テストパターン生成方法 に関する公開一覧

テストパターン生成方法」に該当した技術の詳細情報一覧です。あらゆる文献や技術を元に、価値のある「テストパターン生成方法」の詳細情報や、「テストパターン生成方法」を活用可能な分野・領域の探索など、目的にあった情報を見つける事ができます。 「テストパターン生成方法」の意味・用法はこちら

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  1. 【課題】シーケンスプログラムのテストパターンを容易に作成できるテストパターン生成装置を提供する。【解決手段】シーケンスプログラムのテストのためのテスト入力シーケンスを生成するテストパターン生成装置110は、前記シーケンスプログラムの入力信号それぞれについて、とりうる全ての状態と、状態変化と、を求める状態・状態変化解析部112と、前記入力信号の前記状態変化それぞれについ...

    テストパターン生成装置

  2. 【課題】分割回路間の回路特性の均等化を図ること。【解決手段】テストパターン生成装置100は、複数のブロック103の各々について、回路情報101に基づくブロック103のサイズに関する第1特徴量と、回路情報101に基づくブロック103の機能に関する第2特徴量と、を取得する。テストパターン生成装置100は、取得した第1特徴量が第1所定範囲内であり、かつ取得した第2特徴量が第...

    テストパターン生成方法、テストパターン生成プログラム、およびテストパターン生成装置

  3. 【課題・解決手段】スキャン非同期記憶素子は、n入力の非同期記憶素子(12)と、nビットの信号入力およびスキャン入力から非同期記憶素子(12)のn入力を生成するスキャン制御論理回路(14)とを備えている。スキャン制御論理回路(14)は、与えられた制御信号が第1のビットパターンのときは信号入力を、第2のビットパターンのときはスキャン入力を、それ以外のときは非同期記憶素子(...

    スキャン非同期記憶素子およびそれを備えた半導体集積回路ならびにその設計方法およびテストパターン生成方法

  4. 【課題・解決手段】テスト時の半導体集積回路の温度を空間的に均一化するようなテストパターンを生成する。ドントケアを含む複数のテストパターンからなる原テストパターン系列からテストパターンを順次選択し、半導体集積回路のレイアウト領域を略等分割した各領域について、選択したテストパターンにドントケア値を設定して当該テストパターンが半導体集積回路に印加された場合の消費電力を見積も...

    半導体集積回路のテストパターン生成方法、プログラム、およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体

  5. 【課題】物理的な欠陥及び物理的な不良を考慮した故障検出率を単一の故障検出率で評価する。【解決手段】故障検出率演算方法では、ネットリストに対応する配置配線情報を使用して、微粒子により第1故障が発生する面積を示す第1CAを配線毎に演算し、配置配線情報を使用して、微粒子により第1故障と相違する第2故障が発生する面積を示す第2CAを配線毎に演算し、論理回路の動作を検証するテス...

    故障検出率演算装置、故障検出率演算プログラム及びその方法、並びにテストパターン生成装置及び、テストパターン生成プログラム及びその方法

  6. 【課題】真理値表にない入力因子による不具合の発生を効率的に検出する。【解決手段】試験装置1が、試験対象5における入力因子I1〜I3の取り得る値の組み合わせに応じた出力値が示されている真理値表L1の、入力因子I1〜I3を1つの入力因子I1−3にまとめ、入力因子I1〜I3のそれぞれが取り得る値に基づき、入力因子I1−3が取り得る値を生成し、入力因子I1−3と真理値表L1に...

    試験方法、テストパターン生成方法、試験装置、テストパターン生成装置及びプログラム

  7. 【課題】並列処理に起因するテストパターンの増加を抑止する。【解決手段】第2の演算処理装置20は、複数の第1の演算処理装置10が要求値の設定対象となる同じ回路素子に対してそれぞれ異なる要求値を設定するコンフリクトが発生するか否かを要求値バッファ22aに格納された要求値に基づいて判定する。そして、第1の演算処理装置10が要求値の設定対象となる入力点に設定しようとする要求値...

    テストパターン生成装置,テストパターン生成方法およびテストパターン生成プログラム

  8. 【課題】回路規模によるパターン画像の数の制約を生じさせず、廉価かつ容易に、任意の位置、寸法、数のパターン画像を含むテストパターンを生成する。【解決手段】画像形成装置1は、単一の矩形描画領域で指定濃度値を生成するパターン生成部240と、協働でパターン生成部240に描画位置と描画範囲と濃度出力値からなる描画パラメータを指示するCPU220及びRAM230とを備える。CPU...

    画像生成装置及び画像生成方法

  9. 【課題】 スキャンパス圧縮回路において、専用のリセット回路及びボード上の専用信号ピンを追加せずに、回路内のF/F(フリップフロップ)の初期化の時間短縮を行う。【解決手段】 複数のスキャンパスを有するスキャンパス群と、スキャンパス群に対しスキャン入力データを供給するパターン生成器と、スキャンパス群の出力データに対して、データ圧縮を行う出力圧縮器とを具備する半導体集積...

    半導体集積回路、スキャンパス初期化方法、テストパターン生成システム、及びプログラム

  10. 【課題】トグル率のようにセル間の配線電圧のように論理値で検査するのではなく、セルを構成する全ての各トランジスタの各端子間に所定電圧を所定時間だけより確実に印加して、トランジスタ活性化率をより向上させる。【解決手段】HDD2の制御プログラムとしてのテストパターン生成プログラムに基づいて、CPU1が、半導体集積回路を構成する各セルのセル種別毎に、セル内の各トランジスタ端子...

    半導体集積回路のテストパターン生成方法および半導体集積回路のテストパターン生成装置、制御プログラム、可読記録媒体

  11. 【課題】本発明は、クロックゲーティングのイネーブルロジックを構成する組合せ回路部(動作)試験用のフリップフロップを別個に必要とせずにクロックイネーブルロジック及びクロックゲーティングセルを試験可能な半導体集積回路を提供することを目的とする。【解決手段】半導体集積回路は、クロックイネーブルロジックを演算する組み合わせ論理回路と、組み合わせ論理回路の出力信号を一方の入力と...

    半導体集積回路、試験パターン生成方法、及び回路試験方法

  12. 【課題】 半導体装置の故障をより効率的に検出するためのテストパターンを生成するためのテストパターン生成装置等を提供する。【解決手段】 テストパターン生成装置1は、半導体装置の故障を検出するためのテストパターンを生成するものであって、検出対象の故障が伝搬可能な出力端子が複数ある場合に既に生成されたテストパターンにより検出される故障及び当該故障が伝播される出力...

    テストパターン生成装置、テストパターン修正装置、テストパターン生成方法、プログラム、及び、記録媒体

  13. 【課題】液晶ディスプレイ装置の表示精度の確認を容易にし、したがって、評価に要する時間を短縮することのできる技術を提供する。【解決手段】ディスプレイ5の画質評価に使用するテストパターンを生成するための、テストパターン生成装置1において、表示条件入力部2が、ディスプレイ5の解像度あるいはディスプレイ5への入力信号の規格等に基づいて、ディスプレイ5にテストパターンを出力する...

    テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法

  14. 【課題】複数のクロックで動作する半導体集積回路の実速度スキャンテストにおいて、半導体集積回路の面積を増加させることなく、かつ故障検出率を低下させることなく、テストパタン数を削減する。【解決手段】テストボード100は、異なる周波数のクロックで駆動可能なスキャンチェーン群を複数備えた半導体集積回路120〜122と、互いに異なる周波数を有する複数のクロックの全ての組み合わせ...

    スキャンテスト方法

  15. 【課題】従来の半導体装置によれば、半導体装置の縮退故障を検出するために縮退故障検出用の回路を半導体装置に内蔵しなければならなかった。【解決手段】本発明の半導体試験システムは、入力されるテスト信号に基づいてデータを出力する第1のモードと出力をハイインピーダンスにする第2のモードとを切り替える出力バッファ14を有する半導体装置10の試験を行う半導体試験システムであって、テ...

    半導体試験システム、テストパターン生成方法及びテストパターン生成プログラム

  16. 【課題】プログラマブルなLSIのテストを行う場合にテストパターンが長大化する。【解決手段】テストパターンを使って内部論理回路の故障を検出させるということは、故障があった時と無かった時で出力結果が変わる入力の組合せが入れられれば良いことであり、個々の故障モードを検証するのに全ての入力信号が必要な訳ではなく、その一部しか使用していないことが多く、故障検出を行うのに冗長な入...

    テストパターン作成方法およびプログラム

  17. 【課題・解決手段】データのテストパターン生成方法及び装置、データのテストパターン解析方法及び装置、並びに、データ保存用ディスク媒体及び/又は記録再生ヘッドの試験方法及び装置を開示する。好ましい形態においては、試験のためにデータ保存用ディスク媒体(4)へと書き込まれるデータのテストパターン生成方法を開示する。当該方法は、ディスク(4)を回転させる工程、ディスク(4)の回...

    データのテストパターン生成装置及び方法、データのテストパターン解析装置及び方法、並びに、データ保存用ディスク媒体及び/又は記録再生ヘッドの試験装置及び方法

  18. 【課題】感光材料上に画像を露光形成する露光ユニット補正係数を算出するためのテストプリントを効率的に作成する技術を提供する。【解決手段】第1テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第1テストパターン生成ステップと、前記露光ユニットが露光形成するために前記第1テストパターンに比べて付加的な処理が必要な第2テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第2テストパ...

    テストプリント作成方法および画像形成装置

  19. 【課題】半導体集積回路をスキャンテスト時のIRドロップによる誤動作を回避し、効率の良いスキャンテストを実現する。【解決手段】半導体集積回路をスキャンテストするためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置100は、危険箇所抽出部110と、テストパターンの生成を実行するパターン生成実行部であるATPG150を備える。危険箇所抽出部110は、半導体集積回路から、電源...

    テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法

  20. 【課題・解決手段】テストパターン生成装置は、回路の外部からテストパターンを与えて回路の動作を確認するスキャンチェーンをそれぞれ有する第1及び第2の共通回路と、第1及び第2の共通回路以外の非共通回路とを備えた半導体回路に対するテストパターンを生成する。第1及び第2の共通回路毎にスキャンチェーンの集合と仮定故障の集合を作成し、第1及び第2の共通回路のいずれかを、第1のテス...

    テストパターン生成方法、装置及びプログラム

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