安武正敏 さんに関する公開一覧

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  1. 【課題・解決手段】微粒子の三次元形状や微粒子種の評価が可能な粒子計測用試料を提供するために、基板と、基板の上に配置された孤立被測定微粒子(144−1)と、基板の上であって、孤立被測定微粒子の近傍に配置された孤立標準微粒子(143−1)と、を有する粒子計測用試料とする。

    粒子計測用試料、粒子計測方法および粒子計測装置