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課題

テスト用プローブテスト対象物テストポイントの間の精密な調整を可能とし、従来のテスト固定装置互換性のある簡単な構造のアダプターを提供する。

解決手段

電気回路基板2とテスト用プローブ4間の相対的な移動によって電気回路基板2上に設けられているテストポイントに、テスト用プローブ4を調整するための少なくとも一つの調整手段を具備し、この調整手段は、電気回路基板2のテストポイントのパターン適合する状態でプローブ案内孔7を有するプローブ案内板6を有し、プローブ案内孔7には、テストポイントに接触するテスト用プローブ4の端部が配設されており、さらに、調整手段15はアダプター本体3内に配置されている。

概要

背景

電気回路基板テストアダプターは、テスト固定装置テスト装置に用いられるものであり、プレスのように、二つの板状部材の間に、テストされる電気回路基板と、テスト対象物とをクランプするものである。このようなアダプターの一形態として、テストポイントに接触するものがあり、このアダプターは、複数のテストポイントのパターンに沿って配列された複数の釘状テスト用プローブ(「床」ともいう)を有することを特徴とする。テスト対象物は、その各テストポイントがテスト用プローブと接触するようにアダプターに押圧される。

製造誤差によって、しばしば、テスト対象物やテストポイントが偏位しているために、テスト対象物をテスト固定装置の所定位置に単に挿入するだけでは、テストポイントとテスト用プローブとの間の接触を、十分に確保できない場合がある。

そのため、アダプターや、テスト用プローブ及び/又はテスト対象物の相対的移動や調整ができるテスト用固定装置が近年提示されている。国際特許出願WO95/32432号の国際公報において、図7にそのようなアダプターが記載されている。このアダプターは、調整用駆動装置によってテスト対象物に向けて配列される調整可能な調整板を有している。また、このアダプターは複数枚、例えば、3〜5枚の案内板からなるいわゆる多層板構造を有しており、各案内板は平行間隔をあけて配設されており、かつ、周縁部間に設けられたスペーサによって固定保持されている。それらの案内板をテスト用プローブが挿通している。調整板が、テスト対象物側に設けられた案内板上に配置されており、案内板と共に調整することができる。調整用駆動装置は、アダプターを手動で調整するために、外部に向けて案内されると共にバーニアねじを具備するねじスピンドルによって特徴づけられる。バーニアねじの代わりに、動力による調整を可能とするためモータを用いることもできる。

ドイツ国公開特許公報DE4342654号公報には、図16、図17及び図19に示すように、テスト対象物を移動するための調整手段としての複数の電動モータを具備するテスト固定装置が提示されている。各駆動モータは、テスト固定装置に着脱自在に連結されると共に、手で保持可能なそれぞれ別個ケーシング取付けられている。

概要

テスト用プローブとテスト対象物のテストポイントの間の精密な調整を可能とし、従来のテスト固定装置と互換性のある簡単な構造のアダプターを提供する。

電気回路基板2とテスト用プローブ4間の相対的な移動によって電気回路基板2上に設けられているテストポイントに、テスト用プローブ4を調整するための少なくとも一つの調整手段を具備し、この調整手段は、電気回路基板2のテストポイントのパターンと適合する状態でプローブ案内孔7を有するプローブ案内板6を有し、プローブ案内孔7には、テストポイントに接触するテスト用プローブ4の端部が配設されており、さらに、調整手段15はアダプター本体3内に配置されている。

目的

本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、テスト用プローブとテスト対象物のテストポイントの間の精密な調整を可能とし、従来のテスト固定装置と互換性のある、簡単な構造の電気回路基板のテスト用アダプター及び両面回路基板のためのテスト固定装置を提供することを目的とする。

効果

実績

技術文献被引用数
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請求項1

アダプター本体と、該アダプター本体を挿通する複数のテスト用プローブ具備する電気回路基板テスト用アダプターであって、前記電気回路基板と前記テスト用プローブ間の相対的な移動によって前記電気回路基板上に設けられているテストポイントに、前記テスト用プローブを調整するための少なくとも一つの調整手段を具備し、該調整手段は、テストされるべき前記電気回路基板のテストポイントのパターン適合する状態でプローブ案内孔を有するプローブ案内板を有し、前記プローブ案内孔には、前記テストポイントに接触する前記テスト用プローブの端部が配設されており、さらに、前記調整手段は前記アダプター本体内に配置されていることを特徴とする電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項2

前記調整手段は2つあることを特徴とする請求項1記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項3

前記調整手段は、テストされるべき前記電気回路基板を前記テスト用アダプターによって指示される位置に位置することができる電気回路基板位置決め手段を具備し、前記プローブ案内板と前記電気回路基板位置決め手段は相互に相対的に移動可能に構成され、前記テストポイントに接触される前記テスト用プローブの端部が前記テストポイントに整列されるようにしたことを特徴とする請求項2記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項4

前記電気回路基板位置決め手段は位置決め板であることを特徴とする請求項3記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項5

前記位置決め板は、前記プローブ案内板において前記電気回路基板から離隔した側の面に配置され、前記プローブ案内板を隙間をもって挿通し、前記電気回路基板に隙間なしで係合される少なくとも一つの電気回路基板固定ピンを具備することを特徴とする請求項4記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項6

前記電気回路基板位置決め手段は、前記プローブ案内板において前記電気回路基板に対峙する側の面に配置され、かつ、前記プローブ案内板上に取付けられる前記電気回路基板をしっかりと把持できる電気回路基板位置決めフレームを具備することを特徴とする請求項3記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項7

前記電気回路基板位置決め手段は前記プローブ案内板に重合する少なくとも1つの板状部分を有し、前記電気回路基板位置決め手段と前記プローブ案内板の両方の重合部分に複数の孔が所定のパターンで設けられ、前記電気回路基板位置決め手段の1つの孔は前記プローブ案内板の1つの孔と整合され、相互に整合されたこの対の孔は、ひずみを有しない前記電気回路基板の理想的調整に対応して、方向及び/又は間隔を異ならせて、ゼロ位置に対して相対的に離隔し、ピンを挿通することによって、前記対をなす孔の両方を相互に整合させることができ、かつ、前記電気回路基板位置決め手段と前記プローブ案内板を、これに対応して、相互に相対的に移動させることができるようにしたことを特徴とする請求項3〜6のいずれか1項に記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項8

前記両孔は、それぞれ、正方形の孔アレイに配列され、前記各孔は一定の孔間距離(a、b)を有し、前記プローブ案内板の孔間距離(a)は、前記電気回路基板位置決め手段の孔間距離(b)に対してΔsだけ異なっていることを特徴とする請求項7記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項9

前記電気回路基板位置決め手段と前記プローブ案内板を相互に相対的に移動するためのアクチュエータを具備することを特徴とする請求項3記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項10

前記アクチュエータは、前記電気回路基板位置決め手段と前記プローブ案内板を共に移動するための少なくとも一つの圧電素子からなる圧電調整ユニットであることを特徴とする請求項9記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項11

前記圧電調整ユニットは相互に直交するように配置されている2つの位置決め手段を具備することを特徴とする請求項10記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項12

前記各位置決め手段は、圧電素子として、該圧電素子からなると共に相互に平行に配列された2つの棒を具備し、前記圧電素子からなる2つの棒に、極性を異にする電圧印加され、該電圧印加によって、前記2つの棒は、それぞれの長手方向軸線に対して相対的に横方向に回転するようにしたことを特徴とする請求項11記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項13

前記各位置決め手段は、2つの脚部と基部ウェブからなるU字状の揺動フレームと、前記脚部間にかつ該脚部と平行に配置される前記圧電素子からなる棒から構成され、前記圧電素子からなる前記各棒は回転素子を介して前記揺動フレームの基部ウェブに連結され、前記脚部及び前記圧電素子からなる前記棒の自由端は取付フレーム又はブラケットの一部に連結され、前記自由端によって前記U字状の揺動フレームは矩形形状に形成され、前記圧電素子からなる前記棒に電圧を印加することによって、前記基部ウェブが、それぞれ、平行リンクのように、前記取付フレーム又はブラケットの前記一部と平行に移動するようにしたこと特徴とする請求項12記載の電気回路基板のテスト用アダプター。

請求項14

電気回路基板の上下にそれぞれ配設される2つの連結されたアダプターを有し、かつ前記アダプターのうち少なくとも1つのアダプターが請求項1〜13のいずれか1項に記載の電気回路基板のテスト用アダプターの構成を有するようにした両面電気回路基板のためのテスト固定装置であって、第1のアダプターは前記アダプター本体内に設けられた第2の調整手段と連結素子を具備し、前記連結素子は、第2のアダプターの対応する連結素子に連結され、前記電気回路基板をテストする際に、前記両アダプター間の配列が決定され、第2の調整手段は前記電気回路基板を前記第2のアダプターの前記テスト用プローブに対して相対的に移動するために用いることを特徴とする両面電気回路基板のためのテスト固定装置。

請求項15

前記第1のアダプターは、前記アダプター内に一体的に組み込まれた状態で配置されると共に、前記プローブ案内板又は位置決め板が取付けられる水平固定板と、前記水平固定板に対して前記プローブ案内板又は前記位置決め板を相対的に移動するための第1のアクチュエータを具備することを特徴とする請求項14記載の両面電気回路基板のためのテスト固定装置。

請求項16

電気回路基板の上下にそれぞれ配設される2つの連結されたアダプターを有し、かつ前記アダプターのうち少なくとも1つのアダプターが請求項3〜13のいずれか1項に記載の電気回路基板のテスト用アダプターの構成を有するようにした両面電気回路基板のためのテスト固定装置であって、前記2つのアダプターの少なくとも第1のアダプターにおいて、前記電気回路基板位置決め手段が前記プローブ案内板において前記電気回路基板と対峙する側の面に配置されていることを特徴とする両面電気回路基板のためのテスト固定装置。

請求項17

前記2つのアダプターのうち、第2のアダプターにおいて、前記プローブ案内板が前記電気回路基板の近傍に配置されていることを特徴とする請求項16記載の両面電気回路基板のためのテスト固定装置。

請求項18

前記2つのアダプターは少なくとも1つのキャッチピンブッシュによって連結されるように構成されていることを特徴とする請求項14〜17のいずれか1項に記載の両面電気回路基板のためのテスト固定装置。

技術分野

0001

本発明は、アダプター本体と、このアダプター本体を挿通する複数のテスト用プローブ具備する電気回路基板テスト用アダプター、具体的には、電気回路基板とテスト用プローブ間の相対的な移動によって電気回路基板上のテストポイントに、テスト用プローブを調整するための少なくとも一つの調整手段を有し、この調整手段はプローブ案内板を有し、同プローブ案内板に電気回路基板のテストポイントのパターン適合する状態で設けられた案内孔内にはテストポイントに接触するテスト用プローブの端部が設けられ、さらに、調整手段はアダプター本体内に配置されている電気回路基板のテスト用アダプター及び両面回路基板のためのテスト固定装置に関する。

背景技術

0002

電気回路基板のテスト用アダプターは、テスト固定装置やテスト装置に用いられるものであり、プレスのように、二つの板状部材の間に、テストされる電気回路基板と、テスト対象物とをクランプするものである。このようなアダプターの一形態として、テストポイントに接触するものがあり、このアダプターは、複数のテストポイントのパターンに沿って配列された複数の釘状のテスト用プローブ(「床」ともいう)を有することを特徴とする。テスト対象物は、その各テストポイントがテスト用プローブと接触するようにアダプターに押圧される。

0003

製造誤差によって、しばしば、テスト対象物やテストポイントが偏位しているために、テスト対象物をテスト固定装置の所定位置に単に挿入するだけでは、テストポイントとテスト用プローブとの間の接触を、十分に確保できない場合がある。

0004

そのため、アダプターや、テスト用プローブ及び/又はテスト対象物の相対的移動や調整ができるテスト用固定装置が近年提示されている。国際特許出願WO95/32432号の国際公報において、図7にそのようなアダプターが記載されている。このアダプターは、調整用駆動装置によってテスト対象物に向けて配列される調整可能な調整板を有している。また、このアダプターは複数枚、例えば、3〜5枚の案内板からなるいわゆる多層板構造を有しており、各案内板は平行間隔をあけて配設されており、かつ、周縁部間に設けられたスペーサによって固定保持されている。それらの案内板をテスト用プローブが挿通している。調整板が、テスト対象物側に設けられた案内板上に配置されており、案内板と共に調整することができる。調整用駆動装置は、アダプターを手動で調整するために、外部に向けて案内されると共にバーニアねじを具備するねじスピンドルによって特徴づけられる。バーニアねじの代わりに、動力による調整を可能とするためモータを用いることもできる。

0005

ドイツ国公開特許公報DE4342654号公報には、図16、図17及び図19に示すように、テスト対象物を移動するための調整手段としての複数の電動モータを具備するテスト固定装置が提示されている。各駆動モータは、テスト固定装置に着脱自在に連結されると共に、手で保持可能なそれぞれ別個ケーシング取付けられている。

発明が解決しようとする課題

0006

しかし、上記した従来のテスト固定装置は、未だ、以下の解決すべき課題を有していた。即ち、この公知のテスト固定装置は、別個独立したアダプターを具備しておらず、全体のテスト固定装置は、この調整手段のために特別に構成されている。

0007

本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、テスト用プローブとテスト対象物のテストポイントの間の精密な調整を可能とし、従来のテスト固定装置と互換性のある、簡単な構造の電気回路基板のテスト用アダプター及び両面回路基板のためのテスト固定装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段

0008

前記目的に沿う請求項1記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、アダプター本体と、該アダプター本体を挿通する複数のテスト用プローブを具備する電気回路基板のテスト用アダプターであって、前記電気回路基板と前記テスト用プローブ間の相対的な移動によって前記電気回路基板上に設けられているテストポイントに、前記テスト用プローブを調整するための少なくとも一つの調整手段を具備し、該調整手段は、テストされるべき前記電気回路基板のテストポイントのパターンと適合する状態でプローブ案内孔を有するプローブ案内板を有し、前記プローブ案内孔には、前記テストポイントに接触する前記テスト用プローブの端部が配設されており、さらに、前記調整手段は前記アダプター本体内に配置されている。

0009

請求項2記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項1記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記調節手段は2つある。請求項3記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項2記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記調整手段は、テストされるべき前記電気回路基板を前記テスト用アダプターによって指示される位置に位置することができる電気回路基板位置決め手段を具備し、前記プローブ案内板と前記電気回路基板位置決め手段は相互に相対的に移動可能に構成され、前記テストポイントに接触される前記テスト用プローブの端部が前記テストポイントに整列されるようにしている。

0010

請求項4記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項3記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記電気回路基板位置決め手段は位置決め板である。請求項5記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項4記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記位置決め板は、前記プローブ案内板において前記電気回路基板から離隔した側の面に配置され、前記プローブ案内板を隙間をもって挿通し、前記電気回路基板に隙間なしで係合される少なくとも一つの電気回路基板固定ピンを具備する。

0011

請求項6記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項3記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記電気回路基板位置決め手段は、前記プローブ案内板において前記電気回路基板に対峙する側の面に配置され、かつ、前記プローブ案内板上に取付けられる前記電気回路基板をしっかりと把持できる電気回路基板位置決めフレームを具備する。

0012

請求項7記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項3〜6のいずれか1項に記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記電気回路基板位置決め手段は前記プローブ案内板に重合する少なくとも1つの板状部分を有し、前記電気回路基板位置決め手段と前記プローブ案内板の両方の重合部分に複数の孔が所定のパターンで設けられ、前記電気回路基板位置決め手段の1つの孔は前記プローブ案内板の1つの孔と整合され、相互に整合されたこの対の孔は、ひずみを有しない前記電気回路基板の理想的調整に対応して、方向及び/又は間隔を異ならせて、ゼロ位置に対して相対的に離隔し、ピンを挿通することによって、前記対をなす孔の両方を相互に整合させることができ、かつ、前記電気回路基板位置決め手段と前記プローブ案内板を、これに対応して、相互に相対的に移動させることができるようにしている。

0013

請求項8記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項7記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記両孔は、それぞれ、正方形の孔アレイに配列され、前記各孔は一定の孔間距離(a、b)を有し、前記プローブ案内板の孔間距離(a)は、前記電気回路基板位置決め手段の孔間距離(b)とΔsだけ異なっている。請求項9記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項3記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記電気回路基板位置決め手段と前記プローブ案内板を相互に相対的に移動するためのアクチュエータを具備する。請求項10記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項9記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記アクチュエータは、前記電気回路基板位置決め手段と前記プローブ案内板を共に移動するための少なくとも一つの圧電素子からなる圧電調整ユニットである。

0014

請求項11記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項10記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記圧電調整ユニットは相互に直交するように配置されている2つの位置決め手段を具備する。請求項12記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項11記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記各位置決め手段は、圧電素子として、該圧電素子からなると共に相互に平行に配列された2つの棒を具備し、前記圧電素子からなる2つの棒に、極性を異にする電圧印加され、該電圧印加によって、前記2つの棒は、それぞれの長手方向軸線に対して相対的に横方向に回転するようにしている。

0015

請求項13記載の電気回路基板のテスト用アダプターは、請求項12記載の電気回路基板のテスト用アダプターにおいて、前記各位置決め手段は、2つの脚部と基部ウェブからなるU字状の揺動フレームと、前記脚部間にかつ該脚部と平行に配置される前記圧電素子からなる棒から構成され、前記圧電素子からなる前記各棒は回転素子を介して前記揺動フレームの基部ウェブに連結され、前記脚部及び前記圧電素子からなる前記棒の自由端は取付フレーム又はブラケットの一部に連結され、前記自由端によって前記U字状の揺動フレームは矩形形状に形成され、前記圧電素子からなる前記棒に電圧を印加することによって、前記基部ウェブが、それぞれ、平行リンクのように、前記取付フレーム又はブラケットの前記一部と平行に移動するようにしている。

0016

請求項14記載の両面電気回路基板のためのテスト固定装置は、電気回路基板の上下にそれぞれ配設される2つの連結されたアダプターを有し、かつ前記アダプターのうち少なくとも1つのアダプターが請求項1〜13のいずれか1項に記載の電気回路基板のテスト用アダプターの構成を有するようにした両面電気回路基板のためのテスト固定装置であって、第1のアダプターは前記アダプター本体内の第2の調整手段と連結素子を具備し、前記連結素子は、第2のアダプターの対応する連結素子に連結され、前記電気回路基板をテストする際に、前記両アダプターの配列が決定され、第2の調整手段は前記電気回路基板を前記第2のアダプターの前記テスト用プローブに対して相対的に移動するために用いる。

0017

請求項15記載の両面電気回路基板のためのテスト固定装置は、請求項14記載の両面電気回路基板のためのテスト固定装置において、前記第1のアダプターは、前記アダプター内に一体的に組み込まれた状態で配置されると共に、前記プローブ案内板又は位置決め板が取付けられる水平固定板と、前記水平固定板に対して前記プローブ案内板又は前記位置決め板を相対的に移動するための第1のアクチュエータを具備する。請求項16記載の両面電気回路基板のためのテスト固定装置は、電気回路基板の上下にそれぞれ配設される2つの連結されたアダプターを有し、かつ前記アダプターのうち少なくとも1つのアダプターが請求項3〜13のいずれか1項に記載の電気回路基板のテスト用アダプターの構成を有するようにした両面電気回路基板のためのテスト固定装置であって、前記2つのアダプターの少なくとも第1のアダプターにおいて、前記電気回路基板位置決め手段が前記プローブ案内板において前記電気回路基板と対峙する側の面に配置されている。

0018

請求項17記載の両面電気回路基板のためのテスト固定装置は、請求項16記載の両面電気回路基板のためのテスト固定装置において、前記2つのアダプターのうち、第2のアダプターにおいて、前記プローブ案内板が前記電気回路基板の近傍に配置されている。請求項18記載の両面電気回路基板のためのテスト固定装置は、請求項14〜17のいずれか1項に記載の両面電気回路基板のためのテスト固定装置において、前記2つのアダプターは、少なくとも1つのキャッチピンブッシュによって連結されるように構成されている。

発明を実施するための最良の形態

0019

続いて、添付した図面を参照しつつ、本発明を具体化した実施の形態につき説明し、本発明の理解に供する。まず、図1図5を参照して、本発明の一実施の形態に係る電気回路基板のテスト用アダプターの構成について説明する。

0020

図1に示すように、電気回路基板2をテストするために用いる電気回路基板のテスト用アダプター1は一般的な構造のアダプター本体3を有し、その内部には、複数のテスト用プローブ4が、アダプター本体3を挿通する状態で配置されている。そのようなアダプター本体3は、典型的には、複数のプレート5を組み合わせたサンドイッチ構造重層構造)となっている。

0021

プレート5の一枚、好ましくは、アダプター本体3の電気回路基板側を形成するプレートは、プローブ案内板6として形成されている。このプローブ案内板6には、複数のテストされるポイント、即ち、テストポイントのパターンに適合するように複数の垂直なプローブ案内孔7が設けられている。そして、テスト用プローブ4の端部がこれらのプローブ案内孔7内にしっかりと挿入・案内されている。テスト用プローブ4の端部は電気回路基板2のテストポイントと電気的に接触されるように形成されている。電気回路基板位置決め手段が、位置を変えるプローブ案内板6に対して、テストされる電気回路基板2を、相対的に位置決め調整するために設けられている。電気回路基板位置決め手段は、プローブ案内板6の電気回路基板2から離れた側の面の近傍に配列される位置決め板9によって形成される。なお、電気回路基板位置決め手段は、電気回路基板位置決めフレームによって形成することもできる。

0022

位置決め板9には垂直に穿設された孔10が設けられており、これらの孔10も、テストポイントのパターンに適合するように設けられている。テスト用プローブ4を保持する孔10は、二つのプレート、即ち、プローブ案内板6と位置決め板9が相対的に移動できるように、テスト用プローブ4との間に一定の隙間を有している。位置決め板9には、好ましくは、二つの電気回路基板固定ピン11が取付けられている。これらの電気回路基板固定ピン11は、プローブ案内板6に形成されている孔12を通して伸延し、プローブ案内板6より突出している。孔12は一定の隙間をもって電気回路基板固定ピン11を囲んでおり、この隙間の範囲内で、二つのプレート、即ち、プローブ案内板6と位置決め板9が相対的に移動することができる。

0023

電気回路基板固定ピン11は、電気回路基板2の位置決め孔13と、好ましくは、遊び又はすきまがない状態で係合することによって、位置決め板9に対する電気回路基板2の相対位置を固定することができる。従って、位置決め板9に対するプローブ案内板6の位置の相対移動は、プローブ案内板6上の電気回路基板2の位置を移動することになり、この移動によって、電気回路基板2のテストポイントを電気回路基板のテスト用アダプター1のテスト用プローブ4と整合させる、又は、一致させることができる。

0024

プローブ案内板6や位置決め板9を相互に移動するために、調整手段15がアダプター本体3に一体的に組み込まれている。調整手段15は、例えば、プローブ案内板6や位置決め板9の両方に係合される電動のアクチュエータ16によって形成することができる。即ち、アクチュエータ16は、好ましくは、位置決め板9のプローブ案内板6から離隔する側の面に固定される。アクチュエータ16の上部には調整ピン17が設けられている。この調整ピン17は、プローブ案内板6と位置決め板9の平面上で、即ち、少なくとも一方向に、好ましくは、二方向に移動自在に形成されている。調整ピン17は、孔18を通して位置決め板9を挿通しており、その一部は位置決め板9から突出してプローブ案内板6に設けられた孔19にしっかりと係合している。調整ピン17は、必要な調整を行うために十分な距離移動できるように、位置決め板9に設けた孔18内に所定の隙間をもって挿通されている。

0025

本発明に係る調整手段のきわめて簡単な実施例が、図2図5に示されている。図示する構成において、多数の配列された孔からなる好ましくは正方形の孔アレイ20が、それぞれ、位置決め板9とプローブ案内板6の重合する部分に設けられており、部分的に上下方向に整合している。図示の実施例において、各孔アレイ20は、それぞれ、7×7(=49個)の孔21a、21bを、正方形状に、かつ、隣接する孔21a、21a間の孔間距離a及び隣接する孔21b、21b間の孔間距離bを保持しながら配列されている。即ち、孔21a、21bは、それぞれ、7つの列22と、7つの行23に配列されている。そして、Y方向とX方向にそれぞれ間隙が設けられている。

0026

二つの孔アレイ20における各孔21a、21bは、異なった格子間距離で配列されている。即ち、プローブ案内板6に設けた孔21a(図3図5において、白丸で示す。)の孔間距離aは、位置決め板9に設けた孔21b(図3図5において、黒丸で示す。)の孔間距離bより、例えば、Δsだけ大きく又は小さく設定されている。この二つの孔アレイ20において、同じ行23及び同じ列22の孔21a、21bは、それぞれ、対をなすものとして配置されている。ピン(図示せず)を一対の孔に挿入することによって、その対の孔21a、21bが整合する(一致する)ように配列される。その結果、位置決め板9とプローブ案内板6とは相互に相対的に移動することになる。なお、孔21a、21bは、格子間距離のみならず方向も異ならせることができ、また、方向のみ異ならせることもできる。

0027

図3に示すいわゆる‘ゼロ’位置においては、中央の対をなす孔、即ち、第4行で第4列の孔21a、21bが整合しており、従って、両孔アレイ20は、相互に中央に向けて配列されている。この‘ゼロ’位置は、ゆがみのない、又は、ひずみを有しない理想的な電気回路基板2のテスト用プローブ4を配列した場合に相当する。中央の対をなす孔から、n列及びk行離れた対をなす孔21a、21bは、X方向にn・Δsだけ、Y方向にk・Δsだけ不整合状態になっている。即ち、ある対をなす孔が、中央の対をなす孔から離隔すればするほど、不整合量は大きくなる。このように、中央の対の孔以外の対の孔が、ピンの挿入によって整合状態になると、位置決め板9とプローブ案内板6とは不整合を理由として移動することになる。例えば、図4に示すように、第7行で第7列の対をなす孔21a、21bが相互に整合状態になると、位置決め板9はプローブ案内板6に対して、X方向に、右に、3・Δsだけ、かつ、Y方向に、下に、3・Δsだけ移動する。これらの移動は、側部に示されている位置決め板9用のテストマーカー24と、プローブ案内板6用のテストマーカー25によって明らかに表示されることになる。

0028

図5において、第1の列で第3の行に位置する対をなす孔21a、21bが整合状態になると、位置決め板9は、プローブ案内板6に対して、X方向に、左に、3・Δsだけ、かつ、Y方向に、上に、1・Δsだけ移動する。

0029

従って、本発明に係る孔アレイ20によって、電気回路基板2のいかなる不整合状態も、ピンを、それぞれ対をなす孔のうちのひとつの対の孔に、単に、しかし、高度な精密さをもって挿入することによって補うことができる。好ましくは、アダプターは、プローブ案内板6と位置決め板9の相対位置が決定できるように、それぞれ上記した孔アレイ20を有する2つの調整手段15を具備する。

0030

手動調整式の調整手段15に代えて、図6に示すような圧電調整ユニット30をアダプター1に組み込み、テスト用プローブ4に対する電気回路基板2の相対的な移動調整を動力によって行うこともできる。圧電調整ユニット30は、板状に形成されており、実質的にC形状の取付フレーム31を具備する。この取付フレーム31は、上部横長部材32と、縦長部材33と、下部横長部材34とから形成されている。5つのタップ孔35が取付フレーム31に設けられており、これらのタップ孔35を通して圧電調整ユニット30が位置決め板9に螺着される。

0031

C形状の取付フレーム31内には、2つの位置決め手段の一例である第1及び第2の位置決め部材36、37が、相互に直交する状態に取付けられている。位置決め部材36は下部横長部材34の近傍に配設されており、平面視において、2つの脚部39と基部ウェブ40とからなるU字状の揺動フレーム(swivel frame)38を形成している。2つの脚部39は下部横部材34に対して平行に配列されており、その自由端41は縦長部材33に固定連結されている。

0032

2つの脚部39間には、圧電素子42a、42bからなる2つの棒が、相互に平行に、かつ、脚部39に対しても平行に、配設されている。圧電素子42a、42bからなるこれらの棒は、縦長部材33と基部ウェブ40との間で伸延している。圧電素子42a、42bからなる棒は縦長部材33に弾性的に回転可能に連結されており、また、回転素子(swivel element) 43を介して基部ウェブ40に連結されている。回転素子43は、圧電素子42a、42bからなる2つの棒の全幅にわたって伸延する部分を有している。そして、回転素子43の伸延部分は、極めて狭幅の結合部材44によって基部ウェブ40に一体的に連結されており、この部分で弾性的なくびれを形成している。作動について説明すると、圧電素子42a、42bからなる2つの棒に異なった極性の電圧が印加されると、圧電素子42a、42bからなる2つの棒は、相互に反対方向に伸縮することになる。圧電素子42a、42bからなる2つの棒の端部間の間隔は一定に保持されているので、これらの棒は曲がり、図6に示すように、回転素子43と基部ウェブ40は、それぞれ上、下に移動する。その際、脚部39は基部ウェブ40に対して一種の平行リンクを形成し、また、平面視において、端部がテーパ状に先細となっており一体型結合部材(monolithic joint) のような弾性を有する。

0033

第1の位置決め部材36と同様に、第2の位置決め部材37もU字状の揺動フレーム(swivel frame)45を具備しており、この揺動フレーム45は、2つの脚部46と、基部ウェブ47と、圧電素子48a、48bからなる2つの棒によって構成される。第2の位置決め部材37の基部ウェブ47は、第1の位置決め部材36の基部ウェブ40に一体的に連結されている。2つの基部ウェブ40、47は、相互に直交する状態に配置されている。即ち、第2の位置決め部材37の基部ウェブ47は第1の位置決め部材36の一方の脚部39に近接して、かつ、同脚部39に対して平行に伸延しており、かつ、その一端は取付フレーム31の縦長部材33まで伸延している。縦長部材33に達する基部ウェブ47の一端にはセンサピン49が連結されており、このセンサピン49は変位トランスデューサとして用いられる2つの誘導センサ50a、50b間に配設されている。

0034

一方、圧電素子48a、48bからなる棒は、基部ウェブ47に、回転素子(swivel joint)51及びそれと一体をなす連結部材52によって連結されている。図6に平面視で示すように、連結部材52は非常に狭幅となっている。圧電素子48a、48bからなる2つの棒の基部ウェブ47と反対側の一端は、薄い連結部材53によってブラケット54に弾性的に回転可能に連結されている。ブラケット54がU字状の揺動フレーム45の脚部46の2つの端部間に架設されると共に固着され、U字状の揺動フレーム45と共に矩形形状を形成している。

0035

ブラケット54の中央部には、さらに、センサーピン55が、圧電素子48a、48bからなる棒と対向する状態に連結されている。このセンサーピン55は、ブラケット54から垂直に突出すると共に、取付フレーム31の上部横長部材32の方向に伸延している。センサーピン55の自由端は、2つの誘導センサ56a、56b間に介設されており、この誘導センサ56a、56b間を通したセンサーピン55の長手方向の移動を検出することができる。ブラケット54には2つの調整ピン17が固着されており、これらの調整ピン17は上方に向けて突出し、前述した要領で位置決め板9を隙間を有して挿通した後、プローブ案内板6と隙間がゼロの状態で係合している。

0036

上記構成の動作について説明すると、圧電素子48a、48bからなる2つの棒に、極性を異にする電圧が印加されると、相互に反する方向(縦方向)への収縮伸長によって、圧電素子48a、48bからなる2つの棒が曲がり、基部ウェブ47に対してブラケット54が相対的に変位されることになる。

0037

U字状の揺動フレーム45の脚部46は平行リンク機構として働くので、ブラケット54は基部ウェブ47に対して相対的に平行移動することになる。2つの位置決め部材36、37は、相互に直交する状態で配設されているので、調整ピン17は、圧電調整ユニット30の平面上で、相互に直交する2つの方向に調整することができる。即ち、調整ピン17を取付フレーム31に対して相対的に移動することができる。取付フレーム31は位置決め板9に固着されており、調整ピン17はプローブ案内板6に係合しているので、位置決め部材36、37の作動によって、位置決め板9とプローブ案内板6は、相互に相対移動されることになる。

0038

図7に、電気回路基板2の両面をテストするために用いられる、相互に連結された2つのピントランスレータ式アダプターを具備するテスト固定装置が概念的に簡略化して表されている。

0039

このテスト固定装置は、2つの圧力板60、61を有し、これらの圧力板60、61は、電気回路基板2をテストするため、プレスのように、同時に押圧されることになる。圧力板60、61の対向する面には、それぞれ、公知のフルアレイカセット62、63が取付けられている。そのようなフルアレイ式カセット62、63は、それぞれ、カセット本体を具備し、カセット本体内には幾つかのスプリングを具備するテストピン64が、相互に平行をなして取付けられている。これらのテストピン64は、テストパネル内に、予め設定された均一なテストアレイテスト配列)によって配置されている。各ケース内において、フルアレイ式カセット62、63に近接してトランスレータ65が設けられており、このトランスレータ65は、導通路66によって、所定の均一なテストアレイをテストフィールドトランスレートすることができる。その際、テストアレイの接触ポイントは、電気回路基板2上のテストされるテストポイントと同じ配列で向きを揃えて配置されることになる。

0040

トランスレータ65に隣接して、各ケース内に、第1のアダプターである下部アダプター1aと第2のアダプターである上部アダプター1bが設けられている。これらのアダプター1a、1bのテスト用プローブ4はアダプター本体3内に垂直に配列されており、トランスレータ65の接触ポイントを電気回路基板2のテストポイントに接続している。トランスレータ65に隣接するアダプター本体3の一部は、公知の方法によって、複数のプレート5から形成されている。

0041

下部アダプター1aには係止部材68が一体的に組み込まれており、水平固定板69に固着されている。一方、水平固定板69は、図7の実施の形態に示すように、下部アダプター1aの中央部から離隔するようにして横方向に伸延している。

0042

第2の調整手段の一例である第1のアクチュエータ16aが2つのねじによって緊締水平固定板69に固着されている。第1のアクチュエータ16aは、好ましくは、図6に示すような圧電調整ユニットから形成されている。調整ピン17は下部アダプター1aのプローブ案内板6と係合しているので、第1のアクチュエータ16aの作動によって、プローブ案内板6を緊締水平固定板69に対して相対的に移動することができる。プローブ案内板6と位置決め板9とは、もう1つの、即ち、第2のアクチュエータ16bによって相互に連結されている。

0043

第1のアクチュエータ16aが作動すると、プローブ案内板6は緊締水平固定板69に対して相対移動されることになるが、位置決め板9に対して相対移動されることはない。従って、第1のアクチュエータ16aの作動によっては、下部アダプター1aにおいては、テスト用プローブ4と電気回路基板2との間の配列に変化を生じない。テスト用プローブ4に対する電気回路基板2の配列は、図1を参照して先に説明した方法と手段を介して、第2のアクチュエータ16bによって達成されることになる。

0044

係止部材68には垂直に立設された連結素子の一例であるキャッチピン70が固着されている。このキャッチピン70は、所定の隙間を保持しながらプローブ案内板6を挿通しており、この隙間によって、プローブ案内板6は第1のアクチュエータ16aによって生じた移動に従うことができる十分な移動の自由度を有することができる。

0045

上部アダプター1bには、キャッチピン70と対峙する状態に連結素子の一例であるボールローラブッシュ71が設けられており、上、下アダプター1b、1aが合体された際に、キャッチピン70はボールローラブッシュ71と摺動自在に係合することができる。キャッチピン70はボールローラブッシュ71によって正確に案内されることになる。キャッチピン70とボールローラブッシュ71との協働によって、2つのアダプター1a、1bは、相互に相対的に精密に配列されることになる。

0046

第1のアクチュエータ16aを作動すると、下部アダプター1aのプローブ案内板6と位置決め板9とが一体となって移動する。位置決め板9の移動によって、電気回路基板固定ピン11と係合する電気回路基板2も移動することになり、上部アダプター1bのテスト用プローブ4に対して電気回路基板2の上部に設けたテストポイントが配列されることになる。上部アダプター1bはキャッチピン70によって所定位置に位置決めされているので、図7に矢印72で示すように、固定された上部アダプター1bに対して、電気回路基板2を相対的に移動することができる。

0047

下部アダプター1aに設けられた第1及び第2のアクチュエータ16a、16bの協働によって、電気回路基板2は、それぞれ、上、下部アクチュエータ1b、1aに対して相対的に配列されることになる。

0048

図8に、電気回路基板2の両面をテストするために用いられる他のテスト固定装置の上、下部アダプター1a、1bが示されている。これらのアダプター1a、1bは、いわゆる剛性を有する、又は固定式プローブアダプターであり、テスト用プローブ4は傾斜状態にアダプター本体3内に配列されている。従って、これらのアダプター1a、1bは、トランスレータを用いることなく、電気回路基板2のテストポイントに対して、フルアレイ式カセットのパターンを、直接トランスレートすることができる。

0049

アダプター1a、1bは、公知の方法及び手段で、複数の案内板75によって構成される。下部アダプター1aは、例えば、固定状態に組み込まれたキャッチピン76を具備しており、一方、上部アダプター1bは、キャッチピン76と対峙するブッシュ77を有している。従って、これらのアダプター1a、1bを合体させた際、相互に精密に配列されることになる。

0050

下部アダプター1aは2つの第1のアクチュエータ16aを具備する。前述した実施例と異なり、プローブ案内板6は、位置決め板9の一面であって電気回路基板2から離れた側の面に配置されている。従って、下部アダプター1aは位置決め板9が移動自在に取付けられる固定ユニットを形成し、位置決め板9は、第1のアクチュエータ16aの作動に対応して移動され、電気回路基板固定ピン11によって案内される電気回路基板2を、プローブ案内板6内に案内されるテスト用プローブ4に配列することができる。

0051

一方、上部アダプター1bは、位置決め板9の一側面であって、電気回路基板2に対峙する側にプローブ案内板6を具備しており、テスト用プローブ4を電気回路基板2に対して相対的に配列することができる。下部アダプター1aの位置決め板9に固着されている電気回路基板固定ピン11は、上部アダプター1bのプローブ案内板6と位置決め板9に設けられている対応する遊嵌孔78と嵌合している。従って、電気回路基板2を上部アダプター1bに対して自由に移動することができる。

0052

このように、2つのアダプター1a、1bの構造を異ならせることによって、電気回路基板2を下部アダプター1aのテスト用プローブ4に対して配列させるに際して、電気回路基板2も上部アダプター1bに対して相対的に移動することになり、上部アダプター1bのテスト用プローブ4に対して、しばしば、正確に位置づけすることができることになる。このように、上部アダプター1bによる調整をしばしば不要としたり、あるいは、微調整にとどめることができる。

0053

図9にアダプター1の平面図が示されており、表面積のほとんどがテストフィールド80に用いられている。テストフィールド80には、図示しないが、テスト用プローブ4を固定するための孔が設けられている。これらの孔は、電気回路基板2のテストポイントに対応して配置されている。図9の上部のコーナーにおいて、図6のアクチュエータに相当する2つのアクチュエータ16が概念的に表示されている。アダプター1は、さらに、アクチュエータ16を調整又は較正するために、前述した孔アレイ20を2つ具備している。アクチュエータ16が所定の個所に最終的に固着される前に、プローブ案内板6と位置決め板9とは、孔アレイ20のそれぞれの孔にピンを差し込むことによって相互に相対的に配列されることになる。このピンは、一般的には、中央部に配設された対をなす孔に挿入される。系統的不整合(systematic misalignment) を有する電気回路基板をテストする際には、アクチュエータ16を作動して、この系統的不整合によって所定位置に配置されていないプローブ案内板6と位置決め板9とが孔アレイ20によって調整され、その後、アクチュエータ16が再度所定位置に固定される。従って、プローブ案内板6と位置決め板9とは、アクチュエータ16の始動位置において、不整合量を可及的に小さく限定することができる。

0054

以上、本発明を、幾つかの実施の形態を参照して説明してきたが、本発明は何ら上記した実施の形態に記載の構成に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載されている事項の範囲内で考えられるその他の実施の形態や変形例も含むものである。

発明の効果

0055

このように、本発明では、電気回路基板とテスト用プローブ間の相対移動によって電気回路基板に設けられているテストポイントにテスト用プローブを調整するための調整手段は全てアダプター内に配置されている。調整手段がアダプター内に一体的に組み込まれているので、アダプターの外形寸法は従来のアダプターの寸法のままでよく、機械的な再装備を必要とすることなく、本発明に係るアダプターを既存のテスト固定装置に用いることができ、テスト用プローブとテスト対象物のテストポイントとの間の精密な調整が行うことができる。

図面の簡単な説明

0056

図1本発明に係る電気回路基板のテスト用アダプターの一部の簡略化した断面説明図である。
図2本発明に係る電気回路基板のテスト用アダプターの一部の簡略化した平面図である。
図3図2に示す電気回路基板のテスト用アダプターの孔アレイを示す説明図である。
図4図2に示す電気回路基板のテスト用アダプターの孔の他のアレイを示す説明図である。
図5図2に示す電気回路基板のテスト用アダプターの孔の他のアレイを示す説明図である。
図6圧電調整ユニットの平面図である。
図7電気回路基板の両側からテストする相互に連結された2ピン式トランスレータを有する電気回路基板のテスト用アダプターを具備するテスト固定装置の簡略化した説明図である。
図8電気回路基板の両側からテストする相互に連結された2剛性プローブ式アダプターを有する電気回路基板のテスト用アダプターを具備するテスト固定装置の簡略化した説明図である。
図9他の電気回路基板のテスト用アダプターの平面図である。

--

0057

a孔間距離b 孔間距離
1テスト用アダプター1a 下部アダプター
1b 上部アダプター 2電気回路基板
3 アダプター本体 4テスト用プローブ
5プレート6プローブ案内板
7プローブ案内孔9位置決め板
10 孔 11 電気回路基板固定ピン
12 孔 13位置決め孔
15 調整手段 16アクチュエータ
16a 第1のアクチュエータ 16b 第2のアクチュエータ
17調整ピン18 孔
19 孔 20 孔アレイ
21a 孔 21b 孔
22 列 23 行
24テストマーカー25 テストマーカー
30圧電調整ユニット31取付フレーム
32 上部横長部材33縦長部材
34 下部横長部材 35タップ孔
36位置決め部材(位置決め手段)
37 位置決め部材(位置決め手段) 38揺動フレーム
39 脚部 40 基部ウェブ
41 自由端 42a圧電素子
42b 圧電素子 43回転素子
44結合部材45 揺動フレーム
46 脚部 47 基部ウェブ
48a 圧電素子 48b 圧電素子
49センサピン50a誘導センサ
50b 誘導センサ 51 回転素子
52連結部材53 連結部材
54ブラケット55センサーピン
56a 誘導センサ 56b 誘導センサ
60圧力板61 圧力板
62 フルアレイ式カセット63 フルアレイ式カセット
64テストピン65トランスレータ
66導通路68係止部材
69水平固定板70キャッチピン
71ボールローラブッシュ72 矢印
75案内板76 キャッチピン
77 ブッシュ 78 遊嵌孔
80 テストフィールド

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