線源 の意味・用法を知る
線源 とは、放射線の測定 や放射線診断機器 などの分野において活用されるキーワードであり、ルネサスエレクトロニクス株式会社 やシグニファイホールディングビーヴィ などが関連する技術を2,557件開発しています。
このページでは、 線源 を含む技術文献に基づき、その意味・用法のみならず、活用される分野や市場、法人・人物などを網羅的に把握することができます。
線源の意味・用法
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また、本発明の他の一観点に係る撮像装置は、放射線を放出する 線源 と、線源からの放射線を検出する放射線検出器と、線源と放射線検出器の間に配置される位置校正用プレートと、を備えた撮像装置であって、位置校正用プレートは、少なくとも一対の対抗する辺において異なる形状の凹凸が形成された枠部材を複数重ね合わせた位置校正用プレートである。
- 公開日:2017/12/28
- 出典:位置校正用プレート及びこれを用いた撮像装置並びに位置校正方法
- 出願人:国立大学法人千葉大学
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画像再構成の後に重み付けを適用することの1つの知られた不利益は、所与の 線源 による十分な角度の有効範囲を有する体積要素(ボクセル)のみが、当該線源に対する画像ボクセルを提供する
- 登録日:2020/06/16
- 出典:コンピュータ断層撮影のための画像再構成
- 出願人:アリネータ・リミテッド
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円筒 線源 は余りにも大きく、各LORに沿って線源が広い範囲内に分散される。
- 公開日:2017/11/02
- 出典:PET検出器のタイミング較正
- 出願人:シグニファイホールディングビーヴィ
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本発明の第二実施形態に係る画像取得装置のナノ画像生成手段で生成した測定対象物のナノ 線源 画像をマイクロ線源画像とともに表示した状態を示す図である。
- 公開日:2017/01/05
- 出典:画像取得装置及び画像取得方法並びに画像補正プログラム
- 出願人:地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
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線源 の位置を正確かつ迅速に決定することができる核医学イメージング装置を提供すること。
- 公開日:2016/10/20
- 出典:PET装置
- 出願人:東芝メディカルシステムズ株式会社
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小規模な構造で 線源 からの中性子線を遮蔽し、中性子線遮蔽用のコンクリート壁の厚さを低減し得る中性子線遮蔽構造、局所遮蔽体、及び中性子線遮蔽方法を提供する。
- 公開日:2017/04/06
- 出典:中性子線遮蔽構造、及び中性子線遮蔽方法
- 出願人:株式会社安藤・間
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放射線検出器(5)は、遮蔽ケース(3)に設けられた取付穴(19)に取り付けられる放射線検出器であって、取付穴から挿入されて奥方に配置される検出素子(35)と、検出素子の後方でチェック 線源 (75)を保持可能な線源保持部材と、線源保持部材の後方で取付穴に設置される鉛ブロック(51)と、を備える構成にした。
- 公開日:2017/02/23
- 出典:放射線検出器及び放射線検出器の検査方法
- 出願人:富士電機株式会社
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直線性の放射線を照射する 線源 及び、前記放射線を検出する検出器を有し、少なくとも配管の中心位置測定用としての検出機能部と、前記検出機能部を前記配管の周囲に回転移動可能に支持するリング部材と、前記検出機能部を、前記配管から離した位置から、前記配管を介して前記線源と前記検出器とが対向する位置まで移動させることが可能な移動機構と、を有することを特徴とする配管検査装置。
- 公開日:2017/07/13
- 出典:配管検査方法、及び、配管検査装置
- 出願人:富士電機株式会社
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対消滅ターゲットは、ポジトロン放出放射性同位元素 線源 から所定の位置に配置される。
- 公開日:2014/12/08
- 出典:イメージングシステムおよび校正方法
- 出願人:東芝メディカルシステムズ株式会社
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請求項1に記載の感度補正方法において、前記第1感度係数算出工程では、複数の前記放射線検出素子に沿って回転可能な校正用棒状 線源 ,複数の前記放射線検出素子に沿って設けられた校正用リング線源または複数の前記放射線検出素子に沿って回転可能な校正用平板線源からの放射線を検出することで収集された同時計数データに基づいて、感度係数を感度要因別に分けて求めて、前記第2感度係数算出工程では、前記複数の放射線検出素子の配置の変化前に、校正用円筒線源からの放射線を検出することで収集された同時計数データに基づいて、非幾何学系因子の感度係数を求めることを特徴とする感度補正方法。
- 登録日:2019/11/01
- 出典:放射線検出素子の感度補正方法および放射線断層撮影装置
- 出願人:株式会社島津製作所
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放射線を利用した材料分析
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- 測定内容;条件;動作等関連変数,量ψ
- 表示;記録;像化;観察;報知等
- 制御;動作;調整;安定化;監視;切換;設定等
- 分析の目的;用途;応用;志向
- 対象試料言及(物品レベル)
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半導体の露光(電子、イオン線露光を除く)
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