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技術 試験片における変形および亀裂長さを測定する方法とその装置

出願人 カール、シェンク、アクチエンゲゼルシャフト
発明者 アンドレアス、ポール
出願日 1991年11月28日 (27年0ヶ月経過) 出願番号 1991-314451
公開日 1994年2月4日 (24年10ヶ月経過) 公開番号 1994-027005
状態 未査定
技術分野 光学的手段による測長装置 機械的応力負荷による材料の強さの調査
主要キーワード 軸受ボルト 接触設置 横断面長方形 荷重ローラ 両支持ローラ 滑り要素 ばねクランプ 横断面形
関連する未来課題
重要な関連分野

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図面 (10)

目的

汎用的に採用できコスト的に有利であり正確な測定結果が得られるような試験片又は試験体における変形および又は亀裂長さを測定する方法およびその装置を提供する。

構成

試験片80又はこの試験片に結合された要素81に相対間隔を隔てて配置された少なくとも2つの透光個所89に少なくとも1つの光帯93が当たり、試験片80又は試験体を荷重した際に透光個所89を通過する光線相対運動が評価される。少なくとも1つの光源、試験片80に又はこの試験片に結合された要素81に相対間隔を隔てて配置された少なくとも2つの透光個所89、および透光個所89に付属された少なくとも1つの感光要素95を有している。

概要

背景

引張り試験において光拡散性不透明性あるいは透明性の材料表面ないし対象物表面における位置変化に伴うひずみの経過を光電式で非接触測定する方法は、ヨーロッパ特許第B1−0023643号公報で公知である。この場合照明装置によって光線例えば高い光線密度レーザ光線が発生され、投影光学機器によって対象物表面に走査点が発生される。複雑な走査方法および評価方法によってひずみの経過が再現される。

レーザ光源および信号処理装置により構造部品における長さ変化を非接触式に測定する方法およびその装置の場合、その断面積あるいは測定隙間が測定すべき長さ変化によって制御できる絞りが利用されている。絞りの断面積によって制御される光の強さが検出され、電気信号に変換され、長さ変化として評価される(ヨーロッパ特許第A1−0255552号公報参照)。この方法の場合に正確な測定結果を得るために、光源の光の強さは常に一定でなければならない。

試験機において試験片又は試験体における変形を測定する別の方法(ドイツ連邦共和国特許第3720248号公報参照)の場合、光源の光線を評価電子回路に接続されている位置検出器に導く試験片に配置された反射鏡が利用されている。これによって試験片のひずみあるいは試験片における変形が検出できる。試験片又は試験体における変形を非接触式に測定する別の方法(まだ未公開のドイツ連邦共和国特許出願第4002293.5号参照)の場合、試験片に光線を発する要素が配置されている。この光線は位置検出器に導かれ、試験片に取り付けられた要素の位置変化が位置検出器における光点変位を生じさせ、この光点の変位は評価電子回路において評価される。

文献「実験応力解析ハンドブック(Handbuch fur experiementelle Spannungsanalyse」、Christof Rohrbach博士著、VDI−Verlag社(Dusseldorf) 1989年出版の第433〜434頁において、高速で連続して発光する複数の発光ダイオードLED)が測定目標物に取り付けられている測定装置が知られている。そのLEDから発せられる光線は、評価回路に接続されている位置検出器に当てられる。しかしこの測定装置は速い運動経過に対しては不適当であり、線形性の大きな狂いのために大きなひずみに対してしか利用できない。

概要

汎用的に採用できコスト的に有利であり正確な測定結果が得られるような試験片又は試験体における変形および又は亀裂長さを測定する方法およびその装置を提供する。

試験片80又はこの試験片に結合された要素81に相対間隔を隔てて配置された少なくとも2つの透光個所89に少なくとも1つの光帯93が当たり、試験片80又は試験体を荷重した際に透光個所89を通過する光線の相対運動が評価される。少なくとも1つの光源、試験片80に又はこの試験片に結合された要素81に相対間隔を隔てて配置された少なくとも2つの透光個所89、および透光個所89に付属された少なくとも1つの感光要素95を有している。

目的

本発明の目的は、汎用的に採用できコスト的に有利であり正確な測定結果が得られるような試験片又は試験体における変形および又は亀裂長さを測定する方法およびその装置を提供することにある。

効果

実績

技術文献被引用数
1件
牽制数
3件

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請求項1

試験片(1,20,40,60,80)に又はこの試験片に結合された要素(3,4,21,23,43,44,64,65,81)に相対間隔を隔てて配置された少なくとも2つの透光個所(5,6,24,46,47,69,89)に少なくとも1つの光帯(10,28,74,93)が当たり、試験片(1,20,40,60,80)又は試験体荷重した際に透光個所(5,6,24,46,47,69,89)を通過する光線相対運動が評価されることを特徴とする試験機において試験片又は試験体における変形および又は亀裂長さを測定する方法。

請求項2

少なくとも1つの光源(8,25,48,71,91)、試験片(1,20,40,60,80)に又はこの試験片に結合された要素(3,4,21,23,43,44,64,65,81)に相対間隔を隔てて配置された少なくとも2つの透光個所(5,6,24,46,47,69,89)、および透光個所(5,6,24,46,47,69,89)に付属された少なくとも1つの感光要素(11,12,30,50,95)を有していることを特徴とする試験機において試験片又は試験体における変形および又は亀裂長さを測定する装置。

請求項3

光源(8,25,48,71,91)がレーザ光源として形成され、このレーザ光源に、その光線を光帯(10,28,74,93)の形に拡大する拡大レンズ(9,27,49,73,92)が付属されていることを特徴とする請求項2記載の装置。

請求項4

拡大レンズ(9,27,49,73,92)が円筒レンズとして形成されていることを特徴とする請求項3記載の装置。

請求項5

光源(8,25,48,71,91)としてレーザダイオードあるいはレーザダイオードアレイが採用されていることを特徴とする請求項2記載の装置。

請求項6

試験片に結合された要素(3,4,43,44)が板金として形成されていることを特徴とする請求項2記載の装置。

請求項7

2つの板金(3,4,43,44)が試験片(1,40)に配置されていることを特徴とする請求項6記載の装置。

請求項8

各板金(3,4,43,44)に配置された透光個所(5,6,46,47)が貫通孔として形成されていることを特徴とする請求項6又は7記載の装置。

請求項9

板金(3,4,43,44)が締付けUリンク(45)によって試験片(1,40)に取り付けられていることを特徴とする請求項2ないし8のいずれか1つに記載の装置。

請求項10

板金(3,4,43,44)が試験片(1,40)に貼着されていることを特徴とする請求項2ないし8のいずれか1つに記載の装置。

請求項11

各透光個所(5,6,24,46,47,69,89)にそれぞれ1つの光源(8,25,48,71,91)および感光要素(11,12,30,50,76,95)が付属されていることを特徴とする請求項2ないし10のいずれか1つに記載の装置。

請求項12

感光要素(11,12,30,50,76,95)が位置検出器として形成されていることを特徴とする請求項2ないし11のいずれか1つに記載の装置。

請求項13

試験片に結合された要素が、それぞれ2つの接触刃(67,68)を有するUリンク(64,65)として形成されていることを特徴とする請求項2記載の装置。

請求項14

試験片に結合された要素(21,23,81)が、力伝達要素および又は接触設置要素として形成されていることを特徴とする請求項2記載の装置。

請求項15

力伝達要素および又は接触設置要素(21,23,81)がローラとして形成されていることを特徴とする請求項14記載の装置。

請求項16

ローラ(21,23,81)が貫通孔(24,89)を有していることを特徴とする請求項15記載の装置。

請求項17

ローラ(81)が試験片(80)の対応した孔(87)の中に支持されていることを特徴とする請求項16記載の装置。

請求項18

試験片(1,20,40,60,80)の周りハウジングが配置され、このハウジングが同様に透光個所を有していることを特徴とする請求項2ないし17のいずれか1つに記載の装置。

請求項19

ハウジングが加熱室として形成されていることを特徴とする請求項18記載の装置。

技術分野

0001

本発明は、試験機において試験片又は試験体における変形および又は亀裂長さを測定する方法とその装置に関する。

背景技術

0002

引張り試験において光拡散性不透明性あるいは透明性の材料表面ないし対象物表面における位置変化に伴うひずみの経過を光電式で非接触測定する方法は、ヨーロッパ特許第B1−0023643号公報で公知である。この場合照明装置によって光線例えば高い光線密度レーザ光線が発生され、投影光学機器によって対象物表面に走査点が発生される。複雑な走査方法および評価方法によってひずみの経過が再現される。

0003

レーザ光源および信号処理装置により構造部品における長さ変化を非接触式に測定する方法およびその装置の場合、その断面積あるいは測定隙間が測定すべき長さ変化によって制御できる絞りが利用されている。絞りの断面積によって制御される光の強さが検出され、電気信号に変換され、長さ変化として評価される(ヨーロッパ特許第A1−0255552号公報参照)。この方法の場合に正確な測定結果を得るために、光源の光の強さは常に一定でなければならない。

0004

試験機において試験片又は試験体における変形を測定する別の方法(ドイツ連邦共和国特許第3720248号公報参照)の場合、光源の光線を評価電子回路に接続されている位置検出器に導く試験片に配置された反射鏡が利用されている。これによって試験片のひずみあるいは試験片における変形が検出できる。試験片又は試験体における変形を非接触式に測定する別の方法(まだ未公開のドイツ連邦共和国特許出願第4002293.5号参照)の場合、試験片に光線を発する要素が配置されている。この光線は位置検出器に導かれ、試験片に取り付けられた要素の位置変化が位置検出器における光点変位を生じさせ、この光点の変位は評価電子回路において評価される。

0005

文献「実験応力解析ハンドブック(Handbuch fur experiementelle Spannungsanalyse」、Christof Rohrbach博士著、VDI−Verlag社(Dusseldorf) 1989年出版の第433〜434頁において、高速で連続して発光する複数の発光ダイオードLED)が測定目標物に取り付けられている測定装置が知られている。そのLEDから発せられる光線は、評価回路に接続されている位置検出器に当てられる。しかしこの測定装置は速い運動経過に対しては不適当であり、線形性の大きな狂いのために大きなひずみに対してしか利用できない。

発明が解決しようとする課題

0006

本発明の目的は、汎用的に採用できコスト的に有利であり正確な測定結果が得られるような試験片又は試験体における変形および又は亀裂長さを測定する方法およびその装置を提供することにある。

課題を解決するための手段

0007

本発明によればこの目的は、試験片に又はこの試験片に結合された要素に相対間隔を隔てて配置された少なくとも2つの透光個所に少なくとも1つの光帯が当たり、試験片又は試験体を荷重した際に透光個所を通過する光線の相対運動が評価されることを特徴とする測定方法、および少なくとも1つの光源、試験片に又はこの試験片に結合された要素に相対間隔を隔てて配置された少なくとも2つの透光個所、および透光個所に付属された少なくとも1つの感光要素を有していることを特徴とする測定装置によって達成される。

0008

本発明に基づく試験機における試験片又は試験体における変形および又は亀裂長さを測定する方法およびその装置によれば、軸方向力ねじり荷重曲げ荷重およびそれらの複合荷重により引き起こされる静的および又は動的な変形を測定することができる。更に亀裂の広がりも測定できる。本発明に基づく方法およびその装置は従って汎用的に利用できる。更に本発明に基づく試験体の変形を測定するための装置は高動的試験に対して適用される。

0009

試験片に又はこれに結合された要素に透光個所が配置されていることによって別の利点が得られる。これにより試験片に電子部品を配置する必要がなくなり、従って非常に頑になる。

0010

本発明の有利な実施態様において、試験片に結合された要素は板金として形成されている。この板金は小さな質量を有しているので、高周波試験もできる。更に板金はコスト的に有利であり簡単に製造できる。

0011

本発明の別の実施態様において、板金は締付けUリンクによって試験片に取り付けられ、従って測定基礎間隔はいつでも簡単に任意に調整できる。

0012

測定基礎間隔が大きい場合、各透光個所に光源および感光要素が付属できる。

0013

特に有利な実施態様において、感光要素は位置検出器として形成される。この位置検出器は公知のように光電式位置検出器として形成される。これによって、位置検出器に当てられる光点の位置を後置接続された評価電子回路で高い精度で検出することができる。

0014

本発明の別の実施態様において、試験片に結合された要素はそれぞれ貫通孔が設けられている力伝達要素および又は接触設置要素として形成される。三点曲げ試験の場合、試験片は2個のローラ上に支持され、もう1個のローラを介して荷重される。この試験の際にもともと配置されている接触設置兼力伝達要素に貫通孔が設けられているので、試験片を荷重した際に生ずる変形は補助部品を必要とせずに簡単に測定できる。

0015

空調状態のもとで試験を行うために、試験片の周りハウジング例えば加熱室が配置され、その場合、光源、位置検出器および評価電子回路はハウジングの外側に配置される。

0016

下図に示した実施例を参照して本発明を詳細に説明する。

0017

図には平形試験片として形成されている試験片1が示されている。この試験片1は中央範囲横断面長方形をしており、両端範囲が幅広横断面形状をしている。試験片1は両端範囲が適当な締付け装置によって公知の試験機に、試験片1の長手軸線2が試験機の荷重軸線と一致するように締付け固定されている。試験片1の中央範囲には両幅広面の片側に試験片1の長手方向に間隔を隔てて2個の板金テープ3,4が設けられている。これらの板金テープ3,4はそれぞれ試験片1の側の側面に接触刃16を有している。板金テープ3,4の試験片1の側の側面にはこの接触刃16から間隔を隔てて半球状の滑り要素17が配置されている。両板金テープ3,4は例えば試験片1に締付け固定されているか貼着されているか、あるいは別の方式で取り付けられており、その場合板金テープ3,4は接触刃16を介して試験片1に固く結合され、滑り要素17を介して試験片1にゆるく接触している。接触刃16の両接触個所の間隔によって規定される距離Aは一般的なひずみ検出器測定原理相応している。

0018

両板金テープ3,4は試験片1に、これらが試験片1の一方の縁にぴったり接触し他方の縁より突出しているように配置されている。板金テープ3,4の試験片1の縁より突出している範囲にはそれぞれ1つの貫通孔5,6が設けられている。貫通孔5,6の代わりに別の貫通開口例えばスリットを板金テープ3,4に設けることもできる。

0019

図2には試験片1における縦のひずみを測定するための本発明に基づく装置が側面図で示され、この場合、試験片1は断面図で示されている。点状の光源8好適にはレーザ光源の光線7は、この光線7を光帯10の形に拡大する拡大レンズ9例えば円筒レンズに導く。光帯10は光線経路において試験片1およびそれに固定された板金テープ3,4に投光する。板金テープ3,4はそれぞれ貫通孔5,6を有しているので、これらの貫通孔5,6の直径に相応した光束13,14だけが板金テープ3,4の光帯10と反対側の面から出て、位置検出器11,12に当たる。板金テープ3,4の貫通孔5,6は干渉が生じないような大きさに決められている。

0020

試験片1を力伝達ユニット(図示せず)を介して矢印15の方向に荷重した場合、試験片1の長さ変化が生ずる。試験片1に固定された板金テープ3,4が相応して長さ変化を生じ、その相対間隔が変化し、従って貫通孔5,6の相対間隔も同様に変化するので、この長さ変化は位置検出器11,12における光点の変位として正確に表示される。位置検出器11,12は公知のように光電式位置検出器として形成されており、位置検出器に当てられる光点の位置を後置接続された評価電子回路(図示せず)で高い精度で検出することができる。測定基礎間隔Aおよび試験片1への力の導入が予め分かっているので、光点の変位に基づいて簡単に試験片1のひずみが求められる。正確で再生可能な測定結果を得るために、板金テープ3,4はできるだけ小さな自重でなければならず、試験中においてその試験片1における位置が変化してはならない。

0021

測定基礎間隔Aが大きい場合、各板金テープ3,4に対してレーザおよび光線経路に後置接続された拡大レンズを設けることもできる。拡大レンズで発生される光帯10は、試験片1の無負荷状態並びに力が荷重された状態即ち試験片1が縦に伸びた状態においても光線13,14が板金テープ3,4の貫通孔5,6を通り、従っていつでも光点の変位が位置検出器11,12に表示され、評価されるように寸法づけられている。

0022

試験片1は例えば丸棒試験片としても形成できる。また別の標準化されていない任意の形状の試験片も採用できる。

0023

板金テープ3,4は任意の別の形状にすることもでき、他の材料で作ることもできる。板金テープは薄膜として形成できる。

0024

図3および図4には、セラミックス出力材料から成る試験片20の曲げ強度を測定する装置が示されている。このいわゆる四点曲げ試験の場合、断面長方形の試験片20はその両端範囲がそれぞれ支持ローラ21の上に置かれている。支持ローラ21は固定基板22上に自由に移動可能に置かれている。試験片20は別の2個のローラいわゆる荷重ローラ23を介して荷重される。荷重ローラ23は試験片20の支持ローラ21と反対側の面に接触している。支持ローラおよび荷重ローラの配置はDIN規格51110、パート1、第2頁、第1図に示されている。

0025

支持ローラ21および荷重ローラ23はそれぞれこれらのローラ21,23の長手方向に延びる中央貫通孔24を有している。点状光源25好適にはレーザ光源から出る光線26は、この光線26を光帯28の形に拡大する拡大レンズ27に導かれる。光帯28は一方の荷重ローラ23の端面に投光し、このローラに設けられた貫通孔24だけを通過するので、荷重ローラ23の反対側端面から光線29が出て、この光線29は位置検出器30に当たる。他方の荷重ローラ23および両支持ローラ21にもそれぞれ同様に、レーザ光源25、拡大レンズ27および位置検出器30が上述したように付属されている。

0026

試験片20が(矢印31の方向に力が加えられて)荷重された際、支持ローラ21および荷重ローラ23は試験片20のたわみに相応して変位する。この変位は光点の変位として支持ローラ21および荷重ローラ23に付属された位置検出器30に表示され、位置検出器30に後置接続された評価電子回路で評価される。力の導入が予め分かり支持ローラと荷重ローラとの相対位置が予め規定されていることにより光点の変位に基づいて、試験片のたわみは計算でき表示できる。図3および図4に示した本発明に基づく四点曲げ試験における配置構造は、三点曲げ試験にも採用できる。三点曲げ試験の四点曲げ試験との相違点は、唯一の荷重ローラが設けられ、この荷重ローラが試験片の支持ローラと反対側の面に両支持ローラの中央で接触している点だけである。

0027

ねじり変形を測定するために図5における装置が利用される。このために丸棒試験片として形成されたそれ自体公知の試験片40が両端を試験機の適当な締付け装置(図示せず)に締付け固定される。試験片40は矢印41によって示されているねじり荷重においてその長手軸線42を中心にねじられる。その場合に生ずるねじりひずみを求めるために、試験片40に2個の板金43,44が締付け固定されている。両板金43,44はそれぞれ試験片40に接触し、このために片側が試験片の直径に相応した半円形あるいは角柱形に切り欠かれている。両板金43,44は締付けUリンク45によって試験片40に締付け固定されている。板金43,44の試験片40への固定方式図6に示されている。

0028

板金43,44はその長さが異なって形成され、これらはそれぞれ1つの貫通孔46,47を有している。両板金43,44は試験片40の長手方向において間隔を隔てて試験片40に、板金43,44の長手軸線がそれぞれ試験片40の長手軸線42に対して直角に向けられ、両板金43,44の貫通孔46,47の中心軸線がそれぞれ試験片40の長手軸線42に対して平行に延びるように取り付けられている。更に両板金43,44はほぼ互いに同列に配置され、その場合板金43は試験片40の半径方向に試験片40から他の板金44よりも大きく突出し、板金43,44の貫通孔46,47の中心軸線は試験片40からその半径方向において異なった距離を有している。他の実施例において既に述べたように、各板金43,44には光源48、拡大レンズ49および位置検出器50が付属されている。

0029

試験片40にねじり荷重が加えられた場合、試験片40に固定された板金43,44は相対位置を変化し、これは位置検出器50における光点の変位を生ずる。この光点の変位は上述したように評価される。

0030

図6には板金43,44を締付けUリンク45によって弾力的に固定する方式が示されている。締付けUリンク45は板金43,44の対応した孔51に固定され、試験片40の板金43,44と反対側の面を固く抱き込んでいる。

0031

横のひずみを測定するために図7における装置が利用される。平形試験片として形成され長手軸線61を有する試験片60にはその両側面62,63に、ばねクランプ66によって2個のUリンク64,65が設けられている。両Uリンク64,65は試験片60の長手軸線61に対して対称に配置され、2個の接触刃67,68を介して試験片60に接触している。接触刃67,68はそれぞれ各Uリンク64,65の両端範囲に形成されている。両Uリンク64,65の上端範囲直方体に形成され、2つの貫通孔69,70を有し、その一方の貫通孔70はばねクランプ66を固定するために使用され、他方の貫通孔69は光線の通過開口として使用される。

0032

この実施例の場合、両Uリンク64,65の貫通孔69,70の中心軸線は、試験片60の長手軸線61に対して直角に延びる共通の平面内に位置している。更にUリンク64,65は試験片60に、貫通孔69,70の中心軸線がUリンク64,65が接続刃67,68によって接触する試験片60の側面62,63に対して平行に延びるように取り付けられている。

0033

他の図において既に詳述したように、この実施例の場合も点状光源71が配置されている。点状光源71の光線72は、この光線72を光帯74の形に拡大する拡大レンズ73に投光する。光帯74は両Uリンク64,65の上端範囲に当たり、そこに設けられた孔69に当たる。孔69から出る光線75は光線経路内に後置接続された位置検出器76に当たる。

0034

引張り圧縮荷重の際に試験片60の長手方向に生ずる試験片60の変形は、位置検出器76に表示され矢印77で示されている光点の移動を生ずる。

0035

図9には破断機械試験片(Bruchmechanikprobe)における亀裂の広がりの測定装置が示されている。破断機械試験片は亀裂尖端で終えている亀裂を有している。破断機械試験片に引張り荷重を与えた場合、亀裂は試験片の中心に向かって進行する。図9には破断機械試験片としてコンパクトテンション(CT)試験片80が2本の支持ボルト81を介して支持されそれぞれ締付けロッド82,83に結合されている。上側締付けロッド82はこの場合試験機の不動フレーム84に結合され、下側締付けロッド83は試験機の荷重装置85に結合されている。CT試験片80は直方体に形成され、試験片80の側面の中央で始まりスリット86として形成された亀裂を有している。

0036

支持ボルト81はCT試験片80の例えばスリット86の両側に設けられている貫通孔87に支持されている。この貫通孔87の中心軸線はそれぞれ試験機の荷重軸線88に対して直角に延びている。CT試験片80の代わりに例えばアークシェイプ(AT)試験片あるいはディスク・シェイプ(DCT)試験片も採用できる。上述した試験片の形状および対応した締付け工具軸受ボルト、締付けロッド)の形状はASTME399の条件に相応している。

0037

両支持ボルト81にはそれぞれその長手方向に延びる中央貫通孔89が設けられている。点状光源91の光線90は拡大レンズ92を介して光帯93の形に拡大され、この光帯93は両支持ボルト81の端面およびそこに設けられた貫通孔89に当たる。光帯93は貫通孔89しか通らないので、支持ボルト81の光帯93と反対側の面だけから貫通孔89の直径に相応した光線93が出る。これら両光線94は続いて光線経路内に後置接続された位置検出器95に当たる。

0038

高温状態材料試験を行うために、試験片は加熱室に入れられる。光源、拡大レンズおよび位置検出器はこの高温試験の場合には加熱室の外側に配置される。このために加熱室は光線経路だけしか光が通れないようにしなければならない。このために加熱室の対応した個所に、石英ガラスあるいはサファイアで閉じられたスリットが設けられている。例えば板金、保持ロッドおよび力導入要素のような試験片に結合される構造部品は、高温試験の場合には例えばセラミックスや黒鉛などのような耐熱性材料で作らねばならない。

0039

上述したすべての実施例の場合、干渉現象が避けられることを保証しなければならない。これは一方では、干渉をろ過する光学絞り装置を配置すること、および他方では、試験片あるいはこれに結合された構造部品における透光個所が干渉を生じない大きさに決められることによって行われる。

0040

試験片における変形を測定するための既に述べて装置を組み合わせること、即ち上述した複数の装置を試験片に配置することもできる。例えばねじり変形および軸方向変形を組み合わせて測定することができる。

0041

拡大レンズが後置接続されたレーザ光源の代わりに、光帯を発生するレーザダイオードを配置することもできる。更にレーザダイオードアレイを利用することもできる。

発明の効果

0042

本発明によれば、軸方向力、ねじり荷重、曲げ荷重およびそれらの複合荷重により引き起こされる静的および又は動的な変形を測定することができ、更に亀裂の広がりも測定でき、従って汎用的に利用できる。

図面の簡単な説明

0043

図1軸方向の変形を測定する装置の側面図。
図2図1におけるII−II線に沿った断面図。
図3四点曲げ試験を実施するための装置の側面図。
図4図3におけるIV−IV線に沿った断面図。
図5丸棒試験片におけるねじり変形を測定する装置の側面図。
図6図5におけるVI−VI線に沿った断面図。
図7横のひずみを測定するための装置の側面図。
図8図7におけるVIII−VIII線に沿った断面図。
図9コンパクト・テンション(CT)試験片における亀裂の広がりを測定するための装置の断面図。

--

0044

1試験片
3,4板金テープ
5,6貫通孔
8光源
9拡大レンズ
10光帯
11,12位置検出器
13,14光線
20 試験片
21支持ローラ
23荷重ローラ
24 貫通孔
27 拡大レンズ
28 光帯
40 試験片
43,44 板金
46,47 貫通孔
48 光源
49 拡大レンズ
50 位置検出器
60 試験片
73 拡大レンズ
74 光帯

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