NECスペーステクノロジー株式会社 に関する公開一覧
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【課題】回路規模を低減させることが可能な半導体装置、半導体装置の制御方法、及び、制御プログラムを提供すること。【解決手段】半導体装置1は、半導体集積回路11と、回路の動作に関する記述に含まれる関数の単位で動作合成及び論理合成した結果である回路構成情報が少なくとも格納されているメモリ12と、を備え、半導体集積回路11は、複数の基本論理素子間の接続関係を切り替えることによ...
- 公開日:2020/11/19
- 出願人: NECスペーステクノロジー株式会社
- 発明者: 檜原弘樹
- 公開番号:2020-188096号
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技術 検査装置、及び検査方法
【課題】1台の検査装置でEL検査とIR検査との両方を実施することができる。【解決手段】検査装置は、バイパスダイオードが接続された太陽電池に対し、太陽電池が発生する電流と同じ順方向に電流を流し、順方向に電流を流したときの太陽電池の発光状態を示す第1撮像画像を撮像し、第1撮像画像を解析し、順方向に対する逆方向に、太陽電池に対し電流を流し、逆方向に電流を流したときの太陽電池...
- 公開日:2020/10/01
- 出願人: NECスペーステクノロジー株式会社
- 発明者: 蛯沢智也 、...
- 公開番号:2020-162324号
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技術 光増幅装置及び光通信装置
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【課題】容易に所望の感度に設定できる疲労センサを提供する。【解決手段】構造物に設置された状態において繰返し応力が印加されることにより破断する疲労検出部110と、疲労検出部に引張力を付与する引張力付与部120と、疲労検出部に付与される引張力を所望の引張力値に調節する引張力調節部150と、疲労検出部における破断を検出する破断検出部170とを備える。
- 公開日:2020/01/16
- 出願人: NECスペーステクノロジー株式会社
- 発明者: 小川文輔
- 公開番号:2020-008529号