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技術 光学ディスクの記録制御方法および光学ディスク装置

出願人 株式会社日立製作所
発明者 賀来敏光石丸誠彦
出願日 1995年3月10日 (25年9ヶ月経過) 出願番号 1995-051238
公開日 1996年9月27日 (24年2ヶ月経過) 公開番号 1996-249661
状態 特許登録済
技術分野 光学的記録再生4(ヘッド自体) 光ヘッド デジタル記録再生の信号処理 光学的記録再生1
主要キーワード 外挿計算 アナログ信号状態 弁別信号 正規情報 レーザ発生源 駆動レーザ ゾーンデータ 後方パルス
関連する未来課題
重要な関連分野

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図面 (9)

目的

1台の装置で2つの異なる変調方式に対応する記録制御、例えばピットポジション記録とピットエッジ記録とを行う場合にも、試し書き処理のための回路系規模を増大させることのないようにすること。

構成

試し書きデータ記録マークに応じた記録パルス列として、正規の情報の入力データビット列の記録を行う変調方式に基づく第1の記録パルス列と、この第1の記録パルス列とは方式の異なる第2の記録パルス列とから構成し、記録パルス列に対する光強度またはエネルギーレベルを用いて、記録媒体に記録するようにし、記録媒体上の試し書きデータ記録領域からの再生信号から、2種類の試し書きパターン中心レベルを検出して、その差が0となるときの記録パワー最適記録パワーとして設定する

概要

背景

この種の光学ディスク装置において、正規の記録を開始する前に、試し書き処理を行い、記録媒体膜厚変動環境温度変動による記録媒体に対する記録感度変動に対応して、最適パワーを決定するようにした技術が知られている。

例えば、特開平6−36377号公報に開示された、1−7RLL(Run Length Limited)変調方式を用いたピットエッジ記録(状態変化パターンの前,後縁両エッジ数値「1」を表わし、エッジ無しが「0」を表わす記録方式で、本発明ではこれを総称してピットエッジ記録と称す)よる試し書き制御技術では、記録マーク記録符号列パルス化し、記録符号列の長さに対応する一連パルス列を形成してパルス列の長さ,振幅を制御し、正規のデータの変調方式から形成される最密パターンと最疎パターンの繰り返しパターンを用いた試し書き処理によって、最適パワーを求めるようにしている。

また、特開平6−231463号公報に開示された、2−7RLL変調方式を用いたピットポジション記録による試し書き制御技術では、正規のデータの変調方式で形成される最密パターンのみを、パワー可変しながら記録し、記録したセクタ再生しながら信号振幅計測して、その振幅が最大となる記録パワーを最適パワーとする方式となっていた。

概要

1台の装置で2つの異なる変調方式に対応する記録制御、例えばピットポジション記録とピットエッジ記録とを行う場合にも、試し書き処理のための回路系規模を増大させることのないようにすること。

試し書きデータの記録マークに応じた記録パルス列として、正規の情報の入力データビット列の記録を行う変調方式に基づく第1の記録パルス列と、この第1の記録パルス列とは方式の異なる第2の記録パルス列とから構成し、記録パルス列に対する光強度またはエネルギーレベルを用いて、記録媒体に記録するようにし、記録媒体上の試し書きデータ記録領域からの再生信号から、2種類の試し書きパターンの中心レベルを検出して、その差が0となるときの記録パワーを最適記録パワーとして設定する

目的

本発明は上記の点に鑑みなされたもので、その目的とするところは、1台の装置で2つの異なる変調方式に対応する記録制御、例えばピットポジション記録とピットエッジ記録とを行う場合にも、試し書き処理のための回路系の規模を増大させることのないようにすることにある。

また、本発明の他の目的とするところは、環境変動等による記録マークの変動を極力抑制し、高精度な記録マーク制御を行うことにある。また、本発明の他の目的とするところは、光学ディスク装置と記録媒体との相性を向上させるとともに、光学ディスク装置による記録感度変動さらに記録パワー変動も抑圧することにある。また、本発明の他の目的とするところは、光学ディスク装置の信頼性及び記憶容量や情報の転送レートを向上させることにある。

効果

実績

技術文献被引用数
0件
牽制数
4件

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請求項1

記録媒体と記録を行なう装置との適合性を向上させるために、記録媒体の所定の位置に試し書きデータ記録パワー可変しながら記録し、記録された試し書きデータの再生信号から得られる最適記録パワーの情報をもとに、記録媒体に正規の情報の記録を開始する光学ディスク記録制御方法において、上記試し書きデータを、正規情報の入力データビット列の記録を行う変調方式に基づく第1の記録パルス列と、この第1の記録パルス列とは異なる方式の第2の記録パルス列とから生成し、光源を駆動して記録媒体に記録領域を形成することによって記録を行なうことを特徴とする光学ディスクの記録制御方法。

請求項2

請求項1記載において、試し書き処理時に使用する記録パターン最密パターンと最疎パターンとの組み合わせで構成し、最密パターンを形成するための前記第1の記録パルス列として、正規情報の入力データビット列の記録を行う前記変調方式に基づく記録パルス列のうちの最高周波数の記録パルス列を用い、また、最疎パターンを形成するための前記第2の記録パルス列として、上記最密パターンによる周波数の1/4以下の周波数を持つデータビット列から生成した記録パルス列を用い、その再生信号において、最密パターンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを検出して、それぞれの中心レベルが等しくなるような記録パワーに設定して、正規の記録を実施することを特徴とする光学ディスクの記録制御方法。

請求項3

記録媒体と記録を行なう装置との適合性を向上させるために、記録媒体の所定の位置に試し書きデータを記録パワーを可変しながら記録し、記録された試し書きデータの再生信号から得られる最適記録パワーの情報をもとに、記録媒体に正規の情報の記録を開始する光学ディスク装置において、正規情報の入力データビット列の記録を行う変調方式に基づく第1の記録パルス列を生成する手段と、上記第1の記録パルス列とは方式の異なる第2の記録パルス列を生成する手段と、上記第1の記録パルス列と上記第2の記録パルス列とからなる試し書きデータを、記録媒体上の所定領域に光ヘッドにより記録する手段と、記録媒体上の試し書きデータ記録領域からの再生信号より、2種類の試し書きパターンの中心レベルを検出する手段と、上記2種類の試し書きパターンの中心レベルの差が0となるときの記録パワーを最適記録パワーとして設定する手段と、を具備したことを特徴とする光学ディスク装置。

技術分野

0001

本発明は、光磁気ディスク相変化型光ディスクのような書換え可能型の光学ディスク記録制御方法、およびその光学ディスクを用いる光学ディスク装置係り、特に、記録マークの高精度な記録制御を要求される光学ディスクの記録制御方法、およびその光学ディスクを用いる光学ディスク装置に関する。

背景技術

0002

この種の光学ディスク装置において、正規の記録を開始する前に、試し書き処理を行い、記録媒体膜厚変動環境温度変動による記録媒体に対する記録感度変動に対応して、最適パワーを決定するようにした技術が知られている。

0003

例えば、特開平6−36377号公報に開示された、1−7RLL(Run Length Limited)変調方式を用いたピットエッジ記録(状態変化パターンの前,後縁両エッジ数値「1」を表わし、エッジ無しが「0」を表わす記録方式で、本発明ではこれを総称してピットエッジ記録と称す)よる試し書き制御技術では、記録マークの記録符号列パルス化し、記録符号列の長さに対応する一連パルス列を形成してパルス列の長さ,振幅を制御し、正規のデータの変調方式から形成される最密パターンと最疎パターンの繰り返しパターンを用いた試し書き処理によって、最適パワーを求めるようにしている。

0004

また、特開平6−231463号公報に開示された、2−7RLL変調方式を用いたピットポジション記録による試し書き制御技術では、正規のデータの変調方式で形成される最密パターンのみを、パワー可変しながら記録し、記録したセクタ再生しながら信号振幅計測して、その振幅が最大となる記録パワーを最適パワーとする方式となっていた。

発明が解決しようとする課題

0005

上記した従来技術は、記録媒体の膜厚変動や環境温度変動による記録媒体に対する記録感度変動が発生する点については考慮されているが、ピットポジション記録とピットエッジ記録など2つの異なる変調方式による記録制御を、1台の装置(光学ディスク装置)で回路規模を増大させることなく対処する点については、何等の考慮もなされていない。

0006

すなわち、2−7RLL変調方式を用いるピットポジション記録を行うディスク装置は相当に以前から出回っており、これに対し、近時出回り始めた高密度記録が可能なピットエッジ記録を行うディスク装置は、1−7RLL変調方式を用いており、ピットポジション記録を行うディスク装置における、試し書き処理時の書き込みパターン設定手法および最適記録パワー算出手法と、ピットエッジ記録を行うディスク装置における、試し書き処理時の書き込みパターンの設定手法および最適記録パワーの算出手法とは、異なったものとなっている。

0007

したがって、1台のディスク装置において、ピットエッジ記録を行う記録媒体とピットポジション記録を行う記録媒体とを共に取り扱い、異なる変調方式に対応する2種の記録媒体に対し最適記録パワーで記録を行うには、ピットポジション記録による試し書き処理のための回路系と、ピットエッジ記録による試し書き処理のための回路系とを、別々の試し書きアルゴリズムに従って設ける必要があり、回路規模が増大し、不経済であるという問題があった。

0008

本発明は上記の点に鑑みなされたもので、その目的とするところは、1台の装置で2つの異なる変調方式に対応する記録制御、例えばピットポジション記録とピットエッジ記録とを行う場合にも、試し書き処理のための回路系の規模を増大させることのないようにすることにある。

0009

また、本発明の他の目的とするところは、環境変動等による記録マークの変動を極力抑制し、高精度な記録マーク制御を行うことにある。また、本発明の他の目的とするところは、光学ディスク装置と記録媒体との相性を向上させるとともに、光学ディスク装置による記録感度変動さらに記録パワー変動も抑圧することにある。また、本発明の他の目的とするところは、光学ディスク装置の信頼性及び記憶容量や情報の転送レートを向上させることにある。

課題を解決するための手段

0010

上記目的を達成するために、試し書きデータの記録マークに応じた記録パルス列として、正規の情報の入力データビット列の記録を行う第1の変調方式(例えば、2−7RLL変調方式)に対応するピットポジション記録用の記録パルス列と、もう1つの異なる第2の変調方式(例えば、1−7RLL変調方式)に対応するピットエッジ記録用の記録パルス列とから構成し、記録パルス列に対する光強度またはエネルギーレベルを用いて、記録媒体に記録するようにし、記録媒体上の試し書きデータ記録領域からの再生信号から、2種類の試し書きパターンの中心レベルを検出して、その差が0となるときの記録パワーを最適記録パワーとして設定するようにしたものである。

0011

試し書きは、記録媒体と記録を行なう装置との適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所定の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚変動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特性変化による記録媒体に対する記録感度変動等を検知するために、記録マークを正規の情報の記録を行なう前に書き込む動作をする。さらに、記録した試し書きデータから得られる再生信号から、最適記録パワーを見つけ出すために、記録するための記録波形の光強度またはエネルギーを変化させて記録動作を実行する。

0012

そして、試し書きデータを最密パターンと最疎パターンとの組み合わせで構成して、ピットポジション記録に対応する記録パルス列中の、例えば最高周波数の記録パルス列を最密パターンの記録用として用い、この最密パターンによる周波数の1/4以下の周波数を持つデータビット列から、ピットエッジ記録用として生成した記録パルス列を最疎パターンの記録用として用いる。そして、試し書きデータの再生信号において、最密パターンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを検出して、それぞれの中心レベルが等しくなるような記録パワーを、最適記録パワーとして設定する。

0013

このようにすることによって、ピットポジション記録のための最適記録パワーが確実に設定できることとなる。また、ピットエッジ記録の試し書き処理は、前記した特開平6−36377号公報に開示されたものと同様に、正規のデータの変調方式から形成される最密パターンと最疎パターンの繰り返しパターンを用いることで、同様に、再生信号において、最密パターンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを検出して、それぞれの中心レベルが等しくなるような記録パワーを、最適記録パワーとして設定できる。したがって、試し書き処理における再生処理系(最適記録パワー算出・設定手段等)が、ピットポジション記録(2−7RLL変調方式)とピットエッジ記録(1−7RLL変調方式)とで共用化することができて、試し書き処理のための回路系の規模を増大させることなく、1台の光ディスク装置で2つの異なる変調方式に対応する試し書き処理を行うことが可能となる。

0014

以下、本発明の詳細を図示した実施例によって説明する。図1は、本発明の1実施例に係る光磁気ディスク装置の構成を示す図であり、本実施例の光磁気ディスク装置は、レーザレーザ発生源)を含む光ヘッドと、情報を記憶させるための記録媒体(光磁気ディスク)と、記録パルス生成回路を含む記録処理系と、光ヘッドから得られた再生信号を情報に変換する再生回路を含む再生処理系と、コントローラ系などによって構成されている。

0015

図1において、1はレーザ(レーザ発生源)、2は第1レンズ、3はビームスプリッタ、4は第2レンズ、5は記録膜とそれを保持する基板から構成された記録媒体(光磁気ディスク)、6は外部磁場発生器、7は光検出器、8は装置の統括制御を司るコントローラ、9はシンセサイザ、10は試し書きパターン発生回路、11はセレクタ、12は記録パルス生成回路、13はレーザドライバ、14は高周波重畳回路、15はプリアンプ、16は再生回路、17はPLL、18は弁別回路、19は試し書きパターン中心レベル検出回路、20はA/D変換器である。

0016

図1に示す構成において、上位ホストからの命令や情報データは、コントローラ8において命令の解読や記録データの変調が行われ、変調方式に対応する符号列に変換される。シンセサイザ9は、装置全体基準クロックを発生させる発振器であり、記録媒体5の大容量化の手法として、ゾーンごとに基準クロックを変えて内外周での記録密度を略一定とする公知のZCAV(Zoned Constant Angular Velocity )と呼ばれる記録方法を採用した場合には、シンセサイザ9の発振周波数もゾーンに応じて変えていく必要がある。

0017

試し書きは、記録媒体5と記録を行なう装置との適合性を向上させるために、記録媒体5の交換にともなう膜厚変動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特性変化による記録媒体5に対する記録感度変動等を検知するために、あらかじめ記録媒体の所定の位置に試し書きパターンを、正規の情報の記録を行なう前に書き込む動作をする。この試し書きパターンは、変調方式に対応する符号列に変換されており、試し書きパターン発生回路10において生成する。

0018

コントローラ8からの正規の情報データに応じて変調された符号列と、試し書きパターン発生回路10からの符号列とはセレクタ11に入力され、コントローラ8の制御信号により、試し書き処理あるいは通常の記録処理に対応して切り換えられる。セレクタ11からの符号列は、記録パルス生成回路12に入り、記録マークの長さや幅を制御するための記録パルス列に変換される。これら記録パルス列はレーザドライバ13に入力され、レーザドライバ13からの記録電流によりレーザ1を高出力発振させ、レーザ1から出た光は第1レンズ2で平行光となってビームスプリッタ3を通り、第2レンズ4によって記録媒体5上に収束して、符号列に応じた記録マークを記録する。高周波重畳回路14は、レーザ1に起因するレーザ雑音を低減するために設けてあり、記録/消去時にはレーザの寿命の関点から高周波重畳休止することもある。

0019

再生時はレーザ1を低出力発振させ、記録媒体5に入射させる。記録媒体5からの反射光は、ビームスプリッタ3で光路を分離して光検出器7に入射させる。そして、光検出器7で光電変換した後、プリアンプ15で増幅し、再生回路16に入力する。再生回路16は、波形等化回路自動利得制御回路2値回路などから構成されており、入力された再生信号を2値化信号とする。再生回路16からの2値化信号はセルフクロッキングのためにPLL(Phase Locked Loop )回路17に入力される。PLL17で得られる2値化信号に同期した再生クロックと、再生回路16からの2値化信号はデータ弁別のために弁別回路18に入力され、その結果としてのデータ弁別信号はコントローラ8に入力され、データが復調される。

0020

外部印加磁界を用いて情報の記録/消去を行う本実施例のような光磁気ディスク装置においては、外部磁場発生器6を設けて記録/消去時に磁界の向きを切り換えて、記録/消去パワー照射することにより実施する。また、再生時は光検出器7の前に配置した波長板(図示せず)により、反射光をp偏光,s偏光に分離して、光検出器(2分割)7でそれぞれを差動することにより光磁気信号を得ることができる。

0021

試し書き処理時は、再生回路16の中からアナログ信号状態の再生信号を試し書きパターン中心レベル検出回路19に導く。試し書き処理時に使用する記録パターンとして、当該装置における最高周波数の最密パターンと、最低周波数もしくは最低周波数に近い周波数の最疎パターンとの組合せパターンを用い、その再生信号において最密パターンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを、試し書きパターン中心レベル検出回路19で検出して、その中心レベルの差をA/D変換器20によってコントローラ8に取り込み、その差が0()となる時の記録パワーが最適記録パワーと判定して正規の記録を実施する。この様に試し書きにより、常に最適パワーを設定することで高精度な記録マークを記録することが可能となる。

0022

図2に、本実施例において適用される記録媒体上に記録する試し書き記録の1例を示す。ここでは、変調方式として2−7RLLコードを採用し、ピットポジション記録を行うための前提となる試し書き処理について説明する。図2(a)は、図1で説明したコントローラ8からの正規の情報データに応じて変調された符号列を示し、図2の(b)は、試し書きパターン発生回路10で生成される最疎パターンの試し書きデータの符号列を示している。

0023

図2の(a)の記録符号列は、2−7RLLコードの場合、3TW 〜8TW の6通りあり、ピットポジション記録のために変調コードの“1”がピット(丸穴)に対応している。ここでTW は窓幅を表わし、シンセサイザ9で発振する基準クロック周期はTW に等しい。試し書きデータのうち、最密パターンはデータパターンの最高周波数である3TW 間隔の記録パルス列を用い、試し書きパターン発生回路10からの出力に基づき記録パルス生成回路12で生成する。

0024

試し書きデータの最疎パターンには、図2の(b)に示すピットエッジ記録用の12TW周期パルス幅=6TW )を用い、試し書きパターン発生回路10からの出力に基づき記録パルス生成回路12で記録パルス列を生成する。ピットエッジ記録では長穴記録のために、記録パルス生成回路12によって、先頭パルスとしてパルス幅3/2TW とギャップ幅1/2TW 、後方パルスとして4組のパルス幅1/2TW とギャップ幅1/2TW (基準クロック波形と同じ)を、組合せたパルス列として生成される。これらのパルスは基準クロックに同期して発生させる。これにより、パルス幅およびパルス間隔の制御が向上する。

0025

図3に、記録マーク形状、レーザの記録電流波形および制御信号を示す。レーザの記録電流波形は、記録パルス列とギャップの組合せにより構成され、それぞれの記録パルス列の後縁には、記録補助パルスによってある時間幅休止期間を設ける。記録補助パルスは、記録符号列の立ち下がり位置からある時間幅のギャップ部を設けることによって、記録パルス列の最終立ち下がり位置からの熱が、次の記録パルス列の先頭立ち上がり位置の温度をほとんど変化させないようにする。

0026

まず、情報データと試し書き時の最密パターンに対応する、ピットポジション記録の場合について説明する。レーザパワーは、4つのパワーレベルに設定されている。再生時の再生パワーがPr、記録時に高周波重畳を休止するために再生パワーが変調度分低下した時の再生パワーがPr’、記録補助パルスによる記録パワーがPph、先頭パルスの記録パワーがPw1である。このパワーを実現するために、電流源として再生パワーを一定に保つAPC(Auto Power Control)からの電流源Ir’,Ir’に重畳する記録補助パルス用電流源Iph、さらに重畳する先頭パルス用電流源Iw1、後方パルスを生成するのに必要な電流源Iwrをそれぞれ設けて、記録補助パルスパワーPphは電流をIr’+Iphとし、先頭パルスパワーPw1はIr’+Iph+Iw1として、レーザを発光させることにより目的の記録波形を得ることができる。

0027

さらに試し書きパターンのうち、最疎パターンに対応するピットエッジ記録を行う場合について図4で説明する。レーザパワーは、ピットポジション記録に対して、後方パルス分のパワーレベルPw2が追加されて5つのパワーレベルに設定されている。Pw1までは図3で説明したとおりであり、後方パルスパワーPw2はIr’+Iph+Iw1+Iw2として、レーザを発光させることにより同様に目的の記録波形を得ることができる。

0028

再生時は、Ir’と高周波重畳回路からの電流Ihfの加算により、再生電流Irを実現する。

0029

次に、記録時の制御信号の説明を行う。WRGATE−Nは記録状態を表わすゲート信号であって、通常のセクタ内の記録データ領域においてイネーブルとなる。また、高周波重畳回路14のON/OFF制御信号として用い、再生中はONし、記録中はOFFするように動作する。WRPLS−Pは記録パルス列に対応し、PHPLS−Pは記録補助パルスを生成する信号であり、各記録パルス列の後端において熱遮断のためにピットポジション記録の場合はTw /2、マークエッジ記録の場合はTW の休止期間を有している。PEAKPLS−Pは後方パルスを先頭パルスよりもパワーを上げるために用いる制御信号である。これらの制御信号は、図5に示すレーザドライバ13内の演算回路21に入力される。

0030

重ね書きができない記録媒体を用いる装置における消去時の制御信号は、WRPLS−P,PHPLS−P,PEAKPLS−Pを、WRGATE−P(WRGATE−N信号の逆極性信号)と同じ波形にすることにより、データの消去が可能になる。

0031

図5に、レーザの記録波形を生成するレーザドライバ13の1例を示す。記録電流波形に対して、それぞれ電流源Iw1,Iw2,Iph、および再生パワーを一定に保つAPC(Auto Power Control)からの電流源Ir’を設ける。電流源Iw1,Iw2,Iphは、ZCAVに対応して各ゾーンにおいて可変可能としておく必要があり、これは、コントローラ8からのゾーンデータを、データバスDBUS0〜7−Pにより演算回路21経由で各電流源に設けたD/A変換器にセットすることにより実現できる。また、D/A変換器は、レーザの発光効率,光ヘッドの利用効率を考慮して、所定のパワーになるように出力ゲインを調整する。その調整データは、それぞれのD/A変換器に対して例えばEEPROMに内蔵しておくことにより実現できる。

0032

各電流源は、高速スイッチング可能なカレントスイッチCS1,CS2,CS3に接続されており、図3図4に示す記録パルス制御信号により高速スイッチングを実行し、所望の記録電流波形を得ることができる。この回路では、「+」駆動レーザの高速スイッチングに対応するためにpnp形トランジスタの代わりに、高速スイッチング可能なnpn形トランジスタを使用する。電流源Iには、各電流源に設けたD/A変換器の合計電流カレントミラー回路(図示せず)により合計電流を流しておき、各カレントスイッチによってカレントスイッチ側に電流を吸い込み、レーザに流れる電流を制御する形をとる。「−」駆動レーザの場合は、それぞれの電流源からの電流を加算することで実現できる。高周波重畳回路14は、制御信号WRGATE−Pによって再生中はONし、記録中はOFFするように動作する。ここで使用するスイッチとしては特開昭63−90037号公報に記載のPINダイオードが好適である。

0033

試し書き処理は記録媒体と記録を行なう装置との適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所定の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚変動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特性変化による記録媒体に対する記録感度変動等を検知し、常に最適条件下で記録を実行することを目的として、正規の情報の記録を行なう前に記録媒体上に書き込む動作をする。試し書きを行うトラック光ディスク標準化などで規定されているディスクは、その特定のトラックで試し書きを実行し、もし無い場合には、最内周部や最外周部に設けられているマニュファクラーゾーンなどを利用してもよい。試し書き用のトラックが規定されている場合の1例としては、特開平6−36377号公報に開示された技術が挙げられる。

0034

試し書きトラックが設置されておらず、最内周部のマニュファクチャラーゾーンを使用する場合について、図6に試し書き処理手順のフローチャートの1例を示す。内周での試し書き結果を基に全ゾーンの記録条件を設定する方法をとる。まず最初に、内周の試し書きトラックと決めたマニュファクチャラーゾンのトラックへ光ヘッドを位置付ける。ここでは、予め所定の試し書きトラックが消去されているものとする。もし、データが記録されている場合には消去動作により、試し書きに備える。この時の消去パワーとしては、記録膜の消去耐力を想定して標準パワーに設定しておけばよい。もし、消去エラーが発生した場合には消去リトライを実行する。次に、試し書きの記録開始パワーを設定する。この時の設定パワーは低くする必要があり、たとえば50°C時の記録パワーとする。当該トラックにおいて試し書き先頭セクタが検出されたならば、試し書きパターンを記録し始める。

0035

図7に、試し書きパターンの1例と記録パワーの設定方法について示す。試し書きパターンは、前述した如く情報データの最高周波数である3TW 間隔の最密パターンと、ピットエッジ記録を行うための最疎パターン(12TW 間隔/6TWパルス幅)の繰り返しパターンとを使用する。

0036

ピットエッジ記録による最疎パターンは、ピットポジション記録による情報データの最密パターンの振幅を保証する基準パターンとして用いるものであり、最密パターンが最疎パターンの再生信号の中心レベルと等しいときには、最密パターンのデューティがほぼ50%で信号振幅が最大値となり、この時の記録パワーを最適パワーとする。記録パワーは1セクタあたり1条件として、順次セクタを更新しながら記録パワーを更新していく。記録条件はコントローラ8からデータバスDBUS0〜7−Pを経由してレーザドライバ13に設定する必要があり、その設定時間を考慮すると記録するセクタは最低1セクタおきとする(図7)。

0037

1処理あたりの記録条件数は、1トラック以内で記録処理を考慮すると5〜15程度となる。最密パターンと最疎パターンを1組としたときの1セクタ内の繰り返し周期は、再生時の信号変動よりも高く選択すれば、試し書きパターン信号と信号変動を分離することが可能となり、検出精度を高くすることができる。再生時の信号変動成分としてはディスク基板自身が持つリターデーションによる周波数成分が主流であり、試し書きパターンの繰り返し周期としてリターデーションの主周期の2倍以上の周期を選択するとよい。

0038

試し書き処理の再生動作は、光ヘッドを試し書きトラックに位置付けることから始まる。上述した記録動作にてパワーを変えながら記録したセクタを、選択的に順次読み出していく。

0039

図1の試し書きパターン中心レベル検出回路19において、各セクタの再生信号の中から最密パターンの中心レベル(V1 )と最疎パターンの中心レベル(V2 )とを検出し、その電圧差ΔV=V1 −V2 を求める。試し書きパターン中心レベル検出回路19としては、帯域通過フィルタ(Band Pass Filter)とサンプルホールド回路の組合せが有効である。ΔVは、A/D変換器20でディジタルデータとしてコントローラ8に取り込み、その中から最適記録パワーの判定条件であるΔV=0となるセクタの記録条件を見つけ出す。

0040

この一連の処理において、ΔV=0となるセクタがない場合には、ΔVの正負極性から記録条件の大小を判定して、それに応じて再度記録開始パワーを設定し、試し書き処理を実行する。同一トラックまたは複数のトラックにおいて2回以上の試し書き処理を実行してもΔV=0となるセクタがない場合は、装置異常として処理を終了する。

0041

ΔV=0となるセクタを見つけ出した後は、このセクタに対する設定パワーを最適パワーとして、コントローラ8内のメモリ保管しておく。こうして試し書きにより最適パワーが決定した試し書きトラックは、次の試し書き処理に備えるために消去しておく。このときの消去パワーは、当該試し書き処理に使用した最大記録パワーに設定することにより、消し残りなく消去することができる。

0042

内周で求めた最適パワーから、外挿計算によって各ゾーンの最適パワーを計算してメモリ内に記憶することにより、試し書き処理が終了し、正規の情報の記録再生を開始する。また、試し書き領域として外周部のマニュファクチャラーゾーンが利用できるときは内周と外周の2か所で試し書きを行い、それぞれの位置で求まった最適パワーから内挿計算して、各ゾーンの記録パワーを求めることができる。

0043

図8に、試し書き処理において得られた再生信号と実測例の1例を示す。再生信号において、記録パワーの大きさによって最密パターンと最疎パターンの再生信号の中心レベルの差ΔVが変化する。試し書きパターン中心レベル検出回路19において各セクタの再生信号の中から、最密パターンの中心レベル(V1 )と最疎パターンの中心レベル(V2 )を検出し、その電圧差ΔV=V1 −V2 を求める。最密パターンと最疎パターンの周期に合わせて、サンプリングパルスAMPLE−Pをコントローラ8より発行し、その立上りエッジで最密パターンの中心レベルとしてV1 、その立下がりエッジで最疎パターンの中心レベルとしてV2 を検出する。このように、ΔVを試し書きパターン中心レベル検出回路19で求めた後、A/D変換器20でディジタルデータとしてコントローラ8に取り込んでも良いし、A/D変換器20でV1 とV2 をディジタルデータとした後、コントローラ8でΔV=V1 −V2 を求めても良い。

0044

図8の(3)に、試し書き処理において得られた記録パワー条件に対するΔV=V1 −V2 の1実測例を示す。図から明らかなように、記録パワーとΔVはほぼ比例関係にあることがわかる。

0045

なお、上述してきた説明では、2−7RLL変調を用いたピットポジション記録のための試し書き処理について説明した。ここで図1に示した本実施例では、1−7RLL変調を用いたピットエッジ記録のための試し書き処理も実行可能となっており、これは前記した特開平6−36377号公報に開示された手法と同様にして行われる。すなわち、ピットエッジ記録のための図示せぬ試し書き用の試し書きパターン発生回路を図1付設、ないしは、図1の試し書きパターン発生回路10に、ピットエッジ記録のための試し書きパターン発生機能を付加し、1−7RLL変調方式から形成される最密パターンと最疎パターンを生成して、ピットポジション記録のための試し書き処理とほぼ同様にして、最密パターンと最疎パターンの繰り返しパターンによる試し書きを行うようにされる。そして、再生信号において、最密パターンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを検出して、それぞれの中心レベルが等しくなるような記録パワーを、最適記録パワーとして設定するようにされる。

0046

したがって、試し書き処理における再生処理系(最適記録パワー算出・設定手段等)が、ピットポジション記録(2−7RLL変調方式)とピットエッジ記録(1−7RLL変調方式)とで共用化することができて、試し書き処理のための回路系の規模を増大させることなく、1台の光ディスク装置で2つの異なる変調方式に対応する試し書き処理を行うことが可能となる。

0047

なお、上述してきた実施例においては、記録媒体として光磁気ディスクを例にとったが、本発明は記録媒体として相変化型等の書換え可能な光ディスクを用いる場合の記録制御方式としても適用可能である。

発明の効果

0048

以上のように本発明によれば、2つの異なる変調方式に対応する最適記録パワー設定のための試し書き処理を、ほぼ同様の最密パターンと最疎パターンの繰り返しパターンで行い、再生信号において最密パターンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを検出・対比することにより、最適記録パワーを求めるようにしているので、1台の光ディスク装置で2つの異なる変調方式に対応する最適記録制御が可能となるばかりか、試し書き処理のための回路系の規模を増大させることがなくなる。

0049

また、記録媒体の膜厚変動や環境温度変動による記録媒体に対する記録感度変動および記録再生装置による記録感度変動も抑圧し、記録再生装置と記録媒体との適合性を向上させるとともに、高精度に記録マークを制御できるので、記録再生装置の信頼性、および記録容量や情報の転送レートを向上させる効果がある。

図面の簡単な説明

0050

図1本発明の1実施例に係る光磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。
図2本発明の1実施例において適用される、記録媒体への記録方式の1例による記録符号列と記録パルス列を示す説明図である。
図3本発明の1実施例による、ピットポジション記録時の記録電流波形を示す説明図である。
図4本発明の1実施例による、ピットエッジ記録時の記録電流波形を示す説明図である。
図5図1中のレーザドライバの構成を示すブロック図である。
図6本発明の1実施例による、試し書き処理手順の1例を示すフローチャート図である。
図7本発明の1実施例による、試し書きパターンの1例と記録パワー設定手法を示す説明図である。
図8本発明の1実施例による、試し書き処理において得られた再生信号と、それから得られた差電圧の1実測例とを示す説明図である。

--

0051

8コントローラ
10試し書きパターン発生回路
12記録パルス生成回路
13レーザドライバ
16再生回路
17PLL
18弁別回路
19 試し書きパターン中心レベル検出回路
20 A/D変換器

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