故障検出率 に関する公開一覧

故障検出率」に該当した技術の詳細情報一覧です。あらゆる文献や技術を元に、価値のある「故障検出率」の詳細情報や、「故障検出率」を活用可能な分野・領域の探索など、目的にあった情報を見つける事ができます。 「故障検出率」の意味・用法はこちら

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  1. 【課題】故障検出率の向上を図ることが可能な半導体装置を提供する。【解決手段】半導体装置100は、回路ブロックLGC1と、信号線CLを介して回路ブロックLGC1から信号が供給される回路ブロックLGC2と、マルチサイクルテストのキャプチャ動作において、信号線CL2における信号の論理値を遷移させる遷移期間を特定する遷移制御部200とを備える。

    半導体装置および半導体装置の設計方法

  2. 【課題】自動運転制御における冗長系の設計負荷を軽減しつつ、制御の信頼性を向上させる技術を提供する。【解決手段】ACT系ECU50は、メイン操作量を生成するメインECU30が接続されたメインバス8、およびサブ操作量を生成するサブECU40が接続されたサブバス9のいずれにも接続される。ACT系ECU50は、実行部534と選択部533を備える。実行部534は、メイン操作量及...

    車両制御装置

  3. 【課題】システムの稼働中に実施する自己診断にかかるオーバヘッド時間を低減できる半導体装置を提供することにある。【解決手段】半導体装置は、入力データを保持する複数のフリップフロップと、前記複数のフリップフロップからの出力の多数決結果を出力する多数決回路と、を含む。自己診断において、前記複数のフリップフロップの内の1つのフリップフロップをスキャンチェーンに含ませ、前記複数...

    半導体装置

  4. 【課題】スキャンテストに対応した半導体集積回路について、故障検出率の低下及び/又はテストパタン数の増加を抑制する。【解決手段】半導体集積回路が、スキャン入力とデータ入力とを有するスキャンフリップフロップと、キャプチャモードにおいて、前記スキャンフリップフロップが前記スキャン入力に入力された値をキャプチャするように前記スキャンフリップフロップを制御可能に構成されたスキャ...

    半導体集積回路、その設計方法、プログラム及び記憶媒体

  5. 【課題】機能安全要求を満たしつつ、システムの起動時間を短くすることができる電子制御装置を提供すること。【解決手段】電子制御装置が備えるマイコンは、ハードウェアセルフテスト(以下、BIST)機能を有している。マイコンは、BISTが実行される複数のBIST対象を有している。マイコンの起動時には、論理回路部を診断対象とするBISTであるLBISTを実行する(ステップS10)...

    電子制御装置

  6. 【課題】故障判定の精度を向上させると共に、故障箇所が特定できない場合であっても、制御処理の連続性を確保しつつ、車両制御の安全性を向上させる。【解決手段】統括制御部と、第1制御値を算出する第1制御値算出部および第2制御値を算出する第2制御値算出部と、故障判定部と、第1制御値、第2制御値、予め設定された判定入力値および出力期待値を用いて、第1制御値算出部のみが故障状態、第...

    車両制御装置

  7. 【課題】複数の割込み信号ごとに発生する様々な種類のエラーに基づく故障を検出すること。【解決手段】半導体装置は、プロセッサと、複数の回路ブロックと、複数の回路ブロックのそれぞれから複数の割込み信号を受け付け、プロセッサに対して割込み要求を出力する割込み制御回路と、いずれかの割込み信号に対応し、対応する割込み信号の監視対象の状態を示す監視種別並びに第1及び第2の監視期間を...

    半導体装置及びその故障検出方法

  8. 【課題】既存の電源シーケンスを変更せずに機能安全対応をサポートする。【解決手段】電源システム1は、入力電圧VBATから出力電圧VO1〜VO5を生成する電源200と、出力電圧VO1の供給を受けて動作するマイコン300と、出力電圧VO1〜VO5及びマイコン300の出力周波数(=WDIN)をそれぞれ監視する監視装置100を有する。なお、例えば、監視装置100は、電源200が...

    監視装置及びこれを用いた電源システム

  9. 【課題・解決手段】遺伝子配列データに対して配列分析パイプラインを実行するためのシステム、方法、および装置は、物理的な電気インターコネクトによって相互接続されるハードワイヤードデジタル論理回路のセットで形成される集積回路を含む。物理的な電気インターコネクトの1つは、ゲノムデータのリードを受け取るための電子データソースと接続される集積回路への入力を形成する。ハードワイヤー...

    オンサイトまたはクラウドベースのDNAおよびRNAの処理と分析のためのゲノムインフラストラクチャ

  10. 【課題】検査装置を用いたスキャンテストにおいて、検査装置のリソースに制限がある場合でも、同時に検査する入力部および出力部の数を増加させ検査品質の維持が可能なスキャン回路、集合スキャン回路、半導体装置、および半導体装置の検査方法を提供すること。【解決手段】複数のスキャンモードの予め定められたスキャンモードに対応するスキャンテスト信号を各々入力する複数の入力回路IBUFと...

    スキャン回路、集合スキャン回路、半導体装置、および半導体装置の検査方法

  11. 【課題】簡易な構成で様々な生成多項式に対応することが可能なCRC演算回路を提供する。【解決手段】CRC演算回路100は、多項式データを記憶する生成多項式レジスタ110と、入力データのビット数に対応して直列に接続された複数のCRC演算部120と、を備える。複数のCRC演算部120は、入力データまたは前段のCRC演算部120の出力データを被演算データとして、被演算データを...

    CRC演算回路、半導体装置及びレーダーシステム

  12. 【課題】入力されるアドレス信号の取り込み回路の故障を検出することができるメモリマクロを提供する。【解決手段】アドレス入力端子と、クロック入力端子と、メモリアレイと、制御部とを備えるメモリマクロであって、以下のように構成される。制御部は、前記アドレス入力端子へ入力される入力アドレス信号を、前記クロック入力端子から入力される入力クロック信号に同期して取り込み、内部アドレス...

    メモリマクロおよび半導体集積回路装置

  13. 【課題】マイクロコントローラ等の半導体装置に内蔵するタイマの効率的な故障診断技術を提供することである。【解決手段】半導体装置は、第1カウンタを有する第1タイマと、第2カウンタを有する第2タイマと、CPUを有する制御装置と、を備える。第1タイマは半導体装置の外部機器の時刻と時刻同期する。制御装置は第1カウンタのカウント値と第2カウンタのカウント値とを比較し、比較結果に基...

    半導体装置

  14. 技術 集積回路

    【課題】温度の影響を考慮しつつ経年劣化を容易に判定することができる集積回路を提供する。【解決手段】セルフテスト対象回路10は、LBIST(Logic Built-In Self-Test)の対象である。温度センサ110は、機能モジュール200(集積回路)の温度を示す環境温度を測定する。クロック周期制御回路50は、セルフテスト対象回路10が経年劣化していない場合に環境温...

    集積回路

  15. 【課題・解決手段】互いに非同期の2つのクロックドメインのそれぞれにおいて二重化された2組の回路対を備えるデータ処理装置において、前記2組の回路対の間に、ペイロード信号を転送するための非同期転送回路を設ける。非同期転送回路は、2組の回路対にそれぞれ接続された2組のブリッジ回路対を備え、ペイロード信号とともに当該ペイロード信号が受信側で安定するタイミングを示す制御信号を非...

    データ処理装置

  16. 【課題・解決手段】本発明に係る半導体装置(1)は、スキャンチェーンを有する被テスト回路(2)と、スキャンチェーンを用いて被テスト回路のスキャンテストを実施する第1のテスト制御装置(3)及び第2のテスト制御装置(4)を備える。第2のテスト制御装置(4)が、被テスト回路(2)に対し第2のスキャンテストを実施し、被テスト回路(2)が、第2のスキャンテストが実施された後に、第...

    半導体装置及び診断テスト方法

  17. 技術 監視装置

    【課題】故障検出率の高い監視装置を提供する。【解決手段】監視装置100は、監視対象(例えばDIN1〜DIN4)の異常検出を行う監視部(例えばコンパレータ152〜159)と、監視部が正常であるか否かを診断する自己診断部171と、自己診断部171による監視部の診断中に監視部を代替して監視対象の異常検出を行う副監視部(例えばコンパレータ15A及び15B)と、を有する。なお、...

    監視装置

  18. 【課題】従来よりも信頼性の高い物理量検出回路を提供すること。【解決手段】物理量検出素子の出力信号に基づいて検出信号を生成する検出信号生成回路と、第1期間において前記検出信号を第1デジタル信号に変換し、第2期間において第1テスト信号を第2デジタル信号に変換するアナログ/デジタル変換回路と、前記第1期間において前記第1デジタル信号を処理して第3デジタル信号を生成し、前記第...

    物理量検出回路、物理量センサー、電子機器、移動体及び物理量センサーの故障診断方法

  19. 【課題】複数の故障検出機構に対して短時間でフォルトインジェクションテストを実行することが可能な半導体装置を提供する。【解決手段】半導体装置1は、複数の階層モジュールと、複数の階層モジュールにおけるエラーに関する制御を行うエラー制御モジュール100とを有する。複数の階層モジュールそれぞれは、階層モジュールを構成するコンポーネントの機能の故障を検出するセーフティメカニズム...

    半導体装置、半導体システム及びテスト制御方法

  20. 【課題】半導体製品を試験するパターンデータのデータ量が増加しても、価格の上昇を抑制することが可能な半導体製品試験装置を提供する。【解決手段】半導体製品2を試験するテストパターンを、半導体製品2に供給する半導体製品試験装置は、テストパターンの一部を格納するパターンメモリ8を備える。半導体製品試験装置が備えるパターンメモリ8に格納されているテストパターンの一部で、半導体製...

    半導体製品試験装置、半導体製品試験方法および半導体製品

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