未検出故障 に関する公開一覧

未検出故障」に該当した技術の詳細情報一覧です。あらゆる文献や技術を元に、価値のある「未検出故障」の詳細情報や、「未検出故障」を活用可能な分野・領域の探索など、目的にあった情報を見つける事ができます。 「未検出故障」の意味・用法はこちら

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  1. 【課題】センサ駆動式に最適化及び/又は改善された整備プログラムを生成するためのシステムと方法を提供する。【解決手段】センサ駆動式最適化整備プログラム(SDOMP)を生成するための方法は、一つの装置タイプのための整備タスクとそのような整備タスクが実施される間隔とを規定する、当該装置タイプのための第1の整備計画を受け取る。センサデータ履歴、定期整備データ履歴及び不定期整備...

    センサデータの存在下において整備計画を改善するためのシステムと方法

  2. 【課題・解決手段】原子炉保護システムは、複数の機能的に独立したモジュールであって、モジュールの各々が、原子炉安全システムから複数の入力を受信し、少なくとも部分的に複数の入力に基づいて安全動作を論理的に決定するように構成された、複数の機能的に独立したモジュールと、複数の機能的に独立したモジュールに通信可能に接続され、少なくとも部分的に複数の入力に基づいて安全動作の決定を...

    原子炉保護システム及び方法

  3. 【課題】原子炉保護システム及びその関連する方法を提供する。【解決手段】原子炉保護システムは、複数の機能的に独立したモジュールであって、モジュールの各々が、原子炉安全システムから複数の入力を受信し、少なくとも部分的に複数の入力に基づいて安全動作を論理的に決定するように構成された、複数の機能的に独立したモジュールと、複数の機能的に独立したモジュールに通信可能に接続され、少...

    原子炉保護システム及び方法

  4. 【課題】高い故障検出率の達成と十分に短い起動時間を両立すること。【解決手段】自己診断装置100は、フルテストと、前記フルテストを分割した分割テストとを実行するのに必要な情報を記憶するメモリ101と、通常動作モードから低消費電力モードに切り換える指示を受けた場合、フルテストを実行する、フルテストの終了後に低消費電力モードに切り替え、低消費電力モードでは、所定の時間間隔で...

    自己診断装置、半導体装置及び自己診断方法

  5. 【課題】スキャンテストモードにおいて、半導体プロセスの微細化が進んだ場合であっても、異クロック間のデータホールドタイミングエラー修正の作業及びバッファの追加を不要とし、テストパターンの追加を微量に留めて、故障検出率を下げないようなスキャンテストを実行すること。【解決手段】半導体設計支援装置は、複数のクロックドメインに共通するスキャンクロックを使用するスキャンテストによ...

    半導体設計支援装置、半導体設計支援方法及びプログラム

  6. 【課題】圧縮スキャンにおいて、検出効率を低下させることなくテストステップ数を低減させる。【解決手段】実施の形態に係る半導体装置1は、一以上のMMSFF10がシリアルに接続された一以上のスキャンチェインと組み合わせ回路とを備え、スキャンシフト動作キャプチャ動作とを切り替え可能な半導体装置であって、MMSFF10は、スキャンシフト動作時において、外部から入力される外部入力...

    半導体装置及び設計装置

  7. 【課題】未検出故障素子が検出された際に、当該未検出故障素子を考慮して故障検出率を低下させないようにする自動配置配線装置および自動配置配線方法を提供する。【解決手段】配置部20が、取得した配置配線に必要な情報30と、未検出故障情報31と、に基づいて、複数の故障検出できない回路素子間の配線が設計制約を満たす配線長となるように近づけて配置する。

    自動配置配線装置および自動配置配線方法

  8. 【課題・解決手段】制御式駐車ブレーキを装備する自動車のアシスト式発進システムの動作状態を診断する方法であって、車両情報の少なくとも1つの項目を計算するステップと、前記車両情報に関連づけられた有効性情報の少なくとも1つの項目が生成される有効性ステップとを含む。本方法は、駐車ブレーキをはずすためのコマンドの間に車両情報および関連有効性情報を不揮発性メモリに記録するステップ...

    自動車のアシスト式発進システムの動作状態を診断する方法およびシステム

  9. 【課題】スキャンBISTの故障検出率向上のための新たなLFSRシード生成法を提供する。【解決手段】この課題を解決する為に、スキャンBISTのシード生成モデルを形成し、形成したシードモデルに対して対象故障のテスト生成を行ってLFSRのシードを生成する、各手順を備え、シード生成モデルは、前記スキャンBISTのLFSRを被検査回路のスキャンFFにおけるスキャンパス長分時間展...

    スキャンBISTのLFSRシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体

  10. 【課題】設計時間や設計コストを増大させずに故障検出率を向上させることができる半導体集積回路を提供する。【解決手段】選択制御信号SEL1に応じて、スキャンテスト時に出力が不定値であるXソース101の出力又はクロック信号CLKAを選択して出力するセレクタ108と、セレクタ108の出力が入力される組み合わせ回路102と、クロック信号CLKBに応じて組み合わせ回路102の出力...

    半導体集積回路

  11. 【課題】ATPGにおけるテストパタンの生成時間を短縮するための技術を提供する。【解決手段】EDAツール(11〜16)と、EDAツール(11〜16)が参照する情報を保持するファイル格納部(9)とを具備するテストパタン生成システムを構成する。そのファイル格納部(9)は、テストパタンの生成の対象となる回路の接続情報を示すネットリスト(21)と、ネットリストに示される回路のう...

    テストパタン生成システム、テストパタン生成方法、およびテストパタン生成プログラム

  12. 【課題】想定外の遅延による回路のパフォーマンス低下を回避可能な故障検出率向上用回路挿入方法を得ること。【解決手段】本発明は、HDL記述による論理回路設計において、論理回路の故障検出率を向上させるための故障検出率向上用回路を挿入する場合の故障検出率向上用回路挿入方法であって、コンピュータの制御部が、論理合成により得られるネットリスト3を入力としてATPGを適用して故障検...

    故障検出率向上用回路挿入方法

  13. 【課題】 常により高速に故障シミュレーションを行えるようにするための技術を提供する。【解決手段】 論理シミュレーション部103は、ネットリスト101及びテストパターン102を入力し、論理シミュレーションを行い、ネットリスト101に記述されたセルが有するピン毎に、そのピンの信号の論理値を示すトグル情報104を生成する。故障仮定部105は、そのトグル情報104から、テ...

    故障シミュレーション装置、及びプログラム

  14. 【課題】テストパターン数の増大を抑制し、ブリッジ故障及びオープン故障を高精度で検出可能なテストパターン作成装置、テストパターン作成方法及びテストパターン作成プログラムを提供する。【解決手段】ブリッジ故障を検出する第1テストパターンを作成する第1テストパターン作成・判定モジュール15、容量情報リストを作成する容量情報リスト作成モジュール19、論理セルの入力端子の縮退故障...

    テストパターン作成装置、テストパターン作成方法及びテストパターン作成プログラム

  15. 【課題】被検査回路の隣接信号線における信号変化の動的干渉によって論理値変化が生じる故障を高精度で検出する。【解決手段】被検査回路の各信号線の故障を検査する故障検査装置において、被検査回路の検査対象の信号線で故障を仮定する故障信号線と、故障信号線からある範囲内にある少なくとも1つの隣接信号線との間のレイアウト情報、製造パラメータ情報及びタイミング情報に基づいて、故障信号...

    故障推定装置及び方法

  16. 【課題】テスト品質の向上を図ることが可能な半導体集積回路のテスト品質評価装置を提供する。【解決手段】半導体集積回路のテスト品質評価装置100は、テストパターンにより検出できない未検出故障に、この未検出故障に関連するレイアウト要素を未検出故障の重みとして対応付けて、重み付き故障辞書を作成する故障−レイアウト情報リンク部と、未検出故障の重みと、不良モード−故障モデル対応因...

    半導体集積回路のテスト品質評価装置、および半導体集積回路のテスト品質評価方法

  17. 【課題・解決手段】テストパターン生成装置は、回路の外部からテストパターンを与えて回路の動作を確認するスキャンチェーンをそれぞれ有する第1及び第2の共通回路と、第1及び第2の共通回路以外の非共通回路とを備えた半導体回路に対するテストパターンを生成する。第1及び第2の共通回路毎にスキャンチェーンの集合と仮定故障の集合を作成し、第1及び第2の共通回路のいずれかを、第1のテス...

    テストパターン生成方法、装置及びプログラム

  18. 【課題】テスト時の消費電力の低減と共に圧縮スキャンテストを容易に実現可能な半導体装置を提供する。【解決手段】例えば、ランストップ制御信号RSを出力するランストップ回路RUNSTOPと、擬似乱数パターンを生成する第1乱数パターン発生回路RDG_PTと、その出力を外部からのデータ入力信号Dinの値に応じて反転させる反転制御部INV_BLKと、INV_BLKを介した出力がス...

    半導体装置ならびに半導体装置のテストパターン生成方法

  19. 【課題】 論理シミュレーション時間を関連技術に比べ短縮させることが可能な論理シミュレーション装置の提供。【解決手段】 論理シミュレーション装置は、所定機能が記載される機能仕様部10−1と、所定機能のうちの一部の実行時間を短縮するためのテスト機能が記載されるテストモード仕様部10−2と、機能仕様部10−1およびテストモード仕様部10−2を基にハード言語記述を行うハー...

    論理シミュレーション装置およびそのシミュレーション方法

  20. 【課題】被検査回路の隣接信号線における信号変化の動的干渉によって論理値変化が生じる故障を従来技術に比較して高精度で検出する。【解決手段】複数の信号線を含む被検査回路の各信号線の故障を検査する故障検査装置において、上記被検査回路の検査対象の信号線において故障を仮定する故障信号線と、上記故障信号線から所定の範囲内にある少なくとも1つの隣接信号線との間のレイアウト情報、製造...

    故障検査装置及び方法

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