籾井真介 さんに関する公開一覧

一部、同姓同名の別人の方の出願情報が表示される場合がございます。ご了承くださいませ。

検索結果:1~1件を表示(1件中) 1/1ページ目

  1. 【課題】本発明は、半導体装置の試験方法に関し、精度を向上できる半導体装置の試験方法を得ることを目的とする。【解決手段】 本発明に係る半導体装置の試験方法は、第1抵抗と半導体装置とを直列に接続する工程と、該第1抵抗と該半導体装置が形成する直列回路の両端に電圧を印加した状態で、該半導体装置のリーク電流が該第1抵抗を流れることで該第1抵抗の両端に発生する電圧をモニタする工...

    半導体装置の試験方法