走査型電子顕微鏡 の意味・用法を知る
走査型電子顕微鏡 とは、電子顕微鏡(3) や電子顕微鏡2 などの分野において活用されるキーワードであり、株式会社日立ハイテクサイエンス や日立化成株式会社 などが関連する技術を106,318件開発しています。
このページでは、 走査型電子顕微鏡 を含む技術文献に基づき、その意味・用法のみならず、活用される分野や市場、法人・人物などを網羅的に把握することができます。
走査型電子顕微鏡の意味・用法
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走査型電子顕微鏡 の品質を客観的に評価するための標準試料を提供する。
- 公開日:2015/10/08
- 出典:走査型電子顕微鏡用標準試料、その製造方法、走査型電子顕微鏡の評価方法、及びSiC基板の評価方法。
- 出願人:学校法人関西学院
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実施例2で得られた球状シリカ系メソ多孔体の 走査型電子顕微鏡 写真である。
- 公開日:2016/10/20
- 出典:球状シリカ系メソ多孔体及びその製造方法
- 出願人:株式会社豊田中央研究所
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図1は、本発明の一つの例示的な実施形態による、倍率1000xで撮った例示的なePTFE繊維の上面の 走査型電子顕微鏡 写真(SEM)である。
- 公開日:2016/10/06
- 出典:適合性微多孔繊維及びこれを含む織物
- 出願人:ダブリュ.エル.ゴアアンドアソシエイツ,インコーポレイティド
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スパッタイオンポンプを主とする真空装置であって、スパッタイオンポンプを小型化してもなお所定の排気速度と真空到達度とを維持する小型の真空装置を備える 走査型電子顕微鏡 を提供する。
- 公開日:2016/06/20
- 出典:走査型電子顕微鏡
- 出願人:株式会社TCK
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比較例6で製造される多孔質体の断面の 走査型電子顕微鏡 写真である。
- 公開日:2015/09/24
- 出典:創傷被覆材
- 出願人:日立化成株式会社
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実施例のマイクロエッチング剤により粗化処理された圧延銅表面の 走査型電子顕微鏡 写真(撮影角度45°、倍率3500倍)。
- 公開日:2017/08/31
- 出典:銅のマイクロエッチング剤および配線基板の製造方法
- 出願人:メック株式会社
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本発明は、電子線透過膜に付着するコンタミネーションを軽減することのできる 走査型電子顕微鏡 を提供する。
- 公開日:2016/11/24
- 出典:走査型電子顕微鏡
- 出願人:株式会社テクネックス工房
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本願発明は、電子線透過膜を有する 走査型電子顕微鏡 に使用される電子線放射管に関する。
- 公開日:2016/05/16
- 出典:電子線放射管
- 出願人:株式会社テクネックス工房
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ステージに載置した試料上に集束させた電子ビームを照射して走査する電子光学系を備えて試料を撮像する 走査型電子顕微鏡 と、この走査型電子顕微鏡を制御すると共に走査型電子顕微鏡で撮像して得た画像を処理する画像処理・制御部とを備えた走査型電子顕微鏡を用いた処理装置において、走査型電子顕微鏡の電子光学系は、ステージを停止させた状態で集束させた電子ビームを試料上に照射する位置を移動させて試料の撮像領域をシフトさせる静電電極で構成されたイメージシフト電極を備えて構成した。
- 公開日:2015/02/19
- 出典:走査型電子顕微鏡を用いた処理装置及び処理方法
- 出願人:株式会社日立ハイテクサイエンス
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本発明の多孔質体の断面の 走査型電子顕微鏡 写真である。
- 公開日:2016/02/25
- 出典:手術用衛生材料
- 出願人:日立化成株式会社
走査型電子顕微鏡の原理 に関わる言及
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はじめに、測長機能を備えた 走査型電子顕微鏡 の構成について説明する。次に、パターンの高精度な測長について説明する。次に、測長機能を備えた走査型電子顕微鏡を用いた試料寸法測長方法について説明する。
- 公開日: 2010/06/24
- 出典: 測長機能を備えた走査型電子顕微鏡及び試料寸法測長方法
- 出願人: 株式会社アドバンテスト
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次に、図18を参照して、第9の実施の形態における 走査型電子顕微鏡 の寸法校正方法について説明する。図18は、第9の実施の形態における走査型電子顕微鏡の寸法校正方法の説明に供する図である。
- 公開日: 1998/05/29
- 出典: 電子ビーム検出方法、走査型電子顕微鏡の電子ビーム検出方法、走査型電子顕微鏡の寸法校正方法、電子ビーム検出装置、走査型電子顕微鏡の寸法校正装置
- 出願人: 沖電気工業株式会社
走査型電子顕微鏡の特徴 に関わる言及
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本例の透過 走査型電子顕微鏡 によって、透過像、透過走査像、走査像、元素分布像、蛍光像、等が得られる。透過走査像、走査像、元素分布像、及び、蛍光像を走査像と総称する。
- 公開日: 2007/08/30
- 出典: 電子顕微鏡
- 出願人: 株式会社日立ハイテクノロジーズ
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また、 走査型電子顕微鏡 、透過型電子顕微鏡、電界放出型電子顕微鏡などの電子顕微鏡、電子ビーム露光装置、電子ビーム描画装置などの荷電粒子ビーム装置に、上述した荷電粒子ビーム発生装置を設けてもよい。
- 公開日: 2008/10/16
- 出典: 荷電粒子ビーム発生装置
- 出願人: 株式会社トプコン
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このようにして作製した針状体アレイを 走査型電子顕微鏡 にて観察したところ、当該針状体アレイは、全て均一な複数の円錐形の針状体を基体の第一の面に具備することが確認された。
- 公開日: 2009/11/05
- 出典: 針状体アレイ原版の製造方法
- 出願人: 凸版印刷株式会社
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放射線を利用した材料分析
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- 表示;記録;像化;観察;報知等
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- 分析の目的;用途;応用;志向
- 対象試料言及(物品レベル)
- 試料形状言及
- 検出;定量;着目物質とその構成元素;関連特定状態等
- 測定前後の試料の動き
- 試料保特,収容手段;状態等
- 試料作成;調製;試料及び他部分に対する処理;措置等
- 機能要素;部品素子;技術手段要素等;雑特記事項その他