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技術 磁気ディスクテスト方法及び装置

出願人 花王株式会社
発明者 山口健一
出願日 1996年4月18日 (24年8ヶ月経過) 出願番号 1996-119506
公開日 1997年11月4日 (23年1ヶ月経過) 公開番号 1997-288821
状態 未査定
技術分野 磁気記録再生1 磁気記録媒体の製造 エラー検出又は訂正、試験
主要キーワード 空気流通溝 各角度位置 波形処理回路 再取付け 周方向角度 テスト位置 円形トラック キャリッジコントローラ
関連する未来課題
重要な関連分野

この項目の情報は公開日時点(1997年11月4日)のものです。
また、この項目は機械的に抽出しているため、正しく解析できていない場合があります

図面 (5)

課題

ディスクテスト装置に対して繰り返し着脱し、ディスクに書込んだ同一信号に対するテストを繰り返すとき、テストの再現性を向上し、ひいてはテスト精度の向上を図ること。

解決手段

先行テスト後の再テストを行なう磁気ディスクテスト装置10において、先行テストで書込まれたディスク位置上の書込み信号再読出しし、その再読出しデータから該ディスク1の信号が書込まれているトラック中心座標を求め、このトラックの中心座標がスピンドル12の軸心座標合致するようにディスク1のスピンドル12に対する取付位置を調整するもの。

概要

背景

従来、磁気ディスク記録膜欠陥等の信号品質チェックするため、サーティファイテスト装置が用いられている。このサーティファイテスト装置は、円盤記録ディスク取付孔スピンドルに嵌着して該ディスクを回転させるとともに、テストヘッドを該ディスクに対して相対移動し、ディスクのトラックに対する信号の書込み、読出しを行ない、その読出しデータから該ディスクの信号品質をテストするものである。このとき、ディスクのあるトラック上に存在する欠陥等の位置は、ディスク上の半径位置と角度位置とで表示される。

そして、サーティファイテストでは、上記先行テスト後の該ディスクを一旦スピンドルから取外した後、該ディスクの取付孔を再びスピンドルに嵌着し、上記先行テスト時に書込んだ信号を用いた再テストを行ない、テスト精度の向上を図ることがある。この再テストは、先行テストで発見された欠陥等が存在する同一トラックについて行なわれる。

概要

ディスクをテスト装置に対して繰り返し着脱し、ディスクに書込んだ同一信号に対するテストを繰り返すとき、テストの再現性を向上し、ひいてはテスト精度の向上を図ること。

先行テスト後の再テストを行なう磁気ディスクテスト装置10において、先行テストで書込まれたディスク位置上の書込み信号再読出しし、その再読出しデータから該ディスク1の信号が書込まれているトラックの中心座標を求め、このトラックの中心座標がスピンドル12の軸心座標合致するようにディスク1のスピンドル12に対する取付位置を調整するもの。

目的

効果

実績

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請求項1

円盤記録ディスク取付孔スピンドルに嵌着して該ディスクを回転させるとともに、テストヘッドを該ディスクに対して相対移動し、ディスクのトラックに対する信号の書込み、読出しを行ない、その読出しデータから該ディスクの信号品質テストし、上記先行テスト後の該ディスクを一旦スピンドルから取外した後、該ディスクの取付孔を再びスピンドルに嵌着し、上記先行テスト時に書込んだ信号を用いた再テストを行なう磁気ディスクテスト方法において、上記再テストに先立ち、スピンドルに再び嵌着された上記ディスクを回転させ、上記先行テストで書込まれた該ディスク上の信号を再読出しし、その再読出しデータから該ディスクの信号が書込まれている同一トラック中心座標を求め、上記ディスクの上記トラックの中心座標をスピンドルの軸心座標合致させるように、該ディスクのスピンドルに対する取付位置を調整し、上記再テストを行なうことを特徴とする磁気ディスクテスト方法。

請求項2

請求項1に記載の磁気ディスクテスト方法に用いる磁気ディスクテスト装置であって、先行テストでディスク上に書込まれた信号の再読出しデータから、該ディスクの信号が書込まれている同一トラックの中心座標を求める中心座標演算回路と、中心座標演算回路の演算結果により、ディスクの上記トラックの中心座標をスピンドルの軸心座標に合致させるように、該ディスクのスピンドルに対する取付位置を調整するディスク位置調整装置とを有してなる磁気ディスクテスト装置。

技術分野

0001

本発明は、磁気ディスクテスト方法及び装置に係り、特にハードディスクの磁気ディスクテスト方法及び装置に関する。

背景技術

0002

従来、磁気ディスクの記録膜欠陥等の信号品質チェックするため、サーティファイテスト装置が用いられている。このサーティファイテスト装置は、円盤記録ディスク取付孔スピンドルに嵌着して該ディスクを回転させるとともに、テストヘッドを該ディスクに対して相対移動し、ディスクのトラックに対する信号の書込み、読出しを行ない、その読出しデータから該ディスクの信号品質をテストするものである。このとき、ディスクのあるトラック上に存在する欠陥等の位置は、ディスク上の半径位置と角度位置とで表示される。

0003

そして、サーティファイテストでは、上記先行テスト後の該ディスクを一旦スピンドルから取外した後、該ディスクの取付孔を再びスピンドルに嵌着し、上記先行テスト時に書込んだ信号を用いた再テストを行ない、テスト精度の向上を図ることがある。この再テストは、先行テストで発見された欠陥等が存在する同一トラックについて行なわれる。

発明が解決しようとする課題

0004

然しながら、従来技術には下記、の問題点がある。
テスト装置のスピンドルに取付けられたディスクの位置は、スピンドルの軸心座標に対する位置として管理される。このとき、ディスクの取付孔径はスピンドル径よりも大きく、しかも公差がある。このため、ディスクが先行テスト後に、テスト装置(同一もしくは他のテスト装置)に対して繰り返し着脱されて再テストに供されるときには、先行テストでのディスクの回転中心と再テストでのディスクの回転中心とが一定にならない。

0005

上記により、再テスト時のディスクの回転中心が先行テスト時におけるものからずれるため、テストヘッドは再テスト時に、先行テスト時と同一のトラック上信号を読出すことができない。このため、先行テストのテスト結果を再テストにより確認することができないものとなる。

0006

本発明の課題は、ディスクをテスト装置に対して繰り返し着脱し、ディスクに書込んだ同一信号に対するテストを繰り返すとき、テストの再現性を向上し、ひいてはテスト精度の向上を図ることにある。

課題を解決するための手段

0007

請求項1に記載の本発明は、円盤状記録ディスクの取付孔をスピンドルに嵌着して該ディスクを回転させるとともに、テストヘッドを該ディスクに対して相対移動し、ディスクのトラックに対する信号の書込み、読出しを行ない、その読出しデータから該ディスクの信号品質をテストし、上記先行テスト後の該ディスクを一旦スピンドルから取外した後、該ディスクの取付孔を再びスピンドルに嵌着し、上記先行テスト時に書込んだ信号を用いた再テストを行なう磁気ディスクテスト方法において、上記再テストに先立ち、スピンドルに再び嵌着された上記ディスクを回転させ、上記先行テストで書込まれた該ディスク上の信号を再読出しし、その再読出しデータから該ディスクの信号が書込まれている同一トラックの中心座標を求め、上記ディスクの上記トラックの中心座標をスピンドルの軸心座標に合致させるように、該ディスクのスピンドルに対する取付位置を調整し、上記再テストを行なうようにしたものである。

0008

請求項2に記載の本発明は、請求項1に記載の磁気ディスクテスト方法に用いる磁気ディスクテスト装置であって、先行テストでディスク上に書込まれた信号の再読出しデータから、該ディスクの信号が書込まれている同一トラックの中心座標を求める中心座標演算回路と、中心座標演算回路の演算結果により、ディスクの上記トラックの中心座標をスピンドルの軸心座標に合致させるように、該ディスクのスピンドルに対する取付位置を調整するディスク位置調整装置とを有してなるものである。

0009

請求項1、2に記載の本発明によれば下記、の作用がある。
ディスクをテスト装置から一旦取外した後に再テストするに供するとき、先行テストでディスク上に書込んだ信号の再読出しデータから、該ディスクの信号が書込まれている同一トラックの中心座標を求める。そして、再テストのために、ディスクをスピンドルに固定するに際し、ディスクの上記トラックの中心座標をスピンドルの軸心座標に合致させるように、該ディスクのスピンドルに対する取付位置を調整し、再テストを行なう。

0010

上記により、再テスト時のディスクの回転中心が先行テスト時におけるものに合致し、テストヘッドは再テスト時に、先行テスト時と同一のトラック上信号を再読出しでき、先行テストにより検出された欠陥位置(半径位置、角度位置)と同一位置に対する再テストを行なうことができるものとなる。即ち、ディスクに書込んだ同一信号に対するテストの再現性を向上し、先行テストのテスト結果を再テストにて高精度で確認できる。

発明を実施するための最良の形態

0011

図1は磁気ディスクテスト装置の制御回路図、図2はディスクのトラック中心座標とスピンドルの軸心座標とを示す模式図、図3は磁気ディスクテスト装置を示す模式図、図4はテストヘッドを示す模式図である。

0012

磁気ディスクテスト装置10は、磁気ディスク(ハードディスク)1のサーティファイテストを行なう。

0013

磁気ディスクテスト装置10は、図3に示す如く、定盤10Aの上に設けたサーボモータ11の出力軸にスピンドル12を連結し、サーボモータ11をスピンドルコントローラ13により駆動制御している。制御部30は、スピンドル12が所定の回転数となるようにスピンドルコントローラ13を制御する。

0014

磁気ディスクテスト装置10は、定盤10Aの上に設けたキャリッジガイド14にキャリッジ15をスライド可能に支持するともに、パルスモータ16の出力軸に連結した送りねじ17によりキャリッジ15を移動可能としている。キャリッジ15はキャリッジコントローラ18により駆動制御される。キャリッジ15は上下のヘッドブロック21、21を支持し、上下の各ヘッドブロック21のそれぞれにはサスペンション(ばね)22の基端部が結合され、サスペンション22の先端部にはテストヘッド23が設けられている。制御部30は、テストヘッド23が磁気ディスク1の表面に沿って磁気ディスク1の磁気トラックに交差する方向(本実施例では磁気ディスク1の直径方向)の所定位置に移動するようにキャリッジコントローラ18を制御する。

0015

テストヘッド23は、図4に示す如く、そのヘッドスライダ25に、磁気ヘッド27を設けている。

0016

ヘッドスライダ25は、磁気ディスク1の表面に相対する左右の浮上面25Aの中間に空気流通溝25Bを設けるとともに、ヘッドスライダ25の先端側の浮上面25Aをくさび面25Cとしている。これにより、磁気ディスクテスト装置10の動作時に磁気ディスク1の回転に誘起される空気流をくさび面25Cの側から空気流通溝25Bに導いてヘッドスライダ25を磁気ディスク1の上方に一定の浮上量で浮上させるようにしている。

0017

磁気ヘッド27は、ヘッドスライダ25の基端側の端面に接合されている。磁気ヘッド27は、例えば薄膜磁気ヘッドであり、薄膜素子磁気コアコイル)からなる。尚、磁気ヘッド27として、磁気抵抗効果型MRヘッドを用いることもできる。

0018

磁気ディスクテスト装置10は、図1に示す如く、制御部30、サーティファイテスト回路31、表示部33を有している。

0019

サーティファイテスト回路31は、テストヘッド23が磁気ディスク1に相対しているテスト位置を、スピンドルコントローラ13の制御信号周方向角度位置信号)とキャリッジコントローラ18の制御信号(半径位置信号)から求めるとともに、磁気ヘッド27の出力をアンプ35から得て、磁気ディスク1の各1本のトラック毎に書込んだ書込信号の磁気ヘッド27による読出し信号出力から上記テスト位置でのサーティファイテストデータを求める。

0020

制御部30は、スピンドルコントローラ13とキャリッジコントローラ18を前述した如くに制御するとともに、サーティファイテスト回路31を制御する。

0021

制御部30は、サーティファイテスト回路31から取り込んだデータ、サーティファイテスト結果等を表示部33に表示する。

0022

然るに、磁気ディスクテスト装置10では、磁気ディスク1をスピンドル12に繰り返し着脱し、磁気ディスク1に書込んだ同一トラックに対するテストを繰り返すことを可能としている。即ち、磁気ディスク1のあるトラックにおいて欠陥(欠陥位置:半径位置r、角度位置θ)を発見したとき、欠陥が発見されたトラック以外の書込み信号消去し、当該トラックについて再テストを行なうのである。

0023

そこで、磁気ディスクテスト装置10は、再テストのための中心座標演算回路41、ディスク位置調整装置42を有している。

0024

中心座標演算回路41は、磁気ディスク1が再テストのためにスピンドル12に再取付けされた後、先行テストで既に磁気ディスク1上に書込まれた前記未消去トラック上の信号をテストヘッド23が読出した再読出しデータを得て、この再読出しデータから該トラックの中心座標Aを求める。具体的には、制御部30は、磁気ディスク1を回転させながら、テストヘッド23を磁気ディスク1の直径方向に移動させ、テストヘッド23の読出し出力をアンプ36を介して中心座標演算回路41に入力せしめる。演算回路41は、具体的には波形処理回路であり、磁気ディスク1の各角度位置(θ)、各半径位置(r)の読出し出力をマッピングし、マッピングされた読出し出力の大きさがあるしきい位置を超える点が形成する円を上記未消去トラックとして認識し、この円形トラック輪郭からその中心座標Aを演算する。

0025

ディスク位置調整装置42は、定盤10Aの上に設けた左右のXY移動ステージ43にディスクホルダ44を設けている。制御部30は、中心座標演算回路41の演算結果によりステージコントローラ45を介してステージモータ46を駆動し、スピンドル12からリリースされている磁気ディスク1をディスクホルダ44により把持し、磁気ディスク1の上記未消去トラックの中心座標Aがスピンドル12の軸心座標Bに合致するように、磁気ディスク1のスピンドル12に対する取付位置を調整可能とする。

0026

以下、磁気ディスクテスト装置10による先行テストと再テストのテスト手順について説明する。
(A) 先行テスト(図2(A))
(1) 磁気ディスク1の取付孔1Aをスピンドル12に取付け、スピンドルコントローラ13によりスピンドル12を駆動する。

0027

(2)キャリッジコントローラ18によりテストヘッド23を磁気ディスク1上のロード位置テスト開始位置、例えば最外周トラック位置)に位置付け、不図示のヘッドロードアンロード機構によりテストヘッド23を磁気ディスク1上で浮上させ、サーティファイテストを行なう。サーティファイテストは、例えば下記〜により、磁気ディスク1の全記録エリアの全トラック(例えば1.8インチφディスクで6000TPI (トラック密度))について行なう。尚、本発明の方法はトラック密度による制限はうけない。

0028

指定されたトラックに書込信号(HF信号)を書込む
上記の書込信号を磁気ヘッド27により読出し、トラック平均読出電圧(TAA)を算出する。

0029

上記の読出信号について、上記のTAAに対するスライスレベル( 1〜99%、例えば70%)を下回るパルス信号をMP(Missing Pulse)エラーとする。

0030

再テストのために、欠陥が検出されたトラック以外の書込み信号をテストヘッド23により消去する。

0031

(3)テストヘッド23が磁気ディスク1上のアンロード位置(テスト終了位置)(例えば最内周トラック位置)に到達して、その位置での上記〜を終了したら、不図示のヘッドロード/アンロード機構によりテストヘッド23を磁気ディスク1から強制的に離し、テスト終了とする。このテストにより、欠陥位置は半径位置(r)と角度位置(θ)で表示される。磁気ディスク1をスピンドル12から取外す

0032

尚、図2(A)において、1Bは磁気ディスク1の取付孔1Aの中心座標である。また、100は未消去トラックであり、未消去トラック100の中心座標Aはスピンドル12と同軸上にある。

0033

(B)再テスト(図2(B))
(1)先行テスト済の磁気ディスク1の取付孔1Aをスピンドル12に取付け、スピンドルコントローラ13によりスピンドル12を駆動する。

0034

(2)キャリッジコントローラ18によりテストヘッド23を駆動する。テストヘッド23は前記未消去トラック100に交差する方向に移動せしめられ、その読出し出力を中心座標演算回路41に入力する。中心座標演算回路41は、前述の演算動作により、未消去トラック100の中心座標Aを演算する。

0035

(3)磁気ディスク1をスピンドル12に対して一時的にリリースし、ディスク位置調整装置42のステージ43、ディスクホルダ44による前述の調整動作により、未消去トラック100の中心座標Aをスピンドル12の軸心座標Bに合致させるように、磁気ディスク1のスピンドル12に対する取付位置を調整する。調整後、磁気ディスク1をスピンドル12に取付ける。この完了により、ディスク位置調整装置42のディスクホルダ44を磁気ディスク1から退避させる。

0036

(4) 以後、前述(A) の先行テストのテスト手順(2) 〜(3) を行ない、再テスト終了とする。この再テストにより、先行テストにより検出された欠陥位置(r,θ)と同一位置(r,θ)に対する再テストを行なうことができる。

0037

以下、本実施形態の作用について説明する。
ディスク1をテスト装置10から一旦取外した後に再テストするに供するとき、先行テストでディスク1上に書込んだ信号の再読出しデータから、該ディスク1の信号が書込まれている同一トラックの中心座標を求める。そして、再テストのために、ディスク1をスピンドル12に固定するに際し、ディスク1の上記トラックの中心座標Aをスピンドル12の軸心座標Bに合致させるように、該ディスク1のスピンドル12に対する取付位置を調整し、再テストを行なう。

0038

上記により、再テスト時のディスク1の回転中心が先行テスト時におけるものに合致し、テストヘッドは再テスト時に、先行テスト時と同一のトラック上信号を再読出しでき、先行テストにより検出された欠陥位置(半径位置、角度位置)と同一位置に対する再テストを行なうことができるものとなる。即ち、ディスク1に書込んだ同一信号に対するテストの再現性を向上し、先行テストのテスト結果を再テストにて高精度で確認できる。

0039

以上、本発明の実施の形態を図面により詳述したが、本発明の具体的な構成はこの実施の形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても本発明に含まれる。本発明の磁気ディスクテスト装置は、同一磁気ディスクに対し先行テストと再テストとを繰り返し行なうものに限らず、他のテスト装置により先行テスト済の磁気ディスクに対して再テストのみ行なうものであってもよい。

発明の効果

0040

以上のように本発明によれば、ディスクをテスト装置に対して繰り返し着脱し、ディスクに書込んだ同一信号に対するテストを繰り返すとき、テストの再現性を向上し、ひいてはテスト精度の向上を図ることができる。

図面の簡単な説明

0041

図1図1は磁気ディスクテスト装置の制御回路図である。
図2図2はディスクのトラック中心座標とスピンドルの軸心座標とを示す模式図である。
図3図3は磁気ディスクテスト装置を示す模式図である。
図4図4はテストヘッドを示す模式図である。

--

0042

1磁気ディスク
1A取付孔
10 磁気ディスクテスト装置
12スピンドル
15キャリッジ
23テストヘッド
31サーティファイテスト回路
41中心座標演算回路
42ディスク位置調整装置

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