テストパターン生成装置 に関する公開一覧

テストパターン生成装置」に該当した技術の詳細情報一覧です。あらゆる文献や技術を元に、価値のある「テストパターン生成装置」の詳細情報や、「テストパターン生成装置」を活用可能な分野・領域の探索など、目的にあった情報を見つける事ができます。 「テストパターン生成装置」の意味・用法はこちら

1〜20件を表示(86件中)1/5ページ目

  1. 【課題】シーケンスプログラムのテストパターンを容易に作成できるテストパターン生成装置を提供する。【解決手段】シーケンスプログラムのテストのためのテスト入力シーケンスを生成するテストパターン生成装置110は、前記シーケンスプログラムの入力信号それぞれについて、とりうる全ての状態と、状態変化と、を求める状態・状態変化解析部112と、前記入力信号の前記状態変化それぞれについ...

    テストパターン生成装置

  2. 【課題】HDR(HLG)技術において必要な値と線形関係を容易に測定可能なテストパターンを生成できるテストパターン生成装置およびそのテストパターンを用いたHDR対応ディスプレイの特性評価システムを提供する。【解決手段】ITU−R BT.2100の規格に準拠するHDR対応ディスプレイの特性評価に用いるテストパターンを生成するテストパターン生成装置であって、所定の映像デー...

    テストパターン生成装置およびHDR対応ディスプレイの特性評価システム

  3. 【課題】安価なA/D変換器を用いてコストの低減、データ処理量および記憶容量の低減を図りながら、蛍光信号を精度よく検出する。【解決手段】パルス状のレーザ光を射出する光源から出力される同期信号に基づいて、レーザ光のパルス周波数のN(Nは1以上の整数)倍の周波数を有しかつレーザ光の位相と同期したクロックをフェイズロックループにより生成するクロック生成部14と、生成されたクロ...

    光検出装置およびレーザ走査型顕微鏡

  4. 【課題】分割回路間の回路特性の均等化を図ること。【解決手段】テストパターン生成装置100は、複数のブロック103の各々について、回路情報101に基づくブロック103のサイズに関する第1特徴量と、回路情報101に基づくブロック103の機能に関する第2特徴量と、を取得する。テストパターン生成装置100は、取得した第1特徴量が第1所定範囲内であり、かつ取得した第2特徴量が第...

    テストパターン生成方法、テストパターン生成プログラム、およびテストパターン生成装置

  5. 【課題】物理的な欠陥及び物理的な不良を考慮した故障検出率を単一の故障検出率で評価する。【解決手段】故障検出率演算方法では、ネットリストに対応する配置配線情報を使用して、微粒子により第1故障が発生する面積を示す第1CAを配線毎に演算し、配置配線情報を使用して、微粒子により第1故障と相違する第2故障が発生する面積を示す第2CAを配線毎に演算し、論理回路の動作を検証するテス...

    故障検出率演算装置、故障検出率演算プログラム及びその方法、並びにテストパターン生成装置及び、テストパターン生成プログラム及びその方法

  6. 【課題】 回路設計装置、回路設計方法、プログラムおよび回路装置を提供すること。【解決手段】 回路設計装置110は、スキャンチェーンを含む回路の設計データ102を読み込む読込手段112と、上記設計データ上で、スキャンチェーンを複数の組に分割し、複数の組各々に対し、該組の部分チェーンを経由するか迂回するかを選択する組選択回路を挿入する分割手段120と、上記設計データ上...

    回路設計装置、回路設計方法、プログラムおよび回路装置

  7. 【課題】真理値表にない入力因子による不具合の発生を効率的に検出する。【解決手段】試験装置1が、試験対象5における入力因子I1〜I3の取り得る値の組み合わせに応じた出力値が示されている真理値表L1の、入力因子I1〜I3を1つの入力因子I1−3にまとめ、入力因子I1〜I3のそれぞれが取り得る値に基づき、入力因子I1−3が取り得る値を生成し、入力因子I1−3と真理値表L1に...

    試験方法、テストパターン生成方法、試験装置、テストパターン生成装置及びプログラム

  8. 【課題】並列処理に起因するテストパターンの増加を抑止する。【解決手段】第2の演算処理装置20は、複数の第1の演算処理装置10が要求値の設定対象となる同じ回路素子に対してそれぞれ異なる要求値を設定するコンフリクトが発生するか否かを要求値バッファ22aに格納された要求値に基づいて判定する。そして、第1の演算処理装置10が要求値の設定対象となる入力点に設定しようとする要求値...

    テストパターン生成装置,テストパターン生成方法およびテストパターン生成プログラム

  9. 【課題】各結線が単独で出力に伝播することの確認をすることができるテストパターンの生成技術を提供する。【解決手段】テストパターンの生成装置10において、論理ゲート、論理ブロック及びこれらを接続する結線により表現される回路表現データに含まれる回路の接続情報を保持する回路接続情報保持部18と、前記回路のロジックテストに用いるテストケースをテストDB13に登録するテスト登録部...

    テストパターンの生成装置、その生成方法及びその生成プログラム

  10. 【課題】網羅的かつ効率的なランダム検証を行う。【解決手段】ランダム検証項目をイベントの組合せである多重イベントとして定義し、ランダムパターンジェネレータ2が制約情報1からテストパターン3を生成し、検証環境7がテストパターン3を用いて検証対象回路に対するシミュレーションを行い、イベント解析部10がシミュレーションで検知されたイベントをイベントログ9を用いて解析し、全ての...

    情報処理装置及び情報処理方法及びプログラム

  11. 【課題】 スキャンパス圧縮回路において、専用のリセット回路及びボード上の専用信号ピンを追加せずに、回路内のF/F(フリップフロップ)の初期化の時間短縮を行う。【解決手段】 複数のスキャンパスを有するスキャンパス群と、スキャンパス群に対しスキャン入力データを供給するパターン生成器と、スキャンパス群の出力データに対して、データ圧縮を行う出力圧縮器とを具備する半導体集積...

    半導体集積回路、スキャンパス初期化方法、テストパターン生成システム、及びプログラム

  12. 【課題】トグル率のようにセル間の配線電圧のように論理値で検査するのではなく、セルを構成する全ての各トランジスタの各端子間に所定電圧を所定時間だけより確実に印加して、トランジスタ活性化率をより向上させる。【解決手段】HDD2の制御プログラムとしてのテストパターン生成プログラムに基づいて、CPU1が、半導体集積回路を構成する各セルのセル種別毎に、セル内の各トランジスタ端子...

    半導体集積回路のテストパターン生成方法および半導体集積回路のテストパターン生成装置、制御プログラム、可読記録媒体

  13. 【課題】広色域に対応したテストパターンを表示装置の表示部に表示すること。【解決手段】第1の色域の規格のカラーチャートのテストパターンと、第1の色域よりも広い第2の色域の規格のカラーチャートのテストパターンとをテレビジョン受像機30に表示させる場合に適用される。このために、第1の色域の規格のカラーチャートの情報と、第2の色域の規格のカラーチャートの情報とを記録させる。そ...

    テストパターン信号生成装置、テストパターン信号生成方法、測色システム及び表示装置

  14. 【課題】 半導体装置の故障をより効率的に検出するためのテストパターンを生成するためのテストパターン生成装置等を提供する。【解決手段】 テストパターン生成装置1は、半導体装置の故障を検出するためのテストパターンを生成するものであって、検出対象の故障が伝搬可能な出力端子が複数ある場合に既に生成されたテストパターンにより検出される故障及び当該故障が伝播される出力...

    テストパターン生成装置、テストパターン修正装置、テストパターン生成方法、プログラム、及び、記録媒体

  15. 【課題】液晶ディスプレイ装置の表示精度の確認を容易にし、したがって、評価に要する時間を短縮することのできる技術を提供する。【解決手段】ディスプレイ5の画質評価に使用するテストパターンを生成するための、テストパターン生成装置1において、表示条件入力部2が、ディスプレイ5の解像度あるいはディスプレイ5への入力信号の規格等に基づいて、ディスプレイ5にテストパターンを出力する...

    テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法

  16. 【課題・解決手段】データのテストパターン生成方法及び装置、データのテストパターン解析方法及び装置、並びに、データ保存用ディスク媒体及び/又は記録再生ヘッドの試験方法及び装置を開示する。好ましい形態においては、試験のためにデータ保存用ディスク媒体(4)へと書き込まれるデータのテストパターン生成方法を開示する。当該方法は、ディスク(4)を回転させる工程、ディスク(4)の回...

    データのテストパターン生成装置及び方法、データのテストパターン解析装置及び方法、並びに、データ保存用ディスク媒体及び/又は記録再生ヘッドの試験装置及び方法

  17. 【課題】半導体集積回路をスキャンテスト時のIRドロップによる誤動作を回避し、効率の良いスキャンテストを実現する。【解決手段】半導体集積回路をスキャンテストするためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置100は、危険箇所抽出部110と、テストパターンの生成を実行するパターン生成実行部であるATPG150を備える。危険箇所抽出部110は、半導体集積回路から、電源...

    テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法

  18. 【課題】ATPGに係るテストパターン生成方法・装置を用いずに、自動的にテストパターンを生成するテストパターン生成・装置を提供する。【解決手段】本発明のテストパターン生成方法は、回路情報と、回路における検出対象の故障情報とに基づいて、回路の動作を記述するプロパティを出力するプロパティ作成工程と、前記プロパティに基づいて、回路のテストパターンを出力する形式検証工程とを含む。

    テストパターン生成方法、テストパターン生成装置、半導体集積回路故障検査方法、及び半導体集積回路故障検査装置

  19. 【課題・解決手段】色の3要素のうち第1の要素の値をフレームの第1の座標の値に応じて変動させ、第2の要素の値をフレームの第2の座標の値に応じて変動させたフレームを生成し、前記生成したフレームにおいて、使用しなかった第3の要素の値を時間軸の値に応じ一律に変動させたフレームを複数生成し、前記複数のフレームを前記第3の要素に応じて順次表示するテストパターンを用いて、ディスプレ...

    テストパターン生成プログラムおよび方法と当該テストパターンを用いたディスプレイ調整プログラム

  20. 【課題・解決手段】ビデオテストパターン生成装置(100)及び方法は、ビデオテストパターンを生成するため、1以上のアドレスカウンタ(110,112,114,116)を制御するよう構成されるコントロールシーケンサ(106)を有する。第1メモリ(102)が、ビデオテストパターンの各部分の間の遷移のためのピクセル値を格納し、繰り返されるピクセル値を格納するよう構成される。第2...

    ビデオテストパターンのための効率的なテスト生成装置

  1. 1
  2. 2
  3. 3
  4. 4
  5. 5