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技術 製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システム

出願人 株式会社リコー
発明者 林田正敬
出願日 2003年3月19日 (17年3ヶ月経過) 出願番号 2003-076382
公開日 2004年10月14日 (15年8ヶ月経過) 公開番号 2004-287609
状態 特許登録済
技術分野 個々の半導体装置の試験 総合的工場管理 特定用途計算機
主要キーワード 組立ジグ 組付け箇所 識別ライン 検査ジグ 検出可否 識別入力 重複検査 製品設計データ
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重要な関連分野

この項目の情報は公開日時点(2004年10月14日)のものです。
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図面 (9)

課題

同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウン検査時間の短縮化を実現できる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムを提供する。

解決手段

製品を構成する部品と部品の部位と部位を検査する検査方法と検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、部位を検査する検査方法を設定する。

概要

背景

一般的に製品検査は、図8の様に複数回の工程内検査と最終検査で構成されている。それぞれの検査の工程は、同機能の検査装置重複して使用する場合もあれば、異なる機能、性能の検査装置を使用することも有る。また、一つの検査工程に複数台同一機能の検査装置のみならず、異なる機能の検査装置を用いることもある。工程内検査で発見されない不良は、後工程の検査や最終検査で発見されることになる。

概要

同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化を実現できる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムを提供する。製品を構成する部品と部品の部位と部位を検査する検査方法と検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、部位を検査する検査方法を設定する。

目的

ところで、後工程以降で発見される不良は、意図して発見されるものでなく原因不明のままのことがあり、例えば、プリント基板では、どこの部分の半田付けがされていない(オープン)とか、どこがショートしているというように直接的に真の不良原因が判らないことが殆どであり、不良原因を解明しようとすれば時間がかかり製造コストの増加に繋がることになる。また、不良はより前の工程で発見される方が全体の工数低減に繋がることになり、適正な工程でモレのない検査を行うことが重要である。また、重複した検査を行うことも当然無駄な作業を行っていることであり、生産効率の低下、設備の消耗に繋がり、好ましくない。そこで、本発明は、上述の問題点を解決するためになされたもので、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化を実現できる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムを提供することを目的とする。

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
2件

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請求項1

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容設定方法

請求項2

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データと、前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容設定方法。

請求項3

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、前記部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとすることを特徴とする請求項2記載の製品検査内容設定方法。

請求項4

過去の不良発生状況から、前記設計条件に対応した不良発生データを推定し、設計条件に対応した不良発生データとすることを特徴とする請求項3記載の製品検査内容設定方法。

請求項5

前記対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外することを特徴とする請求項2から4のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。

請求項6

前記対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外することを特徴とする請求項2から5のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。

請求項7

製品や検査ジグ検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、前記検査内容に必要な前記製品や前記検査ジグの検査用の部位を設計することを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。

請求項8

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査検査実績から収集し、発生しない不良の検査を除外することを特徴とする製品検査内容変更方法

請求項9

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査を除外することを特徴とする製品検査内容変更方法。

請求項10

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良が発生したとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容変更方法。

請求項11

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良に傾向的な増加が見られるとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容変更方法。

請求項12

部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することを特徴とする請求項10又は11に記載の製品検査内容変更方法。

請求項13

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項10から12のいずれかに記載の製品検査内容変更方法。

請求項14

前記対象製品検出可能データを作成するとき、対象製品を検査する検査方法を選択できることを特徴とする請求項13記載の製品検査内容変更方法。

請求項15

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えたことを特徴とする製品検査内容設定システム

請求項16

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、前記検査内容設定部は、前記不良発生データ作成部の前記対象製品不良発生データと前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有することを特徴とする請求項15の製品検査内容設定システム。

請求項17

製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記不良発生データ作成部は、前記データ収集部の前記対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる設計条件に対応した不良発生データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとする対象製品不良発生データ作成部を有することを特徴とする請求項16記載の製品検査内容設定システム。

請求項18

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、前記対象製品不良発生データと、前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定し、前記不良発生データ作成部は、過去の不良発生状況から、設計条件に対応した不良発生データを推定する不良予測システムから、設計条件に対応した不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有することを特徴とする製品検査内容設定システム。

請求項19

前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有することを特徴とする請求項16から18のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。

請求項20

前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有することを特徴とする請求項16から19のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。

請求項21

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部とを備え、前記検査内容設定部は、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定する対象製品検査内容設定部と、該検査内容を製品設計システム、検査ジグ設計システムに出力する対象製品検査内容入出力部を有することを特徴とする製品検査内容設定システム。

請求項22

製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、対象製品不良発生データにない不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム

請求項23

製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム。

請求項24

製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記対象製品不良発生データにある不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム。

請求項25

製品の品質データを記憶するデータベース部と、データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的増加が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム。

請求項26

前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有することを特徴とする請求項24又は25に記載の製品検査内容変更システム。

請求項27

製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項24から26のいずれかに記載の製品検査内容変更システム。

請求項28

前記検出可能データ作成部は対象製品を検査する検査方法を選択できる対象製品検査方法入力部を有することを特徴とする請求項27記載の製品検査内容変更システム。

請求項29

部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。

請求項30

製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。

請求項31

前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有することを特徴とする請求項15から20のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。

請求項32

製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項15から20のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。

技術分野

0001

本発明は、製品検査を効率的に行うことができる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムに関する。

背景技術

0002

一般的に製品の検査は、図8の様に複数回の工程内検査と最終検査で構成されている。それぞれの検査の工程は、同機能の検査装置重複して使用する場合もあれば、異なる機能、性能の検査装置を使用することも有る。また、一つの検査工程に複数台同一機能の検査装置のみならず、異なる機能の検査装置を用いることもある。工程内検査で発見されない不良は、後工程の検査や最終検査で発見されることになる。

発明が解決しようとする課題

0003

ところで、後工程以降で発見される不良は、意図して発見されるものでなく原因不明のままのことがあり、例えば、プリント基板では、どこの部分の半田付けがされていない(オープン)とか、どこがショートしているというように直接的に真の不良原因が判らないことが殆どであり、不良原因を解明しようとすれば時間がかかり製造コストの増加に繋がることになる。また、不良はより前の工程で発見される方が全体の工数低減に繋がることになり、適正な工程でモレのない検査を行うことが重要である。また、重複した検査を行うことも当然無駄な作業を行っていることであり、生産効率の低下、設備の消耗に繋がり、好ましくない。そこで、本発明は、上述の問題点を解決するためになされたもので、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化を実現できる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムを提供することを目的とする。

0004

上述の問題点を解決するために、請求項1記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する製品検査内容設定方法を最も主要な特徴とする。
請求項2記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データと、前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項3記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、前記部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項4記載の発明では、過去の不良発生状況から、前記設計条件に対応した不良発生データを推定し、設計条件に対応した不良発生データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項5記載の発明では、前記対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。

0005

請求項6記載の発明では、前記対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項7記載の発明では、製品や検査ジグ検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、前記検査内容に必要な前記製品や前記検査ジグの検査用の部位を設計する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項8記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査検査実績から収集し、発生しない不良の検査を除外する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項9記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査を除外する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項10記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良が発生したとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項11記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良に傾向的な増加が見られるとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。

0006

請求項12記載の発明では、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項13記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項14記載の発明では、前記対象製品検出可能データを作成するとき、対象製品を検査する検査方法を選択できる製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項15記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。

0007

請求項16記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、前記検査内容設定部は、前記不良発生データ作成部の前記対象製品不良発生データと前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項17記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記不良発生データ作成部は、前記データ収集部の前記対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる設計条件に対応した不良発生データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとする対象製品不良発生データ作成部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項18記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、前記対象製品不良発生データと、前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定し、前記不良発生データ作成部は、過去の不良発生状況から、設計条件に対応した不良発生データを推定する不良予測システムから、設計条件に対応した不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。

0008

請求項19記載の発明では、前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項20記載の発明では、前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項21記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部とを備え、前記検査内容設定部は、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定する対象製品検査内容設定部と、該検査内容を製品設計システム、検査ジグ設計システムに出力する対象製品検査内容入出力部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。

0009

請求項22記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、対象製品不良発生データにない不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項23記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項24記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記対象製品不良発生データにある不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。

0010

請求項25記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的増加が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項26記載の発明では、前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項27記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項28記載の発明では、前記検出可能データ作成部は対象製品を検査する検査方法を選択できる対象製品検査方法入力部を有する製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。

課題を解決するための手段

0011

請求項29記載の発明では、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項30記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項31記載の発明では、前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項32記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。

0012

以下、図面により本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム(製品検査内容変更システム)の構成を示す。製品検査内容設定システムの主要部は製品の設計データを記憶するデータベース部10と、データベース部10のデータから対象製品のデータを収集するデータ収集部20と、データ収集部20のデータから対象製品の検出可能データを作成する検出可能データ作成部30と、対象製品の不良を予測する不良予測システム100と、不良予測システム100、データ収集部20等のデータから、対象製品の不良発生データを作成する不良発生データ作成部40と、検査方法特徴データを作成する検査方法特徴データ作成部50と、不良発生データ作成部40のデータと検出可能データ作成部30のデータから、発生する不良現象に対して、その不良現象が検出可能な検査方法を抽出し、検査方法特徴データ作成部50のデータを判断の基準として検査内容を設定する検査内容設定部60とから構成される。
データベース部10は製品の組付け箇所ごと製品設計データや、その製品の工程(組付け、検査)ごと工程設計データや、その製品の組付け部品識別ごと組付け部品設計データや、その製品の接続箇所ごと接続箇所設計データや、その製品の接続箇所関連データが記憶されている製品設計データベース11と、製品の不良データや、生産データが記憶されている製造品質データベース12とから構成される。
製品設計データベース11は製品識別ライン識別、組付け箇所識別、組付け部品識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無で表される組付け箇所ごと製品設計データと、製品識別、ライン識別、工程識別(組付け方法、検査方法)、順序で表される工程設計データと、組付け部品識別、組付け部品特性で表される組付け部品設計データと、製品識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、接続箇所特性、接続箇所関連識別で表される接続箇所設計データと、製品識別、接続箇所関連識別、接続箇所関連特性で表される接続箇所関連データが記憶される。
ここで、組付け箇所特性とは、被組み付け部品組立ジグの、組付け箇所ごと特性等の組み合わせを表す。組付け部品特性とは、組付け部品ごと特性等の組み合わせを表す。接続箇所特性とは、接続箇所ごと特性等の組み合わせを表す。またここで特性とは、構造的特性や材料特性や特徴等の組み合わせを表す。構造的特性とは、形状、寸法、角度、重量、配置等の条件の組み合わせを表す。材料特性とは、材質表面処理等の条件の組み合わせを表す。また特徴とは、種類、荷姿、検査用設計有無等の条件の組み合わせを表す。

0013

製造品質データベース12は生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数で表される不良データと、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、生産枚数で表される生産データとが記憶される。
データ収集部20は対象製品の製品識別、ライン識別を入力する対象製品識別ライン識別入力部21と、対象製品の設計データを収集する対象製品設計データ収集部22と、その設計データを記憶する対象製品設計データ記憶部23と、その設計データを入出力する対象製品設計データ入出力部24と、対象製品の品質データを収集する対象製品品質データ収集部25と、その品質データを記憶する対象製品品質データ記憶部26と、その品質データを入出力する対象製品品質データ入出力部27とから構成される。
対象製品識別ライン識別入力部21は、対象製品設計データ収集部22、対象製品品質データ収集部25にて、データを収集する対象製品の製品識別、ライン識別として、製品設計データベース11に記憶されている製品識別、ライン識別を選定入力する。この場合、任意の製品識別、ライン識別を入力することができる。そして、ここでは、入力はある範囲を区切った範囲入力、あるいは区切らないあいまい入力のいずれでもよい。

0014

対象製品設計データ収集部22は、製品設計データベース11から対象製品識別ライン識別入力部21によって入力された製品識別、ライン識別の組付け箇所ごと製品設計データ、工程設計データ、接続箇所設計データ、接続箇所関連データと、その組付け箇所ごと製品設計データにある組付け部品識別の組付け部品設計データとを収集する。組付け箇所ごと製品設計データと組付け部品設計データの組付け部品識別を比較し、組付け箇所ごと製品設計データに組付け部品設計データを対応付け、対応付けデータAとする。対応付けデータAと接続箇所設計データの、組付け箇所識別を比較し、対応付けデータAに接続箇所設計データを対応付け、対応付けデータBとする。対応付けデータBと接続箇所関連データの、組付け箇所識別、接続箇所識別を比較し、対応付けデータBに接続箇所関連データを対応付け、接続箇所ごと製品設計データとする。接続箇所ごと製品設計データと工程設計データを、対象製品設計データ記憶部23に記憶させる。
対応付けデータAは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性で表される。対応付けデータBは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続箇所関連識別で表される。
対象製品設計データ記憶部23は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性で表される接続箇所ごと製品設計データと、製品識別、ライン識別、工程識別(組付け方法、検査方法)、順序で表される工程設計データとが記憶される。
対象製品設計データ入出力部24は対象製品設計データ記憶部23に記憶されているデータを入力、編集、出力する。生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数で表される不良データと、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、生産枚数で表される生産データとが記憶される。
対象製品設計データ収集部25は製品品質データベース12から対象製品識別ライン識別入力部21によって入力された製品識別、ライン識別の、不良データ、生産データを収集する。不良データと生産データの、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法を比較し、不良データに生産データを対応付け、対応付けデータCとする。対応付けデータCから、不良率(不良件数/生産枚数)、不良の傾向を算出し、対応付けデータCに対応付け、接続箇所ごと製造品質データとする。接続箇所ごと製造品質データを、対象製品設計データ記憶部26に記憶させる。対応付けデータCは、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、生産枚数で表される。
対象製品品質データ記憶部26は生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、生産枚数、不良率、不良の傾向で表される組付け箇所識別ごと製造品質データが記憶される。対象製品品質データ入出力部27は対象製品品質データ記憶部26に記憶されているデータを入力、編集、出力する。

0015

検出可能データ作成部30は対象製品の検出可能データを記憶する対象製品検出可能データ記憶部31と、その検出可能データを入出力する対象製品検出可能データ入出力部32と、各検査方法の設計条件に対応した検出可能データを記憶する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部35と、その検出可能データを入出力する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部36と、対象製品の検査方法を入力する対象製品検査方法入力部34と、対象製品の設計データ、各検査方法の設計条件に対応した検出可能データ、対象製品の検査方法から、対象製品の検出可能データを作成する対象製品検出可能データ作成部33から構成される。
設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部35は検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、接続箇所関連特性、不良現象、検出可否で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データが記憶される。設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部36は設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部35に記憶されているデータを入力、編集、出力する。
対象製品検査方法入力部34は対象製品検出可能データ作成部33にてデータを収集する検査方法を選定入力する。この場合、任意の検査方法を複数入力することができる。そして、ここでは、入力はある範囲を区切った範囲入力、あるいは区切らないあいまい入力のいずれでもよい。
対象製品検出可能データ作成部33は設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部35に記憶された設計条件に対応した各検査方法検出可能データから、予め指定された検査方法、または、対象製品検査方法入力部34によって入力された検査方法のデータを抽出し、抽出データAとする。

0016

対象製品設計データ記憶部23に記憶された接続箇所ごと製品設計データと抽出データAの組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、接続箇所関連特性を比較し、接続箇所ごと製品設計データと抽出データAを対応付け、対応付けデータDとする。対応付けデータDと対象製品設計データ記憶部23に記憶された工程設計データの組付け方法を比較し、対応付けデータDに工程設計データを対応付け、対応付けデータEとする。ここで、工程設計データの順序は、組付け方法順序とする。
対応付けデータEと対象製品設計データ記憶部23に記憶された工程設計データの検査方法を比較し、対応付けデータEに工程設計データを対応付け、対応付けデータFとする。ここで、工程設計データの順序は、検査方法順序とする。対応付けデータFの組付け方法順序と検査方法順序を比較し、組付け方法順序が検査方法順序より遅い場合は、検出可否を検出不可とし、対象製品検出可能データとする。対象製品検出可能データを対象製品検出可能データ記憶部31に記憶させる。対応付けデータDは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される。
対応付けデータEは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否、組付け方法順序で表される。
対応付けデータFは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否、組付け方法順序、検査方法順序で表される。

0017

対象製品検出可能データ記憶部31は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される対象製品検出可能データが記憶される。対象製品検出可能データ入出力部32は対象製品検出可能データ記憶部31に記憶されているデータを入力、編集、出力する。製品を構成する部品とその部品の部位とその部位を検査する検査方法とその検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データの例としては図2のようになる。図2では、検査できる場合は○、検査できない場合は×で示されている。
不良発生データ作成部40は対象製品の不良発生データを記憶する対象製品不良発生データ記憶部41と、その不良発生データを入出力する対象製品不良発生データ入出力部42と、設計条件に対応した不良発生データを記憶する設計条件に対応した不良発生データ記憶部44と、その不良発生データを入出力する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部45と、検査実施基準を記憶する検査実施基準記憶部47と、その検査実施基準を入出力する検査実施基準入出力部48と、対象製品の設計データ、設計条件に対応した不良発生データから、対象製品の不良発生データを作成する、または、対象製品の設計データに対して、その設計条件から発生すると予測された不良現象を抽出し、その抽出されたデータを対象製品の不良発生データとする、または、実際に発生した不良現象を抽出し、その抽出されたデータを対象製品の不良発生データとする対象製品不良発生データ作成部43と、その対象製品の不良発生データから、検査実施基準データを判断の基準として、検査する必要の無いところを削除する検査不必要箇所削除部46とから構成される。製品を構成する部品とその部品の部位とその部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データの例としては図3のようになる。図3中単位ppmは、part par millionの単位であり、1ppmは100万分の1を意味する。

0018

設計条件に対応した不良発生データ記憶部44は組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率で表される設計条件に対応した不良発生データが記憶される(不良件数、接続点数、不良率は、空白でも良い)。
設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部45は、設計条件に対応した不良発生データ記憶部44に記憶されているデータを入力、編集、出力する。検査実施基準記憶部47は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、不良現象、検査要不要で表される製品ごと検査実施基準と、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査要不要で表される設計条件に対応した検査実施基準と、製品識別、ライン識別、目標不良率で表される不良率検査実施基準とが記憶される。
検査実施基準入出力部48は検査実施基準記憶部47に記憶されているデータを入力、編集、出力する。対象製品不良発生データ作成部43は、対象製品設計データ記憶部23に記憶された接続箇所ごと製品設計データと設計条件に対応した不良発生データ記憶部44に記憶された設計条件に対応した不良発生データの組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性を比較し、接続箇所ごと製品設計データと設計条件に対応した不良発生データを対応付け、対象製品不良発生データとする。または、対象製品設計データ記憶部23に記憶された接続箇所ごと製品設計データと、不良予測システム100から予測された不良現象を抽出し、その抽出したデータを、対応付け、対象製品不良発生データとする。または、対象製品設計データ記憶部23に記憶された接続箇所ごと製品設計データと、対象製品品質データ記憶部26から実際に発生した不良現象を抽出したデータを、対応付け、対象製品不良発生データとする。そして、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部41に記憶させる。

0019

対象製品不良発生データ記憶部41は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、不良の傾向で表される対象製品検出可能データが記憶される。この場合、不良件数、接続点数、不良率、不良の傾向は、空白でもよい。対象製品不良発生データ入出力部42は対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されているデータを入力、編集、出力する。
検査不必要箇所削除部46は対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されている対象製品不良発生データと検査実施基準記憶部47に記憶された設計条件に対応した検査実施基準の組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率を比較し、対象製品不良発生データに、設計条件に対応した検査実施基準を対応付け、対応付けデータGとする。
対応付けデータGと検査実施基準記憶部47に記憶された製品ごと検査実施基準の製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対応付けデータGと製品ごと検査実施基準を対応付け、対応付けデータHとする。対応付けデータHから設計条件に対応した検査要不要が「不要」で、対象製品検査要不要が「不要」であるデータと、設計条件に対応した検査要不要が「不要」で、対象製品検査要不要が空白であるデータと、設計条件に対応した検査要不要が空白で、対象製品検査要不要が「不要」であるデータとを削除し、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率を対象製品不良発生データとする。
対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部41に記憶させる。さらに、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されている対象製品不良発生データを不良率の小さい順に削除していき、(接続点数が少ないものは、信頼性が低い為、除いたりする)削除したデータの不良率の合計が、検査実施基準記憶部47に記憶された不良率検査実施基準の目標不良率に達するまで、実施する。ここで、空白は、「要」でも「不要」でもないことを表す。
対応付けデータGは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、設計条件に対応した検査要不要で表される。対応付けデータHは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、設計条件に対応した検査要不要、対象製品検査要不要で表される。

0020

検査方法特徴データ作成部50は検査方法の特徴を記憶する検査方法特徴データ記憶部51と、その特徴を入出力する検査方法特徴データ入出力部52とから構成される。検査方法特徴データ記憶部51は検査方法、検査方法特徴で表される検査方法ごと検査方法特徴データと、検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、検査ランクで表される検査方法設計条件ごと検査方法特徴データと、が記憶される。検査方法特徴データ入出力部52は検査方法特徴データ記憶部51に記憶されているデータを入力、編集、出力する。検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データの例としては図4のようになる。なお、図4中A、B、C、Dはランク付けを示す。
検査内容設定部60は対象製品の不良発生データ、対象製品の検出可能データ、検査方法の特徴データから、検査内容を設定する対象製品検査内容設定部61と、その検査内容を記憶する対象製品検査内容記憶部62と、その検査内容を入出力する対象製品検査内容入出力部63とから構成される。
対象製品検査内容設定部61は対象製品検出可能データ記憶部31に記憶されている対象製品検出可能データを抽出し、抽出データBとする。または、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されている対象製品不良発生データと対象製品検出可能データ記憶部31に記憶されている対象製品検出可能データの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対象製品不良発生データにある対象製品検出可能データを抽出し、抽出データBとする。
抽出データBと検査方法特徴データ記憶部51に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データの検査方法を比較し、抽出データBと検査方法ごと検査方法特徴データを対応付け、対応付けデータIとする。対応付けデータIから、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象が重複しているものを抽出し、検出可否が「可」で、検査方法特徴から判断し(例えば、負荷が小さいものを選択し)、対象製品検査内容とする。対象製品検査内容の例としては図5のようになる。

0021

対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部62に記憶させる。または、抽出データBと検査方法特徴データ記憶部51に記憶されている検査方法設計条件ごと検査方法特徴データの検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象を比較し、抽出データBと検査方法設計条件ごと検査方法特徴データを対応付け、対応付けデータJとする。対応付けデータJから、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象が重複しているものを抽出し、検出可否が「可」で、検査ランクが一番高いものを選択し、対象製品検査内容とする。
対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部62に記憶させる。さらに、対象製品検査内容記憶部62に記憶されている対象製品検査内容と、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されている対象製品不良発生データの、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対象製品不良発生データにないものは、削除し、あるものは、検査方法特徴データ記憶部51に記憶されているデータを判断の基準として(参照して)、追加する。
さらに、対象製品品質データ記憶部26に記憶されている対象製品品質データの傾向が傾向的減少であった場合、対象製品検査内容記憶部62に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータとの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する。
さらに、対象製品品質データ記憶部26に記憶されている対象製品品質データの傾向が傾向的増加であった場合、対象製品検査内容記憶部62に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータとの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として(参照して)、追加する。
傾向的減少とは、継続して不良の減少が見られる、ある期間にわたって継続して低い不良率を維持している/基準値を下回るような場合をいう。傾向的な不良増加とは、継続して不良の増加が見られる、ある期間にわたって継続して高い不良率を維持している/基準値をオーバーしているような場合をいう。

0022

抽出データBは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される。対応付けデータIは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査方法、検出可否、検査方法特徴で表される。対応付けデータJは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査方法、検出可否、検査ランクで表される。
対象製品検査内容記憶部62は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、検査方法で表される対象製品検査内容が記憶される。検査方法特徴データ入出力部63は対象製品検査内容記憶部62に記憶されているデータを入力、編集、出力する。そのデータを製品設計システム200、検査ジグ設計システム300に出力する。
上述の各項目を例えば、プリント基板(電装部品実装されたものを含む)にて例示すると、「生産時期」は、生産年月、生産年月日等、「製品識別」は、プリント基板の番号、プリント基板の名称等、「ライン識別」は、ライン番号ライン名称等、「組付け箇所識別」は、リファレンス番号アドレス)等、「部品識別」は、実装部品の番号、品名、メーカーとメーカー型番等、「組付け方法」は、実装方法、実装工程(設備、人等)、実装角度等の組み合わせ、「組付け箇所特性」は、実装面、実装座標、実装角度、パッド形状、寸法、レジスト形状、寸法、はんだ印刷マスク開口部形状、寸法等の組み合わせ、「組付け部品特性」は、形状概要(QFP、SOP、CHIP等)、ピン形状概要(フラットガルウィング等)、ピン数、長さ、幅、高さ、ピッチ、材質、マーク極性、荷姿概要(エンボステープトレイスティック等)、荷姿寸法、荷姿角度等の組み合わせ、「検査方法」は、検査方法(外観検査機インサーキットテスタファンクション・テスタ、目視等)等、「接続箇所識別」は、ピン番号等、「接続箇所特性」は、中心座標、パッド形状、寸法、レジスト形状、寸法、はんだ印刷マスク開口部形状、寸法等の組み合わせ、「接続箇所関連識別」は、ノード番号信号線名等、「接続箇所関連特性」は、インサーキット・テスタやファンクション・テスタの為の、検査のピンがたつかどうか等を用いている。

0023

図6図7に本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム(製品検査内容変更システム)における処理フロー、即ち、本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法(製品検査内容変更方法)を示す。ここでは、データベース部10は、予め用意されており、随時、メンテナンスされた新たなデータが入っているものとする。図6に示すように、フロースタートすると、まずステップ201で判断する。そして、対象製品不良発生データを作成せず、対象製品検出可能データを設計条件から作成しない場合は、ステップ91へ移り、対象製品不良発生データを入力し、対象製品検出可能データを設計条件から作成しない場合は、ステップ911へ移り、対象製品不良発生データを設計条件から作成するか、対象製品検出可能データを設計条件から作成する場合は、ステップ70へ移る。
ステップ91では、対象製品検出可能データ入出力部32を用いて、対象製品検出可能データ記憶部31に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ205へ移る。ステップ911ではステップ91と同様の処理が行われ、その後、ステップ101へ移り、対象製品不良発生データ入出力部42を用いて、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ205へ進む。
ステップ70では、対象製品識別ライン識別入力部21を用いて、製品設計データベース11に記憶されている製品識別、ライン識別を選定入力、または、任意の製品識別、ライン識別を入力する。そして、ステップ81へ移る。ステップ81において、対象製品設計データ収集部22は、製品設計データベース11から、ステップ70によって入力された製品識別、ライン識別の、組付け箇所ごと製品設計データ、工程設計データ、接続箇所設計データ、接続箇所関連データと、その組付け箇所ごと製品設計データにある組付け部品識別の組付け部品設計データとを収集し、そのデータの対応付けを実施し、接続箇所ごと製品設計データと工程設計データを、対象製品設計データ記憶部23に記憶させる。このとき、対象製品設計データ入出力部24を用いて、対象製品設計データ記憶部23に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。

0024

ステップ81の後はステップ202へ移り、対象製品検出可能データを入力する場合は、ステップ912へ移る判断をし、対象製品検出可能データを設計条件から作成する場合は、ステップ203へ移る判断をする。ステップ912では、ステップ91と同様の処理が行われ、その後、ステップ204へ移る。
ステップ203では、対象製品の検査方法を入力しない場合は、ステップ92へ移る判断をし、入力する場合は、ステップ94へ移る判断をする。ステップ94では、対象製品検査方法入力部34を用いて、データを収集する検査方法を選定入力、または、任意の検査方法を複数入力する。そして、ステップ92へ進む。
ステップ92では、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部36を用いて、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部35に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ93へ進む。ステップ93において、対象製品検出可能データ作成部33は、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部35に記憶された設計条件に対応した各検査方法検出可能データ、予め指定された検査方法、または、対象製品検査方法入力部34によって入力された検査方法のデータ、対象製品設計データ記憶部23に記憶された接続箇所ごと製品設計データ、工程設計データの抽出、対応付け、変更を実施し、対象製品検出可能データを対象製品検出可能データ記憶部31に記憶させる。このとき、対象製品検出可能データ入出力部32を用いて、対象製品検出可能データ記憶部31に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ204へ進む。

0025

ステップ204では、対象製品不良発生データを設計条件だけから作成する場合は、ステップ102へ移る判断をし、過去の不良発生状況から推定する場合は、ステップ104へ移る判断をする。ステップ102では、設計条件に対応した不良発生データ入出力部45を用いて、設計条件に対応した不良発生データ記憶部44に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ103へ移る。ステップ103において、対象製品不良発生データ作成部43は、対象製品設計データ記憶部23に記憶された接続箇所ごと製品設計データ、設計条件に対応した不良発生データ記憶部44に記憶された設計条件に対応した不良発生データ、の対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部41に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部42を用いて、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後はステップ205へ進む。
ステップ104においては、対象製品不良発生データ作成部43は、対象製品設計データ記憶部23に記憶された組付け箇所ごと製品設計データ、不良予測システム100から予測された不良現象の抽出、対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部41に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部42を用いて、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ205へ進む。
ステップ205では、検査不必要箇所を削除しない場合は、図7のステップ206へ進む判断をし、削除する場合で、検査を実施しない不良を登録し、削除する場合は、ステップ111へ進む判断をし、目標品質に応じて削除する場合は、ステップ113へ進む判断をする。

0026

ステップ111では、検査実施基準入出力部48を用いて、検査実施基準記憶部47に記憶されているデータ(製品ごと検査実施基準、設計条件に対応した検査実施基準)を入力、編集する。そして、ステップ112へ進む。ステップ112において、検査不必要箇所削除部46は、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されている対象製品不良発生データ、検査実施基準記憶部47に記憶された製品ごと検査実施基準、検査実施基準記憶部47に記憶された設計条件に対応した検査実施基準の対応付け、削除を実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部41に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部42を用いて、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ206へ進む。
一方、ステップ113では、検査実施基準入出力部48を用いて、検査実施基準記憶部47に記憶されているデータ(目標不良率)を入力、編集する。そして、ステップ114へ進んで、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されている対象製品不良発生データを不良率の小さい順に削除していき(組付け点数が少ないものは、信頼性が低い為、除いたりする)、削除したデータの不良率の合計が、検査実施基準記憶部47に記憶された不良率検査実施基準の目標不良率に達するまで、実施する。このとき、対象製品不良発生データ入出力部42を用いて、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後はステップ206へ進む。

0027

図7においてステップ206では、不良現象に対する検査ランクを対象製品検査特徴データとする場合、ステップ122へ進む判断をし、その他は、121へ進む判断をする。ステップ122では、検査方法特徴データ入出力部52を用いて、検査方法特徴データ記憶部51に記憶されている検査方法設計条件ごと検査方法特徴データを入力、編集、出力する。そして、ステップ207へ進む。一方、ステップ121では、検査方法特徴データ入出力部52を用いて、検査方法特徴データ記憶部51に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データを入力、編集、出力する。そして、ステップ207へ進む。
ステップ207では、対象製品不良発生データを作成しなかった場合は、ステップ131へ進む判断をし、作成した場合は、ステップ132へ進む判断をする。ステップ131において、対象製品検査内容設定部61は、対象製品検出可能データ記憶部31に記憶されている対象製品検出可能データの抽出、対応付けを実施する。その後、ステップ208へ進む。一方、ステップ132では、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されている対象製品不良発生データ、対象製品検出可能データ記憶部31に記憶されている対象製品検出可能データ、の抽出、対応付けを実施する。この後、ステップ208へ進む。
ステップ208では、不良現象に対する検査ランクを対象製品検査特徴データとした場合、ステップ142へ進む判断をし、その他は、141へ進む判断をする。ステップ141では、ステップ131または132で抽出、対応付けしたデータ、検査方法特徴データ記憶部51に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データの対応付けを実施し、検出可否が「可」で、検査方法特徴から判断し(例えば、負荷が小さいものを選択し)、対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部62に記憶させる。このとき、対象製品検査内容入出力部63を用いて、対象製品検査内容記憶部62に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ209へ進む。

0028

ステップ142では、ステップ131や、132で抽出、対応付けしたデータ、検査方法特徴データ記憶部51に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データ、の対応付けを実施し、検出可否が「可」で、検査ランクが一番高いものを選択し、対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部62に記憶させる。このとき、対象製品検査内容入出力部63を用いて、対象製品検査内容記憶部62に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ209へ進む。
ステップ209では、対象製品製造品質データを用いて、対象製品検査内容を変更する場合は、ステップ701へ進む判断をし、その他は、211へ進む判断をする。ステップ701では、ステップ70と同様の処理が行われ、その後、ステップ811へ移る。ステップ811では、ステップ81と同様の処理が行われ、その後、ステップ82へ進む。ステップ82において、対象製品設計データ収集部25は、製品品質データベース12から、ステップ70によって入力された製品識別、ライン識別の、不良データ、生産データを収集し、そのデータの対応付け、計算を実施し、接続箇所ごと製造品質データを、対象製品設計データ記憶部26に記憶させる。このとき、対象製品品質データ入出力部27を用いて、対象製品品質データ記憶部26に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ95へ進む。
ステップ95では、対象製品不良発生データ作成部43は、対象製品設計データ記憶部23に記憶された組付け箇所ごと製品設計データ、対象製品品質データ記憶部26から実際に発生した不良現象を抽出したデータ、の対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部41に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部42を用いて、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ210へ進む。

0029

ステップ210では、検査実績から、発生しない不良の検査を除外する場合は、ステップ151へ進む判断をし、検査実績から、減少傾向にある不良の検査を除外する場合は、ステップ152へ進む判断をし、後工程の検査実績から、発生しない不良の検査を追加する場合は、ステップ153へ進む判断をし、後工程の検査実績から、増加傾向にある不良の検査を追加する場合は、ステップ154へ進む判断をする。
ステップ151では、対象製品検査内容記憶部62に記憶されている対象製品検査内容、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されている対象製品不良発生データの比較を実施し、対象製品不良発生データにないものは、削除する。ステップ152では、対象製品検査内容記憶部62に記憶されている対象製品検査内容、対象製品不良発生データ記憶部41に記憶されている対象製品不良発生データの比較を実施し、対象製品不良発生データにあるものは、検査方法特徴データ記憶部51に記憶されているデータを判断の基準として(参照して)、追加する。ステップ153では、対象製品品質データ記憶部26に記憶されているその最終製品検査(あるいは後工程の検査)の対象製品品質データの傾向が傾向的減少であった場合、対象製品検査内容記憶部62に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータを比較し、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する。ステップ154では、対象製品品質データ記憶部26に記憶されているその最終製品検査(あるいは後工程の検査)の対象製品品質データの傾向が傾向的増加であった場合、対象製品検査内容記憶部62に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータを比較し、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として(参照して)、追加する。ステップ151、152、153、154の後はステップ209へ戻る(図中のBの個所)。
ステップ211では、対象製品の検出可能データ、対象製品の不良発生データ、対象製品の検査方法特徴データを修正するか、しないかを判断し、修正する場合は、スタートへ戻り、修正しない場合は、ステップ212へ進む。ステップ212では、対象製品を製品、ジグ設計システムに出力する場合は、ステップ160へ進む判断をし、その他は、エンドへ進んでフロー処理を終了する。ステップ160において、検査方法特徴データ入出力部63は、対象製品検査内容記憶部62に記憶されているデータを製品設計システム200、検査ジグ設計システム300に出力する。そして、エンドへ進んでフロー処理を終了する。

0030

したがって、上述した製品検査内容設定方法では、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごと検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
また、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ(検査時間のアップ等)や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
また、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
また、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
また、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
また、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板(電装部品が実装されたものを含む)で、検査方法が、電気組立検査方法(以下、インサーキット・テスタと呼ぶ)のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。

0031

製品検査内容変更方法では、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
また、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
また、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
製品検査内容設定システムでは、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
また、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ(検査時間のアップ等)や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
また、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。

0032

また、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
また、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
また、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板(電装部品が実装されたものを含む)で、検査方法が、電気的組立検査方法(以下、インサーキット・テスタと呼ぶ)のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
製品検査内容変更システムでは、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。

発明を実施するための最良の形態

0033

また、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
また、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
加えて、製品検査内容設定方法では、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
加えて、製品検査内容設定システムでは、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。

0034

以上説明したように、請求項1によれば、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
請求項2によれば、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ(検査時間のアップ等)や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
請求項3によれば、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
請求項4によれば、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項5によれば、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
請求項6によれば、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
請求項7によれば、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板(電装部品が実装されたものを含む)で、検査方法が、電気的組立検査方法(以下、インサーキット・テスタと呼ぶ)のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。

0035

請求項8によれば、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項9によれば、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項10によれば、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
請求項11によれば、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
請求項12によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項13によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項14によれば、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
請求項15によれば、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。

発明の効果

0036

請求項16によれば、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ(検査時間のアップ等)や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
請求項17によれば、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
請求項18によれば、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項19によれば、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
請求項20によれば、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
請求項21によれば、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板(電装部品が実装されたものを含む)で、検査方法が、電気的組立検査方法(以下、インサーキット・テスタと呼ぶ)のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
請求項22によれば、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項23によれば、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項24によれば、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。

図面の簡単な説明

0037

請求項25によれば、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
請求項26によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項27によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項28によれば、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
請求項29によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項30によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項31によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項32によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。

図1
本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム(製品検査内容変更システム)の構成を示す図である。
図2
対象製品検出可能データの例を示す図である。
図3
対象製品不良発生データの例を示す図である。
図4
検査方法特徴データの例を示す図である。
図5
対象製品検査内容の例を示す図である。
図6
本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム又は製品検査内容変更システムにおける処理フロー(本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法又は製品検査内容変更方法)を示すフローチャートである。
図7
図6に続く製品検査内容設定システム又は製品検査内容変更システムにおける処理フロー(本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法又は製品検査内容変更方法)を示すフローチャートである。
図8
一般的な製品の検査フローを示す図である。
【符号の説明】
10データベース部、11製品設計データベース、12製造品質データベース、20データ収集部、21 対象製品識別ライン識別入力部、22対象製品設計データ収集部、23 対象製品設計データ記憶部、24 対象製品設計データ入出力部、25 対象製品品質データ収集部、26 対象製品品質データ記憶部、27 対象製品品質データ入出力部、30 検出可能データ作成部、31 対象製品検出可能データ記憶部、32 対象製品検出可能データ入出力部、33 対象製品検出可能データ作成部、34 対象製品検査方法入力部、35各検査方法検出可能データ記憶部、36 各検査方法検出可能データ入出力部、40 不良発生データ作成部、41 不良発生データ記憶部、42 対象製品不良発生データ入出力部、43 対象製品不良発生データ作成部、44 不良発生データ記憶部、45 各検査方法検出可能データ入出力部、46 検査不必要箇所削除部、47検査実施基準記憶部、48 検査実施基準入出力部、50 検査方法特徴データ作成部、51 検査方法特徴データ記憶部、52 検査方法特徴データ入出力部、60 検査内容設定部、61 対象製品検査内容設定部、62 対象製品検査内容記憶部、63 対象製検査内容入出力部、100 不良予測システム、200製品設計システム、300検査ジグ設計システム

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