日本電産リード株式会社 に関する公開一覧

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  1. 【課題】複数の配線と、各配線の一端を互いに導通させる導電部とを備えた検査対象物を検査することが容易な短絡検査システム、及び短絡検査方法を提供する。【解決手段】短絡検査装置1は、四本以上の配線Lと、各配線Lの一端を互いに導通させる導電層102とを備えた検査対象物Aを検査するための短絡検査装置1であって、四本以上の配線Lのうち一対の第一配線G1のパッドP1,P2の間に電流...

    短絡検査システム、及び短絡検査方法

  2. 【課題】キャパシタの、印加電圧に依存して生じる不良を検査することができるキャパシタ検査装置、及びキャパシタ検査方法を提供する。【解決手段】キャパシタ検査装置1は、端子電極101,102を備えたキャパシタ100を検査するためのキャパシタ検査装置1であって、端子電極101,102間に対する印加電圧Vを、実質的に直線的に増大させる可変電圧源2と、端子電極101,102間に流...

    キャパシタ検査装置、及びキャパシタ検査方法

  3. 【課題】プローブの一端部と検査対象の被検査部とを正確に位置合わせすることが可能な検査治具、及びこれを備えた基板検査装置の生産性を向上させる。【解決手段】一端部が検査対象に圧接される棒状のプローブ3と、前記プローブ3を支持する支持孔51を有する板状の第一支持体(検査側支持体5)とを備え、前記支持孔51は、前記第一支持体(検査側支持体5)の一壁面(対向壁面5A)側から前記...

    検査治具、この検査治具の製造方法、及び検査治具を備えた検査装置

  4. 【課題・解決手段】螺旋状のばね部が設けられた導電性部材からなる筒状体(2)であって、当該筒状体は、Ni金属層(5)と、Wを含有するNi−W合金層(6)とを有し、当該Ni−W合金層の端部(62)が、前記Ni金属層の外方に突出している。

    筒状体、及びその製造方法

  5. 【課題】微細な検査点に二つのプローブを接触させることが容易なプローブ、及びそれを用いた検査治具、検査装置を提供する。【解決手段】プローブPrは、略棒状の形状を有するプローブPrであって、検査対象物100に設けられた検査点101に接触させるための略円柱状の先端部Paと、先端部とは反対側の略円柱状の基端部Pbと、扁平な帯状形状を有し、先端部Paと基端部Pbとを繋ぐように延...

    プローブ、検査治具、及び検査装置