縮退故障 の意味・用法を知る

従来に比べて短い試験時間で、可変遅延制御回路で発生した 縮退故障 の有無を診断する。

• 公開日：2017/02/23
• 出典：可変遅延制御回路の縮退故障診断方法および可変遅延制御回路を有するメモリコントローラ
• 出願人：富士通株式会社

縮退故障 を有するメモリセルに対応するためのデータ符号化及び復号化を提供する。

• 公開日：2014/05/01
• 出典：縮退故障を有するメモリセルに対応するためのデータ符号化及び復号化
• 出願人：エイチジーエスティーネザーランドビーブイ

縮退故障 を有するメモリセル内にビットを記憶するための技術を提供する。

• 公開日：2014/06/30
• 出典：縮退故障を有するメモリセル内にビットを記憶するための技術
• 出願人：エイチジーエスティーネザーランドビーブイ

制御回路は、メモリセル内の所定の 縮退故障 の対応するもののビット位置に基づき、所定の縮退故障のそれぞれについて二項係数を計算するように動作する。

• 公開日：2014/06/30
• 出典：組合せ数体系を用いて符号化および復号するための方法
• 出願人：エイチジーエスティーネザーランドビーブイ

メモリ回路の 縮退故障 および遅延故障のテストを低コストで実施可能な半導体集積回路を提供する。

• 公開日：2007/04/12
• 出典：半導体集積回路、設計支援ソフトウェアシステム、および、テストパターン自動生成システム
• 出願人：株式会社東芝

すなわち、たとえばフリップフロップｆ２の出力ｂ２の１ 縮退故障 も、フリップフロップｆ３の出力ｂ３の１縮退故障も、出力端子ｂ０からのスキャン出力には、同じ論理値「１」が出力され、区別することができない。

• 公開日：2004/12/24
• 出典：スキャンパス回路およびそれを備える論理回路ならびに集積回路のテスト方法
• 出願人：シャープ株式会社

本発明の他の目的は、２つの電源電流の測定点で 縮退故障 について１００％の故障検出率を得るＣＭＯＳ集積回路を提供することである。

• 公開日：1998/11/04
• 出典：半導体装置
• 出願人：日本電気株式会社

ゲートの入出力の 縮退故障 だけでなく、ゲート内部の縮退故障や短絡故障についても短時間に故障箇所の絞り込みを行う。

• 公開日：1996/11/22
• 出典：故障診断システム
• 出願人：日本電気株式会社

...Ｂに応じて組み合わせ回路１０２の出力を保持するフリップフロップ１０３と、セレクタ１０８の出力をクロックとして動作しセレクタ１０８の出力に応じて出力を反転させるフリップフロップ１０５と、クロック信号ＣＬＫＢに応じてフリップフロップ１０５の出力を保持するフリップフロップ１０６とを有し、信号線Ｓ１０２に１ 縮退故障 があると、スキャンテストのキャプチャー動作時にフリップフロップ１０５の出力が反転することで縮退故障が検出可能になる。

• 公開日：2014/12/04
• 出典：半導体集積回路
• 出願人：株式会社ソシオネクスト

...する。つまりテスタ２と外部端子１ａとを電気的に接続する。この接続状態において、制御回路６が通常モードを無効としテストモードを有効にする。半導体集積回路１は、テストモードにおいて、検査用の制御データを組合せロジック回路８ａに入力させ、この制御データに対して適切な出力データを出力しているか否かを判定する 縮退故障 テスト、実際の入力データを組合せロジック回路８ａに入力させたときの反応処理速度をテストする実速度テスト、を実行する。 この第１実施形態では縮退故障テストについて図４を参照しながら説明する。 ＜縮退故障テスト＞

• 公開日：2019/12/12
• 出典：半導体集積回路
• 出願人：株式会社デンソー