透過型電子顕微鏡 の意味・用法を知る
透過型電子顕微鏡 とは、電子顕微鏡(3) やサンプリング、試料調製 などの分野において活用されるキーワードであり、株式会社日立ハイテクサイエンス やルネサスエレクトロニクス株式会社 などが関連する技術を6,261件開発しています。
このページでは、 透過型電子顕微鏡 を含む技術文献に基づき、その意味・用法のみならず、活用される分野や市場、法人・人物などを網羅的に把握することができます。
透過型電子顕微鏡の意味・用法
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低製造コストであり、 透過型電子顕微鏡 に用いた場合に高分解能観察可能で、局在プラズモン共鳴も発現する液体観察環境セル装置を提供すること。
- 公開日:2015/07/23
- 出典:透過型電子顕微鏡及び局在プラズモン共鳴発現用液体観察環境セル装置及びその製造方法
- 出願人:国立大学法人東京工業大学
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本回転機構により、 透過型電子顕微鏡 により観察する場合と集束イオンビーム装置により透過型電子顕微鏡用試料を作製する場合の試料の配置を回転することができる。
- 公開日:2013/08/08
- 出典:電子顕微鏡用試料ホルダ
- 出願人:株式会社日立ハイテクサイエンス
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ナノチューブに特定元素を含むフラーレンまたは特定元素を含むフラーレン誘導体を複数内包するナノチューブ複合体を 透過型電子顕微鏡 に付随した元素分析装置の検出感度測定用標準試料として用いる。
- 公開日:2013/06/13
- 出典:透過型電子顕微鏡に付随した元素分析装置の検出感度測定用標準試料
- 出願人:独立行政法人産業技術総合研究所
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本発明は、 透過型電子顕微鏡 ,走査透過型電子顕微鏡等の試料の搬送装置に関し、特に、大気に曝す時間を最小限に抑え、透過型電子顕微鏡,走査透過型電子顕微鏡内に挿入することを可能にするための試料搬送装置に関する。
- 公開日:2011/08/11
- 出典:試料搬送装置
- 出願人:ルネサスエレクトロニクス株式会社
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本発明は 透過型電子顕微鏡 の自動最適合焦点調整方法及び装置に関し、最適合焦点位置を確実に検出することを目的としている。
- 公開日:2010/11/04
- 出典:透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整装置
- 出願人:日本電子株式会社
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電子分光器および 透過型電子顕微鏡 を用いて、エネルギー損失量と位置情報の軸が直交する二軸で形成されスペクトル像において、エネルギー損失量と位置情報の軸が直交する二軸で形成される二次元の電子線位置像から算出される電子線位置を基準電子線位置と比較し、各電子線位置の相違点に基づき、歪み量を算出することにより、分析対象試料のスペクトル像の歪みを高効率かつ高精度に補正する。
- 公開日:2010/06/24
- 出典:電子分光器を備えた透過型電子顕微鏡
- 出願人:株式会社日立ハイテクサイエンス
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透過型電子顕微鏡 で生体試料を観察するための高性能かつ、安全で、容易に取り扱うことができる電子染色剤、染色液および電子染色方法を提供する。
- 公開日:2011/06/09
- 出典:電子染色剤、染色液および電子染色方法
- 出願人:国立大学法人東京大学
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収差の影響を回避した連続視野像を撮影することができる 透過型電子顕微鏡 を提供する。
- 公開日:2008/11/20
- 出典:透過型電子顕微鏡及び撮影方法
- 出願人:株式会社日立ハイテクサイエンス
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具体的に、ソフトウェアは 透過型電子顕微鏡 1から現在のモードを読み取り、「次のモードに遷移」と書かれたボタン、「確認作業開始」と書かれたボタン、「終了」と書かれたボタンを表示する。
- 公開日:2007/09/20
- 出典:自動遷移ボタンを用いたヒステリシス除去方法
- 出願人:日本電子株式会社
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なお、光学顕微鏡に代えて、走査型電子顕微鏡(SEM)または 透過型電子顕微鏡 (TEM)を用いることも出来る。
- 公開日:2008/03/06
- 出典:成形品およびその製造方法
- 出願人:東レ株式会社
透過型電子顕微鏡の特徴 に関わる言及
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反射率の測定には、例えば分光光度計を用いる。分光光度計等の反射率測定器は、 透過型電子顕微鏡 及びX線電子分光測定器よりはるかに安価、小型で、測定も簡単であり、測定時間も短時間で済む。反射率測定器は測定精度も十分に高い。
- 公開日: 2000/09/14
- 出典: カーボン膜の膜厚測定方法及び磁気記録媒体の製造方法
- 出願人: 株式会社JVCケンウッド
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また、走査型電子顕微鏡、 透過型電子顕微鏡 、電界放出型電子顕微鏡などの電子顕微鏡、電子ビーム露光装置、電子ビーム描画装置などの荷電粒子ビーム装置に、上述した荷電粒子ビーム発生装置を設けてもよい。
- 公開日: 2008/10/16
- 出典: 荷電粒子ビーム発生装置
- 出願人: 株式会社トプコン
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放射線を利用した材料分析
- 試料入射粒子(源),刺激(含意図外,直分析外)
- 利用,言及生起現象;分折手法(含意図外、直分析外)
- 試料出射粒子(含意図外,直分析外)
- 検出器関連言及
- 分光;弁別(E,λ;e/m;粒子)
- 信号処理とその周辺手段(測定出力提供とその精度向上関連
- 測定内容;条件;動作等関連変数,量ψ
- 表示;記録;像化;観察;報知等
- 制御;動作;調整;安定化;監視;切換;設定等
- 分析の目的;用途;応用;志向
- 対象試料言及(物品レベル)
- 試料形状言及
- 検出;定量;着目物質とその構成元素;関連特定状態等
- 測定前後の試料の動き
- 試料保特,収容手段;状態等
- 試料作成;調製;試料及び他部分に対する処理;措置等
- 機能要素;部品素子;技術手段要素等;雑特記事項その他