測定条件 の意味・用法を知る

この測定装置では、現在測定された測定値、および既に測定された最大または最小の測定値にそれぞれ対応する 測定条件 が図形で表示される。このため、測定者は、表示部に表示されている測定値に対応する測定条件を直感的に理解することが可能となる。

• 公開日： 1998/09/14
• 出典： 漏れ電流計
• 出願人： 日置電機株式会社

しかし、経時や、熱的な変化などによって、反射特性測定装置の測定特性が変化した場合は、白色校正板を測定した 測定条件 と試料を測定する測定条件とが同一の測定条件ではなくなるため、測定特性が変化した反射特性測定装置を用いて再度白色校正を行うことが必要となる。

• 公開日： 2010/09/02
• 出典： 反射特性測定装置、反射特性測定装置の校正基準装置、および反射特性測定装置の校正基準板の劣化測定装置
• 出願人： コニカミノルタ株式会社

測定装置には通常その 測定条件 を各種入力するための測定条件入力操作部が設けられており、測定対象に対して適切な測定条件をこの測定条件操作部から入力設定して測定を行なう。

• 公開日： 1998/11/13
• 出典： 測定装置
• 出願人： アンリツ株式会社

副測定部から入力された 測定条件 は、データ通信手段を介して主測定部へ伝送される。主測定部は、副測定部から与えられた測定条件に基づいて自動測定を行ない、その測定結果をデータ通信手段を介して副測定部へ伝送する。副測定部は伝送された測定結果を、表示部に表示させる。

• 公開日： 1994/10/21
• 出典： アンテナ特性測定装置
• 出願人： 日本板硝子株式会社

そして光出力波形を見ながら変調光出力の変調度を変化させて、変調光出力波形が無歪状態にある最大変調度になしたときの光出力及びレーザ光の波長等を測定する。つまり、半導体レーザの光出力特性の検査は、レーザ光の変調光出力波形が、無歪であるときの最大変調度に達していることを 測定条件 としている。

• 公開日： 1995/03/10
• 出典： 変調光出力の変調度検出方法及び変調光出力の変調度検出装置
• 出願人： 三洋電機株式会社

生体を光学測定するに際して、被測定部位および測定光学系に対する被測定部位の相対位置などを再現した 測定条件 下で光学測定し、ばらつきの少ない精度の高い生体情報測定値を得ること。

• 公開日： 1997/05/13
• 出典： 測定条件再現具およびそれを利用した生体情報測定装置
• 出願人： アークレイ株式会社

また、分析試料について蛍光Ｘ線分析装置による一斉定量分析を行う度に、標準試料についても分析試料と同じ蛍光Ｘ線分析装置による一斉定量分析を行うことにより、蛍光Ｘ線分析装置による蛍光Ｘ線分析における分析装置の特性などの経年変化、 測定条件 の変動等による分析データへの影響を評価することができるので、的確な組成分析を行うことが可能となる。

• 公開日： 2009/10/01
• 出典： 合金の組成分析方法及び組成分析装置
• 出願人： 富士電機株式会社

さらに、表面波伝播速度は被測定物の温度により変化するため、被測定物の表面波伝播速度を測定した時点と、周長を測定する時点の 測定条件 が変化した場合、表面波伝播速度の差により測定精度が悪化するという問題があった。

• 公開日： 1995/08/18
• 出典： 周長測定装置
• 出願人： ＪＦＥエンジニアリング株式会社

インクジェット記録装置に用いるインクの粘度を測定する、インクジェット記録装置に組み込まれた粘度測定装置は、部品を交換すると従来と 測定条件 が異なってしまい、粘度値を正しく検出できない。

• 公開日： 2004/04/30
• 出典： インクジェット記録装置
• 出願人： 株式会社日立産機システム

被測定物が移動する等の 測定条件 に対する設計制約が小さく、被測定物の定量的な表面歪分布を高速かつ高精度に求めることができる表面歪の測定装置及び測定方法を提供する。

• 公開日： 2010/09/30
• 出典： 表面歪の測定装置及び測定方法
• 出願人： ＪＦＥテクノリサーチ株式会社

用いたＸ線光電子分光測定装置、Ｘ線反射率法による膜厚測定方法、プラズマイオン注入装置、水蒸気透過率測定装置と 測定条件 、可視光透過率測定装置および以下の通りである。なお、用いたプラズマイオン注入装置は外部電界を用いてイオン注入する装置である。

• 公開日： 2013/07/08
• 出典： 透明導電性フィルムおよびその製造方法並びに透明導電性フィルムを用いた電子デバイス
• 出願人： リンテック株式会社

用いたＸ線光電子分光測定装置、Ｘ線反射率法による膜密度測定方法、プラズマイオン注入装置、水蒸気透過率測定装置と 測定条件 、酸素透過率測定装置と測定条件、全光線透過率測定装置、可視光線透過率測定装置は以下の通りである。なお、用いたプラズマイオン注入装置は外部電界を用いてイオン注入する装置である。

• 公開日： 2014/02/03
• 出典： 成形体、その製造方法、電子デバイス用部材及び電子デバイス
• 出願人： リンテック株式会社

用いたＸ線光電子分光測定装置、Ｘ線反射率法による膜密度測定方法、プラズマイオン注入装置、水蒸気透過率測定装置と 測定条件 、可視光透過率測定装置及び折り曲げ試験の方法は以下の通りである。なお、用いたプラズマイオン注入装置は外部電界を用いてイオン注入する装置である。

• 公開日： 2012/06/21
• 出典： 成形体、その製造方法、電子デバイス用部材及び電子デバイス
• 出願人： リンテック株式会社

用いたプラズマイオン注入装置、水蒸気透過率測定装置と 測定条件 、可視光透過率測定装置、耐屈曲性試験の方法、帯電圧測定装置、表面抵抗率測定装置、及び表面平滑性評価は以下の通りである。なお、用いたプラズマイオン注入装置は外部電界を用いてイオン注入する装置である。

• 公開日： 2012/09/27
• 出典： 成形体、その製造方法、電子デバイス用部材及び電子デバイス
• 出願人： リンテック株式会社

また、検査抵抗値Ｒｋが検査抵抗値Ｒｋの総和ＴＭの基準抵抗値ＲＳの総和ＳＭに対する比率で補正された補正抵抗値ＲＮｋとして判定されるため、被検査基板毎の製造条件、及び、被検査基板毎の検査抵抗値の 測定条件 の差が補正されることによって、検査抵抗値Ｒｋの良否が更に正確に判定される。

• 公開日： 2011/09/15
• 出典： 基板検査装置、及び基板検査方法
• 出願人： 日本電産リード株式会社

このように、本実施例の検査値換算プログラムによれば、入手容易なパラメータのみによって、一の 測定条件 で測定された検査値を、他の対象測定条件で測定される対象検査値と比較可能な値に簡単に換算することができる。また、本実施例の検査値換算プログラムによって算出された換算後検査値は、検査値の分布型に基づいて換算を行うものであるから、パラメータの数が少なくても相関法による換算値に匹敵する信頼性の高い換算後検査値が得られる。

• 公開日： 2009/08/06
• 出典： 健康診断の検査値換算プログラム
• 出願人： 小林クリエイト株式会社

このような輸送環境測定装置では、輸送環境測定装置の 測定条件 データを外部記録媒体にあらかじめ記録させておき、この測定条件データが輸送環境測定装置に転送される。また、輸送環境測定装置による測定データは外部記録媒体に記録される。これにより、輸送環境測定装置に対する直接的な操作入力を行わずに、輸送環境測定装置に対する測定条件の設定を行い、また外部記録媒体を取り出すことで測定データを得ることができるので、輸送環境データの測定における作業効率を向上させることができる。

• 公開日： 2002/12/04
• 出典： 輸送環境データ記録装置、輸送環境データ収集方法および輸送環境データ解析方法
• 出願人： ソニー株式会社