検査対象 の意味・用法を知る
検査対象 とは、光学的手段による材料の調査の特殊な応用 や光学的手段による測長装置 などの分野において活用されるキーワードであり、ルネサスエレクトロニクス株式会社 や株式会社東芝 などが関連する技術を3,711件開発しています。
このページでは、 検査対象 を含む技術文献に基づき、その意味・用法のみならず、活用される分野や市場、法人・人物などを網羅的に把握することができます。
検査対象の意味・用法
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検査対象 の欠陥の有無を、当該検査対象を画像化した検査対象画像を用いて検査する画像検査装置であって、前記検査対象画像を構成する複数の画素の輝度を第1画素群毎にその第1画素群に含まれる各画素の輝度に基づいて均一化した第1比較画像を生成する第1生成手段と、前記検査対象画像を構成する前記複数の画素の輝度を前記第1画素群よりも画素数の小さい第2画素群毎にその第2画素群に含まれる各画素の輝度に基づいて均一化した第2比較画像を生成する第2生成手段と、前記第1比較画像を構成する複数の画素それぞれの輝度と、前記第2比較画像を構成する複数の画素それぞれの輝度と、を同じ位置の画素同士で比較し、両輝度の関係が所定基準...
- 公開日:2017/12/28
- 出典:画像検査装置、及び、プログラム
- 出願人:タカノ株式会社
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検査対象 の画像を含む対象画像を検査するための情報処理装置であって、前記対象画像を参照画像と対比するための前処理を行う手段と、前記対象画像に注目領域および前記注目領域に隣接する周辺領域を規定し、前記注目領域の特徴量を計算する手段と、複数の前記参照画像中の前記注目領域および前記周辺領域に対応する画像の特徴量の比較から前記注目領域における画像の特異性を数値的に示す外れ値を計算する手段と、前記外れ値に基づき検査に使用する指標を与える手段とを含む情報処理装置。
- 公開日:2017/06/15
- 出典:情報処理装置、情報処理方法、プログラムおよび検査システム
- 出願人:株式会社リコー
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反射型の電磁波検査装置において、 検査対象 の表面反射光による影響で検査対象内部の異物検査精度が劣化する。
- 公開日:2018/04/05
- 出典:検査装置及び検査方法
- 出願人:ルネサスエレクトロニクス株式会社
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複数の 検査対象 から算出された、複数の位相ラプラシアン画像データの画素値に基づいた標準偏差を記憶する記憶部を、さらに備え、前記補正部は、前記複素時間相関画像に位相限定ラプラシアンを用いた処理を施すことで得られた位相ラプラシアン画像データの画素値から標準偏差を算出し、算出された当該標準偏差と、前記記憶部に記憶された前記標準偏差と、に基づいて、前記位相ラプラシアン画像データの画素値を、前記第1の基準にする補正を行う、請求項3に記載の検査システム。
- 公開日:2018/03/15
- 出典:検査システム
- 出願人:リコーエレメックス株式会社
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実施形態による超音波探傷装置100は、複数の超音波素子11を有する超音波アレイプローブ10と、超音波素子11に振動を生ぜしめる電位差を印加可能な電位差印加部21と、超音波素子11が超音波を送受信するタイミングをずらすための遅延時間を算出する遅延時間演算部31と、電位差印加部21が超音波素子11に電位差を印加した状態と印加しない状態とを切り替える切り替え部22と、遅延時間にしたがって合成した合成エコーに関する特徴量を算出する特徴量算出部35と、 検査対象 1への超音波に探傷条件の変化に対する特徴量の変化を算出する特徴量変化算出部36、および算出した特徴量変化を表示する表示部60を備える。
- 公開日:2018/04/05
- 出典:超音波探傷装置、データ処理装置および超音波探傷方法
- 出願人:株式会社東芝
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照明装置は、明暗パターン画像20の第1パターン画像21により画像検査の 検査対象 Kの第1領域を照明するとともに、前記第1パターン画像21とは異なる第2パターン画像22により検査対象Kの前記第1領域とは異なる第2領域を照明するディスプレイを備える。
- 公開日:2017/12/28
- 出典:照明装置、及び、画像検査装置
- 出願人:タカノ株式会社
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前記解析手段は、前記関心領域に在って、かつ前記 検査対象 それ自体とは異なる物質が存在することを検出すること、又は、その異なる物質の種類を同定する手段である、ことを特徴とする請求項12に記載のデータ処理装置。
- 公開日:2018/02/15
- 出典:X線検査用のデータ処理装置及びデータ処理方法、並びに、その装置を搭載したX線検査装置
- 出願人:株式会社ジョブ
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変質惹起物質の 検査対象 への浸入流量の評価を短時間で行う。
- 公開日:2017/11/30
- 出典:密封された検査対象の評価方法及び評価装置
- 出願人:株式会社フクダ
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高精度で 検査対象 を検査することができる検査装置、検査方法および検査プログラムを提供する。
- 公開日:2018/04/05
- 出典:検査装置、検査方法、検査プログラムおよび対象物の製造方法
- 出願人:富士通株式会社
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誤判定提示部114は、 検査対象 の構造物の推定された健全度に基づき、当該検査対象の構造物の点検結果から判定された健全度が誤りである可能性を示す誤判定可能性を、認識可能な態様で提示する。
- 公開日:2017/09/28
- 出典:情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラム
- 出願人:日本電気株式会社
検査対象の原理 に関わる言及
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上記の妨害光を遮断する方法として、 検査対象 である複合偏光板の構成部材である直線偏光板を利用し、この直線偏光板とクロスニコルの関係にある直線偏光板を検光子として検査部に設け、この直線偏光板を介して観察する手段が考えられる。即ち、妨害光はいずれも複合偏光板の構成部材である直線偏光板を通過してくるために直線偏光光であり、直線偏光光はその吸収軸と直交する吸収軸を有する直線偏光板により吸収されるという特性を利用して妨害光を排除しようとするものである。
- 公開日: 2001/06/12
- 出典: 複合偏光板の検査方法
- 出願人: 住友化学株式会社
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上記の手順により、糸条の振動と毛羽などの欠陥とを区別することにより、発生した異常の種類に基づくプロセスの状態を細かく監視できる。糸条の振動を異常と見なしたくない場合は、糸条の振動と判断した部分を 検査対象 から省くことにより、糸条の振動の影響を除去した上で、毛羽などの欠陥の発生のみを検出することができる。
- 公開日: 2008/12/25
- 出典: 走行糸条の検査方法、および、それを用いた炭素繊維の製造方法
- 出願人: 東レ株式会社
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測定対象または 検査対象 となる光源の配光特性を瞬時に測定または判定することで、生産ラインにおける光源を高速に検査することができるとともに、経時変化する光源の放射強度を正確に測定することができる配光特性測定装置、配光特性検査装置、配光特性測定プログラム、配光特性測定方法および配光特性検査方法を提供する。
- 公開日: 2012/05/24
- 出典: 配光特性測定装置、配光特性検査装置、配光特性測定プログラム、配光特性測定方法および配光特性検査方法
- 出願人: 株式会社ユニテック
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検査装置を用いて基板の検査を行う場合には、治具移動手段によって検査用治具の接触子を 検査対象 の基板の検査点まで移動させ、それに当接させて、所定の検査を行う。検査が終了すると、治具移動手段により検査用治具の接触子を検査点から待機位置まで移動させる、という制御が行われる。
- 公開日: 2014/02/06
- 出典: 検査用治具及び接触子
- 出願人: 日本電産リード株式会社
検査対象の問題点 に関わる言及
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燃料噴射装置の検査装置として、 検査対象 である燃料噴射装置が組込まれているエンジンをそのまま検査装置の一部として用いる方法がある。この場合は、装置全体が大きくなりすぎる。
- 公開日: 2008/06/05
- 出典: 自動車用燃料噴射装置の検査装置
- 出願人: UDトラックス株式会社
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例えば、基板CBの配線に検査点Aと検査点Bが設定されており、この検査点間ABの抵抗値Rxを 検査対象 として、四端子測定により検査する場合には以下の如き検査が実行される。
- 公開日: 2010/10/28
- 出典: 基板検査方法及び基板検査装置
- 出願人: 日本電産リード株式会社
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ここで、 検査対象 である被測定物の測定項目が多岐に渡ると、測定に使用する測定器具の種類や被測定物の測定部位も多岐に渡ることになる。このため、測定者が測定器具を取り違えたり、或いは、測定部位を間違える場合も生じ得る。この結果、測定ミスを生じるおそれがあると共に測定者の負担が過大となる。
- 公開日: 2005/03/10
- 出典: 測定支援装置、測定支援方法及び測定支援プログラム
- 出願人: マツダ株式会社
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複数の工程のうちの一工程における 検査対象 項目の検査結果情報が、検査結果対象項目に関連する関連情報とともに、出力されるため、検査対象に不良が生じたとき、検査結果情報をその検査の関連情報と併せて参照して、その原因を推定できる。
- 公開日: 2007/03/29
- 出典: 検査結果出力方法、検査結果出力装置、検査結果出力用プログラム、および検査結果出力用プログラムを記録した記録媒体
- 出願人: オムロン株式会社
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また、検査画像の表示位置は、 検査対象 の、設計通りの正しい位置に基づいて決まるため、検査員が検査対象の正しい位置を認識し易くなる。また、検査対象の正しい位置が検査画像と離れていたとしても検査することができる。
- 公開日: 2010/06/24
- 出典: 遊技台、検査システム、および遊技台の検査方法
- 出願人: 株式会社大都技研
検査対象の特徴 に関わる言及
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以後のプリント基板の製造工程における電気抵抗検査では、製造された 検査対象 となる各プリント基板の抵抗値を実測してマスタ基板の検査基準抵抗値と比較し、マスタ基板の検査基準抵抗値との差異の量に応じてプリント基板品の品質の良否を判定するようにする。
- 公開日: 2007/02/22
- 出典: プリント基板の基準抵抗値の算出方法、プリント基板の品質検査方法、プリント基板検査用マスタ基板の選定方法、及びそれらのいずれかを用いたプリント基板の製造方法、並びに、プリント基板の基準抵抗値の算出システム、プリント基板の品質検査システム、プリント基板検査用マスタ基板の選定システム、及びそれらのいずれかを備えたプリント基板の製造システム。
- 出願人: 日置電機株式会社
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機能的近赤外分光装置により検出された信号を解析する機能的近赤外分光装置の信号解析方法及び信号解析装置、機能的近赤外分光装置並びに信号解析プログラムに関し、fNIRSによる検出信号から 検査対象 となる成分を的確に抽出できる機能的近赤外分光装置の信号解析方法及び信号解析装置、機能的近赤外分光装置並びに信号解析プログラムを提供することを目的とする。
- 公開日: 2007/03/08
- 出典: 機能的近赤外分光装置の信号解析装置、機能的近赤外分光装置並びにプログラム
- 出願人: 学校法人日本大学
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軸端面における接合部などの垂直方向からの探触が本来困難な 検査対象 においても、垂直方向から高精度に接合部を検査することができる接合部の検査方法および検査装置を提供する。
- 公開日: 2004/08/19
- 出典: 接合部の検査装置
- 出願人: 大同特殊鋼株式会社
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このため、 検査対象 である透過型表示パネルを特定の条件下で点灯させたときに発生させた場合にのみ顕在化する透過型表示パネルの欠陥の検査を高精度に行うために、例えば、照射手段の光源毎の強度を透過型表示パネルの階調に基づいて制御することができる。
- 公開日: 2009/02/12
- 出典: 透過型表示パネルの検査装置、透過型表示パネルの検査方法、透過型表示パネルの製造方法、プログラム及び記録媒体
- 出願人: シャープ株式会社
検査対象の使用状況 に関わる言及
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検査対象 の表面特性によるノイズから生じる測定精度の劣化を回避し、求めたい測定値を精度よく安定して測定することができる光学的測定方法及び光学的測定装置を提供する。
- 公開日: 2010/12/24
- 出典: 光学的測定方法及び光学的測定装置
- 出願人: 東レエンジニアリング株式会社
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検査対象 の紙の光拡散特性を検出することにより紙種を判別するようにしたので、より確実に紙種を判別でき、また、簡素にかつ安価に構成できる紙種判別装置及び紙種判別装置を用いた画像形成装置を提供する。
- 公開日: 2008/10/30
- 出典: 紙種判別装置及び紙種判別装置を用いた画像形成装置
- 出願人: 株式会社東芝
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検査対象 のデザインがHTMLなどのプログラム言語で記述された検査対象デザインデータを、その検査対象デザインデータと同じプログラム言語で所定のデザイン規則を規定したデザインプログラム規則と比較することにより、検査対象のデザインが所定のデザイン規則に則したデザインであるかを判定する。このように、検査対象のデザインをプログラム言語で記述するとともに、デザイン規則も同じプログラム言語で規定すれば、作成されたデザインが所定のデザイン規則に従っているか否かを自動的に判定することができる。
- 公開日: 2007/05/31
- 出典: デザイン検査プログラムおよびデザイン検査装置
- 出願人: 株式会社デンソー
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放射線を利用した材料分析
- 試料入射粒子(源),刺激(含意図外,直分析外)
- 利用,言及生起現象;分折手法(含意図外、直分析外)
- 試料出射粒子(含意図外,直分析外)
- 検出器関連言及
- 分光;弁別(E,λ;e/m;粒子)
- 信号処理とその周辺手段(測定出力提供とその精度向上関連
- 測定内容;条件;動作等関連変数,量ψ
- 表示;記録;像化;観察;報知等
- 制御;動作;調整;安定化;監視;切換;設定等
- 分析の目的;用途;応用;志向
- 対象試料言及(物品レベル)
- 試料形状言及
- 検出;定量;着目物質とその構成元素;関連特定状態等
- 測定前後の試料の動き
- 試料保特,収容手段;状態等
- 試料作成;調製;試料及び他部分に対する処理;措置等
- 機能要素;部品素子;技術手段要素等;雑特記事項その他