X線解析 の意味・用法を知る

必ずしも平坦でない、既知でない、または一定の形状でない、多種多様な試料を測定することができるＸ線解析装置を提供すること。

• 公開日：2015/08/24
• 出典：Ｘ線解析装置
• 出願人：マルバーンパナリティカルビーヴィ

実際のリフロー炉と同じ条件で回路基板を加熱することができ、かつ、加熱される回路基板をＸ線解析するのに適用して好適な、ヒータユニットを提供する。

• 公開日：2009/04/09
• 出典：ヒータユニット及びＸ線解析装置
• 出願人：株式会社ブリヂストン

Ｘ線解析システムでは、高いＸ線ビーム強度および小さいビームのスポット・サイズが、試料の露光時間の短縮と空間分解能を向上させおよびその結果として信号対背景雑音比とＸ線解析測定の全体の品質の改善させるために、重要である。過去においては、回転陽極Ｘ線管またはシンクロトロンのような高価で強力なＸ線源だけが、高強度Ｘ線ビームを発生させるために利用可能な選択肢であった。最近のＸ線光学系装置の発展によって、Ｘ線源から発散するＸ線を集束させることによって集めることが可能になった。Ｘ線集束光学系と、小さな低パワーのＸ線源との組み合わせは、より高価な装置を用いて達成されるのと同等の強度を持つＸ線ビームを作り出すこ...

• 登録日：2013/07/12
• 出典：それぞれの結晶方位を持つ多層を有するＸ線集束光学系及びこの光学系を形成する方法
• 出願人：エックス−レイオプティカルシステムズ，インコーポレイテッド

簡素な構造でありながら空間分解能が高いＸ線解析装置を提供する。

• 公開日：2010/07/08
• 出典：Ｘ線解析装置
• 出願人：本田技研工業株式会社

本発明は多数の試料を効率的に精度良く測定するＸ線解析装置を提供する。

• 公開日：1999/04/09
• 出典：Ｘ線解析装置
• 出願人：株式会社リコー

Ｘ線解析用の蛋白結晶を能率良く観察できる装置を提供する。

• 公開日：2007/08/30
• 出典：蛋白結晶観察装置
• 出願人：株式会社ハイロックス

前記リチウムイオンのドープ・脱ドープが可能な炭素材料が、Ｘ線解析で測定した（００２）面における面間隔距離（ｄ００２）が、０．３４０ｎｍ以下であることを特徴とする請求項１２記載のリチウムイオン二次電池。

• 公開日：2000/10/20
• 出典：非水電解液およびそれを用いた二次電池
• 出願人：三井化学株式会社

さらに、インピーダンス測定だけでなく、電気化学測定と同期して、他のオペランド測定を組み合わせても良い。他のオペランド測定としては、中性子線回折解析、Ｘ線回折解析、Ｘ線吸収微細構造解析、Ｘ線光電子分光解析、赤外線分光分析、紫外線分光分析、ラマン分光分析および光学顕微鏡や電子顕微鏡観察などの、Ｘ線解析、分光分析および顕微鏡観察などがあげられる。

• 公開日：2020/03/26
• 出典：電気化学システム、および、電気化学システムの作動方法
• 出願人：学校法人早稲田大学

偏光子がＸ線解析測定においてブラッグピークを示す、請求項１〜８のいずれかに記載の偏光フィルム。

• 公開日：2020/03/26
• 出典：偏光フィルム並びにそれを含む偏光板および表示装置
• 出願人：住友化学株式会社

図４は、試料１，２のＳＥＭ画像である、これによれば、試料１，２とも、上記成膜条件での成膜によりその表面に約１４０ｎｍの膜厚でＩＴＯ膜が形成されている。この場合、図４（ａ）に示す試料１では、針状構造で内部に空間を多く持つことが判る。そして、試料１に対してＸ線解析法によりその結晶構造解析すると、特に図示して説明しないが、（４００）方位に支配的に配向していることが確認された。他方、図４（ｂ）に示す試料２では、多配向結晶化膜の表面に、試料１と同様のＩＴＯ膜が形成されているが、特に界面において、上記と比較して太い針状構造を持つものに変化していることが確認された。試料２に対してＸＲＤ分析すると、試料１と同...

• 公開日：2020/03/19
• 出典：成膜装置用の部品及び成膜準備方法
• 出願人：株式会社アルバック