X線回折装置 の意味・用法を知る
X線回折装置 とは、放射線を利用した材料分析 やその他の放射線取扱い などの分野において活用されるキーワードであり、株式会社リガク や株式会社島津製作所 などが関連する技術を4,955件開発しています。
このページでは、 X線回折装置 を含む技術文献に基づき、その意味・用法のみならず、活用される分野や市場、法人・人物などを網羅的に把握することができます。
X線回折装置の意味・用法
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分析可能な部位のサイズを限定しないX線回折装置およびその駆動方法を提供すること。
- 公開日:2014/09/29
- 出典:X線回折装置およびX線回折装置駆動方法
- 出願人:プロトマニュファクチャリングリミテッド
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本発明は、X線回折装置や蛍光X線分析装置やX線吸収スペクトル測定装置等のX線分析装置に用いられるX線検出器の感度補正係数算出システムに関し、特に、試料に特性X線を照射し、試料によって回折されたX線を検出して試料成分の定性・定量分析を行うX線回折装置に関する。
- 公開日:2015/08/24
- 出典:X線回折装置およびX線回折装置の感度補正方法
- 出願人:株式会社島津製作所
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X線トポグラフを求めるX線回折装置においてX線トポグラフの平面領域内の位置を明確に特定できるようにする。光学顕微鏡、イメージングデバイス等によって捕えることができない光学的に透明な物質を可視化して測定対象とする。
- 公開日:2012/06/28
- 出典:X線回折装置及びX線回折測定方法
- 出願人:株式会社リガク
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2次元検出器を用いた場合であっても極点図測定を正確に行うことが可能なX線回折装置を提供する。
- 公開日:2012/06/14
- 出典:X線回折装置、X線回折装置のデータ解析方法、X線回折装置の制御方法およびその方法を実現するためのプログラム
- 出願人:住友電気工業株式会社
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従来は測定し難かった測定対象物であっても容易に測定できるX線回折装置及びX線回折の測定方法を提供する。
- 公開日:2012/05/31
- 出典:X線回折装置及びX線回折の測定方法
- 出願人:日立GEニュークリア・エナジー株式会社
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X線回折装置において異なる波長のX線に基づいた測定データを1回の測定によって同時に取得できるようにする。異なる波長の回折線のデータを2次元検出器の受光面の全領域を使って取得することを可能とする。
- 公開日:2012/01/19
- 出典:波長分別型X線回折装置
- 出願人:株式会社リガク
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測定試料およびX線照射装置の姿勢を制御する駆動機構を有さず、測定可能な試料の大きさや形状に特段の制約がなく、測定面上に標準試料を安定して固定することができ、かつX線回折測定を行う際にX線の漏洩が防止されたX線回折装置を提供する。
- 公開日:2013/02/28
- 出典:X線回折装置
- 出願人:日立GEニュークリア・エナジー株式会社
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本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、使用する試料ホルダの相違を全く意識することなく、効率的に測定を行うことができるX線回折装置を提供することである。
- 公開日:2007/05/17
- 出典:X線回折装置
- 出願人:株式会社島津製作所
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X線回折装置において、試料の形状や厚みに係わらず任意の形状や厚みの試料を固定する。
- 公開日:2002/05/17
- 出典:X線回折装置
- 出願人:株式会社島津製作所
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X線回折装置において、簡易な構成によって正確で容易な高さ方向の調整、及び試料面の傾き調整を行う。
- 公開日:2002/04/26
- 出典:X線回折装置
- 出願人:株式会社島津製作所
X線回折装置の原理 に関わる言及
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X線回折装置においては、通常、測定対象である試料にX線を照射し、そのときに試料で回折したX線、すなわち回折X線のX線強度をX線検出器によって検出する。このX線回折装置に用いられるX線検出器として、いわゆる点状X線検出器及び線状X線検出器が知られている。
- 公開日: 1999/01/12
- 出典: 線状X線検出器を備えたX線回折装置
- 出願人: 株式会社リガク
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ところで、従来、微小試料に関する結晶構造等を分析するためのX線装置として微小部X線回折装置が知られている。この微小部X線回折装置について簡単に説明すれば次の通りである。
- 公開日: 2001/11/09
- 出典: X線回折装置
- 出願人: 株式会社リガク
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X線分析装置は、試料へX線を照射したときに該試料から出るX線、例えば回折線、散乱線、蛍光X線等の状態に基づいて、試料の結晶構造、分子構造等を分析する装置である。このようなX線分析装置として、例えば、試料から発生する回折線の回折角度及び回折線強度を測定するX線回折装置や、試料から発生する散乱線の角度及び強度を測定するX線散乱装置や、試料から発生する蛍光X線を測定する蛍光X線装置等が知られている。
- 公開日: 2010/08/05
- 出典: X線分析及び熱分析同時分析装置
- 出願人: 株式会社リガク
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X線回折装置、蛍光X線装置、X線小角散乱装置等といったX線分析装置においては、X線発生装置から発生するX線が分析対象である試料に照射される。一般のX線発生装置では、陰極から発生した電子を対陰極の表面に衝突させることにより、その対陰極の表面からX線を発生させている。電子が衝突する領域、すなわちX線が発生する領域は、通常、X線焦点と呼ばれている。
- 公開日: 2008/11/06
- 出典: X線発生装置及びX線分析装置
- 出願人: 株式会社リガク
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しかしながら、従来のX線回折装置と蛍光X線分析装置は、それぞれ専用の分析装置として構成されており、一台の分析装置でX線回折測定と蛍光X線分析とを実施できるものはなかった。このため、X線回折測定と蛍光X線分析とを併せて実施しようとした場合、これらX線回折装置と蛍光X線分析装置の双方を揃えなければならず、多額の設備コストがかかり経済的負担が大きいという問題があった。
- 公開日: 1997/10/03
- 出典: X線分析装置および蛍光X線分析用アタッチメント
- 出願人: 株式会社リガク
X線回折装置の問題点 に関わる言及
X線回折装置の使用状況 に関わる言及
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放射線を利用した材料分析
- 試料入射粒子(源),刺激(含意図外,直分析外)
- 利用,言及生起現象;分折手法(含意図外、直分析外)
- 試料出射粒子(含意図外,直分析外)
- 検出器関連言及
- 分光;弁別(E,λ;e/m;粒子)
- 信号処理とその周辺手段(測定出力提供とその精度向上関連
- 測定内容;条件;動作等関連変数,量ψ
- 表示;記録;像化;観察;報知等
- 制御;動作;調整;安定化;監視;切換;設定等
- 分析の目的;用途;応用;志向
- 対象試料言及(物品レベル)
- 試料形状言及
- 検出;定量;着目物質とその構成元素;関連特定状態等
- 測定前後の試料の動き
- 試料保特,収容手段;状態等
- 試料作成;調製;試料及び他部分に対する処理;措置等
- 機能要素;部品素子;技術手段要素等;雑特記事項その他
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温度及び熱量の測定
- 遠隔指示のための回路
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- 温度計の種類
- 測温対象機器
- 熱時定数の減少,増加
- 温度センサの種類
- 積算するための原理
- ガラス温度計の構造
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- 温度検出器の基部,封止,貫通
- 高周波加熱装置の温度検出器
- 電子体温計の構造
- ディジタル回路
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- 温度センサーの数
- 回路の構成要素
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- サーミスタ温度検出器の構造
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- 形状変化の検出手段
- 測定原理
- 短絡,断路の形成
- 構造,溶融物質の材料
- 液晶温度計,サーモペイント
- 光学的変化の検出
- 音の伝搬速度,測温対象
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- 流体の存在場所
- 試験,較正
- 温度差と流量の測定
- 熱流計