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技術 接触試験器およびそれを用いた導通試験装置

出願人 群馬日本電気株式会社
発明者 森田敏之
出願日 1991年12月12日 (29年2ヶ月経過) 出願番号 1991-329101
公開日 1995年10月3日 (25年4ヶ月経過) 公開番号 1995-253447
状態 特許登録済
技術分野 短絡、断線、漏洩,誤接続の試験
主要キーワード 試験箇所 論理信号レベル 保持筺体 接地方向 導通試験装置 接触検知信号 接触試験 試験対象物
関連する未来課題
重要な関連分野

この項目の情報は公開日時点(1995年10月3日)のものです。
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図面 (9)

目的

導通試験の際に、試験対象物試験箇所に加えた試験信号を他の試験箇所から取り出せなかったとき、それが試験対象物の電気回路の不具合によるものか、接触試験器と試験対象物と接触不良によるものかを判定可能とするため。

構成

端子2は、試験対象物の電気回路(図示せず)との間でピンヘッド6を介して授受される試験信号の中継用に使用される。スプリング12は、ピンヘッド6が試験対象物の試験箇所に押し付けられたとき、ピンヘッド6を試験対象物の試験箇所に圧接するように働く。ピンヘッド6が試験対象物の試験箇所に押し付けられたとき、ピン電極11a,11bと筺体電極10a,15とはそれぞれ接触して機械的スイッチとして機能し、端子1及び端子3aに外部から電源が供給されていると、LED電極16に実装されたLEDランプ17を点灯させ、ピンヘッド6と試験対象物との間が十分な圧力で接触していることを表示する。

概要

背景

電子回路用プリント基板等の内部回路導通試験を行うときに用いられる従来の接触試験器は、試験の対象となる電子回路用プリント基板等の導通試験時の測定箇所ピンヘッドの先端部を機械的に接触させ、接触試験器と電子回路用プリント基板等との間を電気的に接続させて、電子回路用プリント基板等の電気回路の導通試験を行うために用いられていた。この接触試験器を介して試験信号を電子回路用プリント基板等の電気回路上の試験箇所に加え、他の試験箇所からその試験信号が取り出せるときは導通があるものと判定され、信号が取り出せないときには導通がないものと判定されていた。

概要

導通試験の際に、試験対象物の試験箇所に加えた試験信号を他の試験箇所から取り出せなかったとき、それが試験対象物の電気回路の不具合によるものか、接触試験器と試験対象物と接触不良によるものかを判定可能とするため。

端子2は、試験対象物の電気回路(図示せず)との間でピンヘッド6を介して授受される試験信号の中継用に使用される。スプリング12は、ピンヘッド6が試験対象物の試験箇所に押し付けられたとき、ピンヘッド6を試験対象物の試験箇所に圧接するように働く。ピンヘッド6が試験対象物の試験箇所に押し付けられたとき、ピン電極11a,11bと筺体電極10a,15とはそれぞれ接触して機械的スイッチとして機能し、端子1及び端子3aに外部から電源が供給されていると、LED電極16に実装されたLEDランプ17を点灯させ、ピンヘッド6と試験対象物との間が十分な圧力で接触していることを表示する。

目的

本発明の目的は、試験対象物の内部回路の導通試験の際に、試験対象物の試験箇所に加えた試験信号を、他の試験箇所から取り出すことができなかったとき、それが試験対象物の電気回路の不具合によるものか、接触試験器と試験対象物との間の接触状態の不良によるものかを判定することができる接触試験器およびそれを用いた導通試験装置を提供することにある。

効果

実績

技術文献被引用数
1件
牽制数
0件

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請求項1

導体で構成された接触部を試験対象物電気回路に接触させて導通試験回路を構成する接触試験器において、(A)前記試験対象物の電気回路との間で前記接触部を介して授受される試験信号伝送中継用に使用される中継端子、(B)一端を前記接触部に接続され、他端を前記中継端子に接続された試験信号伝送ケーブル、(C)前記接触部の、試験対象物との接触面が前記試験対象物の試験箇所押し付けられたとき、前記接触部を支持する接触部支持構造を介して反発力で前記接触部を前記試験対象物の試験箇所に圧接するように働くスプリング、(D)前記接触部支持構造に設けられ機械的スイッチ接点の一方を構成する第1の電極、(E)前記スプリング及び前記接触部支持構造の一端を収容する接触部保持筺体に設けられ、前記第1の電極と対になり前記機械的スイッチを構成する第2の電極、を有することを特徴とする接触試験器。

請求項2

(A)接触部を試験対象物に押付けられたとき、前記接触部の導体を介して前記試験対象物と中継端子との間に回路を構成して前記中継端子から入力された試験信号を前記試験対象物に送出し、かつ内蔵する機械的スイッチが動作して前記試験対象物と前記接触部とが十分な圧力で相互に接触していることを知らせる第1のオン信号を出力する請求項1記載の接触試験器である第1の接触試験器、(B)前記接触部を前記試験対象物に押付けられたとき、前記接触部の導体を介して前記試験対象物と前記中継端子との間に回路を構成して前記試験対象物から入力された試験信号を前記中継端子から出力し、かつ内蔵する前記機械的スイッチが動作して前記試験対象物と前記接触部とが十分な圧力で相互に接触していることを知らせる第2のオン信号を出力する請求項1記載の接触試験器である第2の接触試験器、(C)前記第1の接触試験器から受信した前記第1のオン信号の受信の有無を論理レベル信号のレベル変化で示し第1の接触良否検出信号として出力する第1の接触検知信号処理部、(D)前記第2の接触試験器から受信した前記第2のオン信号の受信の有無を論理レベル信号のレベル変化で示し第2の接触良否検出信号として出力する第2の接触検知信号処理部、(E)前記第1の接触試験器に前記試験信号を出力し、かつ前記第1の接触検知信号処理部から前記第1の接触良否検出信号を受信して前記試験対象物と第1の接触試験器との間の接触状態の良否を判定し、接触状態の良否を示す第1の接触良否報告信号を出力する第1の試験信号処理部、(F)前記第2の接触試験器から前記試験信号を受信し、かつ前記第2の接触検知信号処理部から前記第2の接触良否検出信号を受信して前記試験対象物と第2の接触試験器との間の接触状態の良否を判定し、接触状態の良否を示す第2の接触良否報告信号を出力する第2の試験信号処理部、(G)前記第1の試験信号処理部に前記試験信号を出力するように指示し、前記第2の試験信号処理部に対して、前記第1の試験信号処理部から出力された試験信号を前記第2の接触試験器から受信するように指示し、かつ前記第1の試験信号処理部から第1の接触良否報告信号を受信し、前記第2の試験信号処理部から第2の接触良否報告信号を受信して導通試験合否を判定する接触試験器制御部、を備えたことを特徴とする導通試験装置

請求項3

請求項2記載の導通試験装置において、前記第1及び第2の接触検知信号処理手段は、一端を電源に接続された抵抗と、前記抵抗の他端に短絡された入力端を接続されたAND回路とを備え、外部回路により前記AND回路の入力端と前記電源の接地側とを短絡されたときと、前記外部回路により前記AND回路の入力端と前記電源の接地側とを開放されたときとで出力する論理信号レベルを変化させるように構成されていることを特徴とする導通試験装置。

請求項4

請求項2記載の導通試験装置において、前記第1及び第2の接触検知信号処理手段は、一端を電源に接続された抵抗と、前記抵抗の他端に短絡された入力端を接続されたNAND回路とを備え、外部回路により前記NAND回路の入力端と前記電源の接地側とを短絡されたときと、前記外部回路により前記NAND回路の入力端と前記電源の接地側とを開放されたときとで出力する論理信号レベルを変化させるように構成されていることを特徴とする導通試験装置。

請求項5

請求項2記載の導通試験装置において、前記第1及び第2の接触検知信号処理手段は、一端を電源に接続された抵抗と、前記抵抗の他端に短絡された入力端を接続されたOR回路とを備え、外部回路により前記OR回路の入力端と前記電源の接地側とを短絡されたときと、前記外部回路により前記OR回路の入力端と前記電源の接地側とを開放されたときとで出力する論理信号レベルを変化させるように構成されていることを特徴とする導通試験装置。

請求項6

請求項2記載の導通試験装置において、前記第1及び第2の接触検知信号処理手段は、一端を電源に接続された抵抗と、前記抵抗の他端に短絡された入力端を接続されたNOR回路とを備え、外部回路により前記NOR回路の入力端と前記電源の接地側とを短絡されたときと、前記外部回路により前記NOR回路の入力端と前記電源の接地側とを開放されたときとで出力する論理信号レベルを変化させるように構成されていることを特徴とする導通試験装置。

技術分野

0001

本発明は接触試験器およびそれを用いた導通試験装置に関し、特に電子回路用プリント基板等の内部回路導通試験のときに用いられる接触試験器およびそれを用いた導通試験装置に関する。

背景技術

0002

電子回路用プリント基板等の内部回路の導通試験を行うときに用いられる従来の接触試験器は、試験の対象となる電子回路用プリント基板等の導通試験時の測定箇所ピンヘッドの先端部を機械的に接触させ、接触試験器と電子回路用プリント基板等との間を電気的に接続させて、電子回路用プリント基板等の電気回路の導通試験を行うために用いられていた。この接触試験器を介して試験信号を電子回路用プリント基板等の電気回路上の試験箇所に加え、他の試験箇所からその試験信号が取り出せるときは導通があるものと判定され、信号が取り出せないときには導通がないものと判定されていた。

発明が解決しようとする課題

0003

上述した従来の接触試験器では、電子回路用プリント基板等の試験対象物そりなどの物理的な歪により、接触部と試験対象物との間で接触不良が発生し、導通試験の結果として「導通不良」と判定されても、試験対象物のそりなどの物理的な歪が目視で明らかに分る場合を除いて、その結果が接触部と試験対象物との間での接触不良に起因しているものとは見なされず、試験対象物の電気回路内の導通不良と見なされてしまい、誤判定を生じててしまうという欠点があった。

0004

本発明の目的は、試験対象物の内部回路の導通試験の際に、試験対象物の試験箇所に加えた試験信号を、他の試験箇所から取り出すことができなかったとき、それが試験対象物の電気回路の不具合によるものか、接触試験器と試験対象物との間の接触状態の不良によるものかを判定することができる接触試験器およびそれを用いた導通試験装置を提供することにある。

課題を解決するための手段

0005

第1の発明の接触試験器は、導体で構成された接触部を試験対象物の電気回路に接触させて導通試験回路を構成する接触試験器において、(A)前記試験対象物の電気回路との間で前記接触部を介して授受される試験信号の伝送中継用に使用される中継端子、(B)一端を前記接触部に接続され、他端を前記中継端子に接続された試験信号伝送ケーブル、(C)前記接触部の、試験対象物との接触面が前記試験対象物の試験箇所に押し付けられたとき、前記接触部を支持する接触部支持構造を介して反発力で前記接触部を前記試験対象物の試験箇所に圧接するように働くスプリング、(D)前記接触部支持構造に設けられ機械的スイッチ接点の一方を構成する第1の電極、(E)前記スプリング及び前記接触部支持構造の一端を収容する接触部保持筺体に設けられ、前記第1の電極と対になり前記機械的スイッチを構成する第2の電極、を有して構成されている。

0006

第2の発明の導通試験装置は、(A)接触部を試験対象物に押付けられたとき、前記接触部の導体を介して前記試験対象物と中継端子との間に回路を構成して前記中継端子から入力された試験信号を前記試験対象物に送出し、かつ内蔵する機械的スイッチが動作して前記試験対象物と前記接触部とが十分な圧力で相互に接触していることを知らせる第1のオン信号を出力する請求項1記載の接触試験器である第1の接触試験器、(B)前記接触部を前記試験対象物に押付けられたとき、前記接触部の導体を介して前記試験対象物と前記中継端子との間に回路を構成して前記試験対象物から入力された試験信号を前記中継端子から出力し、かつ内蔵する前記機械的スイッチが動作して前記試験対象物と前記接触部とが十分な圧力で相互に接触していることを知らせる第2のオン信号を出力する請求項1記載の接触試験器である第2の接触試験器、(C)前記第1の接触試験器から受信した前記第1のオン信号の受信の有無を論理レベル信号のレベル変化で示し第1の接触良否検出信号として出力する第1の接触検知信号処理部、(D)前記第2の接触試験器から受信した前記第2のオン信号の受信の有無を論理レベル信号のレベル変化で示し第2の接触良否検出信号として出力する第2の接触検知信号処理部、(E)前記第1の接触試験器に前記試験信号を出力し、かつ前記第1の接触検知信号処理部から前記第1の接触良否検出信号を受信して前記試験対象物と第1の接触試験器との間の接触状態の良否を判定し、接触状態の良否を示す第1の接触良否報告信号を出力する第1の試験信号処理部、(F)前記第2の接触試験器から前記試験信号を受信し、かつ前記第2の接触検知信号処理部から前記第2の接触良否検出信号を受信して前記試験対象物と第2の接触試験器との間の接触状態の良否を判定し、接触状態の良否を示す第2の接触良否報告信号を出力する第2の試験信号処理部、(G)前記第1の試験信号処理部に前記試験信号を出力するように指示し、前記第2の試験信号処理部に対して、前記第1の試験信号処理部から出力された試験信号を前記第2の接触試験器から受信するように指示し、かつ前記第1の試験信号処理部から第1の接触良否報告信号を受信し、前記第2の試験信号処理部から第2の接触良否報告信号を受信して導通試験の合否を判定する接触試験器制御部、を有して構成されている。

0007

次に、第1の発明の第1の実施例について図面を参照して説明する。

0008

図1は、第1の発明の第1の実施例を示す接続試験器の断面図である。

0009

図1に示す接触試験器は、試験対象物の電気回路に接触する接触部13を有するピンヘッド6、ピンヘッド6を支持する接触部支持構造5、試験対象物の電気回路(図示せず)との間でピンヘッド6を介して授受される電気信号の伝送中継用に使用される端子(中継端子)2、外部の電源に接続される端子3a、一端をピンヘッド6に接続され、他端を端子2に接続された信号ケーブル(試験信号伝送ケーブル)9、ピンヘッド6の接触面13が試験対象物の試験箇所に押し付けられたとき、接触部支持構造5を介して反発力でピンヘッド6を試験対象物の試験箇所に圧接するように働くスプリング12、接触部支持構造5に設けられて機械的スイッチの接点の一方を構成するピン電極(第1の電極)11a,11b、スプリング12及び接触部支持構造5の一端を収容する接触部保持筺体4、接触部保持筺体4に設けられ、他端がピン電極11aと対になり機械的スイッチを構成する筺体電極(第2の電極)10aであり、外部の電源に接続される端子1、接触部保持筺体4に設けられ、ピン電極11bと対になり機械的スイッチを構成する筺体電極(第2の電極)15、一端を筺体電極10bに接続され他の一端を端子3aに接続されたLED電極16に実装されたLEDランプ17から構成されている。

0010

次に本実施例の動作を説明する。

0011

図2は、図1に示す接続試験器の動作状態を示す断面図である。

0012

図2において、まず、接触部保持筺体4を持ちピンヘッド6の接触面13を電子回路用プリント基板等の試験対象物7に押し付ける。これにより、接触部支持構造5が押し上げられ、接触部支持構造5の絶縁天板部14によりスプリング12が押されて収縮する。この動作によりピン電極11a及びピン電極11bがそれぞれ筺体電極10a及び筺体電極15に接触し、端子1と端子3aとの間に回路が構成される。従って、端子1と端子3aとの間に外部から電源を供給すると、この電源によりLED電極16に実装されたLEDランプ17が点灯する。この点灯により、端子2から供給された信号がピンヘッド6を介して試験対象物に伝達されるべく、接触部はある圧力で接触していることが確認される。図2は、この加圧によりLEDランプ17が点灯し、スプリング12の収縮分だけ信号ケーブル9がたわんでピンヘッド6が試験器に接触していることを示している。試験対象物からペンヘッド6を離すとスプリング12が元の状態にもどり、LEDランプ17も消灯する。

0013

次に、第1の発明の第2の実施例について図面を参照して説明する。

0014

図3は、第1の発明の第2の実施例を示す接続試験器の断面図である。

0015

図3に示す接触試験器は、図1に示す接触試験器と一部分を除いて同じ構成である。すなわち、異なるところを示すと、図1に示す接触試験器では、図1の端子3aと筺体電極15との間に、LEDランプ17を実装したLED電極16が接続されているのに対して、図3に示す接触試験器では、LEDランプ17を実装したLED電極16がなく、端子3aに相当する端子3bはその他の一端が筺体電極10b(図1の場合の筺体電極15に該当する)を構成しており、筺体電極10bと一体であることである。

0016

次に本実施例の動作を説明する。

0017

図4は、図3に示す接続試験器の動作状態を示す断面図である。

0018

図4におけ接触試験器の動作でも、ピンヘッド6の接触面13を試験対象物に押し付けることにより、筺体電極10aとピン電極11aとが接触し、また筺体電極10bとピン電極11bとが接触するのは、図2におけ接触試験器の動作と同様である。図2におけ接触試験器の動作と異なるのは、LEDランプが点灯するのではなく、図4の端子1と端子3bとの間が導通することにより、外部に対して、ピンヘッド6の接触面13が試験対象物に確実に押し付けられた状態になっているという情報を電気的信号として取出すことができるようになっていることである。すなわち、この導通により、端子1及び端子3bとの間に接続された回路の一部を短絡することになる。この回路の短絡を検出することにより、端子2に供給された信号がピンヘッド6を介して試験対象物に伝達されるべく、接触部は十分な圧力で接触していることが確認できる。

0019

上記のように、図1に示す実施例では、接触部がある圧力で接触しているか否かは、LEDランプ17の点滅で表示されるが、図3に示す実施例では、端子1と端子3bとの間の導通の有無で外部に取出される。

0020

次に、第2の発明の一実施例について図面を参照して説明する。

0021

図5は、図3に示す接続試験器を用いて構成した導通試験装置32の一実施例を示すブロック図である。

0022

図5に示す導通試験装置32は、接触部を試験対象物に押付けられたとき、接触部の導体を介して試験対象物と中継端子との間に回路を構成して中継端子から入力された試験信号を試験対象物に送出し、かつ内蔵する機械的スイッチが動作して試験対象物と前記接触部とが十分な圧力で相互に接触していることを知らせるオン信号を出力する接触試験器22a、接触部を試験対象物に押付けられたとき、接触部の導体を介して試験対象物と中継端子との間に回路を構成して試験対象物から入力された試験信号を中継端子から出力し、かつ内蔵する機械的スイッチが動作して試験対象物と接触部とが十分な圧力で相互に接触していることを知らせるオン信号を出力する接触試験器22b、接触試験器22aから受信したオン信号の受信の有無を論理レベル信号のレベル変化で示し接触良否検出信号として出力する接触検知信号処理部24a、接触試験器22bから受信したオン信号の受信の有無を論理レベル信号のレベル変化で示し接触良否検出信号として出力する接触検知信号処理部24b、接触試験器22aに試験信号を出力し、かつ接触検知信号処理部24aから接触良否検出信号を受信して試験対象物と接触試験器22aとの間の接触状態の良否を判定し、接触状態の良否を示す接触良否報告信号を出力する試験信号処理部26a、接触試験器22bから試験信号を受信し、かつ接触検知信号処理部24bから接触良否検出信号を受信して試験対象物と接触試験器22bとの間の接触状態の良否を判定し、接触状態の良否を示す接触良否報告信号を出力する試験信号処理部26b、試験信号処理部26aに試験信号を出力するように指示し、試験信号処理部26bに対して、試験信号処理部26aから出力された試験信号を接触試験器22bから受信するように指示し、かつ試験信号処理部26aから接触良否報告信号を受信し、試験信号処理部26bから接触良否報告信号を受信して導通試験の合否を判定する接触試験器制御部28、試験データを入力する試験データ入力装置31、試験結果を出力するディスプレイ29、試験結果を出力するプリンタ30から構成されている。

0023

図5において、まず、試験データが導通試験装置32の試験データ入力装置31に入力される。入力された試験データは接触試験器制御部28に送られ、接触試験器制御部28で試験信号に変換される。また、接触試験器制御部28は、試験データを送出する接触試験器として接触試験器22a,22bのうちのあらかじめ定められた接触試験器を選択する。ここでは接触試験器22aが選択されるものとする。さらに、接触試験器22a,22bは、ともに接触部を試験対象物7に押し付けられているものとする。

0024

接触試験器22aが選択されているので、接触試験器制御部28は、試験信号処理部26aへ試験信号55aを送出する。また、試験信号55aが接触試験器22aから試験対象物7に出力される信号であることを、試験信号処理部26aに伝えるために方向制御信号56aが、試験信号処理部26aへ送出される。試験信号処理部26aは、方向制御信号56aに従い、受信した試験信号55aを試験信号54aとして接触試験器22aの試験信号入出力端子42a(図3及び図4の端子2)へ出力する。試験信号54aは、さらに接触試験器22aを介して試験対象物7へ伝えられる。

0025

図6は、図5に示す導通試験装置の接触検知信号処理部と接触試験器との回路の接続状態を示す図である。る。

0026

図6(a)に示すように、接触検知信号処理部24aの電源Vccより供給される電流は、抵抗Rを通って流れるが、接触試験器22aの内部の筺体電極10aとピン電極11aとの間及び筺体電極10bとピン電極11bとの間がそれぞれ離れているため、電流は流れず、論理回路ANDゲートへのみ流れ込む。ANDゲートの入力レベルは、前記の電流の流れがあるため、「H」レベルが入力され、ANDゲートの出力も「H」レベルとなり、接触検知信号処理部24aの出力も「H」レベルが接触良否検出信号として出力される。すなわち、この場合は接触していないことを示す「H」レベルの信号が出力される。

0027

次に、図6(b)に示すように、接触試験器22aが、接触部を試験対象物7に押し付けられた状態になると、接触試験器22aの内部の筺体電極10aとピン電極11aとの間及び筺体電極10bとピン電極11bとの間がそれぞれ接触して短絡する。すなわち、接触試験器22aはオン信号を接触検知信号処理部24aに出力することになる。筺体電極10aとピン電極11aとの間及び筺体電極10bとピン電極11bとの間のそれぞれの短絡により、電源Vccから接地までの回路が構成され、電源Vccより供給される電流は、抵抗Rを通って電流51aとして接触試験器22aの端子41a(図3及び図4の端子1)に流れ込み、さらに上記接触試験器22aの内部の筺体電極10a,ピン電極11a,ピン電極11b,及び筺体電極10bを介して接触試験器22aの端子43a(図3及び図4の端子3b)から再び流れ出して接地方向に電流52aとして流れるため、ANDゲートの入力は、「L」レベルになり、ANDゲートの出力も「L」レベルに変わり、接触検知信号処理部24aの試験信号処理部26aへの出力信号53aも「H」レベルから「L」レベルに変わる。この場合は接触良否検出信号として「L」レベル出力され、接触状態が良好であることを示す。

0028

図7は、図5に示す導通試験装置の試験信号処理部の回路の一実施例を示す回路図である。

0029

試験信号処理部26aに伝えられた、接触検知信号処理部24aから接触良否検出信号として出力された信号53aは、図7に示すように、試験信号処理部26aのデコーダ68に入力される。また、前述した試験信号55aと方向制御信号56aとが入力された試験信号処理回路67から、試験信号54aを接触試験器22aへ送出したことを伝える信号58がデコーダ68へ伝えられる。

0030

デコーダ68では、伝えられた信号53a及び信号58の二つの信号を基に、試験信号が接触試験器22aに送られたか否か、また接触試験器22aと試験対象物7との接触が行われているか否かの二つの事象を合わせて4通りの結果のいずれであるかを判定し、接触試験器制御部28へ判定結果を示す信号57aを接触良否報告信号として伝える。

0031

一方、接触試験器22bも試験対象物7に押し付けられて接触しているので、試験対象物7に伝えられた試験信号54bは、接触試験器22bの接触部を介して接触試験器22bに入力される。接触試験器22bに入力され試験信号は試験信号信号54bとして試験信号処理部26bに送出される。

0032

接触試験器22bの接触検知信号処理部24bの場合も、接触検知信号処理部24b内部の電源Vccより供給される電流が電流51bとして接触試験器22bの端子41bから流れ込み、端子43bから電流52bとして流れ出したとき、接触が良好であることを検出する。接触検知信号処理部24bから試験信号処理部26bに出力される接触良否検出信号である信号53bも、「H」レベルから「L」レベルに変化する。試験信号処理部26bに伝えられた信号53bは、試験信号処理部26bのデコーダ68に入力される。また、試験信号54bは接触試験器22bに試験対象物7から出力された試験信号であることを伝える方向制御信号56bが、試験信号処理部26bへ接触試験器制御部28から送出されるので、試験信号54bと方向制御信号56bとが入力された試験信号処理部26bの試験信号処理回路67から、試験信号54bを接触試験器22bから受信した出したことを伝える信号59が試験信号処理部26bのデコーダ68へ伝えられる。

0033

試験信号処理部26bのデコーダ68では、伝えられた信号53b及び信号59の二つの信号を基に、試験信号が接触試験器22bから受信されたか否か、また接触試験器22bと試験対象物7との接触が行われているか否かの二つの事象を合わせて4通りの結果のいずれであるかを判定し、接触試験器制御部28へ判定結果を示す信号57bを接触良否報告信号として伝える。

0034

次に、接触試験器制御部28では、試験信号処理部26a,26bから伝えられた信号57a,57bと試験データ入力装置31から伝えられた試験データとを基に、導通試験の合否を判定し、合否の内容と接触試験器22a,22bと試験対象物7との接触状態とを合わせてディスプレイ29に表示させ、プリンタ30に出力させる。

0035

なお、図6(a)及び図6(b)に示す接触試験器22a,22bと接触検知信号処理部24a,24bとの間の接続では、接触検知信号処理部24a,24bの電源の接地側が、接触試験器22a,22bの端子3b側に接続されており、接触検知信号処理部24a,24bのANDの入力側が、接触試験器22a,22bの端子3b側に接続されているが、当然この接続の極性が逆であってもよい。

0036

図8は、図5に示す導通試験装置の接触検知信号処理部に用いられる接触検出のための論理ゲートの種類を示す図である。

0037

図6(a)及び図6(b)には、接触検知信号処理部の電気回路の一実施例として図8(a)に示すANDゲート33を用いたが、ANDゲート33の代り図8(b)のNANDゲート34,図8(c)のORゲート35,図8(d)のNORゲート36を用いてもよい。

0038

このように、接触試験器の内部に、接触部と試験対象物との間の接触圧力によって動作し良好な接触状態にあることを示す接点出力を出すことができるスイッチを構成することにより、試験対象物の内部回路の導通試験の際に、接触部と試験対象物との間の接触状態の良否を判定してその情報を出力することができ、導通試験のときに、試験対象物の試験箇所に供給した試験信号をその試験対象物の他の試験箇所から取り出すことができなかったときでも、それが試験対象物の内部回路の不具合によるものか、接触部と試験対象物との間の接触状態の不良によるものかを判定することができる。

発明の効果

0039

以上説明したように本発明は、接触試験器の内部に、接触部と試験対象物との間の接触圧力によって動作し良好な接触状態にあることを示す接点出力を出すことができるスイッチを構成することにより、試験対象物の内部回路の導通試験の際に、接触部と試験対象物との間の接触状態の良否を判定してその情報を出力することができ、導通試験のときに、試験対象物の試験箇所に加えた試験信号を他の試験箇所から取り出すことができなかったとき、それが試験対象物の内部回路の不具合によるものか、接触部と試験対象物との間の接触状態の不良によるものかを判定することができるという効果を有する。

図面の簡単な説明

0040

図1第1の発明の第1の実施例を示す接続試験器の断面図である。
図2図1に示す接続試験器の動作状態を示す断面図である。
図3第1の発明の第2の実施例を示す接続試験器の断面図である。
図4図3に示す接続試験器の動作状態を示す断面図である。
図5図2に示す接続試験器を用いて構成した導通試験装置の一実施例を示すブロック図である。
図6図5に示す導通試験装置の接触検知信号処理部と接触試験器との回路の接続状態を示す図である。
図7図5に示す導通試験装置の試験信号処理部の回路の一実施例を示す回路図である。
図8図5に示す導通試験装置の接触検知信号処理部に用いられる接触検出のための論理ゲートの種類を示す図である。

--

0041

1端子
2 端子
3a,3b 端子
4 接触部保持筺体
5 接触部支持構造
6ピンヘッド
7試験対象物
9信号ケーブル
10a,10b筺体電極
11a,11bピン電極
12スプリング
13 接触面
14絶縁天板部
15 ピン電極
16LED電極
17LEDランプ
18ホルダーLED電極
22a,22b接触試験器
24a,24b接触検知信号処理部
26a,26b試験信号処理部
28 接触試験器制御部
29ディスプレイ
30プリンタ
31試験データ入力装置
32 導通試験装置

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