図面 (/)

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図面 (8)

課題

画像処理装置において、オーバーラン処理に要する時間の短縮化を図る。

解決手段

描画コマンド中の描画種類と重ね合わせ属性および推定精度に基づいて中間リスト印字イメージへ変換する変換時間推定する描画変換時間推定手段2と、描画変換時間推定手段2の出力および描画コマンドより中間リストの生成を行う中間リスト生成手段3と、中間リスト生成手段3で生成された中間リストの格納を行う中間リスト格納手段4と、中間リスト格納手段4に格納された中間リストからラスタイメージを生成して印字を行う印字手段5とを有する画像処理装置1とする。

概要

背景

従来の画像処理装置について図6および図7を参照しながら説明する。

ここで、図6は従来の画像処理装置の一例を示すブロック図、図7は従来の画像処理装置の他の一例を示すブロック図である。

図6に示す画像処理装置8は、入力された描画コマンドから中間リストを生成する中間リスト生成手段9と、中間リスト生成手段9で生成された中間リストが格納される中間リスト格納手段4と、中間リスト格納手段4に格納された中間リストを読み出し印字データを出力する印字手段5とから構成されている。

このような画像処理装置8では、ホストコンピュータなどから送信された描画コマンドは、中間リスト生成手段9によって二値ビットマップデータおよび一次元ベクタデータと重ね合わせ属性を持つ中間リストが生成される。この中間リストが一旦中間リスト格納手段4に格納され、少なくとも1ページ分の中間リストが作成される。その後に、印字手段5は中間リスト格納手段4から当該中間リストを引き出し、二値の印字イメージの一部の連続した複数ラスタ分(以下、連続した複数ラスタを「バンド」といい、その印字イメージを「バンドイメージ」という。)を順次形成し、印字エンジンへの印字出力を得る。

ここで、バンドイメージの形成と印字エンジン出力とを同時に並行して行っている図6に示す画像処理装置においては、多量の中間リストからバンドイメージを形成する場合、バンドイメージ形成にかかる時間が印字エンジンへの転送時間より長くかかってしまい、正常に印刷できない場合(オーバーランエラー)が発生するという欠点がある。

このようなオーバーランエラーを回避するため、図7に示す画像処理装置10では、中間リスト生成手段9と中間リスト格納手段4との間に、中間リスト生成手段9で生成された中間リストからオーバーランが発生するか否かの判定を行うオーバーラン判定手段11と、オーバーラン判定手段11によりオーバーランが発生すると判定された場合に中間リスト格納手段4に格納された中間リストから重ね合わせ後の二値ビットマップのバンドイメージの形成を行って中間リストとして再度中間リスト格納手段4に格納するオーバーラン処理手段12とが設けられている。

これにより、オーバーラン判定手段11でオーバーランが発生すると判定された場合でも、当該バンドイメージを印字エンジンへ転送するだけて済むようにしていた。

概要

画像処理装置において、オーバーラン処理に要する時間の短縮化を図る。

描画コマンド中の描画種類と重ね合わせ属性および推定精度に基づいて中間リストを印字イメージへ変換する変換時間推定する描画変換時間推定手段2と、描画変換時間推定手段2の出力および描画コマンドより中間リストの生成を行う中間リスト生成手段3と、中間リスト生成手段3で生成された中間リストの格納を行う中間リスト格納手段4と、中間リスト格納手段4に格納された中間リストからラスタイメージを生成して印字を行う印字手段5とを有する画像処理装置1とする。

目的

そこで、本発明は、オーバーラン処理に要する時間の短縮化を図ることのできる画像処理装置を提供することを目的とする。

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

この技術が所属する分野

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請求項1

描画コマンド中の描画種類と重ね合わせ属性および推定精度に基づいて中間リスト印字イメージへ変換する変換時間推定する描画変換時間推定手段と、前記描画変換時間推定手段の出力および描画コマンドより中間リストの生成を行う中間リスト生成手段と、前記中間リスト生成手段で生成された中間リストの格納を行う中間リスト格納手段と、前記中間リスト格納手段に格納された中間リストからラスタイメージを生成して印字を行う印字手段とを有することを特徴とする画像処理装置

請求項2

中間リストを印字イメージへ変換したときの推定精度を設定してこれを前記描画変換時間推定手段に出力する推定精度設定手段を備えたことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。

請求項3

前記描画変換時間推定手段で推定された描画変換時間の値に従って推定精度の変更を行ってこれを前記推定精度設定手段に出力する推定精度変更手段を備えたことを特徴とする請求項2記載の画像処理装置。

技術分野

0001

本発明は、画像処理装置に関し、特にオーバーラン処理の短縮化に適用して有効な技術に関する。

背景技術

0002

従来の画像処理装置について図6および図7を参照しながら説明する。

0003

ここで、図6は従来の画像処理装置の一例を示すブロック図、図7は従来の画像処理装置の他の一例を示すブロック図である。

0004

図6に示す画像処理装置8は、入力された描画コマンドから中間リストを生成する中間リスト生成手段9と、中間リスト生成手段9で生成された中間リストが格納される中間リスト格納手段4と、中間リスト格納手段4に格納された中間リストを読み出し印字データを出力する印字手段5とから構成されている。

0005

このような画像処理装置8では、ホストコンピュータなどから送信された描画コマンドは、中間リスト生成手段9によって二値ビットマップデータおよび一次元ベクタデータと重ね合わせ属性を持つ中間リストが生成される。この中間リストが一旦中間リスト格納手段4に格納され、少なくとも1ページ分の中間リストが作成される。その後に、印字手段5は中間リスト格納手段4から当該中間リストを引き出し、二値の印字イメージの一部の連続した複数ラスタ分(以下、連続した複数ラスタを「バンド」といい、その印字イメージを「バンドイメージ」という。)を順次形成し、印字エンジンへの印字出力を得る。

0006

ここで、バンドイメージの形成と印字エンジン出力とを同時に並行して行っている図6に示す画像処理装置においては、多量の中間リストからバンドイメージを形成する場合、バンドイメージ形成にかかる時間が印字エンジンへの転送時間より長くかかってしまい、正常に印刷できない場合(オーバーランエラー)が発生するという欠点がある。

0007

このようなオーバーランエラーを回避するため、図7に示す画像処理装置10では、中間リスト生成手段9と中間リスト格納手段4との間に、中間リスト生成手段9で生成された中間リストからオーバーランが発生するか否かの判定を行うオーバーラン判定手段11と、オーバーラン判定手段11によりオーバーランが発生すると判定された場合に中間リスト格納手段4に格納された中間リストから重ね合わせ後の二値ビットマップのバンドイメージの形成を行って中間リストとして再度中間リスト格納手段4に格納するオーバーラン処理手段12とが設けられている。

0008

これにより、オーバーラン判定手段11でオーバーランが発生すると判定された場合でも、当該バンドイメージを印字エンジンへ転送するだけて済むようにしていた。

発明が解決しようとする課題

0009

しかしながら、このようなオーバーラン対策が施された従来の画像処理装置では、オーバーラン発生時のコマンドで大量の中間リストが生成される場合があり、処理時間がかかってしまうという問題を生じていた。

0010

そこで、本発明は、オーバーラン処理に要する時間の短縮化を図ることのできる画像処理装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段

0011

この課題を解決するために、本発明の画像処理装置は、描画コマンド中の描画種類と重ね合わせ属性および推定精度に基づいて中間リストを印字イメージへ変換する変換時間推定する描画変換時間推定手段と、描画変換時間推定手段の出力および描画コマンドより中間リストの生成を行う中間リスト生成手段と、中間リスト生成手段で生成された中間リストの格納を行う中間リスト格納手段と、中間リスト格納手段に格納された中間リストからラスタイメージを生成して印字を行う印字手段とを有する構成としたものである。

0012

これにより、中間リスト生成前にオーバーランの判定を行っているので、オーバーラン発生時にも大量の中間リストが生成されることがなくなり、オーバーラン処理に要する時間を短縮化することが可能になる。

発明を実施するための最良の形態

0013

本発明の請求項1に記載の発明は、描画コマンド中の描画種類と重ね合わせ属性および推定精度に基づいて中間リストを印字イメージへ変換する変換時間を推定する描画変換時間推定手段と、描画変換時間推定手段の出力および描画コマンドより中間リストの生成を行う中間リスト生成手段と、中間リスト生成手段で生成された中間リストの格納を行う中間リスト格納手段と、中間リスト格納手段に格納された中間リストからラスタイメージを生成して印字を行う印字手段とを有する画像処理装置であり、中間リスト生成前にオーバーランの判定を行っているので、オーバーラン発生時にも大量の中間リストが生成されることがなくなり、オーバーラン処理に要する時間を短縮化することが可能になるという作用を有する。

0014

本発明の請求項2に記載の発明は、請求項1記載の発明において、中間リストを印字イメージへ変換したときの推定精度を設定してこれを描画変換時間推定手段に出力する推定精度設定手段を備えた画像処理装置であり、中間リスト生成前にオーバーランの判定を行っているので、オーバーラン発生時にも大量の中間リストが生成されることがなくなり、オーバーラン処理に要する時間を短縮化することが可能になるという作用を有する。

0015

本発明の請求項3に記載の発明は、請求項2記載の発明において、描画変換時間推定手段で推定された描画変換時間の値に従って推定精度の変更を行ってこれを推定精度設定手段に出力する推定精度変更手段を備えた画像処理装置であり、中間リスト生成前にオーバーランの判定を行っているので、オーバーラン発生時にも大量の中間リストが生成されることがなくなり、オーバーラン処理に要する時間を短縮化することが可能になるという作用を有する。

0016

以下、本発明の実施の形態について、図1から図5を用いて説明する。なお、これらの図面において同一の部材には同一の符号を付しており、また、重複した説明は省略されている。

0017

図1は本発明の一実施の形態における画像処理装置の構成を示すブロック図、図2図1の画像処理装置における描画変換時間推定手段の構成を示すブロック図、図3図1の画像処理装置における推定精度設定手段の構成を示すブロック図、図4図1の画像処理装置における推定精度変更手段の構成を示すブロック図、図5図1の画像処理装置における中間リスト生成手段の構成を示すブロック図である。

0018

図1に示すように、本実施の形態の画像処理装置1は、中間リストを印字イメージへ変換したときの推定精度の設定を行う推定精度設定手段6と、描画コマンド中の描画種類と重ね合わせ属性および推定精度に基づいて中間リストを印字イメージへ変換する変換時間を推定する描画変換時間推定手段2と、描画変換時間推定手段2で推定された描画変換時間の値に従って推定精度の変更を行う推定精度変更手段7と、描画変換時間推定手段2の出力および描画コマンドより中間リストの生成を行う中間リスト生成手段3と、中間リスト生成手段3で生成された中間リストの格納を行う中間リスト格納手段4と、中間リスト格納手段4に格納された中間リストからラスタイメージを生成して印字を行う印字手段5とから構成されている。

0019

このような画像処理装置1によれば、ホストコンピュータ等から送出された描画コマンドは、描画変換時間推定手段2により、描画コマンドから生成された中間リストを印字時にバンドイメージへと展開するために要する時間の推定が図形の含まれるバンド分行われる。

0020

ここで、図2に示すように、描画変換時間推定手段2は、推定精度設定手段6から入力される推定精度と描画コマンドから描画コマンドの種類を判定する描画コマンド判定部2aと、描画コマンド判定部2aで判定された描画コマンドの種類に従って重ね合わせ属性係数テーブル2bを用いてそれぞれの描画時間の推定を行うビットマップ時間推定部2c、文字時間推定部2d、ポリライン時間推定部2e、ベジェ時間推定部2f、ポリゴン時間推定部2gと、これらの時間推定部2c〜2gによる推定結果から中間リスト生成手段3へオーバーラン判定結果を出力するとともに推定精度変更手段7へ積算変更時間を出力するオーバーラン判定部2hとを備えている。

0021

このような描画変換時間推定手段2によれば、描画コマンド判定部2aによって、入力された描画コマンドがビットマップ描画コマンドか、文字描画コマンドか、ポリライン描画コマンドか、ベジェ描画コマンドか、ポリゴン描画コマンドかが判定される。そして、判定されたコマンド別に各時間推定部2c〜2gへと送られ、それぞれの描画時間の推定が行われる。

0022

推定精度入力は0、1の2つの精度があり、バンド毎に設定され、それぞれの時間推定部2c〜2gに供給される。

0023

ビットマップ時間推定部2cにおいては、推定精度入力値に関係なく、ビットマップ推定時間をTb、バンド内のビットマップ幅をWb、バンド内のビットマップ高さをHb、描画コマンド中の重ね合わせ属性をテーブルアドレスとして重ね合わせ属性係数テーブル2bから得られた係数をKbとすると、(1)式によりバンドの描画推定時間が得られる。

0024

Tb=Hb×Wb×Kb・・・(1)
また、文字時間推定部2dにおいては、推定精度入力値に関係なく、文字推定時間をTc、バンド内の文字幅をWc、バンド内の文字高さをHc、描画コマンド中の重ね合わせ属性をテーブルアドレスとして重ね合わせ属性係数テーブル2bから得られた係数をKcとすると、(2)式により描画推定時間が得られる。

0025

Tc=Hc×Wc×Kc・・・(2)
さらに、ポリライン時間推定部2eにおいては、ポリライン推定時間をTpl、描画コマンド中の重ね合わせ属性をテーブルアドレスとして重ね合わせ属性係数テーブル2bから得られた係数をKpl、バンド内の頂点間の総距離をLpl、ライン幅をWplとした場合、描画コマンド中に塗りつぶし属性があるときは、推定精度入力が0の場合、ポリラインの頂点が(Xi,Yj)のような二次元座標で表わされたときに(3)式により描画推定時間が得られる。

0026

Tpl=((Lpl×Wpl)
+((Xmax−Xmin)×(Ymax−Ymin)))×Kpl
・・・(3)
ここでXmax、Xminはそれぞれ頂点座標値のXiの最大値および最小値、Ymaxは頂点座標中のYiの最大値とバンド内の座標のY方向の最大値のより小さな方の値、Ymin頂点座標中のYiの最小値とバンド内の座標のY方向の最小値のより大きな方の値である。また、推定精度が1の場合は、バンド内の塗りつぶし面積をAplとすると、(4)式で描画推定時間が得られる。

0027

Tpl=((Lpl×Wpl)+Apl)×Kpl ・・・(4)
また、塗りつぶし属性がないときには、推定精度に関係なく(5)式により描画推定時間が得られる。

0028

Tpl=Lpl×Wp×Kpl ・・・(5)
ベジェ時間推定部2fにおいては、ベジェ推定時間をTbz、描画コマンド中の重ね合わせ属性をテーブルアドレスとして重ね合わせ属性係数テーブル2bから得られた係数をKbz、ライン幅をWbzとした場合、描画コマンド中に塗りつぶし属性があるときは、推定精度入力が0の場合、ベジェの頂点が(Xi,Yj)のような二次元座標で表わされたときにその頂点を直線で接続したときのバンド内の総距離をLbzlとすると、(6)式により描画推定時間が得られる。

0029

Tbz=((Lbzl×Wbz)
+((Xmax−Xmin)×(Ymax−Ymin)))×Kbz
・・・(6)
ここでXmax、Xminはそれぞれ頂点座標値のXiの最大値および最小値、Ymaxは頂点座標中のYiの最大値とバンド内の座標のY方向の最大値のより小さな方の値、Ymin頂点座標中のYiの最小値とバンド内の座標のY方向の最小値のより大きな方の値である。推定精度が1の場合は、ベジェ接続でのバンド内の頂点接続総距離をLbzbzとし、バンド内の塗りつぶし面積をAbzとすると、(7)式により推定時間が得られる。

0030

Tbz=((Lbzbz×Wbz)+Abz)×Kbz ・・・(7)
また、塗りつぶし属性がないときには、推定精度0の場合には(8)式で推定時間が得られる。

0031

Tbz=Lbzl×Wbz×Kbz ・・・(8)
推定精度1の場合には(9)式で推定時間が得られる。

0032

Tbz=Lbzbz×Wbz×Kbz ・・・(9)
そして、ポリゴン時間推定部2gにおいては、ポリゴン推定時間をTpg、ポリゴン頂点間のバンド内の総距離をLpg、ライン幅をWpg、描画コマンド中の重ね合わせ属性をテーブルアドレスとして重ね合わせ属性係数テーブル2bから得られた係数をKpgとした場合、推定精度に関係なく塗りつぶし属性があるときには、バンド内の塗りつぶし面積をApgとすると、(10)式で推定時間が得られる。

0033

Tpg=((Lpg×Wpg)+Apg)×Kpg ・・・(10)
また、塗りつぶし属性がない場合には、(11)式で推定時間が得られる。

0034

Tpg=Lpg×Wpg×Kpg ・・・(11)
オーバーラン判定部2hでは、それぞれの時間推定部2c〜2gで得られたバンド毎の推定時間をバンド毎に積算した変換時間積算出力として出力し、またオーバーラン判定閾値との比較を行った結果をオーバーラン判定出力として出力する。また、一度オーバーラン発生と判定されたバンドについては、各時間推定を行うことなくオーバーラン発生の判定出力を行う。

0035

次に、推定精度設定手段6は、推定精度変更手段7からの推定精度変更入力を受けて推定精度の出力を行うもので、図3に示すように、描画コマンドを受けると、初期値を読み込んでビットマップ推定精度出力、文字推定精度出力、ポリライン推定精度出力、ベジェ推定精度出力、ポリゴン推定精度出力を各バンド分同一の初期値の精度で描画変換時間推定手段2へ出力する推定精度設定部6aを備えている。

0036

ここで、本実施の形態における画像処理装置1での初期値の推定精度は全て0である。そして、推定精度変更入力が行われると、指定のバンドに対して全ての描画コマンド種類に応じた推定精度の出力の変更が行われる。本実施の形態における画像処理装置では、変更された推定精度は1となる。

0037

推定精度変更手段7は、図4に示すように、描画変換時間推定手段2からの各バンド毎の変換時間積算入力を受けて閾値との比較を行う推定精度変更判定部7aを備えており、閾値より大きな値をもつ変換時間積算入力をもつバンドの指定と推定精度変更指令とを推定精度変更出力として推定精度設定手段6へ出力する。

0038

そして、オーバーラン判定結果、描画コマンドおよび中間リストが入力される中間リスト生成手段3は、描画コマンドの種類を判定する描画コマンド判定部3aと、描画コマンド判定部3aによる判定結果に応じて振り分けられた中間リストから再び中間リストを生成するビットマップリスト生成部3b、文字リスト生成部3c、ポリラインリスト生成部3d、ベジェリスト生成部3e、ポリゴンリスト生成部3fとを備えている。

0039

このような中間リスト生成手段3によれば、描画コマンド判定部3aでは、オーバーラン発生の判定がされたバンドに対しては、先ず当該バンドの中間リストが二値のバンドイメージが1個のみであるかどうかを判定し、1個のみでない場合には当該バンドの中間リストをすべて二値のビットマップとし、重ね合わせ属性に基づいて二値のバンドイメージの形成を行い、描画コマンドの種類に応じてビットマップリスト生成部3b、文字リスト生成部3c、ポリラインリスト生成部3d、ベジェリスト生成部3e、ポリゴンリスト生成部3fの何れかに対して描画コマンドを送出する。また、オーバーラン発生と判定されていないバンドに対しては、バンドイメージの形成を行わずに描画コマンドの種類に応じてそれぞれのリスト生成部3b〜3fに描画コマンドの送出のみを行う。

0040

ここで、ビットマップリスト生成部3bでは、色空間変換および二値階調変調が行われ、オーバーラン発生の判定を受けたバンドに対しては、描画コマンド判定部3aで形成された二値のバンドイメージ上へ重ね合わせ属性に応じた重ね合わせが行われたバンドイメージが中間リスト出力として出力され、これが中間リスト格納手段4に格納される。また、オーバーランとの判定がされなかったバンドに対しては、色空間変換および二値階調変調が行われた二値のビットマップが中間リストとして出力され、中間リスト格納手段4へ格納される。

0041

また、文字リスト生成部3cでは、オーバーラン発生の判定を受けたバンドに対しては、描画コマンド判定部3aで形成された二値のバンドイメージ上へ文字を多値ビットマップ化、色空間変換および二値階調変調した二値ビットマップ化した後に重ね合わせ属性に応じた重ね合わせが行われたバンドイメージが中間リスト出力として出力され、中間リスト格納手段4へ格納される。また、オーバーランとの判定がされなかったバンドに対しては、文字がアウトラインで用意されていれば、座標(X0,Yi)、(X1,Yi)のように表現される2点間ベクタを要素としてアウトライン間の塗りつぶしを表現した集合として中間リスト出力が生成され、文字がビットマップで用意されていれば、そのビットマップそのままが中間リスト出力として出力され、中間リスト格納手段4へ格納される。

0042

ポリラインリスト生成部3dでは、オーバーラン発生の判定を受けたバンドに対しては、描画コマンド判定部3aで形成された二値のバンドイメージ上へポリラインの多値ビットマップ化、色空間変換および二値階調変調した二値ビットマップ化した後に重ね合わせ属性に応じた重ね合わせが行われたバンドイメージが中間リスト出力として出力され、中間リスト格納手段4へ格納される。また、オーバーランとの判定がされなかったバンドに対しては、ポリラインのアウトライン部を座標(X0,Yi)、(X1,Yi)のように表現される2点間のベクタを要素としてアウトライン間の塗りつぶしを表現した集合と、内部の塗りつぶし属性が設定されていれば塗りつぶし部を座標(X0,Yi)、(X1,Yi)のように表現される2点間のベクタを要素とする集合を加えたものが中間リスト出力として出力され、中間リスト格納手段4へ格納される。

0043

ベジェリスト生成部3eでは、オーバーラン発生の判定を受けたバンドに対しては、描画コマンド判定部3aで形成された二値のバンドイメージ上へベジェの多値ビットマップ化、色空間変換および二値階調変調した二値ビットマップ化した後に重ね合わせ属性に応じた重ね合わせが行われたバンドイメージが中間リスト出力として出力され、中間リスト格納手段4へ格納される。また、オーバーランとの判定がされなかったバンドに対しては、ベジェのアウトライン部を座標(X0,Yi)、(X1,Yi)のように表現される2点間のベクタを要素としてアウトライン間の塗りつぶしを表現した集合と、内部の塗りつぶし属性が設定されていれば塗りつぶし部を座標(X0,Yi)、(X1,Yi)のように表現される2点間のベクタを要素とする集合を加えたものが中間リスト出力として出力され、中間リスト格納手段4へ格納される。

0044

そして、ポリゴンリスト生成部3fでは、オーバーラン発生の判定を受けたバンドに対しては、描画コマンド判定部3aで形成された二値のバンドイメージ上へポリゴンの多値ビットマップ化、色空間変換および二値階調変調した二値ビットマップ化した後に重ね合わせ属性に応じた重ね合わせが行われたバンドイメージが中間リスト出力として出力され、中間リスト格納手段4へ格納される。また、オーバーランとの判定がされなかったバンドに対しては、ポリゴンのアウトライン部を座標(X0,Yi)、(X1,Yi)のように表現される2点間のベクタを要素としてアウトライン間の塗りつぶしを表現した集合と、内部の塗りつぶし属性が設定されていれば塗りつぶし部を座標(X0,Yi)、(X1,Yi)のように表現される2点間のベクタを要素とする集合を加えたものが中間リスト出力として出力され、中間リスト格納手段4へ格納される。

0045

中間リスト格納手段4では、このようにして中間リスト生成手段3によって出力された中間リストが格納される。

0046

そして、印字手段5では、中間リスト格納手段4に1ページ以上分のバンドの中間リストが格納された後に印字コマンドが入力されると、中間リストから二値のバンドイメージを形成し、順次二値のバンドイメージを印字出力として出力する。

0047

このように、本実施の形態によれば、中間リスト生成前にオーバーランの判定を行っているので、オーバーラン発生時にも大量の中間リストが生成されることがなくなり、オーバーラン処理に要する時間を短縮化することが可能になる。

発明の効果

0048

以上のように、本発明によれば、中間リスト生成前にオーバーランの判定を行っているので、オーバーラン発生時にも大量の中間リストが生成されることがなくなり、オーバーラン処理に要する時間を短縮化することが可能になるという有効な効果が得られる。

図面の簡単な説明

0049

図1本発明の一実施の形態における画像処理装置の構成を示すブロック図
図2図1の画像処理装置における描画変換時間推定手段の構成を示すブロック図
図3図1の画像処理装置における推定精度設定手段の構成を示すブロック図
図4図1の画像処理装置における推定精度変更手段の構成を示すブロック図
図5図1の画像処理装置における中間リスト生成手段の構成を示すブロック図
図6従来の画像処理装置の一例を示すブロック図
図7従来の画像処理装置の他の一例を示すブロック図

--

0050

1画像処理装置
2描画変換時間推定手段
3中間リスト生成手段
4 中間リスト格納手段
5印字手段
6推定精度設定手段
7 推定精度変更手段

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