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課題

ステム周波数応答を検証する。

解決手段

光刺激蛍光面を線走査するためのシステムにおいて周波数応答を検証するための方法である。SWR値が、ファントムのx線像分析することにより決定される。SWR値は、許容値と比較される。該比較の結果に応じて、走査システムが調整される。

概要

背景

概要

ステム周波数応答を検証する。

光刺激蛍光面を線走査するためのシステムにおいて周波数応答を検証するための方法である。SWR値が、ファントムのx線像分析することにより決定される。SWR値は、許容値と比較される。該比較の結果に応じて、走査システムが調整される。

目的

効果

実績

技術文献被引用数
1件
牽制数
2件

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請求項1

光刺激蛍光面を線走査するためのシステム周波数応答を検証する方法において、(i)その頂部においてファントム位置付けられた画面をx線に露出する段階であり、該ファントムは、階段状に展開する空間周波数線群具備する少なくとも一つの埋込みx線不透過性グレーティングを具えるx線透過性基板から成り、該線群の各々は、所定定位所定空間周波数線対を具備する段階と、(ii)該グレーティングの画像を具備する露出画面の少なくとも一部を刺激照射を用いて走査する段階と、(iii)刺激により発せられた光を検出し、検出光を少なくとも該グレーティングの画像を表現する電気信号値に変換する段階と、(iv)該画像において、該定位に垂直で、該線対に交差する測定線を規定する段階と、(v)該画像において、各線群に対する測定セグメントを規定する段階であり、該測定セグメントは、該測定線と少なくとも一つの線対におけるピクセルを具備する段階と、(vi)空間周波数の測定セグメントにおけるピクセルを表現する信号値最大値最小値を決定し、該最大値と該最小値の間の差分として該所与の空間周波数における変調深さを計算する段階とを具備する方法。

技術分野

0001

本発明は、デジタルラジオグラフィーの分野にあり、品質保証に関する。さらに具体的には、発明は、光刺激蛍光面において記憶された放射線像を読み出すためのシステム周波数応答を検証する方法に関する。

0002

デジタルラジオグラフィーの分野において、放射線像のデジタル表現再現する多様な画像取得技術が、開発された。

0003

これらの技術の一つにおいて、放射線像例えば対象のx線像が、1992年9月16日に公告されたヨーロッパ特許公告503 702において記載された蛍光体の一つの如く、光刺激性蛍光体を具備する画面において記憶される。

0004

読出しステーションにおいて、記憶された放射線像は、適切な波長レーザー光の如く刺激放射線で画面を走査し、刺激による発光を検出し、発光をデジタル信号表現に変換することにより読み出される。

0005

読出し後、光刺激性蛍光面に残された残留画像消去され、その結果、画面は、露出のために再び利用可能になる。

0006

画像はデジタル形式において利用されるために、それは、画像品質の向上の目的のために多彩な種類のデジタル画像処理技術で処理される。

0007

それから、原又はエンハンスト画像は、放射線技師の選択のフィルムサイズ及びレイアウトにおける画像の再現のためにハードコピー記録器に送信され、及び/又はそれは、表示のためにモニターに適用される。

0008

デジタルラジオグラフィーの利点は、デジタル画像表現を処理することにより画像品質を高めることができるという事実にある。

0009

しかし、画像エンハンスメント及び最適化に費やされたすべての努力は、適用された画像取得技術の性能が信頼性があり、読出しシステムの設定のしばしばの変動が許容限界内にあるという保証がない時、価値において限定される。

0010

このため、読出し装置の性能のいろいろな見地規則的な検証及び監視のための必要性がある。

0011

この論点は、後述される現行技術の開示において記載されている。

0012

1991年7月15日から7月19日にかけてカリフォルニア大学、Santa Cruzにおいて催された1991夏季講習会報において開示された論文「光刺激性蛍光体システム許容検査」において、上記の種類の読出し装置の検査手順が記載される。

0013

さらに、アメリカ放射線学会1993年次集会において表示されたC.E.Willis他による論文「計算ラジオグラフィーの最適化及び品質制御」は、計算ラジオグラフィーシステムのための品質保証手順に関する。

0014

1992年6月15日から17日にかけて独国Wuerzburgにおいて開催された「診断放射線及び核医学における検査ファントム及び最適化」についての研究集会において、検査対象と検査手順の一つの実施態様が、Agfa−Gevaertによって提示された。検査データが収集され、処理され、解釈され、そして読出し装置を調整するために使用される方法は開示されていない。

0015

規則的なベースで検証される必要がある要素の一つは、走査システムの周波数応答であり、さらに具体的には、水平及び垂直方向における方形波応答である。水平方向は、高速走査の方向として定義され、これは、線走査方向である。垂直方向は、副走査方向として定義され、これは、高速走査方向に垂直の方向である。

0016

苛酷な出荷条件は、周波数応答を混乱させるために、周波数応答に影響を与えるパラメータの調整は、最初に、設置技術者により顧客の現場において行われる。

0017

周波数応答は、さらに、読出し装置の部品交換するか又は保守及び修理を行う毎に、サービス技術者によってチェックされる。

0018

加えて、顧客による周期的検証は、システムの永久的本質保証があるように画像品質の実状態を確認するために必要とされる。

0019

本発明の目的は、放射線像に露出された光刺激性蛍光面を線走査することにより、放射線像を読出すためのシステムの品質保証のための方法を提供することである。

0020

発明の一層の目的は、そのようなシステムの周波数応答を検証し、そのような走査装置幾何学ひずみを指示するパラメータを制御するための方法を提供することである。

0021

一層の目的は、以後の説明から明らかになるであろう。

0022

本発明の目的は、光刺激性蛍光面を線走査するためのシステムの周波数応答を検証する方法において、(i)その頂部においてファントム(phantom)が位置付けられた画面をx線に露出する段階であり、該ファントムは、階段状に展開する空間周波数線群を具備する少なくとも一つの埋込みx線不透過性グレーティングを具えるx線透過性基板から成り、該線群の各々は、所定定位所定空間周波数線対を具備する段階と、(ii)該グレーティングの画像を具備する露出画面の少なくとも一部を刺激照射を用いて走査する段階と、(iii)刺激により発せられた光を検出し、検出光を少なくとも該グレーティングの画像を表現する電気信号値に変換する段階と、(iv)該画像において、該定位に垂直で、該線対に交差する測定線を規定する段階と、(v)該画像において、各線群に対する測定セグメントを規定する段階であり、該測定セグメントは、該測定線と少なくとも一つの線対におけるピクセルを具備する段階と、(vi)空間周波数の測定セグメントにおけるピクセルを表現する信号値最大値最小値を決定し、該最大値と該最小値の間の差分として該所与の空間周波数における変調深さを計算する段階とを具備する方法によって達成される。

0023

ファントムにおけるx線透過性基板に埋込まれたグレーティングは、多数の線群から成る。該線群の各々は、所定定位と所定周波数をすべて有する多数の条片パターンを具備する。条片パターンにおけるすべての線群は、階段状に展開する周波数を有する。線群内の連続状片は、条片が存在しない位置によって分離される。そのような位置は、スリットと呼ばれる。条片とスリットの組み合わせは、以下において線対と呼ばれる。

0024

本発明により、周波数応答の検証は、所定定位の線パターンの群、さらに具体的には平行線の群と、階段状に展開する空間周波数とから成る少なくとも一つのx線不透過性グレーティングを具備するファントムの画像を分析することにより行われる。

0025

好ましくは、相互に垂直な2つのグレーティングを具備するファントムが使用される。それから、このファントムは、一つのグレーティングの画像が線走査の方向に平行であるようにして、画面の頂部に位置付けられる。

0026

グレーティングの画像の分析を可能にするために、グレーティングの画像を認識し、ファントムの画像の残部からそれを選択することができる必要がある。

0027

グレーティングの画像の認識は、まず、システムの記憶ディスクに記憶され、そこから検索される指数値を用いて行われる。

0028

ファントムを画面に関して位置合せすることにより、グレーティングの正確な位置が知られ、例えば、読出し装置において用意された記憶媒体に前以て記憶される。このように、グレーティングの画像内の線の位置が知られ、その結果、この線内のピクセルに属する信号値がアドレス指定され、選択され、かつ分析される。

0029

グレーティングの画像内の信号線の画像に分析を基づかせず、グレーティングの画像内の2以上の線に属する信号値を考慮に入れることが、都合が良い。

0030

それから、最小値と最大値が、幾つかの測定線に対して計算され、そして変調深さが、ノイズの影響を低減させるために、最大値の中央値と最小値の中央値の間の差分として計算される。

0031

一つの実施態様において、変調深さが、方形波応答値を計算するために使用される。方形波応答は、後述される如く、空間周波数(測定単位当たりの線対)の関数としての正規化変調深さである。

0032

分析は、ファントムの画像の信号表現を、使用パーソナルコンピュータダウンロードし、ダウンロードされたデータを適切な測定プログラム投入することによりオフラインで行われるか、又はそれは、測定プログラムを実行する読出し装置のオンラインプロセッサーにおいて行われる。オンライン処理は、この出願と同一日に提出された、「光刺激性蛍光読出しシステムの性能の検証」と題する同時係属ヨーロッパ出願において記載された。

0033

グレーティングの画像の分析の結果は、種々の方法で表示される。それらは、モニターにおいて表示されるか、又は操作者が比較し読出しシステムをしばしば調整することができる如く値の各々に対する許容レベルとともに印刷される。

0034

測定結果の提示は、好ましくは、測定結果が付加されるファントムの画像の再現を生成することにより行われる。

0035

ファントムの画像を表現する信号値と測定結果を表現するデータは、ファントムの画像の再現と、測定結果の表現を発生するために、ハードコピー記録器に送信される。

0036

測定結果は、データとして、並びに曲線プロット形式において表現される。

0037

また、走査装置の性能における検索可能なレコードを有するように、読出し装置のメモリに測定結果を記憶することが、都合が良い。

0038

決定されるパラメータは、所定許容ベルと比較される。これらの比較の結果は、解釈され、走査システムの構成要素を調整する時、技術者を案内するために役立つ。

0039

決定パラメータが許容レベルからはずれるならば、サービス技術者は、例えば、読出し装置の光学システムが正しく動作するかを調査する。例えば、光刺激性傾蛍光面を刺激するための光を発するレーザー集束誤差は、大きすぎる光点を生ずる。これは、高空間周波数信号の読出しに負効果を有し、適切な補正を必要とする。

0040

非許容周波数応答はまた、例えば、キャパシタンスの如く電子構成要素誤動作によって生じたデジタル化連鎖において帯域通過フィルターの劣悪な動作により、電子回路によって生ずる。

0041

本発明の特別な見地並びに好ましい実施態様は、次の図面を用いて示される。

0042

光刺激性蛍光面を線走査するためのシステムの周波数応答が、いわゆる周波数測定ファントムの画像において検証される。

0043

記載された実施態様において、周波数測定ファントムは、x線透過性材料平坦矩形基板と、相互に垂直な2つの埋込みグレーティングとから成る。

0044

グレーティングは、x線を減衰させる材料の多重薄条片から成る。条片は、一般に、30mm長であり、それらは、相互に平行であり、連続条片は、同一幅のスリット、即ち、50%デューティサイクル、によって分離される。条片とスリットは、線対と呼ばれる。

0045

スリットに対応するピクセル値は、大濃度値を有し、条片に対応するピクセル値は、小濃度値を有する。

0046

グリッドは、一連の線対の群として構成され、各群は、特定幅の4又は5つの線対を具備する。条片幅は、各群が、(線対/mmとして表された)特定空間周波数に対応する如く較正される。

0047

ファントムにおいて埋込まれたグレーティングは、市販され(Funkラスター、タイプ53)、増大する空間周波数の21の群において編成された、0.5〜10線対/mmの範囲を取る空間周波数を覆う。0.25lp/mmの余分な線対は、基準変調深さを測定するために使用される(以下参照)。

0048

検査手順は、図1において番号(1)によって示された光刺激性蛍光面を搬送するカセットを、識別ステーション(2)において識別することにより開始する。

0049

カセットは、電気消去可能なプログラマブル読出し専用メモリ(3)(EEPROM)を備える。識別ステーションにおいて、読出し条件に関するデータ及び/又は適用される信号処理及び/又は読出し後の画像のあて先に関するデータの如く種々のデータが、EEPROMに書き込まれる。

0050

カセットは、識別ステーションに送られ、そして識別ステーションのモニターに表示される多数の利用可能な処理メニューから、検査メニューが選択される。その後、このメニュ項目を指示する識別子が、EPROMに書き出される。

0051

次に、露出段階が行われる。この目的のために、測定ファントムは、ファントムのx線像において、一つのグレーティングの画像が、(後述される)走査装置における高速走査方向になる方向と平行であり、そして他のグレーティングの画像が高速走査方向に垂直であるようにして、非露出光刺激性蛍光面を搬送するカセットの頂部に位置付けられる。これは、図3に示される。

0052

ファントムの正しい位置は、光刺激性蛍光面を搬送するカセットとファントムを位置合せさせるために役立つグレーティング手段によって獲得される。

0053

この目的のために、ファントムは、光刺激性蛍光面を搬送するカセットが位置付けられる多数の凹部を備える。各カセットフォーマットに対して、対応する凹部が設けられる。

0054

ファントムとカセットを位置合せさせる代替的な方法が、ピンマーカー組立品の如く考えられる。

0055

それから、画面の頂部における光刺激性蛍光面とファントムの組み合わせが、正常露出条件下でx線源(4)によって発せられたx線に露出される。

0056

露出された光刺激性蛍光面は、その後、ファントムの放射線像を読み出すために読出し装置(5)に送られる。

0057

読出し装置の動作を示す簡略図が、図2に示される。

0058

光刺激性蛍光面において記憶された画像の読出しは、使用蛍光体の刺激波長範囲内の波長の光を発する光源9によって発せられた刺激光ビーム8を用いて画面を走査することにより行われる。例えば、633nmにおいて発光するHeNeレーザーが使用される。

0059

高速走査移動は、ガルバノメーターによって駆動された振動する走査鏡10の方にレーザーによって発せられた光ビームを差し向けることにより獲得される。コンピュータ19と駆動手段18は、三角波パターンの制御の下でガルバノメーター移動を制御する。

0060

回転するディスクセグメント13を有する光チョッパー12が、ガルバノメーター帰線段階中、レーザービームパスにおいて位置付けられる。

0061

Fツェータレンズの如く多彩なレーザービーム焦点装置が、蛍光シートにおけるビームの走査中一様なビーム径を保証し、そしてまた、往復移動する鏡の一様な角速度が、一様な直線速度において蛍光シート上を移動するレーザー点において生ずることを保証するために使用される。

0062

レーザービームは、ガルバノメーター鏡10と平面反射鏡9により線方向において一次元で偏向される。線方向におけるレーザービームの移動は、高速走査移動と一般に呼ばれる。

0063

低速走査移動、即ち、高速走査移動に垂直な方向における移動は、全シートを一様に(矢印15の方向において)走査させるために、主走査方向に垂直な方向において一様速度で画面を輸送する輸送手段を用いて設けられる。

0064

蛍光シートにおけるレーザービームの走査線の背後近傍に、蛍光シートから発せられた光を受信するが、レーザービームへの直接の露出から遮蔽される光案内16が位置付けられる。光案内の出力端は、注がれる光強度に応じて電気信号を生成する光検出器17に隣接して位置付けられる。

0065

適切な電気接続は、光検出器からコンピュータ19へ出力信号を伝達するために行われる。このコンピュータは、光チョッパー12とガルバノメーター鏡駆動18を制御するために役立つ。

0066

サンプル及びホールド回路(不図示)、方形波増幅器(不図示)とアナログ対デジタル変換器(不図示)が、電気信号を、照射値の平方根に比例するデジタル画像信号に変換するために設けられる。

0067

デジタル画像信号は、その後、読出し装置の画像処理モジュールに送られ、それはシステムの記憶ディスクに記憶される。

0068

放射線像読出し装置の動作は次の如くである。まず、EEPROMに記憶された情報が、読み出される。このようにして、検査手順は、読み出される画像がファントム画像として識別される如く識別され、専用測定手順により分析される。この専用測定手順の実行中使用されるパラメータは、識別され、システムディスクから検索される。

0069

画面と関連処理メニューの識別後(これは検査手順である)、読出し装置の走査動作が開始される。

0070

露出画面は、適切な刺激波長のレーザー光を用いて走査され、そして刺激により発せられた画像が検出され、各ピクセルにおいて照射値の平方根に比例するデジタル画像表現に変換される。

0071

次の段階は、測定ファントムのデジタル画像の分析である。この画像を用いて、多数の空間周波数値に対する走査システムの方形波応答値SWRが決定される。

0072

グレーティングの画像の下位領域である各空間周波数に対する第1測定セグメントが、確立される。これらの測定セグメントにおいて、実SWR測定が行われる。各セグメントは、Hピクセル高であり、(qs−ps)ピクセル幅である。セグメントの位置は、次の如く決定される。

0073

まず、局所座標系(i,j)が、図4描写された如く、グレーティングの各々において画像において確立される。測定セグメントは、これらの座標系に関して規定される。

0074

水平グレーティングに対して、局所座標系原点が、基準線対に属するものである第1グレーティングスリットのaピクセル左の、スリットの下限からグレーティングスリットの高さの約1/4の高さに位置する。

0075

局所i軸は、低から高空間周波数への高速走査方向(線走査移動の方向)に平行な方向を指し、そして局所j軸は、それに垂直である。i軸とj軸に沿った単位ステップは、ピクセル標本距離に対応する。原点オフセットaは、約20ピクセルであるが、それは、画像画面読出しにおいてファントム位置付けにおける不可避整合誤差により変化する。

0076

垂直グレーティングに対して、局所座標系が同様にして規定される。

0077

測定を行うために必要とされる本質的パラメータのすべては、システムデータテーブルから取出される。このテーブルは、画像読出し装置ファイルシステムにおいて永久的に記憶され、そしてそれは、ファントム幾何学を記述するものを含む、すべての固定システムパラメータを含む。即ち、両局所グレーティング座標系原点の画面座標結像グレーティング地点の高さの半分にほぼ対応する測定帯の高さH、測定セグメントの開始及び終了位置psとqs、及び対応する空間周波数である。

0078

ファントムが画像画面に関して適正に位置合せされるならば、各測定セグメントは、結像線対群の中心に位置し、そして群の半分の幅であり、その結果、それは、一定空間周波数のほぼ2つの線対を具備する。

0079

空間周波数fsの関数としての変調深さは、対応する測定セグメントにおけるピクセル値の最大値と最小値の間の差分として計算される。

0080

ノイズの効果を低減させるために、最小値と最大値が、幾つかの測定値に対して反復計算され、そして振幅変調深さが、最大値の中間値と最小値の中間値の間の差分として計算される。

0081

最小値と最大値の計算は、i軸上のH線の測定帯内のi軸に平行な画像線において反復される。現反復に対応する線は、測定線と呼ばれる。

0082

測定セグメントの位置は、次の手順により非常に正確に確立される。

0083

まず、原点オフセットaの正確な値が、局所座標i=0〜i=50を有するピクセルから始まり、しきい値Tを超える測定線に沿って第1ピクセルを見いだすことにより決定される。後者の下位範囲は、少なくとも第1線対を具備するに十分に大きい。

0084

しきい値Tは、該下位範囲内の測定線に沿ってピクセル値の最小値と最大値の平均値として決定される。

0085

オフセットaは、該しきい値交差の局所i座標割り当てられる。

0086

局所座標系に関する測定セグメントの正確な位置が、次に、[a+ps,a+qs]として決定され、これにより、s=0..Sであり、Sは、基準線対を含まないグレーティングにおける線群の数であり、この場合、パラメータpsとqsは、システムデータテーブルから取出される。

0087

それから、各測定セグメント[a+ps,a+qs]内の測定線に沿った最小及び最大ピクセル値gminとgmaxが、hmin[s,gmin]とhmax[s,gmax]として表記された、最小値と最大値の対応するヒストグラムを増分するために使用される。

0088

これらのヒストグラムは、初期的にゼロにセットされるカウンター2次元配列である。ヒストグラムの指数sは、セグメント指数に対応する。

0089

各測定セグメントsにおいて、最小ピクセル値gminが決定され、そして対応するヒストグラムカウンターhmin[s,gmin]が1だけ増分される。同様に、最大ピクセル値gmaxが決定され、そしてヒストグラムカウンターhmax[s,gmax]が1だけ増分される。これは、すべてのH測定線に対して繰り返される。結果として、ヒストグラム配列は、測定セグメントの各々に対して、すべての測定線にわたったすべての最小及び最大ピクセル値の発生回数を含む。

0090

測定線にわたった最小値と最大値の中間値mmin[s]とmmax[s]は、次の如く、各測定セグメントに対して決定される。ヒストグラムカウントhmin[s,k]は、一定sと、0から始まる増加するk指数に対して、カウントがH/2、即ち、カウント総数の半分を超えるまで、集積される。kの結果値は、考察されたセグメントのgminの中間値である。最大値mmax[s]の中間値の計算は、同様に行われる。

0091

各セグメントにおける変調深さは、画像商社の最大及び最小量の間の差分に等しい。

0092

好ましい実施態様において、ピクセル値は、画像照射の平方根に比例する。このため、変調深さは、
p[s]=(mmax[s])2−(mmin[s])2
に等しい。

0093

変調は、一般に、高空間周波数の範囲において減少し、任意の物理装置帯域幅は限定されるために、遮断周波数において消失する。しかし、ピクセル値における固有ノイズにより、変調は、結像格子の空間周波数が読出しシステムの遮断周波数を超える測定セグメントにおいてさえ、ゼロよりも常に大きい。

0094

ノイズpbiasによる変調バイアスは、期待遮断周波数を超える空間周波数に対応する、測定セグメントの変調深さの平均を取ることにより推定される。好ましい実施態様において、6線対/mm以上に対応するセグメントが、この目的のために選択される。変調バイアスは、ノイズを補償するために、計算振幅変調から控除される。

0095

セグメントの各々に対する方形波応答が、
swr[s]=max(0,p[s]−pbias)/(p[0]−pbias)
として計算される。

0096

この公式において、分子は、変調がバイアス値よりも小さい場合に非負にされる。分母の目的は、指数ゼロを有するセグメントにおいて測定された、非常に低い空間周波数における変調に関して変調を正規化することである。実施態様において、この非常に低い周波数は、0.25線対/mmに等しい。

0097

次の測定又は記憶パラメータは、操作者に通信され、その結果、読出しシステムの周波数応答を検証することができる。即ち、方形波応答の配列swr[s]、対応する空間周波数fs、及び許容レベルswrt[s]、即ち、読出しシステムが仕様外になる方形波応答値である。

0098

加えて、次の識別データが列挙される。即ち、セッション識別番号、測定データ、読出しシステムシリアル番号、ソフトウェアバージョン、ファントム形式及びシリアル番号である。セッション識別番号は、画像画面が読み出される毎に、増分される。

0099

この情報のすべては、ファントムのハードコピー画像に追加して提示される。水平及び垂直方形波応答は、グラフとしてプロットされる(図3参照)。他のパラメータとSWRのキー値は、テキスト形式で提示される。重畳された結果の画像は、ハードコピーフィルムにおいて印刷されるか、又はCRTモニターにおいて表示される。フィルムハードコピーは、品質レコードとして機械に保持される。各分析ファントム画像に対して、上記データのすべてを含む報告ファイル創成される。これらの報告ファイルは、読出しシステムのシステムハードディスクに記憶される。サービス介入中に、サービス技術者は、電子データベースにおける保管のための携帯用パーソナルコンピュータにおいてこれらのファイルの複製を行う。このように、個々の機械の状態の履歴概観が、サービス部門において維持される。また、すべての設置機械の精度に関する統計値が、収集される。

0100

本発明の主なる特徴及び態様は以下のとおりである。

0101

1.光刺激性蛍光面を線走査するためのシステムの周波数応答を検証する方法において、(i)その頂部においてファントムが位置付けられた画面をx線に露出する段階であり、該ファントムは、階段状に展開する空間周波数の線群を具備する少なくとも一つの埋込みx線不透過性グレーティングを具えるx線透過性基板から成り、該線群の各々は、所定定位と所定空間周波数の線対を具備する段階と、(ii)該グレーティングの画像を具備する露出画面の少なくとも一部を刺激照射を用いて走査する段階と、(iii)刺激により発せられた光を検出し、検出光を少なくとも該グレーティングの画像を表現する電気信号値に変換する段階と、(iv)該画像において、該定位に垂直で、該線対に交差する測定線を規定する段階と、(v)該画像において、各線群に対する測定セグメントを規定する段階であり、該測定セグメントは、該測定線と少なくとも一つの線対におけるピクセルを具備する段階と、(vi)空間周波数の測定セグメントにおけるピクセルを表現する信号値の最大値と最小値を決定し、該最大値と該最小値の間の差分として該所与の空間周波数における変調深さを計算する段階とを具備する方法。

0102

2.ノイズバイアス値が、走査システムの遮断周波数を超える空間周波数に対応する測定セグメントの変調深さ値を平均化することにより決定され、この場合、該ノイズバイアス値は、計算変調深さから控除される上記1に記載の方法。

0103

3.該変調深さを用いて、空間周波数sの関数として方形波応答値swrが、方程式
swr[s]=max(0,p[s]−pbias)/p[0]−pbias
により決定され、この場合、pbiasは、ノイズによる変調バイアスであり、p[s]は、空間周波数sにおける変調深さであり、そしてp[0]は、基準変調深さである上記1に記載の方法。

0104

4.該変調バイアスが、走査システムの遮断周波数を超える空間周波数に対応する測定セグメントに対して決定された変調深さ値を平均化することにより決定される上記3に記載の方法。

0105

5.調整が、決定変調深さと対応許容値の差に対応して光刺激性蛍光面を線走査するための該システムに行われる上記1に記載の方法。

0106

6.調整が、決定方形波応答値と対応許容値の差に対応して光刺激性蛍光面を線走査するための該システムに行われる上記2に記載の方法。

0107

7.該最小及び最大値が、幾つかの測定線に対して計算され、そして該変調深さが、計算最大値の中間値と計算最小値の中間値の間の差分として計算されることにおいて修正された上記1に記載の方法。

0108

8.空間周波数における該変調深さが、線走査システムにおける記憶装置に記憶される上記1に記載の方法。

0109

9.多数の空間周波数と対応許容レベルにおける少なくとも該変調深さを付加的に具備するファントムの可視画像が、発生される上記1に記載の方法。

0110

10.該ファントムが、少なくとも2つのグレーティングを具備し、そして該ファントムが、該画面の頂部に位置付けられ、その結果、グレーティングの一つが、走査方向に平行である上記1に記載の方法。

図面の簡単な説明

0111

図1本発明の方法が適用されるシステムの一般図である。
図2光刺激性蛍光面において記憶された画像を読み出すためのシステムの詳細図である。
図3画面ファントム組み合わせの露出のための光刺激性蛍光面の頂部におけるファントムの位置付けを示す。
図4グレーティングを示す。

--

0112

1カセット
2識別ステーション
3メモリ
4 x線源
9光源
10ガルガノメータ
12光チョッパー
18 駆動手段
19 コンピユータ

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