デイヴィッド・ジェイ・クラーク さんに関する公開一覧

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  1. 【課題】開示された技術は、概して、電気的過剰ストレス保護デバイスに関し、より具体的には、半導体デバイスにおける電気的過剰ストレス事象を検出するための電気的過剰ストレスモニタリングデバイスに関する。【解決手段】一態様において、電気的過剰ストレス(EOS)事象をモニタリングするように構成されたデバイスは、EOS事象に応答して電気的にアークするように構成された離間した導電性...

    電気的過剰ストレス検出デバイス