磁妨害波が被試験装置3に結合されることを示している。図5は、時間(電磁妨害波の入力タイミング)と被試験装置3の温度の関係を示す図である。図5は、電磁妨害波を所定のタイミング(t0〜tn)で図4に示したレベルの電磁妨害波を結合したときに被試験装置3内部で発生する温度が上昇することを示している。

0011

以下、図1図4を用いて、本願発明に係る伝導イミュニティ試験装置の動作について説明する。伝導イミュニティ試験を開始するにあたり、被試験装置3内部の回路に流れる信号の状態を検出して回路状態判定部9に出力する回路信号検出部8を、被試験装置3内部の回路に設置する。回路状態判定部9は、被試験装置3が正常に動作しているときに回路に流れる信号が途絶えたことを回路信号検出部8が検出すると、被試験装置3内部の回路に異常が発生したと判断する。また、被試験装置3内部の素子温度や雰囲気温度を検出して温度変化測定部11に出力する温度検出部10を被試験装置3内部に設置する。温度変化測定部11は、電磁妨害波が被試験装置3に結合された状態で生じる、回路素子基板、装置内部の雰囲気温度を温度検出部10によって検出するとともに、その温度変化を測定する。

0012

次に、被試験装置3の電源を入れ、被試験装置3を正常な動作状態にする。この時点で回路状態判定部9は回路信号検出部8を介して、被試験装置3内部の回路に通常想定されるとおりの信号が流れているか判定して被試験装置3が正常な動作状態にあることを確認する。被試験装置3を動作させた状態で、回路状態判定部9が被試験装置3内部の一部ないし全部の回路で信号が流れていないことを検出した場合、制御部12は被試験装置3が初期不良品であると判定し試験を中止する。回路状態判定部9が異常を検出しない場合、制御部12は引き続き、電磁妨害波発生部5に発生させる電磁妨害波の波形を設定する。例えば、入力波形の例として、図2に示す矩形パルス波形を用いて伝導イミュニティ試験を行う場合には、パルス幅PWやパルス繰り返し周波数PRFを設定する。また、図3に示すサージ耐圧試験波を用いて伝導イミュニティ試験を行う場合には、ピーク電圧Vpの90%値であるV90に到達するまでの時間t90、およびピーク電圧Vpの10%値であるV10に到達するまでの時間t10を定め、被試験装置3に結合する波形を決定する。

0013

入力波形が設定されれば、制御部12は、電磁妨害波発生部5に被試験装置3に結合する初期レベルVt1の電磁妨害波を発生させる。電磁妨害波発生部5により生成された電磁妨害波は増幅部7において増幅される。増幅部7で増幅された電磁妨害波は電磁妨害波結合部2を介して被試験装置3のケーブル4に結合される。このケーブル4を介して被試験装置3には電磁妨害波が印加されることになる。なお、電磁妨害波結合部2は一般的に非接触型のプローブが用いられる。また、電磁妨害波発生部5が発生した電磁妨害波の出力波形は、電磁妨害波測定部6において測定、記録されており、必要に応じて試験者が確認することができる。

0014

伝導イミュニティ試験装置1が、時間t1のタイミングでVt1の電磁妨害波を、電磁妨害波結合部2を介してケーブル4に結合すると、被試験装置3にはVt1の電磁妨害波が印加される。このとき、図5に示すように、温度検出部10は被試験装置3の測定部位における温度がTt1に達したことを検出する。そして、温度変化測定部11は電磁妨害波を印加する前の被試験装置3の測定部位における温度Tt0を、時間t1のタイミングでVt1の電磁妨害波を被試験装置3に印加した時の被試験装置3の測定部位における温度Tt1から引くことにより、温度上昇の変化量ΔT01を求めることができる。なお、温度検出部10は被試験装置3の回路や素子、あるいは内部の雰囲気温度を検出するために複数個配設されるのであるが、上記説明は複数個配設された温度検出部10のうちの任意の1個の動作について説明したものである。温度変化測定部11には複数の温度検出部10それぞれが検出した各測定部位の温度が入力されており、各測定部位の温度に基づいてそれぞれ温度変化量を求めている。

0015

制御部12は、温度変化測定部11が測定したt1時点の温度変化ΔT01に基づいて、次のタイミングt2時点で印加するべき電磁妨害波のレベルを決定する。具体的には、タイミングt2時点で印加するべき電磁妨害波のレベルは、その温度変化量が、タイミングt1時点の温度変化ΔT01よりも小さくなるように決定される。つまり、タイミングt1時点の電磁妨害波のレベル変化量は図4に示されるとおりΔV01であるが、タイミングt2時点の電磁妨害波のレベル変化量ΔV12を、タイミングt1時点の電磁妨害波のレベル変化量ΔV01よりも小さくすることにより、タイミングt2時点の電磁妨害波のレベルVt2(Vt1+ΔV12)を被試験装置3に印加した場合の温度変化量ΔT12はタイミングt1時点の温度変化ΔT01よりも低く抑えられる。なお、電磁妨害波のレベルを決定する根拠となる温度変化量は、複数の温度検出部10のうち、いずれの温度検出部10が検出した温度をもとに算出するのか問題になるが、最も顕著な温度上昇を検出した温度検出部10が測定した温度に基づいて求めればよい。また、被試験装置によっては、複数の温度検出部10が測定した温度の平均値に基づいて電磁妨害波のレベルを決定してもよいし、任意の個所に配設された温度検出部10が測定した温度に基づいて電磁妨害波のレベルを決定してもよい。

0016

制御部12は、次タイミング時点の電磁妨害波のレベルを決定すると、その値をレベル記録部13に記録する。そして、制御部12は、回路状態判定部9が被試験装置3の回路状態を正常と判定する限り、次タイミング時点の電磁妨害波を被試験装置3に印加する。このように、制御部12は、回路状態判定部9が被試験装置3の異常を検出して電磁妨害波の印加を停止させるまで伝導イミュニティ試験を継続する。一方、回路状態判定部9が被試験装置3内部の一部または全部の回路に信号が流れていないことを検出すると、被試験装置3に異常が発生したと判定する。制御部12は回路状態判定部9が被試験装置3に異常が発生したと判定すると、電磁妨害波の印加を停止させることで伝導イミュニティ試験を終了させる。そして、回路状態判定部9が被試験装置3の異常を検出していたときに、被試験装置3に印加していた電磁妨害波の値を、被試験装置3が正常に動作する電磁妨害波耐力の限界である「破壊レベル」として記録する。

0017

上記説明の伝導イミュニティ試験装置は、次タイミング時点に印加する電磁妨害波のレベルを、次タイミング時点の温度変化量が前タイミング時点の温度変化量を超えないように設定することにより、電磁妨害波のレベル変化量が電磁妨害波の「破壊レベル」に近づくのに伴って小さくなる。したがって、「破壊レベル」付近の電磁妨害波のレベルを小刻みに変化させることが可能となり、「破壊レベル」付近の被試験装置3の温度データを精密に測定することが可能となる。また、先の説明のとおり、上記説明の伝導イミュニティ試験装置は、電磁妨害波のレベル変化量を、伝導イミュニティ試験開始当初の電磁妨害波のレベル変化量は大きく、「破壊レベル」に近づくのに伴い小さくするように被試験装置3内部の温度変化量に応じて制御するので、電磁妨害波のレベル変化量を固定した状態で試験を行うよりも試験時間を短縮できる。また、上記説明の伝導イミュニティ試験装置は、被試験装置3の回路状態を、回路に流れる信号を検出する複数のセンサを設け、一部または全部のセンサが信号を検出できなくなった場合に、被試験装置3に異常が発生したものと判定して、伝導イミュニティ試験を終了させている。したがって、伝導イミュニティ試験を自動的に終了させることができる。

0018

なお、上記説明に係る伝導イミュニティ試験装置は、被試験装置3の異常を被試験装置3内部の温度を測定することにより判定していた。しかし、温度のような物理的パラメータのみならず、電界強度のような電磁気パラメータや、オゾン濃度のような化学的パラメータ監視して異常を判定するようにしてもよい。

0019

実施の形態2.
図6は本発明の実施の形態2に係る伝導イミュニティ試験装置の構成を示す図である。図6において、図1と同じ符号は同一または相当部分を示すので説明は省略する。図6に示す伝導イミュニティ試験装置1は、図1に示す伝導イミュニティ試験装置1に、被試験装置3に異常が発生したときに警報を発する警報部14を設けたものである。伝導イミュニティ試験の実施方法は、実施の形態1にて説明したものと同様であるが、制御部12が被試験装置3の異常を示す信号を受信した場合、制御部12は電磁妨害波発生部5に電磁妨害波の出力を停止させる信号を出力するとともに、警報部14に警報を発するよう指示信号を出力する。これにより電磁妨害波発生部5は電磁妨害波の出力を停止し試験は中止となり、同時に警報部14は警報を発することで試験員に試験終了を報知する。

図面の簡単な説明

0020

図1は本発明の実施の形態1に係る伝導イミュニティ試験装置の構成を示すブロック図である。
図2は電磁妨害波発生部5が出力する電磁妨害波が矩形パルス波である場合の波形を示す図である。
図3は電磁妨害波発生部5が出力する電磁妨害波がサージ耐圧試験波である場合の波形を示す図である。
図4は時間(電磁妨害波の入力タイミング)と電磁妨害波のレベルの関係を示す図である。
図5は時間(電磁妨害波の入力タイミング)と被試験装置3の温度の関係を示す図である。
図6は本発明の実施の形態2に係る伝導イミュニティ試験装置の構成を示す図である。

符号の説明

0021

1伝導イミュニティ試験装置、2電磁妨害波結合部、3被試験装置、
4ケーブル、5 電磁妨害波発生部、6 電磁妨害波測定部、7増幅部、
8回路信号検出部、9回路状態判定部、10温度検出部、11温度変化測定部、12 制御部、13 レベル記録部、14 警報部

ページトップへ

この技術を出願した法人

この技術を発明した人物

ページトップへ

関連する挑戦したい社会課題

関連する公募課題

ページトップへ

技術視点だけで見ていませんか?

この技術の活用可能性がある分野

分野別動向を把握したい方- 事業化視点で見る -

ページトップへ

おススメ サービス

おススメ astavisionコンテンツ

新着 最近 公開された関連が強い技術

この 技術と関連性が強い人物

関連性が強い人物一覧

この 技術と関連する社会課題

関連する挑戦したい社会課題一覧

この 技術と関連する公募課題

関連する公募課題一覧

astavision 新着記事

サイト情報について

本サービスは、国が公開している情報(公開特許公報、特許整理標準化データ等)を元に構成されています。出典元のデータには一部間違いやノイズがあり、情報の正確さについては保証致しかねます。また一時的に、各データの収録範囲や更新周期によって、一部の情報が正しく表示されないことがございます。当サイトの情報を元にした諸問題、不利益等について当方は何ら責任を負いかねることを予めご承知おきのほど宜しくお願い申し上げます。

主たる情報の出典

特許情報…特許整理標準化データ(XML編)、公開特許公報、特許公報、審決公報、Patent Map Guidance System データ