故障検出率 に関する公開一覧

故障検出率」に該当した技術の詳細情報一覧です。あらゆる文献や技術を元に、価値のある「故障検出率」の詳細情報や、「故障検出率」を活用可能な分野・領域の探索など、目的にあった情報を見つける事ができます。 「故障検出率」の意味・用法はこちら

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  1. 【課題】割込みコントローラの優先度判定回路の故障を、迅速に、かつ、ハードウェア量の増大を抑制しつつ、検出する。【解決手段】半導体装置は、第1の割込み要求信号を受信する第1のプロセッサエレメントと、第2の割込み要求信号を受信する第2のプロセッサエレメントと、複数の割込み信号を受信して、第1のプロセッサエレメントに第1の割込み要求信号を出力する第1の優先度判定回路と、複数...

    半導体装置及びその動作方法

  2. 【課題】タイミング的に満足できないという問題を解決しつつ、故障検出率の向上を図ることを目的としている。【解決手段】自動配置配線装置10の優先順位判断部26が、優先設定情報33にタイミング優先とするように設定されていない場合は、配置後の最適化部21に取得した配置配線に必要な情報30と未検出故障情報31とに基づいて複数の未検出故障素子間の配線が配線に関する設計制約を満たす...

    自動配置配線装置、自動配置配線方法、自動配置配線プログラム、自動配置配線プログラムを格納した記憶媒体および半導体集積回路

  3. 【課題】自己診断回路の故障検出率及び故障検出時間をLSI実装後も任意に調整する。【解決手段】自己診断回路10は、テスト対象回路20に組み込まれたスキャンチェーン11と、テストパタンS1を順次生成してスキャンチェーン11に入力するテストパタン生成部12と、テストパタンS1のパタン数を可変的に設定する制御部15とを有する。例えば、制御部15は、書き換え可能な設定値を格納す...

    自己診断回路

  4. 【課題】 故障検出率をより向上させる。【解決手段】 実施形態の半導体集積回路は、複数の第1スキャンチェーンを有する第1論理回路と、複数の第1スキャンチェーン用の第1テストパターンを生成する第1生成器21とを含む第1コア11と、複数の第2スキャンチェーンを有する第2論理回路と、複数の第2スキャンチェーン用の第2テストパターンを生成する第2生成器21とを含む第2コア1...

    半導体集積回路及びそのテスト方法

  5. 【課題】ロジックBISTによる診断終了から回路ブロックのロジック回路が通常動作を再開するまでを高速化する。【解決手段】ロジックBIST部3による診断対象となる回路ブロック内部のレジスタ値が診断実行前は通常動作可能な値に設定されていることに着目し、診断実行後の回路ブロック内部のレジスタ値を診断実行後と同一となるように維持するようにした。これにより、ロジックBIST部3に...

    半導体回路装置

  6. 【課題】マルチサイクルパスの経路の故障検出率を上げることができるスキャンテスト回路の設計方法を提供することである。【解決手段】スキャン回路の設計方法は、タイミング制約情報、ネットリスト及びレイアウト情報を読み込んで、半導体集積回路内に存在する経路の中から、マルチサイクルパスの経路を抽出し、抽出したマルチサイクルパスの経路をサイクル数分に分割し、サイクル数分に分割した箇...

    スキャンテスト回路の設計方法、スキャンテスト回路の設計プログラム、及び、半導体集積回路

  7. 【課題】高い故障検出率の達成と十分に短い起動時間を両立すること。【解決手段】自己診断装置100は、フルテストと、前記フルテストを分割した分割テストとを実行するのに必要な情報を記憶するメモリ101と、通常動作モードから低消費電力モードに切り換える指示を受けた場合、フルテストを実行する、フルテストの終了後に低消費電力モードに切り替え、低消費電力モードでは、所定の時間間隔で...

    自己診断装置、半導体装置及び自己診断方法

  8. 【課題】半導体集積回路の起動時間が制約されている場合であっても、半導体集積回路の故障を検出することができる半導体集積回路を得る。【解決手段】半導体集積回路は、主回路と、不揮発性メモリと、電源がオフされる際、主回路に対して診断を行って診断が完了したか否かを示す診断実行記録と、診断の結果を示す診断結果とを不揮発性メモリに記憶する自己診断処理を実行する自己診断回路と、を備え...

    半導体集積回路および回転検出装置

  9. 【課題】半導体装置の出荷後であっても故障検出率を上げる事のできる半導体製品品質管理サーバ、半導体装置、および半導体製品品質管理システムを提供する。【解決手段】追加テストパターン取得部26は、半導体製造履歴情報DB22を参照して、テストパターン情報DB24に記憶されているテストパターンの内、追加テスト実施対象となる半導体装置が未実施のテストパターンを、追加テストパターン...

    半導体製品品質管理サーバ、半導体装置、および半導体製品品質管理システム

  10. 【課題】ロックステップのためのハードウェアを追加することなく半導体装置のソフトウェアロックステップを実現する。【解決手段】半導体装置2は、CPU10,20と、スヌープ動作を制御するSPU210,220と、機能安全規格の最高レベル(ASIL D)のCPU230と、アービタ250と、メモリ260と、比較器とを備え、CPU230は、通常動作が実行される場合にスヌープ動作を...

    半導体装置、制御システムおよび半導体装置の制御方法

  11. 【課題】 テスト品質を落とすことなく、低消費電力かつ高速にスキャンテストを行う。【解決手段】 半導体装置は、スキャンテストのためのスキャンチェーン回路を有する回路ブロックと、イネーブル信号に基づいて、スキャンチェーン回路にクロック信号を供給するか否かを切り替えるクロックゲーティング回路と、を備える。回路ブロックは、スキャンチェーン回路をバイパスさせるバイパス経路と...

    半導体装置、半導体設計装置及び半導体テスト装置

  12. 【課題】回路規模の増大を抑制しつつ、故障検出率を向上させることが可能な半導体装置及びそれを備えた半導体システムを提供すること。【解決手段】一実施の形態によれば、半導体装置は、データD1のエラー検出コードC1を用いて、データD1の診断を行うECCデコーダ131と、データD1を構成する複数ビットのうちの一部のビットの値によって表されるデータD11、のエラー検出コードC11...

    半導体装置及びそれを備えた半導体システム

  13. 【課題】スキャンテストモードにおいて、半導体プロセスの微細化が進んだ場合であっても、異クロック間のデータホールドタイミングエラー修正の作業及びバッファの追加を不要とし、テストパターンの追加を微量に留めて、故障検出率を下げないようなスキャンテストを実行すること。【解決手段】半導体設計支援装置は、複数のクロックドメインに共通するスキャンクロックを使用するスキャンテストによ...

    半導体設計支援装置、半導体設計支援方法及びプログラム

  14. 【課題】テストデータの周波数を最適化して、テスト時間を短縮するICチップテスト装置、方法、及びシステムを提供する。【解決手段】スキャンパターン1200を入力し、出力される出力値1220を予測値1230と比較し、比較結果に基づいてICチップの欠陥有無を検査するICチップテスト装置は、スキャンパターン集合に含まれる少なくとも二つ以上のスキャンセクション1204のうち、使用...

    ICチップテスト装置、ICチップテスト方法、及びICチップテストシステム

  15. 【課題・解決手段】集積回路(IC)をテストするための回路(100)の説明される例において、回路(100)は、N個のスキャン入力(102)を受信しM個の疑似スキャン入力(106)を生成する、入力コンバータ(104)を含み、M及びNは整数である。スキャン圧縮アーキテクチャ(110)が、入力コンバータに結合され、M個の疑似スキャン入力に応答してP個の疑似スキャン出力(116...

    試験時間削減のための方法及び装置

  16. 【課題】テストデータの周波数を最適化して、テスト時間を短縮し、テスト品質と収率を向上させることができるICチップテストシステムを提供する。【解決手段】テスト対象回路を含むICチップのスキャン入力ポートを介してスキャン経路にスキャンパターンを入力し、スキャン出力ポートを介して出力される出力値を前もって設定された予測値と比較し、比較結果に基づいてICチップの欠陥有無を検査...

    ICチップテスト装置、ICチップテスト方法、及びICチップテストシステム

  17. 【課題】処理能力を向上できる。【解決手段】実施形態に係る半導体装置は、第1及び第2動作モードを有する。半導体装置は、第1動作モード時に動作可能であり、第2動作モード時に電源を遮断される第1ラッチ21と、第1ラッチ21の電源が遮断されている間、第1ラッチ21のデータを保持可能な第2ラッチ22とを含む第1フリップフロップ20を含む。第1ラッチ21は、第1期間に実行される第...

    半導体装置

  18. 【課題】オーバヘッドの増加を抑え、高秘匿性要求回路の秘匿性を守りながらテストを行うことができるスキャンテスト回路およびスキャンテスト回路の設計方法を提供する。【解決手段】スキャンテスト回路は、複数のサブスキャンチェーンによって構成されるスキャンチェーンと、入力分配回路と、出力圧縮回路とを備える。バイパス回路によって、圧縮スキャンモードの場合に、内部回路に含まれる複数の...

    スキャンテスト回路、スキャンテスト方法およびスキャンテスト回路の設計方法

  19. 【課題】実動作(又はそれに近い動作)でのロジック回路のテストが可能な回路装置、電気光学装置及び電子機器等を提供すること。【解決手段】回路装置400は、差動入力のシリアルデータ信号D1、D1Xを受信し、差動入力のシリアルデータ信号D1、D1Xのシリアルパラレル変換を行ってパラレルデータ信号RT[6:0]を出力する受信回路100と、パラレルデータ信号RT[6:0]が供給さ...

    回路装置、電気光学装置及び電子機器

  20. 【課題】回路をテスト動作モードに切り替えずに、回路を駆動するクロック速度を最高速度から落とすことなく、高い故障検出率を維持しながら、回路内の各FFの故障検出が可能な集積回路におけるセルフテスト回路を提供する。【解決手段】1/N周期ずつ位相シフトされた第1位相から第N位相をそれぞれ有する同一周期のN個のクロック信号を含む多相クロック信号によって駆動される集積回路における...

    集積回路におけるセルフテスト回路およびデータ処理回路

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