導通状態 の意味・用法を知る

配電システム１において、電源制御器７０は、ヒータＨ及び一般負荷の双方を駆動させる場合、ＤＣ／ＤＣコンバータ２０を制御して第２電圧を出力させると共に第１スイッチ部４０及び第２スイッチ部５０を 導通状態 とする第１制御と、ＤＣ／ＤＣコンバータ２０を制御して中間電圧を出力させると共に第１スイッチ部４０を遮断状態とし且つ第２スイッチ部５０を導通状態のまま保持する第２制御とを、交互に繰り返す。

• 公開日：2017/06/29
• 出典：配電システム及びその制御方法
• 出願人：矢崎総業株式会社

前記制御部は、前記所定の切替操作が行われる度に、前記第１スイッチのみが導通する第１ 導通状態 および前記第２スイッチのみが導通する第２導通状態に前記第１スイッチおよび前記第２スイッチの導通状態を切り替える、請求項１に記載の照明器具。

• 公開日：2016/11/10
• 出典：照明器具および照明システム
• 出願人：コイズミ照明株式会社

第２ 導通状態 において、第１光源１１は、第１導通状態で点灯する光量よりも小さい光量で点灯する。

• 公開日：2016/10/13
• 出典：点灯装置および照明器具
• 出願人：コイズミ照明株式会社

各接地極間の 導通状態 の有無を正確に判定できる導通状態判定方法および当該導通状態判定方法を実行可能な測定装置を提供することを目的とする。

• 公開日：2016/07/11
• 出典：導通状態判定方法および測定装置
• 出願人：東日本旅客鉄道株式会社

電源回路１０が電源出力をオフした状態において、抵抗回路２０の経路が導通するように 導通状態 切換回路３０が制御され、抵抗回路２０の経路が導通している場合の測定回路４０の測定結果に基づいて、出力端子Ｔ１、Ｔ２に電圧源が接続されているか否かが判定され、この判定結果に応じて、抵抗回路２０の経路が遮断される。

• 公開日：2015/09/03
• 出典：電源装置及び電圧源接続判定回路
• 出願人：株式会社エヌエフ回路設計ブロック

...び前記電気機器のいずれにも接続可能なインレットと、前記インレットと前記充電装置との間の電気的な接続状態を維持しつつ、前記インレットと前記放電装置とを電気的に遮断可能な位置に設けられる放電リレーと、前記放電リレーと前記放電装置とを接続する２つの電力線の間に設けられるコンデンサと、前記放電リレーの接点を 導通状態 および開放状態のうちのいずれか一方の状態に制御する制御装置とを備え、前記制御装置は、前記外部充電中に前記放電リレーの接点が前記導通状態になる期間を有するように前記放電リレーを制御する、車両。

• 公開日：2016/05/16
• 出典：車両
• 出願人：トヨタ自動車株式会社

回路基板１００ａの各ネット（Ｎ１〜Ｎ９）の中から検査対象のネットを複数選択して各ネットに接触させられているプローブを介して各ネットを直列接続させた状態で各ネットの 導通状態 を一括して検査する一括検査処理を実行する処理部を備え、処理部は、電子部品（Ｒ１〜Ｒ５）を介して互いに接続されているネットで構成されるネット群（Ｇ１〜Ｇ３）が存在する回路基板１００ａを検査する際に、ネット群から検査対象のネットを選択して一括検査処理を実行するときには、ネット群からは１つのネットのみを選択する。

• 公開日：2015/03/12
• 出典：基板検査装置および基板検査方法
• 出願人：日置電機株式会社

回路基板１００ａにおけるネット（Ｎ１〜Ｎ１０）の 導通状態 を検査する検査処理を実行する処理部を備え、処理部は、回路基板に配設されている部品（Ｒ１，Ｒ２，Ｃ１，Ｃ２）を介して他のネットに接続されていないネットの導通状態を検査するときには、各ネットを直列接続させた状態で各ネットの導通状態を一括して検査する一括検査処理を検査処理として実行し、一括検査処理の対象としないネットの導通状態を検査するときには、各ネットを個別に検査する個別検査処理を検査処理として実行する。

• 公開日：2015/02/16
• 出典：基板検査装置および基板検査方法
• 出願人：日置電機株式会社

本発明の制御装置は、処理を実行する処理部に対する電源からの電力の供給および停止を制御する第１制御部と、前記電源からの電力が供給される電源線と前記第１制御部との間を 導通状態 および非導通状態のうちの何れかに切り替える切替部と、前記第１制御部が、前記処理部に対する前記電源からの電力の供給を停止した場合は、前記非導通状態になるように前記切替部を制御する一方、前記非導通状態において、前記導通状態に復帰する要因を示す復帰要因が入力された場合は、前記導通状態になるように前記切替部を制御する第２制御部と、を備える。

• 公開日：2013/06/17
• 出典：制御装置および電子機器
• 出願人：株式会社リコー

前記第１の半導体スイッチと前記第２の半導体スイッチとのオンオフを行う制御部をさらに有し、前記制御部が、前記半導体デバイスに流れる電流を測定するとき、前記第１の半導体スイッチを 導通状態 とし、前記第２の半導体スイッチを非導通状態とし、前記半導体デバイスに流れる電流を測定しないとき、前記第１の半導体スイッチを非導通状態とし、前記第２の半導体スイッチを導通状態とする、ことを特徴とする請求項１に記載の半導体試験装置。

• 公開日：2013/08/01
• 出典：半導体試験装置、半導体試験方法及び半導体デバイス
• 出願人：新電元工業株式会社