測定条件 の意味・用法を知る
測定条件 とは、放射線を利用した材料分析 や半導体等の試験・測定 などの分野において活用されるキーワードであり、株式会社島津製作所 やルネサスエレクトロニクス株式会社 などが関連する技術を24,135件開発しています。
このページでは、 測定条件 を含む技術文献に基づき、その意味・用法のみならず、活用される分野や市場、法人・人物などを網羅的に把握することができます。
測定条件の意味・用法
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最適な 測定条件 の異なる領域を含む対象物の表面について短時間で形状を測定することができる測定方法および測定プログラムを提供すること。
- 公開日:2017/08/31
- 出典:測定方法および測定プログラム
- 出願人:株式会社ミツトヨ
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しかし、 測定条件 ごとに、測定対象の状態が定常状態となるまで待って測定を行う場合、測定データの収集に時間がかかる。
- 公開日:2017/06/08
- 出典:情報処理装置、モデル生成プログラムおよびモデル生成方法
- 出願人:富士通株式会社
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取得部43は、出力された動作指示によりパラメータが 測定条件 に変更された制御対象の状態を示す測定データを取得する。
- 公開日:2016/09/05
- 出典:情報処理装置、測定データ取得プログラム、測定データ取得方法およびモデル生成方法
- 出願人:富士通株式会社
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ピクセル検出器で測定されたX線強度データを補正するデータ処理装置100であって、特定の検出器の各ピクセルの特性を記憶する特性記憶部130と、特定の検出器で測定された際のものとして入力された 測定条件 および各ピクセルの特性を表す値を、各ピクセルでのカウント値を表す近似式に適用し、近似式の計算結果を用いて、特定の検出器に対する補正テーブルを生成する補正テーブル生成部120と、生成された補正テーブルを用いて、特定の検出器で測定されたX線強度データを補正する補正部160と、を備える。
- 公開日:2017/08/03
- 出典:データ処理装置、各ピクセルの特性を求める方法ならびにデータ処理の方法およびプログラム
- 出願人:株式会社リガク
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本発明に係る信号処理装置は、第一の 測定条件 の光を被検体に照射することにより発生した第一の光音響波を検出することにより得られた第一の検出信号に基づき、第一の画像データを取得する第一の画像データ取得部と、第一の測定条件とは異なる第二の測定条件の光を被検体に照射することにより発生した第二の光音響波を検出することにより得られた第二の検出信号に基づき、第二の画像データを取得する第二の画像データ取得部と、第一の画像データと第二の画像データとを表示手段において比較できるように、第一の画像データと第二の画像データとを表示手段に出力する画像データ出力部と、を有する。
- 公開日:2017/08/10
- 出典:処理装置、処理方法、及びプログラム
- 出願人:キヤノン株式会社
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前記制御対象の動作に関するパラメータの値を定めた複数の 測定条件 を所定の順序に対応付けて生成すると共に、前記所定の順序で最後の測定条件から離れた追加の測定条件を生成する生成部と、前記追加の測定条件を折り返し点として、前記所定の順序および前記所定の順序とは逆の順序に沿って前記生成部により生成された測定条件ごとに、動作指示を出力する出力部と、をさらに有し、前記取得部は、前記所定の順序に前記測定条件ごとに出力される前記第1の測定データと、前記逆の順序に前記測定条件ごとに出力される前記第2の測定データを取得することを特徴とする請求項1〜4の何れか1つに記載の情報処理装置。
- 公開日:2016/09/05
- 出典:情報処理装置、モデル生成プログラムおよびモデル生成方法
- 出願人:富士通株式会社
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前記第1画面における前記被測定量を測定する際の 測定条件 に関する情報を示す測定条件画面を前記第1指示操作において指示する前記第2画面とする請求項1または2記載のデータ生成装置。
- 公開日:2016/05/09
- 出典:データ生成装置、測定装置およびデータ生成方法
- 出願人:日置電機株式会社
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安価な装置及び回路を使って測定した特性を基に、仕様上の 測定条件 を満たしたゲート電荷曲線を求める方法およびその試験装置を提供する。
- 公開日:2015/09/07
- 出典:パワーデバイスのゲート電荷測定方法及びパワーデバイスの特性測定装置
- 出願人:キーサイトテクノロジーズ,インク.
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本発明はこうした課題に鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、同一の試料に対し異なる 測定条件 の下等でそれぞれ測定を行って得られたデータに基づいて、同一化合物の測定結果や定量結果などを簡便に効率良く比較することができる分析データ解析装置及び分析データ解析用プログラムを提供する
- 登録日:2018/11/30
- 出典:分析データ解析装置及び分析データ解析用プログラム
- 出願人:株式会社島津製作所
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分析対象となる試料の 測定条件 をユーザが容易に決定することが可能なX線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラムの提供。
- 公開日:2017/02/09
- 出典:X線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラム
- 出願人:株式会社リガク
測定条件の原理 に関わる言及
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この測定装置では、現在測定された測定値、および既に測定された最大または最小の測定値にそれぞれ対応する 測定条件 が図形で表示される。このため、測定者は、表示部に表示されている測定値に対応する測定条件を直感的に理解することが可能となる。
- 公開日: 1998/09/14
- 出典: 漏れ電流計
- 出願人: 日置電機株式会社
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しかし、経時や、熱的な変化などによって、反射特性測定装置の測定特性が変化した場合は、白色校正板を測定した 測定条件 と試料を測定する測定条件とが同一の測定条件ではなくなるため、測定特性が変化した反射特性測定装置を用いて再度白色校正を行うことが必要となる。
- 公開日: 2010/09/02
- 出典: 反射特性測定装置、反射特性測定装置の校正基準装置、および反射特性測定装置の校正基準板の劣化測定装置
- 出願人: コニカミノルタ株式会社
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測定装置には通常その 測定条件 を各種入力するための測定条件入力操作部が設けられており、測定対象に対して適切な測定条件をこの測定条件操作部から入力設定して測定を行なう。
- 公開日: 1998/11/13
- 出典: 測定装置
- 出願人: アンリツ株式会社
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副測定部から入力された 測定条件 は、データ通信手段を介して主測定部へ伝送される。主測定部は、副測定部から与えられた測定条件に基づいて自動測定を行ない、その測定結果をデータ通信手段を介して副測定部へ伝送する。副測定部は伝送された測定結果を、表示部に表示させる。
- 公開日: 1994/10/21
- 出典: アンテナ特性測定装置
- 出願人: 日本板硝子株式会社
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そして光出力波形を見ながら変調光出力の変調度を変化させて、変調光出力波形が無歪状態にある最大変調度になしたときの光出力及びレーザ光の波長等を測定する。つまり、半導体レーザの光出力特性の検査は、レーザ光の変調光出力波形が、無歪であるときの最大変調度に達していることを 測定条件 としている。
- 公開日: 1995/03/10
- 出典: 変調光出力の変調度検出方法及び変調光出力の変調度検出装置
- 出願人: 三洋電機株式会社
測定条件の問題点 に関わる言及
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生体を光学測定するに際して、被測定部位および測定光学系に対する被測定部位の相対位置などを再現した 測定条件 下で光学測定し、ばらつきの少ない精度の高い生体情報測定値を得ること。
- 公開日: 1997/05/13
- 出典: 測定条件再現具およびそれを利用した生体情報測定装置
- 出願人: アークレイ株式会社
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また、分析試料について蛍光X線分析装置による一斉定量分析を行う度に、標準試料についても分析試料と同じ蛍光X線分析装置による一斉定量分析を行うことにより、蛍光X線分析装置による蛍光X線分析における分析装置の特性などの経年変化、 測定条件 の変動等による分析データへの影響を評価することができるので、的確な組成分析を行うことが可能となる。
- 公開日: 2009/10/01
- 出典: 合金の組成分析方法及び組成分析装置
- 出願人: 富士電機株式会社
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さらに、表面波伝播速度は被測定物の温度により変化するため、被測定物の表面波伝播速度を測定した時点と、周長を測定する時点の 測定条件 が変化した場合、表面波伝播速度の差により測定精度が悪化するという問題があった。
- 公開日: 1995/08/18
- 出典: 周長測定装置
- 出願人: JFEエンジニアリング株式会社
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インクジェット記録装置に用いるインクの粘度を測定する、インクジェット記録装置に組み込まれた粘度測定装置は、部品を交換すると従来と 測定条件 が異なってしまい、粘度値を正しく検出できない。
- 公開日: 2004/04/30
- 出典: インクジェット記録装置
- 出願人: 株式会社日立産機システム
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被測定物が移動する等の 測定条件 に対する設計制約が小さく、被測定物の定量的な表面歪分布を高速かつ高精度に求めることができる表面歪の測定装置及び測定方法を提供する。
- 公開日: 2010/09/30
- 出典: 表面歪の測定装置及び測定方法
- 出願人: JFEテクノリサーチ株式会社
測定条件の特徴 に関わる言及
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用いたX線光電子分光測定装置、X線反射率法による膜厚測定方法、プラズマイオン注入装置、水蒸気透過率測定装置と 測定条件 、可視光透過率測定装置および以下の通りである。なお、用いたプラズマイオン注入装置は外部電界を用いてイオン注入する装置である。
- 公開日: 2013/07/08
- 出典: 透明導電性フィルムおよびその製造方法並びに透明導電性フィルムを用いた電子デバイス
- 出願人: リンテック株式会社
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用いたX線光電子分光測定装置、X線反射率法による膜密度測定方法、プラズマイオン注入装置、水蒸気透過率測定装置と 測定条件 、酸素透過率測定装置と測定条件、全光線透過率測定装置、可視光線透過率測定装置は以下の通りである。なお、用いたプラズマイオン注入装置は外部電界を用いてイオン注入する装置である。
- 公開日: 2014/02/03
- 出典: 成形体、その製造方法、電子デバイス用部材及び電子デバイス
- 出願人: リンテック株式会社
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用いたX線光電子分光測定装置、X線反射率法による膜密度測定方法、プラズマイオン注入装置、水蒸気透過率測定装置と 測定条件 、可視光透過率測定装置及び折り曲げ試験の方法は以下の通りである。なお、用いたプラズマイオン注入装置は外部電界を用いてイオン注入する装置である。
- 公開日: 2012/06/21
- 出典: 成形体、その製造方法、電子デバイス用部材及び電子デバイス
- 出願人: リンテック株式会社
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用いたプラズマイオン注入装置、水蒸気透過率測定装置と 測定条件 、可視光透過率測定装置、耐屈曲性試験の方法、帯電圧測定装置、表面抵抗率測定装置、及び表面平滑性評価は以下の通りである。なお、用いたプラズマイオン注入装置は外部電界を用いてイオン注入する装置である。
- 公開日: 2012/09/27
- 出典: 成形体、その製造方法、電子デバイス用部材及び電子デバイス
- 出願人: リンテック株式会社
測定条件の使用状況 に関わる言及
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また、検査抵抗値Rkが検査抵抗値Rkの総和TMの基準抵抗値RSの総和SMに対する比率で補正された補正抵抗値RNkとして判定されるため、被検査基板毎の製造条件、及び、被検査基板毎の検査抵抗値の 測定条件 の差が補正されることによって、検査抵抗値Rkの良否が更に正確に判定される。
- 公開日: 2011/09/15
- 出典: 基板検査装置、及び基板検査方法
- 出願人: 日本電産リード株式会社
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このように、本実施例の検査値換算プログラムによれば、入手容易なパラメータのみによって、一の 測定条件 で測定された検査値を、他の対象測定条件で測定される対象検査値と比較可能な値に簡単に換算することができる。また、本実施例の検査値換算プログラムによって算出された換算後検査値は、検査値の分布型に基づいて換算を行うものであるから、パラメータの数が少なくても相関法による換算値に匹敵する信頼性の高い換算後検査値が得られる。
- 公開日: 2009/08/06
- 出典: 健康診断の検査値換算プログラム
- 出願人: 小林クリエイト株式会社
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このような輸送環境測定装置では、輸送環境測定装置の 測定条件 データを外部記録媒体にあらかじめ記録させておき、この測定条件データが輸送環境測定装置に転送される。また、輸送環境測定装置による測定データは外部記録媒体に記録される。これにより、輸送環境測定装置に対する直接的な操作入力を行わずに、輸送環境測定装置に対する測定条件の設定を行い、また外部記録媒体を取り出すことで測定データを得ることができるので、輸送環境データの測定における作業効率を向上させることができる。
- 公開日: 2002/12/04
- 出典: 輸送環境データ記録装置、輸送環境データ収集方法および輸送環境データ解析方法
- 出願人: ソニー株式会社
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放射線を利用した材料分析
- 試料入射粒子(源),刺激(含意図外,直分析外)
- 利用,言及生起現象;分折手法(含意図外、直分析外)
- 試料出射粒子(含意図外,直分析外)
- 検出器関連言及
- 分光;弁別(E,λ;e/m;粒子)
- 信号処理とその周辺手段(測定出力提供とその精度向上関連
- 測定内容;条件;動作等関連変数,量ψ
- 表示;記録;像化;観察;報知等
- 制御;動作;調整;安定化;監視;切換;設定等
- 分析の目的;用途;応用;志向
- 対象試料言及(物品レベル)
- 試料形状言及
- 検出;定量;着目物質とその構成元素;関連特定状態等
- 測定前後の試料の動き
- 試料保特,収容手段;状態等
- 試料作成;調製;試料及び他部分に対する処理;措置等
- 機能要素;部品素子;技術手段要素等;雑特記事項その他