水上俊彦 さんに関する公開一覧

一部、同姓同名の別人の方の出願情報が表示される場合がございます。ご了承くださいませ。

検索結果:1~2件を表示(2件中) 1/1ページ目

  1. 【課題】従来の半導体試験装置では、実使用状態でのトランジスタ寿命の予測、トランジスタ破壊までの時間を測定できない。【解決手段】 電流電源装置121aは電流Idを出力する。トランジスタ117のゲート端子にはゲートドライバ回路113から周期的なオンオフ信号が印加される。トランジスタ117に電流Idはスイッチ124aがクローズすることにより行う。スイッチ124aのクローズ...

    半導体試験装置および半導体素子の試験方法。

  2. 【課題】従来の半導体試験装置では、実使用状態でのトランジスタ寿命の予測、トランジスタ破壊までの時間を測定できない。【解決手段】本発明の半導体試験装置は、トランジスタのチャンネルに流す第1の定電流に、突入電流に対応する第2の定電流を重畳できる電流制御回路を具備する。トランジスタに第1の定電流を印加する時間、印加周期、また、トランジスタ117に流す電流Idの遮断速度を設定...

    半導体試験装置および半導体素子の試験方法。