図面 (/)

技術 偏波依存性損失測定方法及びその装置

出願人 日立電線株式会社
発明者 蛭田昭浩
出願日 1994年11月4日 (26年0ヶ月経過) 出願番号 1994-271091
公開日 1996年5月31日 (24年5ヶ月経過) 公開番号 1996-136403
状態 未査定
技術分野 光学装置、光ファイバーの試験
主要キーワード 測定用光 出射ファイバ 偏光用 入射ファイバ 受光パワー 偏光角度 偏光コントローラ モニタ用光検出器
関連する未来課題
重要な関連分野

この項目の情報は公開日時点(1996年5月31日)のものです。
また、この項目は機械的に抽出しているため、正しく解析できていない場合があります

図面 (3)

目的

高精度で被測定物偏波依存性損失を測定できる偏波依存性損失測定方法及びその装置を提供する。

構成

測定光偏光状態可変にし、その測定光を被測定物8に入射すると共に、その被測定物8から出射される出射光より被測定物8の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測定方法において、出射光を平行光とした後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれの偏光成分から被測定物8の偏波依存性損失を測定することを特徴としている。

概要

背景

図2は偏波依存性損失(PDL)測定方法を適用した偏波依存性損失測定装置の従来例である。

同図において、レーザ光源LD光源)1から出射した出射光は、レンズ2で集光された後カプラ3の入力部3aに入射する。レーザ光はカプラ3で測定光及び光源モニタ光分岐される。光源モニタ光はLD光源1の光パワーモニタするためのモニタ用光検出器4に入射し、LD光源1の出射パワーがモニタされ、LD光源1の出力が一定となるように制御される。

測定光は偏光コントローラ5に入射する。測定光の偏光状態は、偏光コントローラ5によって全偏光状態(直線偏光楕円偏光及び円偏光)に変化されるようになっており、いずれかの偏光状態にされた後出射ファイバ6及び入射ファイバ7を介して被測定物8に入射される。

ここで、偏光コントローラ5の出射ファイバ6は、被測定物8の入射ファイバ7に融着接続部9で融着接続されている。融着接続部9は低いPDL(0.001dB以下)で接続することが可能であるが、融着接続する代わりにコネクタ接続すると0.02dB程度のPDLが生じることがある。

従って高精度でPDLを測定するためには偏光コントローラ5の出射ファイバ6以降の接続は、融着接続する必要がある。

被測定物8から出射したレーザ光(全偏光状態がつくりだされているレーザ光)は、被測定物出射ファイバ10及び測定系入射ファイバ11を介してPDL測定装置12の測定用光検出器13に入射する。

測定用光検出器13の受光パワーは、被測定物8を通過するレーザ光の偏光状態によって変化する。この測定用光検出器13の受光パワーの最大値最小値との差が被測定物8のPDLとして検出される。尚、14は融着接続部である。

概要

高精度で被測定物の偏波依存性損失を測定できる偏波依存性損失測定方法及びその装置を提供する。

測定光の偏光状態を可変にし、その測定光を被測定物8に入射すると共に、その被測定物8から出射される出射光より被測定物8の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測定方法において、出射光を平行光とした後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれの偏光成分から被測定物8の偏波依存性損失を測定することを特徴としている。

目的

そこで、本発明の目的は、上記課題を解決し、高精度で被測定物の偏波依存性損失を測定できる偏波依存性損失測定方法及びその装置を提供することにある。

効果

実績

技術文献被引用数
1件
牽制数
1件

この技術が所属する分野

ライセンス契約や譲渡などの可能性がある特許掲載中! 開放特許随時追加・更新中 詳しくはこちら

請求項1

測定光偏光状態可変にし、その測定光を被測定物入射すると共に、その被測定物から出射される出射光より被測定物の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測定方法において、上記出射光を平行光とした後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれの偏光成分から被測定物の偏波依存性損失を測定することを特徴とする偏波依存性損失測定方法。

請求項2

上記被測定物からの測定光をレンズを用いて平行光とし、その平行となった測定光を偏光器を用いてP偏光成分とS偏光成分とに分離し、分離された測定光をそれぞれ別個光検出器で独立に受光する請求項1記載の偏波依存性損失測定方法。

請求項3

レーザ光源と、このレーザ光源からの出射光を集光するためのレンズと、このレンズで集光された出射光を測定光及び光源モニタ光分岐するカプラと、このカプラで分岐された光源モニタ光を受光して上記レーザ光源をモニタするモニタ用光検出器と、上記カプラで分岐された測定光の偏光状態を変化させる偏光コントローラとを備えた偏波依存性損失測定装置において、上記測定光を平行光にするレンズと、このレンズで平行にされた測定光をP偏光成分とS偏光成分とに分離する偏光器と、この偏光器で分離されたP偏光成分を受光するP偏光用光検出器と、上記偏光器で分離されたS偏光成分を受光するS偏光用光検出器とを備えたことを特徴とする偏波依存性損失測定装置。

技術分野

0001

本発明は、偏波依存性損失測定方法及びその装置に関する。

背景技術

0002

図2は偏波依存性損失(PDL)測定方法を適用した偏波依存性損失測定装置の従来例である。

0003

同図において、レーザ光源LD光源)1から出射した出射光は、レンズ2で集光された後カプラ3の入力部3aに入射する。レーザ光はカプラ3で測定光及び光源モニタ光分岐される。光源モニタ光はLD光源1の光パワーモニタするためのモニタ用光検出器4に入射し、LD光源1の出射パワーがモニタされ、LD光源1の出力が一定となるように制御される。

0004

測定光は偏光コントローラ5に入射する。測定光の偏光状態は、偏光コントローラ5によって全偏光状態(直線偏光楕円偏光及び円偏光)に変化されるようになっており、いずれかの偏光状態にされた後出射ファイバ6及び入射ファイバ7を介して被測定物8に入射される。

0005

ここで、偏光コントローラ5の出射ファイバ6は、被測定物8の入射ファイバ7に融着接続部9で融着接続されている。融着接続部9は低いPDL(0.001dB以下)で接続することが可能であるが、融着接続する代わりにコネクタ接続すると0.02dB程度のPDLが生じることがある。

0006

従って高精度でPDLを測定するためには偏光コントローラ5の出射ファイバ6以降の接続は、融着接続する必要がある。

0007

被測定物8から出射したレーザ光(全偏光状態がつくりだされているレーザ光)は、被測定物出射ファイバ10及び測定系入射ファイバ11を介してPDL測定装置12の測定用光検出器13に入射する。

0008

測定用光検出器13の受光パワーは、被測定物8を通過するレーザ光の偏光状態によって変化する。この測定用光検出器13の受光パワーの最大値最小値との差が被測定物8のPDLとして検出される。尚、14は融着接続部である。

発明が解決しようとする課題

0009

しかしながら、上述した従来例では、測定用光検出器13のPDL(0.01〜0.03dB)が、被測定物8のPDL測定値に含まれてしまい、高精度PDL(<0.005dB)が困難であった。尚、測定用光検出器13のPDLは、測定用光検出器13の受光面の原子配列に対する測定光の偏光方向の角度等が変化することによって光電変換効率が変化するために生じる。

0010

そこで、本発明の目的は、上記課題を解決し、高精度で被測定物の偏波依存性損失を測定できる偏波依存性損失測定方法及びその装置を提供することにある。

課題を解決するための手段

0011

上記目的を達成するために本発明は、測定光の偏光状態を可変にし、その測定光を被測定物に入射すると共に、その被測定物から出射される出射光より被測定物の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測定方法において、出射光を平行光とした後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれの偏光成分から被測定物の偏波依存性損失を測定するものである。

0012

上記構成に加え本発明は、被測定物からの測定光をレンズを用いて平行光とし、その平行となった測定光を偏光器を用いてP偏光成分とS偏光成分とに分離し、分離された測定光をそれぞれ別個光検出器で独立に受光するものである。

0013

本発明は、レーザ光源と、このレーザ光源からの出射光を集光するためのレンズと、このレンズで集光された出射光を測定光及び光源モニタ光に分岐するカプラと、このカプラで分岐された光源モニタ光を受光してレーザ光源をモニタするモニタ用光検出器と、カプラで分岐された測定光の偏光状態を変化させる偏光コントローラとを備えた偏波依存性損失測定装置において、測定光を平行光にするレンズと、このレンズで平行にされた測定光をP偏光成分とS偏光成分とに分離する偏光器と、この偏光器で分離されたP偏光成分を受光するP偏光用光検出器と、偏光器で分離されたS偏光成分を受光するS偏光用光検出器とを備えたものである。

0014

被測定物から出射した測定光をP偏光成分とS偏光成分とに分離し、分離されたP偏光成分とS偏光成分とを別個の光検出器で受光することにより、光検出器の原子配列に対する測定光の偏光角度が一定となり、光電変換効率が一定となる。このため、光検出器の偏波依存性損失を含まずに被測定物の偏波依存性損失を測定することができる。

0015

以下、本発明の一実施例を添付図面に基づいて詳述する。

0016

図1は本発明の偏波依存性損失測定方法を適用した装置の一実施例である。図2に示した従来例と同様の部材には共通の符号を用いた。

0017

図1において、1はLD光源であり、2はLD光源1からのレーザ光を集光するためのレンズである。3はレンズ2で集光されたレーザ光を入力部3aで受光し光源モニタ光及び測定光に分岐するカプラである。4はカプラ3で分岐された光源モニタ光を受光してLD光源1をモニタし、PDL測定時に誤差となるLD光源1の光出力変動分キャンセルするためのモニタ用光検出器である。5はカプラ3で分岐された測定光の偏光状態を変化させるための偏光コントローラである。

0018

20は被測定物8から被測定物出射ファイバ10及び測定系入射ファイバ11を介して出射した測定光を平行光にするレンズである。21はレンズ20で平行にされた測定光を透過及び反射することによりP偏光成分及びS偏光成分に分離する偏光器としての偏光ビームスプリッタである。

0019

22は偏光ビームスプリッタ21を透過したP偏光成分を受光するP偏光用光検出器である。23は偏光ビームスプリッタ21で反射されたS偏光成分を受光するS偏光用光検出器である。

0020

これらLD光源1、レンズ2,20、カプラ3、偏光コントローラ5、モニタ光用光検出器4、偏光ビームスプリッタ21、P偏光用光検出器22、S偏光用光検出器23、測定系入射ファイバ11及び出射ファイバ6で偏波依存性損失測定装置24を形成している。

0021

この偏波依存性損失測定装置24は、出射ファイバ6及び測定系入射ファイバ11を被測定物8の入射ファイバ7及び被測定物出射ファイバ10に融着接続部9,14で融着接続し、LD光源1からの測定光の偏光状態を直線偏光、楕円偏光及び円偏光に変化させ、P偏光用光検出器22とS偏光用光検出器23との出力の和の最大値から最小値を減算した値を被測定物8の偏波依存性損失として測定するものである。

0022

尚、被測定物8のPDL測定を開始する前に、P偏光用光検出器22及びS偏光用光検出器23で受光する光パワーをモニタしておき、それぞれの受光パワーからP偏光成分の光電変換効率ηP 及びS偏光成分の光電変換効率ηS を求めておく。光電変換効率ηP 、ηS を求めておくことにより、各光検出器22,23間のバラツキオフセット量等をキャンセルすることができるようになり、より高精度なPDL測定が可能となる。

0023

次に実施例の作用を述べる。

0024

被測定物8から出射した測定光をP偏光成分とS偏光成分とに分離し、分離されたP偏光成分とS偏光成分とを別個の光検出器22,23で受光することにより、光検出器22,23の原子配列に対する測定光の偏光角度が一定となり、光電変換効率が一定となる。このため、光検出器22,23の偏波依存性損失を含まずに被測定物8の偏波依存性損失を測定することができる。

0025

ここで、偏光ビームスプリッタ21の消光比は45dB以上ある。つまり、偏光ビームスプリッタ21のPDLは0.001dB以下である。被測定物8から出射した測定光をP偏光成分とS偏光成分とに分離し、それぞれ別個の測定用光検出器22,23で受光することにより、各光検出器22,23はP偏光成分及びS偏光成分のいずれか一方だけを受光するので偏波依存性原理的に「0」になる。その結果、P偏光用光検出器22及びS偏光用光検出器23自体のPDLが「0」となり、測定により得られた結果が被測定物8のPDLのみとなるので、高精度で被測定物8の偏波依存性損失を測定することができる。

0026

以上において、本実施例によれば、測定光の偏光状態を可変にし、その測定光を被測定物に入射すると共に、その被測定物から出射される出射光より被測定物の偏波依存性損失を測定する偏波依存性損失測定方法において、出射光を平行光とした後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれの偏光成分から被測定物の偏波依存性損失を測定するので、被測定物のPDLを高精度で測定することができる。

0027

尚、本実施例では偏光器に偏光ビームスプリッタを用いたが、これに限定されずウォラストンプリズム等を用いてもよい。ウォラストンプリズムは、S偏光成分とP偏光成分とが同一方向に数度の角度で分離して出射するので、光検出器を集積化することが可能となり、測定系の小型化、低価格化が実現できる。

発明の効果

0028

以上要するに本発明によれば、次のような優れた効果を発揮する。

0029

出射光を平行光とした後その平行光を偏光成分ごとに分離してそれぞれの偏光成分から被測定物の偏波依存性損失を測定するので、高精度で被測定物の偏波依存性損失を測定することができる。

図面の簡単な説明

0030

図1本発明の偏波依存性損失測定方法を適用した装置の一実施例である。
図2偏波依存性損失測定方法を適用した偏波依存性損失測定装置の従来例である。

--

0031

1レーザ光源(LD光源)
2、20レンズ
3カプラ
4モニタ用光検出器
5偏光コントローラ
6出射ファイバ
21偏光器(偏光ビームスプリッタ)
22P偏光用光検出器(光検出器)
23 S偏光用光検出器(光検出器)

ページトップへ

この技術を出願した法人

この技術を発明した人物

ページトップへ

関連する挑戦したい社会課題

関連する公募課題

ページトップへ

技術視点だけで見ていませんか?

この技術の活用可能性がある分野

分野別動向を把握したい方- 事業化視点で見る -

ページトップへ

おススメ サービス

おススメ astavisionコンテンツ

新着 最近 公開された関連が強い技術

この 技術と関連性が強い人物

関連性が強い人物一覧

この 技術と関連する社会課題

関連する挑戦したい社会課題一覧

この 技術と関連する公募課題

関連する公募課題一覧

astavision 新着記事

サイト情報について

本サービスは、国が公開している情報(公開特許公報、特許整理標準化データ等)を元に構成されています。出典元のデータには一部間違いやノイズがあり、情報の正確さについては保証致しかねます。また一時的に、各データの収録範囲や更新周期によって、一部の情報が正しく表示されないことがございます。当サイトの情報を元にした諸問題、不利益等について当方は何ら責任を負いかねることを予めご承知おきのほど宜しくお願い申し上げます。

主たる情報の出典

特許情報…特許整理標準化データ(XML編)、公開特許公報、特許公報、審決公報、Patent Map Guidance System データ