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技術 スタッフ制御機能試験システム

出願人 日本電気株式会社
発明者 袴塚篤
出願日 1995年12月13日 (25年0ヶ月経過) 出願番号 1995-323409
公開日 1997年6月20日 (23年6ヶ月経過) 公開番号 1997-162832
状態 拒絶査定
技術分野 時分割多重化通信方式 デジタル伝送の保守管理
主要キーワード 折り返しデータ 試験用データ スタッフ同期 障害箇所特定 スタッフ制御 動作タイムチャート スタッフビット 読出しクロック
関連する未来課題
重要な関連分野

この項目の情報は公開日時点(1997年6月20日)のものです。
また、この項目は機械的に抽出しているため、正しく解析できていない場合があります

図面 (6)

課題

回路基板内でスタッフ制御機能,ディスタッフ制御機能の試験を行うことで、障害発生時の障害箇所特定を容易にする。

解決手段

セレクタ4を内部クロック側にすることで位相比較部6における位相差が0の状態を作り出し、擬似制御部8により強制的にスタッフビットSbを挿入させ、Dout がDin+Sb となることによりスタッフ制御部9の正常性を試験する。更に続けて擬似制御部17により強制的にスタッフビットSb を分離し、Dout がDinとなることにより、ディスタッフ制御部18の正常性を試験する。

概要

背景

従来のこの種のスタッフ同期制御装置においては、伝送路送出すべき伝送データを、この伝送データから抽出したクロックに同期してメモリに取り込み、内部クロックに同期してメモリから読出して再び伝送路へ送出する送信部を有しており、また、伝送路からの受信データを、この受信データから抽出したクロックに同期してメモリに取り込み、内部クロックに同期してメモリから読出して内部受信回路へ供給する受信部を有している。

送信部においては、メモリへの書込み及び読出しクロック位相差を検出してこの位相差に応じてスタッフ要求を生成し、メモリ読出しデータに対してスタッフビットを付加するスタッフ制御機能が設けられている。また、受信部においては、同様にメモリへの書込み及び読出しクロックの位相差を検出してこの位相差に応じてディスタッフ要求を生成し、メモリ読出しデータからスタッフビットを分離するディスタッフ制御機能が設けられている。

概要

回路基板内でスタッフ制御機能,ディスタッフ制御機能の試験を行うことで、障害発生時の障害箇所特定を容易にする。

セレクタ4を内部クロック側にすることで位相比較部6における位相差が0の状態を作り出し、擬似制御部8により強制的にスタッフビットSbを挿入させ、Dout がDin+Sb となることによりスタッフ制御部9の正常性を試験する。更に続けて擬似制御部17により強制的にスタッフビットSb を分離し、Dout がDinとなることにより、ディスタッフ制御部18の正常性を試験する。

目的

本発明の目的は、スタッフ制御回路実装される回路基板内の障害箇所を特定することが可能なスタッフ制御機能試験システムを提供することである。

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
0件

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請求項1

伝送すべき伝送データをこの伝送データに同期したクロックにて取り込み内部クロックに同期しつつスタッフビットを挿入して送出する送信部と、受信データをこの受信データに同期したクロックにて取り込み内部クロックに同期しつつスタッフビットを分離して送出する受信部とを含むスタッフ同期制御装置におけるスタッフ制御機能試験システムであって、前記送信部において、前記伝送データに代えて前記内部クロックに同期した試験データを供給する手段と、この試験データを前記内部クロックに同期しつつ送出する送出手段と、この送出データを前記受信部へ折り返す折り返し手段とを設けたことを特徴とするスタッフ制御機能試験システム。

請求項2

前記送出手段は、強制的に擬似スタッフ要求を生成して擬似スタッフビットを前記送出データに付加して送出する擬似スタッフ制御手段を有することを特徴とする請求項1記載のスタッフ制御機能試験システム。

請求項3

前記擬似スタッフビットが付加された送出データに対して強制的に擬似ディスタッフ要求を生成して前記擬似スタッフビットを分離する手段を設けたことを特徴とする請求項2記載のスタッフ制御機能試験システム。

技術分野

0001

本発明はスタッフ制御機能試験システムに関し、特に伝送すべき伝送データをこの伝送データに同期したクロックにて取り込み内部クロックに同期しつつスタッフビットを挿入して送出する送信部と、受信データをこの受信データに同期したクロックにて取り込み内部クロックに同期しつつスタッフビットを分離して送出する受信部とを含むスタッフ同期制御装置におけるスタッフ制御機能試験システムに関するものである。

背景技術

0002

従来のこの種のスタッフ同期制御装置においては、伝送路へ送出すべき伝送データを、この伝送データから抽出したクロックに同期してメモリに取り込み、内部クロックに同期してメモリから読出して再び伝送路へ送出する送信部を有しており、また、伝送路からの受信データを、この受信データから抽出したクロックに同期してメモリに取り込み、内部クロックに同期してメモリから読出して内部受信回路へ供給する受信部を有している。

0003

送信部においては、メモリへの書込み及び読出しクロック位相差を検出してこの位相差に応じてスタッフ要求を生成し、メモリ読出しデータに対してスタッフビットを付加するスタッフ制御機能が設けられている。また、受信部においては、同様にメモリへの書込み及び読出しクロックの位相差を検出してこの位相差に応じてディスタッフ要求を生成し、メモリ読出しデータからスタッフビットを分離するディスタッフ制御機能が設けられている。

発明が解決しようとする課題

0004

この様な従来のスタッフ同期制御装置では、スタッフ制御機能に障害が発生したとき、そのスタッフ同期制御回路部分が実装されている回路基板上の障害箇所が特定できないという問題がある。

0005

その理由は、スタッフ同期制御回路が実装される回路基板内において、位相比較されるクロックの位相差が0の状態を容易に作り出せないために、スタッフ制御機能の正常性試験ができないからである。

0006

本発明の目的は、スタッフ制御回路が実装される回路基板内の障害箇所を特定することが可能なスタッフ制御機能試験システムを提供することである。

課題を解決するための手段

0007

本発明によれば、伝送すべき伝送データをこの伝送データに同期したクロックにて取り込み内部クロックに同期しつつスタッフビットを挿入して送出する送信部と、受信データをこの受信データに同期したクロックにて取り込み内部クロックに同期しつつスタッフビットを分離して送出する受信部とを含むスタッフ同期制御装置におけるスタッフ制御機能試験システムであって、前記送信部において、前記伝送データに代えて前記内部クロックに同期した試験データを供給する手段と、この試験データを前記内部クロックに同期しつつ送出する送出手段と、この送出データを前記受信部へ折り返す折り返し手段とを設けたことを特徴とするスタッフ制御機能試験システムが得られる。

0008

そして、前記送出手段は、強制的に擬似スタッフ要求を生成して擬似スタッフビットを前記送出データに付加して送出する擬似スタッフ制御手段を有することを特徴としている。

0009

更に、前記受信部において、前記擬似スタッフビットが付加された送出データに対して強制的に擬似スタッフ要求を生成して前記擬似スタッフビットを分離する手段を設けたことを特徴としている。

発明を実施するための最良の形態

0010

本発明の作用について述べると、位相差0の状態で強制的にスタッフビットを付加した伝送信号を装置内で折り返して、受信データと送信データを比較すると、スタッフビットが付加されたことによる差分が生じる。スタッフ制御機能に障害が発生している場合は、この差分は生じない。これにより、スタッフ制御機能の正常性が試験できる。

0011

以下に、本発明の実施例について図面を用いて説明する。

0012

図1は本発明の実施例のブロック図である。図1において、伝送すべき伝送データDinは外部入力としてセレクタ1の一入力となり、このセレクタ1を介してメモリ2へ書込みクロック(W.CLK)により取り込まれ、読出しクロック(R.CLK)により順次読出されて折り返し部10を介して伝送路へ送出される。セレクタ1の他入力には試験用基板内CPUからの試験データが入力されている。

0013

伝送データDinは、クロック再生部3へも入力され、この伝送データに同期したクロック(周波数f1)が抽出再生されてセレクタ4の一入力となり、このセレクタ4を介して位相比較部6の一入力となると共に、メモリ2への書込みクロックともなる。

0014

内部クロック生成部5が設けられており、この内部クロック(周波数f2)は位相比較部6の他入力となると共にメモリ2の読出しクロックともなっている。更にこの内部クロックはセレクタ4の他入力となってこのセレクタ4を介して位相比較部6の一入力ともなる。

0015

位相比較部6の出力であるスタッフ要求出力はセレクタ7の一入力となり、このセレクタを介してスタッフ制御部9へ供給される。また、擬似制御部8が設けられており、強制的に擬似スタッフ要求が生成されて、セレクタ7の他入力を介してスタッフ制御部9へ供給されるようになっている。

0016

以上が送信部分の構成である。尚、折り返し部10は通常運用時には伝送路からの伝送データを受信部へ供給し、試験時には先述した送信部からのデータを折り返し受信部へ供給する機能を有する。

0017

受信部においては、受信データがメモリ11へ書込みクロック(W.CLK)により取り込まれ、読出しクロック(R.CLK)により順次読出されて、セレクタ15により外部出力Dout となるか、試験用の基板内CPUへの出力となるかが決定される。

0018

折り返し部10からの受信データはクロック再生部12へも入力されることにより、この受信データに同期したクロックが抽出再生され、位相比較部14の一入力となると共に、メモリ11の書込みクロックともなる。内部クロック生成部13,19は、内部クロック(周波数f1,f2)を夫々生成してセレクタ20を介して位相比較部14の他入力とすると共に、メモリ11の読出しクロックとなる。

0019

位相比較部14の出力であるディスタッフ要求出力はセレクタ16の一入力となり、このセレクタ16を介してディスタッフ制御部18へ供給される。ディスタッフ制御部18はこのディスタッフ要求に応答してメモリ11からの出力データに対してディスタッフ制御を行ってスタッフビットの分離を行うものである。

0020

更に、擬似制御部17が設けられており、強制的に擬似ディスタッフ要求が発生可能となっているものとする。

0021

図2図1における擬似制御部8及び17の一例を示す図であり、試験用端子21からの試験信号と、カウンタ22からのカウンタ出力とを2入力とするアンドゲート23が設けられており、このアンドゲート23の出力が擬似スタッフ(ディスタッフ)要求端子24となる。

0022

試験用端子21へハイアクティブの試験信号を入力しておき、この状態でカウンタ22へ内部クロック(f2)を供給し一定数カウントすると、アンドゲート23の出力がアクティブとなり、スタッフ要求またはディスタッフ要求が発生されるようになっている。

0023

以下に、動作について説明する。通常の動作時には、前述した如く、外部入力Dinがメモリ2へ供給されてクロック再生部3からの再成クロック(f1)により書込まれると共に、内部クロック生成部5からの内部クロック(f2)により読出される。この時、位相比較部6にて再生クロックと内部クロックとの位相比較がなされ、この位相差に応じてスタッフ要求が生成されることにより、スタッフ制御部9がスタッフビットSb をメモリ2からの読出しデータに挿入して出力するようになっている。

0024

その様子が図3の上2行のタイミングチャートに示されている。

0025

受信部側では、クロック再生部12による再生クロック(f2)によりメモリ11へ受信データが書込まれ、内部クロック生成部13による内部クロック(f1)によりメモリ11から読出される。この時、位相比較部14にて再生クロックと内部クロックとの位相比較が行われ、この位相差に応じてディスタッフ要求が生成されることにより、ディスタッフ制御部18がスタッフビットSb の分離を行うようになっている。

0026

その様子が図3の下2行のタイミングチャートに示されている。

0027

以下に試験時について説明する。先ず、セレクタ1を基板内CPU側に、セレクタ4を内部クロック側に、セレクタ7を位相比較側にし、また、セレクタ15を基板内CPU側に、セレクタ16を位相比較側、セレクタ20を内部クロックf2側にする。

0028

この状態で、内部クロックf2に同期した試験用データを基板内CPU側から供給する。この時、位相比較部6の二入力は共に内部クロックf2であるから位相差は0であり、よってスタッフ要求は出力されない。

0029

この状態で折り返し部10からの折り返しデータを受信部側へ供給すると、位相比較部14の二入力は共にクロックf2であるから位相差は0であり、よってディスタッフ要求は出力されない。

0030

次に、送信部側のセレクタ7を擬似制御部8側として、強制的に擬似スタッフ要求を発生させると、スタッフ制御部9から擬似スタッフビットSb が生成され、データに付加される。この様子が図4の上2行のタイムチャートに示されている。

0031

この時、受信部側では、位相比較部14で比較されるクロックの位相差はやはり0であるから、ディスタッフ要求は生成されない。そのために、基板内CPUにおける受信データは送信部側からの試験データにスタッフビットSb が挿入されたものとなり、両データは等しくならない。これはスタッフ制御機能が正しく動作したことを示している。尚、図4の下2行にこの様子が示されている。

0032

更に、セレクタ16を擬似制御部17側にして、送信部側で同擬似スタッフ要求を生成し試験データに擬似スタッフビットSb を付加し、受信部側で擬似ディスタッフ要求を同時に生成すると、図5のタイムチャートに示す如く、強制的に付加されたスタッフビットSb が、分離されるので、送信側と受信側での試験データは共に等しくなる。これはディスタッフ機能が正常に動作したことによる。

0033

以上の3つの態様の試験を行うことで、スタッフ制御機能,ディスタッフ制御機能の正常性のテストが可能となるものである。

発明の効果

0034

本発明によれば、スタッフ制御及びディスタッフ制御の各機能テストが行えるので、スタッフ同期回路が実装される回路基板における障害箇所の特定が容易になり、不良検出率の向上と不良部分の明確化が図れるという効果がある。

図面の簡単な説明

0035

図1本発明の実施例のブロック図である。
図2図1の擬似制御部8,17の例を示す図である。
図3通常動作時のタイムチャートを示す図である。
図4スタッフ制御機能試験時の動作タイムチャートである。
図5ディスタッフ制御機能試験時の動作タイムチャートである。

--

0036

1,4,7,15,16,20セレクタ
2,11メモリ
3,12クロック再生部
5,13,19内部クロック生成部
6,14位相比較部
8,17 擬似制御部
9スタッフ制御部
10 折り返し部
18ディスタッフ制御部

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